JP2522706B2 - ラインセンサの接続偏差検出方法 - Google Patents
ラインセンサの接続偏差検出方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明はスキャナー等に供され、複数のラインセンサ
（光電変換素子）の接合部の主走査方向の偏差を検出す
るラインセンサの接続偏差検出方法に関する。
（光電変換素子）の接合部の主走査方向の偏差を検出す
るラインセンサの接続偏差検出方法に関する。
［従来の技術］ 印刷製版用のスキャナー等においては、原稿の画像の
撮像を行う場合、比較的大なる原稿並びに高解像化に対
応すべく、CCD等の複数個のラインセンサを、画素の並
び方向に対し直線状に配置（以下、光学的直線状とい
う）して、一次元的撮像（主走査）を行い、且つ原稿を
主走査に直交する方向に移動（副走査）させ、二次元的
画像情報信号の創出が行われるのが一般的である。
撮像を行う場合、比較的大なる原稿並びに高解像化に対
応すべく、CCD等の複数個のラインセンサを、画素の並
び方向に対し直線状に配置（以下、光学的直線状とい
う）して、一次元的撮像（主走査）を行い、且つ原稿を
主走査に直交する方向に移動（副走査）させ、二次元的
画像情報信号の創出が行われるのが一般的である。
斯かる複数個のラインセンサが光学的直線状に配設さ
れた例として特開昭63−72262号公報、特開昭63−72263
号公報の画像読取装置を挙げることが出来る。
れた例として特開昭63−72262号公報、特開昭63−72263
号公報の画像読取装置を挙げることが出来る。
このように、複数個のラインセンサには主走査の１ラ
インの画像情報を読み取るべく、駆動パルスが順次印加
され、且つ、原稿を副走査方向に移動させ、二次元的画
像情報が得られる。ここで導出された撮像信号は、スキ
ャナー等においては、階調補正および網点信号生成処理
等が施された後、画像再生系に供される。
インの画像情報を読み取るべく、駆動パルスが順次印加
され、且つ、原稿を副走査方向に移動させ、二次元的画
像情報が得られる。ここで導出された撮像信号は、スキ
ャナー等においては、階調補正および網点信号生成処理
等が施された後、画像再生系に供される。
［発明が解決しようとする課題］ 然しながら、上記の従来の技術においては、撮像信号
の時間軸におけるレベルの不均一、所謂、複数個のライ
ンセンサの光学的接続部、すなわち、電気的重畳部の撮
像信号間における位相誤差、さらには経時的な機械的配
置状態の変動によるMTF特性の劣悪化を生起する。
の時間軸におけるレベルの不均一、所謂、複数個のライ
ンセンサの光学的接続部、すなわち、電気的重畳部の撮
像信号間における位相誤差、さらには経時的な機械的配
置状態の変動によるMTF特性の劣悪化を生起する。
このようにして、導出される撮像信号をスライス回路
等を介して２値化信号処理が行われた場合、良好な再現
性が得られ難い。例えば、再生系にあって、フイルム等
に再生される際には、濃度むらを生起し、さらに網掛処
理が施される場合は再生画像の鮮鋭度の不均一を招来す
る等の欠点を有している。
等を介して２値化信号処理が行われた場合、良好な再現
性が得られ難い。例えば、再生系にあって、フイルム等
に再生される際には、濃度むらを生起し、さらに網掛処
理が施される場合は再生画像の鮮鋭度の不均一を招来す
る等の欠点を有している。
本発明は係る点に鑑みてなされたものであって、格子
状パターンの撮像信号から、複数のラインの主走査方向
に係る接続部の偏差、すなわち、電気的重畳部における
撮像信号の位相誤差が、比較的簡単な構成において高精
度に検出されるラインセンサの接続偏差検出方法を提供
することを目的とする。
状パターンの撮像信号から、複数のラインの主走査方向
に係る接続部の偏差、すなわち、電気的重畳部における
撮像信号の位相誤差が、比較的簡単な構成において高精
度に検出されるラインセンサの接続偏差検出方法を提供
することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 前記の課題を解決するために、本発明のラインセンサ
の接続偏差検出方法は、 光学的直線状に接続される複数個のラインセンサの接
続部の主走査方向の偏差を検出するラインセンサの接続
偏差検出方法において、 前記複数個のラインセンサにより格子状パターンを画
素毎に読み取り、格子状パターンに対応して出力レベル
が増減する撮像信号を得、 前記撮像信号のピーク毎に番号を付けてピーク番号と
し、 前記ピーク番号に対応する画素の番号をピーク画素番
号とし、 前記ピーク番号と前記ピーク画素番号を２次元直交座
標とする座標系上で、各ラインセンサ毎の回帰直線を求
め、 隣り合うラインセンサ間の回帰直線のずれを前記座標
系上で読み取り、このずれを隣り合うラインセンサ間の
主走査方向の偏差として検出することを特徴とする。
の接続偏差検出方法は、 光学的直線状に接続される複数個のラインセンサの接
続部の主走査方向の偏差を検出するラインセンサの接続
偏差検出方法において、 前記複数個のラインセンサにより格子状パターンを画
素毎に読み取り、格子状パターンに対応して出力レベル
が増減する撮像信号を得、 前記撮像信号のピーク毎に番号を付けてピーク番号と
し、 前記ピーク番号に対応する画素の番号をピーク画素番
号とし、 前記ピーク番号と前記ピーク画素番号を２次元直交座
標とする座標系上で、各ラインセンサ毎の回帰直線を求
め、 隣り合うラインセンサ間の回帰直線のずれを前記座標
系上で読み取り、このずれを隣り合うラインセンサ間の
主走査方向の偏差として検出することを特徴とする。
［作用］ 上記のように構成される本発明のラインセンサの接続
偏差検出方法においては、接続部の両側のラインセンサ
の撮像信号に係る波形のピーク検出が行われる。この
後、検出したピーク番号および主走査方向の位置（ピー
ク画素番号）の関係を夫々横軸、縦軸にプロットして、
接続部の両側のラインセンサの夫々の部分の回帰直線を
求める。次いで、２つの回帰直線から主走査方向の接続
部の前記縦軸方向の差を求めるとこれが接続部の偏差と
なる。
偏差検出方法においては、接続部の両側のラインセンサ
の撮像信号に係る波形のピーク検出が行われる。この
後、検出したピーク番号および主走査方向の位置（ピー
ク画素番号）の関係を夫々横軸、縦軸にプロットして、
接続部の両側のラインセンサの夫々の部分の回帰直線を
求める。次いで、２つの回帰直線から主走査方向の接続
部の前記縦軸方向の差を求めるとこれが接続部の偏差と
なる。
あるいは、波形の傾き最大点の検出から、前記と同様
に２つの直線の式を求め主走査方向の接続部の偏差を求
める。
に２つの直線の式を求め主走査方向の接続部の偏差を求
める。
また、撮像信号に雑音が重畳する場合、複数回の撮像
による撮像信号を平均することで精度が向上する。
による撮像信号を平均することで精度が向上する。
［実施例］ 次に、本発明に係るラインセンサの接続偏差検出方法
の実施例を添付図面を参照しながら以下詳細に説明す
る。
の実施例を添付図面を参照しながら以下詳細に説明す
る。
先ず、第１図を参照して、基本原理を説明する。
格子状パターンＡに係る画像が対物レンズ等（図示せ
ず）を介してラインセンサｃ、ｄ、ｅ、ｆに結像され、
さらに主走査駆動信号印加手段から、駆動パルスがライ
ンセンサｃ、ｄ、ｅ、ｆに順次供給されて主走査（矢印
方向ｘ）が行われる。同時にラインセンサ切換手段に供
給される。これにより、撮像信号が駆動パルスに同期し
て創出される（第１の過程）。
ず）を介してラインセンサｃ、ｄ、ｅ、ｆに結像され、
さらに主走査駆動信号印加手段から、駆動パルスがライ
ンセンサｃ、ｄ、ｅ、ｆに順次供給されて主走査（矢印
方向ｘ）が行われる。同時にラインセンサ切換手段に供
給される。これにより、撮像信号が駆動パルスに同期し
て創出される（第１の過程）。
さらに、撮像信号は量子化手段に供給されて、デジタ
ル信号に変換された後、記憶手段で記憶される（第２の
過程）。
ル信号に変換された後、記憶手段で記憶される（第２の
過程）。
続いて、記憶された撮像信号は演算手段に入力され
て、演算処理が行われる（第３の過程）。
て、演算処理が行われる（第３の過程）。
以下、第２図および第３図を参照して、光学的直線状
の接合から離間したラインセンサｄに係り、ラインセン
サｃ、ｄの接続部の主走査方向の偏差、すなわち、位相
差の検出に係る第１および第２の演算処理を説明する。
の接合から離間したラインセンサｄに係り、ラインセン
サｃ、ｄの接続部の主走査方向の偏差、すなわち、位相
差の検出に係る第１および第２の演算処理を説明する。
位相差の検出は、格子状パターンＡによる周期的に変
化する撮像信号について、各周期のピークの位相差を求
めればよい。そのために、第１の演算処理においてピー
クの主走査方向の座標（画素番号）を求め、第２の演算
処理においてピークの位相差を求める。
化する撮像信号について、各周期のピークの位相差を求
めればよい。そのために、第１の演算処理においてピー
クの主走査方向の座標（画素番号）を求め、第２の演算
処理においてピークの位相差を求める。
先ず、第１の演算処理は、接続部を含む主走査方向の
所定の範囲のｘ番目の画素（０≦ｘ≦ｎ）に着目して、
その１つ前（ｘ−１番目）の画素と１つ後（ｘ＋１番
目）の画素の信号レベルを比較して、着目画素のレベル
が前後の画素よりも高ければ（Lx-1＜Lx且つLY＞Lx+1な
らば）その画素をｉ番目のピークとみなす。この処理
を、上記所定の範囲の画素（０番目からｎ番目）につい
て繰り返すことで各周期のピークの主走査方向の座標が
求まる。
所定の範囲のｘ番目の画素（０≦ｘ≦ｎ）に着目して、
その１つ前（ｘ−１番目）の画素と１つ後（ｘ＋１番
目）の画素の信号レベルを比較して、着目画素のレベル
が前後の画素よりも高ければ（Lx-1＜Lx且つLY＞Lx+1な
らば）その画素をｉ番目のピークとみなす。この処理
を、上記所定の範囲の画素（０番目からｎ番目）につい
て繰り返すことで各周期のピークの主走査方向の座標が
求まる。
次に、第２の演算処理は、上記の各ピークの番号とそ
の主走査方向の座標（画素番号）を夫々横軸と縦軸にと
ってプロットし、接続部の両側のCCDに係る直線の式
（ｘ＝a1＋b1・ｉおよびｘ＝a2＋b2・ｉ）を夫々求め
る。なお、これらの直線の式を求める際には最小自乗法
を用いる回帰直線とすることで位相差検出の精度を上げ
ることが出来る。続いて、夫々の式の接続部中央
（ｉ＊）におけるｘの値の差Δｘは Δｘ＝（a2＋b2・ｉ＊）−（a1＋b1・ｉ＊） が求める位相差になる。
の主走査方向の座標（画素番号）を夫々横軸と縦軸にと
ってプロットし、接続部の両側のCCDに係る直線の式
（ｘ＝a1＋b1・ｉおよびｘ＝a2＋b2・ｉ）を夫々求め
る。なお、これらの直線の式を求める際には最小自乗法
を用いる回帰直線とすることで位相差検出の精度を上げ
ることが出来る。続いて、夫々の式の接続部中央
（ｉ＊）におけるｘの値の差Δｘは Δｘ＝（a2＋b2・ｉ＊）−（a1＋b1・ｉ＊） が求める位相差になる。
上記の第２の演算処理は撮像信号のS/N比が良好でな
い場合に有効である。
い場合に有効である。
また、上記の第１および第２の演算処理においては、
主走査の撮像を複数回行い、夫々の導出されて入力され
る複数回の撮像信号の平均を求めるとともに、平均され
た撮像信号から波形のピーク検出あるいは波形の傾き最
大点の検出を行うことも出来る。
主走査の撮像を複数回行い、夫々の導出されて入力され
る複数回の撮像信号の平均を求めるとともに、平均され
た撮像信号から波形のピーク検出あるいは波形の傾き最
大点の検出を行うことも出来る。
また、波形を微分して、零レベルを横切る点からピー
クの座標を求めて、ラインセンサｃおよびｄの位相の検
出を行ってもよい。
クの座標を求めて、ラインセンサｃおよびｄの位相の検
出を行ってもよい。
このようにして、算出された値がラインセンサ継目部
の接続偏差信号として導出される。
の接続偏差信号として導出される。
次に、係る基本構成が適用されるスキャナーの撮像部
および信号処理部を第４図を参照して説明する。
および信号処理部を第４図を参照して説明する。
この例は、格子状パターンＡが描かれたテストパター
ン（測定原稿）Pcに透光部54から所用の光が照射され
る。
ン（測定原稿）Pcに透光部54から所用の光が照射され
る。
次いで、格子状パターンＡに係る画像光は反射ミラー
56を介して対物レンズ58で集光されて導出される。次い
で、ミラー60a、60bで反射／透過が行われ、CCDライン
センサ62a、62b、62c、62dに入射される。ここで光電変
換が行われてCCDラインセンサ62a乃至62dから撮像信号S
1、S2、S3、S4が信号処理系Csに供給される。この場
合、読出駆動パルスCK1、CK2、CK3、CK4が信号処理系Cs
から導出され、且つCCDラインセンサ62a乃至62dに時間
軸が整合されて入力されて、主走査に係る１ライン（Ｘ
方向）の読み出しが行われる。
56を介して対物レンズ58で集光されて導出される。次い
で、ミラー60a、60bで反射／透過が行われ、CCDライン
センサ62a、62b、62c、62dに入射される。ここで光電変
換が行われてCCDラインセンサ62a乃至62dから撮像信号S
1、S2、S3、S4が信号処理系Csに供給される。この場
合、読出駆動パルスCK1、CK2、CK3、CK4が信号処理系Cs
から導出され、且つCCDラインセンサ62a乃至62dに時間
軸が整合されて入力されて、主走査に係る１ライン（Ｘ
方向）の読み出しが行われる。
第５図に詳細を示す信号処理系Csは、読出駆動パルス
CK1乃至CK4がスイッチング回路72に供給され、これに同
期してCCDラインセンサ62a乃至62dが選択される。
CK1乃至CK4がスイッチング回路72に供給され、これに同
期してCCDラインセンサ62a乃至62dが選択される。
前記読出駆動パルスCK1乃至CK4は、タイミングジェネ
レータ74で時間軸制御が行われて導出される。なお、基
本クロック信号はクロック信号発生器76から供給され
る。CPU78は他の信号処理部（図示せず）のシーケンス
制御を併せて行う。
レータ74で時間軸制御が行われて導出される。なお、基
本クロック信号はクロック信号発生器76から供給され
る。CPU78は他の信号処理部（図示せず）のシーケンス
制御を併せて行う。
ここで、スイッチング回路72から導出された撮像信号
Stは、暗時補正、A/D変換、倍率変換、周波数階調処
理、網点信号処理等を行う信号処理部80に供給されると
ともに、波形デジタイザ82に入力される。当該波形デジ
タイザ82は波形（信号）の記憶、観測、記録が行われる
周知の現象解析を行うものである。なお、デジタルスト
レージオッシロスコープでも同様に利用し得る。ここで
導出された量子化信号は計算機84に供給されて、前記格
子状パターンＡを撮像してCCDラインセンサ62a乃至62d
から導出された撮像信号S1乃至S4、すなわち、撮像信号
Stに係る解析、演算が行われる。
Stは、暗時補正、A/D変換、倍率変換、周波数階調処
理、網点信号処理等を行う信号処理部80に供給されると
ともに、波形デジタイザ82に入力される。当該波形デジ
タイザ82は波形（信号）の記憶、観測、記録が行われる
周知の現象解析を行うものである。なお、デジタルスト
レージオッシロスコープでも同様に利用し得る。ここで
導出された量子化信号は計算機84に供給されて、前記格
子状パターンＡを撮像してCCDラインセンサ62a乃至62d
から導出された撮像信号S1乃至S4、すなわち、撮像信号
Stに係る解析、演算が行われる。
計算機84の演算処理は前記基本原理図に係る演算処
理、すなわち、第１の演算処理に係るラインセンサｃお
よびｄから導出される波形のピーク検出と、第２の演算
処理に係るピーク位相差検出と同様であり、故に省略す
る。
理、すなわち、第１の演算処理に係るラインセンサｃお
よびｄから導出される波形のピーク検出と、第２の演算
処理に係るピーク位相差検出と同様であり、故に省略す
る。
ここで、CCDラインセンサ62a、62bの主走査方向に対
する接合部の偏差が求められ、検出信号S10が導出され
る。
する接合部の偏差が求められ、検出信号S10が導出され
る。
斯かる検出信号S10は、例えば、CCDラインセンサ62a
乃至62dの接続偏差として、再生系等においてはMTF特性
の補正手段等に供される。
乃至62dの接続偏差として、再生系等においてはMTF特性
の補正手段等に供される。
［発明の効果］ 本発明によれば、格子状パターンの撮像信号から、複
数のラインの主走査方向に係る接続部の偏差、すなわ
ち、電気的重畳部における撮像信号の位相誤差が、比較
的簡単な構成において高精度に検出される効果を奏す
る。
数のラインの主走査方向に係る接続部の偏差、すなわ
ち、電気的重畳部における撮像信号の位相誤差が、比較
的簡単な構成において高精度に検出される効果を奏す
る。
第１図は本発明のラインセンサの接続偏差検出方法に係
る基本原理を示す構成図、 第２図および第３図は第１図の動作説明に供される図、 第４図は本発明のラインセンサの接続偏差検出方法が適
用されるスキャナーの画像撮像装置を示す構成図、 第５図は第４図に示される信号処理系の詳細な構成を示
すブロック図である。 62a〜62d……CCDラインセンサ 82……波形デジタイザ、84……計算機 Ａ……格子状パターン、ｃ〜ｆ……ラインセンサ CK1〜CK4……読出駆動パルス Cs……信号処理系、S1〜S4……撮像信号
る基本原理を示す構成図、 第２図および第３図は第１図の動作説明に供される図、 第４図は本発明のラインセンサの接続偏差検出方法が適
用されるスキャナーの画像撮像装置を示す構成図、 第５図は第４図に示される信号処理系の詳細な構成を示
すブロック図である。 62a〜62d……CCDラインセンサ 82……波形デジタイザ、84……計算機 Ａ……格子状パターン、ｃ〜ｆ……ラインセンサ CK1〜CK4……読出駆動パルス Cs……信号処理系、S1〜S4……撮像信号
Claims (1)
- 【請求項１】光学的直線状に接続される複数個のライン
センサの接続部の主走査方向の偏差を検出するラインセ
ンサの接続偏差検出方法において、 前記複数個のラインセンサにより格子状パターンを画素
毎に読み取り、格子状パターンに対応して出力レベルが
増減する撮像信号を得、 前記撮像信号のピーク毎に番号を付けてピーク番号と
し、 前記ピーク番号に対応する画素の番号をピーク画素番号
とし、 前記ピーク番号と前記ピーク画素番号を２次元直交座標
とする座標系上で、各ラインセンサ毎の回帰直線を求
め、 隣り合うラインセンサ間の回帰直線のずれを前記座標系
上で読み取り、このずれを隣り合うラインセンサ間の主
走査方向の偏差として検出することを特徴とするライン
センサの接続偏差検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1259111A JP2522706B2 (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | ラインセンサの接続偏差検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1259111A JP2522706B2 (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | ラインセンサの接続偏差検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03120949A JPH03120949A (ja) | 1991-05-23 |
| JP2522706B2 true JP2522706B2 (ja) | 1996-08-07 |
Family
ID=17329471
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1259111A Expired - Fee Related JP2522706B2 (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | ラインセンサの接続偏差検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2522706B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1439016A1 (fr) * | 2003-01-20 | 2004-07-21 | Vesuvius Group S.A | Tube de coulée, dispositif de clamage d'un tube de coulée et installation de coulée |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56125156A (en) * | 1980-02-26 | 1981-10-01 | Asahi Optical Co Ltd | Synthetic circuit of video signal |
-
1989
- 1989-10-03 JP JP1259111A patent/JP2522706B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03120949A (ja) | 1991-05-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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