JPH10126584A - 画像読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】 斜線パターンの位置ずれとスキャナの走査速
度の平均速度からのずれを分離し、修正することによっ
て正しい位置誤差データを得ることができるとともに、
前記位置誤差データに基づいて画素の位置が誤差を補正
して位置ずれのない画像読取装置を提供する。 【解決手段】 走査方向に対して相異なる２つの斜線パ
ターン１０ａ，１０ｂから求めた位置誤差のデータの差
によって測定用パターン１０の位置ずれ量を検知する。
この位置ずれ量は通常変化することはないので、斜線パ
ターン１０ａ，１０ｂの位置ずれ量を記憶部に記憶して
おき、通常の読み取り時には、左右いずれかの斜線パタ
ーン１０ａ，１０ｂを使用して位置誤差を測定し、随時
記憶部から前記いずれかの斜線パターン１０ａ，１０ｂ
の位置ずれ量を読み出して測定した位置誤差データを修
正することによって斜線パターンの位置ずれ量を検知す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、読み取ったビット
マップ形式の画像データの位置誤差を測定して画像デー
タの画素の位置誤差を補正する画像読取装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】この種の画像読取装置として例えば日本
機械学会第７１期通常総会講演会講演論文集（ＩＶ）で
発表された「高精細画像入力装置の開発」（従来例１）
が知られている。ここでは、副走査方向に並べて配置さ
れた等ピッチラインのテストチャートを読み取った画
像、すなわち、副走査方向のライン間隔で離散化された
画像データに対して補間演算を行い、演算された結果か
ら、等ピッチラインの黒線、白線の中心位置を求め、テ
ストチャートの基準ピッチとの差を読み取ることで、装
置の振動などに起因する画像データの読み取り位置誤差
を検出するようになっている。

【０００３】他の従来例として特開平６−２９７７５８
号公報「走査線ピッチ計測方法」（従来例２）も知られ
ている。この公知例は、等ピッチパターンのデータを書
き込んだハードコピーのパターンを読み取ってハードコ
ピー装置の書き込みの走査線のピッチむらを計測するよ
うになっている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来例
１では、等ピッチラインのパターンのエッジと読み取り
のサンプリングのタイミングとの位置関係の相違により
同じ形状のパターンを読み取って得られるデータがそれ
ぞれ異なってしまうモアレという現象がある。読み取っ
たデータはこのモアレによって必ずしもパターンのエッ
ジの位置と対応しないので、位置誤差の測定精度を劣化
させる。モアレの影響は、等ピッチラインパターンを精
細にして読み取り装置の分解能に近づけると非常に顕著
になり、条件によっては位置誤差の測定ができなくなる
ほどになる。したがってこの方式では、読み取り装置の
分解能に近い、あるいはそれ以下の位置誤差を高精度で
測定することはできない。

【０００５】また、等ピッチラインのパターンを使うの
で、モアレの影響を無視しても、高い周波数成分の位置
誤差を測定するためにパターンのピッチを精細にする
と、結像光学系のＭＴＦ（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ Ｔｒ
ａｎｓｆｅｒ Ｒａｔｉｏ）の限界によって得られた画
像の濃淡の信号の差が小さくなり、測定精度が劣化せざ
るを得ない。

【０００６】さらに、パターンの精細化では、測定の周
波数帯域を高い方向に広げ、精度を上げることができな
いのでサンプリングしたデータを補間する処理を行って
いる。より良い補間を行うには、より多くの周辺データ
を使ったり、複雑な演算処理が必要になり、処理時間が
長くなる。さらに補間はあくまでも補間であり、真のデ
ータとのずれが生じることは避けられず、測定精度を劣
化させる要因になる。また、光電変換装置の中の特定の
１つの受光素子が副走査方向に走査することによって得
られる画像データを使用しているので、受光素子そのも
のが持つノイズが測定そのものの精度に影響を与えて、
精度を劣化させる。

【０００７】従来例２では、計測時には光電変換装置で
パターンを読み込んだデータを使うので、計測に当たっ
てはハードコピーの読み取り時の走査むらはないという
条件で読み取ってハードコピーのピッチむらを計測して
いる。その他、特に説明しないが、前述の従来例１と同
様のモアレの問題を有する。

【０００８】これらの問題を解決するために、本出願人
は特願平７−２６０４３８号をすでに出願した。この中
で、位置誤差を測定するための走査方向に対して一定の
傾きを有する複数の線から形成されるパターンを画像読
取装置に設置する際に生じるいくらかの位置ずれを検出
して位置誤差を求めることができる技術を提案した。こ
の技術では、斜線パターンを設置した際の位置ずれを補
正するために、測定した位置誤差データから線形近似に
よって斜線パターンの傾きを求めて位置ずれを補正する
ようにしている。

【０００９】しかし、スキャナの走査速度の平均速度が
所定値でない場合にも位置誤差データは傾きを持つた
め、斜線パターンの位置ずれによる傾きかスキャナの走
査速度の平均速度のずれによる傾きかを分離することま
では配慮されていなかった。

【００１０】本発明はこのような背景に鑑みてなされた
もので、その目的は、斜線パターンの位置ずれとスキャ
ナの走査速度の平均速度からのずれを分離し、修正する
ことによって正しい位置誤差データを得ることができる
とともに、前記位置誤差データに基づいて画素の位置が
誤差を補正して位置ずれのない画像読取装置を提供する
ことにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、第１の手段は、画像を一定の時間間隔で線順次に走
査して読み取る画像読取装置において、原稿の走査領域
外に設けられ、走査方向に対して一定の傾きを有する複
数本の線からなる第１のパターンおよび前記第１のパタ
ーンと逆方向に一定の傾きを有する複数本の線からなる
第２のパターンと、これら第１および第２のパターンを
読み込むことによって傾きが異なるパターンのそれぞれ
に対応した画素の位置誤差を測定する手段と、この測定
する手段によって測定された値に基づいて画素の位置誤
差を修正する手段と、この修正された画素の位置誤差を
補正する手段とを備えていることを特徴とする。

【００１２】第２の手段は、第１の手段にさらに、第１
のパターンから位置誤差を求める手段と、第２のパター
ンから位置誤差を求める手段と、前記両手段によって求
められた第１および第２のパターンの位置誤差の差を求
める手段と、前記求められた位置誤差の差を記憶する手
段と、通常の読取時には前記第１および第２のいずれか
一方のパターンを使用して位置誤差を測定し、前記記憶
する手段に記憶された位置誤差の差の値に基づいて画素
の位置誤差を修正する手段とを備えていることを特徴と
している。

【００１３】第３の手段は、第１の手段にさらに、第１
のパターンから位置誤差を求める手段と、第２のパター
ンから位置誤差を求める手段と、位置誤差の測定を前記
第１のパターンから始めるとき、前記第１および第２の
パターンを読み取った画像データと、前記第１のパター
ン部を含むウィンドウを設定する手段と、前記ウィンド
ウを画素の整数個分づつ順次移動させて設定しなおす手
段と、前記ウィンドウがある位置に移動したときにウィ
ンドウを主走査方向に移動させて前記第２のウィンドウ
部を含むウィンドウに設定する手段と、ウィンドウが設
定されるごとに、当該設定された領域におけるパターン
の位置を演算する手段と、ウィンドウの移動前後におけ
るパターンの位置データの変化を演算することによって
位置誤差を求める手段と、前記第１および第２のパター
ンから求めた位置誤差から位置誤差データを修正する手
段とを備えていることを特徴としている。

【００１４】第４の手段は、第１の手段にさらに、第１
のパターンから位置誤差を求める手段と、第２のパター
ンから位置誤差を求める手段と、前記第１および第２の
パターンから求められた位置誤差を比較する手段と、こ
の比較する手段によって比較された位置誤差に所定量以
上の差があるときにノイズがあったと判断して、前記ノ
イズを除去する手段とを備えていることを特徴としてい
る。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照し、本発明の実
施の形態について説明する。

【００１６】１．画像読取装置の概略構成 まず、図１を参照して本実施例の読み取り装置の概略を
説明する。コンタクトガラス１は筐体８により支持さ
れ、原稿は読み取り面を下にしてコンタクトガラス１上
に載置される。コンタクトガラス１上の原稿は光源２に
より照明され、読み取り面の反射光が第１ミラー３、第
２ミラー４、第３ミラー５により順次反射され、次いで
レンズ６により光電変換装置７上のライン状の光電変換
素子の受光面に結像されて電気信号に変換される。

【００１７】光源２と第１ミラー３は不図示の第１キャ
リッジに取り付けられ、この第１キャリッジは原稿を線
順次で読み取るために原稿面との距離を一定にしたまま
不図示の駆動装置により副走査方向（図の左右方向）に
移動する。また、第２ミラー４と第３ミラー５は不図示
の第２キャリッジに取り付けられ、この第２キャリッジ
は第１キャリッジの１／２の速度で副走査方向に移動す
る。このような方法によりコンタクトガラス１上の所定
の範囲を線順次で読み取ることができる。

【００１８】また、図２に示すようにコンタクトガラス
１の回りの筐体８には、シェーディング補正のために基
準濃度を光電変換素子に読み取らせるための基準濃度板
９が主走査方向に延びるように取り付けられると共に、
第１キャリッジの副走査方向の走査位置または走査速度
を検出するために図３に示すように白地上に一定幅、４
５°および１３５°の角度の多数の黒の斜線Ｌの２種類
の斜線パターン１０ａ，１０ｂが形成された測定用パタ
ーン１０が副走査方向に２段に等ピッチで形成されてい
る。基準濃度板９は光電変換装置７により読み取られ
て、ライン状の光電変換素子毎の感度バラツキや、照明
むら、レンズ６の周辺光量の低下等を補正するために用
いられ、また、これらの第１および第２の斜線パターン
１０ａ，１０ｂも同様に光電変換装置７により読み取ら
れる。なお、斜線パターン１０ａ，１０ｂは画像データ
とともに光電変換装置７で読み込むので、原稿と同様に
光電変換素子の受光面に結像する必要があり、コンタク
トガラス１の原稿が置かれる面に設けられる。しかし、
コンピュータなどに画像を取り込んで位置誤差を測定す
る場合には、原稿読取領域に斜線パターン１０ａ，１０
ｂを設置するようにしてもよい。

【００１９】なお、この図３は図２の第１および第２の
斜線パターン１０ａ，１０ｂとコンタクトガラス１の要
部拡大図である。斜線パターン１０ａ，１０ｂは、走査
方向に一定の相対する傾きを持った複数の直線から構成
される。本来、測定用パターン１０は走査方向に対して
平行であることが望ましいが、測定用パターン１０の材
質や組み付け時のばらつきなどによって位置がずれてし
まう場合があり、図３はこのように位置がずれてしまっ
たときの状態を示している。

【００２０】２．システム構成 図４に本発明の実施形態に係る画像読取装置に組み込ま
れる位置誤差測定装置のシステム構成を示す。なお、こ
の位置誤差測定装置は画像読取装置への付加機能として
組み込まれ、リアルタイムで画素の位置誤差を測定する
ものである。

【００２１】すなわち、位置画素測定装置は、光電変換
部１０１と、Ａ／Ｄ変換部１０２と、シェーディング補
正部１０３と、斜線判別部１０４と、位置誤差測定部１
０５と、位置誤差補正部１０６と、制御部１０７と、記
憶部１０８から構成されている。光電変換部１０１は、
この実施形態ではラインＣＣＤからなり、読み取った画
像が電気信号に変換される。電気信号に変換された画像
はＡ／Ｄ変換部１０２でデジタルの多値の画像データに
変換される。変換されたデータは照明の不均一さ、レン
ズの周辺光量の低下、光電変換部１０１の画素間の感度
の違いなどをシェーディング補正部１０３で補正され、
補正されたデータは斜線判別部１０４に入力される。斜
線判別部１０４では、画像データの測定用パターン１０
部分を判別し、その判別結果を制御部１０７に出力す
る。また、画像データは位置誤差測定部１０５に入力さ
れ、副走査方向の読み取りラインごとにライン間の位置
誤差を測定し、測定結果の誤差信号を出力する。位置誤
差測定部１０５では、走査方向に対して一定の傾きの複
数の斜線からなる斜線パターン１０ａ，１０ｂに対する
位置誤差を測定し、測定した２つの位置誤差データから
正しい位置誤差データに修正し、修正された位置誤差の
測定データを誤差信号として出力する。位置誤差補正部
１０６では、画像データと位置誤差データである誤差信
号から位置誤差を補正した画像データを生成し、ビデオ
信号として出力する。なお、各部（１０１〜１０６）は
制御部１０７によってそれぞれタイミングの制御、動作
条件の設定などがなされ、相互に関連して動作するよう
になっている。また、符号１０８は後述の斜線パターン
１０ａ，１０ｂの位置ずれ量を記憶する記憶部である。

【００２２】３．測定原理 引き続き、位置誤差測定部における読取誤差の測定原理
について説明する。

【００２３】まず、位置誤差を測定する処理は以下のよ
うになる。図５の矢印で示す主走査方向は、光電変換装
置（図４における光電変換部１０１に対応）としてライ
ンＣＣＤ７が線順次で同時に読み取る１ラインの画素の
並びと、この並列データを直列データに変換したときの
時間軸上の順序を示している。また、矢印で示す副走査
方向は、主走査方向の１ラインを読み取る範囲を順次移
動させながら読み取る方向を示している。なお、移動手
段としては図２に示すように原稿を固定して走査光学系
を移動させる形式の他に、走査光学系を固定して原稿を
移動させる形式がある。

【００２４】図５において主走査方向と副走査方向の各
平行な線により囲まれた４角形領域を画素とすると、こ
の画素により構成される平面は、原稿の画像を電気信号
に変換した場合に原稿画像の写像がそのまま並んでいる
という形で捉えることができる。なお、これはビットマ
ップということもある。このデータはラインＣＣＤ７か
らリアルタイムで出力される時には主走査方向、副走査
方向が時間的な順序を有するが、メモリに取り込んだ状
態ではそれぞれの画素を任意にアクセスすることができ
るので、主走査方向、副走査方向、時間の順序にとらわ
れないで扱うことができる。

【００２５】図５はまた、主走査方向、副走査方向の画
素サイズが等しい場合において、副走査方向の走査速度
が変動しないときの４５°の斜線の読み取りデータａ
と、走査速度が変動するときの読み取りデータｂをビッ
トマップに対応させて示している。すなわち、読み取り
データａは副走査方向の読み取りタイミングを制御する
クロックに対応する所定の一定速度で走査したときを示
し、ビットマップとしても４５°の斜線像である。

【００２６】これに対し、読み取りデータｂは走査速度
の変動に応じて傾きが異なる。副走査方向の区間Ａ−Ｂ
は走査速度が「０」のときを示し、この場合には副走査
方向の読み取りタイミングを制御するクロックによりビ
ットマップのアドレスが進んでも読み取り位置が変わら
ないので、副走査方向に平行な線となる。また、区間Ｂ
−Ｃは走査速度が所定速度の１／２のときを示し、この
場合にはビットマップのアドレスが進んでもその半分し
か進まない位置の画像を読み取るのでその読み取り画像
の角度は約２６．５７°（tan θ＝０．５）である。区
間Ｃ−Ｄは所定速度で走査しているときを示し、４５°
の角度が得られる。Ｄ以降の区間は走査速度が所定速度
の２倍の場合を示し、その角度は約６３．４°である。

【００２７】したがって、走査速度が変動すると像の傾
きが異なることを測定原理として、言い換えれば斜線の
主走査方向への移動量が副走査方向に移動速度に対応す
ることを測定原理として、原稿固定方式での読み取りの
場合は、キャリッジの副走査方向の走査速度のむらと、
自動原稿搬送方式での読み取りの場合は、原稿の搬送速
度のむらと、ミラー３〜５、レンズ６、光電変換部（Ｃ
ＣＤ）７の振動などに起因するビットマップ画像の画素
の位置誤差を測定することができる。

【００２８】なお、図５では正方形の画素を示したが、
画素が正方形ではなく、例えば主走査方向の分解能が４
００ｄｐｉ、副走査方向の分解能が６００ｄｐｉのよう
な画素にも適用することができる。また、４５°以外の
斜線を用いても同様に、斜線画像の主走査方向への移動
量が副走査方向の読み取り速度に依存するという関係が
成立するので、画素の位置誤差を計測することができ
る。

【００２９】４．斜線パターン判別処理 次に、斜線判別部における斜線パターン判別処理につい
て説明する。図６は図５と同様にビットマップに斜線が
ある場合を示し、図７はその場合の８ビット（０〜２５
５）の読み取り値を示している。なお、０＝白、２５５
＝黒であり、主走査方向の座標をＸｎ、副走査方向の座
標をＹｍとしている。また、図８は主走査方向３画素×
副走査方向３画素の斜線パターン検知用ウィンドウを示
し、図８（ａ）〜（ｅ）はそれぞれ主走査方向に１画素
づつシフトしたウィンドウを示している。

【００３０】ここで、図８（ａ）に示すウィンドウ（Ｘ
２〜Ｘ４、Ｙ１〜３）内の中心画素の挟む対角方向、す
なわち中心画素を含む左上斜め方向の３つの画素値の和
Ｐａと右下斜め方向の３つの画素値の和Ｑａを計算する
と、 Ｐａ＝（Ｘ２，Ｙ１）＋（Ｘ３，Ｙ１）＋（Ｘ２，Ｙ２） ＝３＋１＋１＝５ Ｑａ＝（Ｘ４，Ｙ２）＋（Ｘ３，Ｙ３）＋（Ｘ４，Ｙ３） ＝３＋４＋８＝１５ となる。

【００３１】同様に、図８（ｂ）〜（ｅ）について求め
ると、 Ｐｂ＝（Ｘ３，Ｙ１）＋（Ｘ４，Ｙ１）＋（Ｘ３，Ｙ２） ＝１＋４＋２＝７ Ｑｂ＝（Ｘ５，Ｙ２）＋（Ｘ４，Ｙ３）＋（Ｘ５，Ｙ３） ＝１３＋８＋２０１＝２２２ Ｐｃ＝（Ｘ４，Ｙ１）＋（Ｘ５，Ｙ１）＋（Ｘ４，Ｙ２） ＝４＋２＋３＝９ Ｑｃ＝（Ｘ６，Ｙ２）＋（Ｘ５，Ｙ３）＋（Ｘ６，Ｙ３） ＝２１６＋２０１＋２５０＝６６７ Ｐｄ＝（Ｘ５，Ｙ１）＋（Ｘ６，Ｙ１）＋（Ｘ５，Ｙ２） ＝２＋１８＋１３＝３３ Ｑｄ＝（Ｘ７，Ｙ２）＋（Ｘ６，Ｙ３）＋（Ｘ７，Ｙ３） ＝２４８＋２５０＋２５２＝７５０ Ｐｅ＝（Ｘ６，Ｙ１）＋（Ｘ７，Ｙ１）＋（Ｘ６，Ｙ２） ＝１８＋２２０＋２１６＝４５４ Ｑｅ＝（Ｘ８，Ｙ２）＋（Ｘ７，Ｙ３）＋（Ｘ８，Ｙ３） ＝２５０＋２５２＋２４９＝７５１ となる。

【００３２】次に、中心画素と右下斜め方向の３画素
（中心画素を含む）の差Ｒを求めると、 Ｒａ＝１５−５＝１０ Ｒｂ＝２２２−７＝２１５ Ｒｃ＝６６７−９＝６５８ Ｒｄ＝７５０−３３＝７１７ Ｒｅ＝７５１−４５４＝２９７ となる。

【００３３】この差Ｒの値が大きい場合に３×３画素の
ウィンドウ内に斜線パターンが有ることを示す。したが
って、例えばＲの値が５００以上の場合に斜線パターン
が有ると判断すれば図８（ｃ），（ｄ）に示すウィンド
ウ内に斜線パターンが有ると判断することができる。

【００３４】次に、図９を参照して他の斜線パターン判
別処理を説明する。図９（ａ）〜（ｅ）はそれぞれ図８
（ａ）〜（ｅ）に示すウィンドウ内の各値を閾値＝１２
８で２値化した場合を示し、同様に各ウィンドウ内の中
心画素を含む左上斜め方向の３つの画素値の和Ｐａ〜Ｐ
ｅと右下斜め方向の３つの画素値の和Ｑａ〜Ｑｅを計算
すると、 Ｐａ＝（Ｘ２，Ｙ１）＋（Ｘ３，Ｙ１）＋（Ｘ２，Ｙ２） ＝０＋０＋０＝０ Ｑａ＝（Ｘ４，Ｙ２）＋（Ｘ３，Ｙ３）＋（Ｘ４，Ｙ３） ＝０＋０＋０＝０ Ｐｂ＝（Ｘ３，Ｙ１）＋（Ｘ４，Ｙ１）＋（Ｘ３，Ｙ２） ＝０＋０＋０＝０ Ｑｂ＝（Ｘ５，Ｙ２）＋（Ｘ４，Ｙ３）＋（Ｘ５，Ｙ３） ＝０＋０＋１＝１ Ｐｃ＝（Ｘ４，Ｙ１）＋（Ｘ５，Ｙ１）＋（Ｘ４，Ｙ２） ＝０＋０＋０＝０ Ｑｃ＝（Ｘ６，Ｙ２）＋（Ｘ５，Ｙ３）＋（Ｘ６，Ｙ３） ＝１＋１＋１＝３ Ｐｄ＝（Ｘ５，Ｙ１）＋（Ｘ６，Ｙ１）＋（Ｘ５，Ｙ２） ＝０＋０＋０＝０ Ｑｄ＝（Ｘ７，Ｙ２）＋（Ｘ６，Ｙ３）＋（Ｘ７，Ｙ３） ＝１＋１＋１＝３ Ｐｅ＝（Ｘ６，Ｙ１）＋（Ｘ７，Ｙ１）＋（Ｘ６，Ｙ２） ＝０＋１＋１＝２ Ｑｅ＝（Ｘ８，Ｙ２）＋（Ｘ７，Ｙ３）＋（Ｘ８，Ｙ３） ＝１＋１＋１＝３ となる。

【００３５】次に、中心画素と右下斜め方向３画素（中
心画素を含む）の差Ｒａ〜Ｒｅを求めると、 Ｒａ＝０−０＝０ Ｒｂ＝１−０＝１ Ｒｃ＝３−０＝３ Ｒｄ＝３−０＝３ Ｒｅ＝３−２＝１ となる。

【００３６】したがって、この場合にも同様にこの差Ｒ
の値が大きい場合に３×３画素のウィンドウ内に斜線パ
ターン１０ａ，１０ｂが有ることを示し、例えばＲａ〜
Ｒｅの値が２以上の場合に斜線パターン１０ａ，１０ｂ
が有ると判断すれば図９（ｃ）, （ｄ）に示すウィンド
ウ内に斜線パターン１０ａ，１０ｂが有ると判断するこ
とができる。また、このように画素値を２値化すること
により、加算演算を簡単にすることができる。

【００３７】図１０（ａ）〜（ｄ）は斜線パターン検出
用のマッチングパターンを示し、図中の白領域は
「０」、黒領域は「１」を表している。先ず、画像デー
タを図９に示すように２値化し、その２値化データと図
１０（ａ）〜（ｄ）に示すマッチングパターンを比較
し、合致した場合に斜線パターン１０ａ，１０ｂがある
と判断する。この例では、図９（ｃ）と図１０（ｂ）、
及び図９（ｄ）と図１０（ａ）が合致しており、このウ
ィンドウ内に斜線パターン１０ａ，１０ｂがあると判断
される。

【００３８】なお、上記実施形態では、ウィンドウの大
きさを３×３としたが、もちろんウィンドウサイズが異
なる場合にも同様な判断方法により斜線パターン１０
ａ，１０ｂを検知することができる。但し、一般にウィ
ンドウサイズが大きい程、判別精度は上がるが、その分
処理時間が長くなり、また回路規模も大きくなる。

【００３９】５．位置誤差の測定処理 次に、位置誤差測定部における位置誤差の測定処理につ
いて説明する。図１１は図５に示すビットマップにおけ
る斜線パターン１０ａ，１０ｂの複数個の斜線（図では
６本の斜線Ｋa1〜Ｋa3、Ｋb1〜Ｋb3）を示し、また、こ
の複数個の斜線を用いて位置誤差を測定するための１０
×３のサイズのウィンドウＷを示している。

【００４０】まず、左側の斜線パターン１０ａの斜線Ｋ
a2から位置誤差を求める場合について説明する。最初に
ウィンドウＷ内のデータ位置を求めるために主走査方向
の重心を演算する。ウィンドウはＷa1→Ｗa2→Ｗa3 の
ようにウィンドウＷを斜め左下４５°の方向に順次シフ
トする。このとき常にウィンドウ内に斜線Ｋa2が収まる
ように制御される。そして、ウィンドウが所定の主走査
方向のアドレスに達したとき、この場合には、ウィンド
ウＷanに到達すると、ウィンドウＷを主走査方向のみに
移動させて次の斜線Ｋa3のウィンドウＷan+1に移動させ
る。ウィンドウは同様にしてＷan+1→Ｗan+2→Ｗan+3と
移動する。

【００４１】右側の斜線パターンＫb2についても同様
に、ウィンドウはＷb1→Ｗb2→Ｗb3のようにウィンドウ
Ｗを斜め右下４５°の方向に順次シフトする。そして、
ウィンドウが所定の主走査方向のアドレスに達したと
き、この場合には、ウィンドウＷbnに到達すると、ウィ
ンドウＷを主走査方向のみに移動させて次の斜線Ｋb3の
ウィンドウＷbn+1に移動させる。ウィンドウは同様にし
てＷbn+1→Ｗbn+2→Ｗbn+3と移動する。このとき、次の
斜線に移動する場合、すなわち、Ｗan→Ｗan+1、Ｗbn→
Ｗbn+1と移動させる場合に左右の斜線パターン１０ａ，
１０ｂについて同一の副走査方向ラインで移動させれ
ば、制御が簡単になる。また、リアルタイムで位置誤差
を測定する場合には、ウィンドウをＷa1→Ｗb1→Ｗa2→
Ｗb2→Ｗa3 →Ｗb3のように移動させることによって副
走査方向のラインクロック内で左右の斜線パターン１０
ａ，１０ｂのウィンドウの内の重心を測定することがで
き、最小限のラインメモリで測定が可能となる。

【００４２】ここで、重心の主走査方向の位置は、４５
°の斜線の場合、画素の位置が何らかの誤差要因により
移動することがなければ、図のようにウィンドウＷをシ
フトさせると主走査方向に１画素づつ移動する筈であ
る。また、画素の移動量が１画素分でない場合には、何
らかの原因により画素の位置が変動したことになって位
置誤差を求めることができる。位置誤差の主要な要因が
副走査方向の走査速度のむらによることが分かっている
場合には、位置誤差のデータから速度むらにデータを変
換することは容易である。

【００４３】また、ＣＣＤ固有のノイズを始めとして様
々なノイズが画像データに含まれているが、重心を求め
るために周辺の画素のデータを含む多数の画素のデータ
を用いているので、重心を求める過程でノイズの影響を
軽減してＳ／Ｎ比が高い測定が可能となる。この場合、
通常、ウィンドウの画素の数が多い程、Ｓ／Ｎ比が高く
なる。ウィンドウの形状は、主走査方向の重心を求める
ので主走査方向に大きいほうが望ましく、副走査方向の
サイズは１ラインでも測定可能である。

【００４４】６．重心の測定処理 次に、重心の測定処理は、図１２のフローチャートに示
す手順で行われる。この処理は、原稿の走査開始と同時
にスタートし、先ず、主走査方向、副走査方向の各座標
値Ｘ、Ｙがイニシャライズ（Ｘ＝０，Ｙ＝０）される
（ステップＳ１）。この座標値Ｘ、Ｙは斜線判別用の例
えば３×３のウィンドウ内のある画素位置例えば中心画
素の座標となる。次に、１本の斜線に対する測定回数を
示す変数ｉがイニシャライズ（ｉ＝０）される（ステッ
プＳ２）。

【００４５】次に位置誤差測定部１０５により斜線判別
用の３×３のウィンドウ内に斜線パターンが存在するか
否かが判断され（ステップＳ３）、無い場合にはその３
×３のウィンドウを主走査方向に１画素分シフト（Ｘ＝
Ｘ＋１）する（ステップＳ４）。なお、このシフト量は
ウィンドウの大きさ、斜線の太さに応じて決められ、１
画素以上でもよい。ステップＳ３において斜線パターン
が存在する場合には、重心測定用の例えば１０×３のウ
ィンドウＷ1 を設定し、そのウィンドウＷ1 内の重心を
求める（ステップＳ５）。このとき、ウィンドウＷ1 の
大きさ、斜線の太さに応じて、斜線と判別された画素の
位置から主走査方向に整数画素分だけシフトし、斜線の
部分がウィンドウＷ1 の中心付近になるようにウィンド
ウＷ1 を設定してもよい。

【００４６】重心の測定を終了すると、重心のズレを計
算し（ステップＳ６）、次いで主走査方向に−１画素
分、副走査方向に＋１画素分シフトしたウィンドウＷ2
を設定し、また、測定回数用のカウント値ｉを１つイン
クリメントする（ステップＳ７）。なお、この実施形態
では、ウィンドウＷを１画素づつ移動させているが、画
素の位置誤差を起こす原因となる振動などの周波数帯域
が低い場合には、２画素以上づつ移動させてもよく、こ
の方法により測定に要する時間を短縮することができ
る。

【００４７】次いで、予め設定された同一ラインの測定
回数ｎに対してｉ＝ｎとならない場合にはステップＳ８
からステップＳ５に戻り、他方、ｉ＝ｎとなった場合す
なわちウィンドウＷn に達した場合には次の斜線のウィ
ンドウＷn+1 に移動させる（ステップＳ８→Ｓ９）。そ
の方法としては、斜線の主走査方向の間隔に相当する画
素分より整数画素ｍだけ、ウィンドウ座標を主走査方向
にシフトした後、測定カウント値ｉをクリアし（ステッ
プＳ２）、斜線判別処理（ステップＳ３）に戻る。以下
同様に、１本の斜線に対してウィンドウＷn+1 、Ｗn+2
、Ｗn+3 〜のように移動させて位置誤差を測定する。

【００４８】このように複数の斜線を用いて位置誤差を
測定することにより、読取装置の読み取り範囲が縦長で
あっても、副走査領域の全域に渡って位置誤差を測定す
ることができる。更に、主走査方向の狭い幅だけ測定す
るので、主走査方向の中央部、手前、奥側のように分け
て測定することもできる。また、高い分解能で位置誤差
を測定する場合にも、斜線のパターンを細くする必要は
全くなく、システムのＭＴＦの制約を受けずに幅が広い
パターンを用いることができる。

【００４９】更に、幅が広いパターンを用いた場合、幅
に応じてウィンドウも大きくなるので結果として測定精
度を向上させることができる。したがって、斜線の幅は
処理速度、リアルタイム処理を行う場合にはバッファの
サイズ、回路規模の経済性などとのバランスを考慮して
設定すればよい。また、幅が広いパターンを用いてその
片側のエッジを検出することにより位置誤差を測定する
ことができる。更に、例えば副走査方向の読み取りタイ
ミングに関係なく白黒パターンを副走査方向に配列する
とモアレの発生が問題となるが、本実施形態では副走査
方向の読み取りタイミングと斜線の関係は常に同じであ
るのでモアレの発生が問題とならず、その結果、高精度
で位置誤差を測定することができる。

【００５０】７．ウィンドウデータと重心の計算 次に、ウィンドウのデータと重心の計算について詳細に
説明する。図１３はウィンドウデータと斜線パターンの
各画素の読み取り値の関係を示し、読み取り値は８ビッ
トであって１０進（０〜２５５）で示されている。主走
査方向の重心を求めるには、副走査方向の各列（３ライ
ン分）の和を求め、図に示すようにこれを左側からＸ
０、Ｘ１〜Ｘ９として、それぞれ１８、５０、２０２、
４２７、５９０、５６２、３４５、１５０、３７、１４
を求める。そして、各画素の主走査方向の中心座標を左
から順に０〜９とし、主走査方向の重心位置をＲｍとす
ると、重心位置Ｒｍの回りのモーメントは０になるの
で、 Ｘ０（Ｒｍ−０）＋Ｘ１（Ｒｍ−１）・・・＋Ｘ９（Ｒ
ｍ−９）＝０ が成り立ち、数値を代入して計算するとＲｍ＝４．３６
２が得られる。

【００５１】重心を求める理由は、補間などの前処理を
必要とせず、演算を簡素化、高速化することができるか
らである。また、画像位置を求める場合、各列毎のデー
タの和の並びから補間により所定の分解能のデータ列を
得て、そのデータからピーク値が存在する位置を求める
方法を用いることができる。

【００５２】８．チャートの重心の計算 次に、複数本の斜線から成るチャートの重心を計算する
場合について説明する。図１１に示すように複数本から
成る斜線の重心を計算する場合、同一線上の線では問題
とならないが、違う線にウィンドウが移動したときには
移動前と移動後では斜線の主走査方向の間隔が丁度、整
数画素数でない限り重心の値が異なるので、補正しなけ
ればならない。一例として図１１に示す斜線Ｋa2のウィ
ンドウＷanの重心の値Ｒanが４．６５となり、次の斜線
Ｋa3に移動した場合のウィンドウＷan+1の重心の値Ｒan
+1が４．３８、ウィンドウＷan+2の重心の値Ｒan+2が
４．４０、ウィンドウＷan+3の重心の値Ｒan+3が４．４
１となった場合、ウィンドウが移動したラインにおける
重心の差ΔＲa を計算すると、 ΔＲa ＝Ｒan−Ｒan+1＝４．６５−４．３８＝０．２７ となる。

【００５３】この値ΔＲa を斜線Ｋa3の重心の値に加算
し、この加算結果を重心の値として位置誤差を求める。
この場合、ウィンドウＷan+2の重心の値Ｒan+2、ウィン
ドウＷan+3の重心の値Ｒan+3は、 Ｒan+2＝Ｒan+2＋ΔＲa ＝４．４０＋０．２７＝４．６
７ Ｒan+3＝Ｒan+3＋ΔＲa ＝４．４１＋０．２７＝４．６
８ となる。したがって、このように複数本の斜線からなる
チャートを使用しても、連続して高精度で位置誤差を測
定することができる。ただし、斜線Ｋa2のウィンドウＷ
anから斜線Ｋa3のウィンドウＷan+1に移動する場合、斜
線Ｋa2、Ｋa3は主走査方向に同時に存在しなければなら
ない。

【００５４】図１４は斜線の配置関係を示し、長さＬ1
の複数の斜線が主走査方向に対して角度θで配置され、
主走査方向の斜線の始点と終点の位置が同一の場合、主
走査方向の斜線間隔をＬ2 とすると、 Ｌ2 ＜Ｌ1 ×cos θ ・・・（１） の関係が成り立つように斜線を配置すれば、斜線は主走
査方向には重なるので、ウィンドウを主走査方向に移動
して次の斜線の重心を連続して測定することができる。
ここで、斜線の長さＬ1 と斜線の始点、終点の主走査方
向の位置は式（１）の大小関係が大きいほど精度を必要
としなくなる。

【００５５】９．位置誤差の修正方法 ９．１ 第１の方法 図１５、図１６、図１７は、コンタクトガラス１と走査
方向に対して相対した４５°の複数の斜線からなる斜線
パターン１０ａ，１０ｂの一部拡大図である。図１５は
測定用パターン１０がコンタクトガラス１に対して平行
に位置ずれなく設置されて平均速度も所定の場合を示
す。この場合には、前述のビットマップパターンにも４
５°の斜線パターンが形成される。この場合の位置誤差
の測定結果は図１８のようになる。この図は、副走査方
向の位置に対して本来あるべき位置から実際の読取位置
の副走査方向の距離を位置誤差として示している。な
お、単位はドットである。平均速度が等倍時における所
定値の場合は、図１８に示すように「０」を中心として
位置誤差が測定される。このとき、左右の斜線パターン
１０ａ，１０ｂでの差は見られない。

【００５６】図１６は測定用パターン１０がコンタクト
ガラス１に対して平行に位置ずれなく設置されて平均速
度が所定値より少し速い場合を示す。この場合には、ビ
ットマップパターンには４５°より少し大きい角度、す
なわち左右の斜線パターン１０ａ，１０ｂが開く方向で
形成される。このときの位置誤差の測定結果を図１９に
示す。この図から分かるように平均速度が所定の値と異
なる場合には、位置誤差の測定結果に傾きが生じてく
る。所定値よりも速い場合には、傾きが増す。このとき
の左右の斜線パターン１０ａ，１０ｂでの差は見られな
い。

【００５７】図１７は測定用パターン１０がコンタクト
ガラス１に対して少し傾いて設置され、平均速度が所定
値よりも速い場合を示す。この場合には、図１７に示す
ように斜線パターン１０ａ，１０ｂが傾くと、左側の斜
線パターン１０ｂは走査方向に対して角度が小さくなる
方向に傾きに、右側の斜線パターン１０ａは走査方向に
対して角度が大きくなる方向に傾く。この場合の位置誤
差の測定結果を図２０に示す。図２０において、左側の
斜線パターン１０ｂは実際の平均速度よりも斜線が傾い
た分だけ速度が速い方向に検知され、傾きが増す方向で
測定される。右側の斜線パターン１０ａは逆に、平均速
度よりも斜線が傾いた分だけ速度が遅い方向に検知さ
れ、傾きが減る方向で測定される。このように検知され
るので、左側の斜線パターン１０ｂから求めた位置誤差
測定データと右側の斜線パターン１０ａから求めた位置
誤差測定データとの平均をとると、両者の斜線パターン
１０ａ，１０ｂ全体の傾きを相殺することになり、測定
用パターン１０の傾きにかかわらず、真の位置誤差デー
タを得ることができる。

【００５８】このように走査方向に対して相異なる角度
の斜線パターン１０ａ，１０ｂを用いてそれぞれの位置
誤差を測定することによって測定用パターン１０の位置
ずれと平均速度の所定値からのずれを分離することがで
き、また、右、左それぞれの斜線パターン１０ａ，１０
ｂの位置誤差データの平均を取ることによって測定用パ
ターン１０に位置ずれがあっても位置誤差を正確に測定
することができる。

【００５９】図２１は図２０の測定結果の右側の斜線パ
ターン１０ａを用いて測定した位置誤差データから左側
の斜線パターン１０ｂを用いて測定した位置誤差データ
の差を取ってプロットした結果である。この線は測定用
パターン１０の傾きを示している。このように走査方向
に対して相異なる２つの斜線パターン１０ａ，１０ｂか
ら求めた位置誤差のデータの差によって測定用パターン
１０の位置ずれ量を検知することができる。

【００６０】９．２ 第２の方法 上記の第１の方法のような制御により斜線パターンを位
置ずれを検知することができるが、この位置ずれ量は通
常変化することはない。したがって、図２１に示した斜
線パターン１０ａ，１０ｂの位置ずれ量を前記記憶部１
０８に記憶しておき、通常の読み取り時には、左右いず
れかの斜線パターン１０ａ，１０ｂを使用して位置誤差
を測定し、随時記憶部１０８から前記いずれかの斜線パ
ターン１０ａ，１０ｂの位置ずれ量を読み出して測定し
た位置誤差データを修正することによって斜線パターン
の位置ずれ量を検知することができる。

【００６１】１０．ウィンドウの設定の方法 走査方向に対して相対した４５度の複数の斜線からなる
パターンが図２２のように形成されるときに位置誤差測
定部１０５におけるウィンドウの設定方法は、以下のよ
うになる。

【００６２】図２２は図３におけるビットマップにおけ
る複数個の斜線を示し、また、この複数個の斜線を用い
て位置誤差を測定するための１０×３のサイズのウィン
ドウを示している。まず、左側の斜線パターン１０ａの
斜線Kc1から位置誤差を求める場合について説明する。
ウィンドウＷ内のデータ位置を求めるために主走査方向
の重心を演算する。ウィンドウはＷ1 →Ｗ2 →Ｗ3 のよ
うにウィンドウを斜め下４５度の方向に順次シフトす
る。このとき常にウィンドウ内に斜線パターンが収まる
ように制御される。そして、ウィンドウが所定の主走査
方向のアドレスに達したとき、この図の場合には、ウィ
ンドウＷn に到達すると、ウィンドウを主走査方向のみ
に移動させて、もう一方の右側の斜線パターン１０ｂの
斜線Ｋd2に移動させる。ウィンドウは前述と同様にして
Ｗn+1 →Ｗn+2 →Ｗn+3 と移動する。

【００６３】右側の斜線パターン１０ｂの斜線Ｋd2にお
いても同様にウィンドウが所定の主走査方向のアドレス
に達したとき、この場合、ウィンドウＷ2nに達すると、
ウィンドウを主走査方向にみに移動させて左側の斜線パ
ターン１０ａの斜線Ｋc2にウィンドウを移動させ、同様
にしてウィンドウはＷ2n+1→Ｗ2n+2→Ｗ2n+3と移動す
る。このように左右の斜線パターン１０ａ，１０ｂを交
互に測定することによって図１１の斜線パターン１０
ａ，１０ｂの場合の制御に比べて演算処理が簡単にな
り、演算時間を短くして位置誤差を求めることができ
る。

【００６４】このようにして求められた位置誤差の修正
は、次のようにして行われる。

【００６５】上記のような制御によって左右の斜線パタ
ーンそれぞれについて位置誤差を求めると、図２３に示
すような結果となる。このとき、左側と右側の斜線パタ
ーンにおいてウィンドウが移動したときの位置誤差の差
を求める。すなわち、ａ，ｂ，ｃ・・・ｍの位置で左側
と右側の斜線パターン１０ａ，１０ｂの位置誤差の差を
求める。その差から直線近似した結果を図２４に示す。
この傾きが斜線チャート（測定用パターン１０）の位置
ずれを示している。これにより、修正された真の位置誤
差データを得ることが可能になる。

【００６６】１１．ノイズの除去方法 コンタクトガラス１や測定用パターン１０上にごみや傷
があった場合に、位置誤差を測定しようとするとノイズ
となって表われる。そこで、測定用パターン１０の左側
の斜線パターン１０ａにごみ２５０が付着した場合につ
いて図２５を参照して説明する。この図２５に示すよう
なごみ２５０が付着したときの左側の斜線パターン１０
ａと右側の斜線パターン１０ｂの位置誤差の測定結果は
図２６のようになり、この測定結果の差をとると図２７
に示すようになる。

【００６７】この図２７から分かるように、左側と右側
の斜線パターン１０ａ，１０ｂの位置誤差の差をとる
と、ノイズがある場合にはノイズのある箇所にピークが
現出するので、これによってごみが付着している位置と
ノイズ量を求めることができる。例えば、図２７におい
て、他のデータからある値以上離れている場合をノイズ
として判断し、このノイズ部分を除去することによって
Ｓ／Ｎのよい位置誤差測定が可能となる。

【００６８】１２．位置誤差補正処理 位置誤差補正部における読み取りデータの補正は次のよ
うにして行われる。

【００６９】すなわち、この実施形態では３次関数コン
ボリューションを利用して補正を行う。図２８に３次関
数コンボリューションを利用した補正のモデル図を、図
２９に補正の処理手順を示すフローチャートを示す。図
から分かるように速度ムラがない場合の副走査方向の画
素位置は、画素列Ｐで示すように等間隔となる。しか
し、速度ムラがある場合には、画素列Ｑで示すようにそ
の間隔はバラツキ、正しい位置から外れてくる。図は本
来Ｐn の位置になければならない画素が実際には画素Ｑ
n の位置にあることを示している。

【００７０】ここで、ｎライン目のある走査方向のデー
タＰn の画像データ（濃度データ）を画素列Ｑの画像デ
ータと位置データとから重み関数である３次関数コンボ
リューションを使用して作成する例について説明する。

【００７１】３次関数コンボリューションを利用する場
合、理想的なｎライン目（Ｐn ）の位置から２画素分以
内（ｒ0 ）のデータを位置誤差データから検出する（ス
テップ１７１，１７２）。この場合は、Ｑn 、Ｑn+1 、
Ｑn+2 、Ｑn+3 、Ｑn+4 のデータが対象となる。ここで
２画素分以内としているのは、ｒ0 以上のデータは補正
係数を０として取り扱うのでそれ以上のデータは必要が
ないためである。そして、各データのＰn からの距離ｒ
によって各データＱにおける補間関数ｈ（r ）を求め
る。これが補正係数となる（ステップ１７３）。ここ
で、補間関数ｈ（r）はｓｉｎｘ／ｘの区分的３次多項
式近似で中心からの距離ｒによって以下の式、すなわ
ち、 ｈ（r ）＝１−２｜ｒ｜² ＋｜ｒ｜³ ・・・（２） ただし、０≦｜ｒ｜＜１ ｈ（r ）＝４−８｜ｒ｜＋５｜ｒ｜² −｜ｒ｜³ ・・・（３） ただし、１≦｜ｒ｜＜２ ｈ（r ）＝０ ・・・（４） ただし、２≦｜ｒ｜ で表わされる。そして、この補間関数ｈ（r ）のもと
で、補正係数を対応するＱのデータに掛けて、Ｐn を求
める。また、濃度ムラを補正するために各補正係数の合
計が１になるように分母に補正係数の合計をとる。すな
わち、 Ｐn ＝｛Ｑn ・ｈ(r1)＋Ｑn+1 ・ｈ(r2)＋Ｑn+2 ・ｈ(r3) ＋Ｑn+3 ・ｈ(r4)＋Ｑn+4 ・ｈ(r5)｝／｛ｈ(r1) ＋ｈ(r2)＋ｈ(r3)＋ｈ(r4)＋ｈ(r5)｝ ・・・（５） となる（ステップ１７４）。

【００７２】この制御をｎライン目の各主走査方向のデ
ータにおいて終了したら、ｎ＋１ライン目へのラインを
シフトしていき、最終ラインまで繰り返し行う（ステッ
プ１７５）。このとき式（５）において補間係数ｈ（r
）と分母の補間係数の和の計算とその逆数の計算は、
対応する主走査方向の画像データの補正の前に１回実行
すればよい。このように制御することによって前述のよ
うにして測定した位置誤差データに基づいて、読み取っ
た画像データから正しい位置で読み取った場合の画像デ
ータを作成することができ、これによって位置誤差を補
正することが可能になる。

【００７３】このようにして補正した前後の状態を図３
０に示す。通常の読取装置はキャリッジが走査を開始し
てから一定速度になった後に画像の読み取りを開始する
が、図３０（ａ）では位置誤差を大きく見せるためにキ
ャリッジが走査を開始した直後から画像の読み取りを始
めたものを図示している。このとき、４５度の斜線も同
時に読み込んでおり、この斜線パターン部分の画像から
前述の方式で位置誤差を求め、その位置誤差データと読
み取った画像データとから位置誤差を補正した画像が図
３０（ｂ）に示すものである。このようにして補正する
ことによってたとえ位置誤差を非常に大きく読み取って
しまったとしても、原稿に忠実な画像を再現できること
がわかる。

【００７４】

【発明の効果】以上説明したように請求項１記載の発明
によれば、厳密なパターンの位置決め機構やパターンの
精度を必要することなく、副走査方向の画素の位置誤差
を高精度に測定することができ、また、測定された位置
誤差データに基づいて画像の位置誤差を補正するので、
位置ずれのない画像データを得ることができる。

【００７５】請求項２記載の発明によれば、請求項１記
載の発明に効果に加えて通常の読み取り時には、一方の
位置誤差だけ測定し、あらかじめ求めておいた位置誤差
の差の値を利用して位置誤差データを補正するので、演
算時間を短くすることができる。

【００７６】請求項３記載の発明によれば、請求項１記
載の発明の効果に加えて、第１および第２の斜線パター
ンを交互に読み取って位置誤差を求めていくので、演算
回路を簡略化することができる。

【００７７】請求項４記載の発明によれば、請求項１記
載の発明の効果に加えて、ごみや傷などによる画像デー
タ上のノイズを除去することができるので、さらに高精
度に位置誤差を測定することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態に係る画像読取装置の断面図
である。

【図２】図１の画像読取装置の平面図である。

【図３】画像読取装置に付設される測定用パターンとコ
ンタクトガラスの要部拡大図である。

【図４】図１の画像読取装置に付設される位置誤差測定
装置のシステム構成を示すブロック図である。

【図５】走査速度の変動に応じた斜線パターンの読み取
りデータの説明図である。

【図６】斜線パターンを拡大して示す説明図である。

【図７】図６の斜線パターンの読み取り値を示す説明図
である。

【図８】斜線判定用ウィンドウを示す説明図である。

【図９】他の斜線判定用ウィンドウを示す説明図であ
る。

【図１０】斜線判定用マッチングパターンを示す説明図
である。

【図１１】重心測定用ウィンドウを示す説明図である。

【図１２】画像読取装置における重心の測定処理を説明
するためのフローチャートである。

【図１３】重心測定用ウィンドウにおける読み取り値及
び重心測定方法を示す説明図である。

【図１４】パターンの長さ及び角度を示す説明図であ
る。

【図１５】コンタクトガラス１と走査方向に対して相対
した４５°の複数の斜線からなるパターンの一例を示す
一部拡大図である。

【図１６】コンタクトガラス１と走査方向に対して相対
した４５°の複数の斜線からなるパターンの他の例を示
す一部拡大図である。

【図１７】コンタクトガラス１と走査方向に対して相対
した４５°の複数の斜線からなるパターンのさらに他の
例を示す一部拡大図である。

【図１８】図１５のパターンの位置誤差測定結果を示す
図である。

【図１９】図１６のパターンの位置誤差測定結果を示す
図である。

【図２０】図１７のパターンの位置誤差測定結果を示す
図である。

【図２１】図２０の測定結果の左側の斜線パターンを用
いて測定した位置誤差データから右側の斜線パターンを
用いて測定した位置誤差データの差を取ってプロットし
た図である。

【図２２】ビットマップにおける複数個の斜線パターン
の他の例と、複数個の斜線を用いて位置誤差を測定する
ための１０×３のサイズのウィンドウを示す説明図であ
る。

【図２３】左右の斜線パターンそれぞれについて求めた
位置誤差を示す図である。

【図２４】左右の斜線パターンにおいてウィンドウが移
動したときの位置誤差の差から直線近似した結果を示す
図である。

【図２５】左側の斜線パターンにごみが付着した状態を
示す説明図である。

【図２６】図２５に示すごみの付着した左側の斜線パタ
ーンと右側の斜線パターンの位置誤差の測定結果を示す
図である。

【図２７】図２６の測定結果の差をとったときの状態を
示す図である。

【図２８】３次関数コンボリューションを利用した補正
のモデル図である。

【図２９】補正の処理手順を示すフローチャートであ
る。

【図３０】補正した前後の状態を示す図である。

【符号の説明】

１ コンタクトガラス ２ 光源 ３，４，５ ミラー ６ レンズ ７ 光電変換素子（ラインＣＣＤ） ８ 筐体 １０ 測定用パターン １０ａ，１０ｂ 斜線パターン １０１ 光電変換部 １０２ Ａ／Ｄ変換部 １０３ シェーディング補正部 １０４ 斜線判別部 １０５ 位置誤差測定部 １０６ 位置誤差補正部 １０７ 制御部 １０８ 記憶部

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 画像を一定の時間間隔で線順次に走査し
   て読み取る画像読取装置において、 原稿の走査領域外に設けられ、走査方向に対して一定の
   傾きを有する複数本の線からなる第１のパターンおよび
   前記第１のパターンと逆方向に一定の傾きを有する複数
   本の線からなる第２のパターンと、 これら第１および第２のパターンを読み込むことによっ
   て傾きが異なるパターンのそれぞれに対応した画素の位
   置誤差を測定する手段と、 この測定する手段によって測定された値に基づいて画素
   の位置誤差を修正する手段と、 この修正された画素の位置誤差を補正する手段と、を備
   えていることを特徴とする画像読取装置。
2. 【請求項２】 前記第１のパターンから位置誤差を求め
   る手段と、 前記第２のパターンから位置誤差を求める手段と、 前記両手段によって求められた両パターンの位置誤差の
   差を求める手段と、 前記求められた位置誤差の差を記憶する手段と、 通常の読取時には前記第１および第２のいずれか一方の
   パターンを使用して位置誤差を測定し、前記記憶する手
   段に記憶された位置誤差の差の値に基づいて画素の位置
   誤差を修正する手段と、をさらに備えていることを特徴
   とする請求項１記載の画像読取装置。
3. 【請求項３】 前記第１のパターンから位置誤差を求め
   る手段と、 前記第２のパターンから位置誤差を求める手段と、 位置誤差の測定を前記第１のパターンから始めるとき、
   前記第１および第２のパターンを読み取った画像データ
   と、前記第１のパターン部を含むウィンドウを設定する
   手段と、 前記ウィンドウを画素の整数個分づつ順次移動させて設
   定しなおす手段と、 前記ウィンドウがある位置に移動したときにウィンドウ
   を主走査方向に移動させて前記第２のウィンドウ部を含
   むウィンドウに設定する手段と、 ウィンドウが設定されるごとに、当該設定された領域に
   おけるパターンの位置を演算する手段と、 ウィンドウの移動前後におけるパターンの位置データの
   変化を演算することによって位置誤差を求める手段と、 前記第１および第２のパターンから求めた位置誤差から
   位置誤差データを修正する手段と、をさらに備えている
   ことを特徴とする請求項１記載の画像読取装置。
4. 【請求項４】 前記第１のパターンから位置誤差を求め
   る手段と、 前記第２のパターンから位置誤差を求める手段と、 前記第１および第２のパターンから求められた位置誤差
   を比較する手段と、 この比較する手段によって比較された位置誤差に所定量
   以上の差があるときにノイズがあったと判断して、前記
   ノイズを除去する手段と、をさらに備えていることを特
   徴とする請求項１記載の画像形成装置。