JP2636846B2 - 光磁気デイスクの光学ピツクアツプ装置 - Google Patents
光磁気デイスクの光学ピツクアツプ装置Info
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- JP2636846B2 JP2636846B2 JP62030296A JP3029687A JP2636846B2 JP 2636846 B2 JP2636846 B2 JP 2636846B2 JP 62030296 A JP62030296 A JP 62030296A JP 3029687 A JP3029687 A JP 3029687A JP 2636846 B2 JP2636846 B2 JP 2636846B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光磁気ディスクに記録されている情報を光
学的に読み取るための光学ピックアップ装置に関する。
学的に読み取るための光学ピックアップ装置に関する。
本発明は、光磁気ディスクに記録されている情報を光
学的に読み取るための光学ピックアップ装置において、
光磁気ディスクによる反射光の直線偏光成分を分離する
プリズムの同一平面上に設けた各出射面に各受光部を対
向させて上記プリズムに光検出器を配置固着し、上記光
検出器の各受光部にて得られる検出出力から情報読み取
り出力信号とフォーカス誤差信号を得るようにして、機
械的および電気的な構成を簡略化し、組み立て製造を容
易にしたものである。
学的に読み取るための光学ピックアップ装置において、
光磁気ディスクによる反射光の直線偏光成分を分離する
プリズムの同一平面上に設けた各出射面に各受光部を対
向させて上記プリズムに光検出器を配置固着し、上記光
検出器の各受光部にて得られる検出出力から情報読み取
り出力信号とフォーカス誤差信号を得るようにして、機
械的および電気的な構成を簡略化し、組み立て製造を容
易にしたものである。
従来より、情報の書き換え可能な光ディスクとして、
ガラス，アクリル（PMMA），ポリカーボネート（PC）等
の透明基板上にファラデー効果やカー効果等の磁気光学
効果を有するTbFeCo等の垂直磁化膜をスパッタ法や真空
蒸着法により形成した光磁気ディスクが知られている。
ガラス，アクリル（PMMA），ポリカーボネート（PC）等
の透明基板上にファラデー効果やカー効果等の磁気光学
効果を有するTbFeCo等の垂直磁化膜をスパッタ法や真空
蒸着法により形成した光磁気ディスクが知られている。
上記光磁気ディスクでは、直流磁界をかけておき、情
報書き込みに応じて点滅するレーザ光を上記垂直磁化膜
に照射することにより、上記情報書き込み信号に応じて
上記垂直磁化膜の磁化を反転させる光変調方式や、一定
のレーザ光を上記垂直磁化膜に連続照射しておき、上記
垂直磁化膜に印加する外部磁界を情報書き込み信号に応
じて変調することにより、上記情報書き込み信号に応じ
て上記垂直磁化膜の磁化を反転させる磁界変調方式にて
情報の記録が行われる。そして、上記光磁気ディスクで
は、情報を記録した垂直磁化膜にレーザ光を照射する
と、上記垂直磁化膜を介して得られる反射光あるいは通
過光の偏光面が上記垂直磁化膜の磁化方向に応じて回転
するので、上記垂直磁化膜を介して得られる情報読み取
り用レーザ光の偏光成分を検出することにより、上記垂
直磁化膜に記録されている情報が光学的に読み取られ
る。
報書き込みに応じて点滅するレーザ光を上記垂直磁化膜
に照射することにより、上記情報書き込み信号に応じて
上記垂直磁化膜の磁化を反転させる光変調方式や、一定
のレーザ光を上記垂直磁化膜に連続照射しておき、上記
垂直磁化膜に印加する外部磁界を情報書き込み信号に応
じて変調することにより、上記情報書き込み信号に応じ
て上記垂直磁化膜の磁化を反転させる磁界変調方式にて
情報の記録が行われる。そして、上記光磁気ディスクで
は、情報を記録した垂直磁化膜にレーザ光を照射する
と、上記垂直磁化膜を介して得られる反射光あるいは通
過光の偏光面が上記垂直磁化膜の磁化方向に応じて回転
するので、上記垂直磁化膜を介して得られる情報読み取
り用レーザ光の偏光成分を検出することにより、上記垂
直磁化膜に記録されている情報が光学的に読み取られ
る。
上述の如き光磁気ディスクに記録した情報の読み取り
には、例えば、第５図に模式的に示す如き構成の光学ピ
ックアップ装置が従来より使用されている。
には、例えば、第５図に模式的に示す如き構成の光学ピ
ックアップ装置が従来より使用されている。
従来の光学ピックアップ装置の構成を示す第５図にお
いて、ピックアップブロック50は、情報読み取り用のレ
ーザ光（Ｌ）を放射する半導体レーザ51、上記レーザ光
（Ｌ）を光磁気ディスク70の垂直磁化膜すなわち記録媒
体面71に集束させる対物レンズ54、上記レーザ光（Ｌ）
の上記記録媒体面71による反射光（Ｒ）直線偏光成分を
分離する偏光ビームスプリッタ57や上記反射光（Ｒ）の
直線偏光成分を検出する各光検出器58,59等を備えて成
り、上記光磁気ディスク70の半径上を図示しない送り機
構により移動されるようになっている。上記ピックアッ
プブロック50の各光検出器58,59は、信号処理部60に接
続されている。
いて、ピックアップブロック50は、情報読み取り用のレ
ーザ光（Ｌ）を放射する半導体レーザ51、上記レーザ光
（Ｌ）を光磁気ディスク70の垂直磁化膜すなわち記録媒
体面71に集束させる対物レンズ54、上記レーザ光（Ｌ）
の上記記録媒体面71による反射光（Ｒ）直線偏光成分を
分離する偏光ビームスプリッタ57や上記反射光（Ｒ）の
直線偏光成分を検出する各光検出器58,59等を備えて成
り、上記光磁気ディスク70の半径上を図示しない送り機
構により移動されるようになっている。上記ピックアッ
プブロック50の各光検出器58,59は、信号処理部60に接
続されている。
上記半導体レーザ51から放射される情報読み取り用レ
ーザ光（Ｌ）は、コリメータレンズ52にて平行光とされ
てビームスプリッタ53に入射され、その光軸に対して45
゜傾斜した上記ビームスプリッタ53の半透鏡面53Aによ
る反射光成分が対物レンズ54を介して上記光磁気ディス
ク70の記録媒体面71に集束状態で照射される。上記光磁
気ディスク70の記録媒体面71による反射光（Ｒ）は、上
記対物レンズ54から上記ビームスプリッタ53に入射さ
れ、該ビームスプリッタ53の半透鏡面53Aを通過する通
過光成分が集束レンズ55とシリンドリカルレンズ56を介
して偏光ビームスプリッタ57に入射され、この偏光ビー
ムスプリッタ57にて直線偏光成分すなわちＰ偏光成分
（Rp）とＳ偏光成分（Rs）とに分離して２個の光検出器
58,59に照射される。
ーザ光（Ｌ）は、コリメータレンズ52にて平行光とされ
てビームスプリッタ53に入射され、その光軸に対して45
゜傾斜した上記ビームスプリッタ53の半透鏡面53Aによ
る反射光成分が対物レンズ54を介して上記光磁気ディス
ク70の記録媒体面71に集束状態で照射される。上記光磁
気ディスク70の記録媒体面71による反射光（Ｒ）は、上
記対物レンズ54から上記ビームスプリッタ53に入射さ
れ、該ビームスプリッタ53の半透鏡面53Aを通過する通
過光成分が集束レンズ55とシリンドリカルレンズ56を介
して偏光ビームスプリッタ57に入射され、この偏光ビー
ムスプリッタ57にて直線偏光成分すなわちＰ偏光成分
（Rp）とＳ偏光成分（Rs）とに分離して２個の光検出器
58,59に照射される。
そして、上記光磁気ディスク70の記録媒体面71による
反射光（Ｒ）のＰ偏光成分（Rp）とＳ偏光成分（Rs）を
検出する上記２個の光検出器58,59の各検出出力が供給
される信号処理部60にて、上記各検出出力の差動出力と
して上記光磁気ディスク70に記録されている情報を読み
取った光磁気信号（RF）を得るようになっている。
反射光（Ｒ）のＰ偏光成分（Rp）とＳ偏光成分（Rs）を
検出する上記２個の光検出器58,59の各検出出力が供給
される信号処理部60にて、上記各検出出力の差動出力と
して上記光磁気ディスク70に記録されている情報を読み
取った光磁気信号（RF）を得るようになっている。
また、この光学ピックアップ装置では、上記光磁気デ
ィスク70の記録媒体面71に照射する情報読み取り用レー
ザ光（Ｌ）のフォーカス制御を行うために、上記光検出
器58,59として第６図に示すようにそれぞれ４つの検出
領域（58a〜58d），（59a〜59d）を設けた所謂４分割デ
ィテクタを用いて非点収差法よるフォーカス検出を行
い、上記信号処理部60にて上記光検出器58,59の各検出
出力からそれぞれフォーカス誤差検出信号を形成し、各
信号を加算合成してフォーカス誤差信号（FE）としてフ
ォーカス制御に使用するようにしている。
ィスク70の記録媒体面71に照射する情報読み取り用レー
ザ光（Ｌ）のフォーカス制御を行うために、上記光検出
器58,59として第６図に示すようにそれぞれ４つの検出
領域（58a〜58d），（59a〜59d）を設けた所謂４分割デ
ィテクタを用いて非点収差法よるフォーカス検出を行
い、上記信号処理部60にて上記光検出器58,59の各検出
出力からそれぞれフォーカス誤差検出信号を形成し、各
信号を加算合成してフォーカス誤差信号（FE）としてフ
ォーカス制御に使用するようにしている。
ところで、上述のように光磁気ディスク70の記録媒体
面71による反射光（Ｒ）のＰ偏光成分（Rp）とＳ偏光成
分（Rs）を検出する２個の光検出器58,59にて、上記光
磁気ディスク70に記録されている情報に応じた光磁気信
号を差動検出するとともに、所謂非点収差法によるフォ
ーカス検出を行うようにした従来の光学ピックアップ装
置では、シリンドリカルレンズ56,偏光ビームスプリッ
タ57さらに各光検出器58,59が個別に設置されているの
で構造が複雑であり、組み立て工数が多いばかりでな
く、これらの設置容積が大きく装置の小型化が困難であ
る。また、上記偏光ビームスプリッタ57にて分離される
上記反射光（Ｒ）のＰ偏光成分（Rp）とＳ偏光成分（R
s）を所定位置で正確に検出するように、上記２個の光
検出器58,59の固定位置をそれぞれ三次元方向（第６図
中矢印X,Y,Z方向）に個別に調整する必要があり、その
調整作業に多大な手間と時間を要するという問題点があ
った。
面71による反射光（Ｒ）のＰ偏光成分（Rp）とＳ偏光成
分（Rs）を検出する２個の光検出器58,59にて、上記光
磁気ディスク70に記録されている情報に応じた光磁気信
号を差動検出するとともに、所謂非点収差法によるフォ
ーカス検出を行うようにした従来の光学ピックアップ装
置では、シリンドリカルレンズ56,偏光ビームスプリッ
タ57さらに各光検出器58,59が個別に設置されているの
で構造が複雑であり、組み立て工数が多いばかりでな
く、これらの設置容積が大きく装置の小型化が困難であ
る。また、上記偏光ビームスプリッタ57にて分離される
上記反射光（Ｒ）のＰ偏光成分（Rp）とＳ偏光成分（R
s）を所定位置で正確に検出するように、上記２個の光
検出器58,59の固定位置をそれぞれ三次元方向（第６図
中矢印X,Y,Z方向）に個別に調整する必要があり、その
調整作業に多大な手間と時間を要するという問題点があ
った。
そこで、本発明は、上述の如き従来の問題点に鑑み、
光磁気ディスクに記録されている情報に応じた光磁気信
号を差動検出するとともに、フォーカス検出を行う光学
ピックアップ装置の構造および調整作業の簡略化を図
り、組み立て製造を容易にした新規な構成の光学ピック
アップ装置を提供することを目的とする。
光磁気ディスクに記録されている情報に応じた光磁気信
号を差動検出するとともに、フォーカス検出を行う光学
ピックアップ装置の構造および調整作業の簡略化を図
り、組み立て製造を容易にした新規な構成の光学ピック
アップ装置を提供することを目的とする。
本発明に係る光磁気ディスクの光学ピックアップ装置
は、レーザ光を放射するレーザ光源と、このレーザ光源
が放射するレーザ光を光磁気ディスクの記録媒体面に集
束状態で照射させる対物レンズと、上記記録媒体面によ
る上記レーザ光の反射光が上記対物レンズを介して入力
され、上記反射光の入射光軸に対して所定の傾斜をもっ
て配され上記反射光の直線偏光成分を分離する偏光ビー
ムスプリッタ膜および該偏光ビームスプリッタ膜とは異
なる面に配された反射面を有するとともに、分離した反
射光の直線偏光成分の各出射面を上記反射光の集束位置
の前後に等距離ずらせた位置に位置させて同一平面上に
設けたプリズムと、上記反射光の集束後のレーザ光を受
光する第１の受光部と、集束前のレーザ光を受光する第
２の受光部を有し、上記各出射面に第１及び第２の各受
光部をそれぞれ対向させて上記プリズムに対して固定位
置された光検出器とを備え、上記光検出器の第１及び第
２の各受光部による差動検出出力に基づいて上記光磁気
ディスクに照射したレーザ光のフォーカス誤差信号を形
成するとともに上記光磁気ディスクに記録されている情
報の読み取り出力信号を形成するようにしたものであ
る。
は、レーザ光を放射するレーザ光源と、このレーザ光源
が放射するレーザ光を光磁気ディスクの記録媒体面に集
束状態で照射させる対物レンズと、上記記録媒体面によ
る上記レーザ光の反射光が上記対物レンズを介して入力
され、上記反射光の入射光軸に対して所定の傾斜をもっ
て配され上記反射光の直線偏光成分を分離する偏光ビー
ムスプリッタ膜および該偏光ビームスプリッタ膜とは異
なる面に配された反射面を有するとともに、分離した反
射光の直線偏光成分の各出射面を上記反射光の集束位置
の前後に等距離ずらせた位置に位置させて同一平面上に
設けたプリズムと、上記反射光の集束後のレーザ光を受
光する第１の受光部と、集束前のレーザ光を受光する第
２の受光部を有し、上記各出射面に第１及び第２の各受
光部をそれぞれ対向させて上記プリズムに対して固定位
置された光検出器とを備え、上記光検出器の第１及び第
２の各受光部による差動検出出力に基づいて上記光磁気
ディスクに照射したレーザ光のフォーカス誤差信号を形
成するとともに上記光磁気ディスクに記録されている情
報の読み取り出力信号を形成するようにしたものであ
る。
本発明に係る光磁気ディスクの光学ピックアップ装置
では、プリズムにて分離される光磁気ディスクによる反
射光の直線偏光成分の集束位置の前後位置に配置した光
検出器の各受光部の各検出出力に基づいて、光磁気ディ
スクに照射した情報読み取り用レーザ光のフォーカス検
出を行うとともに、上記光磁気ディスクに記録されてい
る情報に応じた光磁気信号の差動検出を行う。上記光検
出器は、１部品として位置調整を行い、プリズムの同一
平面上に設けた各出射面に各受光部が対向するように上
記プリズムに配置固定される。
では、プリズムにて分離される光磁気ディスクによる反
射光の直線偏光成分の集束位置の前後位置に配置した光
検出器の各受光部の各検出出力に基づいて、光磁気ディ
スクに照射した情報読み取り用レーザ光のフォーカス検
出を行うとともに、上記光磁気ディスクに記録されてい
る情報に応じた光磁気信号の差動検出を行う。上記光検
出器は、１部品として位置調整を行い、プリズムの同一
平面上に設けた各出射面に各受光部が対向するように上
記プリズムに配置固定される。
以下、本発明に係る光磁気ディスクの光学ピックアッ
プ装置の一実施例について、図面を参照しながら詳細に
説明する。
プ装置の一実施例について、図面を参照しながら詳細に
説明する。
第１図の構成図に示す実施例の光学ピックアップ装置
は、情報読み取り用のレーザ光（Ｌ）を光磁気ディスク
１の垂直磁化膜すなわち記録媒体面２に照射して、その
反射光（Ｒ）の直線偏光成分を検出するピックアップブ
ロック10と、該ピックアップブロック10にて得られる検
出出力に基づいて上記光磁気ディスク１に記録されてい
る情報の読み取り出力信号（RF）を形成するとともに上
記光磁気ディスク１に照射したレーザ光（Ｌ）のフォー
カス誤差信号（FE）を形成する信号処理部20とで構成さ
れている。
は、情報読み取り用のレーザ光（Ｌ）を光磁気ディスク
１の垂直磁化膜すなわち記録媒体面２に照射して、その
反射光（Ｒ）の直線偏光成分を検出するピックアップブ
ロック10と、該ピックアップブロック10にて得られる検
出出力に基づいて上記光磁気ディスク１に記録されてい
る情報の読み取り出力信号（RF）を形成するとともに上
記光磁気ディスク１に照射したレーザ光（Ｌ）のフォー
カス誤差信号（FE）を形成する信号処理部20とで構成さ
れている。
上記ピックアップブロック10は、情報読み取り用のレ
ーザ光（Ｌ）を放射する半導体レーザ11、上記レーザ光
（Ｌ）を光磁気ディスク１の記録媒体面２に集束させる
対物レンズ14、上記レーザ光（Ｌ）の上記記録媒体面２
による反射光（Ｒ）の直線偏光成分を分離する偏光ビー
ムスプリッタプリズム16や上記反射光（Ｒ）の直線偏光
成分が照射される第１及び第２の受光部17,18を有する
光検出器19を備えて成り、上記光磁気ディスク１の半径
上を図示しない送り機構により移動されるようになって
いる。
ーザ光（Ｌ）を放射する半導体レーザ11、上記レーザ光
（Ｌ）を光磁気ディスク１の記録媒体面２に集束させる
対物レンズ14、上記レーザ光（Ｌ）の上記記録媒体面２
による反射光（Ｒ）の直線偏光成分を分離する偏光ビー
ムスプリッタプリズム16や上記反射光（Ｒ）の直線偏光
成分が照射される第１及び第２の受光部17,18を有する
光検出器19を備えて成り、上記光磁気ディスク１の半径
上を図示しない送り機構により移動されるようになって
いる。
上記半導体レーザ11から放射される情報読み取り用レ
ーザ光（Ｌ）は、コリメータレンズ12にて平行光とされ
てビームスプリッタ13に入射され、その光軸に対して45
゜傾斜した上記ビームスプリッタ13の半透鏡面13Aによ
る反射光成分が対物レンズ14を介して光磁気ディスク１
の記録媒体面２に集束状態で照射される。上記光磁気デ
ィスク１の記録媒体面２による反射光（Ｒ）は、上記対
物レンズ14から上記ビームスプリッタ13に入射され、該
ビームスプリッタ13の半透鏡面13Aを通過する通過光成
分が集束レンズ15を介して偏光ビームスプリッタプリズ
ム16に入射されるようになっている。
ーザ光（Ｌ）は、コリメータレンズ12にて平行光とされ
てビームスプリッタ13に入射され、その光軸に対して45
゜傾斜した上記ビームスプリッタ13の半透鏡面13Aによ
る反射光成分が対物レンズ14を介して光磁気ディスク１
の記録媒体面２に集束状態で照射される。上記光磁気デ
ィスク１の記録媒体面２による反射光（Ｒ）は、上記対
物レンズ14から上記ビームスプリッタ13に入射され、該
ビームスプリッタ13の半透鏡面13Aを通過する通過光成
分が集束レンズ15を介して偏光ビームスプリッタプリズ
ム16に入射されるようになっている。
上記偏光ビームスプリッタプリズム16は、第１図に模
式的に示してあるように断面直角二等辺三角形状の第２
のプリズムブロック16Aと断面平行四辺形状の第２のプ
リズムブロック16Bを突き合わせ接合した断面台形状に
形成され、上記集束レンズ15を介して入射面16aに入射
される上記反射光（Ｒ）の光軸に対して45゜の傾斜を持
つ接合面部分に上記反射光（Ｒ）の直線偏光成分を分離
する偏光ビームスプリッタ膜16bが設けられている。上
記偏光ビームスプリッタ膜16bは、上記反射光（Ｒ）の
Ｐ偏光成分（Rp）を通過させＳ偏光成分（Rs）を反射す
ることにより上記反射光（Ｒ）の直線偏光成分を分離す
る。上記偏光ビームスプリッタプリズム16は、上記偏光
ビームスプリッタ膜16bと平行な面16cが上記Ｓ偏光成分
（Rs）を第１の出射面16dに導く反射鏡となっており、
上記第１の出射面16dと上記偏光ビームスプリッタ膜16b
を通過した上記Ｐ偏光成分（Rp）の第２の出射面16eと
が同一平面に形成されている。上記偏光ビームスプリッ
タプリズム16の各出射面16d,16eは上記集束レンズ15を
介して入射面16aに入射される上記反射光（Ｒ）の集束
位置（Ｐ）に対して前後に等距離ずらして位置されてい
る。
式的に示してあるように断面直角二等辺三角形状の第２
のプリズムブロック16Aと断面平行四辺形状の第２のプ
リズムブロック16Bを突き合わせ接合した断面台形状に
形成され、上記集束レンズ15を介して入射面16aに入射
される上記反射光（Ｒ）の光軸に対して45゜の傾斜を持
つ接合面部分に上記反射光（Ｒ）の直線偏光成分を分離
する偏光ビームスプリッタ膜16bが設けられている。上
記偏光ビームスプリッタ膜16bは、上記反射光（Ｒ）の
Ｐ偏光成分（Rp）を通過させＳ偏光成分（Rs）を反射す
ることにより上記反射光（Ｒ）の直線偏光成分を分離す
る。上記偏光ビームスプリッタプリズム16は、上記偏光
ビームスプリッタ膜16bと平行な面16cが上記Ｓ偏光成分
（Rs）を第１の出射面16dに導く反射鏡となっており、
上記第１の出射面16dと上記偏光ビームスプリッタ膜16b
を通過した上記Ｐ偏光成分（Rp）の第２の出射面16eと
が同一平面に形成されている。上記偏光ビームスプリッ
タプリズム16の各出射面16d,16eは上記集束レンズ15を
介して入射面16aに入射される上記反射光（Ｒ）の集束
位置（Ｐ）に対して前後に等距離ずらして位置されてい
る。
また、光検出器19は、第２図に模式的に示すように、
第１及び第２の受光部17,18がそれぞれ帯状に３分割さ
れ、各中央部の受光部17B,18Eの中心位置に直線偏光成
分（Rp），（Rs）の光軸の中心を一致させ、偏光ビーム
スプリッタプリズム16の第１及び第２の出射面16d,16e
にそれぞれ第１及び第２の受光部17,18を対向させて、
偏光ビームスプリッタプリズム16に一体的に固定配置さ
れている。
第１及び第２の受光部17,18がそれぞれ帯状に３分割さ
れ、各中央部の受光部17B,18Eの中心位置に直線偏光成
分（Rp），（Rs）の光軸の中心を一致させ、偏光ビーム
スプリッタプリズム16の第１及び第２の出射面16d,16e
にそれぞれ第１及び第２の受光部17,18を対向させて、
偏光ビームスプリッタプリズム16に一体的に固定配置さ
れている。
ところで、偏光ビームスプリッタプリズム16の第１及
び第２の出射面16d,16eは、入射面16aに入射される反射
光（Ｒ）の集束位置（Ｐ）に対して前後に等距離ずらし
て位置されてなるので、第１の出射面16dに対向する第
１の受光部17には、集束レンズ15によって集束された後
の反射光（Ｒ）が入射され、第２の出射面16eに対向す
る第２の受光部18には、集束レンズ15によって集束され
る前の反射光（Ｒ）が入射される。
び第２の出射面16d,16eは、入射面16aに入射される反射
光（Ｒ）の集束位置（Ｐ）に対して前後に等距離ずらし
て位置されてなるので、第１の出射面16dに対向する第
１の受光部17には、集束レンズ15によって集束された後
の反射光（Ｒ）が入射され、第２の出射面16eに対向す
る第２の受光部18には、集束レンズ15によって集束され
る前の反射光（Ｒ）が入射される。
この実施例におけるピックアップブッロック10では、
上記光検出器19の各受光部17,18に照射される上記直線
偏光成分（Rp），（Rs）の各スポット（SPp），（SPs）
が第２図中に実線にて示す同一径の状態のときに、上記
光磁気ディスク１の記録媒体面２に照射されているレー
ザ光（Ｌ）のジャストフォーカス状態となるように、光
路調整を行っておくことにより、上記レーザ光（Ｌ）の
フォーカスがずれると上記受光部17,18上の各スポット
（SPp），（SPs）の径が第２図中に破線および１点鎖線
にて示すように相反的に変化し、上記スポット（SP
p），（SPs）の径の変化に応じた検出出力が第１及び第
２の受光部17,18から得られる。なお、上記光検出器19
を配置固定した上記ピックアップブッロック10全体を１
部品として取り扱うことにより、上記光路調整を簡単に
行うことができる。
上記光検出器19の各受光部17,18に照射される上記直線
偏光成分（Rp），（Rs）の各スポット（SPp），（SPs）
が第２図中に実線にて示す同一径の状態のときに、上記
光磁気ディスク１の記録媒体面２に照射されているレー
ザ光（Ｌ）のジャストフォーカス状態となるように、光
路調整を行っておくことにより、上記レーザ光（Ｌ）の
フォーカスがずれると上記受光部17,18上の各スポット
（SPp），（SPs）の径が第２図中に破線および１点鎖線
にて示すように相反的に変化し、上記スポット（SP
p），（SPs）の径の変化に応じた検出出力が第１及び第
２の受光部17,18から得られる。なお、上記光検出器19
を配置固定した上記ピックアップブッロック10全体を１
部品として取り扱うことにより、上記光路調整を簡単に
行うことができる。
さらに、上記信号処理部20は、第２図に回路構成を示
してあるように、上記光検出器19の一方の３分割受光部
17A,17B,17Cにて得られる各検出出力（Ａ），（Ｂ），
（Ｃ）が供給される第１および第２の信号加算器21,22
と、他方の３分割受光部18D,18E,18Fにて得られる各検
出出力（Ｄ），（Ｅ），（Ｆ）が供給される第３および
第４の信号加算器23,24を備えて成る。
してあるように、上記光検出器19の一方の３分割受光部
17A,17B,17Cにて得られる各検出出力（Ａ），（Ｂ），
（Ｃ）が供給される第１および第２の信号加算器21,22
と、他方の３分割受光部18D,18E,18Fにて得られる各検
出出力（Ｄ），（Ｅ），（Ｆ）が供給される第３および
第４の信号加算器23,24を備えて成る。
上記第１の信号加算器21は、上記各検出出力（Ａ），
（Ｃ）を加算し、その加算出力（Ａ＋Ｃ）を上記第２の
信号加算器22に供給するとともに、第１の演算増幅器25
の負側入力端に供給している。上記第２の信号加算器22
は、上記検出出力（Ｂ）と上記加算出力（Ａ＋Ｃ）とを
加算して、上記一方の３分割受光部17A,17B,17Cにて得
られる各検出出力（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）の総和出力
（RF1＝Ａ＋Ｂ＋Ｃ）を第２の演算増幅器26の正側入力
端に供給している。
（Ｃ）を加算し、その加算出力（Ａ＋Ｃ）を上記第２の
信号加算器22に供給するとともに、第１の演算増幅器25
の負側入力端に供給している。上記第２の信号加算器22
は、上記検出出力（Ｂ）と上記加算出力（Ａ＋Ｃ）とを
加算して、上記一方の３分割受光部17A,17B,17Cにて得
られる各検出出力（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）の総和出力
（RF1＝Ａ＋Ｂ＋Ｃ）を第２の演算増幅器26の正側入力
端に供給している。
また、上記第３の信号加算器23は、上記各検出出力
（Ｄ），（Ｆ）を加算し、その加算出力（Ｄ＋Ｆ）を上
記第４の信号加算器24に供給するとともに、第３の演算
増幅器27の負側入力端に供給している。上記第４の信号
加算器24は、上記検出出力（Ｅ）と上記加算出力（Ｄ＋
Ｆ）とを加算して、上記他方の３分割受光部18D,18E,18
Fにて得られる各検出出力（Ｄ），（Ｅ），（Ｆ）の総
和出力（RF2＝Ｄ＋Ｅ＋Ｆ）を上記第２の演算増幅器26
の負側入力端に供給している。さらに、上記第１の演算
増幅器25は、その正側入力端に与えられる第３図の
（ａ）に示すようにフォーカス状態に応じて信号レベル
が変化する上記検出出力（Ｂ）から上記第１の信号加算
器21による加算出力（Ａ＋Ｃ）を減算することにより、
上記一方の３分割受光部17A,17B,17Cにて得られる各検
出出力（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）に基づいた第３図の
（ｂ）に示す如きフォーカス誤差信号〔FE1＝Ｂ−（Ａ
＋Ｃ）〕を形成して第４の演算増幅器28の正側入力端に
供給している。また、上記第３の演算増幅器27は、その
正側入力端に与えられる第３図の（ｃ）に示すようにフ
ォーカス状態に応じて信号レベルが変化する上記検出出
力（Ｅ）から上記第３の信号加算器23による加算出力
（Ｄ＋Ｆ）を減算することにより、上記他方の３分割受
光部18D,18E,18Fにて得られる各検出出力（Ｄ），
（Ｅ），（Ｆ）に基づいた第３図の（ｄ）に示す如きフ
ォーカス誤差信号〔FE2＝Ｅ−（Ｄ＋Ｆ）〕を形成して
第４の演算増幅器28の負側入力端に供給している。
（Ｄ），（Ｆ）を加算し、その加算出力（Ｄ＋Ｆ）を上
記第４の信号加算器24に供給するとともに、第３の演算
増幅器27の負側入力端に供給している。上記第４の信号
加算器24は、上記検出出力（Ｅ）と上記加算出力（Ｄ＋
Ｆ）とを加算して、上記他方の３分割受光部18D,18E,18
Fにて得られる各検出出力（Ｄ），（Ｅ），（Ｆ）の総
和出力（RF2＝Ｄ＋Ｅ＋Ｆ）を上記第２の演算増幅器26
の負側入力端に供給している。さらに、上記第１の演算
増幅器25は、その正側入力端に与えられる第３図の
（ａ）に示すようにフォーカス状態に応じて信号レベル
が変化する上記検出出力（Ｂ）から上記第１の信号加算
器21による加算出力（Ａ＋Ｃ）を減算することにより、
上記一方の３分割受光部17A,17B,17Cにて得られる各検
出出力（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）に基づいた第３図の
（ｂ）に示す如きフォーカス誤差信号〔FE1＝Ｂ−（Ａ
＋Ｃ）〕を形成して第４の演算増幅器28の正側入力端に
供給している。また、上記第３の演算増幅器27は、その
正側入力端に与えられる第３図の（ｃ）に示すようにフ
ォーカス状態に応じて信号レベルが変化する上記検出出
力（Ｅ）から上記第３の信号加算器23による加算出力
（Ｄ＋Ｆ）を減算することにより、上記他方の３分割受
光部18D,18E,18Fにて得られる各検出出力（Ｄ），
（Ｅ），（Ｆ）に基づいた第３図の（ｄ）に示す如きフ
ォーカス誤差信号〔FE2＝Ｅ−（Ｄ＋Ｆ）〕を形成して
第４の演算増幅器28の負側入力端に供給している。
そして、この信号加算器20は、上記第２および第４の
信号加算器22,24による各総和出力（RF1），（RF2）を
上記第２の演算増幅器26にて減算合成して光磁気信号
（RF）を形成して第１の信号出力端子20Aから出力する
とともに、上記第１および第３の演算増幅器25,27にて
得られる各フォーカス誤差信号（FE1,FE2）を減算する
こにより第３図の（ｅ）に示すようにジャストフォーカ
ス点（JP）を中心に左右対称のフォーカス誤差信号（F
E）を形成して第２の信号出力端子20Bから出力する。
信号加算器22,24による各総和出力（RF1），（RF2）を
上記第２の演算増幅器26にて減算合成して光磁気信号
（RF）を形成して第１の信号出力端子20Aから出力する
とともに、上記第１および第３の演算増幅器25,27にて
得られる各フォーカス誤差信号（FE1,FE2）を減算する
こにより第３図の（ｅ）に示すようにジャストフォーカ
ス点（JP）を中心に左右対称のフォーカス誤差信号（F
E）を形成して第２の信号出力端子20Bから出力する。
上述の如き構成の実施例の光学ピックアップ装置で
は、光磁気ディスク１の記録媒体面２によるレーザ光
（Ｌ）の反射光（Ｒ）の直線偏光成分（Rs），（Rp）を
分離する偏光ビームスプリッタブロック16と上記直線偏
光成分（Rs），（Rp）を検出する光検出器19とを一体化
して１部品としたことにより、その設置空間を小さくす
ることができ、しかも、シリンドリカルレンズを用いず
に上記光検出器19の各受光部17,18にて得られる各検出
出力に基づいてフォーカス誤差信号するので、装置全体
を小型化することができる。また、上記偏光ビームスプ
リッタブロック16と上記直線偏光成分（Rs），（Rp）を
検出する光検出器29とを一体化して１部品として取り扱
い３次元方向の位置調整を簡単に行うことができる。こ
の実施例では、上記光検出器19の各受光部17,18にて得
られる上記直線偏光成分（Rs），（Rp）に基づいて、上
記光磁気ディスク１に記録されている情報の読み取り出
力信号（RF）および上記光磁気ディスク１に照射したレ
ーザ光（Ｌ）のフォーカス誤差信号（FE）をそれぞれ差
動検出しているので、同相除去効果により極めて品質の
高い読み取り出力信号（RF）およびフォーカス誤差信号
（FE）を得ることができる。
は、光磁気ディスク１の記録媒体面２によるレーザ光
（Ｌ）の反射光（Ｒ）の直線偏光成分（Rs），（Rp）を
分離する偏光ビームスプリッタブロック16と上記直線偏
光成分（Rs），（Rp）を検出する光検出器19とを一体化
して１部品としたことにより、その設置空間を小さくす
ることができ、しかも、シリンドリカルレンズを用いず
に上記光検出器19の各受光部17,18にて得られる各検出
出力に基づいてフォーカス誤差信号するので、装置全体
を小型化することができる。また、上記偏光ビームスプ
リッタブロック16と上記直線偏光成分（Rs），（Rp）を
検出する光検出器29とを一体化して１部品として取り扱
い３次元方向の位置調整を簡単に行うことができる。こ
の実施例では、上記光検出器19の各受光部17,18にて得
られる上記直線偏光成分（Rs），（Rp）に基づいて、上
記光磁気ディスク１に記録されている情報の読み取り出
力信号（RF）および上記光磁気ディスク１に照射したレ
ーザ光（Ｌ）のフォーカス誤差信号（FE）をそれぞれ差
動検出しているので、同相除去効果により極めて品質の
高い読み取り出力信号（RF）およびフォーカス誤差信号
（FE）を得ることができる。
なお、上述の実施例において、上記光検出器19を配置
固定した偏光ビームスプリッタブロック16を第４図に示
すように上記反射光（Ｒ）の光軸に対して90゜回転させ
て設置して、上記偏光ビームスプリッタブロック16を構
成している第１のプリズムブロック16Aの１面を入射面
（16a′）とするようにしても良い。
固定した偏光ビームスプリッタブロック16を第４図に示
すように上記反射光（Ｒ）の光軸に対して90゜回転させ
て設置して、上記偏光ビームスプリッタブロック16を構
成している第１のプリズムブロック16Aの１面を入射面
（16a′）とするようにしても良い。
上述の実施例の説明から明らかなように、本発明に係
る光磁気ディスクの光学ピックアップ装置では、プリズ
ムにて分離される光磁気ディスクによる反射光の直線偏
光成分の集束位置の前後位置に配置した光検出器の各受
光部の各検出出力に基づいて、光磁気ディスクに照射し
た情報読み取り用レーザ光のフォーカス検出を行うとと
もに、上記光磁気ディスクに記録されている情報に応じ
た光磁気信号の差動検出を行うことができる。上記光検
出器は、プリズムの同一平面上に設けた各出射面に各受
光部が対向するように上記プリズムに固定配置されてな
るので、１部品として位置調整を簡単に行うことができ
る。しかも、上記フォーカス検出にシリンドリカルレン
ズを必要とせず、上記プリズムと光検出器とを一体化し
たので、構成部品数が少なく、装置の小型化を図ること
ができる。従って、本発明によれば、組み立て製造の容
易な光学ピックアップ装置を提供することができる。
る光磁気ディスクの光学ピックアップ装置では、プリズ
ムにて分離される光磁気ディスクによる反射光の直線偏
光成分の集束位置の前後位置に配置した光検出器の各受
光部の各検出出力に基づいて、光磁気ディスクに照射し
た情報読み取り用レーザ光のフォーカス検出を行うとと
もに、上記光磁気ディスクに記録されている情報に応じ
た光磁気信号の差動検出を行うことができる。上記光検
出器は、プリズムの同一平面上に設けた各出射面に各受
光部が対向するように上記プリズムに固定配置されてな
るので、１部品として位置調整を簡単に行うことができ
る。しかも、上記フォーカス検出にシリンドリカルレン
ズを必要とせず、上記プリズムと光検出器とを一体化し
たので、構成部品数が少なく、装置の小型化を図ること
ができる。従って、本発明によれば、組み立て製造の容
易な光学ピックアップ装置を提供することができる。
第１図は本発明に係る光磁気ディスクの光学ピックアッ
プ装置の一実施例の構成を示す構成図であり、第２図は
上記実施例における信号処理部の構成を示すブロック図
であり、第３図は上記実施例におけるフォーカス検出動
作を説明するための波形図である。第４図は上記実施例
に使用される検出ブロックの他の例を示す模式図であ
る。 第５図は光磁気ディスクの光学ピックアップ装置の従来
例の構成を示す構成図であり、第６図は上記従来例の要
部構成を示す外観斜視図である。 １……光磁気ディスク、２……記録媒体面 11……半導体レーザ、14……対物レンズ 16……偏光ビームスプリッタプリズム 16b……偏光ビームスプリッタ膜 16c……反射面 16d,16e……出射面 17,18……受光部 19……光検出器、20……信号処理部
プ装置の一実施例の構成を示す構成図であり、第２図は
上記実施例における信号処理部の構成を示すブロック図
であり、第３図は上記実施例におけるフォーカス検出動
作を説明するための波形図である。第４図は上記実施例
に使用される検出ブロックの他の例を示す模式図であ
る。 第５図は光磁気ディスクの光学ピックアップ装置の従来
例の構成を示す構成図であり、第６図は上記従来例の要
部構成を示す外観斜視図である。 １……光磁気ディスク、２……記録媒体面 11……半導体レーザ、14……対物レンズ 16……偏光ビームスプリッタプリズム 16b……偏光ビームスプリッタ膜 16c……反射面 16d,16e……出射面 17,18……受光部 19……光検出器、20……信号処理部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−273763（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−243964（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−171040（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】レーザ光を放射するレーザ光源と、 上記レーザ光源が放射するレーザ光を光磁気ディスクの
記録媒体面に集束状態で照射させる対物レンズと、 上記記録媒体面による上記レーザ光の反射光が上記対物
レンズを介して入力され、上記反射光の入射光軸に対し
て所定の傾斜をもって配され上記反射光の直線偏光成分
を分離する偏光ビームスプリッタ膜および該偏光ビーム
スプリッタ膜とは異なる面に配された反射面を有すると
ともに、分離した反射光の直線偏光成分の各出射面を上
記反射光の集束位置の前後に等距離ずらせた位置にさせ
て同一平面上に設けたプリズムと、 上記反射光の集束後のレーザ光を受光する第１の受光部
と、集束前のレーザ光を受光する第２の受光部を有し、
上記各出射面に第１及び第２の各受光部をそれぞれ対向
させて上記プリズムに対して固定配置された光検出器と
を備え、 上記光検出器の第１及び第２の各受光部による差動検出
出力に基づいて上記光磁気ディスクに照射したレーザ光
のフォーカス誤差信号を形成するとともに上記光磁気デ
ィスクに記録されている情報の読み取り出力信号を形成
するようにした光磁気ディスクの光学ピックアップ装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62030296A JP2636846B2 (ja) | 1987-02-12 | 1987-02-12 | 光磁気デイスクの光学ピツクアツプ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62030296A JP2636846B2 (ja) | 1987-02-12 | 1987-02-12 | 光磁気デイスクの光学ピツクアツプ装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7327738A Division JP2751899B2 (ja) | 1995-12-15 | 1995-12-15 | 光学ピックアップ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63197045A JPS63197045A (ja) | 1988-08-15 |
| JP2636846B2 true JP2636846B2 (ja) | 1997-07-30 |
Family
ID=12299771
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62030296A Expired - Fee Related JP2636846B2 (ja) | 1987-02-12 | 1987-02-12 | 光磁気デイスクの光学ピツクアツプ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2636846B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2581779B2 (ja) * | 1988-10-27 | 1997-02-12 | オリンパス光学工業株式会社 | 光磁気記録媒体からの信号検出装置 |
| JPH02168469A (ja) * | 1988-12-21 | 1990-06-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光磁気ディスク用光学ヘッド |
| JP2806197B2 (ja) * | 1993-02-19 | 1998-09-30 | 日本ビクター株式会社 | 光ピックアップ |
| KR950008950B1 (ko) * | 1993-03-30 | 1995-08-09 | 엘지전자주식회사 | 광 픽업 시스템 |
| US5874722A (en) | 1994-07-19 | 1999-02-23 | Spectra-Physics Scanning Systems, Inc. | Compact scanner module mountable to pointing instrument |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59171040A (ja) * | 1983-03-18 | 1984-09-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学装置 |
| JPS61237246A (ja) * | 1985-04-15 | 1986-10-22 | Canon Inc | 光ピツクアツプ装置 |
| JP2609221B2 (ja) * | 1985-04-22 | 1997-05-14 | ソニー株式会社 | 半導体レーザ装置 |
| JPS61273763A (ja) * | 1985-05-28 | 1986-12-04 | Fujitsu Ltd | 光磁気デイスク用光学ヘツド |
-
1987
- 1987-02-12 JP JP62030296A patent/JP2636846B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63197045A (ja) | 1988-08-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |