JP2594929B2 - 光学的情報処理装置 - Google Patents
光学的情報処理装置Info
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- JP2594929B2 JP2594929B2 JP62061022A JP6102287A JP2594929B2 JP 2594929 B2 JP2594929 B2 JP 2594929B2 JP 62061022 A JP62061022 A JP 62061022A JP 6102287 A JP6102287 A JP 6102287A JP 2594929 B2 JP2594929 B2 JP 2594929B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光学的情報処理装置に係り、特に、光デイ
スク装置や光カード装置などに好適な、光ヘツドの構成
を改良した光学的情報処理装置に関する。
スク装置や光カード装置などに好適な、光ヘツドの構成
を改良した光学的情報処理装置に関する。
〔従来の技術〕 光デイスク装置や光カード装置などでは、情報媒体が
回転や移動によつて面ぶれが生じるため焦点ずれ検出系
が必要である。従来からいろいろな焦点ずれ検出方式が
提案されており、その一例として特開昭60-59545号に記
載のように、情報媒体からの反射光束をビームスプリツ
タで光源からの光束と分離した後、ミラーなどで半円形
の２つの光束に分割し、それらの分割光束の各焦束点の
一方は前方に他方は後方に２つの２分割光検出器を配置
する方式がある。この方式では、情報媒体の面ぶれによ
つて光検出器面上の半円形光束の大きさが変化すること
を用いて、焦点ずれ検出信号を２分割光検出器から得
る。一方の焦点ずれ検出信号だけでは、検出信号が情報
媒体の面ぶれ方向に対し非対称であるため、両方の焦点
ずれ検出信号を加えることにより焦点ずれ検出信号を対
称的にすることができる。
回転や移動によつて面ぶれが生じるため焦点ずれ検出系
が必要である。従来からいろいろな焦点ずれ検出方式が
提案されており、その一例として特開昭60-59545号に記
載のように、情報媒体からの反射光束をビームスプリツ
タで光源からの光束と分離した後、ミラーなどで半円形
の２つの光束に分割し、それらの分割光束の各焦束点の
一方は前方に他方は後方に２つの２分割光検出器を配置
する方式がある。この方式では、情報媒体の面ぶれによ
つて光検出器面上の半円形光束の大きさが変化すること
を用いて、焦点ずれ検出信号を２分割光検出器から得
る。一方の焦点ずれ検出信号だけでは、検出信号が情報
媒体の面ぶれ方向に対し非対称であるため、両方の焦点
ずれ検出信号を加えることにより焦点ずれ検出信号を対
称的にすることができる。
この従来例の光ヘツドでは、反射光をミラーなどで２
つに分割する分割方向を情報媒体のトラツク方向に合わ
せることにより、各々の２分割光検出器受光量の差信号
からトラツクずれ検出信号を得ることができる。また、
各々の２分割光検出器受光量の和信号から、穴あけ型や
位相型，相変化型の情報ピツトを再生することもでき
る。
つに分割する分割方向を情報媒体のトラツク方向に合わ
せることにより、各々の２分割光検出器受光量の差信号
からトラツクずれ検出信号を得ることができる。また、
各々の２分割光検出器受光量の和信号から、穴あけ型や
位相型，相変化型の情報ピツトを再生することもでき
る。
ミラーなどで反射光束を２つに分割する上記従来例の
光ヘツドでは、光磁気デイスク装置のように情報媒体か
らの反射光の偏光方向の回転を検出して情報を再生する
点については配慮がされていなかつた。そのため、光磁
気信号検出用の光束を分離するためのビームスプリツタ
や光磁気信号検出用の光学部品や光検出器を必要とし、
光ヘツド全体の光学部品点数が増し、高価になり、寸法
が大きく、重量が重くなる、という問題があつた。
光ヘツドでは、光磁気デイスク装置のように情報媒体か
らの反射光の偏光方向の回転を検出して情報を再生する
点については配慮がされていなかつた。そのため、光磁
気信号検出用の光束を分離するためのビームスプリツタ
や光磁気信号検出用の光学部品や光検出器を必要とし、
光ヘツド全体の光学部品点数が増し、高価になり、寸法
が大きく、重量が重くなる、という問題があつた。
本発明の目的は、穴あけ型や位相型・相変化型の情報
信号再生に限らず光磁気信号再生をも焦点ずれ検出やト
ラツクずれ検出を行なう同一の光学系によつて行なうこ
とにより、光学部品点数が少なく、安価で、小型軽量の
光ヘツドを提供することにある。
信号再生に限らず光磁気信号再生をも焦点ずれ検出やト
ラツクずれ検出を行なう同一の光学系によつて行なうこ
とにより、光学部品点数が少なく、安価で、小型軽量の
光ヘツドを提供することにある。
上記目的は、情報媒体からの反射光束を焦点ずれ検出
用の２つの半円形光束に分割する分割光学素子に偏光分
離膜を用い、焦点ずれ検出のために分割すると同時に、
２つの偏光成分に分離して、その２つの偏光成分の光強
度の差から光磁気信号も得ることによつて、達成され
る。
用の２つの半円形光束に分割する分割光学素子に偏光分
離膜を用い、焦点ずれ検出のために分割すると同時に、
２つの偏光成分に分離して、その２つの偏光成分の光強
度の差から光磁気信号も得ることによつて、達成され
る。
本発明で用いる焦点ずれの検出原理及び光磁気信号の
再生原理を第10図〜第12図を用いて説明する。第10図は
本発明による光ヘツドの構成図で、半導体レーザ１から
出射したレーザ光は、絞り込みレンズ２で光磁気デイス
ク３上に微小スポツトとして結像する。第10図の紙面内
にｘ軸方向をとり、紙面に垂直な方向をｙ軸方向とす
る。半導体レーザ１の偏光方向をｘ軸方向として、第12
図（ａ）の矢印21で示す。光磁気デイスク３の未記録領
域の磁化方向は、例えば矢印22aで示す方向に向いてお
り、この未記録領域で反射したレーザ光束の偏光方向は
第12図（ａ）の矢印21aで示す方向に回転する。一方、
情報が記録されているドメインの磁化方向は、矢印22b
で示す方向に反転しており、デイスク反射光の偏光は第
12図（ａ）の矢印21bで示す方向に回転する。光磁気デ
イスク３からの反射光束は、ビームスプリツタ４で半導
体レーザ１の出射光と分離される。その分離光束５の光
束中に２分の１波長板23を置き、ｘ軸からの方位角を2
2.5度にすると、２分の１波長板23を透過した光の偏光
方向は、第12図（ｂ）に示すように45度回転する。次に
偏光ビームスプリツタ24aと24bをそれぞれ光束５の約半
分まで挿入する。偏光分離膜25aと25bは、ｘ方向の偏光
成分を透過し、ｙ方向の偏光成分を反射する。そこで、
絞り込みスポツトが未記録領域から記録ドメインに移る
と、偏光ビームスプリツタ24a,24bの透過光束26の光量
は第12図（ｂ）の矢印21axから21bxへと減少し、偏光ビ
ームスプリツタ24aによる反射光束27aと偏光ビームスプ
リツタ24bによる反射光束27bを加えた光量は矢印21ayか
ら矢印21byへと増加する。よつて透過光束26の光量を光
検出器28で受光し、反射光束27aと27bをそれぞれ光検出
器29と30で受光し、光検出器29及び30の出力の和と光検
出器28の出力との差をとることにより光磁気信号を再生
できる。
再生原理を第10図〜第12図を用いて説明する。第10図は
本発明による光ヘツドの構成図で、半導体レーザ１から
出射したレーザ光は、絞り込みレンズ２で光磁気デイス
ク３上に微小スポツトとして結像する。第10図の紙面内
にｘ軸方向をとり、紙面に垂直な方向をｙ軸方向とす
る。半導体レーザ１の偏光方向をｘ軸方向として、第12
図（ａ）の矢印21で示す。光磁気デイスク３の未記録領
域の磁化方向は、例えば矢印22aで示す方向に向いてお
り、この未記録領域で反射したレーザ光束の偏光方向は
第12図（ａ）の矢印21aで示す方向に回転する。一方、
情報が記録されているドメインの磁化方向は、矢印22b
で示す方向に反転しており、デイスク反射光の偏光は第
12図（ａ）の矢印21bで示す方向に回転する。光磁気デ
イスク３からの反射光束は、ビームスプリツタ４で半導
体レーザ１の出射光と分離される。その分離光束５の光
束中に２分の１波長板23を置き、ｘ軸からの方位角を2
2.5度にすると、２分の１波長板23を透過した光の偏光
方向は、第12図（ｂ）に示すように45度回転する。次に
偏光ビームスプリツタ24aと24bをそれぞれ光束５の約半
分まで挿入する。偏光分離膜25aと25bは、ｘ方向の偏光
成分を透過し、ｙ方向の偏光成分を反射する。そこで、
絞り込みスポツトが未記録領域から記録ドメインに移る
と、偏光ビームスプリツタ24a,24bの透過光束26の光量
は第12図（ｂ）の矢印21axから21bxへと減少し、偏光ビ
ームスプリツタ24aによる反射光束27aと偏光ビームスプ
リツタ24bによる反射光束27bを加えた光量は矢印21ayか
ら矢印21byへと増加する。よつて透過光束26の光量を光
検出器28で受光し、反射光束27aと27bをそれぞれ光検出
器29と30で受光し、光検出器29及び30の出力の和と光検
出器28の出力との差をとることにより光磁気信号を再生
できる。
また、光検出器29,30はそれぞれ受光面が２分割され
ており、反射光束27aと27bの焦束点31aと31bの一方は前
方へ、他方は後方へほぼ等しい距離だけ離して配置して
おく。デイスク３が焦点位置にある場合、光検出器29と
30の検出面上における光束形状は、第11図（ｂ）の半円
形32aと32bで示すように等しい大きさである。デイスク
３が絞り込みレンズ２の方向にずれると、第11図（ａ）
に示すように光検出器29面上の半円形状32aの方が大き
くなり、光検出器30面上の半円形状32bの方が小さくな
る。逆にデイスク３がレンズ２から離れる方向にずれる
と、第11図（ｃ）に示すように光検出器30面上の半円形
状32bの方が大きくなる。よつて、光検出器29の２分割
受光部29′と29″の出力を差動回路33aで、光検出器30
の２分割受光部30′と30″の出力を差動回路33bでとる
ことにより、それぞれ焦点ずれ信号を得ることができ
る。しかし、光検出器29又は30から得られる焦点ずれ検
出信号は、デイスク３のずれ方向に対して非対称である
ため、さらに差動回路33aと33bの出力を加算回路34で加
えることによつて、対称的な焦点ずれ検出信号を得るこ
とができる。
ており、反射光束27aと27bの焦束点31aと31bの一方は前
方へ、他方は後方へほぼ等しい距離だけ離して配置して
おく。デイスク３が焦点位置にある場合、光検出器29と
30の検出面上における光束形状は、第11図（ｂ）の半円
形32aと32bで示すように等しい大きさである。デイスク
３が絞り込みレンズ２の方向にずれると、第11図（ａ）
に示すように光検出器29面上の半円形状32aの方が大き
くなり、光検出器30面上の半円形状32bの方が小さくな
る。逆にデイスク３がレンズ２から離れる方向にずれる
と、第11図（ｃ）に示すように光検出器30面上の半円形
状32bの方が大きくなる。よつて、光検出器29の２分割
受光部29′と29″の出力を差動回路33aで、光検出器30
の２分割受光部30′と30″の出力を差動回路33bでとる
ことにより、それぞれ焦点ずれ信号を得ることができ
る。しかし、光検出器29又は30から得られる焦点ずれ検
出信号は、デイスク３のずれ方向に対して非対称である
ため、さらに差動回路33aと33bの出力を加算回路34で加
えることによつて、対称的な焦点ずれ検出信号を得るこ
とができる。
以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。第
１図は、本発明による光デイスク装置の光ヘツドの構成
図である。１は半導体レーザ、２は絞り込みレンズ、３
は光磁気デイスク、４はビームスプリツタ、23は２分の
１波長板であり、これらの作用は前に述べてあるので省
略する。光磁気デイスク３からの反射光５は、分割プリ
ズム50と直角三角プリズム58によつて３つの光束65と66
と67に分割される。第２図は、分割プリズム50と直角三
角プリズム58の構成を詳しく説明するための図である。
分割プリズム50は、三角プリズム51、平行ガラス板52、
三角プリズム53、三角プリズム54と、偏光分離膜55,56
および57とから成る。所定の寸法にプリズム51,52,53お
よび54を研摩した後、偏光分離膜55,56,57をそれぞれプ
リズム51,53,54に蒸着し、紫外線硬化樹脂で接着する。
デイスク３からの反射光５の紙面内の偏光成分、即ち、
分割プリズム50の偏光分離面に対するＰ偏光成分は、偏
光分離膜55と56と57を透過して、点70に集束する円形光
束65になる。反射光５のＳ偏光成分のうち光軸の右側半
分は、偏光分離膜55で反射されて半円形光束66となり、
直角三角プリズム58の全反射面59と60で反射され、さら
に偏光分離膜57で反射される。また反射光５のＳ偏光成
分のうち光軸の左側半分は、偏光分離膜56で反射されて
半円形光束67となり、さらに偏光分離膜55で反射され
る。分離プリズム50と直角三角プリズム58を用いると、
３つの光束65と66と67を同一方向にそろえることができ
るので、これらの光束を受光する光検出器は一つでよ
い。半円形光束66と67の集束点68と69の光路上の中点に
光検出器71を配置する。第４図は、光検出器71の受光面
を示し、左側に配置された分割受光素子71aと71bで半円
形光束66を受光し、右側に配置された分割受光素子71d
と71eで半円形光束67を受光することにより、前述した
焦点ずれ検出原理に従つて焦点ずれ検出信号が得られ
る。又、Ｐ偏光成分の円形光束65を中央に配置された分
割受光素子71cで受光し、Ｓ偏光成分を受光している受
光素子71a,71b,71d及び71eの出力の和と受光素子71との
出力との差から光磁気信号を再生することができる。穴
あけ型や位相型，相変化型のピツトは、光検出器71の全
出力信号の和から再生することができる。デイスク３の
トラツク方向が第１図の紙面に垂直な方向であれば、受
光素子71aと71bの出力の和信号と、受光素子71dと71eの
出力の和信号との差から、トラツクずれ検出信号が得ら
れる。一方、デイスク３のトラツク方向が第１図の紙面
内であれば、光束65を受光する受光素子71cを第５図の7
1c′と71c″で示すように２分割して、それらの差信号
からトラツクずれ検出信号が得られる。直角三角プリズ
ム58を第１図の上下方向に移動させると、光検出器71面
上の半円形光束66と67の間隔を任意に調整することがで
きる。このことは、光学部品の加工精度をゆるめ、調整
によつて加工組立誤差を吸収するのに役立つ。しかし、
その必要がなければ、分割プリズム50と直角三角プリズ
ムを一体化して、第３図に示す分割プリズム61を用いて
も良い。図中台形のプリズム62は、第２図の三角プリズ
ム51と58を一体化したものであり、その他は、第２図と
同じものである。ビームスプリツタ４と２分の一波長板
23と分割プリズム50や61は、接着により一体化すること
により、組立が容易になることは言うまでもない。ま
た、２分の１波長板23を用いるかわりに、分割プリズ
ム、光検出器などを45度回転しても良い。
１図は、本発明による光デイスク装置の光ヘツドの構成
図である。１は半導体レーザ、２は絞り込みレンズ、３
は光磁気デイスク、４はビームスプリツタ、23は２分の
１波長板であり、これらの作用は前に述べてあるので省
略する。光磁気デイスク３からの反射光５は、分割プリ
ズム50と直角三角プリズム58によつて３つの光束65と66
と67に分割される。第２図は、分割プリズム50と直角三
角プリズム58の構成を詳しく説明するための図である。
分割プリズム50は、三角プリズム51、平行ガラス板52、
三角プリズム53、三角プリズム54と、偏光分離膜55,56
および57とから成る。所定の寸法にプリズム51,52,53お
よび54を研摩した後、偏光分離膜55,56,57をそれぞれプ
リズム51,53,54に蒸着し、紫外線硬化樹脂で接着する。
デイスク３からの反射光５の紙面内の偏光成分、即ち、
分割プリズム50の偏光分離面に対するＰ偏光成分は、偏
光分離膜55と56と57を透過して、点70に集束する円形光
束65になる。反射光５のＳ偏光成分のうち光軸の右側半
分は、偏光分離膜55で反射されて半円形光束66となり、
直角三角プリズム58の全反射面59と60で反射され、さら
に偏光分離膜57で反射される。また反射光５のＳ偏光成
分のうち光軸の左側半分は、偏光分離膜56で反射されて
半円形光束67となり、さらに偏光分離膜55で反射され
る。分離プリズム50と直角三角プリズム58を用いると、
３つの光束65と66と67を同一方向にそろえることができ
るので、これらの光束を受光する光検出器は一つでよ
い。半円形光束66と67の集束点68と69の光路上の中点に
光検出器71を配置する。第４図は、光検出器71の受光面
を示し、左側に配置された分割受光素子71aと71bで半円
形光束66を受光し、右側に配置された分割受光素子71d
と71eで半円形光束67を受光することにより、前述した
焦点ずれ検出原理に従つて焦点ずれ検出信号が得られ
る。又、Ｐ偏光成分の円形光束65を中央に配置された分
割受光素子71cで受光し、Ｓ偏光成分を受光している受
光素子71a,71b,71d及び71eの出力の和と受光素子71との
出力との差から光磁気信号を再生することができる。穴
あけ型や位相型，相変化型のピツトは、光検出器71の全
出力信号の和から再生することができる。デイスク３の
トラツク方向が第１図の紙面に垂直な方向であれば、受
光素子71aと71bの出力の和信号と、受光素子71dと71eの
出力の和信号との差から、トラツクずれ検出信号が得ら
れる。一方、デイスク３のトラツク方向が第１図の紙面
内であれば、光束65を受光する受光素子71cを第５図の7
1c′と71c″で示すように２分割して、それらの差信号
からトラツクずれ検出信号が得られる。直角三角プリズ
ム58を第１図の上下方向に移動させると、光検出器71面
上の半円形光束66と67の間隔を任意に調整することがで
きる。このことは、光学部品の加工精度をゆるめ、調整
によつて加工組立誤差を吸収するのに役立つ。しかし、
その必要がなければ、分割プリズム50と直角三角プリズ
ムを一体化して、第３図に示す分割プリズム61を用いて
も良い。図中台形のプリズム62は、第２図の三角プリズ
ム51と58を一体化したものであり、その他は、第２図と
同じものである。ビームスプリツタ４と２分の一波長板
23と分割プリズム50や61は、接着により一体化すること
により、組立が容易になることは言うまでもない。ま
た、２分の１波長板23を用いるかわりに、分割プリズ
ム、光検出器などを45度回転しても良い。
第６図は、本発明を光磁気デイスク装置の光ヘツドに
用いた他の実施例で、同一の番号で示したものは同じ作
用をするので説明を省略する。分割プリズム80は、光磁
気デイスク３からの反射光５を３つの光束65と66と67に
分割する。第７図に示すように、三角プリズム81と平行
四辺形プリズム82,83とからなり、プリズム81と82の間
及び82と83の間に偏光分離膜84と85をそれぞれ蒸着して
ある。反射光５のＰ偏光成分は、偏光分離膜84と85を透
過して円形光束65となる。反射光５のＳ偏光成分のうち
光軸の右側半分は、偏光分離膜85で反射して半円形光束
66となり全反射面86で反射する。一方、Ｓ偏光成分のう
ち光軸の左側半分は、偏光分離膜84で反射し、さらに偏
光分離膜85で反射して半円形光束67になる。前述の第１
の実施例と同様に、分割プリズム80を用いると、３つの
光束65と66と67を同一方向にそろえることができるの
で、第８図に示すような受光素子90aと90bと90cと90dと
90eを持つ一つの光検出器90から全ての信号を得ること
ができる。即ち、各受光素子の出力を添子に対してSa,S
b,Sc,Sd,Seとすれば、焦点ずれ検出信号は、（Sb−Sc）
＋（Sd−Se）、光磁気信号はSa−（Sb＋Sc＋Sd＋Se）、
穴あけ型や位相型、相変化型のピツト再生信号は（Sa＋
Sb＋Sc＋Sd＋Se）、である。トラツク方向が紙面に垂直
な方向であれば、トラツクずれ検出信号は（Sb＋Sc）−
（Sd＋Se）で得られる。一方、トラツク方向が紙面内で
あれば、受光素子90aを第９図に示すように２分割して9
0a′と90a″の出力信号の差から得られる。
用いた他の実施例で、同一の番号で示したものは同じ作
用をするので説明を省略する。分割プリズム80は、光磁
気デイスク３からの反射光５を３つの光束65と66と67に
分割する。第７図に示すように、三角プリズム81と平行
四辺形プリズム82,83とからなり、プリズム81と82の間
及び82と83の間に偏光分離膜84と85をそれぞれ蒸着して
ある。反射光５のＰ偏光成分は、偏光分離膜84と85を透
過して円形光束65となる。反射光５のＳ偏光成分のうち
光軸の右側半分は、偏光分離膜85で反射して半円形光束
66となり全反射面86で反射する。一方、Ｓ偏光成分のう
ち光軸の左側半分は、偏光分離膜84で反射し、さらに偏
光分離膜85で反射して半円形光束67になる。前述の第１
の実施例と同様に、分割プリズム80を用いると、３つの
光束65と66と67を同一方向にそろえることができるの
で、第８図に示すような受光素子90aと90bと90cと90dと
90eを持つ一つの光検出器90から全ての信号を得ること
ができる。即ち、各受光素子の出力を添子に対してSa,S
b,Sc,Sd,Seとすれば、焦点ずれ検出信号は、（Sb−Sc）
＋（Sd−Se）、光磁気信号はSa−（Sb＋Sc＋Sd＋Se）、
穴あけ型や位相型、相変化型のピツト再生信号は（Sa＋
Sb＋Sc＋Sd＋Se）、である。トラツク方向が紙面に垂直
な方向であれば、トラツクずれ検出信号は（Sb＋Sc）−
（Sd＋Se）で得られる。一方、トラツク方向が紙面内で
あれば、受光素子90aを第９図に示すように２分割して9
0a′と90a″の出力信号の差から得られる。
本発明によれば、穴あけ型や位相型・相変化型などの
情報信号再生に限らず光磁気信号も、焦点ずれ検出やト
ラツクずれ検出を行なう同一の光学系によつて再生する
ことができ、しかも一つの光検出器から上記全ての信号
を得ることができ、光学部品点数が少なく、小型で、安
価で、軽量な光ヘツドを得ることができる。
情報信号再生に限らず光磁気信号も、焦点ずれ検出やト
ラツクずれ検出を行なう同一の光学系によつて再生する
ことができ、しかも一つの光検出器から上記全ての信号
を得ることができ、光学部品点数が少なく、小型で、安
価で、軽量な光ヘツドを得ることができる。
第１図は本発明の一実施例を示す構成図、第２図，第３
図，第４図及び第５図は、それぞれ第１図の実施例を詳
しく説明するための図、第６図は本発明の他の一実施例
を示す構成図、第７図，第８図及び第９図はそれぞれ第
６図の実施例を詳しく説明するための図、第10図，第11
図及び第12図は、本発明の原理を説明するための図であ
る。 １……半導体レーザ、２……絞り込みレンズ、３……光
磁気デイスク、４……ビームスプリツタ、23……２分の
１波長板、50,80……分割プリズム、58……直角三角プ
リズム、71,90……光検出器、55,56,57,84,85……偏光
分離膜、59,60,86……全反射面。
図，第４図及び第５図は、それぞれ第１図の実施例を詳
しく説明するための図、第６図は本発明の他の一実施例
を示す構成図、第７図，第８図及び第９図はそれぞれ第
６図の実施例を詳しく説明するための図、第10図，第11
図及び第12図は、本発明の原理を説明するための図であ
る。 １……半導体レーザ、２……絞り込みレンズ、３……光
磁気デイスク、４……ビームスプリツタ、23……２分の
１波長板、50,80……分割プリズム、58……直角三角プ
リズム、71,90……光検出器、55,56,57,84,85……偏光
分離膜、59,60,86……全反射面。
Claims (4)
- 【請求項１】光源と、該光源からの出射光束を情報媒体
面上に結像する結像光学手段と、上記情報媒体からの反
射光束の少なくとも一部を上記光源の出射光束から分離
する分離手段と、該分離手段によって分離された分離光
束を少なくとも第１及び第２の光束に分割する分割手段
と、上記第１の光束の集束点の前方及び上記第２の光束
の集束点の後方に配置された略同一面上の２つの光検出
器とを有する光学的情報処理装置であって、上記分割手
段が少なくとも２つの略平行な偏光分離膜を有し、該偏
光分離膜の透過または反射により上記第１及び第２の光
束の上記光検出器までの光路長に差を与えるとともに略
同一方向に射出することを特徴とする光学的情報処理装
置。 - 【請求項２】前記分割手段が、前記偏光分離膜に略平行
な全反射面を有する特許請求の範囲第１項記載の光学的
情報処理装置。 - 【請求項３】前記分割手段が、偏光分離膜もしく全反射
面を有する複数のプリズムを組み合わせて構成されてい
る特許請求の範囲第２項記載の光学的情報処理装置。 - 【請求項４】前記２つの光検出器を一体型とし、かつ２
つの光検出器のそれぞれが分割された少なくとも２つの
受光面を有する特許請求の範囲第１項乃至第３項のうち
いずれかに記載の光学的情報処理装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62061022A JP2594929B2 (ja) | 1987-03-18 | 1987-03-18 | 光学的情報処理装置 |
| US07/130,637 US4873678A (en) | 1986-12-10 | 1987-12-09 | Optical head and optical information processor using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62061022A JP2594929B2 (ja) | 1987-03-18 | 1987-03-18 | 光学的情報処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63228423A JPS63228423A (ja) | 1988-09-22 |
| JP2594929B2 true JP2594929B2 (ja) | 1997-03-26 |
Family
ID=13159266
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62061022A Expired - Lifetime JP2594929B2 (ja) | 1986-12-10 | 1987-03-18 | 光学的情報処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2594929B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2762708B2 (ja) * | 1990-06-05 | 1998-06-04 | 松下電器産業株式会社 | 光学ヘッド |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06101153B2 (ja) * | 1985-03-11 | 1994-12-12 | 株式会社日立製作所 | 光磁気ディスク用の信号検出装置 |
-
1987
- 1987-03-18 JP JP62061022A patent/JP2594929B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63228423A (ja) | 1988-09-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |