JP2603038Y2 - 粉粒体検査装置 - Google Patents
粉粒体検査装置Info
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- JP2603038Y2 JP2603038Y2 JP1992021785U JP2178592U JP2603038Y2 JP 2603038 Y2 JP2603038 Y2 JP 2603038Y2 JP 1992021785 U JP1992021785 U JP 1992021785U JP 2178592 U JP2178592 U JP 2178592U JP 2603038 Y2 JP2603038 Y2 JP 2603038Y2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は医薬品（細粒，顆粒，粒
末），材料（セラミックス粉末，プラスチックチッ
プ），食品（粉末原料，パン粉，フリーズドライ顆粒な
どの粉製品）などの粉粒体の外観を検査し、不良の粉粒
体，異物等を選別除去するための検査装置に関する。
末），材料（セラミックス粉末，プラスチックチッ
プ），食品（粉末原料，パン粉，フリーズドライ顆粒な
どの粉製品）などの粉粒体の外観を検査し、不良の粉粒
体，異物等を選別除去するための検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図１４に従来の粉粒体検査装置を示す。
以下、この装置について説明する。
以下、この装置について説明する。
【０００３】即ち、従来の装置によれば、まず、振動フ
ィーダ（４）によって粉粒体（３）を薄いシート状にな
らして定量搬送し、この粉粒体（３）を落下ガイド
（７）によって規制しながら、一対の透明回転円筒（２
０１），（２０２）間の粉粒体落下通路（Ｓ）へ導く。
ィーダ（４）によって粉粒体（３）を薄いシート状にな
らして定量搬送し、この粉粒体（３）を落下ガイド
（７）によって規制しながら、一対の透明回転円筒（２
０１），（２０２）間の粉粒体落下通路（Ｓ）へ導く。
【０００４】そして、粉粒体落下通路（Ｓ）内を薄いシ
ート状となって落下する粉粒体（３）を、その落下途中
の検査エリア（Ｐ）で一対の透明回転円筒（２０１），
（２０２）内に設けた透過光源（１６）及び反射光源
（１３）により照明するとともに、ラインセンサカメラ
（１５）によりその画像を撮像し、画像処理装置（２
０）により、微分処理等を行った後良否の判定を行う。
ート状となって落下する粉粒体（３）を、その落下途中
の検査エリア（Ｐ）で一対の透明回転円筒（２０１），
（２０２）内に設けた透過光源（１６）及び反射光源
（１３）により照明するとともに、ラインセンサカメラ
（１５）によりその画像を撮像し、画像処理装置（２
０）により、微分処理等を行った後良否の判定を行う。
【０００５】尚、図１４に示すように、反射光源（１
３）及び透過光源（１６）の前面には拡散透過板（１
４）が設けられており、粉粒体（３）を均質的に照明す
ることによる検査精度の向上が企図されている。
３）及び透過光源（１６）の前面には拡散透過板（１
４）が設けられており、粉粒体（３）を均質的に照明す
ることによる検査精度の向上が企図されている。
【０００６】そして、粉粒体落下通路（Ｓ）から出た粉
粒体（３）を回収ガイド（８）によって選別装置（５）
に案内（飛散，拡散防止）し、上記の検査により不良の
粉粒体や異物等が粉粒体（３）中に含まれていることが
判明すれば、選別装置制御手段（２１）により選別装置
（５）を駆動して、不良の粉粒体や異物等が含まれてい
る領域の粉粒体（３）を吸引除去する。
粒体（３）を回収ガイド（８）によって選別装置（５）
に案内（飛散，拡散防止）し、上記の検査により不良の
粉粒体や異物等が粉粒体（３）中に含まれていることが
判明すれば、選別装置制御手段（２１）により選別装置
（５）を駆動して、不良の粉粒体や異物等が含まれてい
る領域の粉粒体（３）を吸引除去する。
【０００７】一方、正常な粉粒体については選別装置
（５）をそのまま通過させ、選別装置（５）の下方に設
置した回収容器（６）に回収する。
（５）をそのまま通過させ、選別装置（５）の下方に設
置した回収容器（６）に回収する。
【０００８】また、クリーナ（９），（１０）及び静電
除去装置（１１），（１２）により透明回転円筒（２０
１），（２０２）を清掃し、粉粒体（３）が付着するこ
とによって生じる検査の障害を防止し、検査精度の安定
化を図っている。
除去装置（１１），（１２）により透明回転円筒（２０
１），（２０２）を清掃し、粉粒体（３）が付着するこ
とによって生じる検査の障害を防止し、検査精度の安定
化を図っている。
【０００９】
【考案が解決しようとする課題】ところで、前記粉粒体
検査装置において検査精度の安定化を図るには、照明の
効果を考慮すると、落下させる粉粒体を所定厚以下の層
状に形成する必要がある。
検査装置において検査精度の安定化を図るには、照明の
効果を考慮すると、落下させる粉粒体を所定厚以下の層
状に形成する必要がある。
【００１０】一方、処理量を増大しようとすれば、落下
させる粉粒体の量を増加させる必要があり、その上に検
査精度の安定化を考慮すると、粉粒体を所定の厚さ以下
とし、且つ幅方向に拡大した層状に形成する必要があ
る。
させる粉粒体の量を増加させる必要があり、その上に検
査精度の安定化を考慮すると、粉粒体を所定の厚さ以下
とし、且つ幅方向に拡大した層状に形成する必要があ
る。
【００１１】ところが、層状粉粒体を幅方向に拡大する
と、透過光源（１６）及び反射光源（１３）も同方向に
拡大する必要があり、かかる場合には、透過光源（１
６）及び反射光源（１３）が大型化するため、これに伴
って透明回転円筒（２０１），（２０２）の径を大きく
する必要がある。
と、透過光源（１６）及び反射光源（１３）も同方向に
拡大する必要があり、かかる場合には、透過光源（１
６）及び反射光源（１３）が大型化するため、これに伴
って透明回転円筒（２０１），（２０２）の径を大きく
する必要がある。
【００１２】その結果、振動フィーダ（４）の落下口
（４ａ）から検査エリア（Ｐ）までの粉粒体落下距離が
長くなり、検査エリア内での粉粒体落下速度が増大する
ため、画像処理装置（２０）等の処理速度がこれに追随
できず、いきおい検査精度が低下するという問題があっ
た。
（４ａ）から検査エリア（Ｐ）までの粉粒体落下距離が
長くなり、検査エリア内での粉粒体落下速度が増大する
ため、画像処理装置（２０）等の処理速度がこれに追随
できず、いきおい検査精度が低下するという問題があっ
た。
【００１３】また、前記透明回転円筒（２０１），（２
０２）が円筒体であるが故に、前記拡散透過板（１４）
を前記検査エリア（Ｐ）に接近せしめるのに自ずと限界
があり、照明の効率が悪いという問題があった。
０２）が円筒体であるが故に、前記拡散透過板（１４）
を前記検査エリア（Ｐ）に接近せしめるのに自ずと限界
があり、照明の効率が悪いという問題があった。
【００１４】本考案は以上の実情に鑑みなされたもので
あって、処理量に影響されることなく安定した検査精度
を確保でき、また、照明効率を高めて高い検査精度を確
保することができる検査装置の提供を目的とする。
あって、処理量に影響されることなく安定した検査精度
を確保でき、また、照明効率を高めて高い検査精度を確
保することができる検査装置の提供を目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本考案の請求項１に係る考案は、前後に所定間隔をあ
けて平行対面するように並設して相互対面部分で粉粒体
落下通路（Ｓ）を形成した第一の可動体（１０１）及び
第二の可動体（１０２）と、前記粉粒体落下通路（Ｓ）
の上端に落下口（４ａ）を有し、粉粒体（３）をシート
状にして搬送する粉粒体搬送手段（４）と、前記粉粒体
落下通路（Ｓ）の下方の粉粒体落下通路（Ｓ）近傍に設
置して粉粒体（３）を除去する選別装置（５）と、前記
粉粒体落下通路（Ｓ）中を落下している粉粒体（３）を
前記第二の可動体（１０２）の側から反射照明する反射
光源（１３）と、前記粉粒体落下通路（Ｓ）中を落下し
ている粉粒体（３）を前記第一の可動体（１０１）の側
から透過照明する透過光源（１６）と、前記粉粒体落下
通路（Ｓ）中を落下している粉粒体（３）を前記第二の
可動体（１０２）の側から撮像する撮像装置（１５）
と、この撮像装置（１５）の画像信号を処理することに
より前記粉粒体落下通路（Ｓ）中を落下している粉粒体
（３）中の不良品，異物等の存在を検出して不良信号を
発生する画像処理手段（２０）と、この画像処理手段
（２０）からの不良信号に応答して前記選別装置（５）
を所定時間作動させることにより不良品粉粒体，異物等
が含まれた粉粒体（３）を除去させる選別装置制御手段
（２１）とから構成するとともに、前記第一の可動体
（１０１）及び第二の可動体（１０２）のうち少なくと
も一方を透明の無端帯状体と、これを長手方向に移動す
る駆動部とから構成し且つ、前記透過光源の前面に拡散
透過性部材（１０５）を配設したことを要旨とする。
の本考案の請求項１に係る考案は、前後に所定間隔をあ
けて平行対面するように並設して相互対面部分で粉粒体
落下通路（Ｓ）を形成した第一の可動体（１０１）及び
第二の可動体（１０２）と、前記粉粒体落下通路（Ｓ）
の上端に落下口（４ａ）を有し、粉粒体（３）をシート
状にして搬送する粉粒体搬送手段（４）と、前記粉粒体
落下通路（Ｓ）の下方の粉粒体落下通路（Ｓ）近傍に設
置して粉粒体（３）を除去する選別装置（５）と、前記
粉粒体落下通路（Ｓ）中を落下している粉粒体（３）を
前記第二の可動体（１０２）の側から反射照明する反射
光源（１３）と、前記粉粒体落下通路（Ｓ）中を落下し
ている粉粒体（３）を前記第一の可動体（１０１）の側
から透過照明する透過光源（１６）と、前記粉粒体落下
通路（Ｓ）中を落下している粉粒体（３）を前記第二の
可動体（１０２）の側から撮像する撮像装置（１５）
と、この撮像装置（１５）の画像信号を処理することに
より前記粉粒体落下通路（Ｓ）中を落下している粉粒体
（３）中の不良品，異物等の存在を検出して不良信号を
発生する画像処理手段（２０）と、この画像処理手段
（２０）からの不良信号に応答して前記選別装置（５）
を所定時間作動させることにより不良品粉粒体，異物等
が含まれた粉粒体（３）を除去させる選別装置制御手段
（２１）とから構成するとともに、前記第一の可動体
（１０１）及び第二の可動体（１０２）のうち少なくと
も一方を透明の無端帯状体と、これを長手方向に移動す
る駆動部とから構成し且つ、前記透過光源の前面に拡散
透過性部材（１０５）を配設したことを要旨とする。
【００１６】
【００１７】
【実施例】次に本考案の実施例につき添付図面に基づき
説明する。
説明する。
【００１８】請求項１に係る考案の一実施例（以下、実
施例装置という。）について説明する。この実施例装置
は、図１に全体図を示すように粉粒体搬送手段たる振動
フィーダ（４）と、その下方に順次設けた落下ガイド
（７）、第一の可動体（１０１）及び第二の可動体（１
０２）、選別装置（５）、回収容器（６）と、第一の可
動体（１０１）側に設けた透過光源（１６）と、第二の
可動体（１０２）側に設けた反射光源（１３）と、第二
の可動体（１０２）の後方に設けた撮像装置たるライン
センサカメラ（１５）と、画像処理手段（２０）と、選
別装置制御手段（２１）とからなる。
施例装置という。）について説明する。この実施例装置
は、図１に全体図を示すように粉粒体搬送手段たる振動
フィーダ（４）と、その下方に順次設けた落下ガイド
（７）、第一の可動体（１０１）及び第二の可動体（１
０２）、選別装置（５）、回収容器（６）と、第一の可
動体（１０１）側に設けた透過光源（１６）と、第二の
可動体（１０２）側に設けた反射光源（１３）と、第二
の可動体（１０２）の後方に設けた撮像装置たるライン
センサカメラ（１５）と、画像処理手段（２０）と、選
別装置制御手段（２１）とからなる。
【００１９】前記振動フィーダ（４）は、粉粒体貯留槽
（４ｂ）の下部開口に振動トラフ（４ｃ）を一体的に連
接し、粉粒体貯留槽（４ｂ）の下部開口（４ｄ）に搬送
量調節用の仕切板（４ｅ）を上下移動可能に設けてあ
り、これら全体をバイブレータ（４ｆ）によって振動さ
せることにより、粉粒体（３）をシート状に定量搬送
し、落下口（４ａ）より粉粒体（３）を落下させるよう
になっている。振動フィーダ（４）は、他の搬送手段に
比べて、定量性が良く、詰まりが少なく、またクローズ
ド化が可能であり、粉粒体通過経路の清掃（ロットまた
は品目切替時）が容易であり、ローコストであるので、
粉粒体（３）の搬送手段としては最適なものである。
（４ｂ）の下部開口に振動トラフ（４ｃ）を一体的に連
接し、粉粒体貯留槽（４ｂ）の下部開口（４ｄ）に搬送
量調節用の仕切板（４ｅ）を上下移動可能に設けてあ
り、これら全体をバイブレータ（４ｆ）によって振動さ
せることにより、粉粒体（３）をシート状に定量搬送
し、落下口（４ａ）より粉粒体（３）を落下させるよう
になっている。振動フィーダ（４）は、他の搬送手段に
比べて、定量性が良く、詰まりが少なく、またクローズ
ド化が可能であり、粉粒体通過経路の清掃（ロットまた
は品目切替時）が容易であり、ローコストであるので、
粉粒体（３）の搬送手段としては最適なものである。
【００２０】また、前記落下ガイド（７）は、図２およ
び図３に示すように、２枚の透明板材（７ａ），（７
ｂ）をＶ字形に配置し、両側に側板（７ｃ），（７ｄ）
を取付けて、くさび形に形成され、振動フィーダ（４）
の落下口（４ａ）から落下する粉粒体（３）の拡散（飛
散）を規制して、これを下方に導く。
び図３に示すように、２枚の透明板材（７ａ），（７
ｂ）をＶ字形に配置し、両側に側板（７ｃ），（７ｄ）
を取付けて、くさび形に形成され、振動フィーダ（４）
の落下口（４ａ）から落下する粉粒体（３）の拡散（飛
散）を規制して、これを下方に導く。
【００２１】実施例装置の検査エリア（Ｐ）について詳
述すると、図１１に示すように、無端状の透明シート
（１０１ａ），（１０２ａ）及びこれを移動させる四個
のローラ（１０１ｂ），（１０２ｂ）で構成した第一の
可動体（１０１）及び第二の可動体（１０２）とすると
ともに、透過光源（１６）の前面に拡散透過性部材（１
０５）及び反射光源（１３）の前面に拡散透過板（１
４）を配設したものである。これによれば、２つの可動
体（１０１），（１０２）の内部容積を充分大きく設定
できるので、処理量の増大に際して透過光源（１６）、
反射光源（１３）及び拡散透過性部材（１０５）、拡散
透過板（１４）が大型化してもこれに充分対応すること
ができる。また、第一の可動体（１０１）にシート状の
透明体を用いており、検査エリア（Ｐ）に接近した位置
に拡散透過性部材（１０５）を設置できるため、透過光
の不必要な拡散を防止でき、照明効率の向上を図ること
ができる。そして、図４に示すように、第一の可動体
（１０１）と第二の可動体（１０２）とはそれぞれ肉厚
ｔが数ｍｍ程度のものであって、これらを数ｍｍの間隔
ｄをあけて平行対面するように並設して粉粒体落下通路
（Ｓ）を形成している。また、相互対面部での第一の可
動体（１０１）及び第二の可動体（１０２）の移動方向
は下向き（粉粒体（３）の落下方向と同じ）になってお
り、粉粒体（３）の落下に影響を与えないようにしてい
る。尚、実施例装置においては、第一の可動体（１０
１）及び第二の可動体（１０２）の双方を透明シート
（１０１ａ），（１０２ａ）及びローラ（１０１ｂ），
（１０２ｂ）とで構成したがこれに限るものではなく、
図１２及び図１３に示す如く、いずれか一方をその構成
とし、他方を透明な円筒回転体としても良い。
述すると、図１１に示すように、無端状の透明シート
（１０１ａ），（１０２ａ）及びこれを移動させる四個
のローラ（１０１ｂ），（１０２ｂ）で構成した第一の
可動体（１０１）及び第二の可動体（１０２）とすると
ともに、透過光源（１６）の前面に拡散透過性部材（１
０５）及び反射光源（１３）の前面に拡散透過板（１
４）を配設したものである。これによれば、２つの可動
体（１０１），（１０２）の内部容積を充分大きく設定
できるので、処理量の増大に際して透過光源（１６）、
反射光源（１３）及び拡散透過性部材（１０５）、拡散
透過板（１４）が大型化してもこれに充分対応すること
ができる。また、第一の可動体（１０１）にシート状の
透明体を用いており、検査エリア（Ｐ）に接近した位置
に拡散透過性部材（１０５）を設置できるため、透過光
の不必要な拡散を防止でき、照明効率の向上を図ること
ができる。そして、図４に示すように、第一の可動体
（１０１）と第二の可動体（１０２）とはそれぞれ肉厚
ｔが数ｍｍ程度のものであって、これらを数ｍｍの間隔
ｄをあけて平行対面するように並設して粉粒体落下通路
（Ｓ）を形成している。また、相互対面部での第一の可
動体（１０１）及び第二の可動体（１０２）の移動方向
は下向き（粉粒体（３）の落下方向と同じ）になってお
り、粉粒体（３）の落下に影響を与えないようにしてい
る。尚、実施例装置においては、第一の可動体（１０
１）及び第二の可動体（１０２）の双方を透明シート
（１０１ａ），（１０２ａ）及びローラ（１０１ｂ），
（１０２ｂ）とで構成したがこれに限るものではなく、
図１２及び図１３に示す如く、いずれか一方をその構成
とし、他方を透明な円筒回転体としても良い。
【００２２】選別装置（５）は、粉粒体落下通路（５
ａ）とこの粉粒体落下通路（５ａ）とＴ字形に交わる除
去用通路（５ｂ）とからなり、除去用通路（５ｂ）から
エア吸引を行って粉粒体（３）を除去するように構成し
てあり、通常は除去用通路（５ｂ）中に設けたバルブ
（５ｃ）が閉じており、吸引除去動作は行わないが、粉
粒体（３）中に不良品粉粒体や異物等が含まれていると
きには後述する処理回路からの選別信号によってバルブ
（５ｃ）が開いて粉粒体（３）を吸引除去することにな
る。なお、選別は吸引による除去だけでなく、ブロワに
よる除去、メカニカルな除去も可能である。
ａ）とこの粉粒体落下通路（５ａ）とＴ字形に交わる除
去用通路（５ｂ）とからなり、除去用通路（５ｂ）から
エア吸引を行って粉粒体（３）を除去するように構成し
てあり、通常は除去用通路（５ｂ）中に設けたバルブ
（５ｃ）が閉じており、吸引除去動作は行わないが、粉
粒体（３）中に不良品粉粒体や異物等が含まれていると
きには後述する処理回路からの選別信号によってバルブ
（５ｃ）が開いて粉粒体（３）を吸引除去することにな
る。なお、選別は吸引による除去だけでなく、ブロワに
よる除去、メカニカルな除去も可能である。
【００２３】そして、振動フィーダ（４）によって粉粒
体（３）を薄いシート状にならして定量搬送し、粉粒体
（３）を落下ガイド（７）によって位置規制（飛散防
止，拡散防止）しながら粉粒体落下通路（Ｓ）へ導き、
粉粒体（３）が粉粒体落下通路（Ｓ）中を落下するよう
にし、粉粒体（３）が粉粒体落下通路（Ｓ）を通ってい
る間に検査を行い、粉粒体落下通路（Ｓ）から出た粉粒
体（３）を回収ガイド（８）によって選別装置（５）に
案内（飛散，拡散防止）し、上記の検査によって不良品
粉粒体や異物等が粉粒体（３）中に含まれておれば、不
良品粉粒体や異物等が含まれている領域の粉粒体（３）
を吸引除去し、良品粉粒体については選別装置（５）を
そのまま通過させ、選別装置（５）の下方に設置した良
品回収容器（６）に蓄積するようになっている。
体（３）を薄いシート状にならして定量搬送し、粉粒体
（３）を落下ガイド（７）によって位置規制（飛散防
止，拡散防止）しながら粉粒体落下通路（Ｓ）へ導き、
粉粒体（３）が粉粒体落下通路（Ｓ）中を落下するよう
にし、粉粒体（３）が粉粒体落下通路（Ｓ）を通ってい
る間に検査を行い、粉粒体落下通路（Ｓ）から出た粉粒
体（３）を回収ガイド（８）によって選別装置（５）に
案内（飛散，拡散防止）し、上記の検査によって不良品
粉粒体や異物等が粉粒体（３）中に含まれておれば、不
良品粉粒体や異物等が含まれている領域の粉粒体（３）
を吸引除去し、良品粉粒体については選別装置（５）を
そのまま通過させ、選別装置（５）の下方に設置した良
品回収容器（６）に蓄積するようになっている。
【００２４】前記反射光源（１３）は、前記第二の可動
体（１０２）の内部に設けられ、また、前記透過光源
（１６）は前記第一の可動体（１０１）の内部に設けら
れるもので、それぞれ、前記粉粒体落下通路（Ｓ）内を
落下する粉粒体（３）を照明する。そして、この反射光
源（１３）及び透過光源（１６）には、円筒状のガラス
管内に線状のフィラメントを管軸に沿って配置した線光
源ランプ（マルチ光源ランプでもよい）を用いている。
体（１０２）の内部に設けられ、また、前記透過光源
（１６）は前記第一の可動体（１０１）の内部に設けら
れるもので、それぞれ、前記粉粒体落下通路（Ｓ）内を
落下する粉粒体（３）を照明する。そして、この反射光
源（１３）及び透過光源（１６）には、円筒状のガラス
管内に線状のフィラメントを管軸に沿って配置した線光
源ランプ（マルチ光源ランプでもよい）を用いている。
【００２５】また、前記反射光源（１３）は図５及び図
６に示すように、前面開口部に拡散パネル（１８）を装
着してなるケース（１９）に前記線光源ランプ（１７）
を収容してなり、線光源ランプ（１７）の管軸が透明体
（２）の中心軸と平行となるように透明体（２）内に配
置され、拡散パネル（１８）から出た光によって検査エ
リア（Ｐ）を反射照明するようになっている。一方、透
過光源（１６）は、拡散透過性部材（１０５）を介して
検査エリア（Ｐ）を透過照明する。
６に示すように、前面開口部に拡散パネル（１８）を装
着してなるケース（１９）に前記線光源ランプ（１７）
を収容してなり、線光源ランプ（１７）の管軸が透明体
（２）の中心軸と平行となるように透明体（２）内に配
置され、拡散パネル（１８）から出た光によって検査エ
リア（Ｐ）を反射照明するようになっている。一方、透
過光源（１６）は、拡散透過性部材（１０５）を介して
検査エリア（Ｐ）を透過照明する。
【００２６】しかして、粉粒体（３）のすべてが良品粉
粒体である場合は、ラインセンサカメラ（１５）により
撮像された画像は検査エリア（Ｐ）の全域にわたって同
一明度となり、粉粒体（３）は全く見えなくなる。とこ
ろが、粉粒体（３）中に不良品粉粒体や異物等が混入し
ていると、これらは、反射光量が良品粉粒体と相違し、
すなわち、明度が良品粉粒体とは異なることになり、こ
のときのラインセンサカメラ（１５）の画像には、不良
品粉粒体や異物等に対応して暗点あるいは輝点が生じる
ことになる。そして、以下で詳述する画像処理手段（２
０）によって、画像中の暗点あるいは輝点の有無を検出
し、暗点あるいは輝点があれば、選別装置制御手段（２
１）によって選別装置（５）を一定時間作動させ、不良
品粉粒体や異物等が含まれている領域の粉粒体（３）を
吸引除去するようになっている。
粒体である場合は、ラインセンサカメラ（１５）により
撮像された画像は検査エリア（Ｐ）の全域にわたって同
一明度となり、粉粒体（３）は全く見えなくなる。とこ
ろが、粉粒体（３）中に不良品粉粒体や異物等が混入し
ていると、これらは、反射光量が良品粉粒体と相違し、
すなわち、明度が良品粉粒体とは異なることになり、こ
のときのラインセンサカメラ（１５）の画像には、不良
品粉粒体や異物等に対応して暗点あるいは輝点が生じる
ことになる。そして、以下で詳述する画像処理手段（２
０）によって、画像中の暗点あるいは輝点の有無を検出
し、暗点あるいは輝点があれば、選別装置制御手段（２
１）によって選別装置（５）を一定時間作動させ、不良
品粉粒体や異物等が含まれている領域の粉粒体（３）を
吸引除去するようになっている。
【００２７】前記ラインセンサカメラ（１５）は、一次
元の映像を電気信号に変換する公知の装置であり、例え
ば、直線状に配置した多数のフォトダイオード（素子）
を備え、これにより受光した光を光電変換し、ＣＣＤ等
を用いたアナログシフトレジスタにより１素子（１ドッ
ト）毎に信号を出力するものである。また、その分解能
については、一般に１０００ドット，２０００ドット，
５０００ドット／ライン等のものがあり、高精度または
広い検査幅を対象とした検査（大処理量検査）が可能で
あって、連続検査においてはラインセンサカメラ（１
５）が有利であり、幅方向の分解能はカメラレンズ系の
拡大率により決まり、本実施例では、センサ１ドット当
たり５０ミクロンの倍率に設定している。
元の映像を電気信号に変換する公知の装置であり、例え
ば、直線状に配置した多数のフォトダイオード（素子）
を備え、これにより受光した光を光電変換し、ＣＣＤ等
を用いたアナログシフトレジスタにより１素子（１ドッ
ト）毎に信号を出力するものである。また、その分解能
については、一般に１０００ドット，２０００ドット，
５０００ドット／ライン等のものがあり、高精度または
広い検査幅を対象とした検査（大処理量検査）が可能で
あって、連続検査においてはラインセンサカメラ（１
５）が有利であり、幅方向の分解能はカメラレンズ系の
拡大率により決まり、本実施例では、センサ１ドット当
たり５０ミクロンの倍率に設定している。
【００２８】前記画像処理手段（２０）は、図７に示す
ように、映像信号を増幅・フィルタ回路（２０Ａ）に通
すことで映像信号の増幅および雑音除去を行い、さらに
微分回路（２０Ｂ）に通すことで画像中の特異点に対応
した特徴信号を得、この特徴信号を正負微分レベルコン
パレータ（２０Ｃ）でレベル弁別し、一方、同期信号に
基づいてマスク信号発生回路（２０Ｄ）から検査エリア
（Ｐ）を規制するマスク信号を発生させ、このマスク信
号でアンドゲート（２０Ｅ）を制御することにより有効
エリア（検査エリア（Ｐ）に対応する）内に暗点または
輝点があったときに不良信号を出力するものである。
ように、映像信号を増幅・フィルタ回路（２０Ａ）に通
すことで映像信号の増幅および雑音除去を行い、さらに
微分回路（２０Ｂ）に通すことで画像中の特異点に対応
した特徴信号を得、この特徴信号を正負微分レベルコン
パレータ（２０Ｃ）でレベル弁別し、一方、同期信号に
基づいてマスク信号発生回路（２０Ｄ）から検査エリア
（Ｐ）を規制するマスク信号を発生させ、このマスク信
号でアンドゲート（２０Ｅ）を制御することにより有効
エリア（検査エリア（Ｐ）に対応する）内に暗点または
輝点があったときに不良信号を出力するものである。
【００２９】前記選別装置制御手段（２１）は、図７に
示すように、遅延回路（２１ａ）及びリトリガブルワン
ショットマルチバイブレータ（２１ｂ）からなる。
示すように、遅延回路（２１ａ）及びリトリガブルワン
ショットマルチバイブレータ（２１ｂ）からなる。
【００３０】遅延回路（２１）は、不良信号をΔｔ時間
遅延してリトリガブルワンショットマルチバイブレータ
（２２）に加えるもので、不良品粉粒体，異物等が検査
エリア（Ｐ）内に位置して不良信号が発生した後不良品
粉粒体，異物等が選別装置（５）の除去用通路（５ｂ）
まで達するまでの時間および選別装置（５）の動作遅れ
等を考慮して遅延時間Δｔを決定し、粉粒体（３）の良
品粉粒体のロスを少なくするようにしている。
遅延してリトリガブルワンショットマルチバイブレータ
（２２）に加えるもので、不良品粉粒体，異物等が検査
エリア（Ｐ）内に位置して不良信号が発生した後不良品
粉粒体，異物等が選別装置（５）の除去用通路（５ｂ）
まで達するまでの時間および選別装置（５）の動作遅れ
等を考慮して遅延時間Δｔを決定し、粉粒体（３）の良
品粉粒体のロスを少なくするようにしている。
【００３１】また、リトリガブルワンショットマルチバ
イブレータ（２２）は、不良信号の入力後ｔ0 時間パル
スを出力するもので、不良品粉粒体，異物等の吸引除去
に必要な時間に設定されている。
イブレータ（２２）は、不良信号の入力後ｔ0 時間パル
スを出力するもので、不良品粉粒体，異物等の吸引除去
に必要な時間に設定されている。
【００３２】尚、前記第二の可動体（１０２）の近傍に
は、外周面の粉粒体（３）の付着による汚れを防止する
ために、粉粒体落下通路（Ｓ）以外の位置にクリーナ
（９）および静電除去装置（１１）が設けられている。
は、外周面の粉粒体（３）の付着による汚れを防止する
ために、粉粒体落下通路（Ｓ）以外の位置にクリーナ
（９）および静電除去装置（１１）が設けられている。
【００３３】クリーナ（９）は、モータ等によって駆動
されて透明体（２）の外周面に付着した粉粒体（３）を
掃き落とす回転ブラシ（９ａ）と、この回転ブラシ（９
ａ）を囲む箱体（９ｂ）と、この箱体（９ｂ）内に掃き
落とされた粉粒体（３）を吸引除去するエア吸引部（９
ｃ）とから構成されている。
されて透明体（２）の外周面に付着した粉粒体（３）を
掃き落とす回転ブラシ（９ａ）と、この回転ブラシ（９
ａ）を囲む箱体（９ｂ）と、この箱体（９ｂ）内に掃き
落とされた粉粒体（３）を吸引除去するエア吸引部（９
ｃ）とから構成されている。
【００３４】また、静電除去装置（１１）は、例えばコ
ロナ放電方式のもので、透明体（２）の外周面に帯電し
た静電気を除去し、静電気による粉粒体（３）の透明体
（２）外周面への付着を防止するものである。
ロナ放電方式のもので、透明体（２）の外周面に帯電し
た静電気を除去し、静電気による粉粒体（３）の透明体
（２）外周面への付着を防止するものである。
【００３５】このように、クリーナ（９）によって第二
の可動体（１０２）に付着した粉粒体（３）を常時清掃
除去するとともに、静電除去装置（１１）によって第二
の可動体（１０２）の外周面に帯電した静電気を除去し
て静電気による第二の可動体（１０２）への粉粒体
（３）の付着を防止するようにしているので、粉粒体
（３）が第二の可動体（１０２）の外周面に付着して検
査不能になることはない。しかも清掃，静電除去によっ
て検査が妨げられることはなく、検査能率が高い。一
方、第一の可動体（１０１）は透過光を拡散せしめるも
のであるため、これに粉粒体（３）が付着しても透過光
の性質に与える影響が少なく、検査に支障をきたすこと
はないため、清掃及び静電除去を行う必要がない。ま
た、第一の可動体（１０１）及び透過光源（１６）の前
面には拡散透過性部材（１０５）以外の障害物がないの
でこれを検査エリア（Ｐ）の近傍にまで充分に近付けて
配設することができるため、充分光量が得られ照明効率
が良い。
の可動体（１０２）に付着した粉粒体（３）を常時清掃
除去するとともに、静電除去装置（１１）によって第二
の可動体（１０２）の外周面に帯電した静電気を除去し
て静電気による第二の可動体（１０２）への粉粒体
（３）の付着を防止するようにしているので、粉粒体
（３）が第二の可動体（１０２）の外周面に付着して検
査不能になることはない。しかも清掃，静電除去によっ
て検査が妨げられることはなく、検査能率が高い。一
方、第一の可動体（１０１）は透過光を拡散せしめるも
のであるため、これに粉粒体（３）が付着しても透過光
の性質に与える影響が少なく、検査に支障をきたすこと
はないため、清掃及び静電除去を行う必要がない。ま
た、第一の可動体（１０１）及び透過光源（１６）の前
面には拡散透過性部材（１０５）以外の障害物がないの
でこれを検査エリア（Ｐ）の近傍にまで充分に近付けて
配設することができるため、充分光量が得られ照明効率
が良い。
【００３６】
【００３７】
【００３８】
【００３９】
【００４０】
【００４１】
【００４２】
【００４３】
【００４４】
【００４５】
【００４６】
【考案の効果】以上詳述したように本考案によれば以下
のような効果を奏する。
のような効果を奏する。
【００４７】
【００４８】請求項１の考案によれば、第一の可動体及
び第二の可動体のうち少なくとも一方を透明の無端帯状
体と駆動部とから構成したので、粉粒体の処理量増大に
伴う、透過光源又は反射光源の大型化に対して、容易に
これに対応することができる。
び第二の可動体のうち少なくとも一方を透明の無端帯状
体と駆動部とから構成したので、粉粒体の処理量増大に
伴う、透過光源又は反射光源の大型化に対して、容易に
これに対応することができる。
【図１】 本考案の請求項１に係る考案の実施例装置を
示す全体図である。
示す全体図である。
【図２】 落下ガイドを示す正面図である。
【図３】 図２における落下ガイドの矢示III − III方
向の断面図である。
向の断面図である。
【図４】 粉粒体落下通路部を示す正面図である。
【図５】 反射光源を示す正面図である。
【図６】 図５における反射光源の矢示VI−VI方向の断
面図である。
面図である。
【図７】 画像処理手段を示すブロック図である。
【図８】 本考案の請求項１に係る考案の実施例を示す
詳細図である。
詳細図である。
【図９】 本考案の請求項１に係る考案の他の実施例を
示す詳細図である。
示す詳細図である。
【図１０】 本考案の請求項１に係る考案の他の実施例
を示す詳細図である。
を示す詳細図である。
【図１１】 従来の検査装置を示す正面図である。
３ 粉粒体 ４ 粉粒体搬送手段 ５ 選別装置 ６ 回収容器 ７ 落下ガイド ８ 回収ガイド ９ クリーナ １１ 静電除去装置 １３ 反射光源 １４ 拡散透過板 １５ ラインセンサカメラ １６ 透過光源 ２０ 画像処理装置 ２１ 選別装置制御手段 １０１ 第一の可動体 １０２ 第二の可動体 １０５ 拡散透過性部材 Ｐ 検査エリア Ｓ 粉粒体落下通路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−210929（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−191944（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−46172（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−263452（ＪＰ，Ａ) 実開 昭61−60263（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭57−146056（ＪＰ，Ｕ) 特公 昭41−9079（ＪＰ，Ｂ１) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/85
Claims (1)
- 【請求項１】前後に所定間隔をあけて平行対面するよう
に並設して相互対面部分で粉粒体落下通路（Ｓ）を形成
した第一の可動体（１０１）及び第二の可動体（１０
２）と、前記粉粒体落下通路（Ｓ）の上端に落下口（４
ａ）を有し、粉粒体（３）をシート状にして搬送する粉
粒体搬送手段（４）と、前記粉粒体落下通路（Ｓ）の下
方の粉粒体落下通路（Ｓ）近傍に設置して粉粒体（３）
を除去する選別装置（５）と、前記粉粒体落下通路
（Ｓ）中を落下している粉粒体（３）を前記第二の可動
体（１０２）の側から反射照明する反射光源（１３）
と、前記粉粒体落下通路（Ｓ）中を落下している粉粒体
（３）を前記第一の可動体（１０１）の側から透過照明
する透過光源（１６）と、前記粉粒体落下通路（Ｓ）中
を落下している粉粒体（３）を前記第二の可動体（１０
２）の側から撮像する撮像装置（１５）と、この撮像装
置（１５）の画像信号を処理することにより前記粉粒体
落下通路（Ｓ）中を落下している粉粒体（３）中の不良
品，異物等の存在を検出して不良信号を発生する画像処
理手段（２０）と、この画像処理手段（２０）からの不
良信号に応答して前記選別装置（５）を所定時間作動さ
せることにより不良品粉粒体，異物等が含まれた粉粒体
（３）を除去させる選別装置制御手段（２１）とから構
成するとともに、前記第一の可動体（１０１）及び第二
の可動体（１０２）のうち少なくとも一方を透明の無端
帯状体と、これを長手方向に移動する駆動部とから構成
し且つ、前記透過光源の前面に拡散透過性部材（１０
５）を配設したことを特徴とする粉粒体検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992021785U JP2603038Y2 (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | 粉粒体検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992021785U JP2603038Y2 (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | 粉粒体検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0573566U JPH0573566U (ja) | 1993-10-08 |
| JP2603038Y2 true JP2603038Y2 (ja) | 2000-02-14 |
Family
ID=12064723
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992021785U Expired - Lifetime JP2603038Y2 (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | 粉粒体検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2603038Y2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4732300B2 (ja) * | 2006-10-30 | 2011-07-27 | 株式会社朝日工房 | 樹脂ペレット用搬送フィーダー |
| KR100933436B1 (ko) * | 2009-06-04 | 2009-12-23 | 주식회사 아이디알시스템 | 잎상물 색채선별기 |
| JP5579645B2 (ja) * | 2011-03-24 | 2014-08-27 | 大成建設株式会社 | 粒度分布測定用の画像撮影装置 |
| JP5908381B2 (ja) * | 2012-09-24 | 2016-04-26 | 大成建設株式会社 | 粒度分布測定用の画像撮影装置 |
| US9459312B2 (en) | 2013-04-10 | 2016-10-04 | Teradyne, Inc. | Electronic assembly test system |
| DE102018120722A1 (de) * | 2018-08-24 | 2020-02-27 | Nils Dickfeld | Verfahren zum selektiven Aussondern von rieselfähigen Produkten |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5546172A (en) * | 1978-09-29 | 1980-03-31 | Kirin Brewery Co Ltd | Detector for foreign material |
| JPS6160263U (ja) * | 1984-09-25 | 1986-04-23 | ||
| JPS61191944A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-26 | Kanebo Ltd | 粉粒体検査装置 |
| JPS61210929A (ja) * | 1985-03-15 | 1986-09-19 | Kanebo Ltd | 粉粒体検査装置 |
| JPS62263452A (ja) * | 1986-05-12 | 1987-11-16 | Kita Denshi:Kk | 印刷面監視センサ− |
-
1992
- 1992-03-10 JP JP1992021785U patent/JP2603038Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0573566U (ja) | 1993-10-08 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R323113 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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