JPS61210929A

JPS61210929A - 粉粒体検査装置

Info

Publication number: JPS61210929A
Application number: JP60052959A
Authority: JP
Inventors: Toshihiro Kajiura; 梶浦　敏弘; Norio Taneda; 規男種田; Junnosuke Abe; 阿部　順之助; Seiji Sugiyama; 誠治杉山
Original assignee: Kanebo Ltd
Current assignee: Kanebo Ltd
Priority date: 1985-03-15
Filing date: 1985-03-15
Publication date: 1986-09-19
Also published as: JPH0360381B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野この発明は、医薬品（細粒、顆粒１粒末）、材料（セラ
ミックス粉末、プラスチックチップ）。

食品（粉末原料、パン粉、フリーズドライ顆粒などの粉
製品）などの粉粒体の外観検査を行って不良品粉粒体、
異物等を選別除去する粉粒体検査装置に関するものであ
る。

従来の技術この種の粉粒体の外観検査および選別は、従来ベルトコ
ンベヤ上に粉粒体をシート状に載せ、これを搬送しなが
ら目視により検査し、不良品や異物等があるとそれを除
去することにより行っていたが、検査員の個人差、疲労
などによって検査精度がばらつき、不良品粉粒体、異物
等の見逃がし等のおそれが十分にあり、信頼性が低いも
のであった。また、検査精度向上のためには、粉粒体の
搬送速度を遅くし、かつ粉粒体をできるかぎり薄くシー
ト状に拡げる必要があるが、このようにすると、処理能
率がきわめて悪くなるという問題があった。さらに、人
間が介在するため、クローズド化が困難であるという問
題もあった。

このような問題を解消する目的で、撮像素子を用いて粒
体の外観検査を行い、不良品粒体、異物等を自動的に選
別除去する粒体検査装置が提案されている。この粒体検
査装置は、粒体を自然落下させ、この粒体を表側から反
射照明するとともに裏側から透過照明する公知の顕微鏡
等で用いられている照明手法により、良品の反射光量と
透過光量とを等しく設定し、粒体を表側から撮像して画
像処理することにより、良品と明度の異なる不良品粒体
、異物等の存在を検出し、これをエアーガン等によって
選別除去するように構成したものである。

発明が解決しようとする問題点上記のような粒体検査装置は、粒体を単に自然落下させ
る構成であったため、一定厚みの薄い粒体層を作ること
が困難で、検査精度が安定せず、また、粒体がある長さ
落下すると粒体が自然に広がるため、粒体通路が不安定
となり、また粉粒体では粉が舞うことにより、エアーガ
ンなどによる選別除去が困難であって実用不焼となると
いう問題点があった。

この発明は、上記した問題点に鑑みてなされたもので、
一定厚みの薄い粉粒体層を作ることができて検査精度が
安定し、かつ不良品粉粒体、異物等の選別除去を容易か
つ確実に行うことができる粉粒体検査装置を提供するこ
とを目的とする。

問題点を解決するための手段この発明の粉粒体検査装置は、前後に所定間隔をあけて
平行対面するように並設して相互対面部番？鉛鮎汰窪下
；麟麩本釦１．中心軸を回転軸として回転する一対の透
明回転円筒と、前記粉粒体落下通路の上方に落下口を位
置決めして粉粒体をシート状にして搬送する粉粒体搬送
手段と、前記粉粒体落下通路の下方の粉粒体落下経路に
設置して粉粒体を除去する選別装置と、前記粉粒体搬送
手段の落下口と前記粉粒体落下通路の上端との間に配置
して粉粒体を前記粉粒体落下通路へ案内する落下ガイド
と、前記一対の透明回転円筒の外周面をそれぞれ前記粉
粒体落下通路以外の位置で清掃するクリーナと、前記粉
粒体落下通路中の検査エリアを前記一対の透明回転円筒
の相互対面部の前方位置から反射照明する反射光源と、
前記粉粒体落下通路中の前記検査エリアを前記一対の透
明回転円筒の相互対面部の後方位置から透過照明する透
過光源と、前記粉粒体落下通路中の検査エリアを前記一
対の透明回転円筒の相互対面部の前方位置から撮像する
撮像装置と、この撮像装置の画像信号を処理することに
より前記粉粒体落下通路中を落下している粉粒体中の不
良品粉粒体、異物等の存在を検出して不良信号を発生す
る画像処理手段と、この画像処理手段からの不良信号に
応答して前記選別装置を所定時間作動させることにより
不良品粉粒体、異物等が含まれた粉粒体を除去させる選
別装置制御手段とを備え、前記反射光源の光の良品粉粒
体による反射光量と前記透過光源からの光の前記一対の
透明回転円筒のうち後方のものの透過光量とを略等しく
設定したものである。

作用このように、一対の透明回転円筒を所定の間隔をあけて
設置することにより粉粒体落下通路を形成し、この粉粒
体落下通路中を粉粒体が落下するようにして粉粒体の拡
散を規制したため、一対の透明回転円筒の間隔を通正に
設置することで、検査エリア付近において一定厚みの薄
い粉粒体層を容易に作ることができ、検査精度を安定さ
せることができる。また、粉粒体搬送手段の落下口と粉
粒体落下通路の上端との間に落下ガイドを設けたため、
上記の落下口から一対の透明回転円筒間の粉粒体落下通
路へ至るまでの落下途中における粉粒体の飛散、ｎ上が
りを防止できる。さらに、粉粒体を粉粒体落下通路に通
すようにしたため、粉粒体の拡散（飛散、ｎ上がり等）
を防止でき、不良品粉粒体、異物等を含む粉粒体の選別
除去を確実に行い、かつ良品粉粒体を確実に回収するこ
とができる。また、クリーナで透明回転体を清掃してい
るため、透明回転円筒に粉粒体が付着して検査不能にな
ることもない。

実施例この発明の一実施例を第１図ないし第１２図に基づいて
説明する。この粉粒体検査装置は、第１図に示すように
、中心軸を水平にし中心軸を回転軸として回転する２個
の透明回転円筒（ガラス。

プラスチック製等）１．２を前後に所定の間隔をあけて
平行対面するように並設することにより、検査すべき粉
粒体３に対する粉粒体落下通路Ｓを作り、振動フィーダ
（粉粒体載置搬送手段）４の落下口４ａを粉粒体落下通
路Ｓの上方に位置決めするとともに、エアによる吸引（
排出）除去方式の選別装置５を粉粒体落下通路Ｓの下方
の粉粒体落下経路に投置し、選別装置５の下方に良品回
収容器６を設置し、振動フィーダ４の落下口とＨｌ＆１
の透明回転円筒１．　２による粉粒体落下通路Ｓの上端
との間に例えば透明ガラス製（ｉ３明でなくてもよく、
またガラス以外の材質でもよい、）の落下ガイド７を配
置するとともに、粉粒体落下通路Ｓの下端と選別装置５
との間に回収ガイド（選別装置５と一体化してもよい）
８を配置している。

振動フィーダ４は、粉粒体貯留槽４ｂの下部開口に撮動
トラフ４Ｃを一体連接し、粉粒体貯留槽４ｂの下部開口
４ｄに搬送量調節用の仕切板４ｅを上下移動可能に設け
てあり、これら全体をパイブレーク４ｆによって振動さ
せることにより、粉粒体３をシート状に定量搬送し、落
下口４ａより粉粒体３を落下させるようになっている。

振動フィーダ４は、他の搬送手段に比べて、定量性が良
く、詰まりが少く、またクローズド化が可能であり、粉
粒体通過経路の清掃（ロフトまたは品目切替時）が容易
であり、ローコストであるので、粉粒体３の搬送手段と
しては最適なものである。

また、落下ガイド７は、第２図および第３図に示すよう
に、２枚の透明板材７ａ、７ｂを■字形に配置し、両側
に側板７ｃ、７ｄを取付けて、くさび形に形成され、振
動フィーダ４の落下口４ａから落下する粉粒体３の拡散
（飛散）を規制して２個の透明回転円筒１，２で形成さ
れる粉粒体落下通路Ｓへ粉粒体３を案内するようになっ
ている。

２個の透明回転円ｆ１）１，２は、第４図に示すように
それぞれ内厚ｔが数■程度であって相互対面部の間隔ｄ
を数謳程度にしてあり、各々矢印Ｘｌ。

Ｘ２で示すように相互対面部での回転方向が下向き（粉
粒体３の落下方向と同じ）になっており、粉粒体３の落
下に影響を与えないようにしている。

選別装置５は、粉粒体落下通路５ａとこの粉粒体落下通
路５ａと丁字形に交わる除去用通路５ｂとからなり、除
去用通路５ｂからエア吸引を行って粉粒体３を除去する
ように構成してあり、通常は除去用通路５ｂ中に設けた
バルブ５Ｃが閉じており、吸引除去動作は行わないが、
粉粒体３中に不良品粉粒体や異物等が含まれているとき
には後述する処理回路からの選別信号によってパルプ５
ｃが開いて粉粒体３を吸引除去することになる。なお、
選別は吸引による除去だけでなく、ブロワによる除去、
メカニカルな除去も可能である。

そして、振動フィーダ４によって粉粒体３を薄いシート
状にならして定量搬送し、粉粒体３を落下ガイド７によ
って位置規制（飛散防止、拡散防止）しなから粉粒体落
下通路Ｓへ導き、粉粒体３が粉粒体落下通路Ｓ中を落下
するようにし、粉粒体３が粉粒体落下通路Ｓを通ってい
る間に検査を行い、粉粒体落下通路Ｓから出た粉粒体３
を回収ガイド８によって選別装置５に案内（飛散、拡散
防止）し、上記の検査によって不良品粉粒体や異物等が
粉粒体３中に含まれておれば、不良品粉粒体や異物等が
含まれている領域の粉粒体３を吸引除去し、良品粉粒体
については選別装置５をそのまま通過させ、選別装置５
の下方に設置した良品回収容器６に蓄積するようになっ
ている。

このように、２個の透明回転円筒１．２を並設すること
により、厚みの小さい粉粒体落下通路Ｓを作り、この粉
粒体落下通路Ｓ中を粉粒体３が通過するようにし、この
通過中に検査するようにしているため、落下する粉粒体
３の検査時の位置精度が良く、また粉粒体３を薄い層に
できるため、検査精度を向上させることができる。また
、振動フィーダ４の落下口４ａから粉粒体落下通路Ｓの
上端まで粉粒体３を案内する落下ガイド７を設けている
ため、粉粒体３の検査前の飛散、ｎ上がりなどを防止で
きる。さらに、粉粒体落下通路Ｓの下端から選別装置５
まで回収ガイド８によって粉粒体３を案内するようにし
ているため、粉粒体落下通路Ｓから出たあと、粉粒体３
を選別装置５へ確実に送り込むことができ、粉粒体３が
拡散、飛へ・敵したりｎ上がったりすることがなく、選
別装置５による不良品粉粒体や異物等を含んだ領域の粉
粒体３の除去を容易かつ確実に行うことができる。

そして、上記した２個の透明回転円筒１．２の外周面の
粉粒体３の付着による汚れを防止するために、粉粒体落
下通路Ｓ以外の位置にクリーナ９゜１０および静電除去
装置１）．１２が設けられている。

クリーナｌＯは、モータ等によって駆動されて透明回転
円筒１．２の外周面に付着した粉粒体３を掃き落とす回
転ブラシ１０ａと、この回転ブラシ１０ａを囲む箱体１
０ｂと、この箱体１０ｂ内に掃き落とされた粉粒体３を
吸引除去するエア吸引部１０Ｃとから構成されている。

クリーナ９もクリーナ１０と同じ構成である。

また、静電除去装置１）．１２は、例えばコロナ放電方
式で透明回転円筒１，２の外周面に帯電した静電気を除
去し、静電気による粉粒体３の透明回転円筒１．２の外
周面への付着を防止するものである。

このように、クリーナ９．ＩＯによって透明回転円筒１
，２に付着した粉粒体３を常時清掃除去するとともに、
静電除去装置１）．１２によって透明回転円ｆｌｉｔ、
２の外周面に帯電した静電気を除去して静電気による透
明回転円筒１，２への粉粒体３の付着を防止するように
しているので、粉粒体３が透明回転円筒１．２の外周面
に付着して検査不能になることはない、しかも清掃、静
電気除去によって検査が妨げられることはなく、検査能
率が高い。

つぎに、粉粒体３の検査は以下のようにして行う、２１
）１の透明回転円筒１．２の相互対面部の前方位置、す
なわち透明回転円筒１の内部に反射光［１３を配置して
ハーフミラ−１４を通して検査エリアＰに光を照射し、
落下中の粉粒体３からの反射光をハーフミラ−１４で反
射させ、検査エリアＰ内に位置する粉粒体３による反射
光をハーフミラ−１４でさらに反射させて上方のライン
センサカメラ１５に入射させている。一方、２個の透明
回転円筒１．　２の相互対面部の後方位置、すなわち透
明回転円筒２の内部に透過光源１６を配置して検査エリ
アＰに光を照射し、落下中の粉粒体３の隙間を通った光
をハーフミラ−１４で反射させて上方のラインセンサカ
メラ１５に入射させている。

そして、ラインセンサカメラ１５によってライン状の検
査エリアＰを含む領域を所定時間毎に撮像するようにな
し、ラインセンサカメラ１５からの映像信号をもとにし
て不良品粉粒体やＸ物等の有無を判定するようになって
いる。

上記の場合において、反射光ｓ１３による良品粉粒体の
反射光量と透過光？ＩｊＡ１６からの光の透明回転円筒
２の透過光量とを等しく設定している。

具体的には、透明回転円筒２の透過率、透過光源１６の
光量調節などによって設定する。

なお、透過光源１６は、例えば第５図および第６図に示
すように円筒状のガラス管内に線伏のフィラメン）１７
ａを管軸に沿って配置した線光源ランプ１７（マルチ光
源ランプでもよい）を前面開口に拡散パネル１８を装着
してなるケース１９に収容してなり、線光源ランプ１７
の管軸が透明回転円筒２の中心軸と平行となるように透
明回転円筒２内に配置され、拡散パネル１８から出た光
によって検査エリアＰを透過照明するようになっている
。

反射光源１３も、透過光源１６と同様の構成である。

このように構成すると、落下している粉粒体３のすべで
か良品粉粒体である場合は、ラインセンサカメラ１５に
より擾像された画像は検査エリアＰの全域にわたって同
一明度となり、粉粒体３番よ全く見えなくなる。ところ
が、粉粒体３中に不良品粉粒体や異物等が混入している
と、これらは、反射光量が良品粉粒体と相違し、すなわ
ち、明度が良品粉粒体とは異なることになり、このとき
のラインセンサカメラ１５の画像には、不良品粉粒体や
異物等に対応して暗点あるいは輝点が生じることになる
。そして、以下で詳述する画像処理装置２０によって、
画像中の暗点あるいは輝点の有無を検出し、暗点あるい
は輝点があれば、選別装置制御子ＶＩｔ（２１，２２）
によって選別装置５を一定時間作動させ、不良品粉粒体
や異物等が含まれている領域の粉粒体３を吸引除去する
ようになっている。

ここで、検査の分解能について説明する。ラインセンサ
カメラ１５として１０００ドツト、　２０００ドツトの
ものが汎用センサとして入手でき、５０００ドツト／ラ
インのものも販売されており、高精度または広い検査幅
を対象とした検査（大処理量検査）が可能であって、連
続検査においてはラインセンサカメラ１５が有利であり
、幅方向の分解能はカメラレンズ系の拡大率により決り
、本実施例では、センサ１ドツト当たり５０ミクロンの
倍率に設定している。

振動フィーダ４は、一般に搬送直線速度は遅いが、安定
して粉粒体３を搬送でき、検査速度を高めるために落下
口４ａから厚い層で落下させても、落下時の重力加速度
ｇと厚い層が落下していく確率とが粉粒体３を平滑化す
るために、検査エリアＰでは粉粒体層がかなり薄くなり
、不良品粉粒体や異物等が良品粉粒体の陰に隠れて検出
できない確率はほとんどなくなる。

つぎに、ラインセンサカメラ１５の画像をもとにして不
良信号を発生させる画像処理袋２２０および選別装置制
御子ＦＩｔ（２１，２２）について第８図ないし第１２
図に基づいて詳しく説明する。

ラインセンサカメラ１５からの映像信号を処理映像信号
を増幅・フィルタ回路２ＯＡに通すことで映像信号の増
幅および雑音除去を行い、さらに微分回路２０Ｂに通す
ことで画像中の特異点に対応した特徴信号を得、この特
徴信号を正負微分レベルコンパレータ２０Ｃでレベル弁
別し、一方、同期信号に基づいてマスク信号発生回路２
０Ｄから検査エリアＰを規制するマスク信号を発生させ
、このマスク信号でアンドゲート２０Ｅを制御すること
により有効エリア（検査エリアＰに対応する）内に暗点
または輝点があったときに不良信号を出力するようにな
っている。

第９図はラインセンサカメラ１５の各信号波形を示し、
（Ａ）はラインスキャン信号で、ＴＬはラインスキャン
レートである。（Ｂ）は反射照明と透過照明とがバラン
スしているときのラインセンサカメラ１５の映像信号で
、前半部分は粉粒体３が検査エリアＰの全面を覆ってい
る場合で、後半部分は粉粒体３が検査エリアＰ内で分散
している場合である。（Ｃ）は透過照明のみのときのう
粉粒体３が検査エリアＰの全面を覆っている場合で、後
半部分は粉粒体３が検査エリアＰ内で分散している場合
である。（Ｄ）は反射照明のみのときのラインセンサカ
メラ１５の映像信号で、前半部分は粉粒体３が検査エリ
アＰの全面を覆っている場合で、後半部分は粉粒体３が
検査エリアＰ内で分散している場合である。

つぎに、第８図の回路の動作について第１０図ないし第
１２図により詳しく説明する。検査エリアＰ内に不良品
粉粒体、ｊＩ物等が存在せず、すべて良品粉粒体である
場合、ラインセンサカメラ１５の映像信号は第１０図（
Ａ）のように平坦な略台形波形となり、この映像信号を
微分した微分信号は第１０図（Ｂ）に示すように映像信
号の前縁と後縁に対応してパルスが現われ、正負微分レ
ベルコンパレータ２０Ｇの出力は第１０図　（Ｃ）のよ
うに映像信号の前縁と後縁に対応してパルス（Ｈレベル
）が現われるが、このパルスは第１Ｏ図（Ｄ）のマスク
信号のオン期間の外側であるため、アンドゲート２０Ｅ
からの不良信号は第１Ｏ図（Ｅ）のようにＬレベルのま
まである。

一方、検査エリアＰ内に不良品粉粒体、異物等が存在す
る場合、ラインセンサカメラ１５の映像信号は第１）図
（Ａ）に示すように異物等の存在に対応して凹部（黒い
もの）や凸部（光るもの）を有する波形となり、この映
像信号を微分した微分信号は第１）図（Ｂ）に示すよう
に映像信号の前縁および後縁ならびに凹部Ｑ１．凸部Ｑ
２に対応してパルスが現われ、正負レベルコンパレータ
２０Ｇの出力は第１）図（Ｃ）のように映像信号の前縁
および後縁ならびに凹部Ｑｌ、凸部Ｑ２に対応してパル
ス（Ｈレベル）が現われ、映像信号の前縁および後縁に
対応したものは前記と同様にマスク信号のオン期間の外
側であるため、アントゲ−）２０Ｅからの不良信号は第
１）図（Ｅ）のようにＨレベルとはならないが、映像信
号の凹部Ｑ１および凸部Ｑ２に対応したものはマスク信
号のオン期間内であるため、アンドゲート２０Ｅからの
不良信号は第１）図（Ｅ）のようにＨレベルとなる。

そして、このアンドゲート２０Ｅから出力される第１２
図（Ａ）に示すような不良信号（Ｈレベル）が遅延回路
２１を通してリトリガブルワンシタフトマルチバイブレ
ータ２２に加えられ、このリトリガブルワンシッットマ
ルチバイブレーク２２の出力パルス発生期間中選別装置
５が作動して粉粒体３を吸引除去することになる。上記
遅延回路２１は、不良信号をΔを時間遅延してリトリガ
ブルワンシッットマルチバイブレータ２２に加えるもの
で、不良品粉粒体、異物等が検査エリアＰ内に位置して
不良信号が発生した後不良品粉粒体。

異物等が選別装置５の除去用通路５ｂまで達するまでの
時間および選別装置５の動作遅れ等を考慮して遅延時間
Δｔを決定し、粉粒体３の良品粉粒体のロスを少なくす
るようにしている。

また、リトリガブルワンシロフトマルチバイプレーク２
２は、不良信号の入力ｔ＆　ｔ　ｏ時間パルスを出力す
るもので、不良品粉粒体、異物等の吸引除去に必要な時
間に設定されており、第１２図（Ａ）の不良信号に対し
て第１２図（Ｂ）のようなパルスを選別信号として出力
することになる。

この実施例の粉粒体検査装置は、落下する粉粒体３の検
査エリアＰでの位置が２１）１の透明回転円筒１．２で
規制されるため、位置精度が良く、また薄い層にするこ
とができる。また、落下ガイド７を設けたことにより、
検査エリアＰに粉粒体３が達するまでの間の粉粒体３の
飛散、ｎ上がりを防止して確実に検査エリアＰへ案内す
ることができる。さらに、粉粒体３を粉粒体落下通路Ｓ
に通したこと、および回転ガイド８によって粉粒体３を
選別装置５へ案内するようにしたことにより、検査エリ
アＰを出た（粉粒体落下通路Ｓを出た）粉粒体３を飛散
、舞上がりを生じさせることなく確実に選別装置５まで
送り込むことができ、不良品粉粒体、異物等を含んだ粉
粒体３を確実に除去することができる。

また、透明回転円筒１．　２を用いていることで、反射
および透過光量の調節を容易に行うことができ（透明回
転円筒１．２の透過率を調節することによる）、不良品
粉粒体などの光学的抽出が容易になる、また、ガラス円
板１．　２を回転させ、粉粒体落下通路Ｓ以外の位置で
透明回転円筒１．２の粉粒体付着面（外周面）をクリー
ナ９．１０によって清掃するとともに、静電除去装置１
）．１２によって静電気を除去しているため、検査を中
断せずに清掃を行うことができ、また、検査を妨げない
ように清掃を行っているので、検査精度を保証し、かつ
簡単を高めることができる。

また、反射光源１３．透過光源１６およびハーフミラ−
１４を透明回転円筒の内部に配置しているので、装置の
小型化を達成できる。

なお、上記実施例では、ラインセンサカメラ１５を用い
て１次元画像を一定時間毎に撮像して画像処理を行った
が、２次元のイメージセンサを用いて撮像してもよい。

また、上記実施例では、透過光源１６１反射光源１３お
よび八−フミラー１４は透明回転円筒１゜２の外側に配
置してもよい。

さらに、粉粒体通過経路はできる限りカバーし、振動フ
ィーダ４．透明回転円筒１．２の部分の各隙間からの粉
粒体（微粉末）３の舞上がりは吸引ノズルによって除去
し、さらに各部に吸引ノズルを設置して各機器（ライン
センサカメラ１５１５Ｅ射光源！３．ｉ３過光源１６．
ハーフミラ−１４゜透明回転円筒１．２の内部等）への
飛散を防止することが望ましい。

また、透明回転円筒１．２１よ、中心軸を垂直にした状
態で並設し、その間を粉粒体が落下するようにしてもよ
いが、検査精度、検査速度の点から中心軸を水平にする
方が好ましい。

発明の効果この発明の粉粒体検査装置は、一対の透明回転円筒を所
定の間隔をあけて設置することにより粉粒体落下通路を
形成し、この粉粒体落下通路中を粉粒体が落下するよう
にしたため、一対の透明回転円筒の間隔を適正に設定す
ることで、検査エリアにおいて一定厚みの薄い粉粒体層
を容易に作ることができ、検査精度を安定させることが
できる。

また、粉粒体落下通路および落下ガイドによって粉粒体
の位置規制を行っているため、粉粒体の飛散、舞上がり
等を防止し、かつ不良品粉粒体、異物などを含んだ粉粒
体の除去を容易かつ確実に行うことができる。また、ク
リーナで透明回転円筒を清掃しているため、透明回転円
筒に粉粒体が付着して検査不能になることもない。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の粉粒体検査装置の構成を
示す概略図、第２図は落下ガイド付近の正面図、第３図
は第２図のｍ−ｍ線断面図、第４図は透明回転円筒付近
の側面図、第５図は透過光源の正面図、第６図は第５図
のｖｔ−ｖｔ線断面図、第７図は検査エリアを示す概略
図、第８図は第１図の電気回路部分の詳細のブロック図
、第９図はラインセンサカメラの各部の信号波形図、第
１θ図、第１）図、第１２図は第８図の各部の信号波形
図である。１．２・・・透明回転円筒、３・・・粉粒体、４・・・
撮動フィーダ（粉粒体搬送手段）、５・・・選別装置、
６・・・良品回収容器、７・・・落下ガイド、８・・・
回収ガ・イド、９．１０・・・クリーナ、１）．１２・
・・静電除去装置、１３・・・反射光源、１４・・・ハ
ーフミラ−１）５・・・ラインセンサカメラ（撮像装置
）、１６・・・透過光源、２０・・・画像処理装置、２
１・・・遅延回路（選別装置制御手段）、２２・・・リ
トリガブルワンシラフトマルチバイプレータ（選別装置
制御手段）第１図第７図第２図第４図第５図第１０図　　　　　　　第１）図第１２図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）前後に所定間隔をあけて平行対面するように並設
して相互対面部分で粉粒体落下通路を形成し中心軸を回
転軸として回転する一対の透明回転円筒と、前記粉粒体
落下通路の上方に落下口を位置決めして粉粒体をシート
状にして搬送する粉粒体搬送手段と、前記粉粒体落下通
路の下方の粉粒体落下経路に設置して粉粒体を除去する
選別装置と、前記粉粒体搬送手段の落下口と前記粉粒体
落下通路の上端との間に配置して粉粒体を前記粉粒体落
下通路へ案内する落下ガイドと、前記一対の透明回転円
筒の外周面をそれぞれ前記粉粒体落下通路以外の位置で
清掃するクリーナと、前記粉粒体落下通路中の検査エリ
アを前記一対の透明回転円筒の相互対面部の前方位置か
ら反射照明する反射光源と、前記粉粒体落下通路中の前
記検査エリアを前記一対の透明回転円筒の相互対面部の
後方位置から透過照明する透過光源と、前記粉粒体落下
通路中の検査エリアを前記一対の透明回転円筒の相互対
面部の前方位置から撮像する撮像装置と、この撮像装置
の画像信号を処理することにより前記粉粒体落下通路中
を落下している粉粒体中の不良品粉粒体、異物等の存在
を検出して不良信号を発生する画像処理手段と、この画
像処理手段からの不良信号に応答して前記選別装置を所
定時間作動させることにより不良品粉粒体、異物等が含
まれた粉粒体を除去させる選別装置制御手段とを備え、
前記反射光源の光の良品粉粒体による反射光量と前記透
過光源からの光の前記一対の透明回転円筒のうち後方の
ものの透過光量とを略等しく設定した粉粒体検査装置。
（２）前記一対の透明回転円筒は中心軸が水平となって
いる特許請求の範囲第（１）項記載の粉粒体検査装置。
（３）前記反射光源および透過光源がそれぞれ前記一対
の透明回転円筒の内部に設置されている特許請求の範囲
第（１）項記載の粉粒体検査装置。
（４）粉粒体落下通路から出た粉粒体を前記選別装置へ
案内する回収ガイドを前記粉粒体落下通路の下方の粉粒
体落下経路を囲むように設けた特許請求の範囲第（１）
項記載の粉粒体検査装置。
（５）前記一対の透明回転円筒の外周面に帯電した静電
気を前記粉粒体落下通路以外の位置で除去する静電除去
装置を付設した特許請求の範囲第（１）項記載の粉粒体
検査装置。