JPH0727718A - 連続して繊維物質の薄いウエブを二次元的に監視する装置 - Google Patents
連続して繊維物質の薄いウエブを二次元的に監視する装置Info
- Publication number
- JPH0727718A JPH0727718A JP5354770A JP35477093A JPH0727718A JP H0727718 A JPH0727718 A JP H0727718A JP 5354770 A JP5354770 A JP 5354770A JP 35477093 A JP35477093 A JP 35477093A JP H0727718 A JPH0727718 A JP H0727718A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- web
- entity
- muscles
- image
- imaging unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
- G01N21/8915—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined non-woven textile material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8845—Multiple wavelengths of illumination or detection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
- G01N2021/8908—Strip illuminator, e.g. light tube
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
- Preliminary Treatment Of Fibers (AREA)
- Filamentary Materials, Packages, And Safety Devices Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 イメージ分析技術を適用して工程のスループ
ツトを１００％監視できるようにする。 【構成】 多数の存在物を含むウエブについて，上記ウ
エブから電磁放射を受け，これに応答してイメージ信号
を生ずるイメージングユニツトであつて，上記イメージ
信号が上記存在物を含んで上記ウエブの像に対応し，上
記ウエブが上記イメージングユニツトに相対的に運動
し，上記ウエブの相対運動の方向に垂直の方向にウエブ
を横切る少なくとも１つの筋を繰り返し走査するように
した上記イメージングユニツト及び上記イメージングユ
ニツトから上記イメージング信号を受け，受け取つたイ
メージ信号に対応するデイジタルデータを生じ，デイジ
タルデータを分析し，この分析に基づいて上記ウエブ中
の興味ある存在物を見出し，見出した興味ある存在物の
パラメータを求め，そのパラメータを示す出力信号を生
ずる処理手段が設けられている。
ツトを１００％監視できるようにする。 【構成】 多数の存在物を含むウエブについて，上記ウ
エブから電磁放射を受け，これに応答してイメージ信号
を生ずるイメージングユニツトであつて，上記イメージ
信号が上記存在物を含んで上記ウエブの像に対応し，上
記ウエブが上記イメージングユニツトに相対的に運動
し，上記ウエブの相対運動の方向に垂直の方向にウエブ
を横切る少なくとも１つの筋を繰り返し走査するように
した上記イメージングユニツト及び上記イメージングユ
ニツトから上記イメージング信号を受け，受け取つたイ
メージ信号に対応するデイジタルデータを生じ，デイジ
タルデータを分析し，この分析に基づいて上記ウエブ中
の興味ある存在物を見出し，見出した興味ある存在物の
パラメータを求め，そのパラメータを示す出力信号を生
ずる処理手段が設けられている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は繊維物質の薄いウエブ中
の存在物を工程中で実時間で測定し制御する方法と装置
に関する。提示した実施例においては，かかる存在物は
綿と他の繊維物質中の個々の繊維，ネツプ，不純物粒子
を含む。この薄いウエブは工程から得た物質サンプルか
ら意図的に形成したものでも良いし，あるいはある種の
工程処機械中に元々存在するものであつても良い。側定
はイメージ分析により行い，スペクトル範囲を広げた電
荷結合素子（ＣＣＤ）カメラに基づくものが好ましい。
の存在物を工程中で実時間で測定し制御する方法と装置
に関する。提示した実施例においては，かかる存在物は
綿と他の繊維物質中の個々の繊維，ネツプ，不純物粒子
を含む。この薄いウエブは工程から得た物質サンプルか
ら意図的に形成したものでも良いし，あるいはある種の
工程処機械中に元々存在するものであつても良い。側定
はイメージ分析により行い，スペクトル範囲を広げた電
荷結合素子（ＣＣＤ）カメラに基づくものが好ましい。
【０００２】本発明の分野を更に説明すると，連続的に
運転されている繊維生産工程機械から工程中のサンプル
を取得するための手段が提供される。これによりノメー
ジ分析は空間的（ｓｐａｔｉａｌ），スペクトル的（ｓ
ｐｅｃｔｒａｌ），時間的（ｔｅｍｐｏｒａｌ），パタ
ーン認識又はフイルタリング（ｆｉｌｔｅｒｉｎｇ）
（ＳＳＴＦ）を可能とする。このＳＳＴＦで薄いウエブ
中の個々の存在物の同定が可能となる。
運転されている繊維生産工程機械から工程中のサンプル
を取得するための手段が提供される。これによりノメー
ジ分析は空間的（ｓｐａｔｉａｌ），スペクトル的（ｓ
ｐｅｃｔｒａｌ），時間的（ｔｅｍｐｏｒａｌ），パタ
ーン認識又はフイルタリング（ｆｉｌｔｅｒｉｎｇ）
（ＳＳＴＦ）を可能とする。このＳＳＴＦで薄いウエブ
中の個々の存在物の同定が可能となる。
【０００３】
【従来の技術】ネツプとか不純物の粒子が繊維物質中に
存在することは，これらへの厳しさが増しているだけに
問題である。例えば綿花の生産と収穫の技術は繰綿や繊
維工場の初めの段階でより積極的なクリーニング操作を
必要としている。このような操作は異物や不純物を取り
除くけれども，多くの場合不純物はもつと細かい粒子に
砕かれ，その中には繊維の塊の中に残つてしまうものも
ある。こうなると後の工程で除去するのはもつと困難と
なる。もつと悪いことにはこのように益々積極的に行わ
れるようになるクリーニングによつてネツプ形成のレベ
ルが増大してしまう。従つてそれらを最適に制御するた
めに，繰綿や工場においてこれらの好ましくない存在物
のレベルを連続的に監視することが益々重要となつてき
た。
存在することは，これらへの厳しさが増しているだけに
問題である。例えば綿花の生産と収穫の技術は繰綿や繊
維工場の初めの段階でより積極的なクリーニング操作を
必要としている。このような操作は異物や不純物を取り
除くけれども，多くの場合不純物はもつと細かい粒子に
砕かれ，その中には繊維の塊の中に残つてしまうものも
ある。こうなると後の工程で除去するのはもつと困難と
なる。もつと悪いことにはこのように益々積極的に行わ
れるようになるクリーニングによつてネツプ形成のレベ
ルが増大してしまう。従つてそれらを最適に制御するた
めに，繰綿や工場においてこれらの好ましくない存在物
のレベルを連続的に監視することが益々重要となつてき
た。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】多くの生産環境におい
ては，工程を流れるものを１００％監視することは全く
不可能であり，測定には工程中にある物質のサンプルを
取得しなければならない。繊維工程機械中でサンプリン
グに利用できる繊維の状態は房状かスライバ状である。
代表するサンプルを獲得することが必要であり，これを
イメージ分析測定用に薄いウエブ状に準備しなければな
らない。最近開発されたイメージ分析技術を賢明に適用
して工程のスループツトを１００％監視できるような顕
著な例外がある。その良い例は後に実施例において述べ
るように，カード機の薄いウエブを監視することであ
る。以前の方法や装置では圧倒的に高価なものとなる
か，あるいは実用にならないイメージ解析の適用となつ
てしまう。本発明はこれらの困難を克服するものであ
る。
ては，工程を流れるものを１００％監視することは全く
不可能であり，測定には工程中にある物質のサンプルを
取得しなければならない。繊維工程機械中でサンプリン
グに利用できる繊維の状態は房状かスライバ状である。
代表するサンプルを獲得することが必要であり，これを
イメージ分析測定用に薄いウエブ状に準備しなければな
らない。最近開発されたイメージ分析技術を賢明に適用
して工程のスループツトを１００％監視できるような顕
著な例外がある。その良い例は後に実施例において述べ
るように，カード機の薄いウエブを監視することであ
る。以前の方法や装置では圧倒的に高価なものとなる
か，あるいは実用にならないイメージ解析の適用となつ
てしまう。本発明はこれらの困難を克服するものであ
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明によりカードウエ
ブの品質を制御するためのオンライン監視が提供され
る。好ましくない存在物は１００％の薄いカードウエブ
中から発見され（Ｆｏｕｎｄ），後工程中での，あるい
は結局はこれから生産される繊維製品の販売価格上への
インパクトの厳しさに関して識別され（Ｉｄｅｎｔｉｆ
ｉｅｄ），ウエブからかかる存在物を取り除く（ｅｘｃ
ｌｕｄｅ）ために優先性を持つた制御が行われる。この
ようなウエブのクリーニング処置を頭文字を組み合わせ
た″ＦＩＸ”で識別する。
ブの品質を制御するためのオンライン監視が提供され
る。好ましくない存在物は１００％の薄いカードウエブ
中から発見され（Ｆｏｕｎｄ），後工程中での，あるい
は結局はこれから生産される繊維製品の販売価格上への
インパクトの厳しさに関して識別され（Ｉｄｅｎｔｉｆ
ｉｅｄ），ウエブからかかる存在物を取り除く（ｅｘｃ
ｌｕｄｅ）ために優先性を持つた制御が行われる。この
ようなウエブのクリーニング処置を頭文字を組み合わせ
た″ＦＩＸ”で識別する。
【０００６】本発明による特殊な面によれば，繊維物質
のウエブを監視するための装置が提供される。ウエブは
繊維処理工程機械で処理している間でも監視できるし，
又は繊維処理工程機械から離れて形成することもでき
る。ウエブには繊維，不純物と言つた複数の存在物が含
まれている。イメージングユニツトはウエブから電磁放
射を受け，これに応答してイメージ信号を生じる。この
イメージ信号は存在物を含むウエブのイメージに対応す
るもので，ウエブはイメージングユニツトに相対運動を
行つている。イメージングユニツトはウエブの相対的運
動の方向に直角の方向にウエブをよぎつている少なくと
も１つの筋を繰り返し走査する。コンピユータはイメー
ジングユニツトからイメージ信号を受け，これに対応し
たデイジタルデータを生じる。コンピユータはこのデイ
ジタルデータを分析し，そのデータ分祈を基にウエブ中
の興味のある存在物を見つけ出す。更にコンピユータは
発見した興味ある存在物のパラメータを求め，ウエブ中
の興味ある存在物のパラメータを示す出力信号を生じ
る。
のウエブを監視するための装置が提供される。ウエブは
繊維処理工程機械で処理している間でも監視できるし，
又は繊維処理工程機械から離れて形成することもでき
る。ウエブには繊維，不純物と言つた複数の存在物が含
まれている。イメージングユニツトはウエブから電磁放
射を受け，これに応答してイメージ信号を生じる。この
イメージ信号は存在物を含むウエブのイメージに対応す
るもので，ウエブはイメージングユニツトに相対運動を
行つている。イメージングユニツトはウエブの相対的運
動の方向に直角の方向にウエブをよぎつている少なくと
も１つの筋を繰り返し走査する。コンピユータはイメー
ジングユニツトからイメージ信号を受け，これに対応し
たデイジタルデータを生じる。コンピユータはこのデイ
ジタルデータを分析し，そのデータ分祈を基にウエブ中
の興味のある存在物を見つけ出す。更にコンピユータは
発見した興味ある存在物のパラメータを求め，ウエブ中
の興味ある存在物のパラメータを示す出力信号を生じ
る。
【０００７】本発明の他の面によれば，イメージングユ
ニツトとコンピユータは更に受け取つた電磁放射からウ
エブの同じ場所について複数の光学的イメージを生じる
ための，スペクトル格子やプリズムと言つた弁別装置を
含み，これら光学的イメージは互いに他のイメージから
そのスペクトル内容において区別されている。コンピユ
ータは複数の光学的イメージに対応して複数のデイジタ
ルデータを生じ，このデイジタルデータを分析して，興
味ある存在物のイメージを見出す。またコンピユータは
複数のデイジタルデータ表現の分析をもとに，興味ある
存在物で生じた電磁放射のスペクトル内容を求める。
ニツトとコンピユータは更に受け取つた電磁放射からウ
エブの同じ場所について複数の光学的イメージを生じる
ための，スペクトル格子やプリズムと言つた弁別装置を
含み，これら光学的イメージは互いに他のイメージから
そのスペクトル内容において区別されている。コンピユ
ータは複数の光学的イメージに対応して複数のデイジタ
ルデータを生じ，このデイジタルデータを分析して，興
味ある存在物のイメージを見出す。またコンピユータは
複数のデイジタルデータ表現の分析をもとに，興味ある
存在物で生じた電磁放射のスペクトル内容を求める。
【０００８】本発明の他の面によれば，更にイメージン
グユニツトにはウエブの同じ部分の時間的に離れた複数
のイメージを生じるための装置が含まれる。実施例には
ウエブからの電磁放射を受け，その一部をブロツクし，
またその空間的に離れた少なくとも第１，第２の部分を
伝送するためのマスクが配置されている。イメージング
光学系は電磁放射の空間的に離れた第１，第２のイメー
ジの焦点を検出器のアレイ上に結び，その検出器は電磁
放射の空間的に離れた第１，第２の部分に対応するイメ
ージ信号を生じる。
グユニツトにはウエブの同じ部分の時間的に離れた複数
のイメージを生じるための装置が含まれる。実施例には
ウエブからの電磁放射を受け，その一部をブロツクし，
またその空間的に離れた少なくとも第１，第２の部分を
伝送するためのマスクが配置されている。イメージング
光学系は電磁放射の空間的に離れた第１，第２のイメー
ジの焦点を検出器のアレイ上に結び，その検出器は電磁
放射の空間的に離れた第１，第２の部分に対応するイメ
ージ信号を生じる。
【０００９】また本発明の他の面によれば，イメージン
グユニツトはウエブの同じ部分について時間的に分離さ
れた少なくとも第１，第２のイメージを生じる。第１の
時間的に分離されたイメージはウエブが第１照明条件で
照らされている間に生じ，第２の時間的に分離されたイ
メージはウエブが第１照明条件とは異なつた第２照明条
件で照らされている間に生じる。１つの実施例では，第
１の照明条件はウエブの前面からの照明であり，第２の
照明条件はウエブの裏面からの照明である。コンピユー
タは存在物の見かけ上の大きさ，見かけ上の形状，見か
け上の色などに従つて存在物の分類も行う。
グユニツトはウエブの同じ部分について時間的に分離さ
れた少なくとも第１，第２のイメージを生じる。第１の
時間的に分離されたイメージはウエブが第１照明条件で
照らされている間に生じ，第２の時間的に分離されたイ
メージはウエブが第１照明条件とは異なつた第２照明条
件で照らされている間に生じる。１つの実施例では，第
１の照明条件はウエブの前面からの照明であり，第２の
照明条件はウエブの裏面からの照明である。コンピユー
タは存在物の見かけ上の大きさ，見かけ上の形状，見か
け上の色などに従つて存在物の分類も行う。
【００１０】
【実施例】本発明は以下の提案された実施例の詳細な説
明と添付の図面によつてよく理解されるであろう。
明と添付の図面によつてよく理解されるであろう。
【００１１】図１はダクト１１中を矢印１３の方向に空
気搬送されている繊維房１０を示す。ダクトの一方の側
には穴あきの壁１２が，これをシールする硬いカバープ
レート１４と組み合わせて付けてある。カバープレート
１４はダクト１１の内外の圧力差を克服する。図１にそ
の収納位置で示したサンプラプレート１８は流体式モー
タと制御システムのような駆動機構１７に取り付けら
れ，ライン２５からの制御信号の指令で軸１９の周りに
流れの中に回転し，プレートに当たる繊維房１０を捕獲
する。反時計方向に流れの中を回転する間にプレートに
当たつた適当な量の房１０が集められ，量後はプレート
１８の回転運動によつて図２に示す閉じた位置まで動
く。プレート１８が図２に示す閉じた位置に来たあと，
制御ライン２５を通つて制御信号が加わると，シーリン
グプレート１４は適当な機械的機構２３，例えば流体ピ
ストンとシリンダ及び制御システムによつて，その位置
から外され，穴あき壁１２が露出される。
気搬送されている繊維房１０を示す。ダクトの一方の側
には穴あきの壁１２が，これをシールする硬いカバープ
レート１４と組み合わせて付けてある。カバープレート
１４はダクト１１の内外の圧力差を克服する。図１にそ
の収納位置で示したサンプラプレート１８は流体式モー
タと制御システムのような駆動機構１７に取り付けら
れ，ライン２５からの制御信号の指令で軸１９の周りに
流れの中に回転し，プレートに当たる繊維房１０を捕獲
する。反時計方向に流れの中を回転する間にプレートに
当たつた適当な量の房１０が集められ，量後はプレート
１８の回転運動によつて図２に示す閉じた位置まで動
く。プレート１８が図２に示す閉じた位置に来たあと，
制御ライン２５を通つて制御信号が加わると，シーリン
グプレート１４は適当な機械的機構２３，例えば流体ピ
ストンとシリンダ及び制御システムによつて，その位置
から外され，穴あき壁１２が露出される。
【００１２】図２はサンプリングプレート１８が穴あき
プレート１２の上に来て，サンプリング位置に達した所
を示している。穴あきプレート１２上の繊維サンプル２
０とサンプリングプレート１８の組み合わされたシーリ
ング動作で，ダクト１１内外の圧力差には対抗できるの
で，シーリングプレート１４は引つ込められている。
プレート１２の上に来て，サンプリング位置に達した所
を示している。穴あきプレート１２上の繊維サンプル２
０とサンプリングプレート１８の組み合わされたシーリ
ング動作で，ダクト１１内外の圧力差には対抗できるの
で，シーリングプレート１４は引つ込められている。
【００１３】この動作の桔果，繊維サンプル２０は穴２
７を通してニードルサンプラ３２でサンプリングできる
よう提供される。このニードルサンプラは同時に提出す
るＳｈｏｆｎｅｒ他の特許出願″試験のために繊維及び
他の存在物を個々に分離するためのニードル式装置″に
記述されている。図２の下右側には点線で引込まれた，
即ち開いた位置にある把持／フイードローラ３４′を持
つニードルサンプラ３２′か示されている。ニードルサ
ンプラ３２′（点線）は丁度その右から左への運動を開
始する所である。ニードル列３３′は幅が紙面に垂直に
約２から４インチが好ましいが，ニードル列３３′は穴
あきプレート１２に極めて近接して動き，存在物２０を
代表するサンプルを穴２７を通してサンプラ３２に充分
積載されるまで取得してから左へ動く。この位置でニー
ドルサンプラ３２の把持／フイードローラ３４は図２の
下，左側に実線で示すように閉じ，サンプル積載のステ
ツプは完了する。この図においては，ローラ３４は中心
軸の周りに回転するか，及び／又は回転及び／又は移動
制御信号に応答して直線的に動くようにした通常の把持
フイードローラを表すよう意図したものである。
７を通してニードルサンプラ３２でサンプリングできる
よう提供される。このニードルサンプラは同時に提出す
るＳｈｏｆｎｅｒ他の特許出願″試験のために繊維及び
他の存在物を個々に分離するためのニードル式装置″に
記述されている。図２の下右側には点線で引込まれた，
即ち開いた位置にある把持／フイードローラ３４′を持
つニードルサンプラ３２′か示されている。ニードルサ
ンプラ３２′（点線）は丁度その右から左への運動を開
始する所である。ニードル列３３′は幅が紙面に垂直に
約２から４インチが好ましいが，ニードル列３３′は穴
あきプレート１２に極めて近接して動き，存在物２０を
代表するサンプルを穴２７を通してサンプラ３２に充分
積載されるまで取得してから左へ動く。この位置でニー
ドルサンプラ３２の把持／フイードローラ３４は図２の
下，左側に実線で示すように閉じ，サンプル積載のステ
ツプは完了する。この図においては，ローラ３４は中心
軸の周りに回転するか，及び／又は回転及び／又は移動
制御信号に応答して直線的に動くようにした通常の把持
フイードローラを表すよう意図したものである。
【００１４】サンプラ３２は適当な機構で水平方向に移
動し，下に向かつて回転する。サンプラ３２は流体モー
タ３７から伸びるアーム３５に固定的に取り付けられて
いることが好ましい。キヤリツジ３９は直線チエインド
ライブとレール３６上に搭載されていて，キヤリツジ３
９はレイル３６上の水平運動によつてモータ３７を運
ぶ。ライン３９の信号のコントロール下にあるモータと
モータコントロールシステム３８はチエインドライブと
レイル３６に運動力を与え，サンプラ３２は実線で示し
たサンプラ３２と破線で示したサンプラ３２′の間の位
置に動く。更にライン４３からのコントロールでモータ
３７はサンプラを弧線４５で示す方向に選択的に回転す
る。
動し，下に向かつて回転する。サンプラ３２は流体モー
タ３７から伸びるアーム３５に固定的に取り付けられて
いることが好ましい。キヤリツジ３９は直線チエインド
ライブとレール３６上に搭載されていて，キヤリツジ３
９はレイル３６上の水平運動によつてモータ３７を運
ぶ。ライン３９の信号のコントロール下にあるモータと
モータコントロールシステム３８はチエインドライブと
レイル３６に運動力を与え，サンプラ３２は実線で示し
たサンプラ３２と破線で示したサンプラ３２′の間の位
置に動く。更にライン４３からのコントロールでモータ
３７はサンプラを弧線４５で示す方向に選択的に回転す
る。
【００１５】ニードルサンプラ３２は穴あきプレート１
２に隣接したサンプリング位置から，図３に示すように
回転し移動している。密閉用のプレート１４は図１に示
した閉止位置に戻り，サンプリングプレート１８は時計
方向に回転して収納位置に戻る。サンプリングプレート
１８に着いて残つている繊維は圧搾空気で吹き飛はさ
れ，ダクト１６中の搬送空気に戻される。図３には，更
にニードルサンプラが回転し，プレゼンテーシヨンシリ
ンダ４０と正しく合う位置に来ていることが示されてい
る。シリンダ４０は好ましくはその表面の目打ち４４に
ピン４２を設けてあり，繊維をくしけずり，配列して，
繊維とその上に沈積した存在物の薄いウエブの提示装置
として役目をする（ここには薄いウエブは示されていな
い）。繊維はサンプラ３２の把持／フイードローラ３４
の回転によつてシリンダ４０の回転と協動して，ピン３
３から一様に解放され，繊維と他の存在物は一様にシリ
ンダ４０上に沈積する。空間４３とサクシヨン４５は目
打ち４４を通して空気流を与えサンプラ３２からシリン
ダ４０上へと存在物が沈積するのを助ける。この転送ス
テツプの第１の目的は繊維サンプルの１００％をネツプ
や不純物と言つた全ての存在物も含めて，本質的に何等
の変更も加えずに移すことにある。第２の目的はイメー
ジ分析システム５０に提供するのに好ましい薄いウエブ
の形にサンプルを形成することである。ニードル式サン
プラ３２，別のニードルサンプリング手段，別の測定手
段については同時に提出する特許出願″試験のために繊
維及び他の存在物を個々に分離するためのニードル式装
置″に記述されていて，参照としてここにも組み込まれ
ている。各ニードルサンプラ３２から約１ｇのサンプル
がプレゼンテーシヨンシリンダ４０に転送するのが好ま
しい。この量はニードルサンプラ３２の幅４インチに関
係している。
２に隣接したサンプリング位置から，図３に示すように
回転し移動している。密閉用のプレート１４は図１に示
した閉止位置に戻り，サンプリングプレート１８は時計
方向に回転して収納位置に戻る。サンプリングプレート
１８に着いて残つている繊維は圧搾空気で吹き飛はさ
れ，ダクト１６中の搬送空気に戻される。図３には，更
にニードルサンプラが回転し，プレゼンテーシヨンシリ
ンダ４０と正しく合う位置に来ていることが示されてい
る。シリンダ４０は好ましくはその表面の目打ち４４に
ピン４２を設けてあり，繊維をくしけずり，配列して，
繊維とその上に沈積した存在物の薄いウエブの提示装置
として役目をする（ここには薄いウエブは示されていな
い）。繊維はサンプラ３２の把持／フイードローラ３４
の回転によつてシリンダ４０の回転と協動して，ピン３
３から一様に解放され，繊維と他の存在物は一様にシリ
ンダ４０上に沈積する。空間４３とサクシヨン４５は目
打ち４４を通して空気流を与えサンプラ３２からシリン
ダ４０上へと存在物が沈積するのを助ける。この転送ス
テツプの第１の目的は繊維サンプルの１００％をネツプ
や不純物と言つた全ての存在物も含めて，本質的に何等
の変更も加えずに移すことにある。第２の目的はイメー
ジ分析システム５０に提供するのに好ましい薄いウエブ
の形にサンプルを形成することである。ニードル式サン
プラ３２，別のニードルサンプリング手段，別の測定手
段については同時に提出する特許出願″試験のために繊
維及び他の存在物を個々に分離するためのニードル式装
置″に記述されていて，参照としてここにも組み込まれ
ている。各ニードルサンプラ３２から約１ｇのサンプル
がプレゼンテーシヨンシリンダ４０に転送するのが好ま
しい。この量はニードルサンプラ３２の幅４インチに関
係している。
【００１６】プレゼンテーシヨンシリンダ４０はイメー
ジ分析手段５０による検査のため存在物の薄いウエブを
提示する。図３の実施例においては，シリンダ４０上の
細かいピン４２と目打ち４４が一様な取外しと沈積を確
実に行うため，またニードル３３からサンプルを外す時
にくしけずりと分離作用を確実にするために用いられて
いる。イメージ分析手段５０は好ましい形で沈積されて
いる薄いウエブを調べる。サンプル中の繊維存在物の一
様性と配列についての考察を以下に詳述する。
ジ分析手段５０による検査のため存在物の薄いウエブを
提示する。図３の実施例においては，シリンダ４０上の
細かいピン４２と目打ち４４が一様な取外しと沈積を確
実に行うため，またニードル３３からサンプルを外す時
にくしけずりと分離作用を確実にするために用いられて
いる。イメージ分析手段５０は好ましい形で沈積されて
いる薄いウエブを調べる。サンプル中の繊維存在物の一
様性と配列についての考察を以下に詳述する。
【００１７】本発明のイメージ分析や制御のやり方を説
明する前に，サンプリングサイクルの完了について説明
する。手段５０によるイメージ分析測定が完了すると，
ブラシ５２は矢印５３で示されるように右に動き，はり
毛５４がピン４２とかみ合う。ブラシ５２とシリンダ４
１は各々矢印５５と５７で示した方向に回転し，この際
繊維，ネツプ，不純物，その他の存在物はブラシ５２の
くしけずり作用と穴４４から加えられる圧搾空気５６に
よつてシリンダ４０から取り除かれる。同軸排出器５８
が導菅５９に吸引を与えるために用いられていて，この
吸引でブラシ５２とシリンダ４０の領域から空気搬送ダ
クト１１に空気流を戻す。この動作が終わるとスライド
バルブ６０が閉じる。これでシステムは次の測定シーケ
ンスに対する準備ができたことになる。上記の説明で，
機械的な運動と制御は普通の手段で行われ，全操作は普
通のマイクロプロセツサベースのコントローラか，図９
のコンピユータシステム１４４のようなコンピユータで
制御されるのが望ましいが，各ステツプはもし望むなら
手動ででも制御できる。
明する前に，サンプリングサイクルの完了について説明
する。手段５０によるイメージ分析測定が完了すると，
ブラシ５２は矢印５３で示されるように右に動き，はり
毛５４がピン４２とかみ合う。ブラシ５２とシリンダ４
１は各々矢印５５と５７で示した方向に回転し，この際
繊維，ネツプ，不純物，その他の存在物はブラシ５２の
くしけずり作用と穴４４から加えられる圧搾空気５６に
よつてシリンダ４０から取り除かれる。同軸排出器５８
が導菅５９に吸引を与えるために用いられていて，この
吸引でブラシ５２とシリンダ４０の領域から空気搬送ダ
クト１１に空気流を戻す。この動作が終わるとスライド
バルブ６０が閉じる。これでシステムは次の測定シーケ
ンスに対する準備ができたことになる。上記の説明で，
機械的な運動と制御は普通の手段で行われ，全操作は普
通のマイクロプロセツサベースのコントローラか，図９
のコンピユータシステム１４４のようなコンピユータで
制御されるのが望ましいが，各ステツプはもし望むなら
手動ででも制御できる。
【００１８】図４は本質的には同じイメージ分析測定手
段５０を用いた他の実施例を示す。薄いウエブ６２が形
成され，イメージ分析測定手段５０に提示される。この
場合サンプルは前と同様にニードルサンプラ３２で獲得
され，プレゼンテーシヨンシリンダ４０に広げられる
が，ここでは次に薄いウエブ６２がプレゼンテーシヨン
シリンダ４０の周長よりも少し長いガラス板６４上にブ
ラシでかき取られる。板６４は矢印６５で示すように左
右の直線運動をするように搭載されていて，駆動ローラ
６７で駆動される。このようにして密度，配列，その他
の準備，提示特性，シリンダ４０によるサンプル上への
効果などは前と同じように保持されるが，ここでは好ま
しい観察環境６６が設けられている。この環境では前方
照明６８と後方照明７０が同時に又は別々に好ましい照
明が得られるように使用される。背景のコントラストと
他の要素はモータ駆動のキヤリア７２で与えられる。キ
ヤリア７２は黒い背景を与えるものが好ましいが，後方
照明のモードとして，白あるいは他の色，鏡面又は何も
無しとすることもできる。広範囲の背景と前方照明で強
調されたコントラスト又は分解性又は一般に存在物認識
能力を選ぶことができる。
段５０を用いた他の実施例を示す。薄いウエブ６２が形
成され，イメージ分析測定手段５０に提示される。この
場合サンプルは前と同様にニードルサンプラ３２で獲得
され，プレゼンテーシヨンシリンダ４０に広げられる
が，ここでは次に薄いウエブ６２がプレゼンテーシヨン
シリンダ４０の周長よりも少し長いガラス板６４上にブ
ラシでかき取られる。板６４は矢印６５で示すように左
右の直線運動をするように搭載されていて，駆動ローラ
６７で駆動される。このようにして密度，配列，その他
の準備，提示特性，シリンダ４０によるサンプル上への
効果などは前と同じように保持されるが，ここでは好ま
しい観察環境６６が設けられている。この環境では前方
照明６８と後方照明７０が同時に又は別々に好ましい照
明が得られるように使用される。背景のコントラストと
他の要素はモータ駆動のキヤリア７２で与えられる。キ
ヤリア７２は黒い背景を与えるものが好ましいが，後方
照明のモードとして，白あるいは他の色，鏡面又は何も
無しとすることもできる。広範囲の背景と前方照明で強
調されたコントラスト又は分解性又は一般に存在物認識
能力を選ぶことができる。
【００１９】測定が完了すると，薄いウエブサンプル６
２はガイドローラ７６の下にガラス板６４と共に動き，
除去空気源７７からのきれいな圧搾空気で取外され，同
軸排出器８０で駆動されるエアースイープ７８で運び出
される。試験されたサンプルはこのようにして図３に示
した工程に戻される。クリーナホイール７５は残留物を
除き，板６４を次の試験のために準備する。
２はガイドローラ７６の下にガラス板６４と共に動き，
除去空気源７７からのきれいな圧搾空気で取外され，同
軸排出器８０で駆動されるエアースイープ７８で運び出
される。試験されたサンプルはこのようにして図３に示
した工程に戻される。クリーナホイール７５は残留物を
除き，板６４を次の試験のために準備する。
【００２０】図５は繊維個別化装置１０２を示し，この
装置は個々に分離した繊維と存在物を導菅を通して感知
ステーシヨン８２に供給し，感知ステーシヨン８２は分
度は存在物や繊維を観察ステーシヨン８８に供給する。
サンプルは装置１０２で個々ばらばらに分離される。分
離された存在物１０３は電気−光学的感知ステーシヨン
８２（Ｍ３）を通つた後，回転する穴空きドラム８４上
に沈積される。この沈積はサクシヨン８６で搬送空気を
集めることによつて助けられる。ステーシヨン８８では
図３及び４で示したと同様なやり方でイメージ分析シス
テム５０が示されている。この実施例では，サンプルは
空間９１に導入され，収集空間９２に放出されてサクシ
ヨン９３で排出される環境制御気体９０によつて調質さ
れる。またサンプルは同様にして空間９６とサクシヨン
９７によつて集められる環境制御気体９４によつても調
質することができる。
装置は個々に分離した繊維と存在物を導菅を通して感知
ステーシヨン８２に供給し，感知ステーシヨン８２は分
度は存在物や繊維を観察ステーシヨン８８に供給する。
サンプルは装置１０２で個々ばらばらに分離される。分
離された存在物１０３は電気−光学的感知ステーシヨン
８２（Ｍ３）を通つた後，回転する穴空きドラム８４上
に沈積される。この沈積はサクシヨン８６で搬送空気を
集めることによつて助けられる。ステーシヨン８８では
図３及び４で示したと同様なやり方でイメージ分析シス
テム５０が示されている。この実施例では，サンプルは
空間９１に導入され，収集空間９２に放出されてサクシ
ヨン９３で排出される環境制御気体９０によつて調質さ
れる。またサンプルは同様にして空間９６とサクシヨン
９７によつて集められる環境制御気体９４によつても調
質することができる。
【００２１】シリンダ８４の表面速度はサンプル１００
の繊維個別化装置１０２への供給割合との組み合わせで
調節し，基本的に個々に分離された存在物が検査のため
電気−光学的センサ８２とイメージ分析システム５０の
両方に提供されるようにできることは明らかである。プ
レゼンテーシヨンシリンダ８４の速度が遅いと複数の存
在物が沈積してステーシヨン８８のイメージ分析システ
ム５０で検査されるようになる。１９９１年９月１９日
出願の特許出願第０７／７６２６１３号明細書で紹介さ
れた時刻印字概念を，電気−光学的拡散光センサ８２か
らの信号と，ステーシヨン８８のイメージ分析システム
５０の間に適用することが好ましい。即ちサンプル１０
０がステーシヨン８２とステーシヨン８８で感知される
時刻の間には一定の時間遅れがある。このように，ステ
ーシヨン８２と８８の測定は時間的に関連がある。
の繊維個別化装置１０２への供給割合との組み合わせで
調節し，基本的に個々に分離された存在物が検査のため
電気−光学的センサ８２とイメージ分析システム５０の
両方に提供されるようにできることは明らかである。プ
レゼンテーシヨンシリンダ８４の速度が遅いと複数の存
在物が沈積してステーシヨン８８のイメージ分析システ
ム５０で検査されるようになる。１９９１年９月１９日
出願の特許出願第０７／７６２６１３号明細書で紹介さ
れた時刻印字概念を，電気−光学的拡散光センサ８２か
らの信号と，ステーシヨン８８のイメージ分析システム
５０の間に適用することが好ましい。即ちサンプル１０
０がステーシヨン８２とステーシヨン８８で感知される
時刻の間には一定の時間遅れがある。このように，ステ
ーシヨン８２と８８の測定は時間的に関連がある。
【００２２】図６は本発明のオンライン工程監視の最も
重要な実施例を示すもので，ここではイメージ分析手段
５０はカード機１１２のドツフアシリンダ１１０上の薄
いウエブを検査する。あるいはイメージ分析手段５０は
ウエブがドツフア又はクラツシユローラ１２２を出た後
で，トランペツト１２５を通つてスライバ１２６になる
前でウエブ１２０を検査する。存在物はその配置や密度
に関しては本質的にはドツフアシリンダ１１０上とウエ
ブ１２０中では同じであることはすぐ理解されよう。ま
た″自由空間″中でウエブを検査する方か好ましく，そ
こでは前方，後方照明はずつとやり易く最高のコントラ
ストと分解性のためにも好ましい。しかしある場台には
図６に示すような空間１２４でウエブで測定することが
不可能である。更に他の場合には，ドツフアシリンダ１
１０の歯で移送されるときに薄いウエブを調べても，イ
メージ分析システム５０の弁別能力にとつては充分であ
る。
重要な実施例を示すもので，ここではイメージ分析手段
５０はカード機１１２のドツフアシリンダ１１０上の薄
いウエブを検査する。あるいはイメージ分析手段５０は
ウエブがドツフア又はクラツシユローラ１２２を出た後
で，トランペツト１２５を通つてスライバ１２６になる
前でウエブ１２０を検査する。存在物はその配置や密度
に関しては本質的にはドツフアシリンダ１１０上とウエ
ブ１２０中では同じであることはすぐ理解されよう。ま
た″自由空間″中でウエブを検査する方か好ましく，そ
こでは前方，後方照明はずつとやり易く最高のコントラ
ストと分解性のためにも好ましい。しかしある場台には
図６に示すような空間１２４でウエブで測定することが
不可能である。更に他の場合には，ドツフアシリンダ１
１０の歯で移送されるときに薄いウエブを調べても，イ
メージ分析システム５０の弁別能力にとつては充分であ
る。
【００２３】以上図３，４，５及び６にイメージ分析手
段による検査のために，繊維サンプルから薄いウエブを
形成する手段を述べた・サンプルは運転している工程か
ら自動的に収集されてもよいし，試験室の品質管理装置
のための試験サンプルの一部であつてもよいし，あるい
はまたカード機や同様の機械中で既に薄いウエブとして
見出せるものであつてもよい。すべて本発明で提案する
イメージ分析手段５０で有利にも検査することができ
る。次にイメージ分析の主題に移り，空間的，スペクト
ル的，時間的パターン認識又はフイルタリング，即ちＳ
ＳＴＦの概念を説明する。
段による検査のために，繊維サンプルから薄いウエブを
形成する手段を述べた・サンプルは運転している工程か
ら自動的に収集されてもよいし，試験室の品質管理装置
のための試験サンプルの一部であつてもよいし，あるい
はまたカード機や同様の機械中で既に薄いウエブとして
見出せるものであつてもよい。すべて本発明で提案する
イメージ分析手段５０で有利にも検査することができ
る。次にイメージ分析の主題に移り，空間的，スペクト
ル的，時間的パターン認識又はフイルタリング，即ちＳ
ＳＴＦの概念を説明する。
【００２４】図７，８に光学的イメージングシステム１
２９の概観を示す。システムには第１及び第２の光学的
イメージングユニツト１３０と１３２が含まれ，これら
にはＣＣＤカメラが含まれている。各イメージングユニ
ツト１３０と１３２は綿のようなノンウオーブンウエブ
であることが好ましいウエブ１３４の少なくとも０．５
ｍ幅の部分を観察できるように配置される。イメージン
グユニツト１３０と１３２は約０．０１ｍの重複１３５
でウエブの約半分ずつを観察するのが望ましい。２つの
イメージングユニツト１３０と１３２の目的はウエブ１
００％を光学的に見ることにあるが，データレートは半
分に減じられる。即ち各光学的ユニツト１３０又は１３
２からのデータを別々に分析するときは１つのユニツト
でウエブ全体を観測し，１つのカメラが２つのユニツト
と同じ解像度を得ている場合とくらべて，データレート
は約半分となる。
２９の概観を示す。システムには第１及び第２の光学的
イメージングユニツト１３０と１３２が含まれ，これら
にはＣＣＤカメラが含まれている。各イメージングユニ
ツト１３０と１３２は綿のようなノンウオーブンウエブ
であることが好ましいウエブ１３４の少なくとも０．５
ｍ幅の部分を観察できるように配置される。イメージン
グユニツト１３０と１３２は約０．０１ｍの重複１３５
でウエブの約半分ずつを観察するのが望ましい。２つの
イメージングユニツト１３０と１３２の目的はウエブ１
００％を光学的に見ることにあるが，データレートは半
分に減じられる。即ち各光学的ユニツト１３０又は１３
２からのデータを別々に分析するときは１つのユニツト
でウエブ全体を観測し，１つのカメラが２つのユニツト
と同じ解像度を得ている場合とくらべて，データレート
は約半分となる。
【００２５】動いているウエブ１３４は広帯域放射源１
３６と１３８で照明される。この放射源は赤外を含む可
視光，非可視光を与える。光源１３６はウエブ１３４の
前面を照射し，光源１３８は反対の後ろ又は下側を照射
する。このような照射配置でウエブ１３４に当たる照明
のタイプはウエブ１３４を後ろから透過する光の量，又
は前面から反射される光の量，あるいは両者に関する情
報を与えるよう変化させることができる。
３６と１３８で照明される。この放射源は赤外を含む可
視光，非可視光を与える。光源１３６はウエブ１３４の
前面を照射し，光源１３８は反対の後ろ又は下側を照射
する。このような照射配置でウエブ１３４に当たる照明
のタイプはウエブ１３４を後ろから透過する光の量，又
は前面から反射される光の量，あるいは両者に関する情
報を与えるよう変化させることができる。
【００２６】イメージングユニツト１３０と１３２及び
照射源１３６と１３８はデータ収集−コントロールユニ
ツト１４０と１４２を介してイメージ処理−貯蔵コンピ
ユータシステム１４４に接続される。光学的イメージン
グユニツト１３０と１３２はイメージ信号を生じ，この
信号は処理のためにユニツト１４０と１４２を通つてシ
ステム１４４に伝送される。コンピユータシステム１４
４はユニツト１４０と１４２を通して照射源１３６と１
３８に制御信号を出し，ウエブ１３４上への照明の強度
と時間を制御する。またシステム１４４には情報リンク
１４６を含んでいて，後に述べる外部システムに情報と
制御を与える。
照射源１３６と１３８はデータ収集−コントロールユニ
ツト１４０と１４２を介してイメージ処理−貯蔵コンピ
ユータシステム１４４に接続される。光学的イメージン
グユニツト１３０と１３２はイメージ信号を生じ，この
信号は処理のためにユニツト１４０と１４２を通つてシ
ステム１４４に伝送される。コンピユータシステム１４
４はユニツト１４０と１４２を通して照射源１３６と１
３８に制御信号を出し，ウエブ１３４上への照明の強度
と時間を制御する。またシステム１４４には情報リンク
１４６を含んでいて，後に述べる外部システムに情報と
制御を与える。
【００２７】各光学的イメージングユニツト１３０と１
３２の動作の詳細は図９，１０及び１１を参照すること
によつてよく理解できよう。図９には１つのイメージン
グユニツト１３０の動作を示しながら，光学的イメージ
ングシステム１２９の詳細が示されており，ユニツト１
３２は同様に動作すると理解されたい。図７，８及び９
を参照して光学的ユニツト１３０はウエブ１３４の右側
から，図７，８及び９で１ないし４の添字を付した４つ
の筋１５０を同時に観測するよう配置されている。提案
した実施例では，筋１５０のそれぞれは幅０．５ｍｍ
で，ウエブ１３４を直角に横切る方向に長さ約０．５１
０ｍの距離に伸びている。２つのイメージングユニツト
１３０と１３２がウエブ全体を見るのに用いられている
ので，筋１５０は実際はウエブを横切つて連続して延び
ていると考えてよい。１〜４の記号を付けた４つの筋１
５０は互いに４．０ｍｍだけウエブ１３４の動く方向と
平行の方向で離れている。４つの筋１５０の縁から縁ま
での間隔は３．５ｍｍである。
３２の動作の詳細は図９，１０及び１１を参照すること
によつてよく理解できよう。図９には１つのイメージン
グユニツト１３０の動作を示しながら，光学的イメージ
ングシステム１２９の詳細が示されており，ユニツト１
３２は同様に動作すると理解されたい。図７，８及び９
を参照して光学的ユニツト１３０はウエブ１３４の右側
から，図７，８及び９で１ないし４の添字を付した４つ
の筋１５０を同時に観測するよう配置されている。提案
した実施例では，筋１５０のそれぞれは幅０．５ｍｍ
で，ウエブ１３４を直角に横切る方向に長さ約０．５１
０ｍの距離に伸びている。２つのイメージングユニツト
１３０と１３２がウエブ全体を見るのに用いられている
ので，筋１５０は実際はウエブを横切つて連続して延び
ていると考えてよい。１〜４の記号を付けた４つの筋１
５０は互いに４．０ｍｍだけウエブ１３４の動く方向と
平行の方向で離れている。４つの筋１５０の縁から縁ま
での間隔は３．５ｍｍである。
【００２８】光学的イメージングシステム１２９は１対
のレンズ１５２と１５４及び空間マスク１５６を含んで
いる。レンズ１５２と１５４の目的はウエブ１３４の像
をミラー１６０の前面から反射した後，ＣＣＤカメラと
格子組立１４８上に結ぶためである。空間マスク１５６
の機能はＣＣＤと格子組立１５８の視野を４本の筋１５
０に限定することである。ウエブ１３４は矢印１６１の
方向に動いているので，ＣＣＤと格子組立１５８がウエ
ブを異なつた時間で４回にわたつて観測するのが好まし
い。即ちウエブ１３４のすべては４本の筋１５０のおの
おのを通過するであろう。従つてウエブ１３４の最初に
筋１５０の第１の筋で観測された部分は次に１５０の第
２の筋で２回目に観測され，３回目に１５０の第３の筋
で観測され，４回目には１５０の第４の筋で観測される
ことになる。後でより詳細に示すように，このような重
複を行つているのは正確度を増し，及び／又は得られる
情報量を増すためである。
のレンズ１５２と１５４及び空間マスク１５６を含んで
いる。レンズ１５２と１５４の目的はウエブ１３４の像
をミラー１６０の前面から反射した後，ＣＣＤカメラと
格子組立１４８上に結ぶためである。空間マスク１５６
の機能はＣＣＤと格子組立１５８の視野を４本の筋１５
０に限定することである。ウエブ１３４は矢印１６１の
方向に動いているので，ＣＣＤと格子組立１５８がウエ
ブを異なつた時間で４回にわたつて観測するのが好まし
い。即ちウエブ１３４のすべては４本の筋１５０のおの
おのを通過するであろう。従つてウエブ１３４の最初に
筋１５０の第１の筋で観測された部分は次に１５０の第
２の筋で２回目に観測され，３回目に１５０の第３の筋
で観測され，４回目には１５０の第４の筋で観測される
ことになる。後でより詳細に示すように，このような重
複を行つているのは正確度を増し，及び／又は得られる
情報量を増すためである。
【００２９】ＣＣＤと格子組立１４８からの信号はデー
タ収集−コントロールユニツト１４０の一部である読取
り電子回路１６２に送られる。読取り電子回路１６２は
その出力をイメージプロセツサ１６４に与え，その出力
は表示−貯蔵ユニツト１６６に与えられる。１６４と１
６６は共にイメージ処理と貯蔵を行うコンピユータシス
テム１４４の一部である。
タ収集−コントロールユニツト１４０の一部である読取
り電子回路１６２に送られる。読取り電子回路１６２は
その出力をイメージプロセツサ１６４に与え，その出力
は表示−貯蔵ユニツト１６６に与えられる。１６４と１
６６は共にイメージ処理と貯蔵を行うコンピユータシス
テム１４４の一部である。
【００３０】ウエブ１３４の速度はロータリエンコーダ
１６８のような速度検出器で常に監視されていて，この
検出器は速度情報を電子回路１６２を介してコンピユー
タシステム１４４に与える。この速度情報は重要で，こ
れによりシステムが４本の筋１５０で与えられる重複性
の利点を活用し，組立構成機構１４８で検出された望ま
しくない不純物のような項目のウエブ中の位置をたど
り，下流で取り出すことができるようになるのである。
１６８のような速度検出器で常に監視されていて，この
検出器は速度情報を電子回路１６２を介してコンピユー
タシステム１４４に与える。この速度情報は重要で，こ
れによりシステムが４本の筋１５０で与えられる重複性
の利点を活用し，組立構成機構１４８で検出された望ま
しくない不純物のような項目のウエブ中の位置をたど
り，下流で取り出すことができるようになるのである。
【００３１】図１０にはマスク１５６の詳細が示されて
いる。マスク１５６にはスリツト１７０，１７２，１７
３，１７４があり，これはＣＣＤと格子組立１５８の視
角を４本の筋１５０に限定するためのものである。この
ようにスリツト１７０，１７２，１７３，１７４は筋１
５０の大きさと形をコントロールする。幅０．５ｍｍの
筋とすることが好ましいので，幅（ｄｘ）は対象面上の
希望するイメージ幅０．５と第１の光学的要素１５２の
拡大率との積で求められる。マスクの幅ｄｙ／ｙ２はレ
ンズ１５２の拡大率と監視したい監視幅（約０．５１２
ｍ）との積で求められる。かくしてウエブから１ｍｍ離
れて配置された焦点距離６０ｍｍの光学的要素１５２に
対しては，次のように計算できる。 Ｍ ＝６３．８・１０−３ ｄｘ＝３２μｍ ｄｙ＝３２ｍｍ
いる。マスク１５６にはスリツト１７０，１７２，１７
３，１７４があり，これはＣＣＤと格子組立１５８の視
角を４本の筋１５０に限定するためのものである。この
ようにスリツト１７０，１７２，１７３，１７４は筋１
５０の大きさと形をコントロールする。幅０．５ｍｍの
筋とすることが好ましいので，幅（ｄｘ）は対象面上の
希望するイメージ幅０．５と第１の光学的要素１５２の
拡大率との積で求められる。マスクの幅ｄｙ／ｙ２はレ
ンズ１５２の拡大率と監視したい監視幅（約０．５１２
ｍ）との積で求められる。かくしてウエブから１ｍｍ離
れて配置された焦点距離６０ｍｍの光学的要素１５２に
対しては，次のように計算できる。 Ｍ ＝６３．８・１０−３ ｄｘ＝３２μｍ ｄｙ＝３２ｍｍ
【００３２】マスク１５６は精密カツト金属フイルムか
ガラス基体にクロムでけい線処理したもので作ることが
できる。
ガラス基体にクロムでけい線処理したもので作ることが
できる。
【００３３】次に図１１を参照すると，ＣＣＤアレイと
格子組立１５８の断面図が示されている。光はコンピユ
ータシステム１４４で制御された電子シヤツタ１７５を
通つて組立１５８に入り，最初に分散格子１７６上に当
たる。分散格子１７６はケース１８２中に窓１８０に隣
接したスペーサブロツク１７８で取り付けられている。
シヤツタ１７５と分散格子１７６を通過した後光は窓１
８０を通り，ケース１８２の反対側に取り付けられたＣ
ＣＤアレイ１８４上に入る。格子１７６は入射光を８つ
のスペクトルチヤンネルに分散し，格子はウエブの運動
方向に対応した方向に分散が生ずるように配向されてい
る。かくして分散はスリツト１７０，１７２，１７３，
１７４に垂直の方向に，また４つの筋１５０に垂直の方
向に起こる。分散格子は８つのスペクトル成分がウエブ
上４ｍｍ（ウエブ上の４筋）に対応するＣＣＤの領域に
広がるように設計され，大きさを与えられている。この
ようにして，１５０の各筋のそれぞれを１つのアレイ１
８４の上に形成する代わりに，筋１５０の各筋のそれぞ
れに８本の相隣り合うイメージをアレイ１８４上に結像
させる。１５０の４つの筋の大きさと筋の間の間隔を各
筋の８個の像がＣＣＤアレイ１８４の上にオーバラツプ
しないで結ばれるように選ぶことが望ましい。分散格子
は光をスペクトルチヤンネルに分解するので，アレイ１
８４上に形成される各筋の像は筋１５０のそれぞれ異な
つた色情報を提供する。このデザインによつて，入射す
る光の強度だけを測るＣＣＤアレイを用いて，可視波長
における色情報を観測するのに簡単でコンパクトなデザ
インができ上がる。
格子組立１５８の断面図が示されている。光はコンピユ
ータシステム１４４で制御された電子シヤツタ１７５を
通つて組立１５８に入り，最初に分散格子１７６上に当
たる。分散格子１７６はケース１８２中に窓１８０に隣
接したスペーサブロツク１７８で取り付けられている。
シヤツタ１７５と分散格子１７６を通過した後光は窓１
８０を通り，ケース１８２の反対側に取り付けられたＣ
ＣＤアレイ１８４上に入る。格子１７６は入射光を８つ
のスペクトルチヤンネルに分散し，格子はウエブの運動
方向に対応した方向に分散が生ずるように配向されてい
る。かくして分散はスリツト１７０，１７２，１７３，
１７４に垂直の方向に，また４つの筋１５０に垂直の方
向に起こる。分散格子は８つのスペクトル成分がウエブ
上４ｍｍ（ウエブ上の４筋）に対応するＣＣＤの領域に
広がるように設計され，大きさを与えられている。この
ようにして，１５０の各筋のそれぞれを１つのアレイ１
８４の上に形成する代わりに，筋１５０の各筋のそれぞ
れに８本の相隣り合うイメージをアレイ１８４上に結像
させる。１５０の４つの筋の大きさと筋の間の間隔を各
筋の８個の像がＣＣＤアレイ１８４の上にオーバラツプ
しないで結ばれるように選ぶことが望ましい。分散格子
は光をスペクトルチヤンネルに分解するので，アレイ１
８４上に形成される各筋の像は筋１５０のそれぞれ異な
つた色情報を提供する。このデザインによつて，入射す
る光の強度だけを測るＣＣＤアレイを用いて，可視波長
における色情報を観測するのに簡単でコンパクトなデザ
インができ上がる。
【００３４】可視領域の外の放射を求めたいときは，透
過分散格子１７６を図１２及び１３に示すように反射格
子と置き換えるべきである。この実施例においては，Ｃ
ＣＤと格子組立１５８はケース１８２中に電子シヤツタ
１７５と格子１８４を含んでいる。しかしこの実施例で
は反射格子１８６は電子シヤツタ１７５と窓１８０の外
側に配置されているので，近赤外放射のような不可視光
は反射され，電子シヤツタ１７５を通り格子１８４上に
至る。反射格子１８６の機能は不可視光を図１１に示す
格子１７６と同様なやり放でスペクトルチヤンネルに分
割することである。もちろんＣＣＤアレイ１８４は不可
視光に鋭敏なタイプのものを使わなければならない。例
えば非赤外放射に対してはＣＣＤアレイは珪化白金アレ
イ又はテルル化水銀カドミユームアレイなどがある。こ
れらを適用した場合は特に可視領域アレイよりも分解能
が落ちる。
過分散格子１７６を図１２及び１３に示すように反射格
子と置き換えるべきである。この実施例においては，Ｃ
ＣＤと格子組立１５８はケース１８２中に電子シヤツタ
１７５と格子１８４を含んでいる。しかしこの実施例で
は反射格子１８６は電子シヤツタ１７５と窓１８０の外
側に配置されているので，近赤外放射のような不可視光
は反射され，電子シヤツタ１７５を通り格子１８４上に
至る。反射格子１８６の機能は不可視光を図１１に示す
格子１７６と同様なやり放でスペクトルチヤンネルに分
割することである。もちろんＣＣＤアレイ１８４は不可
視光に鋭敏なタイプのものを使わなければならない。例
えば非赤外放射に対してはＣＣＤアレイは珪化白金アレ
イ又はテルル化水銀カドミユームアレイなどがある。こ
れらを適用した場合は特に可視領域アレイよりも分解能
が落ちる。
【００３５】上記の説明において，特に図９に関して，
光学的イメージングユニツト１３０をデータ取集−コン
トロールユニツト１４０と一緒に説明した。光学的イメ
ージングユニツト１３２と１４２は本質的にユニツト１
３０と１４０と等価なものであり，従つて図９では１３
０と１３２両イメージングユニツトと，１４０と１４２
両データ収集−コントロールユニツトを記述し，表して
いると理解すべきである。
光学的イメージングユニツト１３０をデータ取集−コン
トロールユニツト１４０と一緒に説明した。光学的イメ
ージングユニツト１３２と１４２は本質的にユニツト１
３０と１４０と等価なものであり，従つて図９では１３
０と１３２両イメージングユニツトと，１４０と１４２
両データ収集−コントロールユニツトを記述し，表して
いると理解すべきである。
【００３６】図９に示すシステム１２９の動作は図１３
ないし１５に示した電子的デイジタルプロセツシングを
参照してよく理解できるだろう。ＣＣＤアレイ１８４は
１０２４×３２イメージピクセル１９０から構成されて
いて，この場合，３２ピクセル単位がアレイ１８４上の
ウエブ１３４の像の動きと平行に配置されていて，また
１０２４ピクセル列１９０はアレイ１８４上に現れるウ
エブ１３４の像に直角に配向している。アレイ１８４は
Ａ／Ｄコンバータ１９２で１度に４ピクセルを読み込ま
れるのが好ましい。ここで各ピクセル１９０で感知され
た電圧はデイジタル数に変換され，これはＤＥＭＵＸ１
９４からデイジタルメモリ１９６に出力さされる。この
メモリは平均化−全強度アキユムレータ１９８で読み取
られ，アキユムレータの出力はイメージバツフア２００
に加えられる。アキユムレータ１９８の機能はアレイ１
８４からの１０２４ピクセル出力の４列を平均し，イメ
ージの各列を作りイメージバツフア２００に入れること
である。この平均処理は再び図９を参照してウエブ１３
４の０．５ｍｍの１切片が筋１５０をよぎつて通過する
ことを考えるとよく理解できる。
ないし１５に示した電子的デイジタルプロセツシングを
参照してよく理解できるだろう。ＣＣＤアレイ１８４は
１０２４×３２イメージピクセル１９０から構成されて
いて，この場合，３２ピクセル単位がアレイ１８４上の
ウエブ１３４の像の動きと平行に配置されていて，また
１０２４ピクセル列１９０はアレイ１８４上に現れるウ
エブ１３４の像に直角に配向している。アレイ１８４は
Ａ／Ｄコンバータ１９２で１度に４ピクセルを読み込ま
れるのが好ましい。ここで各ピクセル１９０で感知され
た電圧はデイジタル数に変換され，これはＤＥＭＵＸ１
９４からデイジタルメモリ１９６に出力さされる。この
メモリは平均化−全強度アキユムレータ１９８で読み取
られ，アキユムレータの出力はイメージバツフア２００
に加えられる。アキユムレータ１９８の機能はアレイ１
８４からの１０２４ピクセル出力の４列を平均し，イメ
ージの各列を作りイメージバツフア２００に入れること
である。この平均処理は再び図９を参照してウエブ１３
４の０．５ｍｍの１切片が筋１５０をよぎつて通過する
ことを考えるとよく理解できる。
【００３７】先ずこの仮定の切片が最初に第１筋１５０
に現れることを考える。電子シヤツタ１７５がＣＣＤ１
８４を感光させ，ウエブのこの仮定の切片が第１回目と
して観測される。次いでこの切片は第１の筋位置から第
２の筋位置に動く。イメージプロセツサ１４４はエンコ
ーダ１６８からの速度信号を受け，ウエブが０．５ｍｍ
動く度にシヤツタ１７５を開く。このようにしてシヤツ
タ１７５が９回目に開いたとき仮定の切片は第２の筋１
５０の位置に来て，この切片はＣＣＤアレイ１８４で２
度目として観測される。同様にして，シヤツタ１７５の
１７回目の開きで切片は第３の筋に来て，シヤツタ１７
５の２５回目の開きで切片は第４の筋に来て，切片はそ
れぞれ第３回目，第４回目として観測される。以上の説
明から，ウエブの各切片は上述の過程を経て４回測定さ
れることが認識されよう。このようにして，第１，第
９，第１７及び第２５回目の０．５ｍｍ切片の観測を平
均して，各切片に対する平均測定が得られる。
に現れることを考える。電子シヤツタ１７５がＣＣＤ１
８４を感光させ，ウエブのこの仮定の切片が第１回目と
して観測される。次いでこの切片は第１の筋位置から第
２の筋位置に動く。イメージプロセツサ１４４はエンコ
ーダ１６８からの速度信号を受け，ウエブが０．５ｍｍ
動く度にシヤツタ１７５を開く。このようにしてシヤツ
タ１７５が９回目に開いたとき仮定の切片は第２の筋１
５０の位置に来て，この切片はＣＣＤアレイ１８４で２
度目として観測される。同様にして，シヤツタ１７５の
１７回目の開きで切片は第３の筋に来て，シヤツタ１７
５の２５回目の開きで切片は第４の筋に来て，切片はそ
れぞれ第３回目，第４回目として観測される。以上の説
明から，ウエブの各切片は上述の過程を経て４回測定さ
れることが認識されよう。このようにして，第１，第
９，第１７及び第２５回目の０．５ｍｍ切片の観測を平
均して，各切片に対する平均測定が得られる。
【００４０】図１４にメモリ１９６のコントロールにつ
いて示した。メモリ１９６は４つのブツク，ブツク１か
らブツク４に分割され，それぞれ記号２０２，２０４，
２０６，２０８で識別されている。図１３及び１４によ
つて，データの収集は次のように説明される。ロータリ
エンコーダ１６８（図９）から正しい位置の表示を受け
ると，シヤツタ１７５（図１１８は約０．０００１ｓｅ
ｃ・開き，ＣＣＤアレイ１８４を露出する。イメージ収
集の過程が開姶され，ＣＣＤアレイ１８４の第１の１０
２４ピクセル行を１度に４ピクセルずつ読み，これをブ
ツク１の頁１の列１の１番右の１０２４位置にストアす
る。ＣＣＤアレイ１８４の次の１０２４ピクセル行を読
み，これは最初の行とおなじ空間的情報を与えるもので
あるが，異なつたスペクトル波長にあるものなので，ブ
ツク１の頁２の列１にストアする。各ブツクは８つの頁
を持ち，ＣＣＤアレイ１８４の最初の８行はブツク１の
８つの頁の最初の行に読み込まれる。ＣＣＤアレイ１８
４の次の８行はブツク１の８つの頁の２番目の行に読み
込まれる。ＣＣＤアレイ１８４の次の８行（１６〜２
４）はブツク１の１〜８頁の３行目に読み込まれ，ＣＣ
Ｄアレイ１８４の最後の８行はブツク１の１〜８頁の４
行目に読み込まれる。
いて示した。メモリ１９６は４つのブツク，ブツク１か
らブツク４に分割され，それぞれ記号２０２，２０４，
２０６，２０８で識別されている。図１３及び１４によ
つて，データの収集は次のように説明される。ロータリ
エンコーダ１６８（図９）から正しい位置の表示を受け
ると，シヤツタ１７５（図１１８は約０．０００１ｓｅ
ｃ・開き，ＣＣＤアレイ１８４を露出する。イメージ収
集の過程が開姶され，ＣＣＤアレイ１８４の第１の１０
２４ピクセル行を１度に４ピクセルずつ読み，これをブ
ツク１の頁１の列１の１番右の１０２４位置にストアす
る。ＣＣＤアレイ１８４の次の１０２４ピクセル行を読
み，これは最初の行とおなじ空間的情報を与えるもので
あるが，異なつたスペクトル波長にあるものなので，ブ
ツク１の頁２の列１にストアする。各ブツクは８つの頁
を持ち，ＣＣＤアレイ１８４の最初の８行はブツク１の
８つの頁の最初の行に読み込まれる。ＣＣＤアレイ１８
４の次の８行はブツク１の８つの頁の２番目の行に読み
込まれる。ＣＣＤアレイ１８４の次の８行（１６〜２
４）はブツク１の１〜８頁の３行目に読み込まれ，ＣＣ
Ｄアレイ１８４の最後の８行はブツク１の１〜８頁の４
行目に読み込まれる。
【００４１】ＣＣＤはすべて読み取られたのち，クリア
され，プロセツサ１４４はウエブ１３４が０．５ｍｍ前
に動いたことをエンコーダ１６８が示すまで特つ。その
点がくるとシヤツタ１７５は再び開き，第２の露出が行
われる。第２の露出結果は上記のようにしてブツク１の
１〜８頁の５〜８行にストアされる。同様にして続く露
出の結果はブツク１に１〜８頁の２９〜３２行にストア
されるまでストアされる。９番目の露出で図１４に記号
２０４で示すようにブツク２が始まる。ブツク２には露
出９〜１６が含まれることになる。同様にブツク３とブ
ツク４はそれぞれ露出１７〜２４と２５〜３２とに対し
て作られる。上の論議で明らかなように，ブツク１は最
も古い露出結果が含まれ，ブツク４には最も新しい露出
結果が含まれている。
され，プロセツサ１４４はウエブ１３４が０．５ｍｍ前
に動いたことをエンコーダ１６８が示すまで特つ。その
点がくるとシヤツタ１７５は再び開き，第２の露出が行
われる。第２の露出結果は上記のようにしてブツク１の
１〜８頁の５〜８行にストアされる。同様にして続く露
出の結果はブツク１に１〜８頁の２９〜３２行にストア
されるまでストアされる。９番目の露出で図１４に記号
２０４で示すようにブツク２が始まる。ブツク２には露
出９〜１６が含まれることになる。同様にブツク３とブ
ツク４はそれぞれ露出１７〜２４と２５〜３２とに対し
て作られる。上の論議で明らかなように，ブツク１は最
も古い露出結果が含まれ，ブツク４には最も新しい露出
結果が含まれている。
【００４２】更にブツク１の８つの頁の行１はブツク２
の各頁の行２，ブツク３の各頁の行３，ブツク４の各頁
の行４と同じウエブ切片像に対応することが判る。この
ようにして，イメージバツフア２００中の最初の頁の行
１を作るため，アキユムレータ１９８は（ブツク１，頁
１，行１）＋（ブツク２，頁１，行２）＋（ブツク３，
頁１，行３）＋（ブツク４，頁１，行４）を平均する。
アキユムレータ１９８はイメージメモリバツフアの頁２
〜８の行１を上に述べたと同じようにしてブツク１〜４
の頁２〜８から作る。
の各頁の行２，ブツク３の各頁の行３，ブツク４の各頁
の行４と同じウエブ切片像に対応することが判る。この
ようにして，イメージバツフア２００中の最初の頁の行
１を作るため，アキユムレータ１９８は（ブツク１，頁
１，行１）＋（ブツク２，頁１，行２）＋（ブツク３，
頁１，行３）＋（ブツク４，頁１，行４）を平均する。
アキユムレータ１９８はイメージメモリバツフアの頁２
〜８の行１を上に述べたと同じようにしてブツク１〜４
の頁２〜８から作る。
【００４３】イメージバツフア２００中の頁１の行２を
作るため，アキユムレータ１９８は露出２，１０，１
８，２６から得たデータを用いる。イメージバツフア２
００中の頁１の行２は，（ブツク１，頁１，行５）＋
（ブツク２，頁１，行６）＋（ブツク３，頁１，行７）
＋（ブツク４，頁１，行８）を平均して得られる。同様
にして続いて行われる露出はイメージバツフア２００の
８頁の最初の８行を作るのに用いられる。他の例とし
て，イメージバツフア２００の行８を作るため，アキユ
ムレータ１９８は（ブツク１，行２９）＋（ブツク２，
行３０）＋（ブツク３，行３１）＋（ブツク４，行３
２）を加える。イメージバツフア２００の８行が計算さ
れたら，ブツク２，３，４はそれぞれブツク１，２，３
に再指定される。そして新しいブツク４がＣＣＤ１８４
の次の８露出を用いて作り出され，イメージバツフア２
００の各８頁の次の８行が最初の８行と同様に計算され
る。この過程はイメージバツフア２００が渦巻状のイメ
ージバツフアであるように何時までも続き，常に全８頁
に１６行のイメージ情報を含んでいる。上の既述からイ
メージバツフアは常にウエブ１３４の各１６行からな
る″頁″と呼ばれる８個の像，即ちイメージを含んでい
ることがわかる。イメージバツフア２００中の８つのイ
メージ（頁）はそれぞれ周波数（色）について異なつて
いる。即ち各像は特定のスペクトル領域を表している。
もしウエブがその特定のスペクトル領域で１つの像を生
ずると，かかる像はイメージバツフア２００のその特定
のスペクトル領域を含む頁に現れる。
作るため，アキユムレータ１９８は露出２，１０，１
８，２６から得たデータを用いる。イメージバツフア２
００中の頁１の行２は，（ブツク１，頁１，行５）＋
（ブツク２，頁１，行６）＋（ブツク３，頁１，行７）
＋（ブツク４，頁１，行８）を平均して得られる。同様
にして続いて行われる露出はイメージバツフア２００の
８頁の最初の８行を作るのに用いられる。他の例とし
て，イメージバツフア２００の行８を作るため，アキユ
ムレータ１９８は（ブツク１，行２９）＋（ブツク２，
行３０）＋（ブツク３，行３１）＋（ブツク４，行３
２）を加える。イメージバツフア２００の８行が計算さ
れたら，ブツク２，３，４はそれぞれブツク１，２，３
に再指定される。そして新しいブツク４がＣＣＤ１８４
の次の８露出を用いて作り出され，イメージバツフア２
００の各８頁の次の８行が最初の８行と同様に計算され
る。この過程はイメージバツフア２００が渦巻状のイメ
ージバツフアであるように何時までも続き，常に全８頁
に１６行のイメージ情報を含んでいる。上の既述からイ
メージバツフアは常にウエブ１３４の各１６行からな
る″頁″と呼ばれる８個の像，即ちイメージを含んでい
ることがわかる。イメージバツフア２００中の８つのイ
メージ（頁）はそれぞれ周波数（色）について異なつて
いる。即ち各像は特定のスペクトル領域を表している。
もしウエブがその特定のスペクトル領域で１つの像を生
ずると，かかる像はイメージバツフア２００のその特定
のスペクトル領域を含む頁に現れる。
【００４４】イメージバツフア２００の出力は更に，図
１５に示す別の実施例の説明で詳細に示すように解析さ
れる。ここではアキユムレータ１９８は２つのアキユム
レータ１９８ａと１９８ｂに分割され，イメージバツフ
ア２００は２つのイメージバツフア２００ａと２００ｂ
に分割されている。図１５はこれらのエレメントを象徴
的に示したものであり，アキユムレータやイメージバツ
フアを実際物理的に分割するものではなく，このように
分割して示せば理解し易いためである。
１５に示す別の実施例の説明で詳細に示すように解析さ
れる。ここではアキユムレータ１９８は２つのアキユム
レータ１９８ａと１９８ｂに分割され，イメージバツフ
ア２００は２つのイメージバツフア２００ａと２００ｂ
に分割されている。図１５はこれらのエレメントを象徴
的に示したものであり，アキユムレータやイメージバツ
フアを実際物理的に分割するものではなく，このように
分割して示せば理解し易いためである。
【００４５】図１５に示した実施例はシステム１２９に
内蔵された重複性の利点を他の方法で示したものであ
る。ウエブ１３４の各切片はＣＣＤ１８４で４回観測さ
れ，あるいは像にされることを想起されたい。上の実施
例では４つの重複した像は１つの像を作るのに平均され
た。しかし図１５に示した実施例においては重複性は別
の方法で使われる。この実施例を利用するには，ウエブ
１３４の照明は各１６の露出毎に変更する。例えば最初
の１６露出の間は光源１３８が点灯してウエブ１３４を
ウエブの裏側から照射し，ウエブを透過する光だけを検
出器１８４で受ける。次の１６露出（１７〜３２露出）
の時は，光源は消し，光源１４０を点灯し，ウエブから
の反射光だけをアレイ１８４で受ける。その後光源１３
８と１４０は交互に１６露出毎に点滅し，ウエブ１３４
は同時には一方の側だけから照らされるようにする。ア
キユムレータ１９８ａはイメージバツフア２００ａの中
に上述のような方法でブツクの形で像を作る。この場合
上と異なるのは，アキユムレータ１９８ａは光源１３８
が点灯するときの最初の１６露出と続く奇数番目のセツ
トの１６露出からのデータだけを受けることである。ア
キユムレータ１９８ｂは光源１３８が消灯し，光源１４
０が点灯するときの偶数番目のセツトの１６露出からの
データだけに基づいてイメージバツフア２００ｂの中に
イメージブツクを作る。このようにしてイメージバツフ
ア２００ａは透過光イメージを，イメージバツフア２０
０ｂは反射光イメージを含むことになる。これら両イメ
ージは実際は前に述べたような方法で別々の８頁に含ま
れる８イメージである。
内蔵された重複性の利点を他の方法で示したものであ
る。ウエブ１３４の各切片はＣＣＤ１８４で４回観測さ
れ，あるいは像にされることを想起されたい。上の実施
例では４つの重複した像は１つの像を作るのに平均され
た。しかし図１５に示した実施例においては重複性は別
の方法で使われる。この実施例を利用するには，ウエブ
１３４の照明は各１６の露出毎に変更する。例えば最初
の１６露出の間は光源１３８が点灯してウエブ１３４を
ウエブの裏側から照射し，ウエブを透過する光だけを検
出器１８４で受ける。次の１６露出（１７〜３２露出）
の時は，光源は消し，光源１４０を点灯し，ウエブから
の反射光だけをアレイ１８４で受ける。その後光源１３
８と１４０は交互に１６露出毎に点滅し，ウエブ１３４
は同時には一方の側だけから照らされるようにする。ア
キユムレータ１９８ａはイメージバツフア２００ａの中
に上述のような方法でブツクの形で像を作る。この場合
上と異なるのは，アキユムレータ１９８ａは光源１３８
が点灯するときの最初の１６露出と続く奇数番目のセツ
トの１６露出からのデータだけを受けることである。ア
キユムレータ１９８ｂは光源１３８が消灯し，光源１４
０が点灯するときの偶数番目のセツトの１６露出からの
データだけに基づいてイメージバツフア２００ｂの中に
イメージブツクを作る。このようにしてイメージバツフ
ア２００ａは透過光イメージを，イメージバツフア２０
０ｂは反射光イメージを含むことになる。これら両イメ
ージは実際は前に述べたような方法で別々の８頁に含ま
れる８イメージである。
【００４６】アキユムレータ１９８ａと１９８ｂを操作
する他の方法は照明を各８露出毎に変え，光源１３８が
露出１〜８の間と露出１７〜２４の間だけ点灯し，光源
１４０は露出９〜１６の間と露出２５〜３２の間たけ点
灯するようにする。この場合，アキユムレータ１９８ａ
は８露出の奇数番目のセツトだけからの情報をイメージ
バツフア２００ａに対して生じ，１９８ｂは８露出の偶
数番目のセツトだけからのデータをイメージバツフア２
００ｂに対して生ずる。
する他の方法は照明を各８露出毎に変え，光源１３８が
露出１〜８の間と露出１７〜２４の間だけ点灯し，光源
１４０は露出９〜１６の間と露出２５〜３２の間たけ点
灯するようにする。この場合，アキユムレータ１９８ａ
は８露出の奇数番目のセツトだけからの情報をイメージ
バツフア２００ａに対して生じ，１９８ｂは８露出の偶
数番目のセツトだけからのデータをイメージバツフア２
００ｂに対して生ずる。
【００４７】図９に示したシステムは４重の重複が得ら
れるが，もし望むならば全ての真の重複をやめ，ウエブ
１３４が筋１５０を通過するとき４つの異なつた光条件
下でウエブを観測するようにもできる。例えばマツトが
４つの異なつた光条件下で露出され，筋１５０の１つの
下をマツトの切片が通過する毎に異なつたタイプの照明
が与えられるようにする。例えばマツト１３４は最初の
８露出では赤色で照明され，２番目の８露出では緑色で
照明され，３番目の８露出では黄色で照明され，４番目
の８露出では青色で照明されるようにできる。５番目の
８露出で光条件は再び前と同じ順序でサイクルを８露出
毎に繰り返す。このようにしてマツト１３４の各切片は
筋１５０を通過するときに４つの異なつた光条件にさら
され，マツト１３４の異なつた部分が異なつた位置で色
々な光条件にさらされる。例えばマツトの１つの部分は
筋１で赤にさらされ，マツトの他の部分は筋２で赤にさ
らされる。しかしマツトの全ての切片は異なつた位置で
４つの光の全てにさらされるだろう。この実施例では１
９８ａと１９８ｂのような４つのアキユムレータを用
い，各アキユムレータはある光条件がマツト１３４を照
射しているときだけデータを受け入れるようにプログラ
ムされるのが好ましい。そのような場合，各アキユムレ
ータは８露出の４つめ毎のセツトからのデータに応答す
る。
れるが，もし望むならば全ての真の重複をやめ，ウエブ
１３４が筋１５０を通過するとき４つの異なつた光条件
下でウエブを観測するようにもできる。例えばマツトが
４つの異なつた光条件下で露出され，筋１５０の１つの
下をマツトの切片が通過する毎に異なつたタイプの照明
が与えられるようにする。例えばマツト１３４は最初の
８露出では赤色で照明され，２番目の８露出では緑色で
照明され，３番目の８露出では黄色で照明され，４番目
の８露出では青色で照明されるようにできる。５番目の
８露出で光条件は再び前と同じ順序でサイクルを８露出
毎に繰り返す。このようにしてマツト１３４の各切片は
筋１５０を通過するときに４つの異なつた光条件にさら
され，マツト１３４の異なつた部分が異なつた位置で色
々な光条件にさらされる。例えばマツトの１つの部分は
筋１で赤にさらされ，マツトの他の部分は筋２で赤にさ
らされる。しかしマツトの全ての切片は異なつた位置で
４つの光の全てにさらされるだろう。この実施例では１
９８ａと１９８ｂのような４つのアキユムレータを用
い，各アキユムレータはある光条件がマツト１３４を照
射しているときだけデータを受け入れるようにプログラ
ムされるのが好ましい。そのような場合，各アキユムレ
ータは８露出の４つめ毎のセツトからのデータに応答す
る。
【００４８】上の例では，図９の光学システムは筋１５
０の数を変えて希望する量の重複を持つように作られる
ことを示す。この重複はマツト１３４が筋１５０の各々
の下を通過するとき同じように露出し，結果を平均する
ことにより，信号対雑音比を減ずるのに用いることがで
きる。あるいはマツトを異なつた波長又は方向又は光の
タイプと言つた異なつた光条件にさらし，その際ウエブ
１３４についてより多くの情報を集めるのにこの重複性
を用いることもできる。
０の数を変えて希望する量の重複を持つように作られる
ことを示す。この重複はマツト１３４が筋１５０の各々
の下を通過するとき同じように露出し，結果を平均する
ことにより，信号対雑音比を減ずるのに用いることがで
きる。あるいはマツトを異なつた波長又は方向又は光の
タイプと言つた異なつた光条件にさらし，その際ウエブ
１３４についてより多くの情報を集めるのにこの重複性
を用いることもできる。
【００４９】図１６には反射格子１８６を挿入し，反射
光をＣＣＤアレイ１８４に入れるようにしたことを除い
て，図９と同様なシステムを示す。このシステムは光源
１３８と１４０で与えられる照明が近赤外放射であると
きに用いられる。従つて図５は図１２の光学的配列を図
９のシステムにどのようにして適合させるかを示したも
のである。
光をＣＣＤアレイ１８４に入れるようにしたことを除い
て，図９と同様なシステムを示す。このシステムは光源
１３８と１４０で与えられる照明が近赤外放射であると
きに用いられる。従つて図５は図１２の光学的配列を図
９のシステムにどのようにして適合させるかを示したも
のである。
【００５０】再び図１３及び１５を参照し，アレイ１８
４は１０２４ピクセルの行を含んでおり，各ピクセルは
ウエブ１３４の０．５ｍｍ×０．５ｍｍの領域を観測す
ることを想起されたい。ウエブ１３４の全幅は１ｍであ
るので，２つの光学的イメージングユニツト１３０と１
３２は何処でも０から２４ピクセル重なるようにセツト
される。提案した実施例においては，ユニツト１３０と
１３２は２０ピクセル又は０．０１ｍ重なるようにセツ
トされ，各カメラもウエブがその外側の縁で４ピクセル
又は２ｍｍの距離だけ重なるような視角を持つようにさ
れる。光学的イメージングユニツト１３０と１３２の重
なる領域はユニツト１３０と１３２が重なる領域でウエ
ブ１３４の同じ部分を精密に見ているように調節するた
めに用いられる。このような重なりによつてウエブ１３
４を完全に観測し，ユニツト１３０と１３２の調節が一
層容易となる。またユニツト１３０と１３２の代わりに
希望する解像度を下げるか，もつと高い解像度のＣＣＤ
アレイ１８４を用いるかして，１つの光学的イメージン
グユニツトにすることもできることが理解されよう。
４は１０２４ピクセルの行を含んでおり，各ピクセルは
ウエブ１３４の０．５ｍｍ×０．５ｍｍの領域を観測す
ることを想起されたい。ウエブ１３４の全幅は１ｍであ
るので，２つの光学的イメージングユニツト１３０と１
３２は何処でも０から２４ピクセル重なるようにセツト
される。提案した実施例においては，ユニツト１３０と
１３２は２０ピクセル又は０．０１ｍ重なるようにセツ
トされ，各カメラもウエブがその外側の縁で４ピクセル
又は２ｍｍの距離だけ重なるような視角を持つようにさ
れる。光学的イメージングユニツト１３０と１３２の重
なる領域はユニツト１３０と１３２が重なる領域でウエ
ブ１３４の同じ部分を精密に見ているように調節するた
めに用いられる。このような重なりによつてウエブ１３
４を完全に観測し，ユニツト１３０と１３２の調節が一
層容易となる。またユニツト１３０と１３２の代わりに
希望する解像度を下げるか，もつと高い解像度のＣＣＤ
アレイ１８４を用いるかして，１つの光学的イメージン
グユニツトにすることもできることが理解されよう。
【００５１】次に図１７，１８，１９，２０に表示−貯
蔵システム１６６のブロツク図を示す。これらの図では
２つのイメージバツフア２１０と２１２が示されてお
り，これらの各バツフアは図１３のバツフア２００と等
価なものである。従つてバツフア２１０と２１２はそれ
ぞれ８つのメモリ位置に８つのイメージを含んでおり，
それぞれは頁と見なされる。各頁は１６×１０２４アレ
イのデータである。イメージバツフア２１０と２１２は
それぞれプロセツシングバツフア２１４と２１６に読み
込まれる。バツフア２１４と２１６のデータを操作する
ため２つのデイジタル信号プロセツサ（ＤＳＰ）２１８
と２２０が設けられ，２つのＤＳＰ２１８と２２０は中
央プロセツサ２２２でコントロールされている。プロセ
ツサ２２２はターミナル２２４とコミユニケーシヨンリ
ンク１４６につながれている。
蔵システム１６６のブロツク図を示す。これらの図では
２つのイメージバツフア２１０と２１２が示されてお
り，これらの各バツフアは図１３のバツフア２００と等
価なものである。従つてバツフア２１０と２１２はそれ
ぞれ８つのメモリ位置に８つのイメージを含んでおり，
それぞれは頁と見なされる。各頁は１６×１０２４アレ
イのデータである。イメージバツフア２１０と２１２は
それぞれプロセツシングバツフア２１４と２１６に読み
込まれる。バツフア２１４と２１６のデータを操作する
ため２つのデイジタル信号プロセツサ（ＤＳＰ）２１８
と２２０が設けられ，２つのＤＳＰ２１８と２２０は中
央プロセツサ２２２でコントロールされている。プロセ
ツサ２２２はターミナル２２４とコミユニケーシヨンリ
ンク１４６につながれている。
【００５２】プロセツシングバツフア２１４と２１６中
にストアされた生データはウエブ１３４の複数の特徴物
を示すものである。ＤＳＰ２１８と２２０及び中央プロ
セツサ２２２はイメージに含まれるスペクトル及び空間
的情報を用い興味ある存在物の位置を見つけ分類し，又
は識別するのに用いるようプログラムされている。例え
ば提示された実施例では，システム１６６は繊維ウエブ
１３４中の不純物とネツプの位置を見つけるようプログ
ラムされている。図２４ではプログラムの最初のステツ
プ２３０はプロセツシングバツフア２１４と２１６の各
ピクセルにその強度値に基づいて１又は０の２進値を割
り当てるためのものである。今の目的には値１（ｏｎ）
を持つピクセルは特徴物を示し，値０（ｏｆｆ）を持つ
ピクセルには背景を示すと定義する。透過光のモードで
受けたイメージ情報に対しては興味の対象物は光を減ず
るので，プログラムは背景値の３０％以下のピクセルに
は値１を割り当てる。反射光のモードで受けたイメージ
情報に対しては背景値の３０％以上のピクセルに興味が
あり，それらには値１を割り当て，他のピクセルには値
０を割り当てる。この２進値の割り当てはバツフア２１
４と２１６の８頁中のすべてのイメージについて行われ
る。上述の２進値の割り当てで透過又は反射光の何れか
で生じたイメージを操作するのに，同一特徴物の識別技
術と大きさを求めるアルゴリズムが用いられる。
にストアされた生データはウエブ１３４の複数の特徴物
を示すものである。ＤＳＰ２１８と２２０及び中央プロ
セツサ２２２はイメージに含まれるスペクトル及び空間
的情報を用い興味ある存在物の位置を見つけ分類し，又
は識別するのに用いるようプログラムされている。例え
ば提示された実施例では，システム１６６は繊維ウエブ
１３４中の不純物とネツプの位置を見つけるようプログ
ラムされている。図２４ではプログラムの最初のステツ
プ２３０はプロセツシングバツフア２１４と２１６の各
ピクセルにその強度値に基づいて１又は０の２進値を割
り当てるためのものである。今の目的には値１（ｏｎ）
を持つピクセルは特徴物を示し，値０（ｏｆｆ）を持つ
ピクセルには背景を示すと定義する。透過光のモードで
受けたイメージ情報に対しては興味の対象物は光を減ず
るので，プログラムは背景値の３０％以下のピクセルに
は値１を割り当てる。反射光のモードで受けたイメージ
情報に対しては背景値の３０％以上のピクセルに興味が
あり，それらには値１を割り当て，他のピクセルには値
０を割り当てる。この２進値の割り当てはバツフア２１
４と２１６の８頁中のすべてのイメージについて行われ
る。上述の２進値の割り当てで透過又は反射光の何れか
で生じたイメージを操作するのに，同一特徴物の識別技
術と大きさを求めるアルゴリズムが用いられる。
【００５３】流れ図の２進値イメージへの変換に続くス
テツプ２３２で示されるように，イメージバツフアは上
のピクセル列を特徴物のオーバラツプについてチエツク
することでスクリーンされる。これはピクセルの上の列
の回りの各ピクセルをチエツクすることで行うことがで
きる。隣接する５ピクセルすべてが値１であると，特徴
物がオーバラツプしたものと考えられる。次いでその特
徴物で占められた列の数が求められ，その数はコントロ
ール回路に与えられ，その列の数だけリフレツシユタイ
ムを進めさせる。このようにしてイメージバツフアのリ
フレツシユ時間がコントロールされ；ヴロセツシングバ
ツフア２１４と２１６に与えられる次の特徴物の縁が重
ならないようにする。代わりの実施例では，重なりを避
けるためにイメージバツフアのリフレツシユタイムをコ
ントロールするよりも，プロセツサはバツフア２１４と
２１６の最後の列（後縁）にある興味ある特徴物を同定
する。境界上で同定されたこれらの特徴物は別のメモリ
にストアされる。次いでプロセツシングバツフア２１４
と２１６がリフレツシユされると，バツフア２１４と２
１６の２つの頁の間の境界を重ねているセーブされた特
徴物の残りの部分を見つけるために，バツフア２１４と
２１６の各々の第１列（前縁）が分析される。このよう
にしてＤＳＰ２１８と２２０は境界を重ねた２つの特徴
物から１つの特徴物（粒子イメージ）を再構築する。
テツプ２３２で示されるように，イメージバツフアは上
のピクセル列を特徴物のオーバラツプについてチエツク
することでスクリーンされる。これはピクセルの上の列
の回りの各ピクセルをチエツクすることで行うことがで
きる。隣接する５ピクセルすべてが値１であると，特徴
物がオーバラツプしたものと考えられる。次いでその特
徴物で占められた列の数が求められ，その数はコントロ
ール回路に与えられ，その列の数だけリフレツシユタイ
ムを進めさせる。このようにしてイメージバツフアのリ
フレツシユ時間がコントロールされ；ヴロセツシングバ
ツフア２１４と２１６に与えられる次の特徴物の縁が重
ならないようにする。代わりの実施例では，重なりを避
けるためにイメージバツフアのリフレツシユタイムをコ
ントロールするよりも，プロセツサはバツフア２１４と
２１６の最後の列（後縁）にある興味ある特徴物を同定
する。境界上で同定されたこれらの特徴物は別のメモリ
にストアされる。次いでプロセツシングバツフア２１４
と２１６がリフレツシユされると，バツフア２１４と２
１６の２つの頁の間の境界を重ねているセーブされた特
徴物の残りの部分を見つけるために，バツフア２１４と
２１６の各々の第１列（前縁）が分析される。このよう
にしてＤＳＰ２１８と２２０は境界を重ねた２つの特徴
物から１つの特徴物（粒子イメージ）を再構築する。
【００５４】オーバラツプが同定され補償されると特徴
物はステツプ２３４で同定される。特徴物は値１の２つ
又はそれ以上の隣接するピクセルとして定義される。隣
接性は水平，垂直又は斜め何れの方向でもよい。これら
の特徴物の境界は追跡技術，バイパスフイルタ，微分計
算などで求められる。いつたん特徴物が位置付けされそ
の境界が求められると，その特徴物は形状について確認
される。例えば形状は特徴物の境界をよく知られたマー
ジングとスプリツテイング技術を用いて堆計することに
よつて求められる。綿繊維中のほとんどの不純物は簡単
な幾何学的形状をしていると期待され，また主として特
徴物の縦横比に興味があるのでこの技術はうまく働く。
特徴物の形状を求める他の方法は粒子境界の一次元表示
を定義することである。この方法によれは，特徴物の図
心から境界までの距離を図心角（極角）の関数として記
録する。図２３に円形の特徴物が例示されていて，動径
を図心の回りに回して得られたこの特徴物の表示が示さ
れている。示した表示を矩形の図心のまわりに動径を回
転させて得られた表示と比較する。この方法は特に高い
径対称性を持つ粒子を認識するのに適している。このア
プローチの他の利点は特徴物が一次元で表わされ，メモ
リスペースと処理時間が節約されることである。
物はステツプ２３４で同定される。特徴物は値１の２つ
又はそれ以上の隣接するピクセルとして定義される。隣
接性は水平，垂直又は斜め何れの方向でもよい。これら
の特徴物の境界は追跡技術，バイパスフイルタ，微分計
算などで求められる。いつたん特徴物が位置付けされそ
の境界が求められると，その特徴物は形状について確認
される。例えば形状は特徴物の境界をよく知られたマー
ジングとスプリツテイング技術を用いて堆計することに
よつて求められる。綿繊維中のほとんどの不純物は簡単
な幾何学的形状をしていると期待され，また主として特
徴物の縦横比に興味があるのでこの技術はうまく働く。
特徴物の形状を求める他の方法は粒子境界の一次元表示
を定義することである。この方法によれは，特徴物の図
心から境界までの距離を図心角（極角）の関数として記
録する。図２３に円形の特徴物が例示されていて，動径
を図心の回りに回して得られたこの特徴物の表示が示さ
れている。示した表示を矩形の図心のまわりに動径を回
転させて得られた表示と比較する。この方法は特に高い
径対称性を持つ粒子を認識するのに適している。このア
プローチの他の利点は特徴物が一次元で表わされ，メモ
リスペースと処理時間が節約されることである。
【００５５】ステツプ２３６に示すように，特徴物の位
置が求まり，その大きさと形状に関する情報が得られた
ら，その特徴物は先ず異常なスペクトルの性質について
分類される。綿の色は見たところ白から薄い黄色までの
範囲にあり，黄又は白以外に強い反応を持つ物質は異物
より成り，取り除くべき物と見なされる。例えば糖分を
含んでいるネツプは近赤外スペクトル領域で強いスペク
トル反応を示す。このように近赤外スペクトルに強い反
応を示すような特徴物は不純物として捉え，後述するよ
うにして除去する。フローチヤートのステツプ２３８は
特徴物のスペクトル特性に基づいて不純物を直ちに同定
することを示している。
置が求まり，その大きさと形状に関する情報が得られた
ら，その特徴物は先ず異常なスペクトルの性質について
分類される。綿の色は見たところ白から薄い黄色までの
範囲にあり，黄又は白以外に強い反応を持つ物質は異物
より成り，取り除くべき物と見なされる。例えば糖分を
含んでいるネツプは近赤外スペクトル領域で強いスペク
トル反応を示す。このように近赤外スペクトルに強い反
応を示すような特徴物は不純物として捉え，後述するよ
うにして除去する。フローチヤートのステツプ２３８は
特徴物のスペクトル特性に基づいて不純物を直ちに同定
することを示している。
【００５６】次にステツプ２３９に示すように，特徴物
は１度に１つずつ反射光バツフアから選ばれる。その特
徴物がどんな方向であれ４ｍｍ以上の直径を持つていれ
ば，この特別な適用においては未知の不純物粒子と見な
される。何故なら興味ある粒子，例えば不純物，ネツ
プ，種子表皮破片などはほとんど４ｍｍよりは小さいか
らである。次に同じ特徴物の透過光で照射された時の大
きさと，１つの比が計算される。即ち透過光で観測され
た粒子の大きさを反射光で観測された粒子の大きさで割
る。綿，特に薄いウエブではかなり半透明であるので，
綿自体は基分的には透過光ではなく反射光で観測され
る。これとは異なり不純物，草，樹皮等のような不透明
な異物は本質的に全ての光をブロツクするので透過照明
の下で高いコントラストを示す。反対にネツプとして知
られる繊維の硬いもつれや塊は反射光下で最もよく見る
ことができる。種子表面断片は半透明な繊維塊と核とな
る種子表面とでできており，透過，反射照明での反応を
比較することによつて求められる。フローチヤートのス
テツプ２４４に示すように，前述の比が０．１以下であ
ると，その特徴物はステツプ２４５で径対称であるかど
うかについて評価される。図２３で示したように径対称
であるとステツプ２４７で示すようにネツプと同定され
る。そうでなければこの特徴物はステツプ２５０で示す
ように繊維塊又は房と同定される。ステツプ２４６で示
されるように，比が０．１と０．８の間にあると，これ
はステツプ２５２のように直ちに種子表皮断片と同定さ
れる。最後に比が０．８以上だと（ステツプ２４８），
プログラムはステツプ２５４に示すように縦横方向比を
分析する。もし縦横方向比が，例えば２以下と小さい
と，ステツプ２５６に示すように粒子は葉カスであると
同定される。もし方向比が４以上と言うように大きい
と，ステツプ２５８に示すようにその不純物は樹皮又は
草と同定される。図９に示したウエブ１３４のような綿
のウエブ中の粒子を同定し分類することはその綿が観測
されている点の上流，下流を問わず，綿の処理に関して
何等かの決定を行うのに有用である。例えば極めて不純
物の多い綿が観察されたら操作者は綿のクリーナの処置
から手を付け，あるいは上流の機械のクリーニング効率
を上げるであろう。もし特別なタイプの不純物が観測さ
れたら，上流に何か特別なタイプの問題があることを示
唆するだろう。もし妙な色の条件が観測されたら，染色
されたぼろきれの一部が上流で綿の中に入り込んどこと
を示し，これは多量の量終製品を損なうことになりかね
ない。
は１度に１つずつ反射光バツフアから選ばれる。その特
徴物がどんな方向であれ４ｍｍ以上の直径を持つていれ
ば，この特別な適用においては未知の不純物粒子と見な
される。何故なら興味ある粒子，例えば不純物，ネツ
プ，種子表皮破片などはほとんど４ｍｍよりは小さいか
らである。次に同じ特徴物の透過光で照射された時の大
きさと，１つの比が計算される。即ち透過光で観測され
た粒子の大きさを反射光で観測された粒子の大きさで割
る。綿，特に薄いウエブではかなり半透明であるので，
綿自体は基分的には透過光ではなく反射光で観測され
る。これとは異なり不純物，草，樹皮等のような不透明
な異物は本質的に全ての光をブロツクするので透過照明
の下で高いコントラストを示す。反対にネツプとして知
られる繊維の硬いもつれや塊は反射光下で最もよく見る
ことができる。種子表面断片は半透明な繊維塊と核とな
る種子表面とでできており，透過，反射照明での反応を
比較することによつて求められる。フローチヤートのス
テツプ２４４に示すように，前述の比が０．１以下であ
ると，その特徴物はステツプ２４５で径対称であるかど
うかについて評価される。図２３で示したように径対称
であるとステツプ２４７で示すようにネツプと同定され
る。そうでなければこの特徴物はステツプ２５０で示す
ように繊維塊又は房と同定される。ステツプ２４６で示
されるように，比が０．１と０．８の間にあると，これ
はステツプ２５２のように直ちに種子表皮断片と同定さ
れる。最後に比が０．８以上だと（ステツプ２４８），
プログラムはステツプ２５４に示すように縦横方向比を
分析する。もし縦横方向比が，例えば２以下と小さい
と，ステツプ２５６に示すように粒子は葉カスであると
同定される。もし方向比が４以上と言うように大きい
と，ステツプ２５８に示すようにその不純物は樹皮又は
草と同定される。図９に示したウエブ１３４のような綿
のウエブ中の粒子を同定し分類することはその綿が観測
されている点の上流，下流を問わず，綿の処理に関して
何等かの決定を行うのに有用である。例えば極めて不純
物の多い綿が観察されたら操作者は綿のクリーナの処置
から手を付け，あるいは上流の機械のクリーニング効率
を上げるであろう。もし特別なタイプの不純物が観測さ
れたら，上流に何か特別なタイプの問題があることを示
唆するだろう。もし妙な色の条件が観測されたら，染色
されたぼろきれの一部が上流で綿の中に入り込んどこと
を示し，これは多量の量終製品を損なうことになりかね
ない。
【００５７】同様に綿のウエブ中の粒子を同定し分類す
ることは，下流での処理に有用な情報を提供する。例え
ば近赤外領域で強いイメージを示すねばねばしたネツプ
は処理工程機械を著しく妨害し，最終製品の品質を落と
してしまう。このように，糖分を含んたネツプの除去は
下流での処理に高い優先度を与えられる。ある適用にお
いては小さな葉カス等は何の問題も生じないが，樹皮断
片は問題がある。そのような場合は下流の処理には検出
された草の除去が強調され，恐らく葉カスは無視される
だろう。
ることは，下流での処理に有用な情報を提供する。例え
ば近赤外領域で強いイメージを示すねばねばしたネツプ
は処理工程機械を著しく妨害し，最終製品の品質を落と
してしまう。このように，糖分を含んたネツプの除去は
下流での処理に高い優先度を与えられる。ある適用にお
いては小さな葉カス等は何の問題も生じないが，樹皮断
片は問題がある。そのような場合は下流の処理には検出
された草の除去が強調され，恐らく葉カスは無視される
だろう。
【００５８】以上綿又は他の繊維のウエブ中の不純物を
見つけ同定する装置と方法について述べたが，次に好ま
しくない存在物をウエブから除去することについて述べ
る。上述した装置と方法によつて存在物は見出されて，
除去の価値に優先的な分類にしたがつて同定される。図
２５は薄いウエブ１３４から好ましくない存在物を除去
しクリアするための圧搾空気を使つた現案の除去器３０
０の断面図を示し，図２６は図２５の２１−２１線での
断面図を示す。図２７は図２５の除去額域３５０の拡大
図である。図６，２５，２７にみられるように，薄いウ
エブ３２０はプレート３３０と３３２の間を通つて搬送
されていて，プレートには矩形の隙間３３５を持つ入力
ノズル３３４の列を持つている。間隙は約３ｍｍのオー
ダで図２５には幅Ｄの３３８で示されている。図２６の
断面を見たところで矩形間隙３３５の長さは１ｃｍのオ
ーダであることが示されており，間隙の間隔３４０
（Ｓ）も１ｃｍのオーダである。ウエブ３２０は幅が約
１ｍ又は４０インチで，ノズル列３３４はウエブ３２０
を横切つて垂直に延びている。図２５に示されたテーパ
を持つた単一の減速ノズル３３６は同じく約３ｍｍのオ
ーダ，長さは１ｍで，ノズル列３３４の下に位置してい
て，３３４からの吹き出し空気を受けている。
見つけ同定する装置と方法について述べたが，次に好ま
しくない存在物をウエブから除去することについて述べ
る。上述した装置と方法によつて存在物は見出されて，
除去の価値に優先的な分類にしたがつて同定される。図
２５は薄いウエブ１３４から好ましくない存在物を除去
しクリアするための圧搾空気を使つた現案の除去器３０
０の断面図を示し，図２６は図２５の２１−２１線での
断面図を示す。図２７は図２５の除去額域３５０の拡大
図である。図６，２５，２７にみられるように，薄いウ
エブ３２０はプレート３３０と３３２の間を通つて搬送
されていて，プレートには矩形の隙間３３５を持つ入力
ノズル３３４の列を持つている。間隙は約３ｍｍのオー
ダで図２５には幅Ｄの３３８で示されている。図２６の
断面を見たところで矩形間隙３３５の長さは１ｃｍのオ
ーダであることが示されており，間隙の間隔３４０
（Ｓ）も１ｃｍのオーダである。ウエブ３２０は幅が約
１ｍ又は４０インチで，ノズル列３３４はウエブ３２０
を横切つて垂直に延びている。図２５に示されたテーパ
を持つた単一の減速ノズル３３６は同じく約３ｍｍのオ
ーダ，長さは１ｍで，ノズル列３３４の下に位置してい
て，３３４からの吹き出し空気を受けている。
【００５９】図９，２５，２６を参照してノズル列３３
４は図８に示された筋１５０の下流に既知の距離をおい
て位置されている。ウエブの速度はロータリエンコーダ
１６８で常にコンピユータシステム１４４に報告されて
いるので，コンピユータ１４４は特定のウエブ切片が，
例えば筋１５０の最初の帯からノズル列３３４まで通過
するのに要する時間を計算する。好ましくない存在物が
システム１４４で検出されると，その位置（空間座標）
が薄いウエブ１３４（図２５では３２０）に関連して求
められ，システム１４４は好ましくない存在物がノズル
列に達するのに必要な時間を計算する。イメージユニツ
ト１３０と１３２中のＣＣＤアレイ１８４はウエブ１３
４（３２０）を横切る０．５ｍｍの筋を，０．５ｍｍ矩
形を見る各ピクセルで観測していることを想起された
い。従つてアレイを横切つて好ましくない存在物のイメ
ージまでのピクセルを数えることによつて，存在物の横
方向の位置が求められる。存在物の横の位置に基づいて
コンピユータシステム１４４は存在物がノズル３３４に
達したとき，その内どのノズルが存在物の上に来るかを
求める。存在物が除去領域３５０に達した時に，多くの
取出器供給パイプ３５５の内の１つに，迅速作動ソレノ
イドバルブ３５４の内の１つによつて圧搾空気の一吹き
を加える。コンピユータシステム１４４は制御線３５３
を通して制御信号を加え，１つ又はそれ以上のバルブ３
５４を働かせ供給パイプ３５５を通して圧搾空気を吹き
出す。清浄な圧搾空気がパイプ３５２が各供給パイプ３
５５に供給され，各供給パイプ３５５はノズル３３４の
内の１つのマウス３３７に位置している。供給パイプ３
５５を出た圧搾空気はノズルマウス３３７を取り巻いて
好ましくは圧搾空気３３９のように僅かに圧力の掛かつ
た部屋を形成する部屋３６０から容積測定式の流れを送
り出す。供給パイプ３５５と部屋３６０からの組み合わ
された空気流は空気の一吹きとなつて，存在物３５６を
薄いウエブ３２０から減速ノズル３３６を通してウエイ
ストパイプ３５８の中へ吹き払う。減速ノズル３３６は
除去領域３５０に非常に僅かな正の初期圧を生ずるよう
な大きさとし，薄いウエブ３２０の存在物の回りの成分
を除去領域３５０から押し離し，一方同時に好ましくな
い存在物３５６を屑収集パイプ３５８中に吹き出す。圧
搾空気が供給パイプ３５５から遮断されたとき，初期正
圧の後で減速ノズル３３６中の空気の動きの惰性で生ず
る負圧が短期間生じ，これにより除去領域（１ｃｍ×３
ｍｍの矩形）を取り巻く成分が内部へ動く。この負圧の
期間はウエブ３２０の存在物を除去した後の穴を一部分
は閉じるが，ウエブ３２０を屑収集パイプ３５８の中へ
引き込まないような時間としてある。
４は図８に示された筋１５０の下流に既知の距離をおい
て位置されている。ウエブの速度はロータリエンコーダ
１６８で常にコンピユータシステム１４４に報告されて
いるので，コンピユータ１４４は特定のウエブ切片が，
例えば筋１５０の最初の帯からノズル列３３４まで通過
するのに要する時間を計算する。好ましくない存在物が
システム１４４で検出されると，その位置（空間座標）
が薄いウエブ１３４（図２５では３２０）に関連して求
められ，システム１４４は好ましくない存在物がノズル
列に達するのに必要な時間を計算する。イメージユニツ
ト１３０と１３２中のＣＣＤアレイ１８４はウエブ１３
４（３２０）を横切る０．５ｍｍの筋を，０．５ｍｍ矩
形を見る各ピクセルで観測していることを想起された
い。従つてアレイを横切つて好ましくない存在物のイメ
ージまでのピクセルを数えることによつて，存在物の横
方向の位置が求められる。存在物の横の位置に基づいて
コンピユータシステム１４４は存在物がノズル３３４に
達したとき，その内どのノズルが存在物の上に来るかを
求める。存在物が除去領域３５０に達した時に，多くの
取出器供給パイプ３５５の内の１つに，迅速作動ソレノ
イドバルブ３５４の内の１つによつて圧搾空気の一吹き
を加える。コンピユータシステム１４４は制御線３５３
を通して制御信号を加え，１つ又はそれ以上のバルブ３
５４を働かせ供給パイプ３５５を通して圧搾空気を吹き
出す。清浄な圧搾空気がパイプ３５２が各供給パイプ３
５５に供給され，各供給パイプ３５５はノズル３３４の
内の１つのマウス３３７に位置している。供給パイプ３
５５を出た圧搾空気はノズルマウス３３７を取り巻いて
好ましくは圧搾空気３３９のように僅かに圧力の掛かつ
た部屋を形成する部屋３６０から容積測定式の流れを送
り出す。供給パイプ３５５と部屋３６０からの組み合わ
された空気流は空気の一吹きとなつて，存在物３５６を
薄いウエブ３２０から減速ノズル３３６を通してウエイ
ストパイプ３５８の中へ吹き払う。減速ノズル３３６は
除去領域３５０に非常に僅かな正の初期圧を生ずるよう
な大きさとし，薄いウエブ３２０の存在物の回りの成分
を除去領域３５０から押し離し，一方同時に好ましくな
い存在物３５６を屑収集パイプ３５８中に吹き出す。圧
搾空気が供給パイプ３５５から遮断されたとき，初期正
圧の後で減速ノズル３３６中の空気の動きの惰性で生ず
る負圧が短期間生じ，これにより除去領域（１ｃｍ×３
ｍｍの矩形）を取り巻く成分が内部へ動く。この負圧の
期間はウエブ３２０の存在物を除去した後の穴を一部分
は閉じるが，ウエブ３２０を屑収集パイプ３５８の中へ
引き込まないような時間としてある。
【００６０】好ましくない存在物をシステムの外へ送り
出すため空気は屑収集パイプ３５８を通つて常に動いて
いる。屑収集パイプ３５８と入力室３６０は除去ノズル
３３４と３３６の独立した動作を妨害しないような大き
さとしてあり，これら除去ノズルは代表的なカードのウ
エブ（幅）に対しては約１００個が配置されている。更
に，供給空気パイプ３６０は充分大きく，何処かの除去
ノズル３３４で生ずる短いパルスの相互作用は１つ以上
の除去ノズル３３４が同時に働いたときでも，実質的に
他には影響しないようになつている。供給パイプ３６０
に入つて来る空気はフイルタを通つており，さもなけれ
ば除去の目的に適応するよう調質されている。
出すため空気は屑収集パイプ３５８を通つて常に動いて
いる。屑収集パイプ３５８と入力室３６０は除去ノズル
３３４と３３６の独立した動作を妨害しないような大き
さとしてあり，これら除去ノズルは代表的なカードのウ
エブ（幅）に対しては約１００個が配置されている。更
に，供給空気パイプ３６０は充分大きく，何処かの除去
ノズル３３４で生ずる短いパルスの相互作用は１つ以上
の除去ノズル３３４が同時に働いたときでも，実質的に
他には影響しないようになつている。供給パイプ３６０
に入つて来る空気はフイルタを通つており，さもなけれ
ば除去の目的に適応するよう調質されている。
【００６１】図２７は圧搾空気を用いた第２のタイプの
除去器４００を示したもので，図６のドツフアシーリン
グ１１０のようなクロスシリンダから存在物を除去する
のに適したものである。図６と図２７で″Ｘ″印をつけ
た位置４０２は除去器４００を取り付けるのに適した位
置でイメージ分析システム５０とクラツシユローラ１２
２の間である。図２７を参照してイメージ分析システム
５０はドツフアシリンダ１１０上の除去すべき存在物を
発見し，同定する。前記パターン認識，決定，タイミン
グは図９のコンピユータシステム１４４で取り扱われ，
線１４６上の制御信号は除去器のコントラーラ４０４で
迅速作動ソレノイドバルブ４０６を励起する。この動作
で清浄な圧搾空気が部屋４０８に，そして吹き付け用の
空気穴４１０に供給される。同時に（あるいはもし望む
なら別個の，他のバルブと異なつたタイミングで），ソ
レノイドバルブ４０６は清浄な圧搾空気を同軸の除去器
４２０に供給する。吹払い用の空気流４１２と排出器を
駆動する空気流４１６が同時にスタートすると仮定する
と，圧力をかける吹出し用の空気流４１２と吸引を行う
排出用の空気流４１６の組み合わされた動作で，高速で
動く小さな量の″押しそして引く″又は″パルス状″の
空気をドツフアワイヤ４２２を横切つて存在物４１８と
これに付いた僅かつ繊維４１９をワイヤ４２２から持ち
上げて，収集パイプ４２４に引き込む方向に与えること
になるのは明らかである。空気流４１４は空気流４１２
の流入と空気流４１６に伴う吸引で駆動される。まとめ
ると，除去器４００の働きは短期間（ミリセカンド）の
急激に動く（マツハ１に近い）体積パルス（１／３立方
センチ）を供給し，これで存在物をシリンダのワイヤか
ら挿き出し，ウエブから取り除くものと考えられよう。
除去穴の幅と長さは図２３〜２６の除去器３００のよう
に，３ｍｍ×１０ｍｍで，ドツフアシリンダ１１０上の
ウエブの１ｍ幅をよぎつて１００個が配置されている。
除去器４００を示したもので，図６のドツフアシーリン
グ１１０のようなクロスシリンダから存在物を除去する
のに適したものである。図６と図２７で″Ｘ″印をつけ
た位置４０２は除去器４００を取り付けるのに適した位
置でイメージ分析システム５０とクラツシユローラ１２
２の間である。図２７を参照してイメージ分析システム
５０はドツフアシリンダ１１０上の除去すべき存在物を
発見し，同定する。前記パターン認識，決定，タイミン
グは図９のコンピユータシステム１４４で取り扱われ，
線１４６上の制御信号は除去器のコントラーラ４０４で
迅速作動ソレノイドバルブ４０６を励起する。この動作
で清浄な圧搾空気が部屋４０８に，そして吹き付け用の
空気穴４１０に供給される。同時に（あるいはもし望む
なら別個の，他のバルブと異なつたタイミングで），ソ
レノイドバルブ４０６は清浄な圧搾空気を同軸の除去器
４２０に供給する。吹払い用の空気流４１２と排出器を
駆動する空気流４１６が同時にスタートすると仮定する
と，圧力をかける吹出し用の空気流４１２と吸引を行う
排出用の空気流４１６の組み合わされた動作で，高速で
動く小さな量の″押しそして引く″又は″パルス状″の
空気をドツフアワイヤ４２２を横切つて存在物４１８と
これに付いた僅かつ繊維４１９をワイヤ４２２から持ち
上げて，収集パイプ４２４に引き込む方向に与えること
になるのは明らかである。空気流４１４は空気流４１２
の流入と空気流４１６に伴う吸引で駆動される。まとめ
ると，除去器４００の働きは短期間（ミリセカンド）の
急激に動く（マツハ１に近い）体積パルス（１／３立方
センチ）を供給し，これで存在物をシリンダのワイヤか
ら挿き出し，ウエブから取り除くものと考えられよう。
除去穴の幅と長さは図２３〜２６の除去器３００のよう
に，３ｍｍ×１０ｍｍで，ドツフアシリンダ１１０上の
ウエブの１ｍ幅をよぎつて１００個が配置されている。
【００６２】この実施例においては，圧搾空気排出ノズ
ルが示されているが，機能的に等価のものであれば他の
排出手段も使うことができる。そのような手段は機械的
パンチング，カツテイング，又はフツキング又は同様な
手段がある。動いている綿ウエブ中の不純物のような興
味の対称とする特徴物を発見し，同定するためのシステ
ム１４８を用いることを提案しているが，除去器と関連
させて他のタイプの検出システムも用いることができる
と理解されたい。同様に除去器や繊維処理器もここに述
べた検出システムと共に使うことができる。ここに述べ
た各種の実施例は本発明を示すための例として意図され
たものであり，本発明は多くの再配置，改変，一部の除
外などが特許請求の範囲に定義した本発明の範囲を逸脱
することなく行えることを理解されたい。
ルが示されているが，機能的に等価のものであれば他の
排出手段も使うことができる。そのような手段は機械的
パンチング，カツテイング，又はフツキング又は同様な
手段がある。動いている綿ウエブ中の不純物のような興
味の対称とする特徴物を発見し，同定するためのシステ
ム１４８を用いることを提案しているが，除去器と関連
させて他のタイプの検出システムも用いることができる
と理解されたい。同様に除去器や繊維処理器もここに述
べた検出システムと共に使うことができる。ここに述べ
た各種の実施例は本発明を示すための例として意図され
たものであり，本発明は多くの再配置，改変，一部の除
外などが特許請求の範囲に定義した本発明の範囲を逸脱
することなく行えることを理解されたい。
【図１】空気的にダクト中を搬送されている繊維房と，
ダクトの壁に設けたサンプラを示す断面図である。
ダクトの壁に設けたサンプラを示す断面図である。
【図２】ダクトから繊維サンプルを取り出す動作中のサ
ンプラを示す図１と同様な図である。
ンプラを示す図１と同様な図である。
【図３】更にサンプラの動作と，サンプラがシリンダに
繊維を引き渡しているところを示す図である。
繊維を引き渡しているところを示す図である。
【図４】サンプラが繊維サンプルをシリンダに渡し，シ
リンダはサンプルをガラス板に渡すところを示す図であ
る。
リンダはサンプルをガラス板に渡すところを示す図であ
る。
【図５】繊維は分繊器で処理され，個々の繊維モニタを
通つて搬送され，更に監視のために円筒スクリーン上に
沈積される他の実施例を示す図である。
通つて搬送され，更に監視のために円筒スクリーン上に
沈積される他の実施例を示す図である。
【図６】本発明をドツフアシリンダと上のウエブ及び／
又は繊維機械のドツフイングローラを離れるときのウエ
ブと関連して実装した様子を示す断面図である。
又は繊維機械のドツフイングローラを離れるときのウエ
ブと関連して実装した様子を示す断面図である。
【図７】ニードルサンプラで採取された繊維スライバを
含む導菅の断面図である。
含む導菅の断面図である。
【図８】図７のニードルサンプラから繊維サンプルを取
外す処理ステーシヨンを示す図である。
外す処理ステーシヨンを示す図である。
【図９】２つのＣＣＤカメラとウエブの前後の照明を含
む光学的イメージングシステムを示す図である。
む光学的イメージングシステムを示す図である。
【図１０】図９の光学的イメージングシステムの詳細図
である。
である。
【図１１】図９の光学的イメージングシステムに用いら
れるマスクを示す図である。
れるマスクを示す図である。
【図１２】ＣＣＤカメラがメモリとメモリバツフアに読
み込む様子を示す図である。
み込む様子を示す図である。
【図１３】ＣＣＤからのイメージがストアされる４つの
メモリブツクを示す図である。
メモリブツクを示す図である。
【図１４】ＣＣＤの読み取りとイメージをメホリにスト
アする別のシステムを示す図である。
アする別のシステムを示す図である。
【図１５】光学的イメージングシステムで生じたイメー
ジを処理するために用いられる処理システムのブロツク
ダイアグラムである。
ジを処理するために用いられる処理システムのブロツク
ダイアグラムである。
【図１６】イメージバツフア中の２つのイメージを示す
図である。
図である。
【図１７】存在物の幾何学的形状を示す図である。
【図１８】図１７に示した存在物の特徴的信号を示し，
ここに信号は動径を幾何学的形状の図心の廻りに回転し
て発生させ，動径の角位置に対して半径の長さをグラフ
としてある図である。
ここに信号は動径を幾何学的形状の図心の廻りに回転し
て発生させ，動径の角位置に対して半径の長さをグラフ
としてある図である。
【図１９】存在物の幾何学的形状を示す図である。
【図２０】図１９に示した存在物の特徴的信号を示し，
ここに信号は動径を幾何学的形状の図心の廻りに回転し
て発生させ，動径の角位置に対して半径の長さをグラフ
としてある図である。
ここに信号は動径を幾何学的形状の図心の廻りに回転し
て発生させ，動径の角位置に対して半径の長さをグラフ
としてある図である。
【図２１】繊維ウエブ中の異なつた存在物を区別するた
めに本発明の光学的システムを用いる１つの方法を示し
た，コンピユータプログラムの動作を示す流れ図であ
る。
めに本発明の光学的システムを用いる１つの方法を示し
た，コンピユータプログラムの動作を示す流れ図であ
る。
【図２２】繊維ウエブ中の異なつた存在物を区別するた
めに本発明の光学的システムを用いる別の方法を示し
た，コンピユータプログラムの動作を示す流れ図であ
る。
めに本発明の光学的システムを用いる別の方法を示し
た，コンピユータプログラムの動作を示す流れ図であ
る。
【図２３】本発明により除去装置の断面図である。
【図２４】図２３の除去装置の１９−１９線の断面図で
ある。
ある。
【図２５】図２３に対応する排出器の拡大図である。
【図２６】図２４に対応する排出器の拡大図である。
【図２７】本発明による排出器をドツフアシリンダのよ
うなクロスシリンダに実装した断面図である。
うなクロスシリンダに実装した断面図である。
１０ 繊維房 １２ 壁 １３ 矢印 １４ カバープレート １６ ダクト １７ 駆動機構 １８ サンプラプレート １９ 軸 ２３ 機械的機構 ２５ 制御ライン
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成６年３月９日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２８】光学的イメージングシステム１２９は１対
のレンズ１５２と１５４及び空間マスク１５６を含んで
いる。レンズ１５２と１５４の目的はウエブ１３４の像
をミラー１６０の前面から反射した後，ＣＣＤカメラと
格子組立上に結ぶためである。空間マスク１５６の機能
はＣＣＤと格子組立の視野を４本の筋１５０に限定する
ことである。ウエブ１３４は矢印１６０の方向に動いて
いるので，ＣＣＤと格子組立がウエブを異なつた時間で
４回にわたつて観測するのが好ましい。即ちウエブ１３
４のすべては４本の筋１５０のおのおのを通過するであ
ろう。従つてウエブ１３４の最初に筋１５０の第１の筋
で観測された部分は次に１５０の第２の筋で２回目に観
測され，３回目に１５０の第３の筋で観測され，４回目
には１５０の第４の筋で観測されることになる。後でよ
り詳細に示すように，このような重複を行つているのは
正確度を増し，及び／又は得られる情報量を増すためで
ある。
のレンズ１５２と１５４及び空間マスク１５６を含んで
いる。レンズ１５２と１５４の目的はウエブ１３４の像
をミラー１６０の前面から反射した後，ＣＣＤカメラと
格子組立上に結ぶためである。空間マスク１５６の機能
はＣＣＤと格子組立の視野を４本の筋１５０に限定する
ことである。ウエブ１３４は矢印１６０の方向に動いて
いるので，ＣＣＤと格子組立がウエブを異なつた時間で
４回にわたつて観測するのが好ましい。即ちウエブ１３
４のすべては４本の筋１５０のおのおのを通過するであ
ろう。従つてウエブ１３４の最初に筋１５０の第１の筋
で観測された部分は次に１５０の第２の筋で２回目に観
測され，３回目に１５０の第３の筋で観測され，４回目
には１５０の第４の筋で観測されることになる。後でよ
り詳細に示すように，このような重複を行つているのは
正確度を増し，及び／又は得られる情報量を増すためで
ある。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２９】ＣＣＤと格子組立からの信号はデータ収集
−コントロールユニツト１４０の一部である読取り電子
回路１６２に送られる。読取り電子回路１６２はその出
力をイメージプロセツサ１６４に与え，その出力は表示
−貯蔵ユニツト１６６に与えられる。１６４と１６６は
共にイメージ処理と貯蔵を行うコンピユータシステム１
４４の一部である。
−コントロールユニツト１４０の一部である読取り電子
回路１６２に送られる。読取り電子回路１６２はその出
力をイメージプロセツサ１６４に与え，その出力は表示
−貯蔵ユニツト１６６に与えられる。１６４と１６６は
共にイメージ処理と貯蔵を行うコンピユータシステム１
４４の一部である。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３１】図１０にはマスク１５６の詳細が示されて
いる。マスク１５６にはスリツト１７０，１７２，１７
３，１７４があり，これはＣＣＤと格子組立の視角を４
本の筋１５０に限定するためのものである。このように
スリツト１７０，１７２，１７３，１７４は筋１５０の
大きさと形をコントロールする。幅０．５ｍｍの筋とす
ることが好ましいので，幅（ｄｘ）は対象面上の希望す
るイメージ幅０．５と第１の光学的要素１５２の拡大率
との積で求められる。マスクの幅ｄｙ／ｙ２はレンズ１
５２の拡大率と監視したい監視幅（約０．５１２ｍ）と
の積で求められる。かくしてウエブから１ｍｍ離れて配
置された焦点距離６０ｍｍの光学的要素１５２に対して
は，次のように計算できる。 Ｍ ＝６３．８・１０−３ ｄｘ＝３２μｍ ｄｙ＝３２ｍｍ
いる。マスク１５６にはスリツト１７０，１７２，１７
３，１７４があり，これはＣＣＤと格子組立の視角を４
本の筋１５０に限定するためのものである。このように
スリツト１７０，１７２，１７３，１７４は筋１５０の
大きさと形をコントロールする。幅０．５ｍｍの筋とす
ることが好ましいので，幅（ｄｘ）は対象面上の希望す
るイメージ幅０．５と第１の光学的要素１５２の拡大率
との積で求められる。マスクの幅ｄｙ／ｙ２はレンズ１
５２の拡大率と監視したい監視幅（約０．５１２ｍ）と
の積で求められる。かくしてウエブから１ｍｍ離れて配
置された焦点距離６０ｍｍの光学的要素１５２に対して
は，次のように計算できる。 Ｍ ＝６３．８・１０−３ ｄｘ＝３２μｍ ｄｙ＝３２ｍｍ
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３３】次に図１１を参照すると，ＣＣＤアレイと
格子組立の断面図が示されている。光はコンピユータシ
ステム１４４で制御された電子シヤツタ１７５を通つて
組立１５８に入り，最初に分散格子１７６上に当たる。
分散格子１７６はケース１８２中に窓１８０に隣接した
スペーサブロツク１７８で取り付けられている。シヤツ
タ１７５と分散格子１７６を通過した後光は窓１８０を
通り，ケース１８２の反対側に取り付けられたＣＣＤア
レイ１８４上に入る。格子１７６は入射光を８つのスペ
クトルチヤンネルに分散し，格子はウエブの運動方向に
対応した方向に分散が生ずるように配向されている。か
くして分散はスリツト１７０，１７２，１７３，１７４
に垂直の方向に，また４つの筋１５０に垂直の方向に起
こる。分散格子は８つのスペクトル成分がウエブ上４ｍ
ｍ（ウエブ上の４筋）に対応するＣＣＤの領域に広がる
ように設計され，大きさを与えられている。このように
して，１５０の各筋のそれぞれを１つのアレイ１８４の
上に形成する代わりに，筋１５０の各筋のそれぞれに８
本の相隣り合うイメージをアレイ１８４上に結像させ
る。１５０の４つの筋の大きさと筋の間の間隔を各筋の
８個の像がＣＣＤアレイ１８４の上にオーバラツプしな
いで結ばれるように選ぶことが望ましい。分散格子は光
をスペクトルチヤンネルに分解するので，アレイ１８４
上に形成される各筋の像は筋１５０のそれぞれ異なつた
色情報を提供する。このデザインによつて，入射する光
の強度だけを測るＣＣＤアレイを用いて，可視波長にお
ける色情報を観測するのに簡単でコンパクトなデザイン
ができ上る。
格子組立の断面図が示されている。光はコンピユータシ
ステム１４４で制御された電子シヤツタ１７５を通つて
組立１５８に入り，最初に分散格子１７６上に当たる。
分散格子１７６はケース１８２中に窓１８０に隣接した
スペーサブロツク１７８で取り付けられている。シヤツ
タ１７５と分散格子１７６を通過した後光は窓１８０を
通り，ケース１８２の反対側に取り付けられたＣＣＤア
レイ１８４上に入る。格子１７６は入射光を８つのスペ
クトルチヤンネルに分散し，格子はウエブの運動方向に
対応した方向に分散が生ずるように配向されている。か
くして分散はスリツト１７０，１７２，１７３，１７４
に垂直の方向に，また４つの筋１５０に垂直の方向に起
こる。分散格子は８つのスペクトル成分がウエブ上４ｍ
ｍ（ウエブ上の４筋）に対応するＣＣＤの領域に広がる
ように設計され，大きさを与えられている。このように
して，１５０の各筋のそれぞれを１つのアレイ１８４の
上に形成する代わりに，筋１５０の各筋のそれぞれに８
本の相隣り合うイメージをアレイ１８４上に結像させ
る。１５０の４つの筋の大きさと筋の間の間隔を各筋の
８個の像がＣＣＤアレイ１８４の上にオーバラツプしな
いで結ばれるように選ぶことが望ましい。分散格子は光
をスペクトルチヤンネルに分解するので，アレイ１８４
上に形成される各筋の像は筋１５０のそれぞれ異なつた
色情報を提供する。このデザインによつて，入射する光
の強度だけを測るＣＣＤアレイを用いて，可視波長にお
ける色情報を観測するのに簡単でコンパクトなデザイン
ができ上る。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５２
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５２】プロセツシングバツフア２１４と２１６中
にストアされた生データはウエブ１３４の複数の特徴物
を示すものである。ＤＳＰ２１８と２２０及び中央プロ
セツサ２２２はイメージに含まれるスペクトル及び空間
的情報を用い興味ある存在物の位置を見つけ分類し，又
は識別するのに用いるようプログラムされている。例え
ば提示された実施例では，システム１６６は繊維ウエブ
１３４中の不純物とネツプの位置を見つけるようプログ
ラムされている。図２１ではプログラムの最初のステツ
プ２３０はプロセツシングバツフア２１４と２１６の各
ピクセルにその強度値に基づいて１又は０の２進値を割
り当てるためのものである。今の目的には値１（ｏｎ）
を持つピクセルは特徴物を示し，値０（ｏｆｆ）を持つ
ピクセルには背景を示すと定義する。透過光のモードで
受けたイメージ情報に対しては興味の対象物は光を減ず
るので，プログラムは背景値の３０％以下のピクセルに
は値１を割り当てる。反射光のモードで受けたイメージ
情報に対しては背景値の３０％以上のピクセルに興味が
あり，それらには値１を割り当て，他のピクセルには値
０を割り当てる。この２進値の割り当てはバツフア２１
４と２１６の８頁中のすべてのイメージについて行われ
る。上述の２進値の割り当てで透過又は反射光の何れか
で生じたイメージを操作するのに，同一特徴物の識別技
術と大きさを求めるアルゴリズムが用いられる。
にストアされた生データはウエブ１３４の複数の特徴物
を示すものである。ＤＳＰ２１８と２２０及び中央プロ
セツサ２２２はイメージに含まれるスペクトル及び空間
的情報を用い興味ある存在物の位置を見つけ分類し，又
は識別するのに用いるようプログラムされている。例え
ば提示された実施例では，システム１６６は繊維ウエブ
１３４中の不純物とネツプの位置を見つけるようプログ
ラムされている。図２１ではプログラムの最初のステツ
プ２３０はプロセツシングバツフア２１４と２１６の各
ピクセルにその強度値に基づいて１又は０の２進値を割
り当てるためのものである。今の目的には値１（ｏｎ）
を持つピクセルは特徴物を示し，値０（ｏｆｆ）を持つ
ピクセルには背景を示すと定義する。透過光のモードで
受けたイメージ情報に対しては興味の対象物は光を減ず
るので，プログラムは背景値の３０％以下のピクセルに
は値１を割り当てる。反射光のモードで受けたイメージ
情報に対しては背景値の３０％以上のピクセルに興味が
あり，それらには値１を割り当て，他のピクセルには値
０を割り当てる。この２進値の割り当てはバツフア２１
４と２１６の８頁中のすべてのイメージについて行われ
る。上述の２進値の割り当てで透過又は反射光の何れか
で生じたイメージを操作するのに，同一特徴物の識別技
術と大きさを求めるアルゴリズムが用いられる。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５９】図９，２５，２６を参照してノズル列３３
４は図８に示された筋１５０の下流に既知の距離をおい
て位置されている。ウエブの速度はロータリエンコーダ
１６８で常にコンピユータシステム１４４に報告されて
いるので，コンピユータ１４４は特定のウエブ切片が，
例えば筋１５０の最初の帯からノズル列３３４まで通過
するのに要する時間を計算する。好ましくない存在物が
システム１４４で検出されると，その位置（空間座標）
が薄いウエブ１３５（図２５では３２０）に関連して求
められ，システム１４４は好ましくない存在物がノズル
列に達するのに必要な時間を計算する。イメージユニツ
ト１３０と１３２中のＣＣＤアレイ１８４はウエブ１３
４（３２０）を横切る０．５ｍｍの筋を，０．５ｍｍ矩
形を見る各ピクセルで観測していることを想起された
い。従つてアレイを横切つて好ましくない存在物のイメ
ージまでのピクセルを数えることによつて，存在物の横
方向の位置が求められる。存在物の横の位置に基づいて
コンピユータシステム１４４は存在物がノズル３３４に
達したとき，その内どのノズルが存在物の上に来るかを
求める。存在物が除去領域３５０に達した時に，多くの
取出器供給パイプ３５５の内の１つに，迅速作動ソレノ
イドバルブ３５４の内の１つによつて圧搾空気の一吹き
を加える。コンピユータシステム１４４は制御線３５３
を通して制御信号を加え，１つ又はそれ以上のバルブ３
５４を働かせ供給パイプ３５５を通して圧搾空気を吹き
出す。清浄な圧搾空気がパイプ３５２が各供給パイプ３
５５に供給され，各供給パイプ３５５はノズル３３４の
内の１つのマウス３３７に位置している。供給パイプ３
５５を出た圧搾空気はノズルマウス３３７を取り巻いて
好ましくは圧搾空気３３９のように僅かに圧力の掛かつ
た部屋を形成する部屋３６０から一定量の空気流を送り
出す。供給パイプ３５５と部屋３６０からの組み合わさ
れた空気流は空気の一吹きとなつて，存在物３５６を薄
いウエブ３２０から減速ノズル３３６を通してウエイス
トパイプ３５８の中へ吹き払う。減速ノズル３３６は除
去領域３５０に非常に僅かな正の初期圧を生ずるような
大きさとし，薄いウエブ３２０の存在物の回りの成分を
除去領域３５０から押し離し，一方同時に好ましくない
存在物３５６を屑収集パイプ３５８中に吹き出す。圧搾
空気が供給パイプ３５５から遮断されたとき，初期正圧
の後で減速ノズル３３６中の空気の動きの惰性で生ずる
負圧が短期間生じ，これにより除去領域（１ｃｍ×３ｍ
ｍの矩形）を取り巻く成分が内部へ動く。この負圧の期
間はウエブ３２０の存在物を除去した後の穴を一部分は
閉じるが，ウエブ３２０を屑収集パイプ３５８の中へ引
き込まないような時間としてある。
４は図８に示された筋１５０の下流に既知の距離をおい
て位置されている。ウエブの速度はロータリエンコーダ
１６８で常にコンピユータシステム１４４に報告されて
いるので，コンピユータ１４４は特定のウエブ切片が，
例えば筋１５０の最初の帯からノズル列３３４まで通過
するのに要する時間を計算する。好ましくない存在物が
システム１４４で検出されると，その位置（空間座標）
が薄いウエブ１３５（図２５では３２０）に関連して求
められ，システム１４４は好ましくない存在物がノズル
列に達するのに必要な時間を計算する。イメージユニツ
ト１３０と１３２中のＣＣＤアレイ１８４はウエブ１３
４（３２０）を横切る０．５ｍｍの筋を，０．５ｍｍ矩
形を見る各ピクセルで観測していることを想起された
い。従つてアレイを横切つて好ましくない存在物のイメ
ージまでのピクセルを数えることによつて，存在物の横
方向の位置が求められる。存在物の横の位置に基づいて
コンピユータシステム１４４は存在物がノズル３３４に
達したとき，その内どのノズルが存在物の上に来るかを
求める。存在物が除去領域３５０に達した時に，多くの
取出器供給パイプ３５５の内の１つに，迅速作動ソレノ
イドバルブ３５４の内の１つによつて圧搾空気の一吹き
を加える。コンピユータシステム１４４は制御線３５３
を通して制御信号を加え，１つ又はそれ以上のバルブ３
５４を働かせ供給パイプ３５５を通して圧搾空気を吹き
出す。清浄な圧搾空気がパイプ３５２が各供給パイプ３
５５に供給され，各供給パイプ３５５はノズル３３４の
内の１つのマウス３３７に位置している。供給パイプ３
５５を出た圧搾空気はノズルマウス３３７を取り巻いて
好ましくは圧搾空気３３９のように僅かに圧力の掛かつ
た部屋を形成する部屋３６０から一定量の空気流を送り
出す。供給パイプ３５５と部屋３６０からの組み合わさ
れた空気流は空気の一吹きとなつて，存在物３５６を薄
いウエブ３２０から減速ノズル３３６を通してウエイス
トパイプ３５８の中へ吹き払う。減速ノズル３３６は除
去領域３５０に非常に僅かな正の初期圧を生ずるような
大きさとし，薄いウエブ３２０の存在物の回りの成分を
除去領域３５０から押し離し，一方同時に好ましくない
存在物３５６を屑収集パイプ３５８中に吹き出す。圧搾
空気が供給パイプ３５５から遮断されたとき，初期正圧
の後で減速ノズル３３６中の空気の動きの惰性で生ずる
負圧が短期間生じ，これにより除去領域（１ｃｍ×３ｍ
ｍの矩形）を取り巻く成分が内部へ動く。この負圧の期
間はウエブ３２０の存在物を除去した後の穴を一部分は
閉じるが，ウエブ３２０を屑収集パイプ３５８の中へ引
き込まないような時間としてある。
【手続補正７】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１０
【補正方法】変更
【補正内容】
【図１０】
【手続補正８】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２２
【補正方法】変更
【補正内容】
【図２２】
【手続補正書】
【提出日】平成６年３月２５日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２８】光学的イメージングシステム１２９は１対
のレンズ１５２と１５４及び空間マスク１５６を含んで
いる。レンズ１５２と１５４の目的はウエブ１３４の像
をミラー１６０の前面から反射した後，ＣＣＤカメラと
格子組立上に結ぶためである。空間マスク１５６の機能
はＣＣＤと格子組立の視野を４本の筋１５０に限定する
ことである。ウエブ１３４は矢印１６０の方向に動いて
いるので，ＣＣＤと格子組立がウエブを異なつた時間で
４回にわたつて観測するのが好ましい。即ちウエブ１３
４のすべては４本の筋１５０のおのおのを通過するであ
ろう。従つてウエブ１３４の最初に筋１５０の第１の筋
で観測された部分は次に１５０の第２の筋で２回目に観
測され，３回目に１５０の第３の筋で観測され，４回目
には１５０の第４の筋で観測されることになる。後でよ
り詳細に示すように，このような重複を行つているのは
正確度を増し，及び／又は得られる情報量を増すためで
ある。
のレンズ１５２と１５４及び空間マスク１５６を含んで
いる。レンズ１５２と１５４の目的はウエブ１３４の像
をミラー１６０の前面から反射した後，ＣＣＤカメラと
格子組立上に結ぶためである。空間マスク１５６の機能
はＣＣＤと格子組立の視野を４本の筋１５０に限定する
ことである。ウエブ１３４は矢印１６０の方向に動いて
いるので，ＣＣＤと格子組立がウエブを異なつた時間で
４回にわたつて観測するのが好ましい。即ちウエブ１３
４のすべては４本の筋１５０のおのおのを通過するであ
ろう。従つてウエブ１３４の最初に筋１５０の第１の筋
で観測された部分は次に１５０の第２の筋で２回目に観
測され，３回目に１５０の第３の筋で観測され，４回目
には１５０の第４の筋で観測されることになる。後でよ
り詳細に示すように，このような重複を行つているのは
正確度を増し，及び／又は得られる情報量を増すためで
ある。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２９】ＣＣＤと格子組立からの信号はデータ収集
−コントロールユニツト１４０の一部である読取り電子
回路１６２に送られる。読取り電子回路１６２はその出
力をイメージプロセツサ１６４に与え，その出力は表示
−貯蔵ユニツト１６６に与えられる。１６４と１６６は
共にイメージ処理と貯蔵を行うコンピユータシステム１
４４の一部である。
−コントロールユニツト１４０の一部である読取り電子
回路１６２に送られる。読取り電子回路１６２はその出
力をイメージプロセツサ１６４に与え，その出力は表示
−貯蔵ユニツト１６６に与えられる。１６４と１６６は
共にイメージ処理と貯蔵を行うコンピユータシステム１
４４の一部である。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３１】図１０にはマスク１５６の詳細が示されて
いる。マスク１５６にはスリツト１７０，１７２，１７
３，１７４があり，これはＣＣＤと格子組立の視角を４
本の筋１５０に限定するためのものである。このように
スリツト１７０，１７２，１７３，１７４は筋１５０の
大きさと形をコントロールする。幅０．５ｍｍの筋とす
ることが好ましいので，幅（ｄｘ）は対象面上の希望す
るイメージ幅０．５と第１の光学的要素１５２の拡大率
との積で求められる。マスクの幅ｄｙ／ｙ２はレンズ１
５２の拡大率と監視したい監視幅（約０．５１２ｍ）と
の積で求められる。かくしてウエブから１ｍｍ離れて配
置された焦点距離６０ｍｍの光学的要素１５２に対して
は，次のように計算できる。 Ｍ ＝６３．８・１０−３ ｄｘ＝３２μｍ ｄｙ＝３２ｍｍ
いる。マスク１５６にはスリツト１７０，１７２，１７
３，１７４があり，これはＣＣＤと格子組立の視角を４
本の筋１５０に限定するためのものである。このように
スリツト１７０，１７２，１７３，１７４は筋１５０の
大きさと形をコントロールする。幅０．５ｍｍの筋とす
ることが好ましいので，幅（ｄｘ）は対象面上の希望す
るイメージ幅０．５と第１の光学的要素１５２の拡大率
との積で求められる。マスクの幅ｄｙ／ｙ２はレンズ１
５２の拡大率と監視したい監視幅（約０．５１２ｍ）と
の積で求められる。かくしてウエブから１ｍｍ離れて配
置された焦点距離６０ｍｍの光学的要素１５２に対して
は，次のように計算できる。 Ｍ ＝６３．８・１０−３ ｄｘ＝３２μｍ ｄｙ＝３２ｍｍ
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３３】次に図１１を参照すると，ＣＣＤアレイと
格子組立の断面図が示されている。光はコンピユータシ
ステム１４４で制御された電子シヤツタ１７５を通つて
組立１５８に入り，最初に分散格子１７６上に当たる。
分散格子１７６はケース１８２中に窓１８０に隣接した
スペーサブロツク１７８で取り付けられている。シヤツ
タ１７５と分散格子１７６を通過した後光は窓１８０を
通り，ケース１８２の反対側に取り付けられたＣＣＤア
レイ１８４上に入る。格子１７６は入射光を８つのスペ
クトルチヤンネルに分散し，格子はウエブの連動方向に
対応した方向に分散が生ずるように配向されている。か
くして分散はスリツト１７０，１７２，１７３，１７４
に垂直の方向に，また４つの筋１５０に垂直の方向に起
こる。分散格子は８つのスペクトル成分がウエブ上４ｍ
ｍ（ウエブ上の４筋）に対応するＣＣＤの領域に広がる
ように設計され，大きさを与えられている。このように
して，１５０の各筋のそれぞれを１つのアレイ１８４の
上に，形成する代わりに，筋１５０の各筋のそれぞれに
８本の相隣り合うイメージをアレイ１８４上に結像させ
る。１５０の４つの筋の大ささと筋の間の間隔を各筋の
８個の像がＣＣＤアレイ１８４の上にオーバラツプしな
いで結ばれるように選ぶことが望ましい。分散格子は光
をスペクトルチヤンネルに分解するので，アレイ１８４
上に，形成される各筋の像は筋１５０のそれぞれ異なつ
た色情報を提供する。このデザインによつて，入射する
光の強度だけを測るＣＣＤアレイを用いて，可視波長に
おける色情報を観測するのに簡単でコンパクトなデザイ
ンができ上る。
格子組立の断面図が示されている。光はコンピユータシ
ステム１４４で制御された電子シヤツタ１７５を通つて
組立１５８に入り，最初に分散格子１７６上に当たる。
分散格子１７６はケース１８２中に窓１８０に隣接した
スペーサブロツク１７８で取り付けられている。シヤツ
タ１７５と分散格子１７６を通過した後光は窓１８０を
通り，ケース１８２の反対側に取り付けられたＣＣＤア
レイ１８４上に入る。格子１７６は入射光を８つのスペ
クトルチヤンネルに分散し，格子はウエブの連動方向に
対応した方向に分散が生ずるように配向されている。か
くして分散はスリツト１７０，１７２，１７３，１７４
に垂直の方向に，また４つの筋１５０に垂直の方向に起
こる。分散格子は８つのスペクトル成分がウエブ上４ｍ
ｍ（ウエブ上の４筋）に対応するＣＣＤの領域に広がる
ように設計され，大きさを与えられている。このように
して，１５０の各筋のそれぞれを１つのアレイ１８４の
上に，形成する代わりに，筋１５０の各筋のそれぞれに
８本の相隣り合うイメージをアレイ１８４上に結像させ
る。１５０の４つの筋の大ささと筋の間の間隔を各筋の
８個の像がＣＣＤアレイ１８４の上にオーバラツプしな
いで結ばれるように選ぶことが望ましい。分散格子は光
をスペクトルチヤンネルに分解するので，アレイ１８４
上に，形成される各筋の像は筋１５０のそれぞれ異なつ
た色情報を提供する。このデザインによつて，入射する
光の強度だけを測るＣＣＤアレイを用いて，可視波長に
おける色情報を観測するのに簡単でコンパクトなデザイ
ンができ上る。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５２
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５２】プロセツシングバツフア２１４と２１６中
にストアされた生データはウエブ１３４の複数の特徴物
を示すものである。ＤＳＰ２１８と２２０及び中央プロ
セツサ２２２はイメージに含まれるスペクトル及び空間
的情報を用い興味ある存在物の位置を見つけ分類し，又
は識別するのに用いるようプログラムされている。例え
ば提示された実施例では，システム１６６は繊維ウエブ
１３４中の不純物とネツプの位置を見つけるようプログ
ラムされている。図２１ではプログラムの最初のステツ
プ２３０はプロセツシングバツフア２１４と２１６の各
ピクセルにその強度値に基づいて１又は０の２進値を割
り当てるためのものである。今の目的には値１（ｏｎ）
を持つピクセルは特徴物を示し，値０（ｏｆｆ）を持つ
ピクセルには背景を示すと定義する。透過光のモードで
受けたイメージ情報に対しては興味の対象物は光を減ず
るので，プログラムは背景値の３０％以下のピクセルに
は値１を割り当てる。反射光のモードで受けたイメージ
情報に対しては背景値の３０％以上のピクセルに興味が
あり，それらには値１を割り当て，他のピクセルには値
０を割り当てる。この２進値の割り当てはバツフア２１
４と２１６の８頁中のすべてのイメージについて行われ
る。上述の２進値の割り当てで透過又は反射光の何れか
で生じたイメージを操作するのに，同一特徴物の識別技
術と大きさを求めるアルゴリズムが用いられる。
にストアされた生データはウエブ１３４の複数の特徴物
を示すものである。ＤＳＰ２１８と２２０及び中央プロ
セツサ２２２はイメージに含まれるスペクトル及び空間
的情報を用い興味ある存在物の位置を見つけ分類し，又
は識別するのに用いるようプログラムされている。例え
ば提示された実施例では，システム１６６は繊維ウエブ
１３４中の不純物とネツプの位置を見つけるようプログ
ラムされている。図２１ではプログラムの最初のステツ
プ２３０はプロセツシングバツフア２１４と２１６の各
ピクセルにその強度値に基づいて１又は０の２進値を割
り当てるためのものである。今の目的には値１（ｏｎ）
を持つピクセルは特徴物を示し，値０（ｏｆｆ）を持つ
ピクセルには背景を示すと定義する。透過光のモードで
受けたイメージ情報に対しては興味の対象物は光を減ず
るので，プログラムは背景値の３０％以下のピクセルに
は値１を割り当てる。反射光のモードで受けたイメージ
情報に対しては背景値の３０％以上のピクセルに興味が
あり，それらには値１を割り当て，他のピクセルには値
０を割り当てる。この２進値の割り当てはバツフア２１
４と２１６の８頁中のすべてのイメージについて行われ
る。上述の２進値の割り当てで透過又は反射光の何れか
で生じたイメージを操作するのに，同一特徴物の識別技
術と大きさを求めるアルゴリズムが用いられる。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５９】図９，２５，２６を参照してノズル列３３
４は図８に示された筋１５０の下流に既知の距離をおい
て位置されている。ウエブの速度はロータリエンコーダ
１６８で常にコンピユータシステム１４４に報告されて
いるので，コンピユータ１４４は特定のウエブ切片が，
例えば筋１５０の最初の帯からノズル列３３４まで通過
するのに要する時間を計算する。好ましくない存在物が
システム１４４で検出されると，その位置（空間座標）
が薄いウエブ１３５（図２５では３２０）に関連して求
められ，システム１４４は好ましくない存在物がノズル
列に達するのに必要な時間を計算する。イメージユニツ
ト１３０と１３２中のＣＣＤアレイ１８４はウエブ１３
４（３２０）を，横切る０．５ｍｍの筋を，０．５ｍｍ
矩形を見る各ピクセルで観測していることを想起された
い。従つてアレイを横切つて好ましくない存在物のイメ
ージまでのピクセルを数えることによつて，存在物の横
方向の位置が求められる。存在物の横の位置に基づいて
コンピユータシステム１４４は存在物がノズル３３４に
達したとき，その内どのノズルが存在物の上に来るかを
求める。存在物が除去領域３５０に達した時に，多くの
取出器供給パイプ３５５の内の１つに，迅速作動ソレノ
イドバルブ３５４の内の１つによつて圧搾空気の一吹き
を加える。コンピユータシステム１４４は制御線３５３
を通して制御信号を加え，１つ又はそれ以上のバルブ３
５４を働かせ供給パイプ３５５を通して圧搾空気を吹き
出す。清浄な圧搾空気がパイプ３５２が各供給パイプ３
５５に供給され，各供給パイプ３５５はノズル３３４の
内の１つのマウス３３７に位置している。供給パイプ３
５５を出た圧搾空気はノズルマウス３３７を取り巻いて
好ましくは圧搾空気３３９のように僅かに圧力の掛かつ
た部屋を形成する部屋３６０から一定量の空気流を送り
出す。供給パイプ３５５と部屋３６０からの組み合わさ
れた空気流は空気の一吹きとなつて，存在物３５６を薄
いウエブ３２０から減速ノズル３３６を通してウエイス
トパイプ３５８の中へ吹き払う。減速ノズル３３６は除
去領域３５０に非常に僅かな正の初期圧を生ずるような
大きさとし，薄いウエブ３２０の存在物の回りの成分を
除去領域３５０から押し離し，一方同時に好ましくない
存在物３５６を屑収集パイプ３５８中に吹き出す。圧搾
空気が供給パイプ３５５から遮断されたとき，初期正圧
の後で減速ノズル３３６中の空気の動きの惰性で生ずる
負圧が短期間生じ，これにより除去領域（１ｃｍ×３ｍ
ｍの矩形）を取り巻く成分が内部へ動く。この負圧の期
間はウエブ３２０の存在物を除去した後の穴を一部分は
閉じるが，ウエブ３２０を屑収集パイプ３５８の中へ引
き込まないような時間としてある。
４は図８に示された筋１５０の下流に既知の距離をおい
て位置されている。ウエブの速度はロータリエンコーダ
１６８で常にコンピユータシステム１４４に報告されて
いるので，コンピユータ１４４は特定のウエブ切片が，
例えば筋１５０の最初の帯からノズル列３３４まで通過
するのに要する時間を計算する。好ましくない存在物が
システム１４４で検出されると，その位置（空間座標）
が薄いウエブ１３５（図２５では３２０）に関連して求
められ，システム１４４は好ましくない存在物がノズル
列に達するのに必要な時間を計算する。イメージユニツ
ト１３０と１３２中のＣＣＤアレイ１８４はウエブ１３
４（３２０）を，横切る０．５ｍｍの筋を，０．５ｍｍ
矩形を見る各ピクセルで観測していることを想起された
い。従つてアレイを横切つて好ましくない存在物のイメ
ージまでのピクセルを数えることによつて，存在物の横
方向の位置が求められる。存在物の横の位置に基づいて
コンピユータシステム１４４は存在物がノズル３３４に
達したとき，その内どのノズルが存在物の上に来るかを
求める。存在物が除去領域３５０に達した時に，多くの
取出器供給パイプ３５５の内の１つに，迅速作動ソレノ
イドバルブ３５４の内の１つによつて圧搾空気の一吹き
を加える。コンピユータシステム１４４は制御線３５３
を通して制御信号を加え，１つ又はそれ以上のバルブ３
５４を働かせ供給パイプ３５５を通して圧搾空気を吹き
出す。清浄な圧搾空気がパイプ３５２が各供給パイプ３
５５に供給され，各供給パイプ３５５はノズル３３４の
内の１つのマウス３３７に位置している。供給パイプ３
５５を出た圧搾空気はノズルマウス３３７を取り巻いて
好ましくは圧搾空気３３９のように僅かに圧力の掛かつ
た部屋を形成する部屋３６０から一定量の空気流を送り
出す。供給パイプ３５５と部屋３６０からの組み合わさ
れた空気流は空気の一吹きとなつて，存在物３５６を薄
いウエブ３２０から減速ノズル３３６を通してウエイス
トパイプ３５８の中へ吹き払う。減速ノズル３３６は除
去領域３５０に非常に僅かな正の初期圧を生ずるような
大きさとし，薄いウエブ３２０の存在物の回りの成分を
除去領域３５０から押し離し，一方同時に好ましくない
存在物３５６を屑収集パイプ３５８中に吹き出す。圧搾
空気が供給パイプ３５５から遮断されたとき，初期正圧
の後で減速ノズル３３６中の空気の動きの惰性で生ずる
負圧が短期間生じ，これにより除去領域（１ｃｍ×３ｍ
ｍの矩形）を取り巻く成分が内部へ動く。この負圧の期
間はウエブ３２０の存在物を除去した後の穴を一部分は
閉じるが，ウエブ３２０を屑収集パイプ３５８の中へ引
き込まないような時間としてある。
【手続補正７】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１０
【補正方法】変更
【補正内容】
【図１０】
【手続補正８】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２２
【補正方法】変更
【補正内容】
【図２２】
フロントページの続き (72)発明者 ジヨセフ・シー・ボールドウイン アメリカ合衆国テネシー37923・ノツクス ヴイル・グレイランド・ドライブ9004
Claims (20)
- 【請求項１】 多数の存在物を含むウエブについて上記
ウエブから電磁放射を受け，これに応答してイメージ信
号を生ずるイメージングユニツトであつて，上記イメー
ジ信号が上記存在物を含んで上記ウエブの像に対応し，
上記ウエブが上記イメージングユニツトに相対的に運動
し，上記ウエブの相対運動の方向に垂直の方向にウエブ
を横切る少なくとも１つの筋を繰り返し走査するように
した上記イメージングユニツト及び上記イメージングユ
ニツトから上記イメージング信号を受け，受け取つたイ
メージ信号に対応するデイジタルデータを生じ，デイジ
タルデータを分析し，この分析に基づいて上記ウエブ中
の興味ある存在物を見出し，見出した興味ある存在物の
パラメータを求め，そのパラメータメータを示す出力信
号を生ずる処理手段よりなる繊維工程機械で処理されて
いる繊維物質のウエブを監視するための装置。。 - 【請求項２】 上記イメージングユニツトと処理手段が
更に，受け取つた電磁放射からウエブの同じ場所の複数
の互いに他からそのスペクトル内容で区別されている光
学的像を生じる弁別手段及び複数の光学的像に対応した
複数のデイジタルデータ表現を生じ，その各表現を分析
して興味ある存在物の像を見出し，複数のデイジタルデ
ータ表現の分析に基づいて興味ある存在物で生じた電磁
放射のスペクトル内容を求める上記処理手段よりなる，
請求項１に記載の装置。 - 【請求項３】 上記処理手段が，更に存在物のスペクト
ル内容に基づいて好ましくない存在物として興味ある存
在物を同定する手段よりなる，請求項２に記載の装置。 - 【請求項４】 上記イメージングユニツトが更に，ウエ
ブから電磁放射を受け，電磁放射の一部をブロツクし，
電磁放射の少なくとも第１及び第２の空間的に分離され
た部分を伝達するためのマスク 電磁放射の空間的に分離された部分を方向付け焦点を結
ばせるためのイメージング光学系 電磁放射の空間的に分離された部分を少なくとも第１及
び第２の空間的スペクトル的に分離するスペクトル分離
手段 検出器のアレイ 第１及び第２の空間的に分離された部分の像を上記検出
器のアレイ上にウエブの異なつた部分の像として結像さ
せるための上記ノメージ光学系及び第１及び第２の空間
的に分離された部分に対応したノメージ信号を生じるた
めの上記検出器のアレイ よりなる，請求項１に記載の装置。 - 【請求項５】 上記イメージングユニツトが更に，ウエ
ブからの電磁放射を受けるために配置され形成された少
なくとも第１と第２のスリツトを持ち，電磁放射の一部
をブロツクし，上記スリツトを通して電磁放射の少なく
とも第１と第２の空間的に離れた筋を伝達し，ウエブ上
の筋に対応する上記放射の筋はウエブの相対的運動の方
向に垂直に配置されるごとくしたマスク 電磁放射の空間的に離れた筋を方向付け結像させるため
のイメージング光学系電磁放射の空間的に離れた各筋を
少なくとも第１と第２の空間的にまたスペクトル的に分
離された筋に分け，上記第１と第２の空間的にまたスペ
クトル的に分離された各筋が異なつた内容を持つ複数の
隣接したスペクトル列より成るごとくしたスペクトル分
離手段 検出器のアレイ 第１と第２の空間的，スペクトル的に分離された筋のイ
メージを上記検出器のアレイ上にウエブの異なつた筋の
イメージとして結像させるための上記イメージング光学
系 第１と第２の空間的，スペクトル的に分離された筋に対
応するイメージ信号を生じるための上記検出器のアレイ
及びイメージ信号を受け，これに基づいてデイジタルデ
ータを生じ，各空間的，スペクトル的に分離された筋に
対応するデータを異なつたメモリ場所の同じ位置に保存
し，異なつたスペクトル列に対応するデータを異なつた
メモリ場所に保存するための上記処理手段よりなる，請
求項１に記載の装置。 - 【請求項６】 上記イメージングユニツトが更に，ウエ
ブからの電磁放射を受けるために配置され形成された少
なくとも第１と第２のスリツトを持ち，電磁族射の一部
をブロツクし，上記スリツトを通して電磁放射の少なく
とも第１と第２の空間的に離れた筋を伝達し，ウエブ上
の筋に対応する上記放射の筋はウエブの相対運動の方向
に垂直に配置されるごとくしたマスク 電磁放射の空間的に離れた筋を方向付け結蔵させるため
のイメージング光学系 電磁放射の空間的に離れた筋を少なくとも第１と第２の
空間的にまたスペクトル的に分離された筋に分け，上記
第１と第２の空間的にまたスペクトル的に分離された各
筋が異なつた内容を持つ複数の隣接したスペクトル列よ
り成るごとくしたスペクトル分離手段 検出器のアレイ 第１と第２の空間的，スペクトル的に分離された筋のイ
メージを上記検出器のアレイ上にウエブの異なつた筋の
イメージとして結像させるための上記イメージング光学
系 第１と第２の空間的，スペクトル的に分離された筋に対
応するイメージ信号を生じるための上記検出器のアレイ
及びイメージ信号を受け，これに基づいてメモリ中にデ
ータブツクの形でデイジタルデータを生じ，各ブツクが
複数の頁を持ち各頁は複数のデータ列を持つごとくした
上記処理装置で，各空間的，スペクトル的に分離された
筋に対応するデータを異なつた頁の同じ列に保存し，異
なつたスペクトル列に対応するデータを異なつた頁に保
存するごとくした上記処理手段よりなる，請求項１に記
載の装置。 - 【請求項７】 上記イメージングユニツトが更に，ウエ
ブからの電磁放射を受けるために配置され形成された少
なくとも第１と第２のスリツトを持ち，電磁放射の一部
をブロツクし，上記スリツトを通して電磁放射の少なく
とも第１と第２の空間的に離れた筋を伝達し，ウエブ上
の筋に対応する上記放射の筋はウエブの相対運動の方向
に垂直に配置されるごとくしたマスク 電磁放射の空間的に離れた筋を方向付け結像させるため
のイメージング光学系検出器のアレイ 第１と第２の空間的に分離された筋の像をウエブの異な
つた筋の像として上記検出器アレイ上に結ばせるための
上記イメージング光学系 第１と第２の空間的に分離された筋に対応するメメージ
信号を生じるための上記検出器アレイ及びイメージ信号
を受け，これに基づいてデイジタルデータを生じ，第１
及び第２の空間的に分離された筋に対応するイメージ信
号に基づいてウエブの同じ像のそれぞれ第１及び第２の
デイジタル表現を生じるために，空間的に分離された各
筋に対応するデータを異なつたメモリ場所の同じ位置に
保存するための上記処理手段よりなる，請求項１に記載
の装置。 - 【請求項８】 上記処理手段が，更に平均デイジタル表
現を生じるために，同じ像の第１と第２のデイジタル表
現を平均するための手段よりなる，請求項７に記載の装
置。 - 【請求項９】 上記処理手段が，更にウエブの存在物の
特性を示す比較出力を生じるために，第１と第２のデイ
ジタル表現を比較するための手段よりなる，請求項７に
記載の装置。 - 【請求項１０】 上記イメージングユニツトと処理手段
が，更に，ウエブに第１及び第２の照明条件を与え，ウ
エブの各部分に対しその部分が第１の筋の位置に来たと
き，その同じ部分が第２の筋の位置に来たときとは異な
つた照明条件を生じ，各ウエブ部分が少なくとも２つの
異なつた照明条件で観測されるようにするための照明源 上記第１及び第２のデイジタル表現を照明条件に対応す
るメモリ場所に保存し，上記第１及び第２のデイジタル
表現がそれぞれ第１及び第２照明条件下で同じウエブの
像に対応するようにするための上記処理手段よりなる，
請求項７に記載の装置。 - 【請求項１１】 更に上記第１及び第２のデイジタル
表現を比較し，この比較に基づいて興味ある存在物を分
類するための上記処理手段よりなる，請求項１０に記載
の装置。 - 【請求項１２】 更に，ウエブの片側を照明しウエブか
らの反射光をイメージングユニツトに向かわせ第１照明
条件を生じてこれを反射照明条件とし，ウエブの他の側
を照明してウエブから光を透過させて第２照明条件を生
じてこれを透過照明条件とするための上記照明手段 上記第１及び第２のデイジタル表現を比較し，この比較
に基づいて興味ある存在物を見出し分類するための上記
処理手段よりなる，請求項１０に記載の装置。 - 【請求項１３】 更に，ウエブの片側を照明しウエブか
らの反射光をイメージングユニツトに向かわせ第１照明
条件を生じてこれを反射照明条件とし，ウエブの他の側
を照明してウエブから光を透過させて第２照明条件を生
じてこれを透過照明条件とするための上記照明手段 上記第１及び第２のデイジタル表現を比較し，この比較
に基づいて興味ある存在物を見出し分類し，第１及び第
２のデイジタル表現に基づいて興味ある存在物のそれぞ
れ第１及び第２の見かけ大きさを求め，第１の見かけ大
きさが第２の見かけ大きさよりも予め定めた量より大き
いときは興味ある存在物が繊維より成ることを求めるた
めの上記処理手段よりなる，請求項１０に記載の装置。 - 【請求項１４】 更に第１の見かけ大きさが予め定めた
範囲内にあるかどうかを求め，第１見かけ大きさが予め
定めた範囲内にあり，また第１見かけ大きさが第２見か
け大きさより予め定めた量より大きいときは興味ある存
在物がネツプであると同定するための上記処理手段より
なる，請求項１３に記載の装置。 - 【請求項１５】 更にデイジタルデータの分析に基づい
て興味ある存在物の見かけ形状を求め，見かけ形状の少
なくとも一部を基に興味ある存在物のタイプを同定する
ための上記処理手段よりなる，請求項１に記載の装置。 - 【請求項１６】 更にデイジタルデータの分析に基づい
て興味ある存在物の見かけ大きさを求め，見かけ大きさ
の少なくとも一部を基に興味ある存在物のタイプを分類
するための上記処理手段よりなる，請求項１に記載の装
置。 - 【請求項１７】 更にデイジタルデータの分析に基づい
て興味ある存在物の見かけの色を求め，見かけの色の少
なくとも一部を基に興味ある存在物のタイプを分類する
ための上記処理手段よりなる，請求項１に記載の装置。 - 【請求項１８】 更にデイジタルデータの分析に基づい
て興味ある存在物の位置を求め，存在物の位置に関する
情報を含む出力信号を生じるための上記処理手段よりな
る，請求項１に記載の装置。 - 【請求項１９】 多数の存在物を含むウエブについて，
上記ウエブから電磁放射を受け，これに応答してイメー
ジ信号を生ずるイメージングユニツトであつて，上記イ
メージ信号が上記存在物を含んで上記ウエブの像に対応
し，上記ウエブが上記イメージングユニツトに相対的に
運動し，上記ウエブの相対運動の方向に垂直の方向にウ
エブを横切る少なくとも１つの筋を繰り返し走査するよ
うにした上記イメージングユニツト及び上記イメージン
グユニツトから上記イメージング信号を受け，受け取つ
たイメージ信号に対応するデイジタルデータを生じ，デ
イジタルデータを分析し，この分析に基づいて上記ウエ
ブ中の興味ある存在物を見出し，見出した興味ある存在
物のパラメータを求め，そのパラメータメータを示す出
力信号を生ずる処理手段よりなる繊維物質のウエブを監
視するための装置 - 【請求項２０】 更にウエブを形成し，これを上記イメ
ージングユニツトで観測するために提示するための手段
よりなる，請求項１９に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US99911492A | 1992-12-31 | 1992-12-31 | |
| US07/999114 | 1992-12-31 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0727718A true JPH0727718A (ja) | 1995-01-31 |
| JP3613769B2 JP3613769B2 (ja) | 2005-01-26 |
Family
ID=25545921
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35477093A Expired - Fee Related JP3613769B2 (ja) | 1992-12-31 | 1993-12-24 | 連続して繊維物質の薄いウエブを二次元的に監視する装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5533145A (ja) |
| EP (1) | EP0604875B1 (ja) |
| JP (1) | JP3613769B2 (ja) |
| CN (1) | CN1135272C (ja) |
| DE (1) | DE69324557T2 (ja) |
Families Citing this family (61)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19514039B4 (de) * | 1995-04-13 | 2006-01-19 | Trützschler GmbH & Co KG | Vorrichtung an einer Spinnereivorbereitungsmaschine, z. B. Karde, Krempel o. dgl. |
| DE19604499B4 (de) * | 1995-04-13 | 2009-01-08 | TRüTZSCHLER GMBH & CO. KG | Vorrichtung an einer Karde zum Erkennen von störenden Partikeln, insbesondere Trashteilen, Nissen, Schalennissen, Noppen u. dgl. |
| GR960100084A (el) * | 1995-04-13 | 1996-12-31 | Trutzschler Gmbh & Co Kg | Μηχανισμος για ενα λαναρι για τον εντοπισμο οχλουντων σωματιδιων, ιδιαιτερως σωματιδιων προς απορριψη, κομβων, θυλακωτων κομβων, θηλειων και παρομοιων. |
| DE19642736C2 (de) * | 1995-10-16 | 2000-03-16 | Cis Graphik Bildverarbeitung | Datenaufnahmeverfahren zum Erkennen von Fremdteilen in einem schnell bewegten Materialstrom in Form von Baumwollflocken |
| AU8916498A (en) * | 1997-08-27 | 1999-03-16 | Datacube, Inc. | Web inspection system for analysis of moving webs |
| US6088094A (en) * | 1997-12-23 | 2000-07-11 | Zellweger Uster, Inc. | On-line sliver monitor |
| US5991046A (en) * | 1998-07-14 | 1999-11-23 | Valmet Automation Inc. | Method and apparatus for optically measuring properties of a moving web |
| US6040905A (en) * | 1998-08-05 | 2000-03-21 | Zellweger Uster, Inc. | Fiber color grading system |
| US6415045B1 (en) | 1999-05-10 | 2002-07-02 | Wagner Systems Corporation | Papermaking fabric analysis report |
| DE19943079A1 (de) * | 1999-09-09 | 2001-03-15 | Truetzschler Gmbh & Co Kg | Vorrichtung an einer Karde oder Krempel, bei der ein Faserflor aus Textilfasern, z.B. Baumwolle, Chemiefasern u.dgl., gebildet ist |
| US6646264B1 (en) * | 2000-10-30 | 2003-11-11 | Monsanto Technology Llc | Methods and devices for analyzing agricultural products |
| DE10057170A1 (de) * | 2000-11-16 | 2002-05-23 | Rieter Ag Maschf | Ermittlung von Störstellen |
| US7774276B1 (en) * | 2000-11-20 | 2010-08-10 | Ebay Inc. | Method and system for dealing with non-paying bidders related to network-based transactions |
| WO2002042753A1 (en) * | 2000-11-27 | 2002-05-30 | Jensen Denmark A/S | An apparatus and a method of inspecting pieces of cloth |
| DE10060227A1 (de) * | 2000-12-04 | 2002-06-13 | Truetzschler Gmbh & Co Kg | Vorrichtung am Ausgang einer Strecke zur Erfassung des Fasergutes |
| US6842532B2 (en) * | 2001-02-08 | 2005-01-11 | The Hong Kong Polytechnic University | Three dimensional measurement, evaluation and grading system for fabric/textile structure/garment appearance |
| WO2003008950A2 (de) * | 2001-07-12 | 2003-01-30 | Uster Technologies Ag | Verfahren und vorrichtung zur erkennung von fremdstoffen in einem textilen material |
| ITTO20010975A1 (it) * | 2001-10-16 | 2003-04-16 | Bianco Spa | Unita' per la rivelazione di una marcatura su di un tessuto. |
| FI115163B (fi) * | 2001-11-29 | 2005-03-15 | Metso Automation Oy | Spektrierottelevaan mittaukseen perustuva laadun- ja kunnonvalvonta |
| BR0309017B1 (pt) * | 2002-04-04 | 2015-02-18 | Monsanto Technology Llc | Máquina automática para manusear e manipular peças individuais de material particulado |
| EP1367385A1 (de) * | 2002-05-31 | 2003-12-03 | Hubert A. Hergeth | Doppelbelichtung |
| DE10233011B4 (de) * | 2002-07-20 | 2020-03-19 | Trützschler GmbH & Co Kommanditgesellschaft | Vorrichtung an einer Spinnereimaschine zur Erfassung und Beurteilung von Textilfasermaterial |
| US7171283B2 (en) * | 2002-08-07 | 2007-01-30 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Web guiding system and method |
| US6820022B2 (en) * | 2002-08-07 | 2004-11-16 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | System and method for identifying and exploiting quality information associated with a web converting manufacturing process |
| US7130710B2 (en) | 2002-08-07 | 2006-10-31 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | System and method for tracking and exploiting per station information from a multiple repeat manufacturing device |
| US7082347B2 (en) * | 2002-08-07 | 2006-07-25 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Autosetpoint registration control system and method associated with a web converting manufacturing process |
| US6904330B2 (en) * | 2002-08-07 | 2005-06-07 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Manufacturing information and troubleshooting system and method |
| WO2005031367A2 (en) * | 2003-09-23 | 2005-04-07 | Monsanto Technology Llc | High throughput automated seed analysis system |
| DE10347240B4 (de) * | 2003-10-10 | 2015-10-15 | Trützschler GmbH & Co Kommanditgesellschaft | Vorrichtung in der Spinnereivorbereitung zum Erkennen von Fremdteilen aus Kunststoff in Faserflocken |
| US7030400B2 (en) * | 2003-12-30 | 2006-04-18 | Xerox Corporation | Real-time web inspection method and apparatus using combined reflected and transmitted light images |
| US6950717B1 (en) | 2004-03-19 | 2005-09-27 | Sara Lee Corporation | System and method for controlling width and stitch density of a fabric web |
| US7623699B2 (en) * | 2004-04-19 | 2009-11-24 | 3M Innovative Properties Company | Apparatus and method for the automated marking of defects on webs of material |
| US7703238B2 (en) | 2004-08-26 | 2010-04-27 | Monsanto Technology Llc | Methods of seed breeding using high throughput nondestructive seed sampling |
| MX2007002307A (es) * | 2004-08-26 | 2007-04-16 | Monsanto Technology Llc | Prueba automatizada de semillas. |
| US7832143B2 (en) | 2004-08-26 | 2010-11-16 | Monsanto Technology Llc | High throughput methods for sampling seeds |
| US7998669B2 (en) | 2006-03-02 | 2011-08-16 | Monsanto Technology Llc | Automated contamination-free seed sampler and methods of sampling, testing and bulking seeds |
| US8028469B2 (en) | 2006-03-02 | 2011-10-04 | Monsanto Technology Llc | Automated high-throughput seed sampler and methods of sampling, testing and bulking seeds |
| DE102006015269A1 (de) * | 2006-04-01 | 2007-10-25 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Spektrometrisches Messsystem und Verfahren zur Kompensation von Falschlicht |
| CA2656676C (en) | 2006-06-28 | 2016-04-26 | Monsanto Technology Llc | Small object sorting system and method |
| BRPI0811990A2 (pt) | 2007-05-31 | 2014-09-23 | Monsanto Technology Llc | Separador de semente |
| US20090028417A1 (en) * | 2007-07-26 | 2009-01-29 | 3M Innovative Properties Company | Fiducial marking for multi-unit process spatial synchronization |
| US8175739B2 (en) | 2007-07-26 | 2012-05-08 | 3M Innovative Properties Company | Multi-unit process spatial synchronization |
| US8120769B2 (en) * | 2007-08-03 | 2012-02-21 | North Carolina State University | Method and system for fiber properties measurement |
| US20090075325A1 (en) * | 2007-09-19 | 2009-03-19 | Monsanto Technology Llc | Systems and methods for analyzing agricultural products |
| AR069385A1 (es) * | 2007-11-20 | 2010-01-20 | Monsanto Technology Llc | Sistema de obtencion de imagenes automatizadas para usar en la determinacion y/o cuantificacion de la presencia o infestacion de plagas en productos agricolas |
| DE102007055820A1 (de) * | 2007-12-14 | 2009-06-18 | Voith Patent Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung zumindest einer die Eigenschaften einer Oberfläche in einer Materialbahnbehandlungseinrichtung wenigstens mittelbar charaktersierenden Größe und Verfahren zur Optimierung der Betriebsweise einer Materialbahnbehandlungseinrichtung |
| CN101524316B (zh) * | 2009-03-09 | 2011-04-13 | 兰晶 | 快速消除面部粉刺且不留印迹的祛痘乳膏 |
| US9842252B2 (en) * | 2009-05-29 | 2017-12-12 | Monsanto Technology Llc | Systems and methods for use in characterizing agricultural products |
| JP2011080384A (ja) * | 2009-10-05 | 2011-04-21 | Otics Corp | 車両用エンジン |
| US8301410B2 (en) | 2010-05-06 | 2012-10-30 | Uster Technologies Ag | Visual weight compensation |
| US9329162B2 (en) * | 2012-02-08 | 2016-05-03 | Uster Technologies Ag | Auto micronaire |
| DE102012110793B4 (de) * | 2012-11-09 | 2020-09-03 | R.A.M. Realtime Application Measurement Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Abbildung eines bahnförmigen Materials |
| DE102013010466A1 (de) * | 2013-06-24 | 2014-12-24 | Trützschler GmbH & Co. Kommanditgesellschaft | Vorrichtung in der Spinnereivorbereitung, Ginnerei o. dgL zum Erkennen von gleichfarbigen oder gleichhellen Fremdteilen oder Störstellen |
| US11402335B2 (en) * | 2017-09-14 | 2022-08-02 | Uster Technologies Ag | Fiber blend identification and ratio measurement |
| DE102018111648A1 (de) * | 2018-05-15 | 2019-11-21 | Saurer Spinning Solutions Gmbh & Co. Kg | Garnsensor zum optischen Erfassen eines in seiner Längsrichtung bewegten Garns |
| US11231363B2 (en) | 2018-05-31 | 2022-01-25 | Psm International, Inc. | Quality measurement method and quality measurement device for long sheet material |
| JP6639716B2 (ja) * | 2018-06-07 | 2020-02-05 | キヤノン株式会社 | 光学系、それを備える撮像装置及び撮像システム |
| CN109879089A (zh) * | 2019-03-18 | 2019-06-14 | 乳源东阳光机械有限公司 | 一种腐蚀箔表面实时监控预警和除尘的系统及方法 |
| CN110359132B (zh) * | 2019-07-11 | 2020-07-21 | 武汉裕大华纺织服装集团有限公司 | 一种适用于智能纺纱的抓棉新工艺 |
| CN114084737B (zh) * | 2021-11-24 | 2023-03-24 | 沃逸新能源科技（江苏）有限公司 | 一种毛细管能量网组加工用放料装置 |
| CN114277469B (zh) * | 2021-12-21 | 2022-11-29 | 苏州汇川控制技术有限公司 | 卷装端面形状的调节方法、装置和存储介质 |
Family Cites Families (31)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| BE484029A (ja) * | ||||
| GB462424A (en) * | 1936-04-08 | 1937-03-09 | Kwan Goto | Method and apparatus for examining yarn or thread |
| US3604194A (en) * | 1968-01-30 | 1971-09-14 | Toray Industries | Fiber supply method and apparatus in an open-end spinning system utilizing airflow and centrifugal force |
| GB1411254A (en) * | 1972-02-14 | 1975-10-22 | Hassan M A | Nep counter |
| US4124300A (en) * | 1976-02-23 | 1978-11-07 | Greenwood Mills, Inc. | Method for automatic fabric inspection |
| US4170419A (en) * | 1977-02-23 | 1979-10-09 | Camsco, Inc. | Optical web inspection system |
| US4253765A (en) * | 1978-02-22 | 1981-03-03 | Hitachi, Ltd. | Multi-wavelength spectrophotometer |
| US4375919A (en) * | 1979-04-25 | 1983-03-08 | Baylor University | Multiple entrance aperture dispersive optical spectrometer |
| US4561018A (en) * | 1982-11-18 | 1985-12-24 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Apparatus for continuously inspecting the physical characteristics of particulate matter |
| CH660920A5 (de) * | 1983-02-03 | 1987-05-29 | Zellweger Uster Ag | Verfahren und vorrichtung zur automatischen erkennung von fehlern in geweben und aehnlichen textilen flaechengebilden. |
| US4714340A (en) * | 1984-11-23 | 1987-12-22 | Stillwagon W C | Method and apparatus for inspecting high speed converted web |
| US5068799A (en) * | 1985-04-24 | 1991-11-26 | Jarrett Jr Harold M | System and method for detecting flaws in continuous web materials |
| IN165987B (ja) * | 1985-09-30 | 1990-02-17 | Cra Services | |
| US4786817A (en) * | 1986-08-29 | 1988-11-22 | Measurex Corporation | System and method for measurement of traveling webs |
| US4784275A (en) * | 1986-09-15 | 1988-11-15 | Vanzetti Systems Inc. | Verification systems for small objects |
| US4837715A (en) * | 1987-01-27 | 1989-06-06 | Kimberly-Clark Corporation | Method and apparatus for detecting the placement of components on absorbent articles |
| DE3717305C1 (de) * | 1987-05-22 | 1988-07-28 | Mahlo Gmbh & Co Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Schussfaden- oder Maschenreihenlage von Textilbahnen |
| US5012681A (en) * | 1987-08-05 | 1991-05-07 | Lentzen Donald E | Sampling procedures and protective layers for the preservation of particulates obtained by filter collection and impingement operations |
| CA1251863A (en) * | 1988-02-29 | 1989-03-28 | Kevin Mccarthy | Fish sorting machine |
| CH669401A5 (ja) * | 1988-03-02 | 1989-03-15 | Loepfe Ag Geb | |
| DE3819183A1 (de) * | 1988-06-06 | 1989-12-07 | Sick Optik Elektronik Erwin | Verfahren zur fehlererkennung bei laufenden materialbahnen |
| ATE103069T1 (de) * | 1988-10-11 | 1994-04-15 | Rieter Ag Maschf | Erkennung von fremdgut in textilfasern. |
| US5073857A (en) * | 1989-06-01 | 1991-12-17 | Accuron Corporation | Method and apparatus for cell analysis |
| US5130559A (en) * | 1989-08-26 | 1992-07-14 | Trutzschler Gmbh & Co. Kg | Method and apparatus for recognizing particle impurities in textile fiber |
| US5190163A (en) * | 1989-10-03 | 1993-03-02 | Anzai Sogo Kenkyusho Co., Ltd. | Sorting apparatus utilizing transmitted light |
| EP0422616B1 (en) * | 1989-10-11 | 1996-02-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus for and method of fractionating particle in particle-suspended liquid in conformity with the properties thereof |
| JPH03188358A (ja) * | 1989-12-19 | 1991-08-16 | Hajime Sangyo Kk | 物体の表面検査装置 |
| US5044380A (en) * | 1990-02-08 | 1991-09-03 | R. J. Reynolds Tobacco Company | Apparatus and method for studying smoke components |
| US5054930A (en) * | 1990-03-02 | 1991-10-08 | Intec, Corp. | Scanning apparatus |
| US5270787A (en) * | 1990-03-14 | 1993-12-14 | Zellweger Uster Inc. | Electro-optical methods and apparatus for high speed, multivariate measurement of individual entities in fiber or other samples |
| US5087120A (en) * | 1991-01-16 | 1992-02-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Agriculture | System for capturing, pressing and analyzing entrained solids such as cotton |
-
1993
- 1993-12-21 DE DE69324557T patent/DE69324557T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-12-21 EP EP93120586A patent/EP0604875B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-12-24 JP JP35477093A patent/JP3613769B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1993-12-31 CN CNB931214769A patent/CN1135272C/zh not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-10-26 US US08/329,660 patent/US5533145A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3613769B2 (ja) | 2005-01-26 |
| US5533145A (en) | 1996-07-02 |
| CN1135272C (zh) | 2004-01-21 |
| DE69324557D1 (de) | 1999-05-27 |
| DE69324557T2 (de) | 1999-09-23 |
| EP0604875B1 (en) | 1999-04-21 |
| EP0604875A2 (en) | 1994-07-06 |
| CN1092826A (zh) | 1994-09-28 |
| EP0604875A3 (en) | 1995-01-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3613769B2 (ja) | 連続して繊維物質の薄いウエブを二次元的に監視する装置 | |
| US5544090A (en) | Removal of undesirable entities in thin webs of textile materials | |
| US4351437A (en) | Method and apparatus for examining objects | |
| US5675419A (en) | Scattered/transmitted light information system | |
| US6087608A (en) | Method and apparatus for recognizing foreign substances in and separating them from a pneumatically conveyed fiber stream | |
| DE19519861C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren und Abführen von Fremdobjekten | |
| JPH0397923A (ja) | 繊維材料内の障害片を検出する方法及び装置 | |
| JP2010133075A (ja) | 繊維素材を検査および評価するための装置 | |
| JPH10508532A (ja) | 選別装置 | |
| JPH06220771A (ja) | 副蚕糸の処理における人造繊維又は欠陥繊維又はその他の異物を検出する方法と関連の装置 | |
| EP1027594B1 (en) | Fiber quality monitor | |
| CN111801783A (zh) | 用于新颖缺陷发现的扰乱挖掘 | |
| CN106461526A (zh) | 用于确定颗粒混合物的颗粒尺寸和/或颗粒形状的设备 | |
| JP3517292B2 (ja) | バルク材料の光学的選別方法 | |
| US5917591A (en) | Method of recognizing and evaluating foreign substances in a pneumatically conveyed fiber stream | |
| JPS61210929A (ja) | 粉粒体検査装置 | |
| WO2020222159A1 (en) | Automated grains inspection | |
| US5278411A (en) | Residual ink measurement | |
| GB2042717A (en) | Method and Apparatus for Examining Objects | |
| JPH0763702A (ja) | 繊維サンプル中の不純物を測定し分類するための装置と方法 | |
| US5438405A (en) | Device and method for testing optical elements | |
| BE1020796A3 (nl) | Optische inspectie machine en optische sorteermachine. | |
| CH654608A5 (en) | Method for detecting defects in sets of fibres and apparatus for implementing this method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20040416 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20040708 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040629 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20041005 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20041022 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071112 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081112 Year of fee payment: 4 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |