JPH0360381B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、医薬品（細粒、顆流、粉末）、材
料（セラミツクス粉末、プラスチツクチツプ）、
食品（粉末原料、パン粉、フリーズドライ顆粒な
どの粉製品）などの粉粒体の外観検査を行つて不
良品粉粒体、異物等を選別除去する粉粒体検査装
置に関するものである。

従来の技術 この種の粉粒体の外観検査および選別は、従来
ベルトコンベヤ上に粉粒体をシート状に載せ、こ
れを搬送しながら目視により検査し、不良品や異
物等があるとそれを除去することにより行つてい
たが、検査員の個人差、疲労などによつて検査精
度がばらつき、不良品粉粒体、異物等の見逃がし
等のおそれが十分にあり、信頼性が低いものであ
つた。また、検査精度向上のためには、粉粒体の
搬送速度を遅くし、かつ粉粒体をできるかぎり薄
くシート状に拡げる必要があるが、このようにす
ると、処理能率がきわめて悪くなるという問題が
あつた。さらに、人間が介在するため、クローズ
ド化が困難であるという問題もあつた。

このような問題を解消する目的で、撮像素子を
用いて粒体の外観検査を行い、不良品粒体、異物
等を自動的に選別除去する粒体検査装置が提案さ
れている。この粉粒検査装置は、粉体を自然落下
させ、この粒体を表側から反射照明するとともに
裏側から透過照明する公知の顕微鏡等で用いられ
ている照明手法により、良品の反射光量と透過光
量とを等しく設定し、粒体を表側から撮像して画
像処理することにより、良品と明度の異なる不良
品粒体、異物等の存在を検出し、これをエアーガ
ン等によつて選別除去するように構成したもので
ある。

発明が解決しようとする問題点 上記のような粒体検査装置は、粉体を単に自然
落下させる構成であつたため、一定厚みの薄い粒
体層を作ることが困難で、検査精度が安定せず、
また、粒体がある長さ落下すると粒体が自然に広
がるため、粉体通路が不安定となり、また粉粒体
では粉が舞うことにより、エアーガンなどによる
選別除去が困難であつて実用不能となるという問
題点があつた。

この発明は、上記した問題点に鑑みてなされた
もので、一定厚みの薄い粉粒体層を作ることがで
きて検査精度が安定し、かつ不良品粉粒体、異物
等の選別除去を容易かつ確実に行うことができる
粉粒体検査装置を提供することを目的とする。

問題点を解決するための手段 この発明の粉粒体検査装置は、前後に所定間隔
をあけて平行対面するように並設して相互対面部
分で粉粒体落下通路を形成し中心軸を回転軸とし
て回転する一対の透明回転円筒と、前記粉粒体落
下通路の上方に落下口を位置決めして粉粒体をシ
ート状にして搬送する粉粒体搬送手段と、前記粉
粒体落下通路の下方の粉粒体落下経路に設置して
粉粒体を除去する選別装置と、前記粉粒体搬送手
段の落下口と前記粉粒体落下通路の上端との間に
配置して粉粒体を前記粉粒体落下通路へ案内する
落下ガイドと、前記一対の透明回転円筒の外周面
をそれぞれ前記粉粒体落下通路以外の位置で清掃
するクリーナと、前記粉粒体落下通路中の検査エ
リアを前記一対の透明回転円筒の相互対面部の前
方位置から反射照明する反射光源と、前記粉粒体
落下通路中の前記検査エリアを前記一対の透明回
転円筒の相互対面部の後方位置から透過照明する
透過光源と、前記粉粒体落下通路中の検査エリア
を前記一対の透明回転円筒の相互対面部の前方位
置から撮像する撮像装置と、この撮像装置の画像
信号を処理することにより前記粉粒体落下通路中
を落下している粉粒体中の不良品粉粒体、異物等
の存在を検出して不良信号を発生する画像処理手
段と、この画像処理手段からの不良信号に応答し
て前記選別装置を所定時間作動させることにより
不良品粉粒体、異物等が含まれた粉粒体を除去さ
せる選別装置制御手段とを備え、前記反射光源の
光の良品粉粒体による反射光量と前記透過光源か
らの光の前記一対の透明回転円筒のうち後方のも
のの透過光量とを略等しく設定したものである。

作 用 このように、一対の透明回転円筒を所定の間隔
をあけて設置することにより粉粒体落下通路を形
成し、この粉粒体落下通路中を粉粒体が落下する
ようにして粉粒体の拡散を規制したため、一対の
透明回転円筒の間隔を適正に設置することで、検
査エリア付近において一定厚みの薄い粉粒体層を
容易に作ることができ、検査精度を安定させるこ
とができる。また、粉粒体搬送手段の落下口と粉
粒体落下通路の上端との間に落下ガイドを設けた
ため、上記の落下口から一対の透明回転円筒間の
粉粒体落下通路へ至るまでの落下途中における粉
粒体の飛散、舞上がりを防止できる。さらに、粉
粒体を粉粒体落下通路に通すようにしたため、粉
粒体の拡散（飛散、舞上がり等）を防止でき、不
良品粉粒体、異物等を含む粉粒体の選別除去を確
実に行い、かつ良品粉粒体を確実に回収すること
ができる。また、クリーナで透明回転体を清掃し
ているため、透明回転円筒に粉粒体が付着して検
査不能になることもない。

実施例 この発明の一実施例を第１図ないし第１２図に
基づいて説明する。この粉粒体検査装置は、第１
図に示すように、中心軸を水平にし中心軸を回転
軸として回転する２個の透明回転円筒（ガラス、
プラスチツク製等）１，２を前後に所定の間隔を
あけて平行対面するように並設することにより、
検査すべき粉粒体３に対する粉粒体落下通路Ｓを
作り、振動フイーダ（粉粒体載置搬送手段）４の
落下口４ａを粉粒体落下通路Ｓの上方に位置決め
するとともに、エアによる吸引（排出）除去方式
の選別装置５を粉粒体落下通路Ｓの下方の粉粒体
落下経路に設置し、選別装置５の下方に良品回収
容器６を設置し、振動フイーダ４の落下口と２個
の透明回転円筒１，２による粉粒体落下通路Ｓの
上端との間に例えば透明ガラス製（透明でなくて
もよく、またガラス以外の材質でもよい。）の落
下ガイド７を配置するとともに、粉粒体落下通路
Ｓの下端と選別装置５との間に回収ガイド（選別
装置５と一体化してもよい）８を配置している。

振動フイーダ４は、粉粒体貯留槽４ｂの下部開
口に振動トラフ４ｃを一体連接し、粉粒体貯留槽
４ｂの下部開口４ｄに搬送量調節用の仕切板４ｅ
を上下移動可能に設けてあり、これら全体をバイ
ブレータ４ｆによつて振動させることにより、粉
粒体３をシート状に定量搬送し、落下口４ａより
粉粒体３を落下させるようになつている。振動フ
イーダ４、他の搬送手段に比べて、定量性が良
く、詰まりが少く、またクローズド化が可能であ
り、粉粒体通過経路の清掃（ロツトまたは品目切
替時）が容易であり、ローコストであるので、粉
粒体３の搬送手段としては最適なものである。

また、落下ガイド７は、第２図および第３図に
示すように、２枚の透明板材７ａ，７ｂをＶ字形
に配置し、両側に側板７ｃ，７ｄを取付けて、く
さび形に形成され、振動フイーダ４の落下口４ａ
から落下する粉粒体３の拡散（飛散）を規制して
２個の透明回転円筒１，２で形成される粉粒体落
下通路Ｓへ粉粒体３を案内するようになつてい
る。

２個の透明回転円筒１，２は、第４図に示すよ
うにそれぞれ内厚ｔが数mm程度であつて相互対面
部の間隔ｄを数mm程度にしてあり、各々矢印X₁，
X₂で示すように相互対面部での回転方向が下向
き（粉粒体３の落下方向と同じ）になつており、
粉粒体３の落下に影響を与えないようにしてい
る。

選別装置５、粉粒体落下通路５ａとこの粉粒体
落下通路５ａとＴ字形に交わる除去用通路５ｂと
からなり、除去用通路５ｂからエア吸引を行つて
粉粒体３を除去するように構成してあり、通常は
除去用通路５ｂ中に設けたバルブ５ｃが閉じてお
り、吸引除去動作は行わないが、粉粒体３中に不
良品粉粒体や異物等が含まれているときには後述
する処理回路からの選別信号によつてバルブ５ｃ
が開いて粉粒体３を吸引除去することになる。な
お、選別は吸引による除去だけでなく、ブロワに
よる除去、メカニカルな除去も可能である。

そして、振動フイーダ４によつて粉粒体３を薄
いシート状にならして定量搬送し、粉粒体３を落
下ガイド７によつて位置規制（飛散防止、拡散防
止）しながら粉粒体落下通路Ｓへ導き、粉粒体３
が粉粒体落下通路Ｓ中を落下するようにし、粉粒
体３が粉粒体落下通路Ｓを通つている間に検査を
行い、粉粒体落下通路Ｓから出た粉粒体３を回収
ガイド８によつて選別装置５に案内（飛散、拡散
防止）し、上記の検査によつて不良品粉粒体や異
物等が粉粒体３中に含まれておれば、不良品粉粒
体や異物等が含まれている領域の粉粒体３を吸引
除去し、良品粉粒体については選別装置５をその
まま通過させ、選別装置５の下方に設置した良品
回収容器６に蓄積するようになつている。

このように、２個の透明回転円筒１，２を並設
することにより、厚みの小さい粉粒体落下通路Ｓ
を作り、この粉粒体落下通路Ｓ中を粉粒体３が通
過するようにし、この通過中に検査するようにし
ているため、落下する粉粒体３の検査時の位置精
度が良く、また粉粒体３を薄い層にできるため、
検査精度を向上させることができる。また、振動
フイーダ４の落下口４ａから粉粒体落下通路Ｓの
上端まで粉粒体３を案内する落下ガイド７を設け
ているため、粉粒体３の検査前の飛散、舞上がり
などを防止できる。さらに、粉粒体落下通路Ｓの
下端から選別装置５まで回収ガイド８によつて粉
粒体３を案内するようにしているため、粉粒体落
下通路Ｓから出たあと、粉粒体３を選別装置５へ
確実に送り込むことができ、粉粒体３が拡散、飛
散したり舞上がつたりすることがなく、選別装置
５による不良品粉粒体や異物等を含んだ領域の粉
粒体３の除去を容易かつ確実に行うことができ
る。

そして、上記した２個の透明回転円筒１，２の
外周面の粉粒体３の付着による汚れを防止するた
めに、粉粒体落下通路Ｓ以外の位置にクリーナ
９，１０および静電除去装置１１，１２が設けら
れている。

クリーナ１０は、モータ等によつて駆動されて
透明回転円筒１，２の外周面に付着した粉粒体３
を掃き落とす回転ブラシ１０ａと、この回転ブラ
シ１０ａを囲む箱体１０ｂと、この箱体１０ｂ内
に掃き落とされた粉粒体３を吸引除去するエア吸
引部１０ｃとから構成されている。クリーナ９も
クリーナ１０と同じ構成である。

また、静電除去装置１１，１２は、例えばコロ
ナ放電方式で透明回転円筒１，２の外周面に帯電
した静電気を除去し、静電気による粉粒体３の透
明回転円筒１，２の外周面への付着を防止するも
のである。

このように、クリーナ９，１０によつて透明回
転円筒１，２に付着した粉粒体３を常時清掃除去
するとともに、静電除去装置１１，１２によつて
透明回転円筒１，２の外周面に帯電した静電気を
除去して静電気による透明回転円筒１，２への粉
粒体３の付着を防止するようにしているので、粉
粒体３が透明回転円筒１，２の外周面に付着して
検査不能になることはない。しかも清掃、静電気
除去によつて検査が妨げられることはなく、検査
能率が高い。

つぎに、粉粒体３の検査は以下のようにして行
う。２個の透明回転円筒１，２の相互対面部の前
方位置、すなわち透明回転円筒１の内部に反射光
源１３を配置してハーフミラー１４を通して検査
エリアＰに光を照射し、落下中の粉粒体３からの
反射光をハーフミラー１４で反射させ、検査エリ
アＰ内に位置する粉粒体３による反射光をハーフ
ミラー１４でさらに反射させて上方のラインセン
サカメラ１５に入射させている。一方、２個の透
明回転円筒１，２の相互対面部の後方位置、すな
わち透明回転円筒２の内部に透過光源１６を配置
して検査エリアＰに光を照射し、落下中の粉粒体
３の隙間を通つた光をハーフミラー１４で反射さ
せて上方のラインセンサカメラ１５に入射させて
いる。

そして、ラインセンサカメラ１５によつてライ
ン状の検査エリアＰを含む領域を所定時間毎に撮
像するようになし、ラインセンサカメラ１５から
の映像信号をもとにして不良品粉粒体や異物等の
有無を判定するようになつている。

上記の場合において、反射光源１３による良品
粉粒体の反射光量と透過光源１６からの光の透明
回転円筒２の透過光量とを等しく設定している。
具体的には、透明回転円筒２の透過率、透過光源
１６の光量調節などによつて設定する。

なお、透過光源１６は、例えば第５図および第
６図に示すように円筒状のガラス管内に線状のフ
イラメント１７ａを管軸に沿つて配置した線光源
ランプ１７（マルチ光源ランプでもよい）を前面
開口に拡散パネル１８を装着してなるケース１９
に収容してなり、線光源ランプ１７の管軸が透明
回転円筒２の中心軸と平行となるように透明回転
円筒２内に配置され、拡散パネル１８から出た光
によつて検査エリアＰを透過照明するようになつ
ている。

反射光源１３も、透過光源１６と同様の構成で
ある。

このように構成すると、落下している粉粒体３
のすべてが良品粉粒体である場合は、ラインセン
サカメラ１５により撮像された画像は検査エリア
Ｐの全域にわたつて同一明度となり、粉粒体３は
全く見えなくなる。ところが、粉粒体３中に不良
品粉粒体や異物等が混入していると、これらは、
反射光量が良品粉粒体と相違し、すなわち、明度
が良品粉粒体とは異なることになり、このときの
ラインセンサカメラ１５の画像には、不良品粉粒
体や異物等が対応して暗点あるいは輝点が生じる
ことになる。そして、以下で詳述する画像処理装
置２０によつて、画像中の暗点あるいは輝点の有
無を検出し、暗点あるいは輝点があれば、選別装
置制御手段２１，２２によつて選別装置５を一定
時間作動させ、不良品粉粒体や異物等が含まれて
いる領域の粉粒体３を吸引除去するようになつて
いる。

ここで、検査の分解能について説明する。ライ
ンセンサカメラ１５として1000ドツト、2000ドツ
トのものが汎用センサとして入手でき、5000ドツ
ト／ラインのものも販売されており、高精度また
は広い検査幅を対象とした検査（大処理量検査）
が可能であつて、連続検査においてはラインセン
サカメラ１５が有利であり、幅方向の分解能はカ
メラレンズ系の拡大率により決り、本実施例で
は、センサ１ドツト当たり50ミクロンの倍率に設
定している。

振動フイーダ４は、一般に搬送直線速度は遅い
が、安定して粉粒体３を搬送でき、検査速度を高
めるために落下口４ａから厚い層で落下させて
も、落下時の重力加速度ｇと厚い層が落下してい
く確率とが粉粒体３を平滑化するために、検査エ
リアＰでは粉粒体層がかなり薄くなり、不良品粉
粒体や異物等が良品粉粒体の陰に隠れて検出でき
ない確率はほとんどなくなる。

つぎに、ラインセンサカメラ１５の画像をもと
にして不良信号を発生させる画像処理装置２０お
よび選別装置制御手段２１，２２について第８図
ないし第１２図に基づいて詳しく説明する。

ラインセンサカメラ１５からの映像信号を処理
する画像処理装置２０は、第８図に示すように、
映像信号を増幅・フイルタ回路２０Ａに通すこと
で映像信号の増幅および雑音除去を行い、さらに
微分回路２０Ｂに通すことで画像中の特異点に対
応した特徴信号を得、この特徴信号を正負微分レ
ベルコンパレータ２０Ｃでレベル弁別し、一方、
同期信号に基づいてマスク信号発生回路２０Ｄか
ら検査エリアＰを規制するマスク信号を発生さ
せ、このマスク信号でアンドゲート２０Ｅを制御
することにより有効エリア（検査エリアＰに対応
する）内に暗点または輝点があつたときに不良信
号を出力するようになつている。

第９図はラインセンサカメラ１５の各信号波形
を示し、Ａはラインスキヤン信号で、T_Lはライ
ンスキヤンレートである。Ｂは反射照明と透過照
明とがバランスしているときのラインセンサカメ
ラ１５の映像信号で、前半部分は粉粒体３が検査
エリアＰの全面を覆つている場合で、後半部分は
粉粒体３が検査エリアＰ内で分散している場合で
ある。Ｃは透過照明のみのときのラインセンサカ
メラ１５の映像信号で、前半部分は粉粒体３が検
査エリアＰの全面を覆つている場合で、後半部分
は粉粒体３が検査エリアＰ内で分散している場合
である。Ｄは反射照明のみのときのラインセンサ
カメラ１５の映像信号で、前半部分は粉粒体３が
検査エリアＰの全面を覆つている場合で、後半部
分は粉粒体３が検査エリアＰ内で分散している場
合である。

つぎに、第８図の回路の動作について第１０図
ないし第１２図により詳しく説明する。検査エリ
アＰ内に不良品粉粒体、異物等が存在せず、すべ
て良品粉粒体である場合、ラインセンサカメラ１
５の映像信号は第１０図Ａのように平坦な略台形
波形となり、この映像信号を微分した微分信号は
第１０図Ｂに示すように映像信号の前縁と後縁に
対応してパルスが現われ、正負微分レベルコンパ
レータ２０Ｃの出力は第１０図Ｃのように映像信
号の前縁と後縁に対応してパルス（Ｈレベル）が
現われるが、このパルスは第１０図Ｄのマスク信
号のオン期間の外側であるため、アンドゲート２
０Ｅからの不良信号は第１０図ＥのようにＬレベ
ルのままである。

一方、検査エリアＰ内に不良品粉粒体、異物等
が存在する場合、ラインセンサカメラ１５の映像
信号は第１１図Ａに示すように異物等の存在に対
応して凹部（黒いもの）や凸部（光るもの）を有
する波形となり、この映像信号を微分した微分信
号は第１１図Ｂに示すように映像信号の前縁およ
び後縁ならびに凹部Q₁、凸部Q₂に対応してパル
スが現われ、正負レベルコンパレータ２０Ｃの出
力は第１１図Ｃのように映像信号の前縁および後
縁ならびに凹部Q₁、凸部Q₂に対応してパルス
（Ｈレベル）が現われ、映像信号の前縁および後
縁に対応したものは前記と同様にマスク信号のオ
ン期間の外側であるため、アンドゲート２０Ｅか
らの不良信号は第１１図ＥのようにＨレベルとは
ならないが、映像信号の凹部Q₁および凸部Q₂に
対応したものはマスク信号のオン期間内であるた
め、アンドゲート２０Ｅからの不良信号は第１１
図ＥのようにＨレベルとなる。

そして、このアンドゲート２０Ｅから出力され
る第１２図Ａに示すような不良信号（Ｈレベル）
が遅延回路２１を通してリトリガブルワンシヨツ
トマルチバイブレータ２２に加えられ、このリト
リガブルワンシヨツトマルチバイブレータ２２の
出力パルス発生期間中選別装置５が作動して粉粒
体３を吸引除去することになる。上記遅延回路２
１は、不良信号をΔt時間遅延してリトリガブル
ワンシヨツトマルチバイブレータ２２に加えるも
ので、不良品粉粒体、異物等が検査エリアＰ内に
位置して不良信号が発生した後不良品粉粒体、異
物等が選別装置５の除去用通路５ｂまで達するま
での時間および選別装置５の動作遅れ等を考慮し
て遅延時間Δtを決定し、粉粒体３の良品粉粒体
のロスを少なくするようにしている。

また、リトリガブルワンシヨツトマルチバイブ
レータ２２は、不良信号の入力後t₀時間パルスを
出力するもので、不良品粉粒体、異物等の吸引除
去に必要な時間に設定されており、第１２図Ａの
不良信号に対して第１２図Ｂのようなパルスを選
別信号として出力することになる。

この実施例の粉粒体検査装置は、落下する粉粒
体３の検査エリアＰでの位置が２個の透明回転円
筒１，２で規制されるため、位置精度が良く、ま
た薄い層にすることができる。また、落下ガイド
７を設けたことにより、検査エリアＰに粉粒体３
が達するまでの間の粉粒体３の飛散、舞上がりを
防止して確実に検査エリアＰへ案内することがで
きる。さらに、粉粒体３を粉粒体落下通路Ｓに通
したこと、および回転ガイド８によつて粉粒体３
を選別装置５へ案内するようにしたことにより、
検査エリアＰを出た（粉粒体落下通路Ｓを出た）
粉粒体３を飛散、舞上がりを生じさせることなく
確実に選別装置５まで送り込むことができ、不良
品粉粒体、異物等を含んだ粉粒体３を確実に除去
することができる。

また、透明回転円筒１，２を用いていること
で、反射および透過光量の調節を容易に行うこと
ができ（透明回転円筒１，２の透過率を調節する
ことによる）、不良品粉粒体などの光学的抽出が
容易になる。また、ガラス円板１，２を回転さ
せ、粉粒体落下通路Ｓ以外の位置で透明回転円筒
１，２の粉粒体付着面（外周面）をクリーナ９，
１０によつて清掃するとともに、静電除去装置１
１，１２によつて静電気を除去しているため、検
査を中断せずに清掃を行うことができ、また、検
査を妨げないように清掃を行つているので、検査
精度を保証し、かつ能率を高めることができる。

また、反射光源１３、透過光源１６およびハー
フミラー１４を透明回転円筒の内部に配置してい
るので、装置の小型化を達成できる。

なお、上記実施例では、ラインセンサカメラ１
５を用いて１次元画像を一定時間毎に撮像して画
像処理を行つたが、２次元のイメージセンサを用
いて撮像してもよい。

また、上記実施例では、透過光源１６、反射光
源１３およびハーフミラー１４は透明回転円筒
１，２の外側に配置してもよい。

さらに、粉粒体通過経路はできる限りカバー
し、振動フイーダ４、透明回転円筒１，２の部分
の各隙間からの粉粒体（微粉末）３の舞上がりは
吸引ノズルによつて除去し、さらに各部に吸引ノ
ズルを設置して各機器（ラインセンサカメラ１
５、反射光源１３、透過光源１６、ハーフミラー
１４、透明回転円筒１，２の内部等）への飛散を
防止することが望ましい。

また、透明回転円筒１，２は、中心軸を垂直に
した状態で並設し、その間を粉粒体が落下するよ
うにしてもよいが、検査精度、検査速度の点から
中心軸を水平にする方が好ましい。

発明の効果 この発明の粉粒体検査装置は、一対の透明回転
円筒を所定の間隔をあけて設置することにより粉
粒体落下通路を形成し、この粉粒体落下通路中を
粉粒体が落下するようにしたため、一対の透明回
転円筒の間隔を適正に設定することで、検査エリ
アにおいて一定厚みの薄い粉粒体層を容易に作る
ことができ、検査精度を安定させることができ
る。また、粉粒体落下通路および落下ガイドによ
つて粉粒体の位置規制を行つているため、粉粒体
の飛散、舞上がり等を防止し、かつ不良品粉粒
体、異物などを含んだ粉粒体の除去を容易かつ確
実に行うことができる。また、クリーナで透明回
転円筒を清掃しているため、透明回転円筒に粉粒
体が付着して検査不能になることもない。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の粉粒体検査装置
の構成を示す概略図、第２図は落下ガイド付近の
正面図、第３図は第２図の−線断面図、第４
図は透明回転円筒付近の側面図、第５図は透過光
源の正面図、第６図は第５図の−線断面図、
第７図は検査エリアを示す概略図、第８図は第１
図の電気回路部分の詳細のブロツク図、第９図は
ラインセンサカメラの各部の信号波形図、第１０
図、第１１図、第１２図は第８図の各部の信号波
形図である。 １，２……透明回転円筒、３……粉粒体、４…
…振動フイーダ（粉粒体搬送手段）、５……選別
装置、６……良品回収容器、７……落下ガイド、
８……回収ガイド、９，１０……クリーナ、１
１，１２……静電除去装置、１３……反射光源、
１４……ハーフミラー、１５……ラインセンサカ
メラ（撮像装置）、１６……透過光源、２０……
画像処理装置、２１……遅延回路（選別装置制御
手段）、２２……リトリガブルワンシヨツトマル
チバイブレータ（選別装置制御手段）。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 前後に所定間隔をあけて平行対面するように
   並設して相互対面部分で粉粒体落下通路を形成し
   中心軸を回転軸として回転する一対の透明回転円
   筒と、前記粉粒体落下通路の上方に落下口を位置
   決めして粉粒体をシート状にして搬送する粉粒体
   搬送手段と、前記粉粒体落下通路の下方の粉粒体
   落下経路に設置して粉粒体を除去する選別装置
   と、前記粉粒体搬送手段の落下口と前記粉粒体落
   下通路の上端との間に配置して粉粒体を前記粉粒
   体落下通路へ案内する落下ガイドと、前記一対の
   透明回転円筒の外周面をそれぞれ前記粉粒体落下
   通路以外の位置で清掃するクリーナと、前記粉粒
   体落下通路中の検査エリアを前記一対の透明回転
   円筒の相互対面部の前方位置から反射照明する反
   射光源と、前記粉粒体落下通路中の前記検査エリ
   アを前記一対の透明回転円筒の相互対面部の後方
   位置から透過照明する透過光源と、前記粉粒体落
   下通路中の検査エリアを前記一対の透明回転円筒
   の相互対面部の前方位置から撮像する撮像装置
   と、この撮像装置の画像信号を処理することによ
   り前記粉粒体落下通路中を落下している粉粒体中
   の不良品粉粒体、異物等の存在を検出して不良信
   号を発生する画像処理手段と、この画像処理手段
   からの不良信号に応答して前記選別装置を所定時
   間作動させることにより不良品粉粒体、異物等が
   含まれた粉粒体を除去される選別装置制御手段と
   を備え、前記反射光源の光の良品粉粒体による反
   射光量と前記透過光源からの光の前記一対の透明
   回転円筒のうち後方のものの透過光量とを略等し
   く設定した粉粒体検査装置。 ２ 前記一対の透明回転円筒は中心軸が水平とな
   つている特許請求の範囲第１項記載の粉粒体検査
   装置。 ３ 前記反射光源および透過光源がそれぞれ前記
   一対の透明回転円筒の内部に設置されている特許
   請求の範囲第１項記載の粉粒体検査装置。 ４ 粉粒体落下通路から出た粉粒体を前記選別装
   置へ案内する回収ガイドを前記粉粒体落下通路の
   下方の粉粒体落下経路を囲むように設けた特許請
   求の範囲第１項記載の粉粒体検査装置。 ５ 前記一対の透明回転円筒の外周面に帯電した
   静電気を前記粉粒体落下通路以外の位置で除去す
   る静電除去装置を付設した特許請求の範囲第１項
   記載の粉粒体検査装置。