JPH09113455A - 穀粒選別機 - Google Patents

穀粒選別機

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JPH09113455A
JPH09113455A JP7271556A JP27155695A JPH09113455A JP H09113455 A JPH09113455 A JP H09113455A JP 7271556 A JP7271556 A JP 7271556A JP 27155695 A JP27155695 A JP 27155695A JP H09113455 A JPH09113455 A JP H09113455A
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grain
grains
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惣一 山本
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恒義 後藤
Tsunemi Yuki
恒美 結城
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 穀粒が不良品であるか否かの判定を高い精度
で行う。 【解決手段】 基準板に対するビデオ信号の信号レベル
に変動が生じたとき(254)、この変動は光源のシェ
ーディングによる変化ではなく、電圧変動等に起因する
変化が生じていると判断し、変動率δを算出し(25
6)、設定されたしきい値を変動分に応じて一律に高域
又は低域の信号レベルにシフトして(258)、調整す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、穀粒選別機に関
し、より詳しくは、所定の移動経路を移動する穀粒又は
穀粒群を所定の光源からの照射光の下で所定の撮像手段
によって撮像し、撮像された画像の濃度値と所定の基準
濃度値とに基づいて、前記穀粒が不良品であるか否か、
又は前記穀粒群に不良品が含まれるか否かを判定し、該
判定結果に基づいて該穀粒又は穀粒群を選別する穀粒選
別機に関する。なお、穀粒とは、米、麦、大豆などの粒
状の穀物を意味する。
【0002】
【従来の技術】米等の穀粒は、収穫した後の所定の精製
工程において、商品化可能な良品と商品化不可能な不良
品とを選別する必要がある。特に白米については、異物
や茶色・黒色等に変色している米は、不良品として予め
可能な限り除去しておかないと、商品価値を低下させる
虞れがある。また、白米以外の多くの穀粒においても、
傷み等により変色した不良品や異物が混入していると、
商品価値を低下させる虞れがある。
【0003】このため、従来より米等の穀粒を表面の反
射率によって選別する穀粒選別機が提案されている。こ
の穀粒選別機としては、穀粒を選別部へ供給する供給部
と、所定光量の下で穀粒を撮像する撮像部と、撮像され
た画像に基づいて不良品か否かを判定する判定部と、不
良品と判定された穀粒を選別する選別部と、を備えた穀
粒選別機がある。
【0004】この穀粒選別機では、供給部に形成された
所定の溝の中を穀粒が移動し、供給部の終端より穀粒が
所定の経路を落下するようになっている。落下した穀粒
は、落下経路途中の検査位置において撮像部により撮像
され、撮像された画像の濃度と濃度に関する所定のしき
い値とを比較することにより、該穀粒が不良品であるか
否かが判定されていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、撮像部
により撮像された画像の濃度は、CCDイメージセンサ
等の撮像部に設置された機器の経時劣化による誤差・ば
らつき、並びに装置に供給される電圧変動等に起因し
て、変動する虞れがあった。従って、米等の穀粒が不良
品であるか否かの判定を高い精度で行うことは困難であ
った。
【0006】また、判定の基準となるしきい値は一定の
値に設定されているため、電圧変動が生じてもしきい値
自体には変更が起こらない。このため、電圧変動が生じ
るとしきい値を設定し直すことが必要となり、この度に
装置を止めて設定し直すと、時間と手間とが余計にかか
ることになる。
【0007】本発明は上記問題点を解消するために成さ
れたものであり、穀粒が不良品であるか否かの判定を高
い精度で行うことができる穀粒選別機を提供することを
目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的と達成するた
めに、請求項1記載の穀粒選別機は、所定の移動経路を
移動する穀粒又は穀粒群を所定の光源からの照射光の下
で複数の画素からなる撮像手段によって撮像し、撮像さ
れた各画素の濃度値と各画素毎の所定の基準濃度値とに
基づいて、前記穀粒が不良品であるか否か、又は前記穀
粒群に不良品が含まれるか否かを判定し、該判定結果に
基づいて該穀粒又は穀粒群を選別する穀粒選別機であっ
て、前記撮像手段に対して前記穀粒又は穀粒群の撮像範
囲の前後に配置され、予め反射率が定められた基準部材
と、前記前記基準部材の画像の濃度値に変動が生じた場
合に、前記各画素毎の基準濃度値を、該変動の変動率に
基づいて一律に調整する基準濃度値調整手段と、を有す
ることを特徴としている。
【0009】この発明では、撮像手段によって基準部材
が撮像され、基準部材の画像の濃度値に変動が生じた場
合には、一律に変動率に基づいて基準濃度値を調整す
る。基準部材は予め反射率が定められているため、光源
光量のばらつき等が生じても一定の濃度値が測定され、
穀粒の判定時において通常変化することがないが、電圧
の変動等によっては変動する場合が生じる。この電圧変
動は、基準部材の各画素の濃度値のみならず、穀粒の撮
像された各画素の濃度値に対しても同様に影響するた
め、電圧変動時には、穀粒に対する画素の濃度値と基準
部材に対する画素の濃度値とが同率で変動する。
【0010】従って、電圧変動が生じた場合には、判定
の基準となる基準濃度値に対しても、基準板の濃度値に
対して生じた変動の変動率を適用することにより、変動
後の電圧に対応した基準濃度値に調整する。この変動後
の電圧に対応した各画素毎の基準濃度値を用いて穀粒の
選別判定を行うことによって適切な判定を行うことがで
きる。
【0011】また、測定範囲に設定されている全て画素
毎に設定された基準濃度値に対して一律に同一の変動率
を適用することのみで基準濃度値を調整するので、設定
された基準濃度値をそのまま利用した単純な処理によっ
て調整することができ、電圧変動に迅速に対応すること
ができる。
【0012】この結果、電圧変動に伴って基準濃度値を
迅速に調整し、適切な基準濃度値に基づいて穀粒が不良
品であるか否かの判定を行うので、判定精度を向上させ
ることができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下に図面を参照して、本発明に
係る穀粒選別機の実施の形態を説明する。
【0014】図1には、本発明に係る穀粒選別機10の
外観図を示す。穀粒選別機10は筐体11に収容されて
おり、筐体11の上部には選別の対象となる穀粒を格納
し所定量ずつ供給する原料供給ホッパ12の穀粒投入口
12Aが突出している。筐体11の側面には、オペレー
タが後述するしきい値率などの各種パラメータを指定す
るためのダイヤル106B、各種処理の実行開始・停止
等を指示するためのボタン106C、及び指定されたパ
ラメータや処理状況等を表示するディスプレイ106A
を備えた操作部106が設けられている。
【0015】また、筐体11の下部からは、選別により
良品と判定された穀粒が通過する良品用通路26Aと、
不良品と判定された穀粒が通過する不良品用通路26C
と、が斜め下方に向けて配置されており、良品用通路2
6Aの終端部の下方には良品収容箱97が、不良品用通
路26Cの終端部の下方には不良品収容箱98が、それ
ぞれ設置されている。
【0016】図2には、穀粒選別機10の概略構成図を
示す。この穀粒選別機10の最上部には、上記原料供給
ホッパ12と再選別の対象となる穀粒を格納し1粒ずつ
供給する再選用ホッパ14とが設置されている。
【0017】図3に示すように、原料供給ホッパ12と
再選用ホッパ14とは、矢印X方向(図1における紙面
垂直方向)に並んで配置されている。これらの下部は共
に次第に断面開口面積が小さくなるように構成されてお
り、原料供給ホッパ12の最下部には所定量の穀粒を供
給するために適切な径とされた穀粒供給口15が、再選
用ホッパ14の最下部には穀粒を1粒ずつ供給するため
に適切な径とされた穀粒供給口15Aが、それぞれ形成
されている。再選用ホッパ14の上面にはフィルタ14
Aが設けられており、再選用ホッパ14の側面には、再
選別の対象となる穀粒を搬送するための搬送管30(図
2参照)が挿入されている。
【0018】図2に示すように、上記穀粒供給口15の
直下には、穀粒を所定時間間隔で所定量ずつ後述するベ
ルトコンベア18へ供給するためのロータリバルブ16
が設置されている。図4(A)に示すように、ロータリ
バルブ16は回転軸Vの回りに矢印Q方向に回転する構
造とされており、ロータリバルブ16には1次選別用供
給部16Aと2次選別用供給部16Bとが設けられてい
る。
【0019】図4(B)に示すように、1次選別用供給
部16Aは回転軸Vに垂直な断面が正六角形とされてお
り、該正六角形の1辺の長さよりも所定寸法長い羽根3
2が該正六角形の各辺に固着されている。これにより、
図4(B)に矢印Pで示す部位に所定量の穀粒を貯留す
ることが可能であり、ロータリバルブ16が矢印Q方向
に回転することにより、所定のタイミングで前記貯留し
た所定量の穀粒をベルトコンベア18へ供給することが
可能である。
【0020】また、図4(A)に示すように、円筒状と
された2次選別用供給部16Bには回転軸Vに沿って所
定間隔おきに計4つの穀粒供給軌道L1〜L4が設定さ
れており、各穀粒供給軌道Ln(n:1〜4)には図4
(C)に示すように、穀粒1粒が入る程度の寸法とされ
た4つの穴34が略90度間隔で形成されている。これ
により、各々の穴34に穀粒1粒を貯留することが可能
であり、ロータリバルブ16が矢印Q方向に回転するこ
とにより、所定のタイミングで各穀粒供給軌道毎に前記
貯留した穀粒を1粒ずつベルトコンベア18へ供給する
ことが可能である。
【0021】図2に示すように、ロータリバルブ16の
下方には、ベルトコンベア18が設置されている。この
ベルトコンベア18は図5に示すように、ローラ38、
40及びこれらのローラに巻き掛けられたベルト42か
ら構成されており、ローラ38、40の回転軸T1、T
2は平行とされている。また、ベルトコンベア18は、
前述したロータリバルブ16の1次選別用供給部16
A、2次選別用供給部16Bに対応して、1次選別用搬
送路18A、2次選別用搬送路18Bに分類されてい
る。2次選別用搬送路18Bには、ベルト42の表面近
傍に5本の硬質チューブ44が所定間隔で搬送方向に平
行に配置されており、搬送路R1〜R4が形成されてい
る。各搬送路Rn(n:1〜4)は、ロータリバルブ1
6の2次選別用供給部16Bの各穀粒供給軌道Ln
(n:1〜4)に対応した位置に形成されており、各穀
粒供給軌道Lnからの穀粒1粒は、対応する搬送路Rn
上に落下し、該搬送路Rnに沿って搬送されるよう構成
されている。
【0022】硬質チューブ44は支持部材46及び図示
しない吊下げ部材により支持されており、搬送路R1〜
R4に沿って穀粒が搬送されても位置がずれないように
なっている。但し、搬送路R1〜R4に溜まった穀粒の
粕(例えば、米糠等)を除去すべく清掃する際には、硬
質チューブ44を取り外すことが可能となっている。こ
のように、清掃時の便宜を図り、メンテナンス性の向上
が図られている。
【0023】なお、ベルトコンベア18の回転速度は、
ロータリバルブ16の1次選別用供給部16Aから一度
に供給される穀粒(即ち、図4(B)の矢印Pで示す部
位に貯留していた穀粒)がベルトコンベア18に落下し
たときに、1次選別用搬送路18A上に概ね均一に散乱
するように、上記穀粒の供給量に応じて設定されてい
る。
【0024】図2に示すように、上記ベルトコンベア1
8に供給された穀粒90は、1次選別用搬送路18A又
は2次選別用搬送路18Bに沿って搬送された後、各搬
送路の一端から落下することになるが、その落下方向
(図2においてベルトコンベア18の左下方向)には、
落下してきた穀粒の落下方向を変えるためのエジェクタ
24と、選別された穀粒が通る各種の通路が形成された
選別筒26と、が設置されている。また、選別筒26と
ベルトコンベア18との間には、落下中の穀粒を表裏2
面から撮影するフロントカメラ20、リヤカメラ22が
配置されている。
【0025】フロントカメラ20、リヤカメラ22は、
共に512画素を備えたラインセンサカメラであり、ベ
ルトコンベア18から落下する穀粒の落下軌道の幅より
も広い所定の線状領域(後述する図8の撮影対象領域8
4)を撮影する。
【0026】図6に示すように、フロントカメラ20の
視野中心軸W1は略水平とされており、この軸W1に沿
ってレンズ64が設置されている。レンズ64の視野を
覆うようにしてカバー62が設けられており、軸W1の
延長線に対応する位置にスリット63が形成されてい
る。スリット63の先には軸W1に対して対称な位置に
一対の蛍光灯70、72が配置されている。
【0027】一方、リヤカメラ22の視野中心軸W2は
若干下方へ傾いており、この軸W2を中心に、前記フロ
ントカメラ20と同様に、レンズ68、カバー66が配
置され、軸W2の延長線に対応する位置にスリット67
が形成されている。スリット67の先には軸W2に対し
て対称な位置に一対の蛍光灯74、76が配置されてい
る。
【0028】ところで、蛍光灯70は軸W2の延長線上
に、蛍光灯74は軸W1の延長線上に、それぞれ位置し
ており、蛍光灯70からの光がリヤカメラ22に、蛍光
灯74からの光がフロントカメラ20に直接差し込むこ
とを回避するため、蛍光灯70、74の表面には所定色
の比色板78、80がそれぞれ貼布されている。これら
比色板78、80は、本実施形態の選別において、良品
とみなされる白米と同じ反射率とされている。
【0029】また、ベルトコンベア18から落下してき
た穀粒90は、軸W1、W2の交点F近傍に到達した際
に、フロントカメラ20、リヤカメラ22によって撮影
されることになるが、これらのカメラにより撮影される
ときの位置(図6における交点Fに対応する位置)に、
予め基準となる濃度(基準濃度)とされた基準板82が
配置されている。
【0030】図7に示すように、基準板82は、L字状
に折り曲げられ且つ矢印H方向の両端部を除いて切り欠
かれた形状をしている。ここで、切り欠きで残された舌
片82A、82Bが上記図6における交点Fに対応する
位置に配置され、舌片82Cがカバー66に締結されて
いる。即ち、舌片82A、82Bの間の空間83を穀粒
が落下することになり、落下する穀粒と同等の条件で、
基準濃度の基準板82が撮影されることになる。
【0031】なお、図8に示すように、ラインセンサカ
メラであるフロントカメラ20によって撮影する領域と
しての撮影対象領域84は、各基準板82の所定の一部
分及び両基準板82で挟まれた空間領域83における所
定の仮想線上の領域である。このうち、空間領域83は
16個の領域に分割され、分割された各領域を後述する
16枚の板バネ48及び該板バネ48を駆動するための
ソレノイド50(図10(A)参照)に対応させて、穀
粒の選別動作が制御される。なお、高さ方向にみて、板
バネ48は撮影対象領域84よりも少し下方に位置す
る。また、分割された16個の領域の各々に対応する板
バネ48や該板バネ48を駆動するためのソレノイド5
0等の機器群を区別するために、各領域に対応して1チ
ャネル、2チャネル、・・・、16チャネルと称するも
のとし、例えば、3チャネルのソレノイド50というよ
うに呼称する。
【0032】また、図6に示すように、フロントカメラ
20には、CCDイメージセンサ等で構成された撮像素
子20Bと該撮像素子20Bに接続された駆動回路20
Aとが内蔵されており、駆動回路20Aは、撮像素子2
0Bで読み取った映像のビデオ信号、ビデオ信号を取り
込むタイミングを示すトリガ信号、撮影対象領域84の
ビデオ信号取込み(スキャン動作)を開始することを示
すスキャンスタート信号(以下、ST信号と称す)、撮
影対象領域84のビデオ信号取込み(スキャン動作)を
終了することを示すEOS(End Of Scan) 信号等を、選
別制御を行う後述する第1制御部100(図12参照)
へ送出する。一方のリヤカメラ22にも撮像素子22B
及び駆動回路22Aが内蔵されており、駆動回路22A
は選別制御を行う後述する第2制御部100R(図12
参照)に接続されている。
【0033】前述した選別筒26には、図2に示すよう
に、良品と判定された穀粒を搬送するための良品用通路
26Aと、1次選別で再選すべきと判定された穀粒を搬
送するための再選用通路26Bと、2次選別で不良品と
判定された穀粒を搬送するための不良品用通路26C
と、が設けられており、不良品用通路26Cはベルトコ
ンベア18の2次選別用搬送路18Bに対応する部位
(即ち図2において紙面垂直方向にみて手前側の部位)
にのみ形成されている。なお、前述したように、良品用
通路26Aの終端部の下方には、図2の矢印D1方向に
落下した穀粒を収容するための良品収容箱97(図1参
照)が、不良品用通路26Cの終端部の下方には、図2
の矢印D3方向に落下した穀粒を収容するための不良品
収容箱98(図1参照)が、それぞれ設置されている。
【0034】また、前述したエジェクタ24は、選別筒
26の上部における穀粒が落下してくる側に設置されて
いる。図10(A)、(B)に示すように、エジェクタ
24には、L字状とされた16枚の板バネ48と、各板
バネ48に対応するソレノイド50と、が設けられてい
る。各ソレノイド50は、ソレノイドプランジャ52が
該ソレノイド50に対応する板バネ48の一方の面に垂
直となるように、支持部材56に固定されており、板バ
ネ48も、その他方の面において支持部材56に固定さ
れている(図10(B)の矢印J部分)。なお、支持部
材56は所定の取付ベース部材54に締結されている
(図10(B)の矢印K部分)。
【0035】図9に示すように、空間領域83は1次選
別用の落下領域86と2次選別用の落下領域88とに分
類され、落下領域86では一度に多数の穀粒90が落下
するのに対し、落下領域88では一度に1粒の穀粒90
が落下する。一方、前述したフロントカメラ20、リヤ
カメラ22は、所定時間間隔で撮影対象領域84(点線
部)を撮影する。従って、穀粒90が空間領域83を落
下し、撮影対象領域84を通過するときにフロントカメ
ラ20、リヤカメラ22によって撮影されることにな
る。
【0036】ところで、不良品とみなされる米(以下、
単に不良品と称す)は黒ずんでおり、正常な白米に比
べ、濃度が高く光反射率が低いため、このような不良品
を撮影した画像は暗くなり該画像のビデオ信号のレベル
は、白米を撮影した画像のビデオ信号のレベルに比べて
低くなる。
【0037】また、フロントカメラ20、リヤカメラ2
2によって撮影される撮影対象領域84の背景は、蛍光
灯70、74に貼布された比色板78、80となる。こ
れら比色板78、80の反射率は正常な白米と略同一で
あるため、白米を撮影した画像のビデオ信号のレベルは
背景を撮影した画像のビデオ信号のレベルと略同一にな
り、不良品を撮影した画像のビデオ信号のレベルのみが
低下することになる。
【0038】そこで、背景を撮影した画像のビデオ信号
のレベルを基準にしてしきい値を定め、そのしきい値よ
りも信号レベルが低下したか否かによって、1次選別で
は、穀粒群90Dが不良品90Cを含んでいるか否かを
判定し、2次選別では、穀粒90が黒ずんだ不良品90
Bであるか正常な白米90Aであるかを判定する。
【0039】詳細は後述するが、穀粒90を撮影した画
像のビデオ信号のレベルが所定レベルよりも低いと判定
された場合、又は穀粒群90Dを撮影した画像のビデオ
信号のレベルが所定レベルよりも低いと判定された場合
には、これらの画像を撮影した領域に対応するチャネル
のソレノイド50に約36ボルトの電圧が瞬間的に印加
される。この印加により、ソレノイドプランジャ52
が、該ソレノイド50に対応する板バネ48を瞬間的に
叩き、落下中の前記穀粒90又は穀粒群が板バネ48に
よって図10(B)の矢印M方向にはじかれる。これに
より、穀粒90又は穀粒群は選別筒26の再選用通路2
6B又は不良品用通路26Cへと搬送される。
【0040】図2に示すように、再選用通路26Bの終
端部の下方には、矢印D2方向に落下した穀粒を収集
し、収集した穀粒を2次選別のために前記再選用ホッパ
14へ送出するためのインジェクタ28が設置されてい
る。インジェクタ28は、矢印D2方向に落下した穀粒
を収集するための漏斗状の受部28Bと、収集された穀
粒に高圧の空気を吹きつけるための一対の吹付ノズル2
8A(図2には1個のみ記載)と、穀粒を搬送するため
の搬送部28Cと、から構成されている。矢印C1で示
す吹付ノズル28Aの一端側には、図11に示す高圧ブ
ロウ58が設置されており、高圧の空気が吐出される一
対の吐出口60の各々には吹付ノズル28Aが接続され
ている。
【0041】なお、吹付ノズル28Aにおいて空気が吐
出される側の出口、及び搬送部28Cにおける中間部
(矢印C2部分)は、空気の進行方向に垂直な断面の断
面積が小さくなるように形成されている。
【0042】搬送部28Cには、前述した搬送管30の
一端が接続されており、インジェクタ28によって穀粒
は搬送管30を通って、再選用ホッパ14に到達する。
【0043】次に、図12を用いて前述した第1制御部
100の構成を説明する。第1制御部100には、フロ
ントカメラ20に内蔵された駆動回路20Aからのビデ
オ信号、トリガ信号、ST信号、EOS信号をそれぞれ
入力するためのビデオ信号入力端子116、トリガ信号
入力端子118、スタート信号入力端子128、EOS
信号入力端子130が設けられている。
【0044】ビデオ信号入力端子116、トリガ信号入
力端子118はサンプルホールド回路108、110に
接続されており、そのうちトリガ信号入力端子118は
カウンタ122にも接続されている。
【0045】カウンタ122は、トリガ信号入力端子1
18から送出される各画素のビデオ信号の取込みタイミ
ングを示すトリガ信号を受信する度に、カウント値Nを
1つずつカウントアップし、そのカウント値Nを抽出タ
イミング回路114へ送出する。抽出タイミング回路1
14はカウンタ122からのカウント値NとCPU10
2から要求される画素番号Mとを比較し、これらが一致
した場合に、スイッチ112をオンする。このタイミン
グで、サンプルホールド回路108は画素番号Mの画素
で撮影された画像のビデオ信号をCPU102へ送出す
る。
【0046】このようにして、CPU102は、512
画素の各々で撮影された画像のビデオ信号を順に受信す
る。
【0047】CPU102は前記受信したビデオ信号に
おいて、信号レベルの立ち上がり部(図14(A)の矢
印Z1部分)及び立ち下がり部(図14(A)の矢印Z
2部分)を検出することにより、空間領域83の開始点
S1及び終結点S2を検知し、開始点S1、終結点S2
で挟まれる空間領域83を16分割し、各分割領域(即
ち、各チャネル)に所定数(一例として20ビット)の
画素を割り当てる。そして、各チャネルへの画素の割当
て情報をS−RAM(Static RAM) 134に記憶する。
【0048】CPU102は後述するしきい値設定処理
において、前記受信したビデオ信号に基づいて各画素毎
にしきい値データを算出し、各画素毎のしきい値データ
をS−RAM124へ記憶する。
【0049】なお、後述するように、基準板82に対す
るビデオ信号の信号レベルに変動が生じたとき、この変
動は光源のシェーディングによる変化ではなく、電圧変
動等に起因する変化が生じていると判断し、設定された
しきい値を、変動分に応じて一律に高域又は低域の信号
レベルにシフトして調整するようにしている。この基準
板82の信号レベルの変動に応じたしきい値の調整は、
運転中、常に実施されており、シェーディング以外の信
号変動に対処することができるようになっている。
【0050】穀粒選別時には、S−RAM124から読
み出されたしきい値データをD/AコンバータでD/A
変換したアナログしきい値データと、ビデオ信号入力端
子116からのビデオ信号と、がコンパレータ120に
よって比較される。
【0051】コンパレータ120は、所定の画素からの
ビデオ信号レベルがアナログしきい値データのレベルよ
りも低い場合に、所定の検出信号をマルチプレクサ13
6へ送出し、マルチプレクサ136は、S−RAM13
4に記憶された各チャネルへの画素の割当て情報に基づ
いて、前記所定の画素に対応するチャネルの出力端子1
37へ前記検出信号を出力する。
【0052】なお、スタート信号入力端子128、EO
S信号入力端子130からの信号に基づくリセット回路
132の動作に基づいて、カウンタ122のカウント値
は1スキャン終了後にリセットされる。
【0053】また、CPU102には、I/Oコントロ
ーラ104を介して操作部106のディスプレイ106
A、ボタン106C及びダイヤル106Bが接続されて
おり、例えば、ダイヤル106Bによってオペレータが
指定したしきい値率等のパラメータ情報はCPU102
へ送信される。
【0054】一方、リヤカメラ22を制御する第2制御
部100Rの構成は、上記第1制御部100の構成と同
様である。なお、上記操作部106は、第1制御部10
0、第2制御部100Rで共有化されており、第2制御
部100Rにも接続されている。即ち、オペレータは操
作部106を操作することにより、第1制御部100又
は第2制御部100R、或いは両方に各種処理の指示や
パラメータ等の指定を行うことができる。
【0055】図13に示すように、各チャネル毎に設け
られた第1制御部100からの出力端子137及び第2
制御部100Rからの出力端子146は、ソレノイド5
0を駆動するためのソレノイド駆動部144に接続され
ている。ソレノイド駆動部144は、論理和演算及びソ
レノイド駆動のタイミング信号送出を行うソレノイド駆
動回路138と、絶縁用のフォトカプラ140と、約1
2ボルトの電圧をソレノイド駆動時に3倍に増幅するた
めの3倍圧回路142と、から構成され、これらソレノ
イド駆動回路138、フォトカプラ140、3倍圧回路
142は各チャネル毎に設けられている。各チャネルの
出力端子137及び出力端子146は、該チャネル用の
ソレノイド駆動回路138に接続されており、各チャネ
ル毎に設けられたソレノイド駆動回路138、フォトカ
プラ140、3倍圧回路142、ソレノイド50が順に
接続されている。
【0056】なお、図18(A)に示すように、3倍圧
回路142は、36ボルトの電圧を印加できるように設
定されたコンデンサ148を備えている。この3倍圧回
路142では、フォトカプラ140がオンされた場合に
矢印U1方向に電流が流れてトランジスタ154がオン
される。これにより、端子156〜アース158間の回
路が閉じられて、コンデンサ148に蓄積された電荷に
より矢印U2方向に電流が流れ、ソレノイド50に36
ボルトの電圧が印加されるように構成されている。
【0057】なお、コンデンサ150、152の設定に
よって、上記のようにしてソレノイド50に印加される
電圧は、図18(B)に示す時間−電圧特性のように約
20ミリ秒で定常時電圧の12ボルトに降圧されるよう
に構成されている。このように構成することにより、ソ
レノイド50に高電圧(36ボルト)が長時間印加され
該ソレノイド50が劣化・破損することを回避すること
ができる。
【0058】次に、本実施形態の作用を説明する。穀粒
選別機10において穀粒選別を行うためには、穀粒選別
機10の初期導入時又は定められた時間毎に、初期設定
のためのティーチング処理を行う。
【0059】以下、このティーチング処理について説明
する。オペレータが所定のボタン操作によって又は定め
られた時間毎に自動的に、ティーチング処理の開始を指
示すると、まずフロントカメラ20、リヤカメラ22に
よって撮影対象領域84が撮影され、撮影した画像のビ
デオ信号が駆動回路20A、22Aを介して、それぞれ
第1制御部100、第2制御部100Rへ送出される。
また、駆動回路20A、22Aからは、上記ビデオ信号
以外に、撮影対象領域84に対する1回のスキャンの開
始時にはST信号がスタート信号入力端子128へ、1
回のスキャンの終了時にはEOS信号がEOS信号入力
端子130へ、各制御部でビデオ信号を取り込むべきタ
イミングではトリガ信号がトリガ信号入力端子118
へ、それぞれ送出される。
【0060】これらの信号を受信した各制御部では、図
16に示すティーチング処理が実行される。以下、第1
制御部100におけるティーチング処理を例にして説明
する。
【0061】撮影対象領域84に対するスキャンが開始
され、スタート信号入力端子128を介してST信号が
受信されると、カウンタ122のカウント値Nがリセッ
トされる。以後、スキャンの進行と共に、ビデオ信号入
力端子116には継続的にビデオ信号が入力され、サン
プルホールド回路108に保持される。
【0062】そして、ビデオ信号を取り込むべきタイミ
ングとなりトリガ信号入力端子118を介してトリガ信
号が受信されると、カウンタ122のカウント値Nが増
分1でインクリメントされ、カウント値Nは「1」とな
る。
【0063】一方、CPU102は図16のステップ2
00において、開始当初から1番目の画素のビデオ信号
を取り込みたい旨の要求信号を抽出タイミング信号11
4へ送出している。抽出タイミング信号114では、C
PU102から要求された画素番号Mとカウンタ122
のカウント値Nとを比較しており、これらが一致した場
合にスイッチ112をオンにする。
【0064】スイッチ112がオンされると、サンプル
ホールド回路108に保持されたビデオ信号がCPU1
02へ送出される。このようにして、CPU102は、
スキャンにおける1番目の画素のビデオ信号を取り込む
ことができる。
【0065】その後、2番目以降の画素のビデオ信号
も、上記と同様の手順でCPU102に取り込まれ、最
終的に512画素全部のビデオ信号がCPU102に取
り込まれる。
【0066】各画素で撮影された撮影対象領域84にお
ける位置と、上記のようにして取り込んだビデオ信号の
信号レベルとは、図14(A)に示す線図のような特性
を示す。この図14(A)の線図において、信号レベル
が急激に変動している矢印Z1部分は、図8において基
準板82と空間領域83との境界部S1に対応してお
り、矢印Z2部分は図8における境界部S2に対応して
いる。
【0067】そこで、図16のステップ202では、図
14(A)の線図における矢印Z1部分及び矢印Z2部
分を信号レベルに基づいて特定することにより、境界部
S1、S2を特定し、これらの間隔、即ち空間領域83
の幅(以下、実検出幅Lと称す)を測定する。
【0068】次のステップ204では、実検出幅Lを1
6分割し、分割した各領域、即ち各チャネルに対して所
定数(一例として20個)の画素を割り当てる。後述す
る穀粒選別処理では、このチャネル単位でソレノイド5
0の駆動などの制御が行われる。さらに、次のステップ
206では、計16チャネルの各々への画素の割当て結
果をS−RAM134に記憶する。
【0069】ところで、図14(A)の線図から明らか
なように、背景の濃度(即ち、白米と同じ反射率の比色
板78、80を撮影した画像の濃度)を示す境界部S1
〜S2間は、本来均一濃度であるはずだが、蛍光灯70
〜76のシェーディングによって信号レベルにばらつき
が生じている。
【0070】そこで、次のステップ208では、上記取
り込んだビデオ信号の信号レベル(図14(A)の線図
における縦軸)より、その最大値Lmax を特定する。次
のステップ210では、ビデオ信号の信号レベルの最大
値Lmax に対する、各画素で検出された信号レベルの比
率(即ちシェーディングの度合を示すシェーディング係
数)αを各画素について算出する。
【0071】次のステップ212では、基準板82の検
出信号レベルLSTに対する上記最大値Lmax の比較割合
βを算出する。基準板82は、落下する穀粒の撮影位置
と同等の位置に配置されているため、落下する穀粒と同
等の光学的条件で撮影される。よって、比較割合βは、
1つの穀粒選別機10では常に一定であり、後刻この穀
粒選別機10で穀粒選別処理を行う際に、蛍光灯や各カ
メラに誤差・ばらつきが生じても比較割合βは変化しな
いものとみなすことができる。
【0072】次のステップ214では、上記算出したシ
ェーディング係数α、比較割合β、信号レベルの最大値
max 、及び基準板82の検出信号レベルLSTをS−R
AM124に記憶する。
【0073】以上のティーチング処理は、第1制御部1
00と同様に、第2制御部100Rにおいても、リヤカ
メラ22からのビデオ信号等に基づいて実行される。
【0074】次に、穀粒の選別を行う際の処理について
説明する。穀粒の選別を行う際の処理は、穀粒選別の基
準となる各画素毎のしきい値を設定するためのしきい値
設定処理と、設定されたしきい値に基づいて穀粒を選別
する穀粒選別処理と、に大別される。また、穀粒選別処
理中においては、前述したように基準板82の検出信号
レベルに基づいて、電圧変動に対処するためのしきい値
調整処理が行われる。以下、これらの処理を順に説明す
る。
【0075】オペレータがダイヤル105により所望の
しきい値率γを指定した後、ボタン操作でしきい値設定
処理の開始を指示すると、しきい値設定処理が実行開始
される。
【0076】しきい値設定処理では、最初に上記ティー
チング処理と同様に、フロントカメラ20、リヤカメラ
22によって撮影対象領域84が撮影され、撮影した画
像のビデオ信号が駆動回路20A、22Aを介して、そ
れぞれ第1制御部100、第2制御部100Rへ送出さ
れる。
【0077】第1制御部100、第2制御部100Rで
は、上記ティーチング処理と同様に、トリガ信号に基づ
く適切な取込みタイミングでビデオ信号がCPU102
へ取り込まれる。
【0078】そして、CPU102によって、図17に
示すしきい値設定処理の制御ルーチンが実行開始され
る。まず、ステップ232では、前記取り込んだビデオ
信号に基づいて、基準板82の検出信号レベルLST' を
測定する。
【0079】次のステップ234では、今回の基準板8
2の検出信号レベルLST' と、前記ティーチング処理で
得られた基準板82の検出信号レベルLSTに対する信号
レベル最大値Lmax の比較割合βとから、信号レベル最
大値Lmax の補正値Lmax ’、即ち蛍光灯や各カメラの
誤差・ばらつき及び光源の電圧変動による影響分を補正
した補正値Lmax ’を算出する。
【0080】そして、次のステップ236では、前記算
出された補正値Lmax ’に、前記ティーチング処理で得
られた各画素に関するシェーディング係数αを乗算す
る。これにより、図14(B)の特性曲線172が得ら
れる。さらに、この乗算結果に、オペレータにより指定
されたしきい値率γを乗算することにより、各画素につ
いてのしきい値LTH、即ちシェーディングによる影響分
を補正したしきい値LTH(図14(B)の特性曲線17
4)を算出し、S−RAM124に記憶する。
【0081】以上のようにして、蛍光灯や各カメラの誤
差・ばらつき及び光源の電圧変動による影響分、並びに
シェーディングによる影響分を補正した各画素について
のしきい値LTHが設定され、しきい値設定処理を終了す
る。
【0082】なお、しきい値LTHを設定するためのしき
い値率γが毎回ほぼ同じであり、且つ蛍光灯や各カメラ
の誤差・ばらつき及び光源の電圧変動による影響分が許
容範囲内である場合には、上記しきい値設定処理をティ
ーチング処理実行時に合わせて実行し、各画素毎のしき
い値LTHを算出し記憶するようにしても良い。
【0083】また、シェーディングの変動が大きい場合
には、各画素についてのシェーディング係数αを定期的
且つ頻繁に算出し、その都度S−RAM124に記憶さ
れた前回のシェーディング係数αを更新することが望ま
しい。
【0084】次に、穀粒選別処理を説明する。まず、オ
ペレータ又は所定の穀粒投入機によって、原料供給ホッ
パ12に選別対象となる穀粒が投入される。投入された
穀粒は穀粒供給口15から落下してロータリバルブ16
の1次選別用供給部16Aの羽根32の間(図4(B)
の矢印P部分)に貯留する。
【0085】一方、ロータリバルブ16は所定角速度で
矢印Q方向に回転しており、図4(B)に示す位置から
ロータリバルブ16が所定角度以上回転すると、前記貯
留された穀粒はベルトコンベア18の1次選別用搬送路
18Aに供給される。このとき、ロータリバルブ16の
回転角速度とベルトコンベア18の搬送速度とは予め適
切に設定されているため、穀粒は略均一に散乱する。
【0086】そして、1次選別用搬送路18Aに供給さ
れた穀粒は所定時間後、ベルトコンベア18の一端側か
ら落下し、その落下の途中、図6の矢印Fで示す位置に
対応する撮影対象領域84を通過する際に、フロントカ
メラ20、リヤカメラ22によって撮影される。
【0087】ここで1次選別用搬送路18Aから落下す
る穀粒90を対象として、以下のような第1次選別処理
が行われる。
【0088】フロントカメラ20、リヤカメラ22によ
って撮影された穀粒90を含む画像に対するビデオ信号
は、それぞれ駆動回路20A、22Aを介して、第1制
御部100、第2制御部100Rへ送出される。
【0089】第1制御部100の動作と第2制御部10
0Rの動作とは同様であるため、以下、第1制御部10
0における処理を例にして説明する。撮影された穀粒9
0を含む画像に対するビデオ信号は、ビデオ信号入力端
子116を介してサンプルホールド回路110に入力さ
れ一時保持される。駆動回路20Aからのトリガ信号は
トリガ信号入力端子118を介してサンプルホールド回
路110及びカウンタ122に送出される。なお、カウ
ンタ122におけるカウント値Nは、駆動回路20Aか
らST信号を受信したリセット回路132の動作によ
り、最初リセットされている。
【0090】トリガ信号がカウンタ122により受信さ
れると、カウント値Nを増分「1」でインクリメント
し、該カウント値Nを示す信号がS−RAM124に送
出される。そして、S−RAM124から該カウント値
Nに対応する画素に関するしきい値データがD/Aコン
バータ126でD/A変換された後、コンパレータ12
0へ送出される。
【0091】一方、トリガ信号がサンプルホールド回路
110により受信されると、サンプルホールド回路11
0は、保持していたビデオ信号をコンパレータ120へ
送出する。
【0092】これにより、コンパレータ120には、カ
ウント値Nに対応する画素に関するアナログしきい値デ
ータと該画素で検出されたビデオ信号とが、同期をとっ
て送出される。ここでコンパレータ120は、受信した
ビデオ信号とアナログしきい値データとを比較演算す
る。ここで例えば、図15に示す信号レベル特性におい
て、矢印G1部分、矢印G2部分のように、ビデオ信号
の信号レベルがしきい値174よりも低い場合には、所
定の検出信号をマルチプレクサ136へ送出する。な
お、ビデオ信号の信号レベルの方が高い場合には、上記
検出信号は送出されない。
【0093】一方、S−RAM134には、上記S−R
AM124に送出されたカウント値Nを示す信号と同じ
信号が送出されており、該カウント値Nに対応する画素
が属するチャネル情報が、マルチプレクサ136へ送出
される。
【0094】マルチプレクサ136は、所定の検出信号
をコンパレータ120から受信した場合にのみ、S−R
AM134からの上記チャネル情報に基づいて、該チャ
ネルに対応する出力端子137に前記検出信号を送出す
る。以上のようにして、フロントカメラ20で撮影した
画像のビデオ信号に基づいて、前記設定したしきい値よ
りもビデオ信号レベルが低い画素を検出することによ
り、不良品を検出することできる。また、該画素の属す
るチャネル、即ち不良品が落下する領域に対応するチャ
ネルを特定することができる。
【0095】なお、第2制御部100Rにおいても、上
記と同様に、不良品が落下する領域に対応するチャネル
を特定することができる。また、上記にはカウント値N
が「1」である場合について説明したが、カウンタ12
2はトリガ信号を受信する度にカウント値Nをインクリ
メントし、以後インクリメントされたカウント値Nに対
応する画素のビデオ信号に対して、上記のような処理が
次々と実行されていく。
【0096】次にしきい値調整処理について説明する。
穀粒選別処理中では、常時、しきい値調整処理が実行さ
れるようになっている。電圧変動が生じると、例えば図
19に示されるように信号レベルが変動し、特性曲線1
82が特性曲線184となることがある。この場合、特
性曲線182で示される信号レベルのときに上記しきい
値設定処理により設定されたしきい値(特性曲線182
Sとして示す)に基づいて穀粒を正確に選別することが
できなくなる。しきい値調整処理を行うことによって、
これを回避し、穀粒選別処理中での電圧変動に対応して
適切に穀粒を選別することができるようになっている。
【0097】穀粒選別処理が実行され、各ビデオ信号の
信号レベルが第1制御部100及び第2制御部100R
に連続的に入力されると、図20のステップ252にお
いて、最新の基準板82の検出信号レベルLSTN を読み
出し、ステップ254において、前回の基準板82の検
出信号レベルLSTO と比較する。前回の基準板82の検
出信号レベルLSTO は、前回、最新の基準板82の検出
信号レベルLSTN として読み出された信号レベルであ
り、最初の処理においては、しきい値設定時の基準板8
2の検出信号レベルLST’となる。ここで基準板82の
前回の検出信号レベルLSTO と最新の検出信号レベルL
STN とを比較することにより、検出信号レベルに変動が
あったか否かが判断されることになる。最新の基準板8
2の検出信号レベルLSTN が前回の基準板82の検出信
号レベルLSTO と一致している場合には、そのままステ
ップ260に移行する。
【0098】一方、最新の検出信号レベルLSTN が前回
の検出信号レベルLSTO と異なる検出信号レベルである
場合には、ステップ256に移行する。即ち、電圧変動
が生じていると判定して、しきい値の調整を行う。
【0099】ステップ256では、基準板82の最新の
検出信号レベルLSTN と前回の信号レベルLSTO とか
ら、変動率δを演算し求める。変動率δはLSTN /L
STO によって求めることができる。
【0100】変動率δが得られると、ステップ258に
おいて、変動率δを、全画素に設定されているしきい値
に対して乗算するように指示され、これにより、穀粒を
選別するために設定されたしきい値が一律に変更されて
調整される。この後、調整後のしきい値(図19におけ
る特性曲線184Sを参照)に基づいて穀粒が選別され
る。
【0101】変動率δを用いた調整が行われると、ステ
ップ260において、最新の検出信号レベルLSTN を前
回の検出信号レベルLSTO として設定し、ルーチンを終
了する。
【0102】従って、常時、基準板82の検出信号レベ
ルを前回のレベルと比較・監視することによって、電圧
変動が生じた場合にはこれを迅速に検出することができ
る。また、電圧変動が生じた場合には、全画素に対して
一律に変動率δに基づいた調整を行うので、設定された
しきい値を再設定することなく迅速に対応することがで
き、調整後のしきい値に基づいて高い精度で穀粒を選別
することができる。
【0103】次に、上記の第1制御部100、第2制御
部100Rから検出信号を受信するソレノイド駆動部1
44における動作について説明する。
【0104】図13に示す、各チャネルに対応して設け
られたソレノイド駆動回路138では、対応するチャネ
ルの出力端子137、146における受信信号に対し、
論理和演算を行っている。従って、第1制御部100又
は第2制御部100Rの少なくとも一方で、当該チャネ
ルに対応する領域を、不良品を含む穀粒群が通過したと
判定された場合には、ソレノイド駆動回路138では、
論理和演算により「1」が立ち、ソレノイド駆動のタイ
ミング信号が送出される。
【0105】このタイミング信号が送出されると、図1
8(A)において、フォトカプラ140がオンされ、矢
印U1方向に電流が流れてトランジスタ154がオンさ
れる。これにより、端子156〜アース158間の回路
が閉じられて、コンデンサ148に蓄積された電荷によ
り矢印U2方向に電流が流れ、ソレノイド50に36ボ
ルトの電圧が瞬間的に印加される(図18(B)参
照)。
【0106】これにより、不良品を含む穀粒群が通過し
たと判定されたチャネルのソレノイドプランジャ52が
飛び出し、同チャネルの板バネ48が図10(B)の矢
印M方向にはじかれる。ここで、はじかれた板バネ48
は、同チャネルに対応する領域を落下する穀粒群をはじ
くことになり、この穀粒群は選別筒26の再選用通路2
6Bへと落下していく。
【0107】一方、第1制御部100、第2制御部10
0Rの何れにおいても、しきい値よりもビデオ信号レベ
ルが低い画素が検出されなかった場合には、落下する穀
粒群には不良品は含まれていないと判断することができ
るので、ソレノイド駆動部144には検出信号が送出さ
れず、上記のように板バネ48がはじかれることが無
い。従って、落下する穀粒群は、板バネ48によっては
じかれることは無く、選別筒26の良品用通路26Aへ
と落下していき、良品収容箱97に貯留する。
【0108】次に、上記の1次選別処理によって、再選
と判定された穀粒(以下、再選対象穀粒と称す)を対象
とした2次選別処理について説明する。
【0109】板バネ48ではじかれ再選用通路26Bを
落下した再選対象穀粒は、インジェクタ28の受部28
Bに貯留する。受部28Bの下部には、高圧ブロウ58
からの高圧の空気が吐出口60、吹付ノズル28Aを介
して吹き付けられている。
【0110】従って、受部28Bの下部に貯留した再選
対象穀粒は、高圧の空気によって矢印F1方向に吹き飛
ばされ、搬送部28C、搬送管30を介して再選用ホッ
パ14へと搬送される。なお、吹付ノズル28Aの先端
部及び搬送部28Cの中央部は、断面開口面積が小さく
なるよう成形されているので、この部分を通過した空気
の移動速度は増幅されることになり、再選対象穀粒を搬
送する能力が増強される。
【0111】再選用ホッパ14へと搬送された再選対象
穀粒は、ロータリバルブ16の2次選別用供給部16B
の各列に対応した穀粒供給口15Aから1粒ずつ落下し
て、当該2次選別用供給部16Bの穴34に入る。
【0112】一方、ロータリバルブ16は所定角速度で
矢印Q方向に回転しており、図4(C)に示す位置から
ロータリバルブ16が所定角度以上回転すると、穴34
に入った再選対象穀粒はベルトコンベア18の2次選別
用搬送路18Bの対応する搬送路Rn(n:1〜4)に
供給される。
【0113】そして、2次選別用搬送路18Bに供給さ
れた再選対象穀粒は所定時間後、ベルトコンベア18の
一端側から落下し、その落下の途中、撮影対象領域84
を通過する際に、フロントカメラ20、リヤカメラ22
によって撮影される。
【0114】ここで2次選別用搬送路18Bから落下す
る再選対象穀粒を対象として、第2次選別処理が行われ
る。この第2次選別処理は、対象が1粒の再選対象穀粒
となるか一群の穀粒群となるかの相違だけで、前述した
第1次選別処理とほぼ同様の処理が行われる。
【0115】即ち、第1制御部100において、フロン
トカメラ20で撮影された撮影対象領域84を通過する
際の再選対象穀粒の画像のビデオ信号に基づいて、前記
設定したしきい値よりもビデオ信号レベルが低いか否か
を判定し、しきい値よりもビデオ信号レベルが低い場
合、即ち再選対象穀粒が不良品である場合には、該再選
対象穀粒の落下軌道に対応するチャネルの出力端子13
7に所定の検出信号を送出する。また、第2制御部10
0Rにおいても、リヤカメラ22で撮影された撮影対象
領域84を通過する際の再選対象穀粒の画像のビデオ信
号に基づいて、同様の処理を行う。
【0116】そして、ソレノイド駆動部144におい
て、各チャネルで第1制御部100又は第2制御部10
0Rの少なくとも一方から検出信号を受信した場合に、
ソレノイド駆動回路138からソレノイド駆動のタイミ
ング信号が送出され、36ボルトの電圧が、該チャネル
に対応するソレノイド50に瞬間的に印加される。
【0117】これにより、不良品であると判断された再
選対象穀粒の落下軌道に対応するチャネルのソレノイド
プランジャ52が飛び出し、板バネ48が図10(B)
の矢印M方向にはじかれる。はじかれた板バネ48は、
不良品と判断された再選対象穀粒をはじき、該再選対象
穀粒は選別筒26の不良品用通路26Cへと落下してい
き、不良品収容箱98に貯留する。
【0118】一方、第1制御部100、第2制御部10
0Rの何れからも、検出信号が受信されなかった場合に
は、再選対象穀粒は良品であると判断され、板バネ48
によってはじかれることは無く、選別筒26の良品用通
路26Aへと落下していき、良品収容箱97に貯留す
る。
【0119】以上説明した実施形態によれば、しきい値
設定処理において、蛍光灯や各カメラの誤差・ばらつき
及び光源の電圧変動による影響分、並びにシェーディン
グによる影響分を補正したしきい値LTHが各画素毎に設
定されるので、穀粒選別処理をきわめて高い精度で行う
ことができる。
【0120】また、本実施形態によれば、従来のように
高圧空気によって不良の穀粒を選別するのではなく、ソ
レノイドを電気的に駆動し板バネをはじくことにより、
不良の穀粒を選別するようにしたので、高圧空気を供給
するための高価で収納スペースを要するコンプレッサを
穀粒選別機に備える必要は無くなった。よって、穀粒選
別機の低価格化、小型化を図ることができる。
【0121】また、本実施形態では、撮影領域の背景に
配置された蛍光灯の表面に比色板を貼布したため、蛍光
灯からの光が直接カメラに入射し撮像素子の劣化が進行
することが防止されている。
【0122】なお、本実施形態の穀粒選別処理では、不
良品を含む穀粒群を選別する1次選別処理と、不良品と
判定された穀粒を1粒ずつ選別する2次選別処理と、の
2ステップを行っていたが、選別対象の穀粒が大量にあ
る場合等には、選別処理の処理効率を向上させるため
に、不良品を含む穀粒群を選別する処理を複数段階にし
て合計3ステップ以上としても良い。
【0123】また、本実施形態では、穀粒選別のための
しきい値を各画素毎に設定していたが、チャネル単位で
しきい値を設定して穀粒選別処理を行っても良い。
【0124】本実施の形態では、しきい値調整処理を、
前回の基準板82の検出信号レベルLSTO に対する比較
に基づいて行ったが、しきい値設定時の基準板82の検
出信号レベルLST’に対する比較に基づいて行ってもよ
い。これによれば、しきい値設定時の検出信号レベルL
ST’と異なる信号レベルである場合に電圧変動が生じた
と判断して、最新の検出信号レベルLSTN としきい値設
定時の検出信号レベルLST’とから変動率δ’を求め
る。変動率δ’をしきい値設定処理により設定された各
画素のしきい値に対して乗算し、しきい値を調整する。
この場合、一度設定されたしきい値を基準にして変動率
δ’により調整を行うので、変動率を算出する際に生じ
る可能性がある誤差が累積されることなく、精密な判定
を行うことができる。また、電圧変動がしきい値設定時
の基準板82の検出信号レベルLST’を中心に頻発する
場合には、しきい値設定時の電圧となる場合には、演算
処理工程を減少させることができる。
【0125】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、供給電圧
の変動等によって信号レベルが変動すると、基準板の信
号レベルの変動率に基づいてしきい値を一律に調整する
ので、、電圧の変動が生じても穀粒が不良品であるか否
かの判定又は穀粒群に不良品が含まれるか否かの判定を
適切に行うことができる。また、変動率を用いてしきい
値を一律に調整するので、設定されたしきい値をそのま
ま利用することができ、迅速にしきい値の調整を行うこ
とができる。従って、電圧変動が生じても選別処理を停
止することなく、適切な選別を継続することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施形態の穀粒選別機の外観図である。
【図2】穀粒選別機の概略構成図である。
【図3】原料供給ホッパ及び再選用ホッパの斜視図であ
る。
【図4】(A)はロータリバルブの斜視図であり、
(B)はロータリバルブの1次選別用供給部の断面図で
あり、(C)は2次選別用供給部の断面図である。
【図5】ベルトコンベアの斜視図である。
【図6】カメラ、蛍光灯、基準板、ベルトコンベア等の
配置を示す図である。
【図7】基準板の斜視図である。
【図8】カメラによる撮影対象領域付近を示す図であ
る。
【図9】カメラによる撮影対象領域に穀粒が落下したと
きの図である。
【図10】(A)はエジェクタの斜視図であり、(B)
はエジェクタの断面図である。
【図11】高圧ブロウの概略図である。
【図12】第1制御部の回路構成を示す図である。
【図13】ソレノイド駆動部の概略構成図である。
【図14】(A)はティーチング処理における信号レベ
ル特性を示す線図であり、(B)はしきい値設定処理に
おける信号レベル特性を示す線図である。
【図15】穀粒選別処理における信号レベル特性の一例
を示す線図である。
【図16】第1、第2制御部のCPUで実行されるティ
ーチング処理の制御ルーチンを示す流図である。
【図17】第1、第2制御部のCPUで実行されるしき
い値設定処理の制御ルーチンを示す流図である。
【図18】(A)は3倍圧回路の回路図であり、(B)
はソレノイド駆動時における印加電圧−時間の関係を示
す線図である。
【図19】電圧変動が生じた場合における信号レベル特
性の一例を示す線図である。
【図20】電圧変動が生じた場合に適用されるしきい値
補正処理の制御ルーチンを示す流図である。
【符号の説明】
10 穀粒選別機 20 フロントカメラ(撮像手段) 22 リヤカメラ(撮像手段) 70、72、74、76 蛍光灯(光源) 78、80 比色板(背景面) 82 基準板(基準部材) 90 穀粒 102 CPU

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の移動経路を移動する穀粒又は穀粒
    群を所定の光源からの照射光の下で複数の画素からなる
    撮像手段によって撮像し、撮像された各画素の濃度値と
    各画素毎の所定の基準濃度値とに基づいて、前記穀粒が
    不良品であるか否か、又は前記穀粒群に不良品が含まれ
    るか否かを判定し、該判定結果に基づいて該穀粒又は穀
    粒群を選別する穀粒選別機であって、 前記撮像手段に対して前記穀粒又は穀粒群の撮像範囲の
    前後に配置され、予め反射率が定められた基準部材と、 前記基準部材の画像の濃度値に変動が生じた場合に、前
    記各画素毎の基準濃度値を、該変動の変動率に基づいて
    一律に調整する基準濃度値調整手段と、 を有する穀粒選別機。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004028685A (ja) * 2002-06-24 2004-01-29 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置

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