JP2571482B2 - 多層塗装膜の付着量測定方法および装置 - Google Patents
多層塗装膜の付着量測定方法および装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、亜鉛めっき鋼板のよ
うな下地基板上に複数層の塗装膜を塗布した多層塗装膜
の付着量測定方法および装置に関するものである。
うな下地基板上に複数層の塗装膜を塗布した多層塗装膜
の付着量測定方法および装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ペイントなど塗装膜の成分元素
は、秘密にされている。そのため、従来より、下地基板
上に塗装膜を有する被測定試料に放射線を照射し、発生
したコンプトン散乱線の強度から、塗装膜の付着量を測
定する測定方法が知られている（たとえば、特公昭63-1
9004号公報、特開昭64-41810号公報参照）。
は、秘密にされている。そのため、従来より、下地基板
上に塗装膜を有する被測定試料に放射線を照射し、発生
したコンプトン散乱線の強度から、塗装膜の付着量を測
定する測定方法が知られている（たとえば、特公昭63-1
9004号公報、特開昭64-41810号公報参照）。
【０００３】コンプトン散乱線は、塗装膜だけでなく下
地基板からも発生するので、その強度は、図２(a) のよ
うに、塗装膜の付着量が一定であっても、たとえば下地
基板の亜鉛めっきの付着量が大きいと、減少する。ま
た、コンプトン散乱線の強度は、図２(b) のように、め
っきの付着量が一定であっても、めっきの種類によって
異なる。そのため、この種の測定方法では、下地基板か
ら発生するバックグラウンド成分を考慮して、塗装膜の
付着量を得ている。たとえば、上記特開昭64-41810号公
報に記載された測定方法では、予め、下地基板の材質
(種類) に応じて経験的に求めた検量線を用いて、コン
プトン散乱線の強度から塗装膜の付着量を求めている。
地基板からも発生するので、その強度は、図２(a) のよ
うに、塗装膜の付着量が一定であっても、たとえば下地
基板の亜鉛めっきの付着量が大きいと、減少する。ま
た、コンプトン散乱線の強度は、図２(b) のように、め
っきの付着量が一定であっても、めっきの種類によって
異なる。そのため、この種の測定方法では、下地基板か
ら発生するバックグラウンド成分を考慮して、塗装膜の
付着量を得ている。たとえば、上記特開昭64-41810号公
報に記載された測定方法では、予め、下地基板の材質
(種類) に応じて経験的に求めた検量線を用いて、コン
プトン散乱線の強度から塗装膜の付着量を求めている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、下地基板の材
質（種類）が同一であっても、その組成つまり元素の成
分率は、ロットなどによって若干異なる。特に、下地基
板がめっき鋼板である場合は、めっきの厚みにむらが生
じるのは避けられず、めっきの付着量が不均一になる。
したがって、単に下地基板の材質（種類）やめっきの設
定付着量（実際の付着量とは異なる）に対応した検量線
を用いて、塗装膜の付着量を求めたのでは、上記元素の
成分率やめっきの付着量のむらによって、測定値に誤差
が生じる。また、被測定試料の塗装膜の付着量が、大き
なむら等によって、検量線作成に用いた標準試料の範囲
すなわち作成した検量線を適用できる範囲を逸脱するお
それもあり、このような場合にも測定値に誤差が生じ
る。 かといって、そのような誤差の発生を抑制すべく、
下地基板の元素の成分率およびめっきの付着量のむらな
らびに塗装膜の付着量の予想範囲逸脱にまで対応して、
被測定試料に近似した標準試料を用いて逐一検量線を作
成することは、事実上不可能である。
質（種類）が同一であっても、その組成つまり元素の成
分率は、ロットなどによって若干異なる。特に、下地基
板がめっき鋼板である場合は、めっきの厚みにむらが生
じるのは避けられず、めっきの付着量が不均一になる。
したがって、単に下地基板の材質（種類）やめっきの設
定付着量（実際の付着量とは異なる）に対応した検量線
を用いて、塗装膜の付着量を求めたのでは、上記元素の
成分率やめっきの付着量のむらによって、測定値に誤差
が生じる。また、被測定試料の塗装膜の付着量が、大き
なむら等によって、検量線作成に用いた標準試料の範囲
すなわち作成した検量線を適用できる範囲を逸脱するお
それもあり、このような場合にも測定値に誤差が生じ
る。 かといって、そのような誤差の発生を抑制すべく、
下地基板の元素の成分率およびめっきの付着量のむらな
らびに塗装膜の付着量の予想範囲逸脱にまで対応して、
被測定試料に近似した標準試料を用いて逐一検量線を作
成することは、事実上不可能である。
【０００５】この対策として、塗装前の下地基板に放射
線を照射して、発生した蛍光Ｘ線から予めバックグラウ
ンド成分を求め、ついで、塗装後の被測定試料の同一の
位置に放射線を照射して、発生したコンプトン散乱線の
強度を求め、このコンプトン散乱線の強度とバックグラ
ウンド成分から、塗装膜の付着量を演算する方法が考え
られる。しかし、塗装の前後で測定位置を同一に設定す
るのは、面倒であり、また、完全に同一にするのは困難
であるから、測定値に若干の誤差が生じるのは避けられ
ない。特に、被測定試料が連続的に生産ライン上を移動
している場合は、データをトラッキングする必要がある
が、被測定試料の移動速度の変化などで、測定値に誤差
が生じ易い。
線を照射して、発生した蛍光Ｘ線から予めバックグラウ
ンド成分を求め、ついで、塗装後の被測定試料の同一の
位置に放射線を照射して、発生したコンプトン散乱線の
強度を求め、このコンプトン散乱線の強度とバックグラ
ウンド成分から、塗装膜の付着量を演算する方法が考え
られる。しかし、塗装の前後で測定位置を同一に設定す
るのは、面倒であり、また、完全に同一にするのは困難
であるから、測定値に若干の誤差が生じるのは避けられ
ない。特に、被測定試料が連続的に生産ライン上を移動
している場合は、データをトラッキングする必要がある
が、被測定試料の移動速度の変化などで、測定値に誤差
が生じ易い。
【０００６】そこで、この出願人は、塗装後の被測定試
料から、コンプトン散乱線と、下地基板からの蛍光Ｘ線
とを測定し、これらの強度に基づいて塗装膜の付着量を
演算する付着量測定方法を発明し、既に出願している
（特願平3-61155 号参照) 。
料から、コンプトン散乱線と、下地基板からの蛍光Ｘ線
とを測定し、これらの強度に基づいて塗装膜の付着量を
演算する付着量測定方法を発明し、既に出願している
（特願平3-61155 号参照) 。
【０００７】ところが、亜鉛めっき鋼板にペイントを塗
布する場合には、亜鉛めっき鋼板にプライマを塗布した
後に、プライマの上層にペイントを塗布する。このよう
な場合、下層のプライマの付着量が一定量であると仮定
して、全塗装膜の付着量から下層のプライマの付着量を
減算することで、上層のペイントの付着量を得ていた。
しかし、プライマの付着量に若干の誤差が生じるのは避
けられず、一方、プライマから発生するコンプトン散乱
線の強度は、図２(c) に示すように、ペイントから発生
するコンプトン散乱線の強度よりも大きく、下層のプラ
イマの付着量の誤差が、上層のペイントの付着量の演算
値に大きな誤差となって現れる。この発明は上記問題を
解決するためになされたもので、下地基板の材質やめっ
きの種類の変化は勿論のこと、下地基板の元素の成分率
やめっきの付着量にむらがあっても、あるいは、下層の
塗装膜の付着量にむらがあっても、上層の塗装膜の付着
量を容易かつ正確に測定できる多層塗装膜の付着量測定
方法および装置を提供することを目的とする。
布する場合には、亜鉛めっき鋼板にプライマを塗布した
後に、プライマの上層にペイントを塗布する。このよう
な場合、下層のプライマの付着量が一定量であると仮定
して、全塗装膜の付着量から下層のプライマの付着量を
減算することで、上層のペイントの付着量を得ていた。
しかし、プライマの付着量に若干の誤差が生じるのは避
けられず、一方、プライマから発生するコンプトン散乱
線の強度は、図２(c) に示すように、ペイントから発生
するコンプトン散乱線の強度よりも大きく、下層のプラ
イマの付着量の誤差が、上層のペイントの付着量の演算
値に大きな誤差となって現れる。この発明は上記問題を
解決するためになされたもので、下地基板の材質やめっ
きの種類の変化は勿論のこと、下地基板の元素の成分率
やめっきの付着量にむらがあっても、あるいは、下層の
塗装膜の付着量にむらがあっても、上層の塗装膜の付着
量を容易かつ正確に測定できる多層塗装膜の付着量測定
方法および装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明方法は、まず、下地基板上に２層の塗装膜
を有する被測定試料の塗装膜の表面に放射線を照射し
て、この放射線を受けた被測定試料の同一箇所から、コ
ンプトン散乱線の強度と、下地基板からの蛍光Ｘ線の強
度と、下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線の強度とを、同時
に、かつ塗装膜の付着量測定ごとに測定する。次に、測
定したコンプトン散乱線の強度を、下地基板のめっき付
着量、下層の塗装膜の付着量および上層の塗装膜の付着
量を変数としこれら３つの付着量に関連した吸収成分を
含む第１の関数で表す。また、測定した下地基板からの
蛍光Ｘ線の強度についても、同様に上記３つの付着量を
変数としこれらに関連した吸収成分を含む第２の関数で
表す。さらに、測定した下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線の
強度については、下層の塗装膜の付着量および上層の塗
装膜の付着量を変数としこれら２つの付着量に関連した
吸収成分を含む第３の関数で表す。そして、これら第
１、第２および第３の関数を連立させて解いて、上層の
塗装膜の付着量を求める。この発明装置は、下地基板上
に２層の塗装膜を有する被測定試料の塗装膜の表面に放
射線を照射する放射線源と、この放射線を受けた被測定
試料からのコンプトン散乱線の強度を測定して第１測定
信号を出力する第１測定器と、上記放射線を受けた同一
箇所の下地基板からの蛍光Ｘ線を、上記第１測定器にお
ける測定と同時に、かつ塗装膜の付着量測定ごとに測定
して、第２測定信号を出力する第２測定器と、上記放射
線を受けた同一箇所の下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線を、
上記第１測定器における測定と同時に、かつ塗装膜の付
着量測定ごとに測定して、第３測定信号を出力する第３
測定器とを備えている。演算器は、第１測定信号を受け
て、測定したコンプトン散乱線の強度を、下地基板のめ
っき付着量、下層の塗装膜の付着量および上層の塗装膜
の付着量を変数としこれら３つの付着量に関連した吸収
成分を含む第１の関数として演算し、第２測定信号を受
けて、測定した下地基板からの蛍光Ｘ線の強度について
も、上記３つの付着量を変数としこれらに関連した吸収
成分を含む第２の関数として演算し、第３測定信号を受
けて、測定した下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線の強度につ
いては、下層の塗装膜の付着量および上層の塗装膜の付
着量を変数としこれら２つの付着量に関連した吸収成分
を含む第３の関数として演算し、上記第１、第２および
第３の関数を連立させ上層の塗装膜の付着量を算出す
る。
に、この発明方法は、まず、下地基板上に２層の塗装膜
を有する被測定試料の塗装膜の表面に放射線を照射し
て、この放射線を受けた被測定試料の同一箇所から、コ
ンプトン散乱線の強度と、下地基板からの蛍光Ｘ線の強
度と、下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線の強度とを、同時
に、かつ塗装膜の付着量測定ごとに測定する。次に、測
定したコンプトン散乱線の強度を、下地基板のめっき付
着量、下層の塗装膜の付着量および上層の塗装膜の付着
量を変数としこれら３つの付着量に関連した吸収成分を
含む第１の関数で表す。また、測定した下地基板からの
蛍光Ｘ線の強度についても、同様に上記３つの付着量を
変数としこれらに関連した吸収成分を含む第２の関数で
表す。さらに、測定した下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線の
強度については、下層の塗装膜の付着量および上層の塗
装膜の付着量を変数としこれら２つの付着量に関連した
吸収成分を含む第３の関数で表す。そして、これら第
１、第２および第３の関数を連立させて解いて、上層の
塗装膜の付着量を求める。この発明装置は、下地基板上
に２層の塗装膜を有する被測定試料の塗装膜の表面に放
射線を照射する放射線源と、この放射線を受けた被測定
試料からのコンプトン散乱線の強度を測定して第１測定
信号を出力する第１測定器と、上記放射線を受けた同一
箇所の下地基板からの蛍光Ｘ線を、上記第１測定器にお
ける測定と同時に、かつ塗装膜の付着量測定ごとに測定
して、第２測定信号を出力する第２測定器と、上記放射
線を受けた同一箇所の下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線を、
上記第１測定器における測定と同時に、かつ塗装膜の付
着量測定ごとに測定して、第３測定信号を出力する第３
測定器とを備えている。演算器は、第１測定信号を受け
て、測定したコンプトン散乱線の強度を、下地基板のめ
っき付着量、下層の塗装膜の付着量および上層の塗装膜
の付着量を変数としこれら３つの付着量に関連した吸収
成分を含む第１の関数として演算し、第２測定信号を受
けて、測定した下地基板からの蛍光Ｘ線の強度について
も、上記３つの付着量を変数としこれらに関連した吸収
成分を含む第２の関数として演算し、第３測定信号を受
けて、測定した下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線の強度につ
いては、下層の塗装膜の付着量および上層の塗装膜の付
着量を変数としこれら２つの付着量に関連した吸収成分
を含む第３の関数として演算し、上記第１、第２および
第３の関数を連立させ上層の塗装膜の付着量を算出す
る。
【０００９】
【作用および効果】この発明によれば、放射線を受けた
被測定試料の同一箇所から、コンプトン散乱線の強度
と、下地基板からの蛍光Ｘ線の強度と、下層の塗装膜か
らの蛍光Ｘ線の強度とを、同時に、かつ上層の塗装膜の
付着量測定ごとに測定し、これら３つの強度を、上下層
の塗装膜等の付着量を変数としこれら付着量に関連した
吸収成分を含む理論式たる関数でそれぞれ表し、これら
３つの関数を連立させて解いて上層の塗装膜の付着量を
求めるので、下地基板の元素の成分率、めっきの付着量
もしくは下層の塗装膜の付着量にむらがあっても、また
は上層の塗装膜の付着量 に大きなむらがあっても、それ
らに対応して逐一関数を作成する必要がなく、幅広い被
測定試料について迅速に適用でき、かつ上層の塗装膜の
付着量を正確に測定できる。また、測定位置を同一に設
定したり、トラッキングをする必要もないので、容易に
測定できる。
被測定試料の同一箇所から、コンプトン散乱線の強度
と、下地基板からの蛍光Ｘ線の強度と、下層の塗装膜か
らの蛍光Ｘ線の強度とを、同時に、かつ上層の塗装膜の
付着量測定ごとに測定し、これら３つの強度を、上下層
の塗装膜等の付着量を変数としこれら付着量に関連した
吸収成分を含む理論式たる関数でそれぞれ表し、これら
３つの関数を連立させて解いて上層の塗装膜の付着量を
求めるので、下地基板の元素の成分率、めっきの付着量
もしくは下層の塗装膜の付着量にむらがあっても、また
は上層の塗装膜の付着量 に大きなむらがあっても、それ
らに対応して逐一関数を作成する必要がなく、幅広い被
測定試料について迅速に適用でき、かつ上層の塗装膜の
付着量を正確に測定できる。また、測定位置を同一に設
定したり、トラッキングをする必要もないので、容易に
測定できる。
【００１０】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図面にしたがっ
て説明する。図１において、被測定試料10は、鋼板11と
亜鉛めっき層12からなる下地基板13上に、下層の塗装膜
14と上層の塗装膜15を有している。上層の塗装膜15は、
成分元素が知らされていないペイントであり、一方、下
層の塗装膜14は、亜鉛めっき層12とペイントとの付着性
を向上させるプライマからなる。プライマには、ストロ
ンチウムおよびクロムが、それぞれ、ほぼ一定の割合で
含まれている。この被測定試料10は、たとえば連続的に
移動している。この被測定試料10が移動している箇所の
任意の一箇所には、付着量測定装置20が設けられてい
る。
て説明する。図１において、被測定試料10は、鋼板11と
亜鉛めっき層12からなる下地基板13上に、下層の塗装膜
14と上層の塗装膜15を有している。上層の塗装膜15は、
成分元素が知らされていないペイントであり、一方、下
層の塗装膜14は、亜鉛めっき層12とペイントとの付着性
を向上させるプライマからなる。プライマには、ストロ
ンチウムおよびクロムが、それぞれ、ほぼ一定の割合で
含まれている。この被測定試料10は、たとえば連続的に
移動している。この被測定試料10が移動している箇所の
任意の一箇所には、付着量測定装置20が設けられてい
る。
【００１１】付着量測定装置20は、放射線源21と、第
１、第２および第３測定器30, 40, 50と、演算器23と、
表示器24とを備えている。放射線源21は、被測定試料10
における上層の塗装膜15の表面に放射線B1を照射するも
ので、たとえば、Ｘ線管やアメリシウムの放射性同位元
素が用いられる。
１、第２および第３測定器30, 40, 50と、演算器23と、
表示器24とを備えている。放射線源21は、被測定試料10
における上層の塗装膜15の表面に放射線B1を照射するも
ので、たとえば、Ｘ線管やアメリシウムの放射性同位元
素が用いられる。
【００１２】第１測定器30は、平行光学系31、第１分光
結晶32、第１検出器33および第１計数回路部34を備えて
おり、放射線B1を受けた被測定試料10からのコンプトン
散乱線Bcの強度を測定するものである。第１分光結晶32
は、被測定試料10から散乱されたコンプトン散乱線Bc
を、所定の回折角で回折して、第１検出器33に入射させ
る。第１検出器33は、入射したコンプトン散乱線Bcを検
出し、検出出力e1として第１計数回路部34に出力する。
この第１計数回路部34は検出出力e1をカウントして、コ
ンプトン散乱線Bcの強度を第１測定信号ｃとして演算器
23に出力する。
結晶32、第１検出器33および第１計数回路部34を備えて
おり、放射線B1を受けた被測定試料10からのコンプトン
散乱線Bcの強度を測定するものである。第１分光結晶32
は、被測定試料10から散乱されたコンプトン散乱線Bc
を、所定の回折角で回折して、第１検出器33に入射させ
る。第１検出器33は、入射したコンプトン散乱線Bcを検
出し、検出出力e1として第１計数回路部34に出力する。
この第１計数回路部34は検出出力e1をカウントして、コ
ンプトン散乱線Bcの強度を第１測定信号ｃとして演算器
23に出力する。
【００１３】第２測定器40は、平行光学系41、第２分光
結晶42、第２検出器43および第２計数回路部44を備えて
いる。この第２測定器40は、放射線B1を受けた亜鉛めっ
き層12からの蛍光Ｘ線B2を測定するもので、この実施例
の場合、亜鉛の蛍光Ｘ線B2の強度を測定する。被測定試
料10は、放射線B1を受けて励起され、蛍光Ｘ線を発生す
る。第２分光結晶は、蛍光Ｘ線のうち、亜鉛の蛍光Ｘ線
B2を、所定の回折角で回折して、第２検出器43に入射さ
せる。第２検出器43は、入射した亜鉛の蛍光Ｘ線B2を検
出し、検出出力e2として第２計数回路部44に出力する。
第２計数回路部44は、検出出力e2をカウントして、亜鉛
の蛍光Ｘ線B2の強度を第２測定信号x2として演算器23に
出力する。
結晶42、第２検出器43および第２計数回路部44を備えて
いる。この第２測定器40は、放射線B1を受けた亜鉛めっ
き層12からの蛍光Ｘ線B2を測定するもので、この実施例
の場合、亜鉛の蛍光Ｘ線B2の強度を測定する。被測定試
料10は、放射線B1を受けて励起され、蛍光Ｘ線を発生す
る。第２分光結晶は、蛍光Ｘ線のうち、亜鉛の蛍光Ｘ線
B2を、所定の回折角で回折して、第２検出器43に入射さ
せる。第２検出器43は、入射した亜鉛の蛍光Ｘ線B2を検
出し、検出出力e2として第２計数回路部44に出力する。
第２計数回路部44は、検出出力e2をカウントして、亜鉛
の蛍光Ｘ線B2の強度を第２測定信号x2として演算器23に
出力する。
【００１４】第３測定器50は、第２測定器40と同様な構
成のもので、平行光学系51、第３分光結晶52、第３検出
器53および第３計数回路部54を備えている。この第３測
定器50は、放射線B1を受けた下層のプライマの塗装膜14
からの蛍光Ｘ線B3を測定するもので、この実施例の場
合、ストロンチウムの蛍光Ｘ線B3の強度を測定する。上
記第３分光結晶52は、蛍光Ｘ線のうち、ストロンチウム
の蛍光Ｘ線B3を、所定の回折角で回折して、第３検出器
53に入射させる。第３検出器53は、入射したストロンチ
ウムの蛍光Ｘ線B3を検出し、検出出力e3として第３計数
回路部54に出力する。第３計数回路部54は、検出出力e3
をカウントして、ストロンチウムの蛍光Ｘ線B3の強度を
第３測定信号x3として演算器23に出力する。
成のもので、平行光学系51、第３分光結晶52、第３検出
器53および第３計数回路部54を備えている。この第３測
定器50は、放射線B1を受けた下層のプライマの塗装膜14
からの蛍光Ｘ線B3を測定するもので、この実施例の場
合、ストロンチウムの蛍光Ｘ線B3の強度を測定する。上
記第３分光結晶52は、蛍光Ｘ線のうち、ストロンチウム
の蛍光Ｘ線B3を、所定の回折角で回折して、第３検出器
53に入射させる。第３検出器53は、入射したストロンチ
ウムの蛍光Ｘ線B3を検出し、検出出力e3として第３計数
回路部54に出力する。第３計数回路部54は、検出出力e3
をカウントして、ストロンチウムの蛍光Ｘ線B3の強度を
第３測定信号x3として演算器23に出力する。
【００１５】演算器23は、上記３つの測定信号c,x2, x3
を受けて、コンプトン散乱線Bcの強度と、２種類の蛍光
Ｘ線B2, B3の強度に基づいて、以下のように、上層の塗
装膜15の付着量を演算する。以下、この演算方法につい
て詳細に説明する。
を受けて、コンプトン散乱線Bcの強度と、２種類の蛍光
Ｘ線B2, B3の強度に基づいて、以下のように、上層の塗
装膜15の付着量を演算する。以下、この演算方法につい
て詳細に説明する。
【００１６】
【数１】
【００１７】
【数２】
【００１８】
【数３】
【００１９】
【数４】
【００２０】
【数５】
【００２１】
【数６】
【００２２】
【数７】
【００２３】
【数８】
【００２４】
【数９】
【００２５】
【数１０】
【００２６】以上のように、演算器23は、塗料の種類や
測定装置ごとに定まった上記定数Ａn 〜Ｃn を用いて、
コンプトン散乱線Bcおよび両蛍光Ｘ線B2の強度ＩC ，Ｉ
Zn，ＩSrを示す測定信号c, x2, x3 により、両塗装膜1
4, 15および亜鉛めっき層12の付着量を演算するもので
ある。演算器23は、演算したこれらの付着量を、付着量
信号w1, w2, w3として表示器24に出力する。表示器24は
両塗装膜14, 15および亜鉛めっき層12の付着量を表示す
るとともに記録するものである。
測定装置ごとに定まった上記定数Ａn 〜Ｃn を用いて、
コンプトン散乱線Bcおよび両蛍光Ｘ線B2の強度ＩC ，Ｉ
Zn，ＩSrを示す測定信号c, x2, x3 により、両塗装膜1
4, 15および亜鉛めっき層12の付着量を演算するもので
ある。演算器23は、演算したこれらの付着量を、付着量
信号w1, w2, w3として表示器24に出力する。表示器24は
両塗装膜14, 15および亜鉛めっき層12の付着量を表示す
るとともに記録するものである。
【００２７】つぎに、上記構成の動作を説明する。放射
線B1が放射線源21から被測定試料10における上層の塗装
膜15の表面に照射されると、第１測定器30によってコン
プトン散乱線Bcの強度ＩC が測定されるとともに、第２
および第３測定器40, 50によって、それぞれ、亜鉛およ
びストロンチウムの蛍光Ｘ線B2, B3の強度ＩZn, ＩSrが
測定される。これら３つの強度Ｉ C , Ｉ Zn , Ｉ Sr は、そ
れぞれ第１、第２および第３測定信号ｃ，x2，x3として
演算器23に出力される。つづいて、演算器23が、第１測
定信号ｃを受けて、測定したコンプトン散乱線Bcの強度
Ｉ C を、上記(21)式に従って、亜鉛めっきの付着量
Ｗ Zn 、下層の塗装膜14の付着量Ｗ Pri および上層の塗装
膜15の付着量Ｗ P を変数としこれら３つの付着量Ｗ Zn ，
Ｗ Pri ，Ｗ P に関連した吸収成分を含む第１の関数とし
て演算する。また、第２測定信号x2を受けて、測定した
亜鉛の蛍光Ｘ線B2の強度Ｉ Zn についても、上記(27)式に
従って、上記３つの付着量Ｗ Zn ，Ｗ Pri ，Ｗ P を変数と
しこれらに関連した吸収成分を含む第２の関数として演
算する。さらに、第３測定信号x3を受けて、測定したス
トロンチウムの蛍光Ｘ線B3の強度Ｉ Sr については、上記
(28)式に従って、下層および上層の塗装膜14，15の付着
量Ｗ Pri ，Ｗ P を変数としこれらに関連した吸収成分を
含む第３の関数として演算する。そして、理論式たる上
記第１、第２および第３の関数、すなわち上記(21),(2
7),(28)式を連立させ上層の塗装膜15の付着量Ｗ P を算
出する。これにより、下地基板13の元素の成分率、めっ
きの付着量もしくはプライマの付着量にむらがあって
も、または上層の塗装膜15の付着量に大きなむらがあっ
ても、それらに対応して逐一関数を作成する必要がな
く、幅広い被測定試料について迅速に適用でき、かつ上
層の塗装膜15の付着量を正確に測定できる。
線B1が放射線源21から被測定試料10における上層の塗装
膜15の表面に照射されると、第１測定器30によってコン
プトン散乱線Bcの強度ＩC が測定されるとともに、第２
および第３測定器40, 50によって、それぞれ、亜鉛およ
びストロンチウムの蛍光Ｘ線B2, B3の強度ＩZn, ＩSrが
測定される。これら３つの強度Ｉ C , Ｉ Zn , Ｉ Sr は、そ
れぞれ第１、第２および第３測定信号ｃ，x2，x3として
演算器23に出力される。つづいて、演算器23が、第１測
定信号ｃを受けて、測定したコンプトン散乱線Bcの強度
Ｉ C を、上記(21)式に従って、亜鉛めっきの付着量
Ｗ Zn 、下層の塗装膜14の付着量Ｗ Pri および上層の塗装
膜15の付着量Ｗ P を変数としこれら３つの付着量Ｗ Zn ，
Ｗ Pri ，Ｗ P に関連した吸収成分を含む第１の関数とし
て演算する。また、第２測定信号x2を受けて、測定した
亜鉛の蛍光Ｘ線B2の強度Ｉ Zn についても、上記(27)式に
従って、上記３つの付着量Ｗ Zn ，Ｗ Pri ，Ｗ P を変数と
しこれらに関連した吸収成分を含む第２の関数として演
算する。さらに、第３測定信号x3を受けて、測定したス
トロンチウムの蛍光Ｘ線B3の強度Ｉ Sr については、上記
(28)式に従って、下層および上層の塗装膜14，15の付着
量Ｗ Pri ，Ｗ P を変数としこれらに関連した吸収成分を
含む第３の関数として演算する。そして、理論式たる上
記第１、第２および第３の関数、すなわち上記(21),(2
7),(28)式を連立させ上層の塗装膜15の付着量Ｗ P を算
出する。これにより、下地基板13の元素の成分率、めっ
きの付着量もしくはプライマの付着量にむらがあって
も、または上層の塗装膜15の付着量に大きなむらがあっ
ても、それらに対応して逐一関数を作成する必要がな
く、幅広い被測定試料について迅速に適用でき、かつ上
層の塗装膜15の付着量を正確に測定できる。
【００２８】ここで、放射線B1を受けた被測定試料10の
同一箇所から、コンプトン散乱線Bcと両蛍光Ｘ線B2, B3
とを、同時に、かつ上層の塗装膜15の付着量測定ごとに
測定して、バックグラウンド成分の補正を行うので、ト
ラッキングなどを行わなくても、補正を正確に行うこと
ができる。したがって、やはり、プライマや亜鉛めっき
の付着量にむらがあっても、上層の塗装膜15、つまりペ
イントの付着量を容易かつ正確に測定することができ
る。
同一箇所から、コンプトン散乱線Bcと両蛍光Ｘ線B2, B3
とを、同時に、かつ上層の塗装膜15の付着量測定ごとに
測定して、バックグラウンド成分の補正を行うので、ト
ラッキングなどを行わなくても、補正を正確に行うこと
ができる。したがって、やはり、プライマや亜鉛めっき
の付着量にむらがあっても、上層の塗装膜15、つまりペ
イントの付着量を容易かつ正確に測定することができ
る。
【００２９】また、１つの放射線源21によって、両塗装
膜14, 15の付着量だけでなく、亜鉛めっき層12の付着量
をも測定できるので、プライマの塗装前に亜鉛めっきの
付着量を測定し、更にペイントの塗装前にプライマの付
着量を測定し、塗装後に塗装膜14の付着量を測定する装
置よりも、構造が簡単になる。
膜14, 15の付着量だけでなく、亜鉛めっき層12の付着量
をも測定できるので、プライマの塗装前に亜鉛めっきの
付着量を測定し、更にペイントの塗装前にプライマの付
着量を測定し、塗装後に塗装膜14の付着量を測定する装
置よりも、構造が簡単になる。
【００３０】なお、上記実施例では下地基板13が亜鉛め
っき鋼板である場合について説明したが、この発明は他
のめっき鋼板についても適用できる。さらに、めっき層
のないステンレス鋼板などについても、Cr,Fe,Niなどの
元素の蛍光Ｘ線を測定して、元素の成分率を決定するこ
とができるので、同様に適用することができる。
っき鋼板である場合について説明したが、この発明は他
のめっき鋼板についても適用できる。さらに、めっき層
のないステンレス鋼板などについても、Cr,Fe,Niなどの
元素の蛍光Ｘ線を測定して、元素の成分率を決定するこ
とができるので、同様に適用することができる。
【００３１】また、上記実施例では、下地基板13の上に
２層の塗装膜14, 15を有する場合について説明したが、
塗装膜は３層以上であっても、この発明を適用すること
ができる。塗装膜が３層以上の場合には、最上層の塗装
膜を除く各下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線の強度を測定
し、コンプトン散乱線、各下層からの蛍光Ｘ線および下
地基板からの蛍光Ｘ線の強度の測定値に基づいて上層の
塗装膜の付着量を演算する。
２層の塗装膜14, 15を有する場合について説明したが、
塗装膜は３層以上であっても、この発明を適用すること
ができる。塗装膜が３層以上の場合には、最上層の塗装
膜を除く各下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線の強度を測定
し、コンプトン散乱線、各下層からの蛍光Ｘ線および下
地基板からの蛍光Ｘ線の強度の測定値に基づいて上層の
塗装膜の付着量を演算する。
【図１】この発明の一実施例を示す付着量測定装置の概
略構成図である。
略構成図である。
【図２】(a) はめっき鋼板におけるコンプトン散乱線の
強度の変化を示す特性図、(b)は下地基板の材質の相違
によるコンプトン散乱線の強度の変化を示す特性図、
(c) は塗装膜の材質の相違によるコンプトン散乱線の強
度の変化を示す特性図である。
強度の変化を示す特性図、(b)は下地基板の材質の相違
によるコンプトン散乱線の強度の変化を示す特性図、
(c) は塗装膜の材質の相違によるコンプトン散乱線の強
度の変化を示す特性図である。
10…被測定試料、13…下地基板、14…下層の塗装膜、15
…上層の塗装膜、20…付着量測定装置、21…放射線源、
23…演算器、30…第１測定器、40…第２測定器、50…第
３測定器、B1…放射線、B2…下地基板からの蛍光Ｘ線、
B3…下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線、Bc…コンプトン散乱
線、ｃ…第１測定信号、x2…第２測定信号、x3…第３測
定信号。
…上層の塗装膜、20…付着量測定装置、21…放射線源、
23…演算器、30…第１測定器、40…第２測定器、50…第
３測定器、B1…放射線、B2…下地基板からの蛍光Ｘ線、
B3…下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線、Bc…コンプトン散乱
線、ｃ…第１測定信号、x2…第２測定信号、x3…第３測
定信号。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (73)特許権者 000006910 株式会社淀川製鋼所 大阪府大阪市中央区南本町４丁目１番１ 号 (72)発明者 松浦 直樹 大阪府高槻市赤大路町14番８号 理学電 機工業株式会社内 (72)発明者 柴田 誠也 大阪府高槻市赤大路町14番８号 理学電 機工業株式会社内 (72)発明者 田中 明 大阪府堺市出島西町２番地 イゲタ鋼板 株式会社内 (72)発明者 福田 重雄 岡山県倉敷市玉島乙島8252−11 川鉄鋼 板株式会社内 (72)発明者 西山 博樹 千葉県船橋市金杉町883番地 大洋製鋼 金杉社宅２−231 (72)発明者 田中 満 大阪府大阪市中央区南本町４丁目１番１ 号 株式会社淀川製鋼所内 (56)参考文献 特開 昭64−41810（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】 下地基板上に下層および上層の塗装膜を
有する被測定試料の塗装膜の表面に放射線を照射して、
この放射線を受けた被測定試料の同一箇所から、コンプ
トン散乱線の強度と、上記下地基板からの蛍光Ｘ線の強
度と、上記下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線の強度とを同時
に、かつ多層塗装膜の付着量測定ごとに測定し、上記測定したコンプトン散乱線の強度を、上記下地基板
のめっき付着量、下層の塗装膜の付着量および上層の塗
装膜の付着量を変数としこれら３つの付着量に関連した
吸収成分を含む第１の関数で表し、 上記測定した下地基板からの蛍光Ｘ線の強度を、上記下
地基板のめっき付着量、下層の塗装膜の付着量および上
層の塗装膜の付着量を変数としこれら３つの付着量に関
連した吸収成分を含む第２の関数で表し、 上記測定した下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線の強度を、上
記下層の塗装膜の付着量および上層の塗装膜の付着量を
変数としこれら２つの付着量に関連した吸収成分を含む
第３の関数で表し、 上記第１、第２および第３の関数を連立させて解いて、
上層の塗装膜の付着量を求める多層塗装膜の付着量測定
方法。 - 【請求項２】 下地基板上に下層および上層の塗装膜を
有する被測定試料の塗装膜の表面に放射線を照射する放
射線源と、この放射線を受けた被測定試料からのコンプ
トン散乱線の強度を測定して、第１測定信号を出力する
第１測定器と、上記放射線を受けた同一箇所の下地基板
からの蛍光Ｘ線を同時に、かつ多層塗装膜の付着量測定
ごとに測定して、第２測定信号を出力する第２測定器
と、上記放射線を受けた同一箇所の下層の塗装膜からの
蛍光Ｘ線を同時に、かつ多層塗装膜の付着量測定ごとに
測定して、第３測定信号を出力する第３測定器と、上記第１測定信号を受けて、上記測定したコンプトン散
乱線の強度を、上記下地基板のめっき付着量、下層の塗
装膜の付着量および上層の塗装膜の付着量を変数としこ
れら３つの付着量に関連した吸収成分を含む第１の関数
として演算し、 上記第２測定信号を受けて、上記測定し
た下地基板からの蛍光Ｘ線の強度を、下地基板のめっき
付着量、下層の塗装膜の付着量および上層の塗装膜の付
着量を変数としこれら３つの付着量に関連した吸収成分
を含む第２の関数として演算し、上記第３測定信号を受
けて、上記測定した下層の塗装膜からの蛍光Ｘ線の強度
を、下層の塗装膜の付着量および上層の塗装膜の付着量
を変数としこれら２つの付着量に関連した吸収成分を含
む第３の関数として演算し、上記第１、第２および第３
の関数を連立させ 上層の塗装膜の付着量を算出する演算
器とを備えた多層塗装膜の付着量測定装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3270044A JP2571482B2 (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | 多層塗装膜の付着量測定方法および装置 |
| GB9211639A GB2260403B (en) | 1991-09-19 | 1992-06-02 | Method of and apparatus for the quantitative measurement of paint coating |
| DE4219565A DE4219565A1 (de) | 1991-09-19 | 1992-06-15 | Verfahren und vorrichtung fuer die quantitative messung einer farbbeschichtung |
| US08/576,853 US5579362A (en) | 1991-09-19 | 1995-12-22 | Method of and apparatus for the quantitative measurement of paint coating |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3270044A JP2571482B2 (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | 多層塗装膜の付着量測定方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0579826A JPH0579826A (ja) | 1993-03-30 |
| JP2571482B2 true JP2571482B2 (ja) | 1997-01-16 |
Family
ID=17480749
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3270044A Expired - Fee Related JP2571482B2 (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | 多層塗装膜の付着量測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2571482B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01219495A (ja) * | 1988-02-29 | 1989-09-01 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 溶解炉の炉底排出方法及びその炉底排出装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0619268B2 (ja) * | 1987-08-07 | 1994-03-16 | 日本鋼管株式会社 | 金属上塗膜の厚さ測定方法 |
-
1991
- 1991-09-19 JP JP3270044A patent/JP2571482B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0579826A (ja) | 1993-03-30 |
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