JP2542575B2 - 波形整形回路 - Google Patents

波形整形回路

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JP2542575B2
JP2542575B2 JP60295007A JP29500785A JP2542575B2 JP 2542575 B2 JP2542575 B2 JP 2542575B2 JP 60295007 A JP60295007 A JP 60295007A JP 29500785 A JP29500785 A JP 29500785A JP 2542575 B2 JP2542575 B2 JP 2542575B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] この発明は、例えばビデオテープレコーダ(以下VTR
と称する)のモータなどの回転を検出する回転検出装置
からの出力を波形整形する波形整形回路に関する。
[発明の技術的背景とその問題点] VTRのキャプスタンモータ、ヘッドモータの回転検出
装置には、第5図に示すような種々のものがある。同図
(A)のものはマグネット11、固定磁性体13、回転磁性
体14で磁路を形成し、この磁路を通る磁気に対して回転
側と固定側の歯者構造により変化を与え、この変化をコ
イル12で感知して回転検出出力を得るものである。同図
(B)は、回転体をマグネット15とし、固定体17に導通
パターン16を形成しておき、このパターンの端子からの
出力を回転検出出力とするものである。同図(C)は、
回転体18の外周にマグネットを着磁形成し、このマグネ
ットに近接して磁気ヘッド19を配設し、この磁気ヘッド
の出力を回転検出出力とするものである。
さて上記の回転検出装置の出力は、回転系の正確な位
相を検出するために波形整形回路で整形されて位相比較
回路に入力される。しかし、回転検出部には、着磁む
ら、回転軸の偏心などがあるために前記検出出力は、AM
変調を受けることが多い。AM変調を受けた回転検出出力
を波形整形すると、その回転周波数、位相情報は不正確
となるので、シュミット動作を得る波形整形を行なって
いる。
第6図は従来の波形整形回路であり、入力端子21に回
転検出信号が供給される。この信号は抵抗R1とコンデン
サC1からなる積分回路に供給され平均直流レベルの電圧
に変換され、比較器22の負入力端子に供給される。また
入力信号は抵抗R2を介して比較器22の正入力端子に供給
される。抵抗R3は正帰還用の抵抗である。この回路の動
作波形は第7図のようになり、出力端子23の出力は、立
上がりがシュミットレベルa1で整形され、立ち下がりが
シュミットレベルa2で整形される。
しかしこの回路においても、AM成分の影響を完全に除
去することはできず、この点の改善が望まれている。AM
成分の影響を受けることは出力側にPM成分を発生するこ
とになる。
[発明の目的] この発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、回転
検出信号のAM変動の影響を受けることがなく、正確な波
形整形信号を得る波形整形回路を提供することを目的と
する。
[発明の概要] この発明は、入力端子と、前記入力端子に供給される
入力信号とこの入力信号の第1の平均直流レベルとを比
較し双方の大小期間を示す第1の信号を得る第1の比較
手段と、前記入力信号と前記第1の平均直流レベルをシ
フトした第2の平均直流レベルとを、前記第1の比較手
段が比較した極性とは逆の極性で比較し、前記入力信号
と前記第2の平均直流レベルとの大小期間を示す第2の
信号を得る第2の比較手段と、前記第1の信号と第2の
信号とが第1、第2の入力端子にトリガとして供給さ
れ、出力端子に前記入力信号を波形整形した出力信号を
得るようにしたフリップフロップ手段とを具備するもの
である。
[発明の実施例] 以下この発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図において、入力端子31には回転検出装置からの
回転検出信号が供給される。この入力信号DESは抵抗R1
とコンデンサC1からなる積分器に供給される。よって積
分器からは、入力信号DESの平均直流レベルADCの電圧が
得られる。この平均直流レベルADCは、比較器32の負入
力端子に供給され、入力信号DESと比較される。比較器3
2はレベルADCよりも入力信号DESが大きい場合にハイレ
ベルとなる第1の信号A1を出力する。
更に前記平均直流レベルADCは、レベルシフト回路33
でレベルシフトされたレベルSDCとなり、比較器34の正
入力端子に供給される。比較器34は入力信号DESとレベ
ルSDCとを比較し、レベルSDCよりも入力信号DESが小さ
い場合にハイレベルとなる第2の信号A2を出力する。前
記第1の信号A1とこの第2の信号A2とは、ナンド回路3
5、36で構成されるフリップフロップ37のセット、リセ
ット端子に供給される。この、フィリップフロップ37
は、入力信号の立上がりでトリガされ、出力端子38には
第2図に示すような波形整形された出力信号A3を得るこ
とができる。第2図は第1図の回路のタイミングチャー
トである。出力信号A3の立上がりは、入力信号DESの零
クロスレベルであり、入力信号DESにAM変動があったと
しても、これによる出力側のPM成分は全く発生しない。
またシフトされたレベルSDCと入力信号DESを比較して
タイミングを得るために、シフト幅ΔVの間でシュミッ
ト動作が得られ、ノイズなどによる誤動作も避けること
ができる。そしてシフト幅ΔVは、AM変動による影響に
左右されないために、システムに生じるノイズに応じた
幅に適宜選択することができる。また本回路を集積化し
た場合には、コンデンサC1を外付するピンのみを要する
だけである。
この発明は、上記の実施例に限定されるものではな
く、第3図に示すように、入力信号の立上がり、立ち下
がりの両方の零クロス点を正確に検出する両エッジ検出
構成としても良い。
第1図と同じ部分には同じ符号を付して説明する。こ
の実施例の場合、平均直流レベルADCは、レベルシフト
回路41でシフトされBDCのレベルとなり、比較器42の正
入力端子に供給される。この比較器42は、入力信号DES
とレベルBDCとを比較し、入力DESが大きい場合にハイレ
ベルとなる出力信号A4を得る。この出力信号A4は、ナン
ド回路43,44から成るフリップフロップにトリガとして
供給される。またこのフリップフロップには前記比較器
32の出力がインバータ45を介して供給される。従ってこ
のフリップフロップからは第4図に示す信号A5が得られ
る。この信号A5とフリップフロップ37からの信号A3は、
アンド回路46に供給され、この回路から最終出力信号A6
が得られる。第4図は、上記の回路のタイミングチャー
トであり、この図からわかるように上記の回路は入力信
号の零クロス点に一致した検出パルスを得ることができ
る。
このように本回路は、入力信号の立上がり、立ち下が
りの両方の零クロス点を入力信号のAM変動にかかわらず
正確に検出するので、出力のパルス周期は一定となり、
両エッジをいずれも使用して回転位相および周波数を検
出することができ、利用しやすい。また、入力信号の2
倍の周波数の信号であるから2逓倍回路を兼ねることも
できる。
[発明の効果] 以上説明したようにこの発明は、回転検出信号のAM変
動の影響を受けることがなく、正確な波形整形信号を得
る波形整形回路を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す回路図、第2図は第
1図のタイムチャート、第3図はこの発明の他の実施例
を示す回路図、第4図は第3図のタイムチャート、第5
図はビデオテープレコーダの回転検出装置の例を示す
図、第6図は従来の波形整形回路を示す図、第7図は第
6図のタイミングチャートである。 32,34,42……比較器、33,41……レベルシフト回路、35,
36,43,44……ナンド回路。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】入力端子と、 前記入力端子に供給される入力信号とこの入力信号の第
    1の平均直流レベルとを比較し双方の大小期間を示す第
    1の信号を得る第1の比較手段と、 前記入力信号と前記第1の平均直流レベルをシフトした
    第2の平均直流レベルとを、前記第1の比較手段が比較
    した極性とは逆の極性で比較し、前記入力信号と前記第
    2の平均直流レベルとの大小期間を示す第2の信号を得
    る第2の比較手段と、 前記第1の信号と第2の信号とが第1、第2の入力端子
    にトリガとして供給され、出力端子に前記入力信号を波
    形整形した出力信号を得るようにしたフリップフロップ
    手段と を具備したことを特徴とする波形整形回路。
  2. 【請求項2】前記第2の比較手段は、前記第1の平均直
    流レベルを所定レベル高いほうへシフトする第1のレベ
    ルシフト回路と、前記第1の平均直流レベルを所定レベ
    ル低い方へシフトする第2のレベルシフト回路とを有
    し、前記第2の平均直流レベルとして2つの出力を得る
    とともに、各2つの平均直流レベルをそれぞれ前記入力
    信号と比較する2つの比較器を含み、 前記フリップフロップ手段は、前記2つの比較器の出力
    でそれぞれ駆動される2つのフリップフロップを含み、
    この2つのフリップフロップの各他方の入力端子にそれ
    ぞれ前記第1の信号を反転したものと非反転したものが
    供給されることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の波形整形回路。
JP60295007A 1985-12-26 1985-12-26 波形整形回路 Expired - Lifetime JP2542575B2 (ja)

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JPS62154813A JPS62154813A (ja) 1987-07-09
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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JP7111533B2 (ja) * 2018-07-12 2022-08-02 アズビル株式会社 ゼロ点検出装置

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JPS5030510A (ja) * 1973-06-25 1975-03-26
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JPS55130262A (en) * 1979-03-30 1980-10-08 Nec Corp Bipolarity discrimination circuit

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