JP2530051B2 - 半導体集積回路装置 - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、半導体集積回路装置に係り、特にパッケー
ジ(外囲器)内部で集積回路チップ外部に高周波ノイズ
フィルタを具備した半導体集積回路装置に関する。
ジ(外囲器)内部で集積回路チップ外部に高周波ノイズ
フィルタを具備した半導体集積回路装置に関する。
(従来の技術) 従来の大規模集積回路装置(LSI)は、高周波回路を
内蔵した場合でも、パッケージ内部の半導体ペレット外
部には特別に高周波ノイズ防止手段が採用されていなか
った。このため、集積回路装置から高周波ノイズが放出
し、この高周波の輻射ノイズにより集積回路自体に誤動
作が生じたり、相互接続されている他の集積回路や別の
集積回路に誤動作を生じさせたりするという不具合があ
った。また、集積回路装置の輻射ノイズが大きい場合に
は、この集積回路を使用したシステム(例えばワードプ
ロセッサ、パーソナルコンピュータなど)が電磁気干渉
(Electro Magnetic Interference;EMI)法規制で要求
されるレベルを満たさなくなるという不具合があった。
内蔵した場合でも、パッケージ内部の半導体ペレット外
部には特別に高周波ノイズ防止手段が採用されていなか
った。このため、集積回路装置から高周波ノイズが放出
し、この高周波の輻射ノイズにより集積回路自体に誤動
作が生じたり、相互接続されている他の集積回路や別の
集積回路に誤動作を生じさせたりするという不具合があ
った。また、集積回路装置の輻射ノイズが大きい場合に
は、この集積回路を使用したシステム(例えばワードプ
ロセッサ、パーソナルコンピュータなど)が電磁気干渉
(Electro Magnetic Interference;EMI)法規制で要求
されるレベルを満たさなくなるという不具合があった。
(発明が解決しようとする課題) 上記したように従来の半導体集積回路装置は、高周波
回路を内蔵した場合に集積回路装置から高周波ノイズが
放出し、この高周波の輻射ノイズにより集積回路自体に
誤動作が生じたり、相互接続されている他の集積回路や
別の集積回路に誤動作を生じさせたり、集積回路を使用
したシステムがEMI法規制で要求されるレベルを満たさ
なくなる場合が生じるという問題がある。しかも、集積
回路装置の超高速化、大規模化は益々加速されており、
集積回路装置からの高周波の輻射ノイズおよび微弱な外
来ノイズにも高感度に反応し、集積回路装置の誤動作が
益々生じ易くなり、非常に重大な問題となっている。
回路を内蔵した場合に集積回路装置から高周波ノイズが
放出し、この高周波の輻射ノイズにより集積回路自体に
誤動作が生じたり、相互接続されている他の集積回路や
別の集積回路に誤動作を生じさせたり、集積回路を使用
したシステムがEMI法規制で要求されるレベルを満たさ
なくなる場合が生じるという問題がある。しかも、集積
回路装置の超高速化、大規模化は益々加速されており、
集積回路装置からの高周波の輻射ノイズおよび微弱な外
来ノイズにも高感度に反応し、集積回路装置の誤動作が
益々生じ易くなり、非常に重大な問題となっている。
本発明は、上記問題点を解決すべくなされたもので、
その目的は、高周波回路を集積回路に内蔵した場合で
も、高周波の輻射ノイズを低減でき、この集積回路自体
の誤動作や相互接続されている他の集積回路の誤動作を
防止し得る半導体集積回路装置を提供することにある。
その目的は、高周波回路を集積回路に内蔵した場合で
も、高周波の輻射ノイズを低減でき、この集積回路自体
の誤動作や相互接続されている他の集積回路の誤動作を
防止し得る半導体集積回路装置を提供することにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明は、高周波回路を内蔵した半導体集積回路装置
において、パッケージ内部の集積回路チップ外部に高周
波ノイズフィルタを具備することを特徴とする。例えば
パッケージ内部のインナーリード群の全部あるいは一部
に高周波ノイズフィルタを設けたり、パッケージのイン
ナーリードを固定支持する部分を高周波ノイズフィルタ
により構成し、必要に応じて、パッケージ自体を導電材
により形成し、または、絶縁材により形成してその表面
を導電材あるいは電磁波吸収材により覆うようにする。
において、パッケージ内部の集積回路チップ外部に高周
波ノイズフィルタを具備することを特徴とする。例えば
パッケージ内部のインナーリード群の全部あるいは一部
に高周波ノイズフィルタを設けたり、パッケージのイン
ナーリードを固定支持する部分を高周波ノイズフィルタ
により構成し、必要に応じて、パッケージ自体を導電材
により形成し、または、絶縁材により形成してその表面
を導電材あるいは電磁波吸収材により覆うようにする。
(作 用) 高周波回路を集積回路に内蔵した場合でも、パッケー
ジ内部の集積回路チップ外部に高周波ノイズフィルタを
具備しているので、高周波の輻射ノイズを低減でき、こ
の集積回路自体の誤動作や相互接続されている他の集積
回路や別の集積回路の誤動作を防止することが可能にな
る。これにより、この集積回路を使用したシステムがEM
I法規制で要求されるレベルを満たすことが容易にな
る。
ジ内部の集積回路チップ外部に高周波ノイズフィルタを
具備しているので、高周波の輻射ノイズを低減でき、こ
の集積回路自体の誤動作や相互接続されている他の集積
回路や別の集積回路の誤動作を防止することが可能にな
る。これにより、この集積回路を使用したシステムがEM
I法規制で要求されるレベルを満たすことが容易にな
る。
(実施例) 以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明す
る。
る。
第1図(a)は、本発明の第1実施例に係る高周波回
路を内蔵したLSIを一部透視して示しており、第1図
(b)は、パッケージ内部の一部を示している。ここ
で、1はプラスチック・フラット・パッケージ、2…は
アウターリード、3…はインナーリード、4は高周波回
路が形成されている大規模集積回路チップ、5…はチッ
プ上のボンディングパッド、6…は上記パッド5…とイ
ンナーリード3…とを電気的に接続するボンディングワ
イヤ、7は上記インナーリード3…群の例えば全部に対
して設けられた高周波ノイズフィルタであり、ここで
は、例えば任意の本数のインナーリード毎に分割されて
形成された高周波ノイズフィルタ7を示している。
路を内蔵したLSIを一部透視して示しており、第1図
(b)は、パッケージ内部の一部を示している。ここ
で、1はプラスチック・フラット・パッケージ、2…は
アウターリード、3…はインナーリード、4は高周波回
路が形成されている大規模集積回路チップ、5…はチッ
プ上のボンディングパッド、6…は上記パッド5…とイ
ンナーリード3…とを電気的に接続するボンディングワ
イヤ、7は上記インナーリード3…群の例えば全部に対
して設けられた高周波ノイズフィルタであり、ここで
は、例えば任意の本数のインナーリード毎に分割されて
形成された高周波ノイズフィルタ7を示している。
上記高周波ノイズフィルタ7は、高周波用の高磁性
体、例えば板状あるいは筒状のフェライトコアをインナ
ーリード3…が貫通するように構成されたものが用いら
れる。この場合、例えば上下に二分割された高磁性体を
インナーリード3…の上下から挟むように装着すること
が可能である。これにより、第2図に示す等価回路のよ
うに、インナーリード3…部に高周波チョークコイルが
挿入されることになり、Vcc電源端子、接地電位(Vss)
端子、入力端子、出力端子、入/出力端子用のインナー
リード3…を通って出入りする高周波ノイズを減衰させ
ることが可能になる。
体、例えば板状あるいは筒状のフェライトコアをインナ
ーリード3…が貫通するように構成されたものが用いら
れる。この場合、例えば上下に二分割された高磁性体を
インナーリード3…の上下から挟むように装着すること
が可能である。これにより、第2図に示す等価回路のよ
うに、インナーリード3…部に高周波チョークコイルが
挿入されることになり、Vcc電源端子、接地電位(Vss)
端子、入力端子、出力端子、入/出力端子用のインナー
リード3…を通って出入りする高周波ノイズを減衰させ
ることが可能になる。
また、第3図に示すように、出力端子用のインナーリ
ード3…や入/出力端子用のインナーリード3…から出
力する出力波形とか入力端子用のインナーリード3…や
入/出力端子用のインナーリード3…から入力する入力
波形の立上り時間trや立下り時間tfが短か過ぎると、近
接した信号線へのクロストークノイズにより誤動作を生
じたり、複数本の出力端子用のインナーリード3…に同
時に出力波形が現われる時の接地電位線の電位の揺れに
よる誤動作を生じるおそれがある。そこで、これらの誤
動作を防止するように例えば上記立上り時間trや立下り
時間tfを調整するために、前記高周波ノイズフィルタ7
の定数を最適化すればよい。
ード3…や入/出力端子用のインナーリード3…から出
力する出力波形とか入力端子用のインナーリード3…や
入/出力端子用のインナーリード3…から入力する入力
波形の立上り時間trや立下り時間tfが短か過ぎると、近
接した信号線へのクロストークノイズにより誤動作を生
じたり、複数本の出力端子用のインナーリード3…に同
時に出力波形が現われる時の接地電位線の電位の揺れに
よる誤動作を生じるおそれがある。そこで、これらの誤
動作を防止するように例えば上記立上り時間trや立下り
時間tfを調整するために、前記高周波ノイズフィルタ7
の定数を最適化すればよい。
上記第1実施例のLSIによれば、高周波回路を内蔵し
た場合でも、パッケージ内部の集積回路チップ外部に高
周波ノイズフィルタ7を具備しているので、高周波の輻
射ノイズを低減でき、この集積回路自体の誤動作や相互
接続されている他の集積回路や別の集積回路の誤動作を
防止することが可能になる。これにより、この集積回路
を使用したシステムがEMI法規制で要求されるレベルを
満たすことが容易になる。
た場合でも、パッケージ内部の集積回路チップ外部に高
周波ノイズフィルタ7を具備しているので、高周波の輻
射ノイズを低減でき、この集積回路自体の誤動作や相互
接続されている他の集積回路や別の集積回路の誤動作を
防止することが可能になる。これにより、この集積回路
を使用したシステムがEMI法規制で要求されるレベルを
満たすことが容易になる。
第4図は、本発明の第2実施例に係る高周波回路を内
蔵したLSIや一部透視して示している。ここで、40はセ
ラミック・フラット・パッケージの基台部、41はセラミ
ック・フラット・パッケージの蓋部、2…はアウターリ
ード、3…はインナーリード、4は高周波回路が形成さ
れている集積回路チップ、5…はチップ上のボンディン
グパッド、6…は上記パッド5…とインナーリード3…
とを電気的に接続するボンディングワイヤ、7は上記イ
ンナーリード3…群の例えば全部に対して設けられた高
周波ノイズフィルタであり、ここでは、例えば一体的に
形成された高周波ノイズフィルタ7を示している。
蔵したLSIや一部透視して示している。ここで、40はセ
ラミック・フラット・パッケージの基台部、41はセラミ
ック・フラット・パッケージの蓋部、2…はアウターリ
ード、3…はインナーリード、4は高周波回路が形成さ
れている集積回路チップ、5…はチップ上のボンディン
グパッド、6…は上記パッド5…とインナーリード3…
とを電気的に接続するボンディングワイヤ、7は上記イ
ンナーリード3…群の例えば全部に対して設けられた高
周波ノイズフィルタであり、ここでは、例えば一体的に
形成された高周波ノイズフィルタ7を示している。
上記高周波ノイズフィルタ7は、例えば板状あるいは
筒状の高磁性体をインナーリード3…が貫通するように
構成されたものが用いられる。この場合、例えば上下に
二分割された高磁性体をインナーリード3…の上下から
挟むように装着することが可能である。
筒状の高磁性体をインナーリード3…が貫通するように
構成されたものが用いられる。この場合、例えば上下に
二分割された高磁性体をインナーリード3…の上下から
挟むように装着することが可能である。
また、上記各実施例では、インナーリード3…群の全
部に対して高周波ノイズフィルタ7を設けたが、その必
要がない場合には、インナーリード3…群の一部に対し
て高周波ノイズフィルタ7を設ければよい。例えば電源
端子用のインナーリード3や接地端子用のインナーリー
ド3に対してのみ高周波ノイズフィルタ7を設けてもよ
い。
部に対して高周波ノイズフィルタ7を設けたが、その必
要がない場合には、インナーリード3…群の一部に対し
て高周波ノイズフィルタ7を設ければよい。例えば電源
端子用のインナーリード3や接地端子用のインナーリー
ド3に対してのみ高周波ノイズフィルタ7を設けてもよ
い。
なお、高周波ノイズフィルタ7は、高周波ノイズを減
衰させる作用を有するものであればよく、必要とされる
効果の度合いに応じて、どのような種類のもの(貫通型
コンデンサなども含む。)を使用しても構わない。ま
た、本発明は、パッケージ内部の集積回路チップ外部に
高周波ノイズフィルタ7を具備することを特徴とするも
のであり、様々な種類のパッケージに適用が可能であ
る。
衰させる作用を有するものであればよく、必要とされる
効果の度合いに応じて、どのような種類のもの(貫通型
コンデンサなども含む。)を使用しても構わない。ま
た、本発明は、パッケージ内部の集積回路チップ外部に
高周波ノイズフィルタ7を具備することを特徴とするも
のであり、様々な種類のパッケージに適用が可能であ
る。
例えば、高周波ノイズが、インナーリード3…の経路
以外に、直接にパッケージを通過して放出される場合に
は、これを防止するために、パッケージ自体を導電材に
より形成したり(当然、内部素子やリードなどとは絶縁
する必要がある)、または、絶縁材によりパッケージを
形成してその表面を導電材により覆ったり、その表面に
電磁波吸収材(例えばフェライトの粉体を用いたもの)
を貼ったり塗ったりして覆うようにし、高周波の輻射ノ
イズを低減することが可能になる。また、このような導
電材パッケージ、または、絶縁材パッケージの導電材表
面あるいは電磁波吸収材を低インピーダンスのVcc電源
端子や接地端子に電気的に接続すれば、高周波ノイズを
さらに減衰させることが可能になる。
以外に、直接にパッケージを通過して放出される場合に
は、これを防止するために、パッケージ自体を導電材に
より形成したり(当然、内部素子やリードなどとは絶縁
する必要がある)、または、絶縁材によりパッケージを
形成してその表面を導電材により覆ったり、その表面に
電磁波吸収材(例えばフェライトの粉体を用いたもの)
を貼ったり塗ったりして覆うようにし、高周波の輻射ノ
イズを低減することが可能になる。また、このような導
電材パッケージ、または、絶縁材パッケージの導電材表
面あるいは電磁波吸収材を低インピーダンスのVcc電源
端子や接地端子に電気的に接続すれば、高周波ノイズを
さらに減衰させることが可能になる。
第5図(a)は、本発明の第3実施例として高周波回
路を内蔵したセラミックタイプのピングリッドアレイ
(PGA)型のLSIを示しており、第5図(b)は、LSIの
裏面のリードピン52…群の配列を示している。この場合
にも、第2実施例とほぼ同様に高周波ノイズフィルタ
(図示せず)を設けることが可能である。ここで、51は
セラミック・パッケージであるが、このパッケージ51の
インナーリード(図示せず)を固定支持する基台部分を
例えば磁性体からなる高周波ノイズフィルタにより構成
するように変更してもよい。
路を内蔵したセラミックタイプのピングリッドアレイ
(PGA)型のLSIを示しており、第5図(b)は、LSIの
裏面のリードピン52…群の配列を示している。この場合
にも、第2実施例とほぼ同様に高周波ノイズフィルタ
(図示せず)を設けることが可能である。ここで、51は
セラミック・パッケージであるが、このパッケージ51の
インナーリード(図示せず)を固定支持する基台部分を
例えば磁性体からなる高周波ノイズフィルタにより構成
するように変更してもよい。
第6図は、本発明の第4実施例として高周波回路を内
蔵した金属タイプのピングリッドアレイ型のLSIを示し
ている。この場合にも、第2実施例とほぼ同様に高周波
ノイズフィルタ(図示せず)を設けることが可能であ
る。ここで、61は金属パッケージの蓋部、62…はリード
ピン群であり、この金属パッケージのインナーリード
(図示せず)を固定支持する基台部分を例えば磁性体か
らなる高周波ノイズフィルタにより構成するように変更
してもよい。
蔵した金属タイプのピングリッドアレイ型のLSIを示し
ている。この場合にも、第2実施例とほぼ同様に高周波
ノイズフィルタ(図示せず)を設けることが可能であ
る。ここで、61は金属パッケージの蓋部、62…はリード
ピン群であり、この金属パッケージのインナーリード
(図示せず)を固定支持する基台部分を例えば磁性体か
らなる高周波ノイズフィルタにより構成するように変更
してもよい。
また、上記各実施例では、1本のアウターリード2に
対して1本のインナーリード3しか存在しない場合を想
定したが、本発明のさらに他の実施例に係るLSIとし
て、第7図あるいは第8図に示すように、1本のアウタ
ーリード2から2本のインナーリード3…を分岐させる
(実際には、プレス成型により1本のアウターリードか
ら2本のインナーリードを分岐させたり、アウターリー
ドと一体的に連なる1本のインナーリードに対して別の
1本のインナーリードを溶接したりする。)ように形成
した場合には、この2本のインナーリード3…のうちの
片方にのみ高周波ノイズフィルタ7を一体的(第7図の
場合)あるいは個別(第8図の場合)に設け、この2本
のインナーリード3…のうちの任意の一方にボンディン
グ接続を行って高周波ノイズフィルタの経由またはバイ
パスを選択するようにしてもよい。
対して1本のインナーリード3しか存在しない場合を想
定したが、本発明のさらに他の実施例に係るLSIとし
て、第7図あるいは第8図に示すように、1本のアウタ
ーリード2から2本のインナーリード3…を分岐させる
(実際には、プレス成型により1本のアウターリードか
ら2本のインナーリードを分岐させたり、アウターリー
ドと一体的に連なる1本のインナーリードに対して別の
1本のインナーリードを溶接したりする。)ように形成
した場合には、この2本のインナーリード3…のうちの
片方にのみ高周波ノイズフィルタ7を一体的(第7図の
場合)あるいは個別(第8図の場合)に設け、この2本
のインナーリード3…のうちの任意の一方にボンディン
グ接続を行って高周波ノイズフィルタの経由またはバイ
パスを選択するようにしてもよい。
[発明の効果] 上述したように本発明の半導体集積回路装置によれ
ば、高周波回路を集積回路に内蔵した場合でも、高周波
の輻射ノイズを低減でき、この集積回路自体の誤動作や
相互接続されている他の集積回路や別の集積回路の誤動
作を防止することができる。これにより、この集積回路
を使用したシステムがEMI法規制で要求されるレベルを
満たすことが容易になる。また、集積回路装置からの高
周波の輻射ノイズおよび微弱な外来ノイズにも高感度に
反応して誤動作が益々生じ易くなっている超高速集積回
路装置を正常に動作させることができる。
ば、高周波回路を集積回路に内蔵した場合でも、高周波
の輻射ノイズを低減でき、この集積回路自体の誤動作や
相互接続されている他の集積回路や別の集積回路の誤動
作を防止することができる。これにより、この集積回路
を使用したシステムがEMI法規制で要求されるレベルを
満たすことが容易になる。また、集積回路装置からの高
周波の輻射ノイズおよび微弱な外来ノイズにも高感度に
反応して誤動作が益々生じ易くなっている超高速集積回
路装置を正常に動作させることができる。
第1図(a)は本発明の第1実施例に係るプラスチック
・フラット・パッケージ型の半導体集積回路装置を一部
透視して示す斜視図、第1図(b)は第1図(a)中の
パッケージ内部の一部を示す斜視図、第2図は第1図中
の高周波ノイズフィルタの等価回路を示す回路図、第3
図は第1図中のインナーリードの出力波形および入力波
形の立上り時間および立下り時間を説明するために示す
図、第4図は本発明の第2実施例に係るセラミック・フ
ラット・パッケージ型の半導体集積回路装置を一部透視
して示す斜視図、第5図(a)は本発明の第3実施例に
係るセラミックタイプのピングリッドアレイ型の半導体
集積回路装置を示す斜視図、第5図(b)は第5図
(a)の半導体集積回路装置の裏面のリード端子群の配
列を示す平面図、第6図は本発明の第4実施例に係る金
属タイプのピングリッドアレイ型の半導体集積回路装置
を示す斜視図、第7図および第8図は本発明のさらに他
の実施例に係る半導体集積回路装置において1本のアウ
ターリードから2本のインナーリードを分岐させた場合
の高周波ノイズフィルタの装着状態を示す斜視図であ
る。 1……プラスチック・フラット・パッケージ、2……ア
ウターリード、3……インナーリード、4……集積回路
チップ、5……ボンディングパッド、6……ボンディン
グワイヤ、7……高周波ノイズフィルタ、40……セラミ
ック・フラット・パッケージの基台部、41……セラミッ
ク・フラット・パッケージの蓋部、51……セラミック・
パッケージ、52、62……リードピン、61……金属パッケ
ージ
・フラット・パッケージ型の半導体集積回路装置を一部
透視して示す斜視図、第1図(b)は第1図(a)中の
パッケージ内部の一部を示す斜視図、第2図は第1図中
の高周波ノイズフィルタの等価回路を示す回路図、第3
図は第1図中のインナーリードの出力波形および入力波
形の立上り時間および立下り時間を説明するために示す
図、第4図は本発明の第2実施例に係るセラミック・フ
ラット・パッケージ型の半導体集積回路装置を一部透視
して示す斜視図、第5図(a)は本発明の第3実施例に
係るセラミックタイプのピングリッドアレイ型の半導体
集積回路装置を示す斜視図、第5図(b)は第5図
(a)の半導体集積回路装置の裏面のリード端子群の配
列を示す平面図、第6図は本発明の第4実施例に係る金
属タイプのピングリッドアレイ型の半導体集積回路装置
を示す斜視図、第7図および第8図は本発明のさらに他
の実施例に係る半導体集積回路装置において1本のアウ
ターリードから2本のインナーリードを分岐させた場合
の高周波ノイズフィルタの装着状態を示す斜視図であ
る。 1……プラスチック・フラット・パッケージ、2……ア
ウターリード、3……インナーリード、4……集積回路
チップ、5……ボンディングパッド、6……ボンディン
グワイヤ、7……高周波ノイズフィルタ、40……セラミ
ック・フラット・パッケージの基台部、41……セラミッ
ク・フラット・パッケージの蓋部、51……セラミック・
パッケージ、52、62……リードピン、61……金属パッケ
ージ
Claims (4)
- 【請求項1】高周波回路を内蔵した半導体集積回路装置
において、 前記高周波回路が形成されている集積回路チップと、 この集積回路チップ上のボンディングパッドが選択的に
接続される、1本のアウターリードから分岐された2本
のインナーリードを有してなるリード群と、 このリード群の、少なくとも2本に分岐されたインナー
リードのうちの片方にのみ設けられた高周波ノイズフィ
ルタと、 この高周波ノイズフィルタを含んで、前記集積回路チッ
プを収納するパッケージと を具備したことを特徴とする半導体集積回路装置。 - 【請求項2】高周波回路を内蔵した半導体集積回路装置
において、 前記高周波回路が形成されている集積回路チップと、 この集積回路チップ上のボンディングパッドがそれぞれ
接続されるインナーリード群と、 このインナーリード群を固定支持する高周波ノイズフィ
ルタと、 この高周波ノイズフィルタを含んで、前記集積回路チッ
プを収納するパッケージと を具備したことを特徴とする半導体集積回路装置。 - 【請求項3】高周波回路を内蔵した半導体集積回路装置
において、 集積回路チップ外部に設けられた高周波ノイズフィルタ
と、 この高周波ノイズフィルタを含んで前記集積回路チップ
を収納する、導電材により形成され、または、絶縁材に
より形成されてその表面が導電材あるいは電磁波吸収材
により覆われてなるパッケージと を具備したことを特徴とする半導体集積回路装置。 - 【請求項4】前記パッケージの表面が低インピーダンス
の電源電位端子に電気的に接続されていることを特徴と
する請求項3項記載の半導体集積回路装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2194076A JP2530051B2 (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 半導体集積回路装置 |
US07/734,733 US5220298A (en) | 1990-07-24 | 1991-07-23 | Integrated circuit having a built-in noise filter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2194076A JP2530051B2 (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 半導体集積回路装置 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0480950A JPH0480950A (ja) | 1992-03-13 |
JP2530051B2 true JP2530051B2 (ja) | 1996-09-04 |
Family
ID=16318561
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2194076A Expired - Fee Related JP2530051B2 (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 半導体集積回路装置 |
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---|---|
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US5428245A (en) * | 1994-05-06 | 1995-06-27 | National Semiconductor Corporation | Lead frame including an inductor or other such magnetic component |
US5889370A (en) * | 1996-03-22 | 1999-03-30 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | Structure for eliminating noise in light source device for electronic endoscope |
US5812384A (en) * | 1996-12-17 | 1998-09-22 | General Electric Company | Matrix filters for low-noise power distribution systems |
US5917233A (en) * | 1997-02-18 | 1999-06-29 | The Whitaker Corporation | Integrated circuit having a parasitic resonance filter |
JP3404249B2 (ja) * | 1997-03-26 | 2003-05-06 | 三菱電機株式会社 | 磁気センサ |
JP4398056B2 (ja) * | 2000-04-04 | 2010-01-13 | Necトーキン株式会社 | 樹脂モールド体 |
JP3654136B2 (ja) * | 2000-05-17 | 2005-06-02 | 日本電気株式会社 | 擬似大地化の方法及び装置 |
US6642811B2 (en) * | 2002-01-30 | 2003-11-04 | International Business Machines Corporation | Built-in power supply filter for an integrated circuit |
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US7145217B2 (en) * | 2005-01-25 | 2006-12-05 | Kyocera Corporation | Chip-type noise filter, manufacturing method thereof, and semiconductor package |
JP4492454B2 (ja) * | 2005-06-20 | 2010-06-30 | 富士電機システムズ株式会社 | パワー半導体モジュール |
JP5709373B2 (ja) | 2009-12-07 | 2015-04-30 | Ntn株式会社 | インホイールモータ駆動装置 |
DE102010001152A1 (de) * | 2010-01-22 | 2011-07-28 | Robert Bosch GmbH, 70469 | Elektronikvorrichtung und Herstellungsverfahren für eine Elektronikvorrichtung |
US8954017B2 (en) | 2011-08-17 | 2015-02-10 | Broadcom Corporation | Clock signal multiplication to reduce noise coupled onto a transmission communication signal of a communications device |
US20130082764A1 (en) * | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Broadcom Corporation | Apparatus and method to combine pin functionality in an integrated circuit |
US9812588B2 (en) * | 2012-03-20 | 2017-11-07 | Allegro Microsystems, Llc | Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material |
US10234513B2 (en) | 2012-03-20 | 2019-03-19 | Allegro Microsystems, Llc | Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material |
US20200059204A1 (en) * | 2018-08-14 | 2020-02-20 | Nxp Usa, Inc. | Amplifiers with broadband impedance matching and methods of manufacture thereof |
US11949393B2 (en) * | 2019-03-28 | 2024-04-02 | Em Coretech Co., Ltd. | Divided active electromagnetic interference filter module and manufacturing method thereof |
USD920265S1 (en) * | 2019-09-29 | 2021-05-25 | China Chippacking Technology Co., Ltd. | Integrated circuit package |
USD920266S1 (en) * | 2019-09-29 | 2021-05-25 | China Chippacking Technology Co., Ltd. | Integrated circuit package |
USD934187S1 (en) * | 2020-01-21 | 2021-10-26 | Lang Cheng | Integrated circuit package |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS6382951U (ja) * | 1986-11-19 | 1988-05-31 | ||
JPH01274499A (ja) * | 1988-04-26 | 1989-11-02 | Mitsubishi Electric Corp | 電子部品 |
US5012201A (en) * | 1988-10-25 | 1991-04-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Variable impedance circuit |
JPH03131112A (ja) * | 1989-10-17 | 1991-06-04 | Sanyo Electric Co Ltd | ノイズフィルタ |
JPH03159303A (ja) * | 1989-11-17 | 1991-07-09 | Sanyo Electric Co Ltd | ノイズフィルタ |
-
1990
- 1990-07-24 JP JP2194076A patent/JP2530051B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-07-23 US US07/734,733 patent/US5220298A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5220298A (en) | 1993-06-15 |
JPH0480950A (ja) | 1992-03-13 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |