JP2024054399A - 測定システムのための係止アセンブリ - Google Patents

Abstract

【課題】測定システム用の好適な係止アセンブリを提供する。【解決手段】本開示は一側面でサンプル管アセンブリを測定システムのサンプルマニホールドに固着させるための係止アセンブリを対象とする。係止アセンブリは、その中に画定され、サンプル管アセンブリの一部を少なくとも部分的に受容するように構成される１つ以上のスロットを有するランプブロックを含む。ランプブロックはそれに沿って画定されサンプル管アセンブリをサンプルマニホールドに向かってかつそれと係合するように係合および移動させるように構成される複数の表面特徴も含む。ランプブロックはさらにサンプル管アセンブリが１つ以上のスロットまたは開口部を通して受容されることを可能にするための開放位置、サンプル管アセンブリをサンプルマニホールドに対してまたはその中に実質的にシールする閉鎖位置を含む複数の位置の間で移動可能である。他側面もまた説明される。【選択図】図１

Description

（関連出願の相互参照）
本願は、２０１８年１月２９日に出願された、米国仮特許出願第６２／６２３，１６８号の利益を主張する。

２０１８年１月２９日に出願された、米国仮特許出願第６２／６２３，１６８号の開示は、その全体として本明細書に提示された場合と同程度に、あらゆる目的のために、参照することによって本明細書に組み込まれる。

本開示の実施形態は、概して、測定システムを対象とし、より具体的には、サンプル管アセンブリを測定システムのサンプルマニホールド内に固着させるための係止アセンブリを対象とする。他の側面もまた、説明される。

１つ以上のサンプル管を測定システムの受容マニホールドの中に装填することは、扱いにくい、または困難であり得る。例えば、サンプル管を装填する、または取り付けるステップは、時として、片手のみを使用して、複数の緩んだ部品を取り扱うステップを要求し得る。サンプル管はさらに、サンプルの試験において高温または低温のガスまたは液体の使用、および／またはサンプル管の加熱または冷却に起因して、接触するには著しく熱い、または冷たい場合があり、これは、サンプル管を落下および損傷させ得る。加えて、そのようなサンプル管は、典型的には、サンプル管のコレットナットによって、例えば、１つ以上のねじ山付きコネクタを回転させることによって、多くのタイプの測定システムの中に取り付けまたは装填され、その回転は、例えば、測定システムおよびサンプル管またはシール機構の表面間の摩擦に起因して、サンプル管またはそれに取り付けられるシール機構への損傷を引き起こし得る。回転からの摩擦はさらに、サンプル管を損傷させる、および／またはそれに取り付けられるいかなるシール部材も引裂する、剥取する、または別様に損傷させ、潜在的に、試験の間に漏出またはシール破損を引き起こし得る。サンプル管保定機構はさらに、装填の間、過剰または過少に回転され、シール部材の非一貫した装填（例えば、過剰または過少圧縮）を引き起こし得、これは、サンプル管および／またはシール部材に不十分なシールまたは損傷をもたらし得る。故に、取付の容易さを可能にし、サンプル管アセンブリとマニホールドとの間の実質的に一貫した力または応力の印加を促進し、かつ当技術分野における他の関連する、および関連しない課題または問題に対処する、サンプル管アセンブリのための係止アセンブリの必要性が存在することを理解されたい。

手短に述べると、本開示は、ある側面において、サンプル管アセンブリを測定システムのサンプルマニホールドに固着させるために構成される、係止アセンブリを対象とする。係止アセンブリは、サンプル管アセンブリを受容し、それをサンプルマニホールドに固着させるための複数の位置の間で移動可能である、ランプブロックを含み得る。ランプブロックは、サンプル管アセンブリの少なくとも一部を受容するための、その中に画定される、１つ以上のスロットを伴う、本体を含むことができる。ランプブロックはさらに、ランプブロックが、複数の位置の間で移動されるにつれて、サンプル管アセンブリをサンプルマニホールドに向かって、かつそれと係合するように係合および移動させるように構成される、表面特徴（例えば、角度付けられた、または傾斜された表面を含む）を含むことができる。

一実施形態では、複数の位置は、ランプブロックが、サンプル管アセンブリがランプブロック内に受容される、またはその中の１つ以上のスロットまたは開口部を通過することを可能にするように位置付けられ／配列されている、開放位置を含むことができる。複数の位置はまた、サンプル管アセンブリが、サンプルマニホールド内に保持されるが、サンプルマニホールドとサンプル管アセンブリとの間には、部分的シールのみが作製されるか、または完全なシールは作製されない、半閉鎖位置または他の中間位置等の１つ以上の中間位置を含むことができるが、但し、複数の中間位置は、サンプル管アセンブリとサンプルマニホールドとの間に、シールが作製されない、他の位置も含むことができる。複数の位置は、加えて、サンプル管アセンブリが、サンプルマニホールドに対して、またはその中で実質的にシールされ、その中に受容される１つ以上のサンプルの試験を可能にする状態にある、サンプル管アセンブリが、係止位置にある、閉鎖位置を含むことができる。

加えて、係止アセンブリは、ランプブロックを複数の位置の間で移動させるように動作可能である、レバー機構または他のアクチュエータ、例えば、モータまたは他の好適なアクチュエータを含んでもよい。レバー機構は、ランプブロックに連通可能に結合され、その移動を駆動する、駆動シャフトと連通することができる。

さらに、係止アセンブリは、ランプブロックを位置決めし、ランプブロックが、具体的な位置、例えば、開放位置、半閉鎖位置、閉鎖位置、または別の好適な中間位置または場所にあることを示すように、ユーザに触覚フィードバックを提供するためのフィードバックアセンブリを含むことができる。一実施形態では、フィードバックアセンブリは、駆動シャフトに沿って画定される、複数の戻り止めと、それに隣接して搭載される、プランジャアセンブリとを含むことができる。プランジャアセンブリは、戻り止めの中に選択的に受容され、ユーザに触覚フィードバックを提供し得る、ばね荷重されたプランジャを含むことができる。プランジャアセンブリおよび戻り止めはさらに、係止アセンブリを具体的な位置、例えば、開放位置、半閉鎖位置、閉鎖位置、または別の好適な中間位置または場所に保持することに役立ち得る。一例示的実施形態では、フィードバックアセンブリは、それに動作可能に接続され、ユーザに、サンプル管が、サンプルマニホールド内に適切に配設／シールされている、またはされていないことをユーザに通知するため等のフィードバックを提供するプロセッサを有する、コントローラ、制御システム、または他のコンピューティングデバイスと通信し得る。

一例示的実施形態では、サンプル管アセンブリは、それぞれが、その上部部分に、その中への１つ以上のサンプルの受容のための開口部を伴う、一対の脚部を有する、Ｕ字形状のサンプル管を含むことができる。サンプル管アセンブリは、加えて、実質的に自己保定型である、例えば、サンプル管アセンブリの上側部分に沿った座部の中に少なくとも部分的に受容されるようなサイズにされる、エラストマまたは他のシール材料から形成される、Ｏリング等の１つ以上のシール部材を有することができる。

サンプル管アセンブリはまた、サンプル管の脚部のまわりで少なくとも部分的に受容され得るコレットアセンブリを含むことができる。コレットアセンブリは、例えば、挟持機構を使用して相互に取り付けられ得る、コレットを含むことができる。挟持機構は、締結具を使用してともに取り付けられる、または緊締される、前部および後部挟持部分を有することができる。サンプル管の脚部は、接続されたコレットの間に少なくとも部分的に受容され、サンプル管の脚部の突出端上に受容される、Ｏリングによって定位置に保定されることができる。コレットはそれぞれ、その上部に沿って／隣接してその中に画定される溝または切り欠きを伴う、本体を有してもよく、その切り欠きまたは溝は、ランプブロックの少なくとも一部を受容するようなサイズにされる、寸法決めされる、または別様に構成されることができる。切り欠き／溝はさらに、ランプブロックの表面特徴に接触または係合する、肩部または面を画定することができる。

一実施例では、ランプブロックの１つ以上の表面特徴は、コレットアセンブリ（例えば、切り欠き／溝によって画定される、肩部または面）に接触または係合するように成形、構築、または別様に構成され、サンプル管アセンブリをサンプルマニホールドに向かっておよび／またはその中に移動または押勢することができる。例えば、ランプブロックは、その間に位置付けられる、傾斜または角度付けられた区分または部分を伴う、複数の略平坦な部分を有する、階段状の上側表面を含むことができ、その略平坦な部分は、概して、開放、閉鎖、または他の中間位置に対応し得る。

ランプブロックが、開放位置にある状態では、それに取り付けられるコレットを伴う、サンプル管の脚部は、ランプブロック内に画定される開口部を通して少なくとも部分的に受容されることができる。レバー／作動機構は、アクティブ化され、ランプブロックを半閉鎖位置または他の中間位置に移動させることができ、ランプブロックの１つ以上の傾斜された／角度付けられた区分が、コレットの肩部または面に少なくとも部分的に係合し、サンプル管をサンプルマニホールドに向かって、および／または少なくとも部分的にその中に移動させることができる。レバー／作動機構はさらに、アクティブ化され、ランプブロックを閉鎖位置に向かって移動させることができ、ランプブロックが、移動されるにつれて、ランプブロックの１つ以上の傾斜または角度付けられた区分が、コレットの肩部または面に係合し、サンプル管をさらにサンプルマニホールドの中に移動させ、シール部材を、サンプルマニホールド内のボア孔に沿って画定される、１つ以上の係合表面に対して押勢し、その中にサンプル管アセンブリを実質的にシールすることができる。加えて、レバー／作動機構が、アクティブ化され、ランプブロックをその位置、例えば、開放、半閉鎖、閉鎖位置、および／または種々の中間位置のそれぞれの間で移動させるにつれて、ばね荷重されたプランジャが、駆動シャフト上の戻り止めの中に受容され、ランプブロックの位置に関する触覚フィードバックを提供することができる。プランジャと戻り止めとの間の係合はさらに、ランプブロックをその位置のそれぞれに保持または支持することに役立ち得る。

結果として、サンプル管アセンブリは、サンプル管アセンブリを片手のみで支持するときであっても、サンプルマニホールドアセンブリの中に確実に装填されることができる。また、サンプル管またはシール部材は、例えば、概して、線形運動／移動を使用して、回転を伴わずにサンプルマニホールドの表面とシール係合する状態にもたらされ得、これは、サンプル管アセンブリまたはそれに取り付けられるシール部材への損傷および／または摩耗を防止する、または最小限にし（例えば、シール部材の引裂または剥取を防止し）、サンプル管アセンブリおよびシール部材の動作寿命を向上させ得る。加えて、本開示の係止アセンブリは、サンプル管が、装填される度に、サンプル管アセンブリ、例えば、シール部材とサンプルマニホールドとの間への実質的に一貫した力または応力の印加を促進し、例えば、シール部材の過剰または過少圧縮を防止することができる。係止アセンブリは、したがって、さらに、サンプル管アセンブリとサンプルマニホールドとの間の適切なシールを確実にすることに役立ち得、また、その過剰圧縮／過剰装填に起因する、シール部材への損傷を低減させる、最小限にさせる、または防止することに役立ち得る。

本開示の種々の目的、特徴、および利点が、付随の図面と併せた以下の詳細な説明の精査の結果、当業者に明白となることになる。
本発明は、例えば、以下を提供する。
（項目１）
測定システムであって、
ベースプレートと、
１つ以上のサンプル管を受容するように構成されるサンプル管アセンブリと、
サンプルマニホールドであって、上記サンプルマニホールドは、上記ベースプレートに接続され、上記サンプル管アセンブリを受容し、それによって、上記サンプル管アセンブリが、上記測定システムに連通可能に結合されるように構成される、サンプルマニホールドと、
上記サンプル管アセンブリを上記サンプルマニホールドに固着させるための係止アセンブリであって、上記係止アセンブリは、
ランプブロックであって、上記ランプブロックは、１つ以上のスロットがその中に画定されている本体であって、上記スロットは、上記サンプル管アセンブリの一部を少なくとも部分的に受容するように構成される、本体と、複数の表面特徴であって、上記複数の表面特徴は、上記本体に沿って画定され、上記サンプル管アセンブリを上記サンプルマニホールドと係合するように押勢するように構成される、複数の表面特徴とを含み、上記ランプブロックは、複数の位置の間で上記ベースプレートに沿って移動可能であり、上記複数の位置は、上記サンプル管アセンブリの一部が、上記１つ以上のスロットのうちの少なくとも１つを通して受容されるかまたはそこから除去される開放位置と、上記サンプル管アセンブリが、上記サンプル管アセンブリの中に受容される上記１つ以上のサンプルの試験のために、上記サンプルマニホールドに対してまたはその中で実質的にシールされる閉鎖位置とを含む、ランプブロック
を備える、係止アセンブリと
を備える、測定システム。
（項目２）
上記複数の位置はさらに、上記サンプルマニホールドと上記サンプル管アセンブリとの間に実質的に完全なシールが形成されることなく上記サンプル管アセンブリが上記サンプルマニホールドの中で係合される少なくとも１つの中間位置を含む、項目１に記載の測定システム。
（項目３）
上記ランプブロックの表面特徴は、上記ランプブロックの本体の上側表面上に配列される傾斜された、角度付けられた、または勾配が付けられた表面を含む、項目１に記載の測定システム。
（項目４）
上記ランプブロックはさらに、上記ランプブロックの開放位置および閉鎖位置に実質的に対応する場所において、上記本体の上側表面に沿って画定される複数の略平坦な表面を含む、項目１に記載の測定システム。
（項目５）
上記係止アセンブリはさらに、上記ランプブロックをその複数の位置の間で移動させるための操作レバーを含む作動アセンブリを備える、項目１に記載の測定システム。
（項目６）
上記作動アセンブリはさらに、上記ベースプレートに回転可能に結合され、上記操作レバーに動作可能に接続される駆動シャフトと、上記ベースプレートに枢動可能に接続され、上記駆動シャフトおよび上記ランプブロックに結合され、上記操作レバーの作動に応じて、上記ランプブロックの移動を駆動するレバーアームとを含む、項目５に記載の測定システム。
（項目７）
上記ベースプレートに搭載されるプランジャアセンブリを含むフィードバックアセンブリをさらに備え、上記プランジャアセンブリは、上記ランプブロックの位置の触覚フィードバックを提供するために、上記駆動シャフトに沿って画定される複数の戻り止めの中に受容されるように適合される付勢されたプランジャを有する、項目６に記載の測定システム。
（項目８）
上記サンプル管アセンブリは、サンプル管と、コレットとを含み、上記コレットは、少なくとも１つの挟持機構によって上記サンプル管に固着され、上記コレットは、上記ランプブロックの複数の表面特徴に係合するように構成される上記コレットの外側部分に沿って画定される肩部または面を含む、項目１に記載の測定システム。
（項目９）
上記サンプル管アセンブリはさらに、シール部材を含み、上記シール部材は、上記コレットの上側部分に沿って少なくとも部分的に受容され、上記シール部材は、上記ランプブロックが、上記閉鎖位置にあるとき、上記サンプル管アセンブリと上記サンプルマニホールドとの間の実質的にガス密または液密なシールを促進するように構成される、項目８に記載の測定システム。
（項目１０）
上記ランプブロックの１つ以上のスロットは、それに沿って画定された拡張された部分を含み、上記拡張された部分は、上記ランプブロックが、上記開放位置にあるとき、上記サンプル管アセンブリが上記１つ以上のスロットの中に受容されるかまたはそこから除去されることを可能にするように構成される、項目１に記載の測定システム。
（項目１１）
サンプル管アセンブリを測定システムのサンプルマニホールドに固着させるための係止アセンブリであって、
ランプブロックであって、上記ランプブロックは、１つ以上のスロットがその中に画定されている本体であって、上記１つ以上のスロットは、それを通して上記サンプル管アセンブリの一部を少なくとも部分的に受容するように構成される、本体と、複数の表面特徴であって、上記複数の表面特徴は、上記本体の表面に沿って画定され、上記サンプル管アセンブリを上記サンプルマニホールドに向かって、かつそれと係合するように係合および指向するように構成される、複数の表面特徴とを含む、ランプブロック
を備え、
上記ランプブロックは、複数の位置の間で移動可能であり、上記複数の位置は、上記サンプル管アセンブリの一部が、上記１つ以上のスロットを通して受容されるかまたはそこから除去されることを可能にするように、上記ランプブロックが位置付けまたは配列される開放位置と、上記サンプル管アセンブリが、上記サンプルマニホールド内で実質的にシールされる、閉鎖位置とを含む、係止アセンブリ。
（項目１２）
上記ランプブロックの複数の位置はさらに、上記サンプル管アセンブリが上記サンプルマニホールドと上記サンプル管アセンブリとの間に完全なシールを用いずに上記サンプルマニホールド内に保持される１つ以上の中間位置を含む、項目１１に記載の係止アセンブリ。
（項目１３）
上記表面特徴は、上記ランプブロックの上側表面に沿って画定される傾斜された、角度付けられた、または勾配が付けられた表面を含む、項目１１に記載の係止アセンブリ。
（項目１４）
上記ランプブロックはさらに、上記ランプブロックの開放位置および閉鎖位置に実質的に対応する場所において、その上記上側表面に沿って画定される略平坦な表面を含む、項目１３に記載の係止アセンブリ。
（項目１５）
上記複数の位置の間で上記ランプブロックを移動させるように構成される操作レバーを含む作動アセンブリをさらに備える、項目１１に記載の係止アセンブリ。
（項目１６）
上記作動アセンブリはさらに、上記操作レバーに動作可能に接続される駆動シャフトと、上記駆動シャフトおよび上記ランプブロックに結合され、上記操作レバーの作動に応じて、上記ランプブロックの移動を駆動するレバーアームとを含む、項目１５に記載の係止アセンブリ。
（項目１７）
上記ランプブロックの位置の触覚フィードバックを提供するために、上記駆動シャフトに沿って画定される複数の戻り止めの中に受容されるように適合される付勢されたプランジャを有するプランジャアセンブリを含むフィードバックアセンブリをさらに備える、項目１６に記載の係止アセンブリ。
（項目１８）
上記サンプル管アセンブリは、１つ以上のサンプルが受容されるサンプル管と、コレットとを備え、上記コレットは、少なくとも１つの挟持機構によって上記サンプル管に固着され、上記コレットは、その外側部分に沿って画定される肩部または面を含み、上記ランプブロックの複数の表面特徴に係合するように構成される、項目１１に記載の係止アセンブリ。
（項目１９）
上記サンプル管アセンブリはさらに、シール部材を含み、上記シール部材は、上記コレットの上側部分に沿って少なくとも部分的に受容され、上記シール部材は、上記ランプブロックが、上記閉鎖位置にあるとき、上記サンプル管アセンブリと上記サンプルマニホールドとの間の実質的にガス密または液密なシールを促進する、項目１８に記載の係止アセンブリ。
（項目２０）
上記ランプブロックの１つ以上のスロットは、拡張された部分を含み、上記拡張された部分は、上記ランプブロックが、上記開放位置にあるとき、上記サンプル管アセンブリが、上記１つ以上のスロットの中に受容されるかまたはそこから除去されることを可能にするように構成される、項目１１に記載の係止アセンブリ。

例証の単純化および明確化のために、図に図示される要素は、必ずしも縮尺通りに描かれていないことを理解されたい。例えば、いくつかの要素の寸法は、他の要素に対して誇張され得る。本開示の教示を組み込む実施形態が、本明細書の図面に関して示され、説明される。

図１は、測定システムのためのサンプルポートマニホールドアセンブリの分解図を示し、このサンプルポートマニホールドアセンブリは、本開示の原理による、サンプル管アセンブリのための係止アセンブリを有する。

図２は、本開示のある側面による、係止アセンブリのランプブロックの斜視図を示す。

図３Ａ－３Ｂは、本開示の原理による、ランプブロックが、閉鎖位置にある、サンプル管アセンブリおよびランプブロックの斜視図を示す。 図３Ａ－３Ｂは、本開示の原理による、ランプブロックが、閉鎖位置にある、サンプル管アセンブリおよびランプブロックの斜視図を示す。

図４Ａ－Ｃは、ランプブロックが、開放位置にある、係止アセンブリの平面図および側面図を示す。 図４Ａ－Ｃは、ランプブロックが、開放位置にある、係止アセンブリの平面図および側面図を示す。 図４Ａ－Ｃは、ランプブロックが、開放位置にある、係止アセンブリの平面図および側面図を示す。

図５Ａ－Ｃは、ランプブロックが、中間位置にある、係止アセンブリの平面図および側面図を示す。 図５Ａ－Ｃは、ランプブロックが、中間位置にある、係止アセンブリの平面図および側面図を示す。 図５Ａ－Ｃは、ランプブロックが、中間位置にある、係止アセンブリの平面図および側面図を示す。

図６Ａ－Ｄは、ランプブロックが、閉鎖または係止位置にある、係止アセンブリの斜視図、平面図、および側面図を示す。 図６Ａ－Ｄは、ランプブロックが、閉鎖または係止位置にある、係止アセンブリの斜視図、平面図、および側面図を示す。 図６Ａ－Ｄは、ランプブロックが、閉鎖または係止位置にある、係止アセンブリの斜視図、平面図、および側面図を示す。 図６Ａ－Ｄは、ランプブロックが、閉鎖または係止位置にある、係止アセンブリの斜視図、平面図、および側面図を示す。

図７Ａ－Ｃは、本開示の原理による、係止アセンブリの断面図を示す。 図７Ａ－Ｃは、本開示の原理による、係止アセンブリの断面図を示す。 図７Ａ－Ｃは、本開示の原理による、係止アセンブリの断面図を示す。

図と組み合わせられた以下の説明は、本明細書に開示される教示を理解することを補助するために提供される。説明は、本教示の具体的な実装および実施形態にフォーカスされ、本教示を説明することを補助するために提供される。このフォーカスは、本教示の範囲または可用性の限定として解釈されるべきではない。

図１は、本開示の原理による、サンプル管アセンブリ１４のためのサンプル管係止アセンブリ４０を伴う、測定システムのサンプルポートマニホールドアセンブリ１０の分解図を示す。ＡｕｔｏＣｈｅｍシステム、ＡＳＡＰシステム、Ｔｒｉｓｔａｒ、およびＭｉｃｒｏｍｅｒｉｔｉｃｓ Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ ｏｆ Ｎｏｒｃｒｏｓｓ（ＧＡ）によって提供されるような３Ｆｌｅｘシステム、および／またはサンプル試験管を使用する、任意の他の好適な測定デバイスまたはシステム等の種々の測定システムが、使用されることができる。一実施形態では、図１に示されるように、測定システムのサンプルポートマニホールドアセンブリ１０は、１つ以上のサンプル管アセンブリ１４を受容し、サンプル管アセンブリ１４を測定システムのサンプルポートマニホールドアセンブリ１０に連通可能に結合する、またはそれに別様に接続するように構成される、サンプルマニホールド１２を含むことができる。サンプルマニホールド１２は、その中に画定される、１つ以上のサンプル管ボアまたは孔１８を伴う、本体１６を含むことができる。サンプル管ボア／孔１８は、概して、サンプル管アセンブリ１４の少なくとも一部、例えば、サンプル管２０の一部を受容するようなサイズにされる、寸法決めされる、および／または構成される。ボア／孔１８はさらに、ガスまたは他の流体媒体（例えば、液体等）が、サンプル管２０とサンプルポートマニホールドアセンブリ１０との間に輸送され、サンプル管２０の中に受容されるサンプルまたは複数のサンプルの試験を促進することを可能にする、配管、導管、またはチャネルのネットワーク等の１つ以上の流体通路２２と連通する。

図１はさらに、サンプルマニホールド１２が、例えば、１つ以上の締結具（図示せず）または他の好適な取付機構を使用して、測定システム１０のベースプレート２４の上側表面２４Ａに接続され得ることを示す。加えて、複数の支柱２６が、ベースプレート２４へのサンプルマニホールド１２の取付を促進することができる。例えば、支柱２６はそれぞれ、両端部において画定される開口部を伴う、それを通して画定されるボア３０を有する、略管状の本体２８を有し、ベースプレート２４にサンプルマニホールド１２を取り付けるための締結具の受容を可能にすることができる。ボア３０は、ねじ山付き締結具に噛合可能に係合するために、それに沿った１つ以上のねじ山付き部分を有し得るが、ボアはまた、本開示から逸脱することなく、略平滑な内部表面を有することもできる。サンプルマニホールド１２はさらに、少なくとも部分的にベースプレート２４を通して画定される開口または開口部３２にわたって、および／またはそれに沿って位置付けられることができる。開口部３２は、概して、それを通したサンプル管アセンブリ１４の少なくとも一部の通過を可能にし、少なくとも部分的にサンプルマニホールド１２のボア／孔１８の中へのサンプル管アセンブリ１４の受容を可能にするようなサイズにされる、および／または構成される。

加えて、断熱および誘導ブロック３４が、ベースプレート３２の下方／真下に位置付けられることができる。誘導ブロック３４は、それを通して画定される、１つ以上のボアまたは通路３６を伴う本体３５を有することができる。誘導ブロック３４の本体３５は、アルミニウムまたは他の金属等の金属から、またはプラスチック、複合物等、またはこれらおよび他の材料の組み合わせ等の他の好適な材料を使用して形成されることができる。誘導ブロック３４はまた、それを通して画定されるボアまたは通路３６が、概して、サンプルマニホールド１２のボア１８と略同軸になるように位置付けられることができる。故に、断熱誘導ブロック３４のボア３６は、サンプル管アセンブリ１４が、サンプルマニホールド１２の中に装填されるにつれて、サンプル管アセンブリ１４をサンプルマニホールド１２に向かって誘導または指向することができる。

一実施形態では、サンプル管２０は、炉アセンブリ等の中で、またはサンプル管を加熱するための加熱器または他の好適な加熱機構からの熱の他の印加によって加熱されることができる。例えば、炉アセンブリは、サンプル管を、ほぼ室温（またはより低温）から最大約ｌ，０００℃まで加熱することができるが、炉アセンブリまたは加熱器は、本開示から逸脱することなく、サンプル管アセンブリ１４を、２０℃を下回る、および／または１，０００℃を上回る温度等の任意の好適な温度まで加熱するように構成されることができる。加えて、サンプルマニホールドは、例えば、最大１５０℃の温度まで加熱され得る、被加熱アセンブリであることができる。断熱がさらに、提供され、サンプルマニホールドおよび／またはサンプル管アセンブリの加熱された区域間の温度が、外部の影響によって改変または別様に影響を及ぼされないことを確実にすることができる。一例示的実施形態では、断熱は、Ｃａｒｂｏｒｕｎｄｕｍ Ｄｕｒａｂｏａｒｄ（Ｒ） ＬＤ製のディスクまたは他の好適な断熱材料等の１つ以上の断熱ディスクを含み、サンプル管アセンブリの内部温度を断熱および留保し、外部影響を防止または最小限にし、誘導ブロック３４を通した加熱される区域へのかつそれからの熱の遷移または伝達を実質的に防止する、または実質的に最小限にすることができる。

さらに図１に示されるように、測定システムのサンプルポートマニホールドアセンブリ１０は、サンプル管アセンブリ１４をサンプルマニホールド１２に固着させるための、係止アセンブリ４０を含むことができる。一実施形態では、係止アセンブリ４０は、複数の位置の間で移動可能であり、サンプルマニホールド１２の中へのサンプル管アセンブリ１４の装填を促進し、サンプル管アセンブリ１４をサンプルマニホールド１２内の実質的にシールされた位置に係止および保持する、ランプブロック４２を含む。例えば、ランプブロック４２は、ランプブロック４２内の１つ以上の開口部／スロット６４を通したサンプル管の装填またはその取外を可能にする、開放位置４４まで移動可能である（図４Ａ－Ｃ）。ランプブロック４２はさらに、１つ以上の中間位置、例えば、中間位置４６（図５Ａ－Ｃ）または半閉鎖位置（図示せず）まで移動可能であり、サンプルマニホールド内でサンプル管アセンブリ１４を保持または支持する。加えて、ランプブロック４２は、サンプルマニホールド内でサンプル管アセンブリ１４を実質的にシールする、閉鎖または係止位置４８まで移動可能である（図６Ａ－Ｄ）。ランプブロック４２は、作動アセンブリ／機構、例えば、ランプブロック４２を複数の位置または他の位置または場所のそれぞれの間で移動させるように移動または別様にアクティブ化され得る、図１に示されるような操作レバーアセンブリ５０によって作動または移動されることができる。

図２は、本開示のある側面による、ランプブロック４２を示す。図２に示されるように、ランプブロック４２は、概して、上部５４、底部５６、前部５８、後部６０、および側面６２部分または区分を有する、本体５２を含む。ランプブロック４２の本体５２は、真鍮、青銅、燐青銅、または他の好適な金属材料等の金属材料から形成されることができ、一例示的実施形態では、ランプブロック本体５２は、耐腐食性９５４ Ｂｅａｒｉｎｇ Ｂｒｏｎｚｅから形成されることができる。しかしながら、プラスチック、複合物、合成物質等、またはこれらおよび他の好適な材料の組み合わせ等の他の好適な材料も、本開示の範囲から逸脱することなく使用されることができる。ランプブロック４２の本体５２は、略長方形の直方体形状または構成を有し得るが、任意の好適な形状／構成、例えば、立方体、球状、多角形、菱形、三角形の形状または構成等も、本開示の範囲から逸脱することなく可能性として考えられる。

図２はさらに、ランプブロック４２の本体５２がさらに、サンプル管アセンブリ１４の少なくとも一部を受容するようなサイズにされる、寸法決めされる、または構成され、それを中心としたランプブロック４２の平行移動または移動を可能にする、その中に画定される、複数のスロットまたは開口部６４を有し得ることを示す。加えて、スロット６４は、スロット６４の拡張部分６８を少なくとも部分的に画定する、１つ以上の開口部６６を有することができる。拡張部分６８は、ランプブロック４２が、開放／装填位置４４にあるとき、サンプル管アセンブリ１４がスロット６４内に受容されることを可能にすることができる。加えて、スロット６４は、少なくとも部分的にサンプルマニホールド１２のボア／孔１８と整合されることができる。結果として、サンプル管アセンブリ１４は、スロット６４を通して受容され、ランプブロック４２によってサンプルマニホールド１２内のシール位置４８へと移動または押勢されることができる。

図１、４Ａ－４Ｃ、５Ａ－５Ｃ、および６Ａ－６Ｄに示されるように、ランプブロック４２は、ベースプレート２４の上側表面２４Ａに沿って／該上側表面のまわりで摺動可能であることができる。ランプブロック４２はまた、サンプルマニホールド１２の一部または区分７２を少なくとも部分的に受容する、該ランプブロックに沿って画定される、または該ランプブロックを通して画定される、スロット、切り欠き、または溝７０を有することができる。スロット７０は、複数の位置のそれぞれの間でのサンプルマニホールド１２を中心としたランプブロック７２の平行移動を可能にする。スロット７０に沿ったランプブロック４２の少なくとも一部は、ランプブロック４２が、位置４４、４６、および４８および／または他の中間位置の間を移動するにつれて、部分７２の一部に摺動可能に接触または別様に係合し、ランプブロック４２を誘導または整合させてもよい。

さらに、図２Ａ－２Ｃに示されるように、ランプブロック４２は、サンプル管アセンブリ１４の少なくとも一部をサンプルマニホールド１２に向かって、かつそれと係合するように係合および移動させるように構成される、それに沿って画定される、複数の表面特徴８０を有することができる。例えば、表面特徴８０は、ランプブロック４２が、その種々の位置の間で移動されるにつれて、サンプル管アセンブリ１４の少なくとも一部に少なくとも部分的に係合するように構成される、ランプブロック４２の上側表面５４Ａ上に画定される、１つ以上の傾斜された、角度付けられた、または勾配が付けられた区分または部分８２、８４を含むことができる。例えば、ランプブロック４２は、サンプル管アセンブリ１４を中間位置４６に向かって、またはそこまで移動させる、および／または半閉鎖位置に向かって、および／またはそこまで移動させるように構成される、少なくとも１つの傾斜された、勾配が付けられた、または角度付けられた区分または部分８２を有することができる。ランプブロック４２はさらに、サンプル管アセンブリを閉鎖されたシール位置４８まで移動させるように構成される、少なくとも１つの傾斜された、勾配が付けられた、または角度付けられた区分または部分８４を有することができる。ランプブロック４２の上側表面５４Ａはさらに、１つ以上の略水平または略平坦な区分または部分８５、８６、８８を含むことができる。区分８５、８６、および８８は、水平軸Ａおよび／またはランプブロックの上側表面５４Ａまたはベースプレートの上側表面２４Ａに対して略平行であることができる。

一実施形態では、ランプブロック４２の上側表面５４Ａは、ランプブロック４２が、階段状の構成または形状を有するように、その間に配列される移行的傾斜区分８２および８４を伴う、３つの略平坦な区分８５、８６、８８を含むことができる。区分８５および８８は、概して、それぞれ、開放位置４４および閉鎖位置４６に対応する。例えば、開放位置４４では、サンプル管アセンブリ１４は、ランプブロック４２のスロット６４の拡張部分６８の中および外に自由に移動され、係止アセンブリ４０への、およびそこからのサンプル管アセンブリ１４の初期の装填および除去を促進することができる（図４Ａ－Ｃ）。加えて、サンプルアセンブリ１４が、スロット６４の中に挿入されている状態では、ランプブロック４２は、概して、図６Ａ－Ｄに示されるように、サンプル管アセンブリ１４が、少なくとも部分的に最上区分８８によって係合され、サンプル管アセンブリ１４が、サンプルマニホールド１２内に実質的にシールされる（例えば、サンプル管アセンブリのシール部材１１２が、サンプルマニホールド１２の少なくとも一部に対して圧縮され得る）、閉鎖位置４８に向かって移動されることができる。

区分８６はさらに、概して、中間位置４６に対応する。図５Ａ－Ｃは、サンプルアセンブリ１４が、スロット６４の中に挿入されている状態では、ランプブロック４２が、中間位置４６まで移動され得、サンプル管アセンブリ１４の少なくとも一部が、サンプルマニホールド１２に対して少なくとも部分的に係合されている状態で、区分８６が、サンプル管アセンブリ１４に少なくとも部分的に係合し得ることを示す。例えば、中間位置４６では、サンプルアセンブリのシール部材１１２は、サンプルマニホールド１２の一部に少なくとも部分的に接触または係合し得るが、サンプル管アセンブリ１４およびサンプルマニホールド１２をシールするようには実質的に圧縮されなくてもよい。中間位置４６は、サンプル管アセンブリ１４、シール部材１１２、および／またはサンプルマニホールド１２の整合を促進することができ、さらに、傾斜区分８４が、わずかな勾配または角度を有し、ランプブロック４２が、閉鎖位置４８まで移動されると、シール部材１１２をサンプルマニホールド１２に対して圧縮し、サンプル管アセンブリ１４をその中でシールすることを可能にすることができる。その間に移行的傾斜区分を伴う３つの略平坦な区分が、図１－６Ｄに示されているが、ランプブロック４２は、サンプル管アセンブリを開放位置４４およびシール／閉鎖位置４６および／または任意の他の好適な中間または半閉鎖または半開放位置の間で移動させるための任意の好適な構築物を有することができる。例えば、ランプブロックは、本開示の範囲から逸脱することなく、対応する平坦区分を伴う、１つの略連続的な傾斜されたまたは勾配が付けられた区分、または複数の、例えば、２つ、３つ、またはそれよりも多くの傾斜されたまたは勾配が付けられた区分を有することができる。

図１および３Ａ－３Ｂに示されるように、サンプル管アセンブリ１４は、概して、１つ以上のサンプル管２０を含む。サンプル管２０は、ガラス、またはプラスチック、複合物等の他の好適な材料から作製されることができる。一実施形態では、サンプル管２０は、一対の脚部９０を伴う、略Ｕ字形状のサンプル管であることができる。各脚部９０は、略円筒形の形状を有することができるが、脚部および／またはサンプル管は、本開示から逸脱することなく、任意の好適な形状を有することができる。加えて、脚部９０は、その上側／上部部分９４に開口部９２を有することができ、開口部９２は、サンプルの試験のための、サンプルおよび／または１つ以上のガスの受容を促進することができる。例えば、１つ以上のガス（または他の流体媒体）が、測定システムを用いたサンプルの試験のためにサンプル管２０の中に導入されてもよい。サンプルアセンブリ１４はさらに、サンプル管２０に結合される、または取り付けられる、１つ以上のコレット９６を有してもよい。コレット９６は、少なくとも１つの挟持機構９８によってサンプル管２０に固着されることができる。例えば、挟持機構９８は、ねじ、ボルト等の１つ以上の締結具１０４によってともに接続される、前部挟持１０２部分／区分と、後部挟持１０２部分／区分とを含むことができるが、本開示から逸脱することなく、任意の他の挟持機構および／または他の好適な取付機構も、使用されることができる。各コレット９６はさらに、コレット９６の本体１０６の外部表面の中に画定される、切り欠きまたは溝１０４を有することができる。切り欠きまたは溝１０４は、コレットの本体１０６の上側部分１０６に略隣接または略近接して形成／画定されることができる。切り欠き／溝１０４はさらに、ランプブロック４０の表面特徴８０と係合または別様に相互作用するための、１つ以上の肩部または面１０８を画定または提供することができる。しかしながら、切り欠き／溝は、随意であり得、コレットの外部表面は、ランプブロックに係合するための、１つ以上の表面／面または他の好適な部分、区分等を含むまたは画定する、それに沿って位置付けられる、１つ以上の突出部分を有することができる。

さらに、図１および３Ａ－３Ｂに示されるように、サンプル管アセンブリ１４はまた、１つ以上のシール部材１１２を含む。シール部材１１２は、サンプル管アセンブリ１４とサンプルマニホールド１２との間の実質的にガス密（または液密）なシールを促進し得る。例えば、シール部材１１２は、コレットの上側部分に沿った対応する座部内に受容され得る、Ｏリングを含むことができる。Ｏリングは、Ｂｕｒａ－Ｎ、Ｖｉｔｏｎ、Ｋａｌｒｅｚ等のエラストマ、または他の好適なシール材料から形成されることができ、コレットの上部に沿ったサンプル管２０の脚部９０上で自己保定型であるようなサイズにされることができる。一実施形態では、コレットの上側部分１０６はさらに、１つ以上のシール部材１１２に少なくとも部分的に係合するための、表面または面１１０を含むことができる。シール部材１１２はまた、サンプルマニホールドへのサンプル管のシールを促進することができ、さらに、サンプルマニホールド１２のボア１８に少なくとも部分的に係合し、ランプブロック４２が、係止位置４８に入る前のサンプル管アセンブリ１４の係脱の可能性を低減させる、またはそうすることを防止することに役立つことができる。

図４Ａ－４Ｃは、開放位置４４にランプブロック４２を伴う、係止機構４０を示す。図４Ａ－４Ｃに示されるように、ランプブロック４２が、開放位置４４にある状態では、サンプル管アセンブリ１４は、ランプブロック４２を通して画定される、スロット６４の拡張部分６８を通して少なくとも部分的に受容されることができる。サンプル管アセンブリ１４が、少なくとも部分的にランプブロックのスロット６４を通して受容されている状態では、ランプブロック４２は、ランプブロック４２が、係止位置４８または他の中間または半閉鎖位置まで移動されるにつれて、ランプブロック４２が、少なくとも部分的にコレットの肩部または面１０８に係合し得るように、コレットの本体１０６内に画定される、切り欠き１０４内に少なくとも部分的に位置付けられてもよい。

図５Ａ－５Ｃは、中間位置４６にあるランプブロック４２を示す。図５Ａ－５Ｃに示されるように、ランプブロック４２が、例えば、他の作動機構のレバー１５２のアクティブ化を通して中間位置に向かって移動されると、ランプブロック４２の表面または面８２は、コレットの肩部または面１０８に少なくとも部分的に係合または接触（例えば、摺動可能に係合）し、サンプル管アセンブリ１４を上向きに、かつサンプルマニホールド１４に向かって移動させてもよい。一例示的実施形態では、ランプブロック４２が、中間位置２６に向かって移動されるにつれて、ランプブロック４２の勾配が付けられた、斜めにされた、または傾斜された区分８２は、コレットの表面または面１０８に摺動可能に接触または別様に係合し、サンプル管アセンブリ１４を上向きに、サンプルマニホールド１２のボア１８の中に移動させてもよい。ランプブロック４２が、中間位置４６にある状態では、ランプブロック４２の略平坦な区分８６は、コレットの表面１０８に少なくとも部分的に係合し得、サンプル管アセンブリ１４のシール部材１１２は、サンプルマニホールド１２のボア１８の一部、例えば、表面／面１２０に少なくとも部分的に接触または係合し得、シール部材１１２は、ボア１８の表面／面１２０に係合し得るが、それに対して実質的に圧縮されなくてもよい。

図６Ａ－６Ｄは、シール／閉鎖位置４８にあるランプブロック４２を示す。図６Ａ－６Ｄに示されるように、ランプブロック４２が、閉鎖またはシール位置４８まで移動されると、コレットの面または表面１０８は、ランプブロック４２の角度付けられた、勾配が付けられた、斜めにされた、傾斜された表面８４によって摺動可能に係合され、サンプル管アセンブリ１４をさらにボア１８の中に移動または押勢し、コレットの上側部分１０６に沿って配列されるようなシール部材１１２（例えば、Ｏリング）を、サンプルマニホールド１２の少なくとも一部と係合させる。例えば、シール部材１１２は、サンプルマニホールド１２のボア１８の１つ以上の表面または面１２０に対して圧接されることができる。ランプブロック４２が、完全係止位置４６へと移動された状態では、シール部材１１２は、サンドイッチ状配列でボア１８の表面／面１２０とコレットの表面／面１１０とに対して圧縮または別様に圧接され、サンプル管アセンブリ１４の各脚部とサンプルマニホールド１２との間に実質的にガス密なシールを作成し、これはまた、ガラス製品、コレット等のサイズ変動等の材料の変動にも適応し得る。本運動は、回転型ではなく、略線形であるため、シール部材への引裂または損傷は、サンプル管アセンブリの装填および係止の間で実質的に低減／回避され得ることを理解されたい。

図７Ａ－Ｃは、係止アセンブリ４０の断面図を示す。概して、図７Ａ－Ｃに示されるように、ボア１８の表面／面１２０は、角度付けられる、斜めにされる、または勾配が付けられることができる。例えば、ボア１８の表面／面１２０は、水平軸Ａ、ランプブロック４２の上側表面５４Ａ、またはベースプレートの上側表面２４Ａに対して横方向になるように配列されることができる。結果として、ランプブロック４２が、閉鎖位置４８にある状態では、斜めにされた、または角度付けられた表面１２０は、シール部材１１２（例えば、Ｏリング）を内向きに、かつサンプル管２０の脚部９０に対して押勢または押進し、多点シール、例えば、サンプル管の各脚部９０、コレットの表面１１０、およびボア１８の表面１２０上に圧力点を伴う、３点シールを提供することができる。しかしながら、サンプルマニホールドのボア１８の表面１２０は、本開示の範囲から逸脱することなく、任意の好適な構築物を有することができ、例えば、水平軸Ａ、ランプブロック４２の上側表面５４Ａ、またはベースプレートの上側表面２４Ａに対して略平行であることができる。

図１に戻ると、一実施形態では、作動アセンブリ５０が、ランプブロック４２を複数の位置の間で移動させるように作動され得る、操作レバー１５２を含み得ることが分かり得る。操作レバー１５２は、駆動シャフト１５６に動作可能に接続される、本体１５４を含むことができる。駆動シャフト１５６は、１つ以上の締結具または任意の他の好適な接続機構によって、レバーの本体１５４に結合されることができる。一実施形態では、駆動シャフト１５６は、レバーアーム１５８を通してランプブロック４２と連通し、ランプブロック４２の移動／平行移動を駆動することができる。駆動シャフト１５６は、ベースプレート２４の中に画定されるかまたはそれを通して画定される開口部１６２内に回転可能に結合される軸受筒１６０内に少なくとも部分的に受容され、その結果、駆動シャフト１５６は、そのまわりで回転可能になり得る。加えて、駆動シャフト１５６に結合される駆動ピン１６４が、レバーアーム１５８の第１の端部１６８の中の開口部またはスロット１６６内に受容されることができる。レバーアーム１５８はさらに、ランプブロック駆動ピン１７０、またはランプブロック４２に結合される、他の好適な部材に接続されることができる。ランプブロック駆動ピン１７０は、レバーアーム１５８の第２の端部１７４に隣接する、開口部１７２内に少なくとも部分的に受容されることができる。レバーアーム１５８は、１つ以上のワッシャ１７８を有する、Ｅクリップ１７６等の任意の好適な接続機構を使用して、駆動シャフト駆動ピン１６４またはランプブロック駆動ピン１７０に接続されることができるが、ねじ、ボルト、または他の締結具、締結機構等の他の好適な接続も、本開示の範囲から逸脱することなく、可能性として考えられる。例えば、そのまわりで受容されるワッシャまたは軸受筒を伴うねじまたはボルト等の締結具が、駆動ピン１７０および１６４の代わりに使用され、レバーアーム１５８を駆動シャフト１５６および／またはランプブロック４２に固着させ得る。

さらに図１に示されるように、駆動シャフト１５６は、ベースプレート２４に枢動可能に搭載されことができる。一実施形態では、支持体１８０または他の好適な部材が、ベースプレートの上側表面２４Ａに接続される、枢軸ブロック１８２内に回転可能または枢動可能に搭載されることができる。故に、操作レバー１５２が、作動または別様にアクティブ化されると、駆動シャフト１５６は、レバーアーム１５８を回転および移動、例えば、枢動または回転させ、ランプブロック４２を複数の位置４４、４６、および４８のそれぞれ、および／または他の好適な位置／場所の間に押勢してもよい。

しかしながら、作動アセンブリは、図１および４Ａ－６Ｄに示されるようなレバー機構／配列に限定されず、ランプブロックをその複数の位置の間で自動的に移動／平行移動させる、１つ以上のモータまたはアクチュエータ等の任意の好適な作動アセンブリを含むことができる。例えば、駆動シャフト１５６は、駆動シャフト１５６を回転させ、ランプブロック４２を複数の位置のそれぞれの間で移動させる、１つ以上のモータと連通することができる。しかしながら、空気シリンダアクチュエータ、空気駆動型小型ガイドシリンダ、タイロッド空気シリンダ、電気駆動型線形アクチュエータ、電気駆動型回転歯車駆動アクチュエータ等の他の好適なアクチュエータ、および／またはラックアンドピニオン駆動部、線形モータ駆動部、ピストン駆動部（例えば、空気または電気ピストン駆動部）、空気圧式摺動作動機構等の他の駆動機構、および／またはこれらおよび他の機構の組み合わせが、本開示の範囲から逸脱することなく、ランプブロックの移動を駆動するために使用されることができる。これらの駆動アセンブリはさらに、１つ以上の電気または光学感知アセンブリと連動して使用され、ユーザ／駆動部に、ランプブロックの位置のフィードバックを提供することができる。

加えて、図４Ａ、５Ａ、および６Ｂに示されるように、係止機構／アセンブリ４０はまた、ランプブロック４２を位置決めし、ユーザに、ランプブロック４２および／またはサンプル管アセンブリ１４が、ある具体的な位置または場所、例えば、開放位置、半閉鎖位置、または閉鎖位置、または別の好適な中間位置または場所にあることの触覚フィードバックを提供するための、フィードバックアセンブリ２００を含むことができる。一実施形態では、フィードバックアセンブリ２００は、駆動シャフト１５６に沿って画定される、複数の切り欠きまたは戻り止め１８４と、それに隣接して搭載される、プランジャアセンブリ２０２とを含むことができる。プランジャアセンブリ２０２は、ばねプランジャ搭載部１８８によってベースプレートに搭載される、ばねプランジャ１８６を含むことができる。ばねプランジャ１８６は、複数の戻り止め１８４と連通し、ランプブロックの場所／位置に関する触覚フィードバックを提供し、例えば、ユーザに、サンプル管アセンブリが、取外位置、または取外位置の直前、および／または他の中間位置においてシールされたときを通知し得る。

一実施形態では、プランジャ１８６は、駆動シャフト１５６上の３つの戻り止め２０４、２０６、２０８のうちの１つの中に少なくとも部分的に受容される、または別様に位置し、ユーザに、係止機構が、３つの位置のうちの１つにあることの触覚フィードバックを提供することができる。図４Ａに示されるように、ランプブロック４２が、開放位置４４にある状態では、プランジャ１８６は、戻り止め２０４に位置する。加えて、開放位置４４において、プランジャ１８６および戻り止め２０４はまた、サンプル管アセンブリ１４が、係止機構の誤って位置付けられた、または誤って整合された構成要素によって妨げられずに除去または挿入され得るように、ランプブロック４２を開放位置４４において軽く保持することができる。なおもさらに、ランプブロック４２が、完全に閉鎖およびシール位置４８にある状態では、プランジャ１８６は、概して、図６Ｂに示されるように、戻り止め２０８に位置するであろう。

加えて、複数の戻り止め１８４は、１つ以上の戻り止めを含み、ランプブロック４２が、中間位置４６等の１つ以上の中間位置にあることを示すことができ、これはまた、ランプブロック４２を１つ以上の中間位置に少なくとも部分的に保持することに役立つことができる。図４Ａ、５Ａ、および６Ｂに示されるように、複数の戻り止め１８４は、半閉鎖位置（図示せず）にあるランプブロック４２を示す、またはそれを保持することに役立つような１つの戻り止め２０６を含むことができる。一実施形態では、戻り止め２０６は、例えば、ユーザが、サンプルマニホールド１２からサンプル管アセンブリ１４を偶発的または時期尚早に取り外すことを防止するための、サンプル管アセンブリ１４が、係止機構４０から取り外される直前、またはサンプル管アセンブリ１４が、係止機構４０に挿入される直後の物理的かつ触覚的な停止部であることができる。加えて、戻り止め２０６はまた、サンプル管アセンブリ１４を挿入するときに、サンプル管アセンブリ１４が、しっかりと保定され（但し、まだシールされていない）、ユーザによって支持されない場合でも、サンプルマニホールド１２から偶発的に落下するまたは別様に取り外されることはないであろうことをユーザに通知するためのフィードバックをユーザに提供することができる。係止機構を戻り止め２０６を越えて移動させることが、ばねプランジャ１８６上に付加的な力を要求し、取外位置２０４を取得し、例えば、ユーザが、サンプル管アセンブリ１４を保持または支持せずにレバー１５２を動作する場合でもサンプル管アセンブリの偶発的な取外を防ぐように、１つ以上のカム特徴がさらに、開放位置の戻り止め２０４に隣接する、またはその直前の駆動シャフト１５６に沿って提供されることができる。

図７Ｂはさらに、サンプル管アセンブリ１４がさらに、１つ以上の保定特徴２１０を含み、サンプルマニホールド１２からのサンプル管アセンブリ１４の意図的ではない取外を防止することに役立ち得ることを示す。例えば、保定特徴２１０は、溝、例えば、コレット９０のまわりで画定される半径方向溝２１４の中に位置する、半径方向ばね（例えば、Ｂａｌ Ｓｐｒｉｎｇ（Ｒ）傾斜コイルばね）、ばねプランジャ、Ｏリング、または他の好適な保定部材等の１つ以上の部材２１２を含むことができる。保定特徴２１０は、サンプルマニホールド１２のボア１８および／または誘導ブロック３４のボア３６を少なくとも部分的に係合させ、例えば、サンプル管アセンブリ１４、およびサンプルマニホールド１２のボア１８、および／または誘導ブロック３４のボア３６の間に付加的摩擦を提供し、例えば、サンプル管アセンブリ１４が、ユーザによって支持されないときの、サンプルマニホールド１２からのサンプル管アセンブリ１４の突然の取外、およびそれへの潜在的な損傷を防止することができる。

フィードバックアセンブリ２００はさらに、例えば、ランプブロックが、開放、中間、半閉鎖、および係止位置にあるときに通知または警報を提供するために、モニタまたはスピーカ等の１つ以上のディスプレイまたはオーディオ機構またはデバイスと通信し得る、コントローラまたはプロセッサ、例えば、測定システムまたは他の好適なコントローラまたはコンピューティングデバイスのコントローラまたはプロセッサと通信することができる。加えて、または代替として、１つ以上のセンサが、コントローラに、係止機構が、１つ以上の具体的な位置に到達している、またはそこにあることを電子的に示すために使用されることができる。フィードバックアセンブリ２００はさらに、限定ではないが、図に示される構築物であり、係止機構の位置を位置特定するための任意の好適な機構または感知デバイスを含むことができ、例えば、フィードバックアセンブリは、本開示の範囲から逸脱することなく、位置センサおよび／または他の好適な機構またはそれらの組み合わせによってトリガされる、ソレノイド作動式プランジャを採用することができる。

前述の説明は、概して、本発明の種々の実施形態を例証し、説明している。しかしながら、種々の変更および修正が、本明細書に開示される発明の精神および範囲から逸脱することなく、本発明の上記に議論される構築物に成され得、上記の説明に含有される、または付随の図面に示されるあらゆる事項は、例証的であるものとして解釈されるべきであり、限定的な意味に解釈されるべきではないことが意図されることが、当業者によって理解されるであろう。さらに、本開示の範囲は、上記および上記に説明される実施形態に対する種々の修正、組み合わせ、追加、改変等を網羅するものと解釈されるものとし、本発明の範囲内にあるものと見なされるものとする。故に、本明細書において議論されるような本発明の種々の特徴および特性は、本発明の他の例証される、および例証されていない実施形態に選択的に取って代わられる、およびそれに適用され得、多数の変形例、修正、および追加もさらに、添付の請求項において述べられている通り、本発明の精神および範囲から逸脱することなく、それに成され得る。

Claims (23)

1. 測定システムであって、
   サンプル管の少なくとも一部分を受容するように構成されるサンプルマニホールドと、
   前記サンプル管の一部分を少なくとも部分的に係合するように構成され、かつ、前記サンプルマニホールドの中への前記サンプル管の装填を促進し、前記サンプル管を前記サンプルマニホールド内のシールされた位置に保持するように構成される係止アセンブリと、
   前記サンプル管の位置に関連するフィードバックを提供するように構成される１つ以上のセンサを含むフィードバックアセンブリと
   を備える、測定システム。
2. 前記サンプルマニホールドは、前記サンプル管の前記一部分が前記係止アセンブリによって少なくとも部分的に受容されるときに前記サンプル管と流体連通するために構成される１つ以上の流体通路を有する本体を備える、請求項１に記載の測定システム。
3. 前記係止アセンブリは、ランプブロックを備え、前記ランプブロックは、複数の位置の間で移動可能であり、ランプに沿って画定される１つ以上の表面特徴を含み、前記表面特徴は、前記ランプブロックが開放位置から閉鎖位置に向かって移動させられるにつれて前記サンプル管を前記サンプルマニホールドと係合するように移動させるように構成される、請求項１に記載の測定システム。
4. 前記表面特徴は、１つ以上の傾斜された表面、角度付けられた表面、勾配が付けられた表面、平坦な表面、またはそれらの組み合わせを含む、請求項３に記載の測定システム。
5. 少なくとも１つのプロセッサを備えるコントローラをさらに備え、前記フィードバックアセンブリは、前記係止アセンブリの位置を位置特定し前記コントローラに通信するように構成される１つ以上のセンサを備える、請求項１に記載の測定システム。
6. ベースプレートおよび誘導ブロックをさらに備え、前記サンプルマニホールドは、前記ベースプレート上に搭載され、前記係止アセンブリは、前記ベースプレートに沿って移動可能であり、前記誘導ブロックは、前記サンプル管の少なくとも一部分を受容することと、前記サンプル管を前記サンプルマニホールドから少なくとも部分的に断熱することとを行うように構成される、請求項１に記載の測定システム。
7. 前記係止アセンブリは、前記係止アセンブリを前記サンプルマニホールドに対して移動させるために構成される作動アセンブリをさらに備える、請求項１に記載の測定システム。
8. 前記係止アセンブリは、ランプブロックをさらに備え、前記作動アセンブリは、前記サンプルマニホールドと係合させる前記サンプル管の挿入のための開放位置と、１つ以上の付加的な位置との間で前記ランプブロックを移動させるように構成される、請求項７に記載の測定システム。
9. 前記作動アセンブリは、１つ以上のモータ、空気シリンダ、空気駆動型小型ガイドシリンダ、タイロッド空気シリンダ、電気駆動型線形アクチュエータ、電気駆動型回転歯車駆動アクチュエータ、ラックアンドピニオン駆動部、ピストン駆動部、空気圧式摺動作動機構、レバー機構、またはそれらの組み合わせを備える、請求項７に記載の測定システム。
10. 前記係止アセンブリは、アクチュエータと、ランプブロックと、前記アクチュエータによって駆動されるように前記アクチュエータの駆動シャフトに結合されるレバーアームとをさらに備え、前記ランプブロックは、前記アクチュエータの作動に応じて前記ランプブロックの移動を駆動するように前記レバーアームに接続される、請求項１に記載の測定システム。
11. 少なくとも１つのプロセッサを有するコントローラと、前記コントローラと通信するフィードバックアセンブリとをさらに備え、前記フィードバックアセンブリは、前記駆動シャフトに沿って配列された複数の戻り止めと、移動中に前記ランプブロックの位置のインディケーションを提供するように前記戻り止めと係合するように適合されるプランジャとを含む、請求項１０に記載の測定システム。
12. ばねをさらに備え、前記ばねは、付勢力を、前記プランジャが、前記付勢力に打ち勝つのに十分な付加的な力が前記プランジャに印加されるまで前記ランプブロックを自身の位置に保持するように前記戻り止めと係合するように付勢されるように、前記プランジャに印加するように構成される、請求項１１に記載の測定システム。
13. 少なくとも１つのプロセッサを有するコントローラをさらに備え、前記係止アセンブリは、前記サンプルマニホールドに対して複数の位置の間で前記係止アセンブリを自動的に移動させるために構成されるアクチュエータをさらに備える、請求項１１に記載の測定システム。
14. 測定システムであって、
    サンプルマニホールドと、
    前記サンプルマニホールドの中に受容されるサンプル管アセンブリであって、前記サンプル管アセンブリは、１つ以上のサンプル管を含む、サンプル管アセンブリと、
    前記サンプル管アセンブリと連通する係止システムであって、前記係止システムは、作動アセンブリを含む、係止システムと
    を備え、
    前記係止アセンブリは、前記サンプルマニホールドと係合するように前記１つ以上のサンプル管を挿入するための開放位置と、受容される１つ以上のサンプルの試験のために前記サンプルマニホールドに対してまたは前記サンプルマニホールドの中で前記１つ以上のサンプル管がシールされる閉鎖位置との間で前記１つ以上のサンプル管を手動でまたは自動的に移動させるように構成される、測定システム。
15. 前記作動アセンブリは、１つ以上のモータ、空気シリンダ、空気駆動型小型ガイドシリンダ、タイロッド空気シリンダ、電気駆動型線形アクチュエータ、電気駆動型回転歯車駆動アクチュエータ、ラックアンドピニオン駆動部、ピストン駆動部、空気圧式摺動作動機構、レバー機構、またはそれらの組み合わせを備える、請求項１４に記載の測定システム。
16. 少なくとも１つのプロセッサを備えるコントローラと、前記係止アセンブリの位置を位置特定し前記コントローラに通信するように構成されるフィードバックアセンブリとをさらに備える、請求項１４に記載の測定システム。
17. 前記フィードバックアセンブリは、前記作動アセンブリのアクチュエータの駆動シャフトに沿って配列された複数の戻り止めと、移動中に前記係止アセンブリの位置のインディケーションを提供するように前記駆動シャフトが回転されるにつれて前記戻り止めと係合するように適合されるプランジャとを含む、請求項１６に記載の測定システム。
18. 前記フィードバックアセンブリは、前記サンプルマニホールドに対する前記係止アセンブリの位置を位置特定し通信するために１つ以上の位置センサをさらに備える、請求項１６に記載の測定システム。
19. 前記サンプル管アセンブリは、少なくとも１つの挟持機構によって前記１つ以上のサンプル管の各々に固着されるコレットであって、前記コレットは、前記係止アセンブリの複数の表面特徴に係合するように構成される前記コレットの外側部分に沿って画定される肩部または面を含む、コレットと、前記コレットの上側部分に沿って少なくとも部分的に受容されるシール部材であって、前記シール部材は、前記サンプル管アセンブリと前記サンプルマニホールドとの間のガス密または液密なシールを促進するように構成される、シール部材とをさらに含む、請求項１６に記載の測定システム。
20. 測定システムのための係止アセンブリであって、
    サンプル管の一部分を少なくとも部分的に受容するように構成される本体と、
    前記本体と連通する作動アセンブリと
    を備え、
    前記作動アセンブリは、前記サンプル管を前記本体の中に挿入するための開放位置と、前記サンプル管の中に受容されるサンプルの試験のために前記測定システムのサンプルマニホールドに対してまたは前記サンプルマニホールドの中で前記サンプル管がシールされる閉鎖位置との間で前記本体を移動させるように構成される、係止アセンブリ。
21. 前記本体は、前記本体に沿って画定される１つ以上の表面特徴を含み、前記表面特徴は、前記本体が前記開放位置から前記閉鎖位置に移動させられるにつれて前記サンプル管を前記サンプルマニホールドと係合するように移動させるように構成される、請求項２０に記載の係止アセンブリ。
22. 前記表面特徴は、１つ以上の傾斜された表面、角度付けられた表面、勾配が付けられた表面、平坦な表面、またはそれらの組み合わせを含む、請求項２１に記載の係止アセンブリ。
23. 前記作動アセンブリは、１つ以上のモータ、空気シリンダ、空気駆動型小型ガイドシリンダ、タイロッド空気シリンダ、電気駆動型線形アクチュエータ、電気駆動型回転歯車駆動アクチュエータ、ラックアンドピニオン駆動部、ピストン駆動部、空気圧式摺動作動機構、レバー機構、またはそれらの組み合わせを備える、請求項２０に記載の係止アセンブリ。