JP2023537295A5 - - Google Patents

Info

Publication number
JP2023537295A5
JP2023537295A5 JP2023506011A JP2023506011A JP2023537295A5 JP 2023537295 A5 JP2023537295 A5 JP 2023537295A5 JP 2023506011 A JP2023506011 A JP 2023506011A JP 2023506011 A JP2023506011 A JP 2023506011A JP 2023537295 A5 JP2023537295 A5 JP 2023537295A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
matrix sensor
synchrotron radiation
pixels
spectral
detection device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2023506011A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2023537295A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE102020120190.7A external-priority patent/DE102020120190A1/de
Application filed filed Critical
Publication of JP2023537295A publication Critical patent/JP2023537295A/ja
Publication of JP2023537295A5 publication Critical patent/JP2023537295A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

JP2023506011A 2020-07-30 2021-07-29 放射光検出方法、検出装置及びレーザ走査顕微鏡 Pending JP2023537295A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102020120190.7 2020-07-30
DE102020120190.7A DE102020120190A1 (de) 2020-07-30 2020-07-30 Verfahren zum detektieren von emissionslicht, detektionsvorrichtung und laser-scanning-mikroskop
PCT/EP2021/071269 WO2022023474A1 (de) 2020-07-30 2021-07-29 Verfahren zum detektieren von emissionslicht, detektionsvorrichtung und laserscanning-mikroskop

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2023537295A JP2023537295A (ja) 2023-08-31
JP2023537295A5 true JP2023537295A5 (https=) 2024-07-01

Family

ID=77274781

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2023506011A Pending JP2023537295A (ja) 2020-07-30 2021-07-29 放射光検出方法、検出装置及びレーザ走査顕微鏡

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11921274B2 (https=)
EP (1) EP4189358B1 (https=)
JP (1) JP2023537295A (https=)
CN (1) CN116249891A (https=)
DE (1) DE102020120190A1 (https=)
WO (1) WO2022023474A1 (https=)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7402313B2 (ja) * 2020-03-27 2023-12-20 ギガフォトン株式会社 センサ劣化判定方法
DE102023100926A1 (de) 2023-01-17 2024-07-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop
DE102023209080A1 (de) 2023-09-19 2025-03-20 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Multimodales Scanmikroskop und Verfahren zu dessen Betrieb
EP4718138A1 (en) * 2024-09-25 2026-04-01 Leica Microsystems CMS GmbH Detection arrangement, cascaded detection arrangement, and optical scanning microscope

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10127284A1 (de) * 2001-06-05 2002-12-12 Zeiss Carl Jena Gmbh Autofokussiereinrichtung für ein optisches Gerät
DE10339312A1 (de) * 2003-08-27 2005-03-31 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Verfahren zur Trennung von Fluoreszenzspektren von in einer Probe vorhandenen Farbstoffen
FR2966258B1 (fr) * 2010-10-15 2013-05-03 Bioaxial Système de microscopie de superresolution de fluorescence et méthode pour des applications biologiques
JP6253266B2 (ja) 2013-06-11 2017-12-27 オリンパス株式会社 共焦点画像生成装置
DE102014111167A1 (de) 2014-08-06 2016-02-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie mit der Unterscheidung mindestens zweier Wellenlängenbereiche
DE102016119730A1 (de) 2016-10-17 2018-04-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optikgruppe für Detektionslicht für ein Mikroskop, Verfahren zur Mikroskopie und Mikroskop
DE102016120308A1 (de) * 2016-10-25 2018-04-26 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optische Anordnung, Multispot-Scanning-Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskops
DE102017113683A1 (de) 2017-06-21 2018-12-27 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie mit der Unterscheidung mindestens zweier Wellenlängenbereiche
EP3460520B1 (en) * 2017-09-25 2023-07-19 Hexagon Technology Center GmbH Multi-beam laser scanner
IT201800001891A1 (it) * 2018-01-25 2019-07-25 Fondazione St Italiano Tecnologia Metodo di imaging risolto nel tempo ad alta risoluzione spaziale.

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2023537295A5 (https=)
US7330268B2 (en) Spectral imaging apparatus and methodology
JP5746161B2 (ja) 顕微鏡画像における蛍光の評価方法
CN112166314A (zh) 荧光观察设备和荧光观察方法
US20030151741A1 (en) Method for investigating a sample
JP2019144570A (ja) 顕微鏡用の検出装置
JP2005526255A (ja) 試料検査のための方法および装置
JP2004170977A (ja) 分解能の深度で試料を光学的に把握する方法および配置
JP2012032183A (ja) 試料観測装置および試料観測方法
WO2015111349A1 (ja) 多色蛍光画像分析装置
JP5551907B2 (ja) 顕微鏡を用いて試料を撮像するための方法、顕微鏡、およびデータ記憶キャリア
JP2011513740A (ja) 光子混合検出器を用いた時間分解分光分析方法およびシステム
JP2019020362A (ja) 分光蛍光光度計ならびに分光蛍光測定及び画像撮像方法
JP2008509400A (ja) 染色サンプルにおける光吸収のカラー表示型単色光吸収定量法
US6208413B1 (en) Hadamard spectrometer
CN116249891A (zh) 探测发射光的方法、探测设备和激光扫描显微镜
US10585272B2 (en) Coherent fluorescence super-resolution microscopy
US7474403B2 (en) Device and method for measuring the optical properties of an object
JP2019020363A (ja) 光分析装置用の表示装置
KR102935978B1 (ko) 샘플 분석 방법, 분석 장치 및 컴퓨터 프로그램
JP7197134B2 (ja) 蛍光光度計および観測方法
JP2010250102A (ja) 顕微鏡
JP2013003386A (ja) 撮像装置およびバーチャルスライド装置
US11391937B2 (en) Method and device for determining a property of an object
JP2688040B2 (ja) 螢光特性検査装置