JP2023505475A - 気泡形成が低減したマルチコア光ファイバ - Google Patents

気泡形成が低減したマルチコア光ファイバ Download PDF

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Abstract

本開示は、MCF(200A)であって、複数のコア(102)、外側クラッディング(101)又は管、拡散障壁(202)、及びクラッディング(103)を含むMCF(200A)に関する。拡散障壁(202)及びクラッディング(103)は、内側クラッディングから外側クラッディング又は管へのドーパントの望ましくない移動が低減するように、又はコアから外側クラッディング又は管へのドーパントの望ましくない移動が低減するように設計される。MCFの様々なコンポーネントのドーピングレベルは、ドーパント移動を低減させるために制御され得る。ドーパント勾配の低減は、内側クラッディング、外側クラッディング又は管、及びコアの間のインターフェイスへのドーパント及び気泡の移動を低減させる。

Description

この出願は、2019年12月4日に出願された「MULTI-CORE OPTICAL FIBER WITH REDUCED BUBBLE FORMATION」という表題の米国仮特許出願第62/943,352号明細書の優先権の利益を主張し、その発明者はAlireza Mirsepassi及びDean Richardsonであり、その全体が、十分に及び完全に本明細書において示されているかのように参照により本明細書に援用される。
幅広い種類の医療処置において、手術を支援し患者の生体構造を治療するためにレーザー光が使用されている。例えば、レーザー光凝固術において、レーザープローブが、網膜にわたるレーザー熱傷スポットの血管を焼灼するために使用される。特定のタイプのレーザープローブは、一度に複数のスポットを焼き、このことは、より速い及びより効率的な光凝固術をもたらし得る。これらの多スポットレーザープローブのいくつかは、単一のレーザービームをレーザースポットパターンを呈する複数のレーザー光線に分割するとともに光線を対応するファイバパターンを呈する光ファイバの配列へ送達する。典型的には、ファイバは、ファイバパターンがレーザースポットパターンと合致するようにきつく集められなければならない。さらに、レーザースポットパターンはファイバパターンと正確に整列させられなければならない。
ファイバは、マルチコア光ファイバ(MCF)を構成する外側クラッディングと複数のコアとを含み得る。コア、外側クラッディング、又は両方は、ファイバのコンポーネントが光を輸送するように設計され得る。MCFを作り出すために、穴が典型的には外側クラッディングに穿孔され、コアは穿孔された穴の中で統合される。しばしば、ドーパント、例えばフッ素又はゲルマニウムが、コア及び外側クラッディングに追加され、それは、ドーパントはMCFの導光特性を支持するために必要とされる屈折率プロファイルを作り出すためである。最後に、外側クラッディングは高温で望ましい直径及び長さへ引きのばされ、MCFをもたらす。
MCFの欠点の1つは、ドーパントが外側クラッディングからコアへ拡散し得、逆もまた同様であり得ることであり、これはMCFのコンポーネントの光学特性を実質的に変える。加えて、ドーパント勾配がドーパント拡散を引き起こし得、そして高温下で、ガス気泡が、コアと外側クラッディングとの間のインターフェイスに向かってMCFを形成する際に形成され得る。ガス気泡はMCFの収率を低下させるとともにMCFを弱め、脆弱なファイバをもたらす。また、ガス気泡はMCFの光学性能を低下させる。
一実施形態によれば、本開示は、マルチコア光ファイバであって、第1材料を含む複数のコアと、コアを囲む外側クラッディングであって、第1材料を含む外側クラッディングと、拡散低減特徴部であって、外側クラッディングとMCFにおける別の要素との間の第1ドーパントの移動を低減させる拡散低減特徴部とを含むマルチコア光ファイバを対象とする。
別の実施形態は、マルチコア光ファイバであって、第1材料を含むロッドと、ロッドを囲むロッド内側クラッディングであって、ロッドが第1材料と第1ドーパントとを含むロッド内側クラッディングと、第1材料を含む複数のコアと、コアを囲む複数の内側クラッディングであって、内側クラッディングが第1材料と第1ドーパントとを含み、内側クラッディングの各々の第1部分がロッド内側クラッディングの一部とインターフェイスをとる内側クラッディングと、第1材料と第1ドーパントとを含む外管であって、内側クラッディングの各々の第2部分が外管の一部とインターフェイスをとる外管とを含むマルチコア光ファイバを対象とする。
さらなる実施形態は、マルチコア光ファイバであって、第1材料を含むロッドと、第1材料と第1ドーパントとを含む複数のコアと、コアを囲む複数の拡散障壁であって、第1材料を含み、拡散障壁の各々の第1部分がロッドの一部とインターフェイスをとる拡散障壁と、第1材料を含む外管であって、拡散障壁の各々の第2部分が外管の一部とインターフェイスをとる外管とを含むマルチコア光ファイバを対象とする。
本開示の様々な実施形態はまた以下の特徴の1つ又は複数を含み得る。外側クラッディングにおける第1ドーパントの濃度が、拡散低減特徴部の無いMCFと比較すると低減する。外側クラッディングと別の要素との間のドーパント濃度勾配が、拡散低減特徴部の無いMCFと比較すると低減する。MCFは、コアを囲む複数の内側クラッディングであって、第1材料と第1ドーパントとを含む複数の内側クラッディングをさらに含む。拡散低減特徴部は、内側クラッディングを囲む複数の拡散障壁であって、第1材料を含む拡散障壁を含む。拡散低減特徴部は、第1ドーパントでドープされた複数の内側クラッディングの高ドープ領域、第1ドーパントでドープされた複数の内側クラッディングの低ドープ領域を含み、低ドープ領域のドーパント濃度は高ドープ領域のドーパント濃度未満であり、低ドープ領域は高ドープ領域を囲む。コアに関して高ドープ領域の開口数(NA)は約0.18~約0.28であり、コアに関して低ドープ領域のNAは約0.08~約0.18である。第1ドーパントはフッ素(F)、ホウ素(B)、又は塩素(Cl)を含む。拡散低減特徴部は第1ドーパント濃度の外側クラッディングを含む。外側クラッディングにおける第1ドーパントの濃度は、複数の内側クラッディングにおける第1ドーパントの濃度未満である。拡散低減特徴部はコアを囲む複数の拡散障壁を含み、拡散障壁は第1材料を含む。複数のコアは第1ドーパントでドープされ、別の要素は複数のコアである。第1ドーパントは第1材料の屈折率を上昇させる。第1ドーパントはゲルマニウム(Ge)又はリン(P)を含む。ロッド内側クラッディング無しのMCFと比較すると外管とロッドとの間の第1ドーパントの濃度勾配は低減する。外管と複数のコアとの間の第1ドーパントの勾配は、複数の拡散障壁無しのMCFと比較すると低減する。
コアは様々なクラッディング及び拡散障壁に囲まれる。クラッディング及び拡散障壁は、ドーパントの移動及び後続の気泡形成を低減させる及び遅らせる。クラッディング及び拡散障壁は、MCFにおけるドーパント勾配を低減させ、材料の量当たりのMCF収率を増加させ、改良された材料及び光学特性を備えたMCFをもたらす。
本発明の技術、その特徴及びその利点のより完全な理解のために添付図面とあわせて以下の説明を参照する。
図1Aは、本開示の実施形態によるマルチコア光ファイバ(MCF)の先端部の斜視図を示す。 図1Bは、本開示の特定の実施形態による図1AのMCFの先端部の正面図を示す。 図1Cは、本開示の特定の実施形態による複数の内側クラッディングを備えたMCFの先端部の正面図を示す。 図2Aは、本開示の特定の実施形態による、複数の拡散障壁及び複数の内側クラッディングを備えたMCFの正面切欠図を示す。 図2Bは、本開示の特定の実施形態による、異なる領域を備えた複数の内側クラッディングを備えたMCFの正面切欠図を示す。 図2Cは、本開示の特定の実施形態による、複数の内側クラッディング及びドープされた外側クラッディングを備えたMCFの正面切欠図を示す。 図2Dは、本開示の特定の実施形態による複数の拡散障壁を備えたMCFの正面切欠図を示す。 図2Eは、本開示の特定の実施形態による、ガラスロッド及びロッド内側クラッディングを備えたMCFの正面切欠図を示す。 図2Fは、本開示の特定の実施形態による、ガラスロッドを備えたMCFの正面切欠図を示す。
理解を円滑にするために、各図に共通の可能な場合は、同一の要素を指すために同一の参照符号が使用されている。ある実施形態の要素及び特徴はさらなる記述無しに他の実施形態に有益に組み込まれ得ることが想定される。
以下の説明において、開示された主題の理解を円滑にするために詳細が一例として説明される。しかしながら、開示された実装形態は例示的なものであり全ての可能な実装形態を網羅したものではないことが当業者には明らかでなければならない。したがって、説明された例への言及は開示の範囲を限定することを意図するものではないことが理解されるべきである。説明されたデバイス、器具、方法に対する任意の変更形態及びさらなる修正形態、並びに本開示の原理のさらなる任意の応用形態は、本開示が関連する当業者が通常に想到するものと完全に想定される。特に、1つの実装形態に関して説明された特徴、コンポーネント、及び/又はステップは本開示の他の実装形態に関して説明された特徴、コンポーネント、及び/又はステップと組み合わされ得ることが完全に想定される。
特定の実施形態において、「約」という用語は公称値からの+/-10%の変動を指す。このような変動は本明細書において提供されるいずれの値にも含まれ得ることを理解されたい。
本明細書において提供された実施形態は概して、ドーパントの望ましくない移動を低減させるための拡散低減特徴部を備えたMCFに関連する。
図1A~1CはMCFの様々な例を示す。より具体的には、図1A及び1Bが内側クラッディング無しのMCFを示す一方、図1Cは内側クラッディングを含むMCFの例を示す。図示しなくとも、MCFは典型的には、MCFケーブルを作り出すためにポリ塩化ビニル(PVC)管内に配置されることに留意されたい。
図1AはMCF100Aの先端部の斜視図を示す。MCF100Aは円柱形であり得るが、他の形状も想定される。
図1Bは図1AのMCF100Aの先端部の正面図を示す。図示のとおり、MCF100Aは外側クラッディング101と複数のコア102とを含む。複数のコア102は任意の透明な材料、例えば溶融シリカ又はガラスでできていてもよい。図1A及び1Bの例において、コア102はドープ溶融シリカである。例えば、コア102はゲルマニウム-ドープ溶融シリカであってもよい。コア102をゲルマニウム、又は同様のドーパントでドープすることは、外側クラッディング101の溶融シリカと比べてコアの屈折率を上昇させること、ひいてはコア内の導光特性を作り出すことに役立つ。
図1Cは、複数の内側クラッディング103を含むMCF100Bの先端部の正面図を示す。図示のとおり、MCF100Bは外側クラッディング101、複数のコア102、及び複数の内側クラッディング103を含む。MCF100Aとは対照的に、図1Cの例においては、MCF100Bのコア102はドープされておらず、溶融シリカ又は同様の透明材料でできている。コア102の各々は内側クラッディング103に囲まれている。内側クラッディング103はドープ溶融シリカを含み得る。いくつかの実施形態において、内側クラッディング201は、いくつかの実施形態により、内側クラッディングの屈折率を低下させるドーパント、例えばフッ素(F)、塩素(Cl)、又はホウ素(B)でドープされる。内側クラッディング103は、ドープされると、コア102よりも低い屈折率を有し、それにより各コア102内の導光特性を作り出す。内側クラッディング103の厚さは、約50μm~約80μmのコア直径で、約1μm~約10μmで様々である。
4つのコア102が図示の例において示されているが、開示の範囲はそのように限定されていない。むしろ、他の実装形態においては、MCF100A~100Bは4つのコア102より少ない数のコア102を含み得る。特定の実施形態において、各コア102の直径は約50μm~約80μmであり得る。特定の実施形態において、任意の2つのコア102の中心は互いから約100μm~約150μmであり得る。
特定の実施形態において、MCF100A~100Bは非照明MCFである。そのような実施形態において、コア102の各々が光、例えばレーザー光を導くように適合される一方で、外側クラッディング101は光を導くように構成されない。特定の他の実施形態において、MCF100A~100Bは代わりに照明MCFであってもよい。照明MCFとは、治療部位に全般照明を提供するために、治療のための的を絞ったレーザー光とは反対に、全般照明のための光がMCFの外側クラッディング101を通じて伝送されるものである。したがって、外側クラッディング101は、全般照明を提供するために光をそれに沿って伝送するために用いられ得る一方で、コア102は治療部位で治療のためのレーザー光を伝送するために用いられる。
MCF100A~100Bの製造中、特定の場合において、MCFの外側クラッディング101又は他の部分において、例えばコア102において、内側クラッディング103に、並びに/又は外側クラッディング101、コア102、及び/若しくは内側クラッディング103のインターフェイスにおいて気泡が形成され得る。気泡形成はファイバ延伸中に不安定さを引き起こし、最終的にファイバ想像の低収率、及びMCF100A~100Bの機能性の低下をもたらす。MCF100Bに関して、気泡形成の理由の1つは、外側クラッディング101及び内側クラッディング103のドーパント濃度が異なり、濃度勾配がドーパントを外側クラッディング101の方に移動させ、気泡を作り出すからである。例えば、MCF100Bの内側クラッディング103がフッ素ドープシリカ(SiO3/2F)を含む場合、フッ素ドープシリカは自然に二酸化ケイ素(SiO)及び気体状四フッ化ケイ素(SiF)へと分解し得る。四フッ化ケイ素は次いで、外側クラッディング101において、及び/又は外側クラッディング101と内側クラッディング103との間のインターフェイスに気泡を形成し得る。加えて、外側クラッディング101とコア102の各々との間の粗いインターフェイスはそれぞれのインターフェイスに気泡を形成させ得る。
MCF100Aに関して、外側クラッディング101とコア102との間のドーパント濃度の差を原因として、気泡が形成され得る。例えば、MCF100Aのゲルマニウムドープコア102は、酸化ゲルマニウム(GeO)及び酸素ガス(O)へと分解し得る二酸化ゲルマニウムを含んでもよい。酸素ガスは次いで、外側クラッディング101において、及び/又は外側クラッディング101とコア102との間のインターフェイスに気泡を形成し得る。MCF100Bと同様に、MCF100Aにおいては、外側クラッディング101と内側クラッディング103の各々との間の粗いインターフェイスはまた、それぞれのインターフェイスに気泡を生じさせ得る。
いずれの場合も、MCFの収率を上昇させるとともにその材料及び光学特性を向上させるためにこれらの気泡の低減が望ましい。したがって、MCF100Bの場合、外側クラッディング101と内側クラッディング103との間のドーパント勾配及びドーパント拡散を低減させることが望ましい。MCF100Aの外側クラッディングとコア102との間のドーパント勾配とドーパント拡散を低減させることも同様に望ましい。
したがって、拡散低減特徴部が、外側クラッディングへのドーパントの望ましくない移動を低減させるための本開示の様々な実施形態に含まれる。いくつかの実施形態において、拡散低減特徴部は、コア及び/又は内側クラッディングの間のドーパントの外側クラッディングへの拡散を低減させる。したがって、そのような実施形態において、外側クラッディングにおけるドーパントの濃度は、拡散低減特徴部の無いMCFと比較すると低減する。いくつかの実施形態において、拡散低減特徴部は、外側クラッディングとコア及び/又は内側クラッディングとの間のドーパントのドーパント濃度勾配を低減させる。したがって、そのような実施形態において、外側クラッディングとコア及び/又は内側クラッディングとの間ドーパント濃度勾配は、拡散低減特徴部の無いMCFと比較すると低減する。
図2A~2Fは異なる拡散低減特徴部を示す。図2Aに関連して説明されるとおり、図1CのMCF100Bなど特定の実施形態は、内側クラッディングと外側クラッディングとの間のドーパントの拡散を低減させることに関連する。図2Aの実施形態において、拡散低減特徴部は拡散障壁を含む。図2Dに関連して説明されたとおり、図1BのMCF100Aなど特定の実施形態は、コアと外側クラッディングとの間のドーパントの拡散の低減に関連する。図2Dの実施形態において、拡散低減特徴部は拡散障壁を含む。図2B及び2Cに関連して説明されたとおり、図1CのMCF100Bなど、特定の実施形態は、MCFの外側クラッディングと内側クラッディングとの間のドーパント勾配を低減させることに関連する。図2B及び2Cの実施形態において、ドーパント低減特徴部は、低ドープ内側クラッディング領域、高ドープ内側クラッディング領域、及び/又はドープ外側クラッディングを含み得る。図2Eに関連して説明されたとおり、特定の実施形態は、内側クラッディングと管との間のドーパント勾配を低減させることに関連する。これらの実施形態において、拡散低減特徴部は、ドープ管とロッド内側クラッディングとを含み得る。図2Fに関連して説明されたとおり、特定の実施形態は、コアと管との間のドーパントの拡散を低減させることに関連する。これらの実施形態において、拡散低減特徴部は拡散障壁を含み得る。
図2Aは、本開示の特定の実施形態による、複数の拡散障壁202と複数の内側クラッディング103とを備えたMCF200Aの正面切欠図を示す。図2Aの例において、外側クラッディング101及びコア102が非ドープ溶融シリカを含む一方で、内側クラッディング103はドープ溶融シリカ(例えばフッ素-ドープ溶融シリカ)を含む。拡散障壁202は内側クラッディング103を少なくとも部分的に囲む。拡散障壁202は溶融シリカを含む。特定の実施形態において、拡散障壁202の厚さは約1μm~約10μmで様々である。この実施形態において、拡散低減特徴部は拡散障壁202を含む。拡散障壁202は内側クラッディング103と外側クラッディング101との間のドーパントの移動を低減させ、内側クラッディング103と外側クラッディング101との間のドーパント勾配を低減させ、したがって気泡移動を低減させる。
図2Bは、本開示の特定の実施形態による異なる領域を有する複数の内側クラッディング103を有するMCF200Bの正面切欠図を示す。内側クラッディング103の各々は高ドープ領域103hと低ドープ領域103lとを含む。高ドープ領域103hは、低ドープ領域103lよりも高い濃度のドーパント(例えばFドーパント)を有する。いくつかの実施形態によると、低ドープ領域103lは、コア102に関して低ドープ領域の開口数(NA)が約0.08~約0.18であるようにドープされ、高ドープ領域103hは、コアに関して高ドープ領域のNAが約0.18~約0.28であるようにドープされる。NAは以下の等式により与えられる:
Figure 2023505475000002
ここでncoreはコアの屈折率であり、nregionは領域の屈折率である。屈折率nは材料のドーパント濃度に依存する。
領域の厚さは、約50μm~約80μmのコア直径で、約1μm~約10μmである。図2Bの例において、各内側クラッディング103の高ドープ領域103hは、それぞれのコア102から漏れるレーザー光の量を低減させるのに役立つ。この実施形態において、拡散低減特徴部は低ドープ領域103lと高ドープ領域103hとを含み、各クラッディング103の低ドープ領域及び高ドープ領域の組合せもまたそれぞれの内側クラッディング103からの気泡形成を低減させるのに役立ち、その理由は、高ドープ領域103h、低ドープ領域1031、及び外側クラッディング101の間により漸進的なドーパント勾配があるからである。
図2Cは、本開示の特定の実施形態による、複数の内側クラッディング103とドープ外側クラッディング201とを備えたMCF200Cの正面切欠図を示す。外側クラッディング201は、フッ素(F)、ホウ素(B)、又は塩素(Cl)を含むドーパントでドープされる。いくつかの実施形態において、ドープ外側クラッディング201は内側クラッディング103に関してより低いドーパント濃度を有し、ドープ外側クラッディングと内側クラッディングとの間のドーパント勾配を低減させる。そのような実施形態において、コア102に関してドープ外側クラッディング201のNAは約0.08~約0.18であり、コア102に関して内側クラッディング103のNAが約0.18~約0.28である。この実施形態において、拡散低減特徴部はドープ外側クラッディング201を含む。ドープ外側クラッディング201と内側クラッディング103との間のドーパント勾配の低減は、ドープ外側クラッディング201と内側クラッディング103との間の気泡移動を低減させる。
図2Dは、本開示の特定の実施形態による複数の拡散障壁202を備えたMCF200Dの正面切欠図を示す。図2Dの例において、コア102は、コアの屈折率を上昇させるドーパントでドープされ、それによりコア102内の導光特性を可能にする。いくつかの実施形態によると、ドーパントは、コア102の屈折率を上昇させる任意のドーパント、例えばゲルマニウム(Ge)又はリン(P)を含む。したがって、図2Dの例において、ドープコア102は周りを囲む材料(例えば外側クラッディング101である)で屈折率勾配を作ることができ、それによりコアの導光特性を可能にするため、内側クラッディング103は必要ではない。この実施形態において、拡散低減特徴部は拡散障壁202を含む。図2Dの例において、外側クラッディング101は溶融シリカを含み得る。したがって、気泡が外側クラッディング101において形成するのを防ぐために、図2Dの実施形態において、外側クラッディング101と同じ材料でできている拡散障壁202が、ドーパント拡散遮蔽を作り出し外側クラッディング101に対するインターフェイスにおける気泡形成を低減させるために用いられる。
図2Eは、本開示の特定の実施形態による、ロッド210とロッド内側クラッディング230とを備えたMCF250Aの正面切欠図を示す。図2Eの例において、コア102の各々が溶融シリカ又は同様の材料を含む一方で、内側クラッディング103はF、B、又はClを含むドーパントでドープされた溶融シリカを含む。ロッド210はロッド内側クラッディング230により囲まれ、ロッドは溶融シリカ、ガラス、又は同様の材料を含む。内側クラッディング103の各々の第1部分211は、全てのコア102を囲む管251の内面とインターフェイスをとる。また、内側クラッディング103の各々の第2部分212はロッド内側クラッディング230とインターフェイスをとる。図2Eの例において、外側シェル101と内側クラッディング103との間のドーパント勾配を低減させるために、管251はF、B、又はClを含むドーパントでドープされる。加えて、図示のとおり、第2部分212で、ガラスロッド210と内側クラッディング103との間のドーパント勾配を低減させるために、ロッド内側クラッディング230はロッド210も囲む。ロッド内側クラッディング230は、コア102を囲む内側クラッディング103と同じ材料を有するため、ロッド210において気泡が形成する可能性が低減する。対照的に、ロッド内側クラッディング230がロッド210の周りに使用されない場合、ロッド210と内側クラッディング103との間のドーパント勾配を理由として気泡がロッド210において形成され得る。この実施形態において、拡散低減特徴部はドープ管251とロッド内側クラッディング230とを含む。
図2Fは、本開示の特定の実施形態によるロッド210を備えたMCF250Bの正面切欠図を示す。図2Fの例において、コア102の各々は、コアの屈折率を上昇させる第1ドーパント、例えばゲルマニウム(Ge)又はリン(P)でドープされた溶融シリカ又は同様の材料を含む。拡散障壁202は溶融シリカを含むとともにコアを囲む。拡散障壁202の各々の第1部分214は、管251の内面とインターフェイスをとる。また、拡散障壁202の各々の第2部分213はロッド210とインターフェイスをとる。図2Fの例において、管251とコア102との間のドーパント勾配を低減させるために、拡散障壁202は外側シェルと同じ組成物を有する。図2Fの例において、管251は溶融シリカを含み得る。したがって、気泡が管251において形成するのを防ぐために、図2Fの実施形態においては、ドープコア102と管251との間のドーパント勾配を低減させるために、拡散障壁202は管251と同じ材料でできている。この実施形態において、拡散低減特徴部は拡散障壁202を含む。
上述のとおり、MCFは複数のコアの1つ又は複数、外側シェル、拡散障壁、クラッディング、及びドーパントを含む。拡散障壁及びクラッディングは少なくとも部分的にコアを囲む。拡散障壁及びクラッディングは、内側クラッディングから外側クラッディング又は管へのドーパントの望ましくない移動が低減するように設計される。MCFの様々なコンポーネントのドーピングレベルは、ドーパント移動を低減させるために制御され得る。いくつかの実施形態において、内側クラッディングはドープされず、コアが代わりにドープされ、内側クラッディングをドープする必要性を無くす。
ドーパント勾配の低減は、ドーパントの移動及びコアと外側クラッディング又は管との間のインターフェイスにおける気泡形成の可能性を低減させる。加えて、クラッディング及び拡散障壁は、MCFの様々なコンポーネント間のドーパントの移動を送らせる及び低減させるのに役立つ。ドーパントのタイプ及びドーパントプロファイルは、MCFの望ましい材料及び光学特性を維持するために調整され得る。
上で開示された主題は限定的ではなく例示的なものとみなされ、添付の特許請求の範囲は、全てのそのような修正形態、強化形態、及び本開示の趣旨及び範囲に該当する他の実施形態に及ぶことが意図される。したがって、法により可能とされる最大限、本開示の範囲は、以下の特許請求の範囲及びそれらの均等物の可能な限り最も幅広い解釈により決定され、前述の詳細な説明により制限も限定もされるものではない。

Claims (15)

  1. マルチコア光ファイバ(MCF)であって、
    第1材料を含む複数のコアと、
    前記コアを囲む外側クラッディングであって、前記第1材料を含む外側クラッディングと、
    拡散低減特徴部であって、前記外側クラッディングと前記MCFにおける別の要素との間の第1ドーパントの移動を低減させる拡散低減特徴部と
    を含むマルチコア光ファイバ(MCF)。
  2. 前記外側クラッディングにおける前記第1ドーパントの濃度が、前記拡散低減特徴部の無いMCFと比較すると低減する、請求項1に記載のMCF。
  3. 前記外側クラッディングと前記別の要素との間のドーパント濃度勾配が、前記拡散低減特徴部の無いMCFと比較すると低減する、請求項1に記載のMCF。
  4. 前記コアを囲む複数の内側クラッディングをさらに含み、前記複数の内側クラッディングが前記第1材料と前記第1ドーパントとを含む、請求項1に記載のMCF。
  5. 前記拡散低減特徴部が前記内側クラッディングを囲む複数の拡散障壁を含み、前記拡散障壁が前記第1材料を含む、請求項4に記載のMCF。
  6. 前記拡散低減特徴部が、
    前記第1ドーパントでドープされた前記複数の内側クラッディングの高ドープ領域と、
    前記第1ドーパントでドープされた前記複数の内側クラッディングの低ドープ領域であって、前記低ドープ領域の前記第1ドーパントのドーパント濃度が前記高ドープ領域の前記第1ドーパントの前記ドーパント濃度未満であり、前記低ドープ領域が前記高ドープ領域を囲む、低ドープ領域
    を含む、請求項4に記載のMCF。
  7. 前記複数のコアに関する前記高ドープ領域の開口数(NA)が約0.18~約0.28であり、前記複数のコアに関する前記低ドープ領域のNAが約0.08~約0.18である、請求項6に記載のMCF。
  8. 前記第1ドーパントがフッ素(F)、ホウ素(B)、又は塩素(Cl)を含む、請求項7に記載のMCF。
  9. 前記拡散低減特徴部が第1ドーパント濃度の前記外側クラッディングを含む、請求項4に記載のMCF。
  10. 前記外側クラッディングにおける前記第1ドーパントの前記濃度が、前記複数の内側クラッディングにおける前記第1ドーパントの前記濃度未満である、請求項9に記載のMCF。
  11. 前記拡散低減特徴部が前記コアを囲む複数の拡散障壁を含み、前記拡散障壁が前記第1材料を含む、請求項1に記載のMCF。
  12. 前記複数のコアが前記第1ドーパントでドープされ、前記別の要素が前記複数のコアである、請求項11に記載のMCF。
  13. 前記第1ドーパントが前記第1材料の屈折率を上昇させる、請求項12に記載のMCF。
  14. 前記第1ドーパントがゲルマニウム(Ge)又はリン(P)を含む、請求項13に記載のMCF。
  15. マルチコア光ファイバ(MCF)であって、
    第1材料を含むロッドと、
    前記ロッドを囲むロッド内側クラッディングであって、前記ロッド内側クラッディングが前記第1材料と第1ドーパントとを含むロッド内側クラッディングと、
    前記第1材料を含む複数のコアと、
    前記コアを囲む複数の内側クラッディングであって、前記複数の内側クラッディングが前記第1材料と前記第1ドーパントとを含み、前記複数の内側クラッディングの各々の第1部分が前記ロッド内側クラッディングの一部とインターフェイスをとる複数の内側クラッディングと、
    前記第1材料と前記第1ドーパントとを含む外管であって、前記内側クラッディングの各々の第2部分が前記外管の一部とインターフェイスをとる外管と
    を含むマルチコア光ファイバ(MCF)。
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