JP2022540617A - 試験標本のステージングを制御する方法及び装置 - Google Patents

試験標本のステージングを制御する方法及び装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2022540617A
JP2022540617A JP2022501169A JP2022501169A JP2022540617A JP 2022540617 A JP2022540617 A JP 2022540617A JP 2022501169 A JP2022501169 A JP 2022501169A JP 2022501169 A JP2022501169 A JP 2022501169A JP 2022540617 A JP2022540617 A JP 2022540617A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
points
stage
test
user interface
graphic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2022501169A
Other languages
English (en)
Inventor
ニコル スコット
モース ジェイソン
ジャクソン クリストファー
Original Assignee
イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド filed Critical イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド
Publication of JP2022540617A publication Critical patent/JP2022540617A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/02Details
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/048Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI]
    • G06F3/0481Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI] based on specific properties of the displayed interaction object or a metaphor-based environment, e.g. interaction with desktop elements like windows or icons, or assisted by a cursor's changing behaviour or appearance
    • G06F3/0482Interaction with lists of selectable items, e.g. menus
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/048Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI]
    • G06F3/0484Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI] for the control of specific functions or operations, e.g. selecting or manipulating an object, an image or a displayed text element, setting a parameter value or selecting a range
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/048Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI]
    • G06F3/0484Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI] for the control of specific functions or operations, e.g. selecting or manipulating an object, an image or a displayed text element, setting a parameter value or selecting a range
    • G06F3/04847Interaction techniques to control parameter settings, e.g. interaction with sliders or dials
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/02Details not specific for a particular testing method
    • G01N2203/0202Control of the test
    • G01N2203/0206Means for supplying or positioning specimens or exchangeable parts of the machine such as indenters...
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/02Details not specific for a particular testing method
    • G01N2203/04Chucks, fixtures, jaws, holders or anvils
    • G01N2203/0464Chucks, fixtures, jaws, holders or anvils with provisions for testing more than one specimen at the time

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

Figure 2022540617000001
試験標本のステージングを制御する方法及び装置。自動試験を行う開示された例示的なシステムは、1つ以上の試験標本を固定するように構成されたステージと、ステージ及び1つ以上の試験標本を位置決めするように構成された1つ以上のアクチュエータと、ユーザーインターフェースであって、1つ以上の試験標本において試験される複数の点の試験シーケンスを定義する入力を受信し、1つ以上の試験標本上の複数の点の位置と、試験シーケンスの試験中に複数の点を横切るようにステージが取る1つ以上の経路とを示すグラフィックを表示する、ユーザーインターフェースと、複数の点及び1つ以上の経路に従って試験シーケンスの試験プロセスを制御するように構成された制御回路部とを備える。
【選択図】図1

Description

本開示は、包括的には、材料試験に関し、より詳細には、試験標本のステージングを制御する方法及び装置に関する。
試験システムにおいて、試験ステージを用いて、物理的、電気的及び/又は他のタイプの試験のために1つ以上の試験標本を物理的に位置決めすることができる。
試験標本のステージングを制御する方法及び装置が、特許請求の範囲においてより完全に記載されるように、実質的に、図面のうちの少なくとも1つによって示され、これに関連して説明されるように開示される。
本開示のこれらの特徴、態様、及び利点並びに他の特徴、態様、及び利点は、以下の詳細な説明が添付図面を参照して読まれるとより良好に理解され、図面を通して同様の参照符号は同様の部分を表す。
本開示の態様による、試験ステージに付けられた1つ以上の試験標本に対し機械的特性試験を実行するための例示的な試験システムのブロック図である。
図1の試験システムの例示的な実施態様のブロック図である。
図2のユーザーインターフェースを実施して試験点及び/又は試験経路を含む試験シーケンスを定義し、試験シーケンスを示すグラフィックを表示するのに用いることができる例示的なユーザーインターフェースを示す図である。
図1~図3の試験システムを実施して、試験ステージを用いて試験シーケンスを定義し、行うために実行することができる例示的な機械可読命令を表すフローチャートである。
図面は、必ずしも正確な縮尺ではない。適切な場合は、同様の又は同一の参照番号を使用して、同様の又は同一の構成要素を指す。
例示的な試験ステージは、円形及び/又は極性移動、回転移動、及び/又は任意の他の所望の移動及び/又は位置決めにおいて、1つ以上の線形の次元(例えば、単一の次元の場合、Xステージ、Yステージ又はZステージ、2つの次元の場合、XYステージ、XZステージ又はYZステージ、3つの次元の場合、XYZステージ)において試験標本を移動させることができる。試験ステージは、標本の特性及び/又は行われる試験のタイプ(複数の場合もある)(例えば、圧縮、張力、ねじれ、屈曲等)及び/又は動作(複数の場合もある)(例えば、分析)に依拠して、1つ以上の標本を付ける固定具を備えることができる。
試験ステージを利用する従来の試験システムと対照的に、開示される例示的な試験システムは、試験シーケンスにおける試験点の数及びロケーション、並びに試験点間の経路の明確な指示をオペレーター(複数の場合もある)に提供する。例えば、いくつかの開示される試験システムは、試験ステージを表すグラフィックを表示し、試験点のロケーション、及び試験点間の経路をグラフィック上に重ねて、オペレーターに正確な試験シーケンスを迅速に示す。結果として、開示される例示的な試験システムは、試験シーケンスを定義する際、精度及びオペレーター効率においてかなりの改善をもたらす。
開示される例示的なシステムは、1つ以上の標本の自動試験を行い、1つ以上の試験標本を固定するように構成されたステージと、ステージ及び1つ以上の試験標本を位置決めするように構成された1つ以上のアクチュエータと、ユーザーインターフェースであって、1つ以上の試験標本において試験される複数の点の試験シーケンスを定義する入力を受信し、1つ以上の試験標本上の複数の点の位置と、試験シーケンスの試験中に複数の点を横切るようにステージが取る1つ以上の経路とを示すグラフィックを表示するように構成された、ユーザーインターフェースと、複数の点及び1つ以上の経路に従って試験シーケンスの試験プロセスを制御するように構成された制御回路部とを備える。
いくつかの例において、制御回路部は、複数の点に基づいて経路を計算するように構成される。いくつかの例示的なシステムにおいて、複数の点を定義する入力は、ステージ上の複数の点の座標、複数の点の行の数、複数の点の列の数、複数の点の数、1つ以上の試験標本の次元、複数の点のうちの最初の点の位置、複数の点のうちの最後の点の位置、又は複数の点のうちの連続した点間の位置の変化、のうちの少なくとも1つを含む。いくつかの例示的なシステムにおいて、入力は、入力デバイスを介した複数の点のうちの1つ以上の直接選択である。いくつかのこのような例において、入力デバイスは、ジョイスティック、マウス又はタッチスクリーンのうちの少なくとも1つを含む。
いくつかの例において、ユーザーインターフェースは、ステージを表すグリッド、ステージ上に重ね合わされた複数の点、及び複数の点を接続する1つ以上の経路としてグラフィックを表示するように構成される。いくつかの例において、ユーザーインターフェースは、複数の点が試験プロセス中に試験されることになる順序を示すように複数の点に関連付けられた連続した印を表示するように構成される。いくつかの例において、ユーザーインターフェースは、複数の点のうちの最初の点を示し、1つ以上の方向インジケーターを用いて1つ以上の経路を表示するように構成される。
いくつかの例示的なシステムにおいて、ユーザーインターフェースは、複数の点のうちの1つ以上がステージの境界の外側にあることを示すように構成される。いくつかの例示的なシステムにおいて、ユーザーインターフェースは、グラフィックを介してステージの現在の位置を示すように構成される。いくつかの例において、ユーザーインターフェースは、ステージの全体を表す第2のグラフィックを表示するように構成される。いくつかの例示的なシステムにおいて、ステージは、直線状、回転方向又は径方向のうちの少なくとも1つにおいて試験標本を移動させるように構成される。いくつかの例において、制御回路部は、1つ以上の次元を有するユークリッド座標、極座標、円座標、球座標又は円筒座標のうちの少なくとも1つを用いてステージアクチュエータを制御するように構成される。
1つ以上の標本の自動試験を行う開示される例示的な方法は、1つ以上の試験標本を試験ステージに固定することと、ユーザーインターフェースを介して、1つ以上の試験標本において試験される複数の点の試験シーケンスを定義する入力を受信することと、ユーザーインターフェースを介して、1つ以上の試験標本上の複数の点の位置と、試験シーケンスの試験中に複数の点を横切るようにステージが取る1つ以上の経路とを示すグラフィックを表示することと、制御回路部を介して、複数の点及び1つ以上の経路に従って試験ステージを移動させるようにステージアクチュエータを制御することによって、試験シーケンスの試験プロセスを行うこととを含む。
いくつかの例示的な方法において、複数の点を定義する入力は、ステージ上の複数の点の座標、複数の点の行の数、複数の点の列の数、複数の点の数、1つ以上の試験標本の次元、複数の点のうちの最初の点の位置、複数の点のうちの最後の点の位置、又は複数の点のうちの連続した点間の位置の変化、のうちの少なくとも1つを含む。いくつかの例において、グラフィックを表示することは、ステージを表すグリッド、ステージ上に重ね合わされた複数の点、及び複数の点を接続する1つ以上の経路としてグラフィックを表示することを含む。
いくつかの例示的な方法において、入力を受信することは、入力デバイスを介した複数の点のうちの1つ以上の直接選択を受信することを含む。いくつかの例において、グラフィックを表示することは、複数の点がステージ上に重ね合わされるステージを表すグリッドとしてグラフィックを表示することと、複数の点を接続する1つ以上の経路を表示することとを含む。いくつかの例において、ステージアクチュエータを制御することは、直線状、回転方向又は径方向のうちの少なくとも1つにおいてステージを移動させるようにステージアクチュエータを制御することを含む。いくつかの例示的な方法は、ユーザーインターフェースを介して、複数の点のうちの1つ以上がステージの境界の外側にあることを示すことを更に含む。
図1は、試験ステージ104に付けられた1つ以上の試験標本102a~102oに対し機械的特性試験を実行するための例示的な試験システム100のブロック図である。図1の例示的な試験ステージ104は、試験要素106(例えば、圧縮試験器、張力試験器、ねじれ試験器、屈曲試験器等)の下に試験標本102a~102oを位置決めするXYステージである。いくつかの例において、試験ステージ104は単一の標本を保持することができ、ここで、単一の標本上の複数のロケーションを、試験又は他の動作(例えば、分析)のために試験要素106の下に位置決めすることができる。
図2は、図1の試験システム100の例示的な実施態様のブロック図である。図2に示すように、試験システム100は、試験用取付具201及びコンピューティングデバイス202を備える。
例示的なコンピューティングデバイス202は、汎用コンピューター、ラップトップコンピューター、タブレットコンピューター、モバイルデバイス、サーバー、オールインワンコンピューター、及び/又は他の任意のタイプのコンピューティングデバイスとしてもよい。図2のコンピューティングデバイス202は、プロセッサ203を備え、プロセッサ203は、汎用中央処理装置(CPU:central processing unit)とすることができる。いくつかの例において、プロセッサ203は、FPGA、ARMコアを有するRISCプロセッサ、画像処理装置、デジタル信号プロセッサ、及び/又はシステムオンチップ(SoC)等の1つ以上の専用処理装置を含むことができる。プロセッサ203は、プロセッサにおいて(例えば、内蔵キャッシュ又はSoCに)、ランダムアクセスメモリ206(又は他の揮発性メモリ)に、リードオンリーメモリ208(又はフラッシュメモリ等の他の不揮発性メモリ)に、及び/又はマスストレージデバイス210にローカルに記憶することができる機械可読命令204を実行する。例示的なマスストレージデバイス210は、ハードドライブ、ソリッドステートストレージドライブ、ハイブリッドドライブ、RAIDアレイ、及び/又は他の任意のマスデータストレージデバイスとしてもよい。バス212は、プロセッサ203、RAM206、ROM208、マスストレージデバイス210、ネットワークインターフェース214、及び/又は入力/出力インターフェース216間の通信を可能にする。
例示的なネットワークインターフェース214は、コンピューティングデバイス202を、インターネット等の通信ネットワーク218に接続するハードウェア、ファームウェア、及び/又はソフトウェアを含む。例えば、ネットワークインターフェース214は、通信を送信及び/又は受信するために、IEEE 802.X準拠無線及び/又は有線通信ハードウェアを含むことができる。
図2の例示的なI/Oインターフェース216は、プロセッサ203に入力を提供する及び/又はプロセッサ203から出力を提供するために、1つ以上の入力/出力デバイス220をプロセッサ203に接続するハードウェア、ファームウェア、及び/又はソフトウェアを含む。例えば、I/Oインターフェース216は、ディスプレイデバイスとインターフェース接続する画像処理装置、1つ以上のUSB準拠デバイスとインターフェース接続するユニバーサルシリアルバスポート、FireWire(登録商標)、フィールドバス、及び/又は他の任意のタイプのインターフェースを含んでもよい。例示的な試験システム100は、I/Oインターフェース216に結合されたディスプレイデバイス224(例えば、LCDスクリーン)を備える。他の例示的なI/Oデバイス(複数の場合もある)220は、キーボード、キーパッド、マウス、トラックボール、ポインティングデバイス、マイクロフォン、オーディオスピーカー、ディスプレイデバイス、光メディアドライブ、マルチタッチタッチスクリーン、ジェスチャー認識インターフェース、磁気メディアドライブ、及び/又は他の任意のタイプの入力及び/又は出力デバイスを含んでもよい。
コンピューティングデバイス202は、I/Oインターフェース216及び/又はI/Oデバイス(複数の場合もある)220を介して非一時的機械可読媒体222にアクセスすることができる。図2の機械可読媒体222の例は、光ディスク(例えば、コンパクトディスク(CD)、デジタルバーサタイル/ビデオディスク(DVD)、Blu-ray(登録商標)ディスク等)、磁気メディア(例えば、フロッピー(登録商標)ディスク)、ポータブル記憶媒体(例えば、ポータブルフラッシュドライブ、セキュアデジタル(SD)カード等)、及び/又は他の任意のタイプの取り外し可能及び/又はインストール済み機械可読媒体を含む。
試験用取付具201は、コンピューティングデバイス202に結合される。図2の例において、試験用取付具201は、USBポート、Thunderboltポート、FireWire(登録商標)(IEEE 1394)ポート、及び/又は他の任意のタイプのシリアル又はパラレルデータポート等のI/Oインターフェース216を介して、コンピューティングデバイスに結合される。いくつかの例において、試験用取付具201は、直接又はネットワーク218を介して、有線又は無線接続(例えば、Ethernet(登録商標)、Wi-Fi等)を介してネットワークインターフェース214及び/又はI/Oインターフェース216に結合される。
試験用取付具201は、フレーム228と、ロードセル230と、試験ステージ232(例えば、図1の試験ステージ104)と、ステージアクチュエータ234と、標本取付具236と、制御回路部238と、ユーザーインターフェース250とを備える。フレーム228は、試験を行う試験用取付具201の他の構成要素のための剛構造支持体を提供する。ロードセル230は、試験アクチュエータ246によって標本(例えば、基板102)に加えられた力を測定する。
例示的な制御回路部238は、複数の試験点のセットと、連続した試験点間の経路とを含む試験シーケンスに基づいてステージ232の移動を制御する。例示的なステージ232は、直線状に移動(例えば、1つ以上の次元におけるユークリッド又はデカルト座標)、回転方向に移動(例えば、ステージ232の角移動)及び/又は径方向に移動(例えば、ステージの内方及び外方の移動)するように構成することができる。制御回路部238は、1つ以上の次元を有するユークリッド座標、極座標、円座標、球座標、円筒座標及び/又は任意の他の座標系のうちの1つ以上を用いてステージアクチュエータ234を制御するように構成することができ、及び/又は、ユーザーインターフェース250は、オペレーターが、同じ座標系又は異なる座標系を用いて点及び/又は経路を定義することを可能にすることができる。
ステージ232及びステージアクチュエータ234は、図2においてシステム100の一部として示されているが、ステージ232及び/又はステージアクチュエータ234は、システム100と一体にすることもできるし、既存のシステムに増設することもできる。
試験アクチュエータ246は、標本(複数の場合もある)に力を加え、及び/又は標本(複数の場合もある)の変位を強制する。例示的な試験システム100において、試験要素106は、XY方向において静止しており、ステージアクチュエータ234は、ステージ232及び標本(複数の場合もある)を試験要素106に対しXY方向において移動させ、試験要素106がZ方向における試験を行うことを可能にする。
ステージアクチュエータ234及び/又は試験アクチュエータ246を実装するのに用いることができる例示的なアクチュエータは、電気モーター、空気圧アクチュエータ、油圧アクチュエータ、圧電アクチュエータ、中継器及び/又はスイッチを含んでもよい。例示的な試験用取付具201は、モーター、例えばサーボモーター又は直接駆動リニアモーター等を用いるが、他のシステムは、異なるタイプのアクチュエータを用いてもよい。例えば、システムの要件に基づいて、油圧アクチュエータ、空気圧アクチュエータ、及び/又は任意の他のタイプのアクチュエータを用いてもよい。
標本取付具236は、標本(複数の場合もある)をステージ232に付ける。例えば、標本取付具236は、試験されている機械的特性及び/又は標本に依拠して、把持部248、例えば、ジョーグリップ、プラテン、プローブ、クランプ及び/又は他のタイプの取付具等を備えることができる。把持部248は、手動入力により手動で構成、制御し、及び/又は制御回路部238によって自動的に制御することができる。
試験システム100は、1つ以上の入力デバイス252を含む1つ以上のユーザーインターフェース250を更に備えることができる。入力デバイス252は、オペレーター制御パネル上に位置するボタン、スイッチ及び/又は他の入力デバイスを含むことができる。例えば、入力デバイス252は、ボタン、タッチスクリーン、マウス、ジョイスティック及び/又は他のタイプの入力デバイス(複数の場合もある)を含むことができる。入力デバイス(複数の場合もある)252は、試験用取付具201の動作を制御することができ、例えば、試験点のロケーション(複数の場合もある)を定義すること、試験点間の経路を定義すること、試験ステージ232を所望の位置に押す(例えば、位置決めする)ようにステージアクチュエータ(複数の場合もある)234を制御すること、(例えば、別のアクチュエータを介して)把持部248を制御するスイッチ(例えば、フットスイッチ)を開閉するように制御すること、及び/又は、試験用取付具201の動作を制御するように任意の他の入力デバイスを制御すること等である。
例示的な制御回路部238は、コンピューティングデバイス202と通信して、例えばコンピューティングデバイス202から試験パラメータを受信し、及び/又は、測定値及び/又は他の結果をコンピューティングデバイス202に報告する。例えば、制御回路部238は、コンピューティングデバイス202との通信を可能にする1つ以上の通信及び/又はI/Oインターフェースを備えることができる。制御回路部238は、試験シーケンス中に試験するために、標本上に試験要素106に隣接して(例えば、試験要素106の下に)試験点を位置決めするよう試験ステージ232を移動させるようにステージアクチュエータ(複数の場合もある)234を制御することができる。さらに又は代替的に、制御回路部238は、所与の方向に動くように、及び/又は試験アクチュエータ246の速度を制御するように試験アクチュエータ246を制御し、標本を把持又は解放するように把持部248を制御し、及び/又は変位トランスデューサ240、ロードセル230及び/又は他のトランスデューサから測定値を受信することができる。
図3は、図2のユーザーインターフェース250及び/又はディスプレイデバイス224を実施して試験点及び/又は試験経路を含む試験シーケンスを定義し、試験シーケンスを示すグラフィック302を表示するのに用いることができる例示的なユーザーインターフェース300を示す。例示的なユーザーインターフェース300は、試験点を定義する入力を含む。例示的なユーザーインターフェース300は、表示スクリーン(例えば、ディスプレイ224)、タッチスクリーン、及び/又は任意の他の表示方法により提示することができる。
インターフェース300は、図1のステージ104に付けられた1つ以上の試験標本上の試験される複数の点を含む試験シーケンスを定義する入力304を受信するように構成される。図3に示す例示的な入力は、ステージ上の複数の点のうちの1つ以上のための座標入力306、複数の点の行の数308、複数の点の列の数310、複数の点の数312(例えば、点の総数)、1つ以上の試験標本の次元のための次元入力314、複数の点のうちの最初の点の位置(例えば、座標)のための位置入力316、複数の点のうちの最後の点の位置(例えば座標)のための位置入力318、又は複数の点のうちの連続点間の位置の変化320(例えば、デルタ)を含む。さらに又は代替的に、インターフェース300は、オペレーターが、ファイルから(例えば、図2のマスストレージデバイス210、ネットワークインターフェース214、I/Oデバイス220及び/又は機械可読媒体222を介して)点及び/又は経路のシーケンスをインポート及び/又はエクスポートすることを可能にすることができる。
例示的な座標入力(例えば、入力306、314、316、318、320)は、複数の次元(例えば、XYステージの場合、X座標及びY座標)のための入力を含むが、異なるタイプのステージの場合、より少ないか又はより多い入力を含むことができる。いくつかの例では、座標入力は、座標系と関連付けられたグラフィック302上の所望の点にカーソルを向け、ロケーションを選択すること等によって、グラフィック302によって表されたグリッドを参照して受信することができる。グリッド上の選択に応じて、例示的な制御回路部328は、ロケーションを、選択された座標入力のための入力(例えば、入力306、314、316、318又は320)として用いることができる。
例示的なグラフィック302は、1つ以上の試験標本における複数の点322(図3の例において1~25の番号を付される)の位置、及び試験シーケンスの試験中に複数の点1~25を横切るようにステージ104が取る1つ以上の経路(例えば、点1~25のうちの連続する点間の矢印)を示す。図3に示すように、ユーザーインターフェース300は、ステージ104を表すグリッドとしてグラフィック302を表示するように構成され、複数の点322がステージ上に重ね合わされ、1つ以上の経路324が複数の点322を接続する。例示的なグラフィック302は、点322が試験プロセス中に試験されることになる順序を示すように点322と関連付けて英数字シーケンス(例えば、1、2、3等、A、B、C等、A1、A2、B1、B2等)等の連続した印を表示する。
いくつかの例では、連続した印を用いて、図3の示された矢印の代わりに順序を示すことができる。いくつかの他の例では、矢印又は類似の経路インジケーターを最初の点のインジケーションと併せて用いて、順序を示す特定の印を用いることなく、1つ以上の経路及び順序を表示することができる。
本明細書において用いられるとき、「経路」は、点1~25のうちの2つ以上の間に存在するルートを指す。換言すると、点1から点2までのルートは、単一の経路とみなすことができ、点1において開始し、点25において終了するルートは、単一の経路又は複数の経路(例えば2つ~24個の経路)とみなすことができる。
例示的なユーザーインターフェース300は、ユーザーインターフェースを介して入力された1つ以上の点がステージの境界の外側にあるときを示すことができる。例えば、オペレーターが(例えば、ステージ104を表すグリッド座標系に従って)ステージ104の外側にある座標を入力する場合、ユーザーインターフェース300は、点がステージ104の境界の外側にあることのアラート、アラーム又は他のインジケーションを表示することができる。
いくつかの例において、ユーザーインターフェース300は、グラフィック302上に、(例えば、試験要素106に対する)ステージ104の現在の位置を表すステージ位置インジケーター326を含む(例えば、重ねる)ことができる。
グラフィック302は、ステージ104の全体、及び/又はステージ104の一部分、例えば、標本若しくは関心領域の定義された次元等を表すことができる。いくつかの例において、グラフィック302がステージ104の一部分を表しているとき、ユーザーインターフェース300は、オペレーターがズームアウトし、ステージ104の全体を表す第2のグラフィックを表示することを可能にすることができる。
点322の位置及び経路324を視覚的に表し、示すようにグラフィック302を表示することによって、例示的なユーザーインターフェース300は、オペレーターがステージを用いて試験シーケンスを定義及び実施することができる効率及び精度を実質的に改善する。特に、ユーザーインターフェース300は、ユーザーが標本上の点の数及び配置を迅速に判別し、任意の点が標本及び/又はステージ232の境界の外側にあるか否かを判断し、及び/又は試験シーケンスに対する改善又は補正が実施されるべきであるか否かを判断することを可能にする。
図4は、図1~図3の試験システムを実施して、試験ステージを用いて試験シーケンスを定義し、行うために実行することができる例示的な機械可読命令400を表すフローチャートである。命令400は、試験シーケンスを定義し、試験シーケンス内の点及び経路を表すグラフィック302を含むユーザーインターフェース300を表示し、定義された試験シーケンスを実行するように試験用取付具を制御するように例えば図2の制御回路部238及び/又はプロセッサ203によって実行することができる。例示的な命令400は、以下で図2の制御回路部238によって実行されるものとして説明される。
ブロック402において、制御回路部238は、試験シーケンスをセットアップするか否かを判断する。例えば、制御回路部238は、第1のメニューから、試験シーケンスインターフェース(例えば、図3のユーザーインターフェース300)に入るための入力を受信することができる。試験シーケンスがセットアップされる場合(ブロック402)、ブロック404において、制御回路部238は、1つ以上の試験標本において試験される点の試験シーケンスを定義する1つ以上の入力を受信する。例えば、制御回路部238は、(例えば、図2のユーザーインターフェース250及び/又は図3のユーザーインターフェース300を介して)ステージ上の複数の点の座標、複数の点の行の数、複数の点の列の数、複数の点の数、1つ以上の試験標本の次元、複数の点のうちの最初の点の位置、複数の点のうちの最後の点の位置、又は複数の点のうちの連続した点間の位置の変化、のうちの1つ以上を受信することができる。
ブロック406において、制御回路部238は、点のロケーション及び/又は定義された点間の経路を計算する。例えば、行の数が定義され、列の数が定義されているとき、制御回路部238は、行及び列の定義された数に対応する点の座標ロケーションを自動的に定義し、点間の経路を計算することができる。制御回路部238は、規則、例えば、点を均等に離間する、及び/又は標本の試験のデフォルト表現を取得する等に従って点を定義することができる。経路の計算は、制御回路部238によって、例えば、試験効率を最大にし、総試験時間を低減する、及び/又は任意の他の計算的目標を達成するように、及び/又はデフォルト経路方式に基づいて行うことができる。
ブロック408において、制御回路部238は、ステージ104に対する点の位置及び経路を示す1つ以上のグラフィック(例えば、図3のグラフィック302)を表示する。例えば、制御回路部238は、ステージ104を表すグリッド、経路及び/又は点322の試験順序の矢印324又は他のインジケーター、点322の試験順序を表す連続した印、及び/又は試験要素106に対するステージ104の現在の位置のインジケーター326のうちの1つ以上を含むグラフィック302を表示することができる。
ブロック410において、制御回路部238は、試験シーケンスのセットアップが完了したか否かを判断する。例えば、オペレーターは、ユーザーインターフェース300において定義された試験シーケンスを保存又は記憶するボタンを選択することによって、後続の索出及び/又は使用のために試験シーケンスを記憶することを選ぶことができる。試験シーケンスのセットアップが完了していない場合(ブロック410)、制御はブロック404に戻り、試験シーケンスを定義する入力の受信を継続する。
セットアップが完了している(ブロック410)か、又は試験シーケンスがセットアップされない(ブロック402)とき、ブロック412において、制御回路部238は、試験シーケンスが実行されるか否かを判断する。例えば、オペレーターは、図2のユーザーインターフェース250を介して、定義された試験シーケンスを行うことを選択することができる。試験シーケンスが行われない場合(ブロック412)、制御はブロック402に戻る。
試験シーケンスが行われる場合(ブロック412)、ブロック414において、制御回路部238は、試験シーケンスを行うようにステージアクチュエータ(複数の場合もある)234及び試験アクチュエータ(複数の場合もある)246を制御する。例えば、制御回路部238は、ユーザーインターフェース300上に表示されたグラフィックに表されたロケーションに基づいてステージ232を移動するようにステージアクチュエータ(複数の場合もある)234を制御し、ロケーションのそれぞれにおいて試験アクチュエータ246を制御することができる。試験中、例示的な制御回路部238は、(例えばロードセル230を介して)負荷データ及び/又は(変位トランスデューサ240を介して)変位データを収集することができる。ブロック416において、制御回路部238は、試験データ、例えば、収集されたロードデータ及び/又は変位データ等を記憶する。次に、例示的な命令400は終了することができる。いくつかの例において、試験を行った後、制御はブロック402に戻り、別の試験シーケンスが定義されるか否かを判断することができる。
本方法及びシステムは、ハードウェア、ソフトウェア、及び/又はハードウェア及びソフトウェアの組み合わせで実現することができる。本方法及び/又はシステムは、少なくとも1つのコンピューティングシステムにおいて集中的に、又はいくつかの相互接続されたコンピューティングシステムにわたって異なる要素が分散される分散的に、実現することができる。本明細書に記載した方法を実行するように適合された任意の種類のコンピューティングシステム又は他の装置が適している。ハードウェア及びソフトウェアの典型的な組み合わせは、汎用コンピューティングシステムを、ロードされ実行されるとコンピューティングシステムを本明細書に記載した方法を実行するように制御するプログラム又は他のコードとともに、含むことができる。別の典型的な実施態様は、特定用途向け集積回路又はチップを含むことができる。いくつかの実施態様は、非一時的機械可読(例えば、コンピューター可読)媒体(例えば、フラッシュドライブ、光ディスク、磁気記憶ディスク等)を含むことができ、そうした非一時的機械可読媒体は、機械によって実行可能なコードの1つ以上のラインを記憶し、それにより、機械に、本明細書に記載したようなプロセスを実施させる。本明細書において使用される場合、「非一時的機械可読媒体」という用語は、全てのタイプの機械可読記憶媒体を含み、伝播信号を排除するように定義される。
本明細書において使用される場合、「回路」及び「回路類」という用語は、物理的な電子構成要素(すなわち、ハードウェア)と、ハードウェアを構成することができ、ハードウェアが実行することができ、及び/又は他の方法でハードウェアに関連付けることができる、任意のソフトウェア及び/又はファームウェア(「コード」)とを指す。本明細書において使用される場合、例えば特定のプロセッサ及びメモリは、コードの第1の1つ以上のラインを実行しているとき、第1の「回路」を含むことができ、コードの第2の1つ以上のラインを実行しているとき、第2の「回路」を含むことができる。本明細書において使用される場合、「及び/又は」は、「及び/又は」によって連結されるリストにおける項目のうちの任意の1つ以上の項目を意味する。一例として、「x及び/又はy」は、3つの要素の組{(x),(y),(x,y)}のうちの任意の要素を意味する。言い換えれば、「x及び/又はy」は、「x及びyのうちの一方又は両方」を意味する。別の例として、「x、y及び/又はz」は、7つの要素の組{(x),(y),(z),(x,y),(x,z),(y,z),(x,y,z)}のうちの任意の要素を意味する。言い換えれば、「x、y及び/又はz」は、「x、y及びzのうちの1つ以上」を意味する。本明細書において使用される場合、「例示的な」という用語は、非限定的な例、事例又は例証としての役割を果たすことを意味する。本明細書において使用される場合、「例えば」という用語は、1つ以上の非限定的な例、事例又は例証のリストを開始する。本明細書において使用される場合、回路類は、或る機能を実施するために必要なハードウェア及びコード(いずれかが必要である場合)を含む場合はいつでも、その機能の実施が(例えば、ユーザーが構成可能な設定、工場トリム等により)無効にされる又は有効にされていないか否かにかかわらず、回路類はその機能を実行するように「動作可能」である。
本方法及び/又はシステムを、或る特定の実施態様を参照して記載してきたが、当業者であれば、本方法及び/又はシステムの範囲から逸脱することなく、種々の変更を行うことができること及び均等物に置き換えることができることを理解するであろう。例えば、開示した例のブロック及び/又は構成要素を、組み合わせ、分割し、再配置し、及び/又は他の方法で変更することができる。加えて、本開示の範囲から逸脱することなく、本開示の教示に対して特定の状況又は材料を適合させるように多くの改変を行うことができる。したがって、本方法及び/又はシステムは、開示されている特定の実施態様に限定されない。代わりに、本方法及び/又はシステムは、字義どおりにでも均等論のもとにおいても、添付の特許請求の範囲内に入る全ての実施態様を含む。

Claims (20)

  1. 1つ以上の標本の自動試験を行うシステムであって、
    1つ以上の試験標本を固定するように構成されたステージと、
    前記ステージ及び前記1つ以上の試験標本を位置決めするように構成された1つ以上のアクチュエータと、
    ユーザーインターフェースであって、
    前記1つ以上の試験標本において試験される複数の点の試験シーケンスを定義する入力を受信し、
    前記1つ以上の試験標本上の前記複数の点の位置と、前記試験シーケンスの試験中に前記複数の点を横切るように前記ステージが取る1つ以上の経路とを示すグラフィックを表示するように構成された、ユーザーインターフェースと、
    前記複数の点及び前記1つ以上の経路に従って前記試験シーケンスの試験プロセスを制御するように構成された制御回路部と、
    を備える、システム。
  2. 前記制御回路部は、前記複数の点に基づいて前記経路を計算するように構成される、請求項1に記載のシステム。
  3. 前記複数の点を定義する入力は、前記ステージ上の前記複数の点の座標、該複数の点の行の数、該複数の点の列の数、該複数の点の数、前記1つ以上の試験標本の次元、前記複数の点のうちの最初の点の位置、該複数の点のうちの最後の点の位置、又は該複数の点のうちの連続した点間の位置の変化、のうちの少なくとも1つを含む、請求項1に記載のシステム。
  4. 前記入力は、入力デバイスを介した前記複数の点のうちの1つ以上の直接選択を含む、請求項1に記載のシステム。
  5. 前記入力デバイスは、ジョイスティック、マウス又はタッチスクリーンのうちの少なくとも1つを含む、請求項4に記載のシステム。
  6. 前記ユーザーインターフェースは、前記ステージを表すグリッド、該ステージ上に重ね合わされた前記複数の点、及び該複数の点を接続する前記1つ以上の経路として前記グラフィックを表示するように構成される、請求項1に記載のシステム。
  7. 前記ユーザーインターフェースは、前記複数の点が前記試験プロセス中に試験されることになる順序を示すように該複数の点に関連付けられた連続した印を表示するように構成される、請求項6に記載のシステム。
  8. 前記ユーザーインターフェースは、前記複数の点のうちの最初の点を示し、1つ以上の方向インジケーターを用いて前記1つ以上の経路を表示するように構成される、請求項6に記載のシステム。
  9. 前記ユーザーインターフェースは、前記複数の点のうちの1つ以上が前記ステージの境界の外側にあることを示すように構成される、請求項1に記載のシステム。
  10. 前記ユーザーインターフェースは、前記グラフィックを介して前記ステージの現在の位置を示すように構成される、請求項1に記載のシステム。
  11. 前記ユーザーインターフェースは、前記ステージの全体を表す第2のグラフィックを表示するように構成される、請求項1に記載のシステム。
  12. 前記ステージは、直線状、回転方向又は径方向のうちの少なくとも1つにおいて前記試験標本を移動させるように構成される、請求項1に記載のシステム。
  13. 前記制御回路部は、1つ以上の次元を有するユークリッド座標、極座標、円座標、球座標又は円筒座標のうちの少なくとも1つを用いて前記ステージアクチュエータを制御するように構成される、請求項12に記載のシステム。
  14. 1つ以上の標本の自動試験を行う方法であって、
    1つ以上の試験標本を試験ステージに固定することと、
    ユーザーインターフェースを介して、前記1つ以上の試験標本において試験される複数の点の試験シーケンスを定義する入力を受信することと、
    前記ユーザーインターフェースを介して、前記1つ以上の試験標本上の前記複数の点の位置と、前記試験シーケンスの試験中に前記複数の点を横切るように前記ステージが取る1つ以上の経路とを示すグラフィックを表示することと、
    制御回路部を介して、前記複数の点及び前記1つ以上の経路に従って前記試験ステージを移動させるようにステージアクチュエータを制御することによって、前記試験シーケンスの試験プロセスを行うことと、
    を含む、方法。
  15. 前記複数の点を定義する入力は、前記ステージ上の前記複数の点の座標、該複数の点の行の数、該複数の点の列の数、該複数の点の数、前記1つ以上の試験標本の次元、前記複数の点のうちの最初の点の位置、該複数の点のうちの最後の点の位置、又は該複数の点のうちの連続した点間の位置の変化、のうちの少なくとも1つを含む、請求項14に記載の方法。
  16. 前記グラフィックを表示することは、前記ステージを表すグリッド、該ステージ上に重ね合わされた前記複数の点、及び該複数の点を接続する前記1つ以上の経路として前記グラフィックを表示することを含む、請求項14に記載の方法。
  17. 前記入力を受信することは、入力デバイスを介した前記複数の点のうちの1つ以上の直接選択を受信することを含む、請求項14に記載の方法。
  18. 前記グラフィックを表示することは、前記ステージを表すグリッド、該ステージ上に重ね合わされた前記複数の点、及び該複数の点を接続する前記1つ以上の経路として前記グラフィックを表示することを含む、請求項14に記載の方法。
  19. 前記ステージアクチュエータを制御することは、直線状、回転方向又は径方向のうちの少なくとも1つにおいて前記ステージを移動させるように前記ステージアクチュエータを制御することを含む、請求項14に記載の方法。
  20. 前記ユーザーインターフェースを介して、前記複数の点のうちの1つ以上が前記ステージの境界の外側にあることを示すことを更に含む、請求項14に記載の方法。
JP2022501169A 2019-07-12 2020-07-10 試験標本のステージングを制御する方法及び装置 Pending JP2022540617A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US16/510,280 2019-07-12
US16/510,280 US20210010915A1 (en) 2019-07-12 2019-07-12 Methods and apparatus to control staging of test specimens
PCT/US2020/041555 WO2021011359A1 (en) 2019-07-12 2020-07-10 Methods and apparatus to control staging of test specimens

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2022540617A true JP2022540617A (ja) 2022-09-16

Family

ID=71995052

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022501169A Pending JP2022540617A (ja) 2019-07-12 2020-07-10 試験標本のステージングを制御する方法及び装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20210010915A1 (ja)
EP (1) EP3997533B1 (ja)
JP (1) JP2022540617A (ja)
CN (1) CN114096942A (ja)
WO (1) WO2021011359A1 (ja)

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0950951A (ja) * 1995-08-04 1997-02-18 Nikon Corp リソグラフィ方法およびリソグラフィ装置
JP2001009180A (ja) * 1999-07-02 2001-01-16 Brother Ind Ltd ミシンの表示装置及び模様表示プログラムを記録した記録媒体
US7043848B2 (en) * 2003-11-26 2006-05-16 The Micromanipulator Company Method and apparatus for maintaining accurate positioning between a probe and a DUT
JP5501189B2 (ja) * 2010-10-06 2014-05-21 株式会社ミツトヨ 硬さ試験機
JP2012078306A (ja) * 2010-10-06 2012-04-19 Mitsutoyo Corp 硬さ試験機
JP5832083B2 (ja) * 2010-10-27 2015-12-16 株式会社牧野フライス製作所 工具寸法の測定方法及び測定装置
US10562105B1 (en) * 2019-02-06 2020-02-18 Brian Len Automotive wheel CNC (computed numerical control) lathe
JP6101160B2 (ja) * 2013-06-25 2017-03-22 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置、及び試料検査方法
JP6442210B2 (ja) * 2014-09-29 2018-12-19 株式会社ミツトヨ 画像測定装置及び画像測定装置のガイダンス表示方法
EP3274654B1 (de) * 2015-03-26 2020-04-29 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH Verfahren, vorrichtung und computerprogrammprodukt zum bestimmen von dimensionellen eigenschaften eines messobjekts
US20160299498A1 (en) * 2015-04-10 2016-10-13 Nanovea, Inc. System for navigating a field of view of a displayed and magnified surface
US20160334315A1 (en) * 2015-05-12 2016-11-17 Nanovea, Inc. Method for automated parameter and selection testing based on known characteristics of the sample being tested
AT518859B1 (de) * 2016-08-12 2018-02-15 Qness Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Härteprüfung
JP2020017111A (ja) * 2018-07-26 2020-01-30 ファナック株式会社 ワーク計測装置、ワーク計測方法及びプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
EP3997533A1 (en) 2022-05-18
US20210010915A1 (en) 2021-01-14
EP3997533B1 (en) 2024-05-22
WO2021011359A1 (en) 2021-01-21
CN114096942A (zh) 2022-02-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101865975B (zh) 主板测试系统及方法
JP5279655B2 (ja) 工作機械制御システム
JP2006275830A5 (ja)
US11274995B2 (en) Data processing method, data processing device, and computer-readable recording medium having recorded thereon data processing program
CN112988484A (zh) 内存装置测试方法及装置、可读存储介质、电子设备
JP2002016115A (ja) 半導体パラメトリック試験装置
JP2022540617A (ja) 試験標本のステージングを制御する方法及び装置
CN113199509B (zh) 机器人关节测试方法、系统、装置、处理设备及介质
JPWO2015140940A1 (ja) システム構築支援装置、方法、および記録媒体
JP5153538B2 (ja) 保守端末装置及びコンピュータプログラム
CN107250933B (zh) 定位控制装置
JP2017173083A (ja) 材料試験機
JP7017851B2 (ja) 故障診断システムおよび処理ユニット
JP3922942B2 (ja) 画像測定装置、画像測定方法及び画像測定用プログラム
JP2009008410A (ja) 半導体テスト装置
US11514384B2 (en) Productivity improvement support system and productivity improvement support method
JP3377396B2 (ja) 材料試験機用制御装置
JP2021517958A (ja) 機械特性試験を実行する方法及び装置
JP6998775B2 (ja) 画像測定機およびプログラム
JP5445149B2 (ja) 分析装置制御システム及び該システム用プログラム
JP5081844B2 (ja) 変形量評価支援装置、変形量評価支援方法およびプログラム
JP2010085309A (ja) 画像測定装置
CN118170045A (zh) 控制系统的方法以及系统
JP2016200951A (ja) 画面表示装置
JP2003028676A (ja) 測定器用データ収集装置及びデータ収集方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20230417

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20240118

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20240123

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20240404

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20240521