CN112988484A - 内存装置测试方法及装置、可读存储介质、电子设备 - Google Patents

内存装置测试方法及装置、可读存储介质、电子设备 Download PDF

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Abstract

本公开涉及计算机技术领域,提供了一种内存装置测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备,该内存装置测试方法包括:根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定运行路径;根据所述运行路径设置移动装置,以使所述移动装置根据所述运行路径将所述内存装置移动至所述目标测试平台中;控制所述目标测试平台根据目标测试程序对所述内存装置进行测试;实时监测所述内存装置的测试结果,并将所述内存装置的测试结果存储至数据库中。本公开能够实现对内存装置的全自动化测试,提高了测试的效率和准确率。

Description

内存装置测试方法及装置、可读存储介质、电子设备
技术领域
本公开涉及计算机技术领域,具体而言,涉及一种内存装置测试方法、内存装置测试装置、计算机可读存储介质及电子设备。
背景技术
随着计算机技术的发展,各行各业均已使用计算机,组成计算机的配件质量的好坏决定了计算机的性能,尤其是内存装置。内存装置是连接CPU与其他电子设备的通道,起到数据存储和数据交换的作用。因此,内存装置的检测,对于计算机性能的稳定变得至关重要。
现有技术中,存在利用开发软件测试平台测试内存装置,还存在利用应用设备对内存装置进行测试,但这两种方式都是人为手动测试,导致耗费人力和物力成本,并且测得的结果也不精确。
鉴于此,本领域亟需开发一种新的内存装置测试方法及装置。
需要说明的是,在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
本公开的目的在于提供一种内存装置测试方法、内存装置测试装置、计算机可读存储介质及电子设备,进而至少在一定程度上能够减少系统消耗,提高测试精确度。
本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然,或部分地通过本公开的实践而习得。
根据本公开的一个方面,提供一种内存装置测试方法,所述方法包括:根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定运行路径;根据所述运行路径设置移动装置,以使所述移动装置根据所述运行路径将所述内存装置移动至所述目标测试平台中;控制所述目标测试平台根据目标测试程序对所述内存装置进行测试;实时监测所述内存装置的测试结果,并将所述内存装置的测试结果存储至数据库中。
在本公开的一些示例性实施例中,所述方法还包括:通过扫描设备扫描所述内存装置和所述目标测试平台的识别码,以获取所述内存装置的标识信息、所述内存装置的类型、以及所述目标测试平台的标识信息。
在本公开的一些示例性实施例中,在对所述内存装置进行测试之前,所述方法还包括:根据所述内存装置的类型将所述目标测试程序添加至所述目标测试平台,以使所述目标测试平台运行所述目标测试程序。
在本公开的一些示例性实施例中,在确定运行路径之前,所述方法还包括:通过颜色传感器获取测试平台的测试状态;在所述测试平台处于空闲状态时,将所述测试平台配置为所述目标测试平台。
在本公开的一些示例性实施例中,所述方法还包括:将所述内存装置的类型与多个测试平台相匹配;在所述内存装置的类型与所述测试平台相匹配时,将所述测试平台配置为目标测试平台。
在本公开的一些示例性实施例中,所述移动装置包括机械臂和控制端;将所述运行路径发送至所述控制端,通过所述控制端控制所述机械臂,以使所述机械臂根据所述运行路径将所述内存装置移动至所述目标测试平台中。
在本公开的一些示例性实施例中,所述运行路径包括一目标点,所述目标点与所述目标测试平台相距预设距离;所述方法还包括:在所述内存装置移动至所述目标点时,通过高度传感器检测所述机械臂与所述目标测试平台之间的目标距离。
在本公开的一些示例性实施例中,所述方法还包括:在所述目标距离小于所述预设距离时,配置新的目标测试平台;根据所述新的目标测试平台的位置坐标和所述内存装置的当前位置坐标确定新的运行路径。
在本公开的一些示例性实施例中,所述机械臂包括多个夹爪机构;根据所述内存装置的类型在所述多个夹爪机构中确定目标夹爪机构;通过所述控制端控制所述目标夹爪机构抓取所述内存装置,并控制所述机械臂根据所述运行路径将所述内存装置移动至所述目标测试平台中。
在本公开的一些示例性实施例中,所述方法还包括:获取所述内存装置的测试次数,判断所述内存装置的测试次数是否大于或等于预设测试次数;若是,确定内存装置的测试结果;若否,配置新的目标测试平台,并根据所述新的目标测试平台的位置坐标和所述内存装置的当前位置坐标确定新的运行路径。
在本公开的一些示例性实施例中,所述方法还包括:根据所述内存装置的标识信息在所述数据库中获取所述内存装置的测试结果,并将所述测试结果显示在显示界面。
根据本公开的一个方面,提供一种内存装置测试装置,所述内存装置测试装置包括:路径确定模块,用于根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定运行路径;内存移动模块,用于根据所述运行路径设置移动装置,以使所述移动装置根据所述运行路径将所述内存装置移动至所述目标测试平台中;测试控制模块,用于控制所述目标测试平台根据目标测试程序对所述内存装置进行测试;结果监测模块,用于实时监测所述内存装置的测试结果,并将所述内存装置的测试结果存储至数据库中。
根据本公开的一个方面,提供一种内存装置测试系统,所述内存装置测试装置包括:移动装置,用于接收运行路径,根据所述运行路径将所述内存装置移动至目标测试平台中;所述目标测试平台,用于响应测试指令,根据目标测试程序对所述内存装置进行测试;测试服务器,用于向目标测试平台发送测试指令,并实时监测所述内存装置的测试结果,并将所述内存装置的测试结果存储至数据库中;其中,所述运行路径为所述测试服务器根据所述目标测试平台的位置坐标和所述内存装置的当前位置坐标计算所得到。
根据本公开的一个方面,提供了一种计算机可读介质,其上存储有计算机程序,所述程序被处理器执行时实现如上述实施例中所述的内存装置测试方法。
根据本公开的一个方面,提供了一种电子设备,包括:一个或多个处理器;存储装置,用于存储一个或多个程序,当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时,使得所述一个或多个处理器实现如上述实施例中所述的内存装置测试方法。
由上述技术方案可知,本公开示例性实施例中的内存装置测试方法及装置、计算机可读存储介质、电子设备至少具备以下优点和积极效果:
本公开的内存装置测试方法,首先,根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定运行路径;接着,根据所述运行路径设置移动装置,以使所述移动装置根据所述运行路径将所述内存装置移动至所述目标测试平台中;然后,控制所述目标测试平台根据目标测试程序对所述内存装置进行测试;最后,实时监测内存装置的测试结果,并将所述内存装置的测试结果存储至数据库中。本公开中的内存装置测试方法,通过测试服务器、移动装置、目标测试平台之间的数据交互,能够自动实现对内存装置的测试,提高了测试效率和测试准确率;本公开的内存装置测试方法完全替代了人工测试,避免了因人为失误带来的系统消耗,节省了人力成本和物力成本。
本公开应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示意性示出了根据本公开的一实施例的内存装置测试系统的系统架构示意图;
图2示意性示出了根据本公开的一具体实施例的移动装置的结构示意图;
图3示意性示出了根据本公开的一具体实施例的测试平台的结构示意图;
图4示意性示出了根据本公开的一实施例的内存装置测试方法的流程示意图;
图5示意性示出了根据本公开的一实施例的确定内存装置的测试结果的流程示意图;
图6示意性示出了根据本公开的一实施例的确定内存装置的测试结果的流程示意图;
图7示意性示出了根据本公开的一实施例的内存装置测试装置的框图;
图8示意性示出了根据本公开的一实施例的电子设备的模块示意图;
图9示意性示出了根据本公开的一实施例的程序产品示意图。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而,示例实施方式能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的范例;相反,提供这些实施方式使得本公开将更加全面和完整,并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。
此外,所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中,提供许多具体细节从而给出对本公开的实施例的充分理解。然而,本领域技术人员将意识到,可以实践本公开的技术方案而没有特定细节中的一个或更多,或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下,不详细示出或描述公知方法、装置、实现或者操作以避免模糊本公开的各方面。
附图中所示的方框图仅仅是功能实体,不一定必须与物理上独立的实体相对应。即,可以采用软件形式来实现这些功能实体,或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体,或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
附图中所示的流程图仅是示例性说明,不是必须包括所有的内容和操作/步骤,也不是必须按所描述的顺序执行。例如,有的操作/步骤还可以分解,而有的操作/步骤可以合并或部分合并,因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
图1示出了可以应用本公开实施例的技术方案的内存装置测试系统的系统架构示意图。
如图1所示,内存装置测试系统100包括移动装置101,目标测试平台102和测试服务器103,其中:移动装置101,用于接收运行路径,根据运行路径将内存装置移动至目标测试平台102中;目标测试平台102,用于响应测试指令,根据目标测试程序对内存装置进行测试;测试服务器103,用于向目标测试平台102发送测试指令,并实时监测目标测试平台102的测试结果,并将内存装置的测试结果存储至数据库中;其中,运行路径为测试服务器103根据目标测试平台102的位置坐标和内存装置的当前位置坐标计算所得到。
在本公开的示例性实施例中,目标测试平台上添加有目标测试程序,该目标测试平台上可以添加有唯一类型的目标测试程序。还可以添加有多个类型的测试程序,根据在目标测试平台上的内存装置的类型,在多个测试程序中确定目标测试程序。其中,内存装置的类型可以包括内存条、内存条颗粒和内存条基板。
在本公开的示例性实施例中,内存装置测试系统还包括一终端,该终端包括一显示界面,测试服务器可以响应显示界面上的查询请求,通过查询请求中的内存装置的标识信息在数据库中获取该内存装置的测试结果。
在本公开的示例性实施例中,移动装置包括机械臂和控制端,控制端可以控制机械臂的移动。具体地,控制端可以接收运行路径,从而控制机械臂按照运行路径移动内存装置。其中,机械臂的上方设置有一个或多个夹爪机构,夹爪机构可以抓取内存装置,并跟随机械臂移动。夹爪机构可以包括多个类型,不同类型的夹爪机构抓取相对应类型的内存装置,比如,内存条夹爪机构抓取内存条,内存条颗粒夹爪机构抓取内存条颗粒,内存条基板夹爪机构抓取内存条基板。
在本公开的示例性实施例中,内存装置测试系统还设置有扫描设备,扫描设备可以扫描内存装置和目标测试平台的识别码,以获得内存装置的标识信息、内存装置的类型、以及目标测试平台的标识信息。比如,扫描设备可以包括扫描枪,识别码可以是二维码,扫描枪通过扫描内存装置上的二维码,以获得内存装置的标识信息和/或内存装置的类型,扫描枪通过扫描目标测试平台上的二维码,以获得目标测试平台的标识信息。其中,扫描设备可以设置移动装置上,比如,可以设置在机械臂的上方。
在本公开的示例性实施例中,在移动装置上设置有高度传感器,高度传感器可以设置在目标测试平台上,也可以设置在机械臂上,高度传感器可以检测机械臂与目标测试平台之间的距离。
在本公开的示例性实施例中,内存装置测试系统还设置有颜色传感器,颜色传感器可以设置在目标测试平台上。目标测试平台将测试状态和内存装置的当次测试结果发送至颜色传感器中,利用颜色传感器的颜色变化表征目标测试平台的测试状态或内存装置的当次测试结果。
举例而言,图2示出了本具体实施例的移动装置的结构示意图,如图2所示,该移动装置中包括控制端201、机械臂202,在机械臂202的上方分别安装有夹爪机构203、夹爪机构204和一个扫码枪205。其中,夹爪机构203为内存条颗粒夹爪机构,用于抓取内存条颗粒;夹爪机构204为内存条夹爪机构,用于抓取内存条。
图3示出了本具体实施例的测试平台的结构示意图,如图3所示,内存装置测试系统中包括50个测试平台,其中,可以对50个测试平台进行分类,比如,测试平台1至测试平台20用于测试内存条,测试平台21至测试平台40用于测试内存条颗粒,测试平台41至测试平台50用于测试内存条基板。另外,在测试平台1至测试平台20中添加内存条测试程序,在测试平台21至测试平台40中添加内存条颗粒测试程序,在测试平台41至测试平台50中添加内存条基板测试程序。
需要说明的是,本公开实施例所提供的内存装置测试方法一般由测试服务器执行,相应地,内存装置测试装置一般设置于测试服务器中。但是,在本公开的其它实施例中,也可以由内存装置测试装置执行本公开实施例所提供的内存装置测试方法。
在本领域的相关技术中,内存装置的测试有两种测试方式,一种是开发测试平台测试内存装置,另一种是直接在内存装置应用设备中测试。但是,这两种测试方式都需要手动测试,不仅测试精度低,还耗费大量的人力物力成本。
基于相关技术中存在的问题,本公开实施例提供了一种内存装置测试方法,应用于内存装置测试系统,图4示出了内存装置测试方法的流程示意图,如图4所示,该内存装置测试方法至少包括以下步骤:
步骤S410:根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定运行路径;
步骤S420:根据运行路径设置移动装置,以使移动装置根据运行路径将内存装置移动至目标测试平台中;
步骤S430:控制目标测试平台根据目标测试程序对内存装置进行测试;
步骤S440:实时监测内存装置的测试结果,并将内存装置的测试结果存储至数据库中。
本公开实施例中的内存装置测试方法通过测试服务器、移动装置以及目标测试平台之间的数据交互,能够自动实现对内存装置的测试,提高了测试效率和测试准确率;并且,本公开的内存装置测试方法完全替代了人工测试,避免了因人为失误带来的系统消耗,节省了人力成本和物力成本。
为了使本公开的技术方案更清晰,接下来对内存装置测试方法的各步骤进行说明。
在步骤S410中,根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定运行路径。
在本公开的示例性实施例中,获取目标测试平台的位置坐标,以及获取内存装置的当前位置坐标,根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标计算运行路径。其中,运行路径可以是直线路径,也可以是曲线路径,可以根据实际应用场景规划运行路径。
比如,可以根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标计算两点之间的直线路径。还可以设置一目标点,根据目标测试平台的位置坐标、目标点的位置坐标、以及内存装置的当前位置坐标规划直线路径或曲线路径,本公开对此运行路径的确定方法不作具体限定。
在本公开的示例性实施例中,在根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定运行路径之前,获取测试平台的测试状态;在测试平台处于空闲状态时,将测试平台配置为目标测试平台。
其中,测试平台的测试状态包括正在测试状态、掉线状态、空闲状态等。正在测试状态指的是测试平台上放置内存装置,测试平台正在对内存装置进行测试中;掉线状态指的是测试平台上放置内存装置,测试平台在对内存装置进行测试的过程中,测试平台出现测试故障,导致测试中止的情况;空闲状态是测试平台上未放置内存装置,测试平台处于待测试状态。当然,测试状态还可以为其它的测试状态,本公开对此不作具体限定。
具体地,通过颜色传感器获取测试平台的测试状态,在测试平台处于空闲状态时,将测试平台配置为目标测试平台。测试平台的测试状态可以通过颜色传感器表征,通过获取颜色传感器的颜色变化,得到测试平台的颜色变化。比如,配置颜色传感器的第一颜色表征的测试状态为正在测试状态,第二颜色表征的测试状态为掉线状态,第三颜色表征的测试状态为空闲状态,第一颜色、第二颜色以及第三颜色可以为任意不同的颜色。当然,测试状态为多种状态,颜色传感器显示的颜色也可以为多个不同的颜色,本公开对此不作具体限定。
若多个测试平台中,存在两个以上的测试平台都处于空闲状态,可以将任意一个处于空闲状态的测试平台配置为目标测试平台,还可以在多个处于空闲状态的测试平台中根据其它筛选条件,确定目标测试平台。
在本公开的示例性实施例中,将内存装置的类型与多个测试平台相匹配;在内存装置的类型与测试平台相匹配时,将测试平台配置为目标测试平台,其中,内存装置的类型与目标测试平台相关联。
其中,内存装置测试系统中配置有多个类型的测试平台,分别包括内存条测试平台、内存条颗粒测试平台,内存条基板测试平台,各类型的测试平台分别测试对应类型的内存装置。
具体地,可以通过扫描设备扫描内存装置,获得内存装置的类型。将内存装置的类型与多个测试平台相匹配,并将与内存装置的类型相匹配的测试平台配置为目标测试平台。比如,若内存装置为内存条,则将内存条测试平台作为目标测试平台。
在步骤S420中,根据运行路径设置移动装置,以使移动装置根据运行路径将内存装置移动至目标测试平台中。
在本公开的示例性实施例中,将运行路径发送至移动装置的控制端,通过控制端控制机械臂,以使机械臂按照运行路径将内存装置移动至目标测试平台中。
在本公开的示例性实施例中,运行路径上包括一目标点,该目标点与目标测试平台相距预设距离。在内存装置移动至目标点时,通过高度传感器检测机械臂与目标测试平台之间的目标距离。
其中,该目标点可以设置在目标测试平台上方的任一点处,比如,将目标点设置在目标测试平台的正上方。另外,目标点与目标测试平台相距预设距离,预设距离可以根据实际情况进行设定,本公开对目标点的位置不作具体限定。
进一步地,若目标距离小于预设距离,则表明在目标测试平台上存在正在测试的内存装置。因此,在目标距离小于预设距离时,配置新的目标测试平台;根据新的目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定新的运行路径。其中,可以将其它测试平台与内存装置的类型相匹配,并将与内存装置的类型相匹配的测试平台配置为新的目标测试平台。
具体地,若目标距离小于预设距离,内存装置的测试方法流程如下:
首先,若目标距离小于预设距离,配置新的目标测试平台;
接着,内存装置的当前位置坐标为目标点所在的位置坐标,根据目标点的位置坐标和新的目标测试平台的位置坐标确定新的运行路径,将新的运行路径发送至移动装置,以使移动装置根据新的运行路径移动至新的目标测试平台中;
然后,在移动装置移动至内存装置的过程中,新的运行路径中包括一目标点,在内存装置移动至目标点时,通过高度传感器检测机械臂与目标测试平台之间的目标距离;
重复上述步骤,直至目标距离等于预设距离,通过移动装置将内存装置放置在新的目标测试平台上,并控制新的目标测试平台根据目标测试程序对内存装置进行测试。
在本公开的示例性实施例中,根据内存装置的类型在多个夹爪机构中确定目标夹爪机构;通过控制端控制目标夹爪机构抓取内存装置,并控制机械臂根据运行路径将内存装置移动至目标测试平台中。
其中,机械臂包括多个夹爪机构,夹爪机构可以抓取内存装置,夹爪机构可以根据内存装置的类型设置为多个类型的夹爪机构。比如,夹爪机构可以包括内存条夹爪机构、内存条颗粒夹爪机构、内存条基板夹爪机构,内存条夹爪机构、内存条颗粒夹爪机构、内存条基板夹爪机构的结构不同。
具体地,根据内存装置的类型在多个夹爪机构中确定目标夹爪机构,将内存装置的类型与多个夹爪机构相匹配,在夹爪机构与内存装置的类型相匹配时,将该夹爪机构作为该内存装置的目标夹爪机构。
比如,目标夹爪机构与内存装置的类型相关联。若内存装置的类型为内存条,则目标夹爪机构为内存条夹爪机构。通过控制端控制内存条夹爪机构抓取内存条,并控制机械臂根据运行路径将内存条移动至目标测试平台中。若内存装置的类型为内存条颗粒,则目标夹爪机构为内存条颗粒夹爪机构。通过控制端控制内存条颗粒夹爪机构抓取内存条颗粒,并控制机械臂根据运行路径将内存条颗粒移动至目标测试平台中。若内存装置的类型为内存条基板,则目标夹爪机构为内存条基板夹爪机构。通过控制端控制内存条基板夹爪机构抓取内存条基板,并控制机械臂根据运行路径将内存条基板移动至目标测试平台中。
在本公开的示例性实施例中,通过扫描设备扫描内存装置和目标测试平台的识别码,以获得内存装置的标识信息、内存装置的类型,以及目标测试平台的标识信息。
其中,内存装置的标识信息包括内存装置的唯一标识、内存装置编号等,目标测试平台的标识信息可以是目标测试平台的唯一标识、测试平台编号等。
另外,可以通过扫描设备扫描内存装置和测试平台上的识别码,确定内存装置的标识信息,根据内存装置的标识信息在数据库中确定该内存装置的类型。
在本公开的示例性实施例中,根据内存装置的标识信息和目标测试平台的标识信息形成映射关系,并将该内存装置与目标测试平台的映射关系存储在数据库中。
在步骤S430中,控制目标测试平台根据目标测试程序对内存装置进行测试。
在本公开的示例性实施例中,根据内存装置的类型在多个测试程序中确定目标测试程序;将目标测试程序添加至目标测试平台中,以使目标测试平台运行目标测试程序。
具体地,将内存装置的类型与多个测试程序进行匹配,若测试程序与内存装置的类型相匹配,则将该测试程序配置为目标测试程序。
其中,内存装置的类型与目标测试程序相关联,目标测试程序可以对内存装置进行测试,由于内存装置包括内存条、内存条颗粒、内存条基板,对内存装置进行测试的测试程序也包括内存条测试程序、内存条颗粒测试程序、内存条基板测试程序,不同的测试程序对不同类型的内存装置进行测试。
在步骤S440中,实时监测内存装置的测试结果,并将内存装置的测试结果存储至数据库中。
在本公开的示例性实施例中,将实时监测到的目标测试平台上的内存装置的测试结果显示在显示界面中,以使操作员工可以实时获取到所有目标测试平台上的内存装置的测试结果。其中,内存装置的测试结果包括测试通过、测试不通过。
具体地,可以根据内存装置的标识信息在数据库中获取内存装置的测试结果,并将测试结果显示在显示界面中。也就是说,操作员工可以在显示界面通过触发查询按钮形成查询请求,该查询请求可以包括一个或多个内存装置的标识信息,测试服务器接收到该查询请求之后,根据一个或多个内存装置的标识信息在数据库中查询一个或多个内存装置的测试结果,并将一个或多个内存装置的测试结果发送至终端,以使终端在显示界面上显示内存装置的测试结果。
另外,该显示界面还可以实时显示所有测试平台上的测试状态以及内存装置的当次测试结果,并会随着测试平台的测试状态和内存装置的当次测试结果的变化而变化。
在本公开的示例性实施例中,可以通过目标测试平台上的颜色传感器表征在该目标测试平台上进行测试的内存装置的当次测试结果。具体地,设置颜色传感器上的颜色信息与内存装置的当次测试结果之间的映射关系。比如,若内存装置的当次测试结果为测试通过,则目标测试平台上的颜色传感器显示第四颜色;若内存装置的当次测试结果为测试不通过,则目标测试平台上的颜色传感器显示第五颜色。其中,第四颜色和第五颜色属于任意不同的颜色,第四颜色和第五颜色分别与上述实施例中的第一颜色、第二颜色和第三颜色也属于任意不同的颜色。
在本公开的示例性实施例,图5示出了确定内存装置的测试结果的方法流程示意图,如图5所示,该流程至少包括步骤S510至步骤S530,详细介绍如下:
在步骤S510中,获取内存装置的测试次数,判断内存装置的测试次数是否大于或等于预设测试次数。
在本公开的示例性实施例中,预设测试次数可以根据实际情况进行设定,可以设置为3次,也可以设置为5次等,本公开对此不作具体限定。比如,可以通过目标测试程序的准确率调整预设测试次数,若目标测试程序的测试准确率较低,则设置较大的预设测试次数,以确保提高测试结果的准确率;若目标测试程序的测试准确率较高,则设置较小的预设测试次数,以提高内存装置的测试效率,较小系统消耗。
另外,还可以根据目标测试程序的上线时间调整预设测试次数,比如,在目标测试程序刚上线时,设置较大的预设测试次数,随着目标测试程序上线时间加长,再加上对目标测试程序的更新,可以设置较小的预设测试次数。
在本公开的示例性实施例中,可以通过同一目标测试平台对内存装置进行多次测试,也可以利用多个目标测试平台分别对内存装置进行测试。记录目标测试平台对内存装置的测试信息,该测试信息包括开始测试时间、结束测试时间,目标测试平台的标识信息、内存装置的标识信息、内存装置的当次测试结果、目标测试程序的标识信息、内存装置的测试次数等。若使用多个目标测试平台对内存装置进行测试,则测试信息中包括多个目标测试平台的标识信息、一个或多个目标测试程序的标识信息、多个内存装置的当次测试结果,还包括多对开始测试时间和结束测试时间。
在本公开的示例性实施例中,根据内存装置的标识信息获取内存装置的测试次数,并获取预设测试次数,判断该内存装置的测试次数是否大于或等于预设测试次数。
在步骤S520中,若内存装置的测试次数大于或等于预设测试次数,则确定内存装置的测试结果。
在本公开的示例性实施例中,若预设测试次数为一次,则将内存装置的当次测试结果配置为该目标测试平台上的内存装置的测试结果。
具体地,可以从测试信息中直接获取内存装置的当次测试结果,内存装置的当次测试结果的确定方法如下:首先,实时监测目标测试平台上的颜色传感器的颜色信息;然后,根据颜色传感器的颜色信息与内存装置的当次测试结果之间的映射关系,对颜色传感器的颜色信息进行解析;最后,根据解析结果获取该目标测试平台上内存装置的当次测试结果。其中,对颜色传感器的颜色信息进行解析包括:将颜色传感器的颜色信息与颜色信息与当次测试结果之间的映射关系进行匹配,获取该颜色传感器的颜色信息对应的当次测试结果。
在本公开的示例性实施例中,若预设测试次数为多次,则根据内存装置的标识信息获取内存装置对应的多个当次测试结果和内存装置的测试次数,根据内存装置的多个当次测试结果和测试次数按照预设规则确定该内存装置的测试结果。
具体地,预设规则可以是:若多个当次测试结果中测试通过的次数大于测试次数的一半,则该内存装置的测试结果为测试通过。预设规则也可以是:若多个当次测试结果中测试通过的次数大于测试次数的三分之二,则该内存装置的测试结果为测试通过。该预设规则还可以是:若多个当次测试结果中只包含一次测试不通过,其它的当次测试结果均为测试通过,则该内存装置的测试结果为测试通过。当然,预设规则可以根据实际情况进行设定,本公开对此不作具体限定。
在步骤S530中,若内存装置的测试次数小于预设测试次数,配置新的目标测试平台,并根据新的目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定新的运行路径。
在本公开的示例性实施例中,若内存装置的测试次数小于预设测试次数,则根据内存装置的类型在测试状态为空闲状态的测试平台中确定新的目标测试平台。其中,新的目标测试平台与内存装置的类型相关联。
在本公开的示例性实施例中,图6示出了确定内存装置的测试结果的方法流程示意图,如图6所示,该流程至少包括步骤S610至步骤S650,详细介绍如下:
在步骤S610中,根据新的目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定新的运行路径。
其中,内存装置的当前位置坐标即为当前目标测试平台的位置坐标。
在步骤S620中,根据新的运行路径设置移动装置,以使移动装置根据新的运行路径将内存装置移动至新的目标测试平台中。
在步骤S630中,控制新的目标测试平台根据目标测试程序对内存装置进行测试,以获得内存装置的当次测试结果,并对内存装置的测试信息进行更新。
其中,对内存装置的测试信息进行更新,包括:将新的目标测试平台的标识信息、内存装置的当次测试结果添加至测试信息中,并对测试次数加一,以获得当前测试次数。
在步骤S640中,判断内存装置的当前测试次数是否大于或等于预设测试次数。
在步骤S650中,若内存装置的当前测试次数大于或等于预设测试次数,则根据测试信息中的多个当次测试结果确定内存装置的测试结果。
其中,若内存装置的当前测试次数小于预设测试次数,则重复上述步骤S610至步骤S640,直至得到内存装置的测试结果。
本领域技术人员可以理解实现上述实施方式的全部或部分步骤被实现为由CPU执行的计算机程序。在该计算机程序被CPU执行时,执行本发明提供的上述方法所限定的上述功能。所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,该存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
此外,需要注意的是,上述附图仅是根据本发明示例性实施方式的方法所包括的处理的示意性说明,而不是限制目的。易于理解,上述附图所示的处理并不表明或限制这些处理的时间顺序。另外,也易于理解,这些处理可以是例如在多个模块中同步或异步执行的。
以下介绍本公开的装置实施例,可以用于执行本公开上述的内存条测试方法。对于本公开装置实施例中未披露的细节,请参照本公开上述的内存装置测试方法的实施例。
图7示意性示出了根据本公开的一个实施例的内存装置测试装置的框图。
参照图7所示,根据本公开的一个实施例的内存装置测试装置700,内存装置测试装置700包括:路径确定模块701、内存移动模块702、测试控制模块703和结果监测模块704。具体地:
路径确定模块701,用于根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定运行路径;
内存移动模块702,用于根据运行路径设置移动装置,以使移动装置根据运行路径将内存装置移动至目标测试平台中;
测试控制模块703,用于控制目标测试平台根据目标测试程序对内存装置进行测试;
结果监测模块704,用于实时监测内存装置的测试结果,并将内存装置的测试结果存储至数据库中。
在本公开的示例性实施例中,移动装置包括机械臂和控制端,内存移动模块702还可以用于将运行路径发送至控制端,通过控制端控制机械臂,以使机械臂根据运行路径将内存装置移动至目标测试平台。
在本公开的示例性实施例中,机械臂包括多个夹爪机构,内存移动模块702还可以用于根据内存装置的类型在多个夹爪机构中确定目标夹爪机构;通过控制端控制目标夹爪机构抓取内存装置,并控制机械臂根据运行路径将内存装置移动至目标测试平台中。
在本公开的示例性实施例中,内存装置测试装置700还包括扫描模块(图中未示出),该扫描模块用于通过扫描设备扫描内存装置和目标测试平台的识别码,以获得内存装置的标识信息、内存装置的类型、以及目标测试平台的标识信息。
在本公开的示例性实施例中,内存装置测试装置700还包括目标程序确定模块(图中未示出),该目标程序确定模块用于根据内存装置的类型将目标测试程序添加至目标测试平台中,以使目标测试平台运行目标测试程序。
在本公开的示例性实施例中,内存装置测试装置700还包括第一目标平台确定模块(图中未示出),该第一目标平台确定模块用于通过颜色传感器获取测试平台的测试状态;在测试平台处于空闲状态时,将测试平台配置为目标测试平台。
在本公开的示例性实施例中,内存装置测试装置700还包括第二目标平台确定模块(图中未示出),该第二目标平台确定模块用于将内存装置的类型与多个测试平台相匹配;在内存装置的类型与测试平台相匹配时,将测试平台配置为目标测试平台。
在本公开的示例性实施例中,内存装置测试装置700还包括第三目标平台确定模块(图中未示出),该第三目标平台确定模块用于在内存装置移动至目标点时,通过高度传感器检测机械臂与目标测试平台之间的目标距离,其中,运行路径包括一目标点,目标点与目标测试平台相距预设距离。
在本公开的示例性实施例中,第三目标平台确定模块还可以用于在目标距离小于预设距离时,配置新的目标测试平台;根据新的目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定新的运行路径。
在本公开的示例性实施例中,内存装置测试装置700还包括结果确定模块(图中未示出),该结果确定模块用于获取内存装置的测试次数,判断内存装置的测试次数是否大于或等于预设测试次数;若是,确定内存装置的测试结果;若否,配置新的目标测试平台,并根据新的目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定新的运行路径。
在本公开的示例性实施例中,内存装置测试装置700还包括结果显示模块(图中未示出),该结果显示模块用于根据内存装置的标识信息在数据库中获取内存装置的测试结果,并将测试结果显示在显示界面。
上述各内存装置测试装置的具体细节已经在对应的内存装置测试方法中进行了详细的描述,因此此处不再赘述。
应当注意,尽管在上文详细描述中提及了用于执行的设备的若干模块或者单元,但是这种划分并非强制性的。实际上,根据本公开的实施方式,上文描述的两个或更多模块或者单元的特征和功能可以在一个模块或者单元中具体化。反之,上文描述的一个模块或者单元的特征和功能可以进一步划分为由多个模块或者单元来具体化。
在本公开的示例性实施例中,还提供了一种能够实现上述方法的电子设备。
所属技术领域的技术人员能够理解,本发明的各个方面可以实现为系统、方法或程序产品。因此,本发明的各个方面可以具体实现为以下形式,即:完全的硬件实施方式、完全的软件实施方式(包括固件、微代码等),或硬件和软件方面结合的实施方式,这里可以统称为“电路”、“模块”或“系统”。
下面参照图8来描述根据本发明的这种实施方式的电子设备800。图8显示的电子设备800仅仅是一个示例,不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图8所示,电子设备800以通用计算设备的形式表现。电子设备800的组件可以包括但不限于:上述至少一个处理单元810、上述至少一个存储单元820、连接不同系统组件(包括存储单元820和处理单元810)的总线830、显示单元840。
其中,所述存储单元存储有程序代码,所述程序代码可以被所述处理单元810执行,使得所述处理单元810执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种示例性实施方式的步骤。例如,所述处理单元810可以执行如图4中所示的步骤S410,根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定运行路径;步骤S420,根据运行路径设置移动装置,以使移动装置根据运行路径将内存装置移动至目标测试平台中;步骤S430,控制目标测试平台根据目标测试程序对内存装置进行测试;步骤S440,实时监测内存装置的测试结果,并将内存装置的测试结果存储至数据库中。
存储单元820可以包括易失性存储单元形式的可读介质,例如随机存取存储单元(RAM)8201和/或高速缓存存储单元8202,还可以进一步包括只读存储单元(ROM)8203。
存储单元820还可以包括具有一组(至少一个)程序模块8205的程序/实用工具8204,这样的程序模块8205包括但不限于:操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据,这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。
总线830可以为表示几类总线结构中的一种或多种,包括存储单元总线或者存储单元控制器、外围总线、图形加速端口、处理单元或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。
电子设备800也可以与一个或多个外部设备1000(例如键盘、指向设备、蓝牙设备等)通信,还可与一个或者多个使得观众能与该电子设备800交互的设备通信,和/或与使得该电子设备800能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口850进行。并且,电子设备800还可以通过网络适配器860与一个或者多个网络(例如局域网(LAN),广域网(WAN)和/或公共网络,例如因特网)通信。如图所示,网络适配器1060通过总线830与电子设备800的其它模块通信。应当明白,尽管图中未示出,可以结合电子设备800使用其它硬件和/或软件模块,包括但不限于:微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员易于理解,这里描述的示例实施方式可以通过软件实现,也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此,根据本公开实施方式的技术方案可以以软件产品的形式体现出来,该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM,U盘,移动硬盘等)中或网络上,包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、终端装置、或者网络设备等)执行根据本公开实施方式的方法。
在本公开的示例性实施例中,还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有能够实现本说明书上述方法的程序产品。在一些可能的实施方式中,本发明的各个方面还可以实现为一种程序产品的形式,其包括程序代码,当所述程序产品在终端设备上运行时,所述程序代码用于使所述终端设备执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种示例性实施方式的步骤。
参考图9所示,描述了根据本发明的实施方式的用于实现上述方法的程序产品900,其可以采用便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)并包括程序代码,并可以在终端设备,例如个人电脑上运行。然而,本发明的程序产品不限于此,在本文件中,可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。
所述程序产品可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。
计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读信号介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质,该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。
可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于无线、有线、光缆、RF等等,或者上述的任意合适的组合。
可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明操作的程序代码,所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、C++等,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中,远程计算设备可以通过任意种类的网络,包括局域网(LAN)或广域网(WAN),连接到用户计算设备,或者,可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
此外,上述附图仅是根据本发明示例性实施例的方法所包括的处理的示意性说明,而不是限制目的。易于理解,上述附图所示的处理并不表明或限制这些处理的时间顺序。另外,也易于理解,这些处理可以是例如在多个模块中同步或异步执行的。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后,将容易想到本公开的其他实施例。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的真正范围和精神由权利要求指出。
应当理解的是,本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构,并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限。

Claims (15)

1.一种内存装置测试方法,其特征在于,包括:
根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定运行路径;
根据所述运行路径设置移动装置,以使所述移动装置根据所述运行路径将所述内存装置移动至所述目标测试平台中;
控制所述目标测试平台根据目标测试程序对所述内存装置进行测试;
实时监测所述内存装置的测试结果,并将所述内存装置的测试结果存储至数据库中。
2.根据权利要求1所述的内存装置测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
通过扫描设备扫描所述内存装置和所述目标测试平台的识别码,以获得所述内存装置的标识信息、所述内存装置的类型、以及所述目标测试平台的标识信息。
3.根据权利要求2所述的内存装置测试方法,其特征在于,在对所述内存装置进行测试之前,所述方法还包括:
根据所述内存装置的类型将所述目标测试程序添加至所述目标测试平台,以使所述目标测试平台运行所述目标测试程序。
4.根据权利要求1所述的内存装置测试方法,其特征在于,在确定运行路径之前,所述方法还包括:
通过颜色传感器获取测试平台的测试状态;
在所述测试平台处于空闲状态时,将所述测试平台配置为所述目标测试平台。
5.根据权利要求1所述的内存装置测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
将所述内存装置的类型与多个测试平台相匹配;
在所述内存装置的类型与所述测试平台相匹配时,将所述测试平台配置为目标测试平台。
6.根据权利要求1所述的内存装置测试方法,其特征在于,所述移动装置包括机械臂和控制端;
将所述运行路径发送至所述控制端,通过所述控制端控制所述机械臂,以使所述机械臂根据所述运行路径将所述内存装置移动至所述目标测试平台中。
7.根据权利要求6所述的内存装置测试方法,其特征在于,所述运行路径包括一目标点,所述目标点与所述目标测试平台相距预设距离;所述方法还包括:
在所述内存装置移动至所述目标点时,通过高度传感器检测所述机械臂与所述目标测试平台之间的目标距离。
8.根据权利要求7所述的内存装置测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
在所述目标距离小于所述预设距离时,配置新的目标测试平台;
根据所述新的目标测试平台的位置坐标和所述内存装置的当前位置坐标确定新的运行路径。
9.根据权利要求6所述的内存装置测试方法,其特征在于,所述机械臂包括多个夹爪机构;
根据所述内存装置的类型在所述多个夹爪机构中确定目标夹爪机构;
通过所述控制端控制所述目标夹爪机构抓取所述内存装置,并控制所述机械臂根据所述运行路径将所述内存装置移动至所述目标测试平台中。
10.根据权利要求1所述的内存装置测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取所述内存装置的测试次数,判断所述内存装置的测试次数是否大于或等于预设测试次数;
若是,确定内存装置的测试结果;
若否,配置新的目标测试平台,并根据所述新的目标测试平台的位置坐标和所述内存装置的当前位置坐标确定新的运行路径。
11.根据权利要求1所述的内存装置测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述内存装置的标识信息在所述数据库中获取所述内存装置的测试结果,并将所述测试结果显示在显示界面。
12.一种内存装置测试装置,其特征在于,包括:
路径确定模块,用于根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定运行路径;
内存移动模块,用于根据所述运行路径设置移动装置,以使所述移动装置根据所述运行路径将所述内存装置移动至所述目标测试平台中;
测试控制模块,用于控制所述目标测试平台根据目标测试程序对所述内存装置进行测试;
结果监测模块,用于实时监测所述内存装置的测试结果,并将所述内存装置的测试结果存储至数据库中。
13.一种内存装置测试系统,其特征在于,所述内存装置测试系统包括移动装置、目标测试平台和测试服务器,其中:
所述移动装置,用于接收运行路径,根据所述运行路径将所述内存装置移动至所述目标测试平台中;
所述目标测试平台,用于响应测试指令,根据目标测试程序对所述内存装置进行测试;
所述测试服务器,用于向目标测试平台发送测试指令,并实时监测所述内存装置的测试结果,并将所述内存装置的测试结果存储至数据库中;
其中,所述运行路径为所述测试服务器根据所述目标测试平台的位置坐标和所述内存装置的当前位置坐标计算所得到。
14.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述程序被处理器执行时实现如权利要求1至12中任一项所述的内存条测试方法。
15.一种电子设备,其特征在于,包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序,当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1至12中任一项所述的内存条测试方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113721961A (zh) * 2021-09-06 2021-11-30 Oppo广东移动通信有限公司 设备升级方法及装置、存储介质和电子设备
CN114227187A (zh) * 2021-11-30 2022-03-25 浪潮(山东)计算机科技有限公司 一种插接部件安装方法、系统及相关组件
CN114425787A (zh) * 2021-12-21 2022-05-03 深圳优地科技有限公司 机器人自动测试的控制方法、装置、服务器及存储介质
WO2022188393A1 (zh) * 2021-03-10 2022-09-15 长鑫存储技术有限公司 内存装置测试方法、装置、系统、介质及电子设备
US11867755B2 (en) 2021-03-10 2024-01-09 Changxin Memory Technologies, Inc. Memory device test method, apparatus, and system, medium, and electronic device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200823470A (en) * 2006-11-30 2008-06-01 Chroma Ate Inc Automatic setting method of multi-port semiconductor test machine
CN109839557A (zh) * 2019-01-14 2019-06-04 普联技术有限公司 自动化测试系统、方法及测试平台
CN110665832A (zh) * 2019-11-18 2020-01-10 珠海景旺柔性电路有限公司 Fpc功能测试与规范放取一体化的操作方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102338624B (zh) * 2010-07-19 2014-07-09 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 应用机械手臂测试物体的系统及方法
US9817062B2 (en) * 2011-05-19 2017-11-14 Celerint, Llc. Parallel concurrent test system and method
CN103971753A (zh) * 2014-05-27 2014-08-06 成都市中州半导体科技有限公司 一种自动测试闪存的系统及方法
CN105334447A (zh) * 2015-09-24 2016-02-17 深圳市芯海科技有限公司 一种转盘自动化测试装置和方法
WO2018154586A1 (en) * 2017-02-27 2018-08-30 Posit Systems Ltd Robot-assisted hardware testing
CN112988484A (zh) * 2021-03-10 2021-06-18 长鑫存储技术有限公司 内存装置测试方法及装置、可读存储介质、电子设备

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200823470A (en) * 2006-11-30 2008-06-01 Chroma Ate Inc Automatic setting method of multi-port semiconductor test machine
CN109839557A (zh) * 2019-01-14 2019-06-04 普联技术有限公司 自动化测试系统、方法及测试平台
CN110665832A (zh) * 2019-11-18 2020-01-10 珠海景旺柔性电路有限公司 Fpc功能测试与规范放取一体化的操作方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022188393A1 (zh) * 2021-03-10 2022-09-15 长鑫存储技术有限公司 内存装置测试方法、装置、系统、介质及电子设备
US11867755B2 (en) 2021-03-10 2024-01-09 Changxin Memory Technologies, Inc. Memory device test method, apparatus, and system, medium, and electronic device
CN113721961A (zh) * 2021-09-06 2021-11-30 Oppo广东移动通信有限公司 设备升级方法及装置、存储介质和电子设备
CN114227187A (zh) * 2021-11-30 2022-03-25 浪潮(山东)计算机科技有限公司 一种插接部件安装方法、系统及相关组件
CN114425787A (zh) * 2021-12-21 2022-05-03 深圳优地科技有限公司 机器人自动测试的控制方法、装置、服务器及存储介质

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