CN112598645A - 轮廓检测方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

轮廓检测方法、装置、设备及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN112598645A
CN112598645A CN202011536729.2A CN202011536729A CN112598645A CN 112598645 A CN112598645 A CN 112598645A CN 202011536729 A CN202011536729 A CN 202011536729A CN 112598645 A CN112598645 A CN 112598645A
Authority
CN
China
Prior art keywords
product
contour
detected
contour line
kth
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202011536729.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112598645B (zh
Inventor
陈海波
李宗剑
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenlan Intelligent Technology Shanghai Co ltd
Original Assignee
DeepBlue AI Chips Research Institute Jiangsu Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by DeepBlue AI Chips Research Institute Jiangsu Co Ltd filed Critical DeepBlue AI Chips Research Institute Jiangsu Co Ltd
Priority to CN202011536729.2A priority Critical patent/CN112598645B/zh
Publication of CN112598645A publication Critical patent/CN112598645A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112598645B publication Critical patent/CN112598645B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/20Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring contours or curvatures, e.g. determining profile
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/70Determining position or orientation of objects or cameras

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本申请的目的在于提供轮廓检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质,所述方法包括:获取参考产品的轮廓扫描数据,所述轮廓扫描数据包括第一轮廓线至第N轮廓线的扫描数据,N是正整数;获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,k是不大于N的正整数;根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线是否满足第一预定条件;若不满足所述第一预定条件,则生成第一控制指令并发送至轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第一控制指令停止检测。通过上述方法,可以节约检测时间,提高检测效率,并且原理简单,易于操作。

Description

轮廓检测方法、装置、设备及存储介质
技术领域
本申请涉及计算机视觉技术和工业检测技术领域,尤其涉及轮廓检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质。
背景技术
计算机视觉技术作为一门综合性的学科,目前在军事,工业,农业,生活等各个领域有广泛的应用,所及之处无不给人们的工作和生活带来便利,因此越来越被重视,相关的技术也在日益改进和发展。
比如,视觉技术在工业生产过程中物品轮廓检测方面的应用越来越深入。然而,目前的现状多是采用GPS/BDS等GNSS信号接收终端测量出待求物的外形轮廓的点轨迹,或用视觉摄像头/手机摄像功能测量出轮廓形状,测量获得这些特征数据以后,把这些特征点数据通过网络或通信系统传输到计算平台,通过已建立的数学建模,进行优化运算,得到比较精确的不规则形状的面积值或复杂轮廓的体积值。这种方法计算量大,精确度不高,花费时间太长,效率不高。不能满足用户的需求。
发明内容
本申请的目的在于提供轮廓检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质,实现智能化轮廓检测,及时发现待检测产品的轮廓线不达标的问题,提高检测效率。
本申请的目的采用以下技术方案实现:
第一方面,本申请提供了一种轮廓检测方法,所述方法包括:获取参考产品的轮廓扫描数据,所述轮廓扫描数据包括第一轮廓线至第N轮廓线的扫描数据,N是正整数;获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,k是不大于N的正整数;根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线是否满足第一预定条件;若不满足所述第一预定条件,则生成第一控制指令并发送至轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第一控制指令停止检测。该技术方案的有益效果在于,通过将待检测产品的第k条轮廓线扫描数据与参考产品的与当前待检测产品的相对应轮廓线进行对比,假如不满足所述预定条件,则可立刻停止检测,即及时有效地发现问题,处理问题,没有必要等全部检测完成之后再下结论,这样大大节约了检测时间,提高了检测效率,并且原理简单,易于操作。
在一些可选的实施例中,所述获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,包括:获取所述待检测产品的轮廓扫描数据;根据所述待检测产品的轮廓扫描数据,获取所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。该技术方案的有益效果在于,可以获取待检测产品的全部轮廓线的轮廓扫描数据,从中获取第k轮廓线的扫描数据,以便与参考产品的轮廓扫描数据进行实时对比。可以使用线扫传感器,线扫传感器需要运动才能得到逐步得到完整的轮廓扫描数据,亦可以采用面阵扫描仪,触发一次即可得到待测产品完整的轮廓扫描数据,再逐步进行轮廓对比。
在一些可选的实施例中,所述目标产品是所述参考产品或者所述待检测产品;获取所述目标产品的轮廓扫描数据的方法包括:获取扫描时序信息,所述扫描时序信息包括N个时序标识以及每个所述时序标识对应的所述轮廓检测设备的位姿信息,所述N个时序标识包括第一时序标识至第N时序标识,且第i时序标识对应轮廓扫描的第i时序,所述位姿信息包括位置信息和/或姿态信息,i是不大于N的正整数;根据所述扫描时序信息,生成第二控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备在所述第i时序按照所述第i时序标识对应的位姿信息扫描所述目标产品,得到所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据;接收所述轮廓检测设备发送的所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据。该技术方案的有益效果在于,获取目标产品的N个时序标识以及每个所述时序标识对应的轮廓检测设备的位姿信息,利用所述扫描时序信息生成指令发送至所述轮廓检测设备,以使轮廓检测设备在所述第i时序按照所述第i时序标识对应的位姿信息扫描参考产品或者待检测产品,轮廓检测设备在第i时序扫描待检测产品时其位姿状态与在该时序扫描参考产品时是一致的,因此得到的所述待检测产品的第i轮廓线的扫描数据与参考产品的第i轮廓线的扫描数据不需要再进行3D配准可直接进行对比处理。
在一些可选的实施例中,所述获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,包括:根据第k时序标识对应的位姿信息,生成第三控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备按照所述第k时序标识对应的位姿信息扫描所述待检测产品,得到所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据;接收所述轮廓检测设备发送的所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。该技术方案的有益效果在于,用第k时序对应的位姿信息生成控制指令,使所述轮廓检测设备按照该时序状态对应的位姿信息扫描所述待检测产品,轮廓检测设备在第k时序扫描待检测产品时其位姿状态与在该时序扫描参考产品时是一致的,因此得到的所述待检测产品的扫描数据与参考产品的扫描数据不需要再进行3D配准可直接进行对比处理。
在一些可选的实施例中,所述第一预定条件包括以下至少一种:所述待检测产品的第k轮廓线和所述参考产品的第k轮廓线重合或者近似重合;所述待检测产品的第k轮廓线的累积残差小于预定累积残差,所述累积残差用于指示所述待检测产品的第k轮廓线与所述参考产品的第k轮廓线的偏差。该技术方案的有益效果在于,可以通过比较待检测产品与参考产品对应轮廓线的重合度判定待检测产品的缺陷程度;也可以通过比较所述待检测产品的第k轮廓线的累积残差值判定所述待检测产品与所述待检测产品的偏差程度,这样的判定方法更加简便,得到的判定结果更加精确。
在一些可选的实施例中,所述生成第一控制指令并发送至轮廓检测设备,包括:根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否满足第二预定条件;若满足所述第二预定条件,则生成所述第一控制指令并发送至所述轮廓检测设备。该技术方案的有益效果在于,检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否达到停止检测的条件,若达到则停止检测。
在一些可选的实施例中,所述检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否满足第二预定条件,包括:获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值;检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值是否处于预定取值范围;若处于所述预定取值范围,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。该技术方案的有益效果在于,对于可用数值判断的缺陷,用此方法可以精确检测到其程度是否满足所述第二预定条件。
在一些可选的实施例中,所述检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否满足第二预定条件,包括:获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型;检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型是否是预定类型;若是所述预定类型,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。该技术方案的有益效果在于,对于可用类型判断的缺陷,用此方法可以准确检测到其程度是否满足第二预定条件。
在一些可选的实施例中,所述方法还包括:若满足所述第一预定条件,则检测k是否小于N;若k小于N,则生成第四控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第四控制指令检测所述待检测产品,得到所述待检测产品的第k+1轮廓线的扫描数据。该技术方案的有益效果在于,对获得的所述待检测产品的轮廓线扫描数据及时进行判断,以控制下一程序对待检测产品进行处理,进一步实现处理过程的及时性和灵活性。
第二方面,本申请提供了一种轮廓检测装置,所述装置包括:数据获取模块,用于获取参考产品的轮廓扫描数据,所述轮廓扫描数据包括第一轮廓线至第N轮廓线的扫描数据,N是正整数;获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,k是不大于N的正整数;轮廓检测模块,用于根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线是否满足第一预定条件;停止检测模块,用于若不满足所述第一预定条件,则生成第一控制指令并发送至轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第一控制指令停止检测。
在一些可选的实施例中,所述装置还包括数据获取模块,所述数据获取模块包括:待检测数据获取子模块,用于获取所述待检测产品的轮廓扫描数据;特定数据获取子模块,用于根据所述待检测产品的轮廓扫描数据,获取所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。
在一些可选的实施例中,目标产品是所述参考产品或者所述待检测产品;所述数据获取模块包括:时序获取子模块,用于获取扫描时序信息,所述扫描时序信息包括N个时序标识以及每个所述时序标识对应的所述轮廓检测设备的位姿信息,所述N个时序标识包括第一时序标识至第N时序标识,且第i时序标识对应轮廓扫描的第i时序,所述位姿信息包括位置信息和/或姿态信息,i是不大于N的正整数;指令生成子模块,用于根据所述扫描时序信息,生成第二控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备在所述第i时序按照所述第i时序标识对应的位姿信息扫描所述目标产品,得到所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据;数据接收子模块,用于接收所述轮廓检测设备发送的所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据。
在一些可选的实施例中,所述轮廓检测装置还包括指令生成子模块,所述指令生成子模块还用于根据第k时序标识对应的位姿信息,生成第三控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备按照所述第k时序标识对应的位姿信息扫描所述待检测产品,得到所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据;所述数据接收子模块还用于接收所述轮廓检测设备发送的所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。
在一些可选的实施例中,所述第一预定条件包括以下至少一种:所述待检测产品的第k轮廓线和所述参考产品的第k轮廓线重合或者近似重合;所述待检测产品的第k轮廓线的累积残差小于预定累积残差,所述累积残差用于指示所述待检测产品的第k轮廓线与所述参考产品的第k轮廓线的偏差。
在一些可选的实施例中,所述停止检测模块包括:缺陷检测子模块,用于根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否满足第二预定条件;停止检测子模块,用于若满足所述第二预定条件,则生成所述第一控制指令并发送至所述轮廓检测设备。
在一些可选的实施例中,所述缺陷检测子模块包括:参数值获取单元,用于获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值;参数值检测单元,用于检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值是否处于预定取值范围;第一缺陷判定单元,用于若处于所述预定取值范围,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。
在一些可选的实施例中,所述缺陷检测子模块包括:类型获取单元,用于获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型;类型检测单元,用于检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型是否是预定类型;第二缺陷判定单元,用于若是所述预定类型,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。
在一些可选的实施例中,所述装置还包括继续检测模块,所述继续检测模块包括:k值检测子模块,用于若满足所述第一预定条件,则检测k是否小于N;继续检测子模块,用于若k小于N,则生成第四控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第四控制指令检测所述待检测产品,得到所述待检测产品的第k+1轮廓线的扫描数据。
第三方面,本申请提供了一种轮廓检测设备,所述轮廓检测设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项方法的步骤。
在一些可选的实施例中,所述轮廓检测设备还包括相对位置保持不变的机台和传感器;所述机台用于使所述传感器的位置和/或姿态发生变化;所述传感器用于对所述参考产品和所述待检测产品进行轮廓检测。该技术方案的有益效果在于,这一类型的轮廓检测设备,机台自身能够运动改变自身位置,此时传感器的位置随之发生变化,机台还驱动传感器的姿态发生变化,适用于只需要传感器姿态发生变化就能获取到轮廓线扫描数据的目标产品。
在一些可选的实施例中,所述轮廓检测设备还包括可发生相对运动的机台和传感器;所述机台用于使所述传感器的位置和/或姿态发生变化;所述传感器用于对所述参考产品和所述待检测产品进行轮廓检测。该技术方案的有益效果在于,这一类型的轮廓检测设备,适用于目标对象的结构比较复杂,需要使所述传感器的位置或姿态相对于机台发生相对运动才能获取到轮廓线扫描数据的目标产品,机台自身可以运动,也可以保持静止;当机台保持静止时,可以改成固定式平台,此时可以采用传感器运动的方式进行扫描处理。
在一些可选的实施例中,所述轮廓检测设备还包括编码器;所述机台用于通过所述编码器使所述传感器的位置和/或姿态发生变化。该技术方案的有益效果在于,采用编码器控制传感器位姿发生变化,编码器能保证传感器触发帧序跟机台运动的位置在空间上具有对应关系,实现传感器位置、姿态的精确控制。
第四方面,本申请提供了一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一项方法的步骤。
附图说明
下面结合附图和实施例对本申请进一步说明。
图1是本申请实施例提供的一种轮廓检测方法的流程示意图;
图2是本申请实施例提供的一种获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据的方法的流程示意图;
图3是本申请实施例提供的一种获取目标产品的第i轮廓线的扫描数据的方法的流程示意图;
图4是本申请实施例提供的一种获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据的方法的流程示意图;
图5是本申请实施例提供的一种生成第一控制指令的方法的流程示意图;
图6是本申请实施例提供的一种确定第k轮廓线的缺陷影响程度的方法的流程示意图;
图7是本申请实施例提供的一种确定第k轮廓线的缺陷影响程度的方法的流程示意图;
图8是本申请实施例提供的一种生成第四控制指令的方法的流程示意图;
图9是本申请实施例提供的一种轮廓检测方法的流程示意图;
图10是本申请实施例提供的一种轮廓检测装置的结构示意图;
图11是本申请实施例提供的一种数据获取模块的结构示意图;
图12是本申请实施例提供的一种数据获取模块的结构示意图;
图13是本申请实施例提供的一种停止检测模块的结构示意图;
图14是本申请实施例提供的一种缺陷检测子模块的结构示意图;
图15是本申请实施例提供的一种缺陷检测子模块的结构示意图;
图16是本申请实施例提供的一种继续检测模块的结构示意图;
图17是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图;
图18是本申请实施例提供的一种轮廓检测设备的结构示意图;
图19是本申请实施例提供的一种轮廓检测设备的结构示意图;
图20是本申请实施例提供的一种轮廓检测设备的结构示意图;
图21是本申请实施例提供的一种用于实现轮廓检测的控制方法的程序产品的结构示意图。
具体实施方式
下面,结合附图以及具体实施方式,对本申请做进一步描述,需要说明的是,在不相冲突的前提下,以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
参见图1,本申请实施例提供了一种轮廓检测方法,所述方法包括步骤S101~S104。
步骤S101:获取参考产品的轮廓扫描数据,所述轮廓扫描数据包括第一轮廓线至第N轮廓线的扫描数据,N是正整数。具体地,产品可以是工业生产中的所用到的元器件,或与元器件相关的其他加工件。在一具体实施方式中,产品可以是PCB板,轮廓线可以是直线,折线或曲线。当轮廓线是曲线时,可以是闭合的曲线。N例如是100,或者1000。
步骤S102:获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,k是不大于N的正整数,当N是100时,k例如是50。
在具体实施中,参见图2,所述步骤S102可以包括步骤S201~S202。
步骤S201:获取所述待检测产品的轮廓扫描数据。
步骤S202:根据所述待检测产品的轮廓扫描数据,获取所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。
本申请实施例的上述步骤,可以获取待检测产品的全部轮廓线的轮廓扫描数据,从中获取第k轮廓线的扫描数据,以便与参考产品的轮廓扫描数据进行实时对比。可以使用线扫传感器,线扫传感器需要运动才能得到逐步得到完整的轮廓扫描数据,亦可以采用面阵扫描仪,触发一次即可得到待测产品完整的轮廓扫描数据,再逐步进行轮廓对比。
步骤S103:根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线是否满足第一预定条件。
在具体实施中,所述第一预定条件可以包括以下至少一种:所述待检测产品的第k轮廓线和所述参考产品的第k轮廓线重合或者近似重合;所述待检测产品的第k轮廓线的累积残差小于预定累积残差,所述累积残差用于指示所述待检测产品的第k轮廓线与所述参考产品的第k轮廓线的偏差。一方面可以通过比较待检测产品与参考产品对应轮廓线的重合度判定待检测产品的缺陷程度;另一方面可以通过比较所述待检测产品的第k轮廓线的累积残差值判定所述待检测产品与所述待检测产品的偏差程度,这样的判定方法更加简便,得到的判定结果更加精确。
步骤S104:若不满足所述第一预定条件,则生成第一控制指令并发送至轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第一控制指令停止检测。
本申请实施例的上述步骤,通过将待检测产品的第k条轮廓线扫描数据与参考产品的与当前待检测产品的相对应轮廓线进行对比,假如不满足所述预定条件,则可立刻停止检测,即及时有效地发现问题,处理问题,没有必要等全部检测完成之后再下结论,这样大大节约了检测时间,提高了检测效率,并且原理简单,易于操作。
参见图3,本申请实施例提供了一种获取目标产品的轮廓扫描数据的方法,目标产品可以是所述参考产品或者所述待检测产品,所述方法包括步骤S301~S303。
步骤S301:获取扫描时序信息,所述扫描时序信息包括N个时序标识以及每个所述时序标识对应的所述轮廓检测设备的位姿信息,所述N个时序标识包括第一时序标识至第N时序标识,且第i时序标识对应轮廓扫描的第i时序,所述位姿信息包括位置信息和/或姿态信息,i是不大于N的正整数。
步骤S302:根据所述扫描时序信息,生成第二控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备在所述第i时序按照所述第i时序标识对应的位姿信息扫描所述目标产品,得到所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据。
步骤S303:接收所述轮廓检测设备发送的所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据。
本申请实施例的上述步骤,获取目标产品的N个时序标识以及每个所述时序标识对应的轮廓检测设备的位姿信息,利用所述扫描时序信息生成指令发送至所述轮廓检测设备,以使轮廓检测设备在所述第i时序按照所述第i时序标识对应的位姿信息扫描参考产品或者待检测产品,轮廓检测设备在第i时序扫描待检测产品时其位姿状态与在该时序扫描参考产品时是一致的,因此得到的所述待检测产品的扫描数据与参考产品的扫描数据不需要再进行3D配准可直接进行对比处理。
在具体实施中,参见图4,所述步骤S102可以包括步骤S401~S402。
步骤S401:根据第k时序标识对应的位姿信息,生成第三控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备按照所述第k时序标识对应的位姿信息扫描所述待检测产品,得到所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。
步骤S402:接收所述轮廓检测设备发送的所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。
本申请实施例的上述步骤,用第k时序对应的位姿信息生成控制指令,使所述轮廓检测设备按照该时序状态对应的位姿信息扫描所述待检测产品,轮廓检测设备在第k时序扫描待检测产品时其位姿状态与在该时序扫描参考产品时是一致的,因此得到的所述待检测产品的第i轮廓线的扫描数据与参考产品的第i轮廓线的扫描数据不需要再进行3D配准可直接进行对比处理。
参见图5,所述步骤S104中生成第一控制指令并发送至轮廓检测设备的步骤,可以包括步骤S501~S502。
步骤S501:根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否满足第二预定条件。
步骤S502:若满足所述第二预定条件,则生成所述第一控制指令并发送至所述轮廓检测设备。
本申请实例的上述步骤,在于检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否达到停止检测的条件,若达到则停止检测。
在具体实施中,参见图6,所述步骤S501可以包括步骤S601~S603。
步骤S601:获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值。缺陷影响参数值可以示例性地用分数来表示,例如是88分。
步骤S602:检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值是否处于预定取值范围。预定取值范围例如是点值或者范围值,范围值可以示例性地表示为80~100分。
步骤S603:若处于所述预定取值范围,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。
本申请实施例的上述步骤,对于可用数值判断的缺陷,用此方法可以精确检测到其程度是否满足所述第二预定条件。
在另一种具体实施中,参见图7,所述步骤S501可以包括步骤S604~S606。
步骤S604:获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型。缺陷影响类型例如可以用轻微、中等、显著来表示。
步骤S605:检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型是否是预定类型。预定类型例如是显著。
步骤S606:若是所述预定类型,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。
本申请实施例的上述步骤,对于可用类型判断的缺陷,用此方法可以准确检测到其程度是否满足第二预定条件。
在具体实施中,参见图8,本申请实施例还可包括步骤S105~S106。
步骤S105:若满足所述第一预定条件,则检测k是否小于N。
步骤S106:若k小于N,则生成第四控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第四控制指令检测所述待检测产品,得到所述待检测产品的第k+1轮廓线的扫描数据。
本申请实施例的上述步骤,对获得的所述待检测产品的轮廓线扫描数据及时进行判断,以控制下一程序对待检测产品进行处理,进一步实现处理过程的及时性和灵活性。
参见图9,本申请还提供了一种轮廓检测方法,包括步骤S701~S711。
步骤S701:采用工装夹具将golden品,也就是无缺陷问题的标准件作为参考产品,固定在机台上。
步骤S702:机台进行运动。
步骤S703:运动的机台触发线扫描传感器扫描golden品。
步骤S704:通过编码器保证线扫描传感器触发帧序跟机台运动位置在空间上的对应关系。根据扫描得到的golden品轮廓数据,将机台运动整个时序上对应的线扫数据存储在服务器(或者线扫描传感器本地)。
步骤S705:采用工装夹具将待检测产品固定在机台上,使待检测产品的位置与golden品的位置一致。
步骤S706:机台运动,运动的机台触发线扫传感器工作。
步骤S707:判断线扫描传感器实时扫描是否完成;若完成则执行步骤S705;若未完成则执行步骤S708。
步骤S708:比对当前轮廓线的扫描数据和参考产品的对应轮廓线的扫描数据,判断当前轮廓线是否满足预定条件;如果是,则执行步骤S706;否则执行步骤S709。
步骤S709:软件系统分析缺陷轮廓线影响程度。
步骤S710:判断缺陷轮廓线的影响程度是否较大;若是,则执行步骤S711;若否,则执行步骤S706。
步骤S711:及时报告给运动机台停止后续的扫描工作。
参见图10,本申请实例还提供了一种轮廓检测装置,其具体实现方式与上述方法的实施例中记载的实施方式、所达到的技术效果一致,部分内容不再赘述。
所述装置包括:数据获取模块101,用于获取参考产品的轮廓扫描数据,所述轮廓扫描数据包括第一轮廓线至第N轮廓线的扫描数据,N是正整数;获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,k是不大于N的正整数;轮廓检测模块102,用于根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线是否满足第一预定条件;停止检测模块103,用于若不满足所述第一预定条件,则生成第一控制指令并发送至轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第一控制指令停止检测。
参见图11,在具体实施中,所述数据获取模块101可以包括:待检测数据获取子模块1011,用于获取所述待检测产品的轮廓扫描数据;特定数据获取子模块1012,用于根据所述待检测产品的轮廓扫描数据,获取所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。
参见图12,在具体实施中,目标产品可以是所述参考产品或者所述待检测产品;所述数据获取模块101可以包括:时序获取子模块1013,用于获取扫描时序信息,所述扫描时序信息包括N个时序标识以及每个所述时序标识对应的所述轮廓检测设备的位姿信息,所述N个时序标识包括第一时序标识至第N时序标识,且第i时序标识对应轮廓扫描的第i时序,所述位姿信息包括位置信息和/或姿态信息,i是不大于N的正整数;指令生成子模块1014,用于根据所述扫描时序信息,生成第二控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备在所述第i时序按照所述第i时序标识对应的位姿信息扫描所述目标产品,得到所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据;数据接收子模块1015,用于接收所述轮廓检测设备发送的所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据。
在一些可选的实施例中,所述指令生成子模块1014还用于根据第k时序标识对应的位姿信息,生成第三控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备按照所述第k时序标识对应的位姿信息扫描所述待检测产品,得到所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据;所述数据接收子模块1015还用于接收所述轮廓检测设备发送的所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。
在具体实施中,所述第一预定条件可以包括以下至少一种:所述待检测产品的第k轮廓线和所述参考产品的第k轮廓线重合或者近似重合;所述待检测产品的第k轮廓线的累积残差小于预定累积残差,所述累积残差用于指示所述待检测产品的第k轮廓线与所述参考产品的第k轮廓线的偏差。
参见图13,在具体实施中,所述停止检测模块103可以包括:缺陷检测子模块1031,用于根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否满足第二预定条件;停止检测子模块1032,用于若满足所述第二预定条件,则生成所述第一控制指令并发送至所述轮廓检测设备。
参见图14,在具体实施中,所述缺陷检测子模块1031可以包括:参数值获取单元1031a,用于获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值;参数值检测单元1031b,用于检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值是否处于预定取值范围;第一缺陷判定单元1031c,用于若处于所述预定取值范围,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。
参见图15,在具体实施中,所述缺陷检测子模块1031可以包括:类型获取单元1031d,用于获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型;类型检测单元1031e,用于检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型是否是预定类型;第二缺陷判定单元1031f,用于若是所述预定类型,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。
参见图16,在具体实施中,所述装置还可以包括继续检测模块104,所述继续检测模块104包括:k值检测子模块1041,用于若满足所述第一预定条件,则检测k是否小于N;继续检测子模块1042,用于若k小于N,则生成第四控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第四控制指令检测所述待检测产品,得到所述待检测产品的第k+1轮廓线的扫描数据。
参见图17,本申请实施例还提供了一种轮廓检测设备200,轮廓检测设备200包括至少一个存储器210、至少一个处理器220以及连接不同平台系统的总线230。在一具体实施方式中,所述存储器210可以存储计算机程序,所述处理器220可以在执行所述计算机程序时实现本申请实施例中轮廓检测方法的步骤,其具体实现方式与上述方法的实施例中记载的实施方式、所达到的技术效果一致,部分内容不再赘述。
存储器210可以包括易失性存储器形式的可读介质,例如随机存取存储器(RAM)211和/或高速缓存存储器212,还可以进一步包括只读存储器(ROM)213。
其中,存储器210还存储有计算机程序,计算机程序可以被处理器220执行,使得处理器220执行本申请实施例中轮廓检测方法的步骤,其具体实现方式与上述方法的实施例中记载的实施方式、所达到的技术效果一致,部分内容不再赘述。存储器210还可以包括具有一组(至少一个)程序模块215的程序/实用工具214,这样的程序模块包括但不限于:操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据,这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。
相应的,处理器220可以执行上述计算机程序,以及可以执行程序/实用工具214。
总线230可以为表示几类总线结构中的一种或多种,包括存储器总线或者存储器控制器、外围总线、图形加速端口、处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。
轮廓检测设备200也可以与一个或多个外部设备240例如键盘、指向设备、蓝牙设备等通信,还可与一个或者多个能够与该轮廓检测设备200交互的设备通信,和/或与使得该轮廓检测设备200能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口250进行。并且,轮廓检测设备200还可以通过网络适配器260与一个或者多个网络(例如局域网(LAN),广域网(WAN)和/或公共网络,例如因特网)通信。网络适配器260可以通过总线230与轮廓检测设备200的其它模块通信。应当明白,尽管图中未示出,可以结合轮廓检测设备200使用其它硬件和/或软件模块,包括但不限于:微代码、设备驱动器、冗余处理器、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储平台等。
参见图18,在具体实施中,所述轮廓检测设备200还可以包括相对位置保持不变的机台271和传感器272;所述机台271用于使所述传感器272的位置和/或姿态发生变化;所述传感器272用于对所述参考产品和所述待检测产品进行轮廓检测。机台自身能够运动改变自身位置,此时传感器的位置随之发生变化,机台还驱动传感器的姿态发生变化,适用于只需要传感器姿态发生变化就能获取到轮廓线扫描数据的目标产品。
参见图19,在另一种具体实施中,所述轮廓检测设备200还包括可发生相对运动的机台281和传感器282;所述机台281用于使所述传感器282的位置和/或姿态发生变化;所述传感器282用于对所述参考产品和所述待检测产品进行轮廓检测。适用于目标对象的结构比较复杂,需要使所述传感器的位置和姿态相对于机台发生相对运动才能获取到轮廓线扫描数据的目标产品,机台自身可以运动,也可以保持静止;当机台保持静止时,可以改成固定式平台,此时可以采用传感器运动的方式进行扫描处理。。
参见图20,在一个实际应用中,所述轮廓检测设备200还可以包括编码器290;所述机台281用于通过所述编码器290使所述传感器282的位置和/或姿态发生变化。采用编码器控制传感器位姿发生变化,编码器能保证传感器触发帧序跟机台运动的位置在空间上具有对应关系,实现传感器位置、姿态的精确控制。
本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质用于存储计算机程序,所述计算机程序被执行时实现本申请实施例中轮廓检测方法的步骤,其具体实现方式与上述方法的实施例中记载的实施方式、所达到的技术效果一致,部分内容不再赘述。图21示出了本实施例提供的用于实现上述方法的程序产品300,其可以采用便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)并包括程序代码,并可以在终端设备,例如个人电脑上运行。然而,本发明的程序产品300不限于此,在本文件中,可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。程序产品300可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。
计算机可读存储介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读存储介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质,该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。可读存储介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于无线、有线、光缆、RF等等,或者上述的任意合适的组合。可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明操作的程序代码,程序设计语言包括面向对象的程序设计语言诸如Java、C++等,还包括常规的过程式程序设计语言诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中,远程计算设备可以通过任意种类的网络,包括局域网(LAN)或广域网(WAN),连接到用户计算设备,或者,可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
本申请从使用目的上,效能上,进步及新颖性等观点进行阐述,其设置有的实用进步性,已符合专利法所强调的功能增进及使用要件,本申请以上的说明及附图,仅为本申请的较佳实施例而已,并非以此局限本申请,因此,凡一切与本申请构造,装置,特征等近似、雷同的,即凡依本申请专利申请范围所作的等同替换或修饰等,皆应属本申请的专利申请保护的范围之内。

Claims (23)

1.一种轮廓检测方法,其特征在于,所述方法包括:
获取参考产品的轮廓扫描数据,所述轮廓扫描数据包括第一轮廓线至第N轮廓线的扫描数据,N是正整数;
获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,k是不大于N的正整数;
根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线是否满足第一预定条件;
若不满足所述第一预定条件,则生成第一控制指令并发送至轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第一控制指令停止检测。
2.根据权利要求1所述的轮廓检测方法,其特征在于,所述获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,包括:
获取所述待检测产品的轮廓扫描数据;
根据所述待检测产品的轮廓扫描数据,获取所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。
3.根据权利要求1或2所述的轮廓检测方法,其特征在于,目标产品是所述参考产品或者所述待检测产品;
获取所述目标产品的轮廓扫描数据的方法包括:
获取扫描时序信息,所述扫描时序信息包括N个时序标识以及每个所述时序标识对应的所述轮廓检测设备的位姿信息,所述N个时序标识包括第一时序标识至第N时序标识,且第i时序标识对应轮廓扫描的第i时序,所述位姿信息包括位置信息和/或姿态信息,i是不大于N的正整数;
根据所述扫描时序信息,生成第二控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备在所述第i时序按照所述第i时序标识对应的位姿信息扫描所述目标产品,得到所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据;
接收所述轮廓检测设备发送的所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据。
4.根据权利要求3所述的轮廓检测方法,其特征在于,所述获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,包括:
根据第k时序标识对应的位姿信息,生成第三控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备按照所述第k时序标识对应的位姿信息扫描所述待检测产品,得到所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据;
接收所述轮廓检测设备发送的所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。
5.根据权利要求1所述的轮廓检测方法,其特征在于,所述第一预定条件包括以下至少一种:
所述待检测产品的第k轮廓线和所述参考产品的第k轮廓线重合或者近似重合;
所述待检测产品的第k轮廓线的累积残差小于预定累积残差,所述累积残差用于指示所述待检测产品的第k轮廓线与所述参考产品的第k轮廓线的偏差。
6.根据权利要求1所述的轮廓检测方法,其特征在于,所述生成第一控制指令并发送至轮廓检测设备,包括:
根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否满足第二预定条件;
若满足所述第二预定条件,则生成所述第一控制指令并发送至所述轮廓检测设备。
7.根据权利要求6所述的轮廓检测方法,其特征在于,所述检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否满足第二预定条件,包括:
获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值;
检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值是否处于预定取值范围;
若处于所述预定取值范围,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。
8.根据权利要求6所述的轮廓检测方法,其特征在于,所述检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否满足第二预定条件,包括:
获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型;
检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型是否是预定类型;
若是所述预定类型,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。
9.根据权利要求1所述的轮廓检测方法,其特征在于,所述方法还包括:
若满足所述第一预定条件,则检测k是否小于N;
若k小于N,则生成第四控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第四控制指令检测所述待检测产品,得到所述待检测产品的第k+1轮廓线的扫描数据。
10.一种轮廓检测装置,其特征在于,所述装置包括:
数据获取模块,用于获取参考产品的轮廓扫描数据,所述轮廓扫描数据包括第一轮廓线至第N轮廓线的扫描数据,N是正整数;获取待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,k是不大于N的正整数;
轮廓检测模块,用于根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线是否满足第一预定条件;
停止检测模块,用于若不满足所述第一预定条件,则生成第一控制指令并发送至轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第一控制指令停止检测。
11.根据权利要求10所述的轮廓检测装置,其特征在于,所述数据获取模块包括:
待检测数据获取子模块,用于获取所述待检测产品的轮廓扫描数据;
特定数据获取子模块,用于根据所述待检测产品的轮廓扫描数据,获取所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。
12.根据权利要求10或11所述的轮廓检测装置,其特征在于,目标产品是所述参考产品或者所述待检测产品;
所述数据获取模块包括:
时序获取子模块,用于获取扫描时序信息,所述扫描时序信息包括N个时序标识以及每个所述时序标识对应的所述轮廓检测设备的位姿信息,所述N个时序标识包括第一时序标识至第N时序标识,且第i时序标识对应轮廓扫描的第i时序,所述位姿信息包括位置信息和/或姿态信息,i是不大于N的正整数;
指令生成子模块,用于根据所述扫描时序信息,生成第二控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备在所述第i时序按照所述第i时序标识对应的位姿信息扫描所述目标产品,得到所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据;
数据接收子模块,用于接收所述轮廓检测设备发送的所述目标产品的第i轮廓线的扫描数据。
13.根据权利要求12所述的轮廓检测装置,其特征在于,所述指令生成子模块还用于根据第k时序标识对应的位姿信息,生成第三控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备按照所述第k时序标识对应的位姿信息扫描所述待检测产品,得到所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据;
所述数据接收子模块还用于接收所述轮廓检测设备发送的所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据。
14.根据权利要求10所述的轮廓检测装置,其特征在于,所述第一预定条件包括以下至少一种:
所述待检测产品的第k轮廓线和所述参考产品的第k轮廓线重合或者近似重合;
所述待检测产品的第k轮廓线的累积残差小于预定累积残差,所述累积残差用于指示所述待检测产品的第k轮廓线与所述参考产品的第k轮廓线的偏差。
15.根据权利要求10所述的轮廓检测装置,其特征在于,所述停止检测模块包括:
缺陷检测子模块,用于根据所述参考产品的第k轮廓线的扫描数据和所述待检测产品的第k轮廓线的扫描数据,检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度是否满足第二预定条件;
停止检测子模块,用于若满足所述第二预定条件,则生成所述第一控制指令并发送至所述轮廓检测设备。
16.根据权利要求15所述的轮廓检测装置,其特征在于,所述缺陷检测子模块包括:
参数值获取单元,用于获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值;
参数值检测单元,用于检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响参数值是否处于预定取值范围;
第一缺陷判定单元,用于若处于所述预定取值范围,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。
17.根据权利要求15所述的轮廓检测装置,其特征在于,所述缺陷检测子模块包括:
类型获取单元,用于获取所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型;
类型检测单元,用于检测所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响类型是否是预定类型;
第二缺陷判定单元,用于若是所述预定类型,则确定所述待检测产品的第k轮廓线的缺陷影响程度满足所述第二预定条件。
18.根据权利要求10所述的轮廓检测装置,其特征在于,所述装置还包括继续检测模块,所述继续检测模块包括:
k值检测子模块,用于若满足所述第一预定条件,则检测k是否小于N;
继续检测子模块,用于若k小于N,则生成第四控制指令并发送至所述轮廓检测设备,以使所述轮廓检测设备根据所述第四控制指令检测所述待检测产品,得到所述待检测产品的第k+1轮廓线的扫描数据。
19.一种轮廓检测设备,其特征在于,所述轮廓检测设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-9任一项所述方法的步骤。
20.根据权利要求19所述的轮廓检测设备,其特征在于,所述轮廓检测设备还包括相对位置保持不变的机台和传感器;
所述机台用于使所述传感器的位置和/或姿态发生变化;
所述传感器用于对所述参考产品和所述待检测产品进行轮廓检测。
21.根据权利要求19所述的轮廓检测设备,其特征在于,所述轮廓检测设备还包括可发生相对运动的机台和传感器;
所述机台用于使所述传感器的位置和/或姿态发生变化;
所述传感器用于对所述参考产品和所述待检测产品进行轮廓检测。
22.根据权利要求21所述的轮廓检测设备,其特征在于,所述轮廓检测设备还包括编码器;
所述机台用于通过所述编码器使所述传感器的位置和/或姿态发生变化。
23.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-9任一项所述方法的步骤。
CN202011536729.2A 2020-12-23 2020-12-23 轮廓检测方法、装置、设备及存储介质 Active CN112598645B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011536729.2A CN112598645B (zh) 2020-12-23 2020-12-23 轮廓检测方法、装置、设备及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011536729.2A CN112598645B (zh) 2020-12-23 2020-12-23 轮廓检测方法、装置、设备及存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112598645A true CN112598645A (zh) 2021-04-02
CN112598645B CN112598645B (zh) 2022-07-01

Family

ID=75200282

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011536729.2A Active CN112598645B (zh) 2020-12-23 2020-12-23 轮廓检测方法、装置、设备及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112598645B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116321268A (zh) * 2023-03-06 2023-06-23 乾位智通(深圳)技术有限公司 检测数据记录系统、方法、装置和uwb模块检测装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106562805A (zh) * 2016-11-07 2017-04-19 深圳市罗伯医疗科技有限公司 一种实现扫描设备自动扫描的方法及装置
CN108844490A (zh) * 2018-06-25 2018-11-20 中国铁建重工集团有限公司 一种隧道轮廓定位扫描设备及相关装置与方法
CN110188754A (zh) * 2019-05-29 2019-08-30 腾讯科技(深圳)有限公司 图像分割方法和装置、模型训练方法和装置
CN110465833A (zh) * 2019-08-22 2019-11-19 湖南工学院 一种刀具断裂检测方法
CN111784648A (zh) * 2020-06-19 2020-10-16 巨轮(广州)智能装备有限公司 软资材贴合精度检测方法、装置、设备以及存储介质
CN111862125A (zh) * 2019-04-28 2020-10-30 株式会社理光 一种轮廓分割方法、装置及计算机可读存储介质

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106562805A (zh) * 2016-11-07 2017-04-19 深圳市罗伯医疗科技有限公司 一种实现扫描设备自动扫描的方法及装置
CN108844490A (zh) * 2018-06-25 2018-11-20 中国铁建重工集团有限公司 一种隧道轮廓定位扫描设备及相关装置与方法
CN111862125A (zh) * 2019-04-28 2020-10-30 株式会社理光 一种轮廓分割方法、装置及计算机可读存储介质
CN110188754A (zh) * 2019-05-29 2019-08-30 腾讯科技(深圳)有限公司 图像分割方法和装置、模型训练方法和装置
CN110465833A (zh) * 2019-08-22 2019-11-19 湖南工学院 一种刀具断裂检测方法
CN111784648A (zh) * 2020-06-19 2020-10-16 巨轮(广州)智能装备有限公司 软资材贴合精度检测方法、装置、设备以及存储介质

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
杨军涛等: "基于线激光扫描的焊缝表面缺陷检测系统", 《焊接》 *
罗春刚: "一种基于运动控制器的二维轮廓检测装置", 《电工技术》 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116321268A (zh) * 2023-03-06 2023-06-23 乾位智通(深圳)技术有限公司 检测数据记录系统、方法、装置和uwb模块检测装置
CN116321268B (zh) * 2023-03-06 2023-11-03 乾位智通(深圳)技术有限公司 检测数据记录系统、方法、装置和uwb模块检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN112598645B (zh) 2022-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111442722B (zh) 定位方法、装置、存储介质及电子设备
CN108876857B (zh) 无人驾驶车辆的定位方法、系统、设备及存储介质
de Araujo et al. Computer vision system for workpiece referencing in three-axis machining centers
CN112598645B (zh) 轮廓检测方法、装置、设备及存储介质
CN113312969A (zh) 一种基于三维视觉的零部件识别与定位方法、系统
CN114355953A (zh) 一种基于机器视觉的多轴伺服系统的高精度控制方法及系统
CN113172636B (zh) 一种自动手眼标定方法、装置及存储介质
CN110794826A (zh) 混合导航方法及装置、通信方法及装置、设备、存储介质
CN112734700A (zh) 工件检测方法、装置、电子设备及存储介质
CN110319771B (zh) 在线测量方法、装置、系统、电子设备、存储介质
CN111275662B (zh) 基于二维码的工件定位方法、装置、设备和存储介质
CN114074321A (zh) 机器人标定方法及装置
CN112414340A (zh) 一种工件的三坐标测量方法、装置、设备及存储介质
CN113976400B (zh) 一种涂胶方法、装置、设备及系统
CN113325430B (zh) 末端执行器安装精度测量方法、装置、设备及存储介质
CN111182455B (zh) 一种室内定位方法、装置、计算机设备及存储介质
Abicht et al. Interface-free connection of mobile robot cells to machine tools using a camera system
CN111158364A (zh) 机器人重定位方法、装置及终端设备
CN114043531B (zh) 台面倾角确定、使用方法、装置、机器人和存储介质
CN112183524A (zh) 机器人有线网络对接方法、系统、终端设备及存储介质
CN112797944B (zh) 柔性检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质
CN114593704B (zh) 曲面零件的测量方法、装置、设备和介质
CN116117810B (zh) 一种不同机器人之间数据转换后二次校准的方法及装置
CN112946570B (zh) 动态姿态位置补偿方法、系统、电子设备及介质
CN117055466A (zh) 一种加工工件定位方法、装置、设备及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
TA01 Transfer of patent application right
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20220329

Address after: Building C, No.888, Huanhu West 2nd Road, Lingang New District, China (Shanghai) pilot Free Trade Zone, Pudong New Area, Shanghai

Applicant after: Shenlan Intelligent Technology (Shanghai) Co.,Ltd.

Address before: 213000 No.103, building 4, Chuangyan port, Changzhou science and Education City, No.18, middle Changwu Road, Wujin District, Changzhou City, Jiangsu Province

Applicant before: SHENLAN ARTIFICIAL INTELLIGENCE CHIP RESEARCH INSTITUTE (JIANGSU) Co.,Ltd.

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant