CN112819760A - 一种图像检测方法、装置和系统 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 133
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 115
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 26
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 18
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 5
- 238000013461 design Methods 0.000 abstract description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 97
- 230000008569 process Effects 0.000 description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 4
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 4
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10004—Still image; Photographic image
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30148—Semiconductor; IC; Wafer
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- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
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Abstract
本发明的一个实施例公开了一种图像检测方法、装置和系统,包括:S10、响应于配置指令,对待测物的检测相关配置文件进行配置;S12、响应于测试指令,根据所述配置文件获取所述待测物的图像数据并显示;S14、根据对所述图像数据的识别,判断所述待测物是否为良品;S16、若判断所述待测物是良品,对所述待测物进行第一操作;S18、若判断所述待测物不是良品,对所述待测物进行第二操作。本发明提供的系统采用集中式架构设计,具有运行稳定,效率高,多工位,多产品同时检测等优点。
Description
技术领域
本发明涉及图像检测技术领域。更具体地,涉及一种图像检测方法、装置、系统、计算机设备和计算机可读存储介质。
背景技术
随着科学技术的发展,图像检测技术也取得了长足的发展,目前已经广泛的应用在各个领域。运用该技术能极快提升检测产品的速度,检测效率大幅提高,避免因人员主观检测造成偏差,减少人力成本。
现有的图像检测系统的功能比较分散,针对不同的产品、不同的检测项目,会分配到多台PC上执行,系统的架构设计存在明显的缺陷:(1)硬件结构分散,多台PC执行,通信频繁,响应速度慢;(2)系统的数据处理及结果不在同一PC上,数据不能集中管理;(3)系统功能分散,多个节点间需要分布协作,配置灵活性低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种图像检测方法、装置和系统,以解决现有技术中存在的问题中的至少一个。
为达到上述目的,本发明采用下述技术方案:
第一方面,本发明提供了一种图像检测方法,包括:
S10、响应于配置指令,对待测物的检测相关配置文件进行配置;
S12、响应于测试指令,根据所述配置文件获取所述待测物的图像数据并显示;
S14、根据对所述图像数据的识别,判断所述待测物是否为良品;
S16、若判断所述待测物是良品,对所述待测物进行第一操作;
S18、若判断所述待测物不是良品,对所述待测物进行第二操作。
在一个具体实施方式中,S10进一步包括:
S100、响应于硬件配置指令,配置图像检测所需的硬件参数;
S102、响应于流程配置指令,基于所述待测物的测试项目进行流程配置;
S104、响应于工位配置指令,基于所述待测物的测试项目进行工位配置;
S106、响应于机种配置指令,基于所述待测物进行机种配置。
在一个具体实施方式中,S100进一步包括:
响应于第一设置操作指令,设置图像检测所使用的相机和光源;
响应于第二设置操作指令,设置所述图像检测开始触发信号和结束反馈信号的触发模式;
响应于第一保存操作指令,保存设备信息文件。
在一个具体实施方式中,S102进一步包括:
响应于流程创建操作指令,基于所述待测物的测试项目创建对应的检测流程文件;
响应于项目选择操作指令,基于所述待测物的测试项目选择检测功能;
响应于硬件选择操作指令,基于所述待测物的测试项目从所述设备信息文件中选择对应的相机、光源和触发模式;
响应于第二保存指令,保存流程文件。
在一个具体实施方式中,S104包括:
响应于工位创建操作指令,基于所述待测物的测试项目创建对应的工位文件;
响应于流程选择操作指令,基于所述待测物的测试项目从所述流程文件中选择对应的测试流程;
响应于第三保存指令,保存工位文件。
在一个具体实施方式中,S106包括:
响应于机种创建操作指令,基于所述待测物创建对应的机种文件;
响应于工位选择操作指令,基于所述待测物的测试项目从所述工位文件中选择对应的检测工位,其中所述检测工位为待测物检测时移动到的工位;
响应于第四保存指令,保存机种文件。
在一个具体实施方式中,S12进一步包括:
响应于机种选择操作指令,基于所述待测物选择对应的机种;
响应于测试操作指令,获取所述待测物的图像数据和测试数据并在显示界面上显示所述图像数据和测试数据。
在一个具体实施方式中,
S16进一步包括若判断所述待测物是良品,将所述待测物移动到良品工位;
S18进一步包括若判断所述待测物不是良品,将所述待测物移动到不良品工位。
第二方面,本发明还提供了一种图像检测装置,包括:
配置模块,用于响应于配置指令,对待测物的检测相关配置文件进行配置;
图像检测模块,用于响应于测试指令,根据所述配置文件获取所述待测物的图像数据并显示;
判断模块,用于根据对所述图像数据的识别,判断所述待测物是否为良品;
第一操作模块,用于若判断模块判断所述待测物是良品,对所述待测物进行第一操作;
第二操作模块,用于若判断模块判断所述待测物不是良品,对所述待测物进行第二操作。
在一个具体实施方式中,所述配置模块进一步包括:
硬件参数配置模块,用于响应于硬件配置指令,配置图像检测所需的硬件参数;
流程配置模块,用于响应于流程配置指令,基于所述待测物的测试项目进行流程配置;
工位配置模块,用于响应于工位配置指令,基于所述待测物的测试项目进行工位配置;
机种配置模块,用于响应于机种配置指令,基于所述待测物进行机种配置。
在一个具体实施方式中,所述硬件参数配置模块进一步包括:
相机和光源配置模块,用于响应于第一设置操作指令,设置图像检测所使用的相机和光源;
触发模式配置模块,用于响应于第二设置操作指令,设置所述图像检测开始触发信号和结束反馈信号的触发模式;
第一保存模块,用于响应于第一保存操作指令,保存设备信息文件。
在一个具体实施方式中,流程配置模块进一步包括:
流程创建操作模块,用于响应于流程创建操作指令,基于所述待测物的测试项目创建对应的检测流程文件;
项目选择操作模块,用于响应于项目选择操作指令,基于所述待测物的测试项目选择检测功能;
硬件选择操作模块,用于响应于硬件选择操作指令,基于所述待测物的测试项目从所述设备信息文件中选择对应的相机、光源和触发模式;
第二保存模块,用于响应于第二保存指令,保存流程文件。
在一个具体实施方式中,所述工位配置模块进一步包括:
工位创建操作模块,用于响应于工位创建操作指令,基于所述待测物的测试项目创建对应的工位文件;
流程选择操作模块,用于响应于流程选择操作指令,基于所述待测物的测试项目从所述流程文件中选择对应的测试流程;
第三保存模块,用于响应于第三保存指令,保存工位文件。
在一个具体实施方式中,所述机种配置模块包括:
机种创建操作模块,用于响应于机种创建操作指令,基于所述待测物创建对应的机种文件;
工位选择操作模块,用于响应于工位选择操作指令,基于所述待测物的测试项目从所述工位文件中选择对应的检测工位,其中所述检测工位为待测物检测时移动到的工位;
第四保存模块,用于响应于第四保存指令,保存机种文件。
在一个具体实施方式中,所述图像检测模块进一步包括:
机种选择操作模块,用于响应于机种选择操作指令,基于所述待测物选择对应的机种;
测试操作模块,用于响应于测试操作指令,获取所述待测物的图像数据并显示。
第三方面,本发明还提供了一种图像检测系统,包括:
相机、光源、载具、PLC、IO板卡以及根据第二方面所述的图像检测装置;
其中,所述图像检测装置通过所述PLC或IO板卡与所述相机、光源和载具进行通信,以使得所述图像检测装置在完成基于所述待测物的配置后,驱动装载有所述待测物的载具移动到检测工位,并由所述光源照亮,通过所述相机采集所述图像数据。
第四方面,本发明还提供一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现如本申请第一方面提供的方法。
第五方面,本发明还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现如本申请第一方面提供的方法。
本发明的有益效果如下:
本发明提供的系统采用集中式架构设计,具有运行稳定,效率高,多工位,多产品同时检测等优点。
与现有的系统相比,优势明显:(1)硬件结构通过1台PC集中管理执行,不需要频繁的通信交互,响应速度快;(2)系统的数据集中在同一台PC上处理,数据可集中管理;(3)系统的功能集中,配置灵活性高,可实现多相机、多工位,多产品检测。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出根据本发明一个实施例的图像检测方法流程图。
图2示出根据本发明一个实施例的图像检测装置示意图。
图3示出根据本发明一个实施例的图像检测系统示意图。
图4示出适于用来实现本申请实施例的计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明,下面结合优选实施例和附图对本发明做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解,下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的,不应以此限制本发明的保护范围。
第一实施例
如图3所示,本发明的一个实施例公开了一种图像检测系统,包括:
PC(上位机)、相机、光源、载具、PLC(可编程逻辑控制器)、IO板卡以及一种图像检测装置(安装在PC中的控制软件)。
其中,图像检测系统通过PC控制光源的亮度,与PLC或IO板卡进行指令交互,用来控制硬件结构例如载具的运动。所述图像检测系统通过PC中的图像检测装置经由所述PLC或IO板卡与所述相机、光源和载具进行通信,以使得所述图像检测装置在完成基于所述待测物的配置后,驱动装载有所述待测物的载具移动到检测工位,并由所述光源照亮,通过所述相机采集所述图像数据。
在一个具体实施例中,本方案以检测半导体芯片上的印刷字符为例,本领域技术人员可知,本方案不限于检测半导体芯片,还适用于检测其它待测物,例如显示面板等。
具体的,所述的图像检测装置如图2所示,本发明的一个实施例还公开了一种图像检测装置,包括:
配置模块,用于响应于配置指令,对半导体芯片的检测相关配置文件进行配置;
在一个具体实施例中,操作员对系统配置按钮进行例如点击操作,对半导体芯片的检测相关配置文件进行配置,其中,所述配置文件包括对系统的硬件配置,流程配置,工位配置以及机种配置。
在一个具体实施例中,所述配置模块进一步包括:
硬件参数配置模块,用于响应于硬件配置指令,配置图像检测所需的硬件参数;
在一个具体实施例中,操作员对硬件配置按钮进行例如点击操作,配置图像检测所需的硬件参数,例如系统的相机,光源,IO卡板等硬件的参数。
在一个具体实施例中,所述硬件参数配置模块进一步包括:
相机和光源配置模块,用于响应于第一设置操作指令,设置图像检测所使用的相机和光源;本发明的技术方案适用于多种产品的检测,例如芯片、显示屏等等,对应不同的相机、光源和触发方式,甚至对于一种产品,因为测试项目的不同,也需要不同的相机、光源和触发方式等。
在一个具体实施例中,操作员可以点击相机及光源的选择控制按钮,设置图像检测所使用的相机和光源。
触发模式配置模块,用于响应于第二设置操作指令,设置所述图像检测开始触发信号和结束反馈信号的触发模式;
在一个具体实施例中,操作员可以对相机和光源使用/停止使用时的开始触发信号和结束反馈信号的触发模式进行设置。例如,对相机或光源触发按钮进行例如点击操作,设置所述相机和光源触发动作的触发模式。
第一保存模块,用于响应于第一保存操作指令,保存设备信息文件。
在一个具体实施例中,操作员对硬件配置界面的保存按钮进行例如点击操作,保存配置好的设备信息文件。
流程配置模块,用于响应于流程配置指令,基于所述半导体芯片的测试项目进行流程配置;
在一个具体实施例中,操作员对流程配置按钮进行例如点击操作,基于所述半导体芯片的测试项目进行流程配置。
在一个具体实施例中,流程配置模块进一步包括:
流程创建操作模块,用于响应于流程创建操作指令,基于所述半导体芯片的测试项目创建对应的检测流程文件;
在一个具体实施例中,操作员对流程创建按钮进行例如点击操作,创建基于所述半导体芯片的测试项目对应的检测流程文件。
项目选择操作模块,用于响应于项目选择操作指令,基于所述半导体芯片的测试项目选择检测功能;
在一个具体实施例中,操作员对项目选择按钮进行例如点击操作,选择基于所述半导体芯片的测试项目,其中,选择测试项目为图像轮廓查找、图像水平矫正、字符识别等。
硬件选择操作模块,用于响应于硬件选择操作指令,基于所述半导体芯片的测试项目从所述设备信息文件中选择对应的相机、光源和触发模式,具体的,设置触发方式为IO信号触发。
在一个具体实施例中,操作员对硬件选择按钮进行例如点击操作,选择需要的相机、光源以及触发端口,并设置触发方式为IO信号触发。
第二保存模块,用于响应于第二保存指令,保存流程文件。
在一个具体实施例中,操作员对流程配置界面的保存按钮进行例如点击操作,保存流程文件。
工位配置模块,用于响应于工位配置指令,基于所述半导体芯片的测试项目进行工位配置;
在一个具体实施例中,由于本系统有很多工位,半导体芯片在测试时要移动到测试工位,测试工位为一个或多个,多个测试工位测试相同或不同的检测项目,因此,在测试前需要根据每个工位的检测项目进行相应的配置,芯片移动至某一工位后,触发当前工位的检测信号。所以工位需要配置,因此操作员对工位配置按钮进行例如点击操作,基于所述半导体芯片的测试项目进行工位配置。
在一个具体实施例中,所述工位配置模块进一步包括:
工位创建操作模块,用于响应于工位创建操作指令,基于所述半导体芯片的测试项目创建对应的工位文件;
在一个具体实施例中,操作员对工位创建按钮进行例如点击操作,创建与所述半导体芯片的测试项目对应的工位文件。
流程选择操作模块,用于响应于流程选择操作指令,基于所述半导体芯片的测试项目从所述流程文件中选择对应的测试流程;具体的,选择流程模块为半导体芯片字符识别流程。
在一个具体实施例中,操作员对流程选择按钮进行例如点击操作,从所述流程文件中选择与所述半导体芯片的测试项目对应的测试流程。具体的,选择流程模块为半导体芯片字符识别流程。
第三保存模块,用于响应于第三保存指令,保存工位文件。
在一个具体实施例中,操作员对工位配置界面的保存按钮进行例如点击操作,保存工位文件。
机种配置模块,用于响应于机种配置指令,基于所述半导体芯片进行机种配置。
在一个具体实施例中,操作员对机种配置按钮进行例如点击操作,对所述要进行测试的半导体芯片进行机种配置。
在一个具体实施例中,所述机种配置模块包括:
机种创建操作模块,用于响应于机种创建操作指令,基于所述半导体芯片创建对应的机种文件;具体的,机种文件中包含了与所述待测半导体芯片对应的相机、光源、触发信号等各个参数,以及流程配置信息与检测功能的参数信息,例如机种文件可以记录相机的曝光时间是多少,光源的亮度值是多少等。它还包含了流程信息,例如检测的时候,先设置相机A的曝光时间,再打开光源A,设置亮度值为100,然后触发相机拍照,获取图像数据。
在一个具体实施例中,操作员对机种创建按钮进行例如点击操作,创建与待测半导体芯片对应的机种文件。
工位选择操作模块,用于响应于工位选择操作指令,基于所述半导体芯片的测试项目从所述工位文件中选择对应的检测工位,其中所述检测工位为半导体芯片检测时移动到的工位;具体的,所述检测工位选择半导体芯片字符识别工位。
在一个具体实施例中,操作员对工位选择按钮进行例如点击操作,从所述工位文件中选择所述半导体芯片的测试项目对应的检测工位;其中所述检测工位为半导体芯片检测时移动到的工位;具体的,所述检测工位选择半导体芯片字符识别工位。
第四保存模块,用于响应于第四保存指令,保存机种文件。
在一个具体实施例中,操作员对机种配置界面的保存按钮进行例如点击操作,保存机种文件。
图像检测模块,用于响应于测试指令,根据所述配置文件获取所述半导体芯片的图像数据并显示;
在一个具体实施例中,操作员对测试按钮进行例如点击操作,对所述半导体芯片进行检测。系统根据所述配置文件获取所述半导体芯片的图像数据并将其显示出来。具体地,获取图像数据,并通过算法把图像数据结果计算出来,显示界面上会显示测试数据和图片。
在一个具体实施例中,所述图像检测模块进一步包括:
机种选择操作模块,用于响应于机种选择操作指令,基于所述半导体芯片选择对应的机种;
在一个具体实施例中,操作员在点击测试按钮之前,对机种选择按钮进行例如点击操作,选择与所述待测半导体芯片对应的机种。
测试操作模块,用于响应于测试操作指令,获取所述半导体芯片的图像数据并显示。
在一个具体实施例中,系统响应于操作员的测试操作指令,获取所述半导体芯片的图像数据并显示。
在一个具体实施例中,系统在接收到操作员的测试指令后,开始进入测试流程,被测半导体芯片随着载具运动到检测工位后,触发相机拍照;相机拍照完成后将图像数据传给软件;软件获取到图像数据后,按照检测流程对图像数据进行处理,识别字符。
判断模块,用于根据对所述图像数据的识别,判断所述半导体芯片是否为良品;
第一操作模块,用于若判断模块判断所述半导体芯片是良品,对所述待半导体芯片进行第一操作;若是良品,将所述半导体芯片移动到良品工位。
第二操作模块,用于若判断模块判断所述半导体芯片不是良品,对所述待半导体芯片进行第二操作。若不是良品,将所述半导体芯片移动到不良品工位。
本发明提供的系统采用集中式架构设计,具有运行稳定,效率高,多工位,多产品同时检测等优点。硬件结构通过1台PC集中管理执行,不需要频繁的通信交互,响应速度快;系统的数据集中在同一台PC上处理,数据可集中管理;系统的功能集中,配置灵活性高,可实现多相机、多工位,多产品检测。
第二实施例
如图1所示,本发明的一个实施例还公开了一种图像检测方法。
在一个具体实施例中,以检测半导体芯片上的印刷字符为例,所述检测方法包括以下步骤:
S10、响应于配置指令,对半导体芯片的检测相关配置文件进行配置。
在一个具体实施例中,操作员对系统配置按钮进行例如点击操作,对半导体芯片的检测相关配置文件进行配置,其中,所述配置文件包括对系统的硬件配置,流程配置,工位配置以及机种配置。
在一个实施例中,所述S10进一步包括:
S100、响应于硬件配置指令,配置图像检测所需的硬件参数;
在一个具体实施例中,操作员对硬件配置按钮进行例如点击操作,配置图像检测所需的硬件参数,例如系统的相机,光源,IO卡板等硬件的参数。
在一个实施例中,所述S100进一步包括:
响应于第一设置操作指令,设置图像检测所使用的相机和光源。本发明的技术方案适用于多种产品的检测,例如芯片、显示屏等等,对应不同的相机、光源和触发方式,甚至对于一种产品,因为测试项目的不同,也需要不同的相机、光源和触发方式等。
在一个具体实施例中,操作员可以点击相机及光源的选择控制按钮,设置图像检测所使用的相机和光源。
响应于第二设置操作指令,设置所述图像检测开始触发信号和结束反馈信号的触发模式。
在一个具体实施例中,操作员可以对相机和光源使用/停止使用时的开始触发信号和结束反馈信号的触发模式进行设置。例如,对相机或光源触发按钮进行例如点击操作,设置所述相机和光源触发动作的触发模式。
响应于第一保存操作指令,保存设备信息文件。
在一个具体实施例中,操作员对硬件配置界面的保存按钮进行例如点击操作,保存配置好的设备信息文件。
S102、响应于流程配置指令,基于所述半导体芯片的测试项目进行流程配置。
在一个具体实施例中,操作员对流程配置按钮进行例如点击操作,基于所述半导体芯片的测试项目进行流程配置。
在一个实施例中,S102进一步包括:
响应于流程创建操作指令,基于所述半导体芯片的测试项目创建对应的检测流程文件。
在一个具体实施例中,操作员对流程创建按钮进行例如点击操作,创建基于所述半导体芯片的测试项目对应的检测流程文件。
响应于项目选择操作指令,基于所述半导体芯片的测试项目选择检测功能。
在一个具体实施例中,操作员对项目选择按钮进行例如点击操作,选择基于所述半导体芯片的测试项目,其中,选择测试项目为图像轮廓查找、图像水平矫正、字符识别等。
响应于硬件选择操作指令,基于所述半导体芯片的测试项目从所述设备信息文件中选择对应的相机、光源和触发模式,具体的,设置触发方式为IO信号触发。
在一个具体实施例中,操作员对硬件选择按钮进行例如点击操作,选择需要的相机、光源以及触发端口,并设置触发方式为IO信号触发。
响应于第二保存指令,保存流程文件。
在一个具体实施例中,操作员对流程配置界面的保存按钮进行例如点击操作,保存流程文件。
S104、响应于工位配置指令,基于所述半导体芯片的测试项目进行工位配置;
在一个具体实施例中,由于本系统有很多工位,半导体芯片在测试时要移动到测试工位,测试工位为一个或多个,多个测试工位测试相同或不同的检测项目,因此,在测试前需要根据每个工位的检测项目进行相应的配置,芯片移动至某一工位后,触发当前工位的检测信号。所以工位需要配置,因此操作员对工位配置按钮进行例如点击操作,基于所述半导体芯片的测试项目进行工位配置。
在一个实施例中,S104包括:
响应于工位创建操作指令,基于所述半导体芯片的测试项目创建对应的工位文件;
在一个具体实施例中,操作员对工位创建按钮进行例如点击操作,创建与所述半导体芯片的测试项目对应的工位文件。
响应于流程选择操作指令,基于所述半导体芯片的测试项目从所述流程文件中选择对应的测试流程;具体的,选择流程模块为半导体芯片字符识别流程。
在一个具体实施例中,操作员对流程选择按钮进行例如点击操作,从所述流程文件中选择与所述半导体芯片的测试项目对应的测试流程。具体的,选择流程模块为半导体芯片字符识别流程。
响应于第三保存指令,保存工位文件。
在一个具体实施例中,操作员对工位配置界面的保存按钮进行例如点击操作,保存工位文件。
S106、响应于机种配置指令,基于所述半导体芯片进行机种配置。
在一个具体实施例中,操作员对机种配置按钮进行例如点击操作,对所述要进行测试的半导体芯片进行机种配置。
在一个实施例中,S106包括:
响应于机种创建操作指令,基于所述半导体芯片创建对应的机种文件;具体的,机种文件中包含了与所述待测半导体芯片对应的相机、光源、触发信号等各个参数,以及流程配置信息与检测功能的参数信息,例如机种文件可以记录相机的曝光时间是多少,光源的亮度值是多少等。它还包含了流程信息,例如检测的时候,先设置相机A的曝光时间,再打开光源A,设置亮度值为100,然后触发相机拍照,获取图像数据。
在一个具体实施例中,操作员对机种创建按钮进行例如点击操作,创建与待测半导体芯片对应的机种文件。
响应于工位选择操作指令,基于所述半导体芯片的测试项目从所述工位文件中选择对应的检测工位,其中所述检测工位为半导体芯片检测时移动到的工位;具体的,所述检测工位选择半导体芯片字符识别工位。
在一个具体实施例中,操作员对工位选择按钮进行例如点击操作,从所述工位文件中选择所述半导体芯片的测试项目对应的检测工位;其中所述检测工位为半导体芯片检测时移动到的工位;具体的,所述检测工位选择半导体芯片字符识别工位。
响应于第四保存指令,保存机种文件。
在一个具体实施例中,操作员对机种配置界面的保存按钮进行例如点击操作,保存机种文件。
S12、响应于测试指令,根据所述配置文件获取所述半导体芯片的图像数据并显示;
在一个具体实施例中,操作员对测试按钮进行例如点击操作,对所述半导体芯片进行检测。系统根据所述配置文件获取所述半导体芯片的图像数据并将其显示出来。
在一个实施例中,S12进一步包括:
响应于机种选择操作指令,基于所述半导体芯片选择对应的机种;
在一个具体实施例中,操作员在点击测试按钮之前,对机种选择按钮进行例如点击操作,选择与所述待测半导体芯片对应的机种。
响应于测试操作指令,获取所述半导体芯片的图像数据和测试数据并在显示界面上显示所述图像数据和测试数据。
在一个具体实施例中,系统响应于操作员的测试操作指令,获取所述半导体芯片的图像数据并显示。
在一个具体实施例中,系统在接收到操作员的测试指令后,开始进入测试流程,被测半导体芯片随着载具运动到检测工位后,触发相机拍照;相机拍照完成后将图像数据传给软件;软件获取到图像数据后,按照检测流程对图像数据进行处理,识别字符;
S14、根据对所述图像数据的识别,判断所述半导体芯片是否为良品;
S16、若判断所述半导体芯片是良品,对所述半导体芯片进行第一操作;
S18、若判断所述半导体芯片不是良品,对所述半导体芯片进行第二操作。
在一个具体实施例中,
S16进一步包括若判断所述半导体芯片是良品,将所述半导体芯片移动到良品工位;
S18进一步包括若判断所述半导体芯片不是良品,将所述半导体芯片移动到不良品工位。
在一个具体实施例中,本方案设定的是对一个测试物进行测量的步骤,对于下一个待测物测量的过程也是如此,直到操作员按下停止按钮,检测结束。本领域技术人员可知,本方案不限于检测半导体芯片,还适用于检测其它待测物,例如显示面板等。
本发明提供的系统采用集中式架构设计,具有运行稳定,效率高,多工位,多产品同时检测等优点。硬件结构通过1台PC集中管理执行,不需要频繁的通信交互,响应速度快;系统的数据集中在同一台PC上处理,数据可集中管理;系统的功能集中,配置灵活性高,可实现多相机、多工位,多产品检测。
第三实施例
图4示出了本申请的另一个实施例提供的一种计算机设备的结构示意图。图4显示的计算机设备50仅仅是一个示例,不应对本申请实施例的功能和使用范围带来任何限制。如图4所示,计算机设备50以通用计算设备的形式表现。计算机设备50的组件可以包括但不限于:一个或者多个处理器或者处理单元500,系统存储器516,连接不同系统组件(包括系统存储器516和处理单元500)的总线501。
总线501表示几类总线结构中的一种或多种,包括存储器总线或者存储器控制器,外围总线,图形加速端口,处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说,这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构(ISA)总线,微通道体系结构(MAC)总线,增强型ISA总线、视频电子标准协会(VESA)局域总线以及外围组件互连(PCI)总线。
计算机设50典型地包括多种计算机系统可读介质。这些介质可以是任何能够被计算机设备50访问的可用介质,包括易失性和非易失性介质,可移动的和不可移动的介质。
系统存储器516可以包括易失性存储器形式的计算机系统可读介质,例如随机存取存储器(RAM)504和/或高速缓存存储器506。计算机设备50可以进一步包括其它可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机系统存储介质。仅作为举例,存储系统508可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图4未显示,通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图4中未示出,可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器,以及对可移动非易失性光盘(例如CD-ROM,DVD-ROM或者其它光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下,每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线501相连。存储器516可以包括至少一个程序产品,该程序产品具有一组(例如至少一个)程序模块,这些程序模块被配置以执行实施例二的功能。
具有一组(至少一个)程序模块512的程序/实用工具510,可以存储在例如存储器516中,这样的程序模块512包括但不限于操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据,这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块512通常执行本申请所描述的实施例中的功能和/或方法。
计算机设备50也可以与一个或多个外部设备70(例如键盘、指向设备、显示器60等)通信,还可与一个或者多个使得用户能与该计算机设备50交互的设备通信,和/或与使得该计算机设备50能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如网卡,调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口502进行。并且,计算机设备50还可以通过网络适配器514与一个或者多个网络(例如局域网(LAN),广域网(WAN)和/或公共网络,例如因特网)通信。如图4所示,网络适配器514通过总线501与计算机设备50的其它模块通信。应当明白,尽管图4中未示出,可以结合计算机设备50使用其它硬件和/或软件模块,包括但不限于:微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。
处理器单元500通过运行存储在系统存储器516中的程序,从而执行各种功能应用以及数据处理,例如实现本申请实施例二所提供的一种图像检测方法。
本申请针对目前现有的问题,制定一种适用于图像检测方法的计算机设备,本方案可实现多相机、多工位,多产品检测,具有广泛的应用前景。
第四实施例
本申请的另一个实施例提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上述实施例二所提供的方法。在实际应用中,所述计算机可读存储介质可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。
计算机可读存储介质例如可以是但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本实施例中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。
计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质,该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。
计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于无线、电线、光缆、RF等等,或者上述的任意合适的组合。可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本申请操作的计算机程序代码,所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中,远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机,或者,可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
显然,本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例,而并非是对本发明的实施方式的限定,对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动,这里无法对所有的实施方式予以穷举,凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。
Claims (10)
1.一种图像检测方法,其特征在于,包括:
S10、响应于配置指令,对待测物的检测相关配置文件进行配置;
S12、响应于测试指令,根据所述配置文件获取所述待测物的图像数据并显示;
S14、根据对所述图像数据的识别,判断所述待测物是否为良品;
S16、若判断所述待测物是良品,对所述待测物进行第一操作;
S18、若判断所述待测物不是良品,对所述待测物进行第二操作。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,S10进一步包括:
S100、响应于硬件配置指令,配置图像检测所需的硬件参数;
S102、响应于流程配置指令,基于所述待测物的测试项目进行流程配置;
S104、响应于工位配置指令,基于所述待测物的测试项目进行工位配置;
S106、响应于机种配置指令,基于所述待测物进行机种配置。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,S100进一步包括:
响应于第一设置操作指令,设置图像检测所使用的相机和光源;
响应于第二设置操作指令,设置所述图像检测开始触发信号和结束反馈信号的触发模式;
响应于第一保存操作指令,保存设备信息文件。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,S102进一步包括:
响应于流程创建操作指令,基于所述待测物的测试项目创建对应的检测流程文件;
响应于项目选择操作指令,基于所述待测物的测试项目选择检测功能;
响应于硬件选择操作指令,基于所述待测物的测试项目从所述设备信息文件中选择对应的相机、光源和触发模式;
响应于第二保存指令,保存流程文件。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,S104包括:
响应于工位创建操作指令,基于所述待测物的测试项目创建对应的工位文件;
响应于流程选择操作指令,基于所述待测物的测试项目从所述流程文件中选择对应的测试流程;
响应于第三保存指令,保存工位文件。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,S106包括:
响应于机种创建操作指令,基于所述待测物创建对应的机种文件;
响应于工位选择操作指令,基于所述待测物的测试项目从所述工位文件中选择对应的检测工位,其中所述检测工位为待测物检测时移动到的工位;
响应于第四保存指令,保存机种文件;
所述S12进一步包括:
响应于机种选择操作指令,基于所述待测物选择对应的机种;
响应于测试操作指令,获取所述待测物的图像数据和测试数据并在显示界面上显示所述图像数据和测试数据。
7.一种图像检测装置,其特征在于,包括:
配置模块,用于响应于配置指令,对待测物的检测相关配置文件进行配置;
图像检测模块,用于响应于测试指令,根据所述配置文件获取所述待测物的图像数据并显示;
判断模块,用于根据对所述图像数据的识别,判断所述待测物是否为良品;
第一操作模块,用于若判断模块判断所述待测物是良品,对所述待测物进行第一操作;
第二操作模块,用于若判断模块判断所述待测物不是良品,对所述待测物进行第二操作。
8.一种图像检测系统,其特征在于,包括:
相机、光源、载具、PLC、IO板卡以及根据权利要求7所述的图像检测装置;
其中,所述图像检测装置通过所述PLC或IO板卡与所述相机、光源和载具进行通信,以使得所述图像检测装置在完成基于所述待测物的配置后,驱动装载有所述待测物的载具移动到检测工位,并由所述光源照亮,通过所述相机采集所述图像数据。
9.一种计算机设备,包括处理器和存储有程序的存储器,其特征在于,所述程序被所述处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质,存储有程序,其特征在于,所述程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110077309.0A CN112819760A (zh) | 2021-01-20 | 2021-01-20 | 一种图像检测方法、装置和系统 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202110077309.0A CN112819760A (zh) | 2021-01-20 | 2021-01-20 | 一种图像检测方法、装置和系统 |
Publications (1)
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Family
ID=75858916
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
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