JP2021183983A - 粒子特性評価 - Google Patents
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Abstract
Description
光子相関分光法(動的光散乱法、又はDLSともいう)は、試料のある領域から散乱する光の強度の経時的変化によって、粒子の特性を評価する技術である。散乱光の測定値の時系列が、試料中に分散している粒子の粒径又は粒径分布を決定するために用いられる。
主に小径粒子であるが大径粒子も含む試料の光散乱測定は、大径粒子に対して、又は個々の大径粒子に対してさえ、非常に敏感になり得る。大径粒子は、小径粒子が特性評価され得る品質を低下させる可能性がある。このような大径粒子は、望ましくない不純物、つまり一次粒子の凝集体又は何らかの他の物質であるかもしれない。
試料からの回折光/散乱光のパターンを解析することにより粒子特性評価を行うことも、周知である。その光源は一般にレーザであり、この種の解析は、レーザ回折解析又は静的光散乱(SLS)と称されることもある。大径粒子は、静的光散乱測定においても問題となり得る。すなわち、大径粒子からの散乱が、小径粒子から散乱される比較的少量の光を分りにくくし得る。
本発明の第1の局面によれば、試料中の粒子を特性評価する方法が提供されており、前記方法は、光線と前記試料との相互作用により散乱光を生じさせるように、試料セル内の前記試料に前記光線を照射することと、単一の検出器から前記散乱光の測定値の時系列を
取得することと、前記単一の検出器からの前記測定値の時系列から、大径粒子が前記散乱光に寄与しているときに取得された測定値がいずれであるかを判断することと、前記大径粒子により散乱された光の補正を含む、前記測定値の時系列から粒度分布を決定することと、を含む方法である。
粒度分布を決定することは、処理された測定値の時系列に対して動的光散乱相関演算を行うことを含んでもよい。
開示される方法は、静的光散乱(SLS)、動的光散乱(DLS)、電気泳動光散乱(ELS)、磁気泳動光散乱(MLS)及び、例えば、タンパク質の移動性、表面ゼータ、マイクロレオロジー等を測定するための関連する方法に適用されてもよい。相関光散乱データは、本明細書に記載された他の実施形態の方法で、過渡効果を除去して、マイクロレオロジー測定用に処理することも可能であろう。
)してもよい。モデルは、測定された時系列データ又は動的光散乱相関演算の出力等の処理データに当てはめ、そして除去してもよい。
このように、大径粒子からの散乱による信号を補正することにより、複数の光子計数検出器を要することなく、試料中に存在する小径粒子に関するより正確な情報をDLS測定値から抽出することができる。大径粒子挙動のモデルをデータに当てはめ、大径粒子の予測寄与分をデータから除くことは、測定された信号に大径粒子が影響を及ぼしている期間において、小径粒子データの少なくともかなりの部分が失われないため、非常に有利である。
代替的に、又は付加的に、大径粒子が散乱光に寄与しているときに取得された測定値がいずれであるかを判断することは、測定値が光強度のある閾値を超える期間を判断することを含んでもよい。
いくつかの実施形態において、サブランのうちのどれが大径粒子からの散乱寄与を有する測定値を含むかを判断することは、各サブランに対して相関を実行することを含んでもよい。
い。大径粒子により散乱される光を補正するように測定値の時系列を処理することは、大径粒子が散乱光に寄与しているとき(例えば、サブラン)に取得された測定値を除外することを含んでもよい。
でもよい。
この方法は、試料の特性評価をするために、少なくとも10、20、50、又は100のサブランを用いることを含んでもよい。
、平均化されたコレログラムから粒度分布が決定される。
にこのような動的基準を用いることは、この方法が、例えば多分散性の高い可変試料の場合のように、適切であれば、大径粒子からの散乱データを含むために、また、例えば多分散性が低い試料において不純物又は凝集体を拒否するように、適切であれば、大径粒子からの散乱を除外又は補正するために、十分なロバスト性を有し得ることを意味する。
前記光源は、光線と試料との相互作用により散乱光を生じさせるように、前記試料セル内の前記試料に前記光線を照射するよう動作可能であり、
前記検出器は、前記散乱光を検出して、測定値の時系列を生成するように構成され、
前記プロセッサは、
前記測定値の時系列を受信し、
単一の検出器からの前記測定値の時系列から、大径粒子が前記散乱光に寄与しているときに取得された測定値がいずれであるかを判断し、
前記大径粒子により散乱された光を補正することを含む、前記処理された測定値の時系列に対する動的光散乱相関演算を行うことにより、粒度分布を決定するように構成されている、
装置である。
前記光源は、光線と試料との相互作用により散乱光を生じさせるように、前記試料セル内の前記試料に前記光線を照射するよう動作可能であり、
前記検出器は、前記散乱光を検出して、測定値の時系列を生成するように構成され、
前記プロセッサは、
前記測定値の時系列を受信し、
前記検出器からの前記測定値の時系列から、大径粒子が前記散乱光に寄与しているときに取得された測定値がいずれであるかを判断し、
前記大径粒子により散乱された光を補正することを含む、前記処理された測定値の時系列から粒度分布を決定するように構成されている、
装置である。
各局面及び全ての局面の特徴は、各局面及び全ての局面の他の特徴と組み合わせてもよい。
光源102は、例えばレーザ等のコヒーレント光源であってもよく、単色光を出力してもよい。あるいは、光源102はLEDであってもよい。光源102は、試料セル104内の試料106に対し、光軸に沿って光線103を照射するように構成されている。
後方散乱光111は、光軸の方向に対して90度を超える角度で散乱される(すなわち、照射光線とは反対方向における方向成分を有する)光であると定義してもよい。
図2は、検出器114、プロセッサ130、及び出力装置132を示す。プロセッサ130は、検出器114から光強度測定値の時系列を受信し、測定値に対する相関演算を行って、動的光散乱により試料の粒子を特性評価するように構成されている。プロセッサ130は、機械読取り可能な記録媒体、例えばメモリ、ソリッドステートストレージドライブ、ハードディスク、クラウド等に測定値を保存してもよい。プロセッサ130は、その後、解析の結果を出力装置132に出力してもよく、出力装置132は表示画面を備えてもよい。
特定の時間窓内に大径粒子が存在することを識別する1つの方法は、全時系列データ(又はラン)を複数のより短い時間又はサブランに分割した後、各サブランに対して動的光散乱解析を行うことである。例えば、データ320が時間1秒の複数のサブランに分割され、DLS相関解析が各サブランのデータに対して行われた場合、どのサブランにおいて1つ又は複数の大径粒子が大量の光散乱に寄与しているのかを識別することは、容易であ
ろう(例えば、全散乱光の1%超、5%超又は10%超の場合、又は所定の閾値を超える粒径で、強度PSDが1%、5%又は10%を超える場合)。そうすれば、大径粒子からの大量の散乱を有するサブランは、測定値列から除外することができる。そして、残りの測定データを組合せ、その組み合わせた残りの測定データに基づいてDLS測定が行われてもよい。あるいは、大径粒子によるバックグラウンドのモデル(a model of the background)を、大径粒子からの大量の散乱を有する各サブラン内でデータに当てはめてもよ
い。そして、適合したモデルに基づいて算出された大径粒子による散乱信号の推定値は、サブラン内のデータから除外されてもよい。次に、残りの補正後のデータを、測定値列におけるその他のサブランからのデータと組み合わせ、組み合わせた補正後のデータ列に対してDLS測定を行ってもよい。
図5は、散乱光検出器から得られた経時的な光子計数率のグラフ350を示す。データには、スパイク351が存在し(図5においては、その全てが表示されているわけではない)、装置の測定ボリューム内に散乱性の高い粒子(すなわち不純物)が存在する期間に対応している。この不純物による寄与に対処する1つの方法は、不純物が光を散乱させているときのデータを拒否することである:つまり、スパイク351に対応する期間中のデータを除去することである。
サブランを拒否することである。この場合もやはり、閾値は、全サブランの集合体から算出されるZ平均値を参照して決定してもよい(例えば、全サブランのZ平均から3標準偏差を超える値を拒否する)。
超えるPdi値)において見られる。
、粒子の予想範囲を事前に特定することを使用者に求めない。
分子量測定等の用途のための静的光散乱において、関心の対象となるのは時間的特性ではなく測定された散乱強度の大きさであり、SLS測定も試料中のダストの影響を受けやすいことを意味する。
計数率トレースの特性のみならず、拒否の根拠となり得る他のパラメータは、スペクトル幅を有するドップラー信号を表すパラメータを含む。
サブランの数に対して)おいて、図16にプロット532されている。データ維持率は、
全サブラン数に対する拒否/分離されたサブランの率として定義されており、第1の2次y軸に対して(やはり5サブラン毎に決定される)プロット531されている。各データ点におけるZaverageの変化は、第2の2次y軸に対してプロット533されている。
ブラン6から10においては、更に多くのデータが除外され、報告されるZaverage は低めである。サブラン10より後は、粒径のよりモノモーダルな分布が検出され、結果として、拒否されるデータはより少なく、Zaverageは、モノモーダル粒子(関心の対象とな
る粒子である可能性が高い)のZaverageに収束し始める。Zaverageは45サブラン以内に1%未満に収束する。
可能であり、その結果、約30サブラン(45サブランではなく)の後に測定が終了する。
Claims (18)
- 試料中の粒子を特性評価する方法であって、
光線と前記試料との相互作用により散乱光を生じさせるように、試料セル内の前記試料に前記光線を照射することと、
単一の検出器から前記散乱光の測定値の時系列を取得することと、
前記単一の検出器からの前記測定値の時系列から、大径粒子が前記散乱光に寄与しているときに取得された測定値がいずれであるかを判断することであって、大径粒子が前記散乱光に寄与しているときに取得された測定値がいずれであるかを判断することは、前記時系列を複数の短いサブランに分割することと、各サブランに対して相関を実行することと、その後、前記サブランのうちのどれが大径粒子からの散乱寄与を有する測定値を含むかを判断することとを含む、前記単一の検出器からの前記測定値の時系列から、大径粒子が前記散乱光に寄与しているときに取得された測定値がいずれであるかを判断することと、
前記測定値の時系列から粒度分布を決定することであって、前記大径粒子により散乱された光の補正を含み、この補正は前記大径粒子が前記散乱光に寄与しているときに取得されたサブランを、除外するか、又は個別に解析することを含む、前記測定値の時系列から粒度分布を決定することと
を含む方法。 - 大径粒子により散乱された光の補正を含む、前記測定値の時系列から粒度分布を決定することは、大径粒子からの散乱光の寄与を含むものとして除外されていない各サブランを個別に解析し、その後、前記サブラン解析の平均を用いて前記粒度分布を決定することを更に含む、請求項1に記載の方法。
- 粒度分布を決定することは、前記測定値の時系列に対して動的光散乱相関演算を行うことを含む、請求項1又は2に記載の方法。
- 大径粒子が前記散乱光に寄与しているときに取得された測定値がいずれであるかを判断することは、前記測定値の時系列における10Hz未満の低周波変動であって、大径粒子に対応している低周波変動を検出及び/又は除去することを含む、先行するいずれかの請求項に記載の方法。
- 前記サブランのうちのどれが大径粒子からの散乱寄与を有する測定値を含むかを判断することは、各サブランに関するパラメータを評価し、前記パラメータを閾値と比較することを含む、先行するいずれかの請求項に記載の方法。
- 前記パラメータが、強度、多分散性指数、及びZ平均から選択される、請求項5に記載の方法。
- 前記閾値が、各サブランから算出された前記パラメータの値の分布から算出される、請求項5又は請求項6に記載の方法。
- 前記閾値が、前記パラメータの平均値及び前記パラメータの標準偏差から算出される、請求項7に記載の方法。
- 前記サブランのうちのどれが大径粒子からの散乱寄与を有する測定値を含むかを判断することは、
各サブランに関する粒度分布を動的光散乱によって決定することを含み、
前記大径粒子により散乱された光を補正するように前記測定値の時系列を処理することは、大径粒子が相関により特定された前記サブランにおいてのみ前記大径粒子により散乱
された光を補正することを含む、先行するいずれかの請求項に記載の方法。 - 各サブランが、5秒以下、2秒以下、又は1秒以下、0.5秒以下、又は0.1秒以下の継続時間を有する、先行するいずれかの請求項に記載の方法。
- 前記大径粒子が100nmを超える直径を有する、先行するいずれかの請求項に記載の方法。
- 大径粒子からの散乱寄与を識別するための基準が、前記散乱光の測定値の時系列から決定されたパラメータに基づく、先行するいずれかの請求項に記載の方法。
- 大径粒子からの散乱寄与を識別するための基準が、使用者により入力されたパラメータに基づく、先行するいずれかの請求項に記載の方法。
- 先行するいずれかの請求項に従って粒子を特性評価するための装置であって、前記装置は、光源と、試料セルと、検出器と、プロセッサとを備え、
前記光源は、光線と試料との相互作用により散乱光を生じさせるように、前記試料セル内の前記試料に前記光線を照射するよう動作可能であり、
前記検出器は、前記散乱光を検出して、測定値の時系列を生成するように構成され、
前記プロセッサは、
前記測定値の時系列を受信するように構成され、
単一の検出器からの前記測定値の時系列から、大径粒子が前記散乱光に寄与しているときに取得された測定値がいずれであるかを判断するように構成され、大径粒子が前記散乱光に寄与しているときに取得された測定値がいずれであるかを判断することは、前記時系列を複数の短いサブランに分割することと、各サブランに対して相関を実行することと、その後、前記サブランのうちのどれが大径粒子からの散乱寄与を有する測定値を含むかを判断することとを含み、
前記大径粒子により散乱された光を補正することを含む、前記測定値の時系列に対する動的光散乱相関演算を行うことにより、粒度分布を決定するように構成され、前記粒度分布を決定することは、
前記大径粒子が前記散乱光に寄与しているときに取得されたサブランを、除外するか、又は個別に解析することと、
大径粒子からの散乱光の寄与を含むものとして除外されていない各サブランを個別に解析し、その後、前記サブラン解析の平均を用いて前記粒度分布を決定することと、を含む、装置。 - 前記検出器が光子計数検出器を備える、請求項14に記載の装置。
- 前記検出器が後方散乱光を検出するように構成されている、請求項14又は15に記載の装置。
- 前記検出器と前記光源により照射される散乱ボリュームとの間に、光路を提供する光ファイバを更に備える、請求項14から16のいずれかに記載の装置。
- 前記散乱光を検出するように構成された複数の検出器を備える、請求項14から17のいずれかに記載の装置。
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WO (1) | WO2017051149A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7363984B1 (ja) | 2022-07-22 | 2023-10-18 | 栗田工業株式会社 | 凝集状態の判断方法及び凝集処理方法 |
WO2024018885A1 (ja) * | 2022-07-22 | 2024-01-25 | 栗田工業株式会社 | 凝集状態の判断方法及び凝集処理方法 |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11002655B2 (en) | 2015-09-23 | 2021-05-11 | Malvern Panalytical Limited | Cuvette carrier |
WO2017051149A1 (en) * | 2015-09-23 | 2017-03-30 | Malvern Instruments Limited | Particle characterisation |
JP6688205B2 (ja) | 2015-11-13 | 2020-04-28 | 株式会社堀場製作所 | 試料分析装置及び試料分析プログラム |
GB201604460D0 (en) | 2016-03-16 | 2016-04-27 | Malvern Instr Ltd | Dynamic light scattering |
EP3379232A1 (en) | 2017-03-23 | 2018-09-26 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation |
KR102321560B1 (ko) * | 2018-02-27 | 2021-11-03 | 파나소닉 아이피 매니지먼트 가부시키가이샤 | 입자 검출 센서 |
WO2019230624A1 (ja) * | 2018-06-01 | 2019-12-05 | 株式会社堀場製作所 | 粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定装置用プログラム |
WO2020011949A1 (en) * | 2018-07-13 | 2020-01-16 | Adolphe Merkle Institut, University Of Fribourg | Devices and methods for analyzing and filtering light scattering data from a sample potentially containing a non-target compound |
RU2702659C1 (ru) * | 2018-12-14 | 2019-10-09 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Ордена Трудового Красного Знамени Институт нефтехимического синтеза им. А.В. Топчиева Российской академии наук (ИНХС РАН) | Способ оценки стабильности железосодержащей дисперсии |
US10928297B2 (en) | 2019-01-09 | 2021-02-23 | University Of Washington | Method for determining detection angle of optical particle sizer |
SE543406C2 (en) * | 2019-05-15 | 2021-01-05 | Nanosized Sweden Ab | Water impurity measurements with dynamic light scattering |
KR102444102B1 (ko) | 2019-12-10 | 2022-09-15 | 주식회사 한화 | 뇌관의 등록 및 배치를 관리하는 장치 및 그 방법 |
US11692877B2 (en) * | 2020-07-22 | 2023-07-04 | Purdue Research Foundation | Method and system for axially-offset differential interference contrast correlation spectroscopy |
EP4266026A1 (en) * | 2020-12-17 | 2023-10-25 | HORIBA, Ltd. | Particle size distribution measurement device, particle size distribution measurement method, and program for particle size distribution measurement device |
CN116848394A (zh) | 2021-02-02 | 2023-10-03 | 富士胶片株式会社 | 动态光散射测定方法及动态光散射测定装置 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4473296A (en) * | 1978-05-03 | 1984-09-25 | Ppm, Inc. | System and method and apparatus for a continuous aerosol monitor (CAM) using electro-optical weighing for general aerosols |
JPH01503178A (ja) * | 1987-06-29 | 1989-10-26 | クールター エレクトロニクス オブ ニュー イングランド,インコーポレイテッド | 流体中に分散される粒子の粒子サイズ分布測定方法および装置 |
JP2007527997A (ja) * | 2004-03-06 | 2007-10-04 | マイケル トレイナー, | 粒子のサイズおよび形状を決定する方法および装置 |
JP2011523451A (ja) * | 2008-01-15 | 2011-08-11 | マルバーン インストゥルメンツ リミテッド | 同時検出を用いた光散乱測定 |
JP2013167588A (ja) * | 2012-02-16 | 2013-08-29 | Horiba Ltd | 粒子分析装置 |
JP2013167589A (ja) * | 2012-02-16 | 2013-08-29 | Horiba Ltd | 粒径分布測定装置 |
US8854621B1 (en) * | 2012-08-29 | 2014-10-07 | University Of South Florida | Systems and methods for determining nanoparticle dimensions |
Family Cites Families (76)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3621220A (en) * | 1969-08-29 | 1971-11-16 | Norman C Ford Jr | Scattered light measurement providing autocorrelation function |
US4074939A (en) | 1973-12-19 | 1978-02-21 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. | Apparatus for investigating fast chemical reactions by optical detection |
US4178917A (en) | 1979-01-03 | 1979-12-18 | Shapiro Howard M | Method and system for non-invasive detection of zinc protoporphyrin in erythrocytes |
US4710025A (en) | 1982-06-22 | 1987-12-01 | Wyatt Technology Company | Process for characterizing suspensions of small particles |
US4537861A (en) | 1983-02-03 | 1985-08-27 | Elings Virgil B | Apparatus and method for homogeneous immunoassay |
US4690561A (en) | 1985-01-18 | 1987-09-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Particle analyzing apparatus |
US4676641A (en) * | 1986-01-08 | 1987-06-30 | Coulter Electronics Of New England, Inc. | System for measuring the size distribution of particles dispersed in a fluid |
US5166052A (en) | 1986-05-27 | 1992-11-24 | Boris Cercek | Method for measuring polarization of bathochromically shifted fluorescence |
GB8705844D0 (en) | 1987-03-12 | 1987-04-15 | Secr Defence | Dynamic light scattering apparatus |
JPH02228069A (ja) | 1989-02-28 | 1990-09-11 | Omron Tateisi Electron Co | 受光素子アレイ |
JPH05172730A (ja) | 1991-12-25 | 1993-07-09 | Shimadzu Corp | 粒度分布測定装置 |
JP3294668B2 (ja) | 1993-04-30 | 2002-06-24 | 花王株式会社 | 粒子群の粒度検出方法および装置 |
US5576827A (en) * | 1994-04-15 | 1996-11-19 | Micromeritics Instrument Corporation | Apparatus and method for determining the size distribution of particles by light scattering |
IL114208A0 (en) | 1994-06-27 | 1995-10-31 | Merck & Co Inc | Combinations of compounds pharmaceutical compositions containing them and their use as hiv protease inhibitors |
FI98765C (fi) | 1995-01-16 | 1997-08-11 | Erkki Soini | Virtaussytometrinen menetelmä ja laite |
US6052184A (en) | 1996-11-13 | 2000-04-18 | The Administrators Of The Tulane Educational Fund | Miniature, submersible, versatile, light scattering probe for absolute equilibrium and non-equilibrium characterization of macromolecular and colloidal solutions |
DE19725211C1 (de) | 1997-06-15 | 1998-06-04 | Alv Laser Vertriebsgesellschaf | Faserdetektor zur Detektion des Streulichtes oder des Fluoreszenzlichtes einer flüssigen Suspension |
US5956139A (en) | 1997-08-04 | 1999-09-21 | Ohio Aerospace Institute | Cross-correlation method and apparatus for suppressing the effects of multiple scattering |
US6016193A (en) | 1998-06-23 | 2000-01-18 | Awareness Technology, Inc. | Cuvette holder for coagulation assay test |
US6509161B1 (en) | 2000-02-29 | 2003-01-21 | Gentronix Limited | Green fluorescent protein |
US6603546B1 (en) | 2000-07-21 | 2003-08-05 | I.S.S. (Usa) Inc. | Rapid high throughput spectrometer and method |
JP2002196222A (ja) | 2000-12-25 | 2002-07-12 | Nikon Corp | 面位置検出装置、露光装置 |
JP2002341173A (ja) | 2001-05-15 | 2002-11-27 | Namiki Precision Jewel Co Ltd | 微小レンズ付光ファイバアレイ及びその製造方法 |
EP1291642A1 (en) | 2001-09-05 | 2003-03-12 | Linde Medical Sensors AG | Sensor system comprising an integrated optical waveguide for the detection of chemical substances |
GB0122219D0 (en) | 2001-09-13 | 2001-11-07 | Gentronix Ltd | Toxicity monitoring |
US6794671B2 (en) | 2002-07-17 | 2004-09-21 | Particle Sizing Systems, Inc. | Sensors and methods for high-sensitivity optical particle counting and sizing |
JP3720799B2 (ja) | 2002-10-02 | 2005-11-30 | 神栄株式会社 | 花粉センサ |
CN1502981A (zh) * | 2002-11-20 | 2004-06-09 | 上海理工大学 | 基于动态光散射信号分形的颗粒测量方法及装置 |
US7138091B2 (en) | 2003-07-18 | 2006-11-21 | Dade Behring Inc. | Reaction cuvette having anti-wicking features for use in an automatic clinical analyzer |
ZA200601273B (en) | 2003-08-14 | 2007-09-26 | Cytonome Inc | Optical detector for a particle sorting system |
US7268881B2 (en) | 2004-02-17 | 2007-09-11 | The Curators Of The University Of Missouri | Light scattering detector |
US20140226158A1 (en) * | 2004-03-06 | 2014-08-14 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining particle characteristics |
US10620105B2 (en) | 2004-03-06 | 2020-04-14 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining characteristics of particles from scattered light |
US10955327B2 (en) | 2004-03-06 | 2021-03-23 | Michael Trainer | Method and apparatus for determining particle characteristics utilizing a plurality of beam splitting functions and correction of scattered light |
US10386283B2 (en) | 2004-03-06 | 2019-08-20 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining particle characteristics by utilizing force on particles |
US20080221814A1 (en) * | 2004-04-10 | 2008-09-11 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining particle characteristics by measuring scattered light |
JP4517145B2 (ja) | 2004-09-02 | 2010-08-04 | 国立大学法人北海道大学 | 光散乱装置、光散乱測定法、光散乱解析装置および光散乱測定解析法 |
DE102006005574B4 (de) * | 2006-02-06 | 2010-05-20 | Johann Wolfgang Goethe-Universität Frankfurt am Main | Meßvorrichtung zur Bestimmung der Größe, Größenverteilung und Menge von Partikeln im nanoskopischen Bereich |
US20070229823A1 (en) * | 2006-03-31 | 2007-10-04 | Intel Corporation | Determination of the number concentration and particle size distribution of nanoparticles using dark-field microscopy |
WO2007126389A1 (en) | 2006-05-02 | 2007-11-08 | Asensor Pte Ltd | Optical detector system for sample analysis having at least two different optical pathlengths |
JP2008039539A (ja) * | 2006-08-04 | 2008-02-21 | Shimadzu Corp | 光散乱検出装置 |
EP1906252A1 (en) | 2006-09-28 | 2008-04-02 | Carl Zeiss SMT AG | Instrument for measuring the angular distribution of light produced by an illumination system of a microlithographic projection exposure apparatus |
WO2008092272A1 (en) | 2007-02-02 | 2008-08-07 | Canadian Blood Services | Method of detecting bacterial contamination using dynamic light scattering |
JP5579606B2 (ja) | 2007-09-13 | 2014-08-27 | デユーク・ユニバーシテイ | 低コヒーレンス干渉法(lci)のための装置、システムおよび方法 |
CN101477023A (zh) * | 2008-01-02 | 2009-07-08 | 杨晖 | 基于动态光散射信号时间相干度的超细颗粒测量装置及方法 |
CN102037343B (zh) | 2008-06-12 | 2013-10-02 | 东卡莱罗纳大学 | 用于三维衍射成像的流式细胞仪系统及方法 |
US8493559B2 (en) | 2009-03-17 | 2013-07-23 | Trevor Harvard | Cuvette |
DE102009014080B4 (de) | 2009-03-23 | 2011-12-15 | Baumer Innotec Ag | Vorrichtung zum Bestimmen von Partikelgrössen |
JP5366728B2 (ja) | 2009-09-14 | 2013-12-11 | 北斗電子工業株式会社 | 液体中の粒子のサイズの検出方法および装置 |
DE102010005962B4 (de) | 2010-01-21 | 2012-01-26 | Alv-Laser Vertriebsgesellschaft Mbh | Verfahren zur Bestimmung der statischen und/oder dynamischen Lichtstreuung |
EP2365313B1 (en) | 2010-03-12 | 2015-08-26 | LS Instruments AG | Cross-correlation dynamic light scattering (DLS) method and system |
US8717562B2 (en) | 2010-08-23 | 2014-05-06 | Scattering Solutions, Inc. | Dynamic and depolarized dynamic light scattering colloid analyzer |
JP5662742B2 (ja) * | 2010-08-27 | 2015-02-04 | アイステーシス株式会社 | 粒径計測装置及び粒径計測方法 |
US8729502B1 (en) | 2010-10-28 | 2014-05-20 | The Research Foundation For The State University Of New York | Simultaneous, single-detector fluorescence detection of multiple analytes with frequency-specific lock-in detection |
CN103348235B (zh) | 2011-02-10 | 2015-06-03 | 株式会社日立高新技术 | 异物检测装置和异物检测方法 |
US10359361B2 (en) | 2011-02-18 | 2019-07-23 | The General Hospital Corporation | Laser speckle micro-rheology in characterization of biomechanical properties of tissues |
CN202275041U (zh) * | 2011-03-17 | 2012-06-13 | 上海理工大学 | 同时测量多颗粒的动态光散射纳米颗粒粒度的装置 |
EP2721399B1 (en) | 2011-06-15 | 2017-04-19 | Malvern Instruments Limited | Surface charge measurement |
GB2493391B (en) | 2011-08-05 | 2015-09-16 | Malvern Instr Ltd | Optical detection and analysis of particles |
CN202453283U (zh) | 2011-12-27 | 2012-09-26 | 江西科技师范学院 | 一种比色皿支撑架 |
RU2015101834A (ru) * | 2012-06-22 | 2016-08-10 | Малверн Инструментс Лимитед | Определение характеристик гетерогенных флюидных проб |
EP2698624A1 (de) | 2012-08-16 | 2014-02-19 | Siemens Healthcare Diagnostics Products GmbH | Reaktionsgefäß |
RU2525605C2 (ru) | 2012-10-26 | 2014-08-20 | Вячеслав Геннадьевич Певгов | Способ и устройство для оптического измерения распределения размеров и концентраций дисперсных частиц в жидкостях и газах с использованием одноэлементных и матричных фотоприемников лазерного излучения |
EP2869054A1 (en) | 2013-11-05 | 2015-05-06 | Malvern Instruments Limited | Improvements relating to particle characterisation |
GB201516851D0 (en) | 2015-09-23 | 2015-11-04 | Malvern Instr Ltd | Cuvette carrier |
WO2017051149A1 (en) | 2015-09-23 | 2017-03-30 | Malvern Instruments Limited | Particle characterisation |
US11002655B2 (en) | 2015-09-23 | 2021-05-11 | Malvern Panalytical Limited | Cuvette carrier |
CN108291863B (zh) | 2015-10-02 | 2020-07-03 | 国家光学研究所 | 用于使用光散射技术进行个体颗粒尺寸测量的系统和方法 |
US10119910B2 (en) | 2015-10-09 | 2018-11-06 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation instrument |
FR3048240B1 (fr) | 2016-02-29 | 2018-04-13 | Cordouan Tech | Dispositif de caracterisation de particules dispersees dans un milieu liquide |
GB201604460D0 (en) | 2016-03-16 | 2016-04-27 | Malvern Instr Ltd | Dynamic light scattering |
US10365198B2 (en) | 2016-04-21 | 2019-07-30 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterization |
US10113945B2 (en) | 2016-05-10 | 2018-10-30 | Microtrac Inc. | Method and apparatus for combining measurements of particle characteristics using light scattering and optical imaging |
EP3309536A1 (en) | 2016-10-11 | 2018-04-18 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation instrument |
DE102017001439A1 (de) | 2017-02-15 | 2018-08-16 | Paragon Ag | Partikelmessvorrichtung zur Bestimmung der Partikelmassenkonzentration in Aerosolen mit unterschiedlichen Eigenschaften und Verfahren zur Bestimmung der Partikelmassenkonzentration in Aerosolen mit unterschiedlichen Eigenschaften |
EP3379232A1 (en) | 2017-03-23 | 2018-09-26 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation |
-
2016
- 2016-09-09 WO PCT/GB2016/052786 patent/WO2017051149A1/en active Application Filing
- 2016-09-09 EP EP22216012.9A patent/EP4215900A1/en active Pending
- 2016-09-09 CN CN201680068213.5A patent/CN108291861B/zh active Active
- 2016-09-09 EP EP16766597.5A patent/EP3353527B1/en active Active
- 2016-09-09 US US15/762,422 patent/US10197485B2/en active Active
- 2016-09-09 JP JP2018535260A patent/JP6936229B2/ja active Active
-
2019
- 2019-02-04 US US16/266,230 patent/US10520412B2/en active Active
- 2019-05-17 US US16/414,961 patent/US10845287B2/en active Active
-
2020
- 2020-11-23 US US17/102,038 patent/US11435275B2/en active Active
-
2021
- 2021-08-26 JP JP2021138117A patent/JP7361079B2/ja active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4473296A (en) * | 1978-05-03 | 1984-09-25 | Ppm, Inc. | System and method and apparatus for a continuous aerosol monitor (CAM) using electro-optical weighing for general aerosols |
JPH01503178A (ja) * | 1987-06-29 | 1989-10-26 | クールター エレクトロニクス オブ ニュー イングランド,インコーポレイテッド | 流体中に分散される粒子の粒子サイズ分布測定方法および装置 |
JP2007527997A (ja) * | 2004-03-06 | 2007-10-04 | マイケル トレイナー, | 粒子のサイズおよび形状を決定する方法および装置 |
JP2011523451A (ja) * | 2008-01-15 | 2011-08-11 | マルバーン インストゥルメンツ リミテッド | 同時検出を用いた光散乱測定 |
JP2013167588A (ja) * | 2012-02-16 | 2013-08-29 | Horiba Ltd | 粒子分析装置 |
JP2013167589A (ja) * | 2012-02-16 | 2013-08-29 | Horiba Ltd | 粒径分布測定装置 |
US8854621B1 (en) * | 2012-08-29 | 2014-10-07 | University Of South Florida | Systems and methods for determining nanoparticle dimensions |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
山口哲司: "シングルナノ粒子の粒径測定のための光子相関装置の開発", J. SOC. POWDER TECHNOL., vol. 42, JPN6022042164, 2005, pages 11 - 16, ISSN: 0005082504 * |
高野正雄: "粉体粒度分布測定技術", 日本画像学会誌, vol. 第46巻第6号, JPN6022042165, 2007, pages 459 - 464, ISSN: 0005082503 * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7363984B1 (ja) | 2022-07-22 | 2023-10-18 | 栗田工業株式会社 | 凝集状態の判断方法及び凝集処理方法 |
WO2024018884A1 (ja) * | 2022-07-22 | 2024-01-25 | 栗田工業株式会社 | 凝集状態の判断方法及び凝集処理方法 |
WO2024018885A1 (ja) * | 2022-07-22 | 2024-01-25 | 栗田工業株式会社 | 凝集状態の判断方法及び凝集処理方法 |
JP7452583B2 (ja) | 2022-07-22 | 2024-03-19 | 栗田工業株式会社 | 凝集状態の判断方法及び凝集処理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6936229B2 (ja) | 2021-09-15 |
US11435275B2 (en) | 2022-09-06 |
WO2017051149A1 (en) | 2017-03-30 |
EP3353527B1 (en) | 2022-12-28 |
US20210208047A1 (en) | 2021-07-08 |
JP7361079B2 (ja) | 2023-10-13 |
US10197485B2 (en) | 2019-02-05 |
JP2018535429A (ja) | 2018-11-29 |
US20190242805A1 (en) | 2019-08-08 |
US20180266931A1 (en) | 2018-09-20 |
EP3353527A1 (en) | 2018-08-01 |
US20190317002A1 (en) | 2019-10-17 |
EP4215900A1 (en) | 2023-07-26 |
US10845287B2 (en) | 2020-11-24 |
CN108291861A (zh) | 2018-07-17 |
CN108291861B (zh) | 2021-10-12 |
US10520412B2 (en) | 2019-12-31 |
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---|---|---|
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