JP3294668B2 - 粒子群の粒度検出方法および装置 - Google Patents
粒子群の粒度検出方法および装置Info
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、粒子群の粒度検出方法
および装置に関し、例えば、粒状の薬品や食品等の製造
工程においてその粒度を検出するのに利用できる。
および装置に関し、例えば、粒状の薬品や食品等の製造
工程においてその粒度を検出するのに利用できる。
【０００２】
【従来の技術】プローブへの粒子群の衝突圧に基づいて
粒子群の粒度を検知したり、粒子群と衝突したプローブ
の振幅や振動数に基づいて粒子群の粒度を検知すること
が提案されている（特開昭６３−２３２８１号公報、特
公昭５７−１２４５７号公報参照）。また、測定対象粒
子群を透明な平板間の微小隙間において媒液中に分散さ
せ、その懸濁液にレーザ光を照射し、その透明な平板を
透過したレーザ光の強度を検出する受光素子を設け、そ
の粒子の粒度に応じ回折されるレーザ光の受光強度分布
から粒子群の粒度を検知するレーザ光回折を利用する方
法が提案されている（特開昭６３−２６９０４２号公報
参照）。
粒子群の粒度を検知したり、粒子群と衝突したプローブ
の振幅や振動数に基づいて粒子群の粒度を検知すること
が提案されている（特開昭６３−２３２８１号公報、特
公昭５７−１２４５７号公報参照）。また、測定対象粒
子群を透明な平板間の微小隙間において媒液中に分散さ
せ、その懸濁液にレーザ光を照射し、その透明な平板を
透過したレーザ光の強度を検出する受光素子を設け、そ
の粒子の粒度に応じ回折されるレーザ光の受光強度分布
から粒子群の粒度を検知するレーザ光回折を利用する方
法が提案されている（特開昭６３−２６９０４２号公報
参照）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】プローブに粒子群を衝
突させて粒子群の粒度を間接的に検出する従来技術で
は、そのプローブに粒子等が付着すると正確な検出がで
きなくなる。また、上記レーザ光回折を利用する方法で
は、測定対象粒子群を透明な平板間の微小隙間において
媒液中に分散させることが必要であり、また、媒液中で
の粒子の分散濃度を適正値に制御する必要があり、場合
によっては粒子が媒液中に溶けないように有機溶媒が必
要になったり均一に分散させる為に分散剤が必要にな
り、検出作業が非常に煩雑になるという問題がある。
突させて粒子群の粒度を間接的に検出する従来技術で
は、そのプローブに粒子等が付着すると正確な検出がで
きなくなる。また、上記レーザ光回折を利用する方法で
は、測定対象粒子群を透明な平板間の微小隙間において
媒液中に分散させることが必要であり、また、媒液中で
の粒子の分散濃度を適正値に制御する必要があり、場合
によっては粒子が媒液中に溶けないように有機溶媒が必
要になったり均一に分散させる為に分散剤が必要にな
り、検出作業が非常に煩雑になるという問題がある。
【０００４】本発明は、上記従来の問題を解決すること
のできる粒子群の粒度検出方法および装置を提供するこ
とを目的とする。
のできる粒子群の粒度検出方法および装置を提供するこ
とを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明による粒子群の粒
度検出方法は、造粒機内において攪拌羽根によって攪拌
されることで流動する粒子群に単色光を照射し、その粒
子群により散乱された光の強度を時系列に検出し、その
散乱光強度の時系列データから粒子群の粒度と相関関係
を有する統計値を演算し、その統計値から粒子群の粒度
を求めるものである。その粒子群の粒度と相関関係を有
する統計値が、散乱光強度の時系列データの確率密度関
数の最大値あるいは散乱光強度の時系列データの確率密
度関数の半値幅であるのが好ましい。
度検出方法は、造粒機内において攪拌羽根によって攪拌
されることで流動する粒子群に単色光を照射し、その粒
子群により散乱された光の強度を時系列に検出し、その
散乱光強度の時系列データから粒子群の粒度と相関関係
を有する統計値を演算し、その統計値から粒子群の粒度
を求めるものである。その粒子群の粒度と相関関係を有
する統計値が、散乱光強度の時系列データの確率密度関
数の最大値あるいは散乱光強度の時系列データの確率密
度関数の半値幅であるのが好ましい。
【０００６】本発明による粒子群の粒度検出装置は、造
粒機内において攪拌羽根によって攪拌されることで流動
する粒子群に単色光を照射する手段と、その粒子群によ
り散乱された光の強度を検出する手段と、その散乱光強
度の時系列データから粒子群の粒度と相関関係を有する
統計値を演算する手段とを備える。その照射手段はレー
ザビームを照射するレーザ光発生装置が好ましく、その
検出手段はレーザ光の強度を検出する受光素子が好まし
く、その演算手段は受光素子により検出されたアナログ
データをデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器と、そ
の散乱光強度の時系列のデジタルデータから粒子群の粒
度と相関関係を有する統計値を演算する演算装置とから
構成するのが好ましい。
粒機内において攪拌羽根によって攪拌されることで流動
する粒子群に単色光を照射する手段と、その粒子群によ
り散乱された光の強度を検出する手段と、その散乱光強
度の時系列データから粒子群の粒度と相関関係を有する
統計値を演算する手段とを備える。その照射手段はレー
ザビームを照射するレーザ光発生装置が好ましく、その
検出手段はレーザ光の強度を検出する受光素子が好まし
く、その演算手段は受光素子により検出されたアナログ
データをデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器と、そ
の散乱光強度の時系列のデジタルデータから粒子群の粒
度と相関関係を有する統計値を演算する演算装置とから
構成するのが好ましい。
【０００７】
【作用】本発明は、造粒機内において攪拌羽根によって
攪拌されることで流動する粒子群に照射された単色光の
散乱光強度の時系列データの分布は、粒子群の粒度と相
関関係を有することに基づくものである。よって、流動
する粒子群に照射された単色光の散乱光強度の時系列デ
ータから、粒子群の粒度と相関関係を有する統計値を得
て、その統計値から粒子群の粒度を求めることができ
る。その統計値としては、散乱光強度の時系列データの
確率密度関数の最大値や散乱光強度の時系列データの確
率密度関数の半値幅を用いることができる。
攪拌されることで流動する粒子群に照射された単色光の
散乱光強度の時系列データの分布は、粒子群の粒度と相
関関係を有することに基づくものである。よって、流動
する粒子群に照射された単色光の散乱光強度の時系列デ
ータから、粒子群の粒度と相関関係を有する統計値を得
て、その統計値から粒子群の粒度を求めることができ
る。その統計値としては、散乱光強度の時系列データの
確率密度関数の最大値や散乱光強度の時系列データの確
率密度関数の半値幅を用いることができる。
【０００８】図７〜図１０に、造粒機に無機粉体とバイ
ンダーとを供給して造粒した場合におけるその統計値と
粒子群の粒度との関係を示す。図７は、その統計値を散
乱光強度の出力振幅の時系列データの確率密度関数の最
大値を用いて表し、粒子群の粒度を粒子群の平均粒径を
用いて表した場合であって、その確率密度関数の最大値
が大きい程に粒子群の平均粒径が大きく造粒が進行して
いるのが確認できる。図８は、その統計値を散乱光強度
の出力振幅の時系列データの確率密度関数の最大値を用
いて表し、粒子群の粒度を粒子群の嵩密度を用いて表し
た場合であって、その確率密度関数の最大値が大きい程
に粒子群の嵩密度が大きく造粒が進行しているのが確認
できる。図９は、その統計値を散乱光強度の出力振幅の
時系列データの確率密度関数の半値幅を用いて表し、粒
子群の粒度を粒子群の平均粒径を用いて表した場合であ
って、その確率密度関数の半値幅が小さい程に粒子群の
平均粒径が大きく造粒が進行しているのが確認できる。
図１０は、その統計値を散乱光強度の出力振幅の時系列
データの確率密度関数の半値幅を用いて表し、粒子群の
粒度を粒子群の嵩密度を用いて表した場合であって、そ
の確率密度関数の半値幅が小さい程に粒子群の平均粒径
が大きく造粒が進行しているのが認められる。
ンダーとを供給して造粒した場合におけるその統計値と
粒子群の粒度との関係を示す。図７は、その統計値を散
乱光強度の出力振幅の時系列データの確率密度関数の最
大値を用いて表し、粒子群の粒度を粒子群の平均粒径を
用いて表した場合であって、その確率密度関数の最大値
が大きい程に粒子群の平均粒径が大きく造粒が進行して
いるのが確認できる。図８は、その統計値を散乱光強度
の出力振幅の時系列データの確率密度関数の最大値を用
いて表し、粒子群の粒度を粒子群の嵩密度を用いて表し
た場合であって、その確率密度関数の最大値が大きい程
に粒子群の嵩密度が大きく造粒が進行しているのが確認
できる。図９は、その統計値を散乱光強度の出力振幅の
時系列データの確率密度関数の半値幅を用いて表し、粒
子群の粒度を粒子群の平均粒径を用いて表した場合であ
って、その確率密度関数の半値幅が小さい程に粒子群の
平均粒径が大きく造粒が進行しているのが確認できる。
図１０は、その統計値を散乱光強度の出力振幅の時系列
データの確率密度関数の半値幅を用いて表し、粒子群の
粒度を粒子群の嵩密度を用いて表した場合であって、そ
の確率密度関数の半値幅が小さい程に粒子群の平均粒径
が大きく造粒が進行しているのが認められる。
【０００９】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例につい
て説明する。
て説明する。
【００１０】図１に示す造粒機２は、粉体とバインダー
とを攪拌して造粒し粒子群とするものであって、軸心横
向きの円筒状容器３と、この容器に内蔵された攪拌羽根
６と、この攪拌羽根６を回転駆動する電動機７とを備
え、その容器３の一端側上部に粉末の投入口４が設けら
れ、他端側下部に造粒された粒子群の排出口５が設けら
れている。
とを攪拌して造粒し粒子群とするものであって、軸心横
向きの円筒状容器３と、この容器に内蔵された攪拌羽根
６と、この攪拌羽根６を回転駆動する電動機７とを備
え、その容器３の一端側上部に粉末の投入口４が設けら
れ、他端側下部に造粒された粒子群の排出口５が設けら
れている。
【００１１】その造粒機２により造粒される粒子群の粒
度を適正な範囲にするため、その粒子群の粒度を検出す
る検出装置１が設けられている。すなわち、その容器３
の上部に開口３ａが設けられ、この開口３ａ内に発光器
８と受光器９とが配置されている。その発光器８は光フ
ァイバーケーブル１１を介しヘリウム‐ネオンレーザ等
のレーザ発生装置１０に接続され、その受光器９は光フ
ァイバーケーブル１２を介し受光素子１３に接続されて
いる。これにより、前記攪拌羽根６によって攪拌される
ことで流動する粒子群に、その発光器８から単色光であ
るレーザビームが照射される。そのレーザビームは容器
３内の粒子群により散乱され、その散乱光の一部は受光
器９から光ファイバーケーブル１２を介し受光素子１３
に導かれ、その受光素子１３により散乱光の強度に応じ
たアナログ電気信号に変換される。その発光器８と受光
器９とは、図２に示すようなハウジング３０に覆われ、
そのハウジング３０の先端に一点鎖線で示すレーザビー
ムＬの照射口と破線で示す散乱光Ｒの入射口とが形成さ
れている。また、そのハウジング３０を覆うガイドチュ
ーブ３１が設けられ、そのハウジング３０とガイドチュ
ーブ３１との間から図中矢印Ａで示すようにパージエア
が噴出され、その照射口と入射口が粉体により覆われる
のが防止されている。図３に示すように、そのレーザビ
ームＬの幅は造粒される粒子Ｋの目標とする平均粒径に
可及的に一致させるように設定するのが好ましい。これ
は、粒子の粒度に対しレーザビームＬの幅が過大でビー
ム幅内に複数の粒子が位置したり、粒子の粒度に比べビ
ーム幅が小さ過ぎる場合は、その散乱光強度の時系列デ
ータの分布と粒子群の粒度との相関関係が弱くなるため
である。そのため、レーザビームＬの幅を変更調節する
手段を設けるのが好ましい。
度を適正な範囲にするため、その粒子群の粒度を検出す
る検出装置１が設けられている。すなわち、その容器３
の上部に開口３ａが設けられ、この開口３ａ内に発光器
８と受光器９とが配置されている。その発光器８は光フ
ァイバーケーブル１１を介しヘリウム‐ネオンレーザ等
のレーザ発生装置１０に接続され、その受光器９は光フ
ァイバーケーブル１２を介し受光素子１３に接続されて
いる。これにより、前記攪拌羽根６によって攪拌される
ことで流動する粒子群に、その発光器８から単色光であ
るレーザビームが照射される。そのレーザビームは容器
３内の粒子群により散乱され、その散乱光の一部は受光
器９から光ファイバーケーブル１２を介し受光素子１３
に導かれ、その受光素子１３により散乱光の強度に応じ
たアナログ電気信号に変換される。その発光器８と受光
器９とは、図２に示すようなハウジング３０に覆われ、
そのハウジング３０の先端に一点鎖線で示すレーザビー
ムＬの照射口と破線で示す散乱光Ｒの入射口とが形成さ
れている。また、そのハウジング３０を覆うガイドチュ
ーブ３１が設けられ、そのハウジング３０とガイドチュ
ーブ３１との間から図中矢印Ａで示すようにパージエア
が噴出され、その照射口と入射口が粉体により覆われる
のが防止されている。図３に示すように、そのレーザビ
ームＬの幅は造粒される粒子Ｋの目標とする平均粒径に
可及的に一致させるように設定するのが好ましい。これ
は、粒子の粒度に対しレーザビームＬの幅が過大でビー
ム幅内に複数の粒子が位置したり、粒子の粒度に比べビ
ーム幅が小さ過ぎる場合は、その散乱光強度の時系列デ
ータの分布と粒子群の粒度との相関関係が弱くなるため
である。そのため、レーザビームＬの幅を変更調節する
手段を設けるのが好ましい。
【００１２】その受光素子１３は増幅器１４に接続さ
れ、その増幅器１４はローパスフィルタ１５に接続さ
れ、そのローパスフィルタ１５はＡ／Ｄコンバータ１６
に接続され、そのＡ／Ｄコンバータ１６は演算装置１７
に接続され、その演算装置１７に外部記憶装置等のデー
タ記録装置１８とＣＲＴやプリンター等の表示装置１９
と演算装置１７に演算の開始等を指示するためのキーボ
ード等の入力装置２０が接続されている。
れ、その増幅器１４はローパスフィルタ１５に接続さ
れ、そのローパスフィルタ１５はＡ／Ｄコンバータ１６
に接続され、そのＡ／Ｄコンバータ１６は演算装置１７
に接続され、その演算装置１７に外部記憶装置等のデー
タ記録装置１８とＣＲＴやプリンター等の表示装置１９
と演算装置１７に演算の開始等を指示するためのキーボ
ード等の入力装置２０が接続されている。
【００１３】その増幅器１４は、散乱光の強度に応じた
アナログ電気信号を増幅する。そのローパスフィルタ１
５は、その増幅された信号の高周波のノイズ成分すなわ
ち電気的なノイズや粒子中に混在する微小な塵等による
ノイズを除去する。図４は、そのローパスフィルタ１５
を通過した散乱光の強度に応じたアナログ電気信号の出
力振幅Ｓと時間ｔとの関係を示す。なお、振幅Ｓがマイ
ナス値になる部分があるのは受光素子１３のヒステリシ
スによる。そのＡ／Ｄコンバータ１６は、ローパスフィ
ルタ１５を通過した散乱光の強度に応じたアナログ電気
信号を微小時間間隔でサンプリングしてデジタルデータ
に変換する。その演算装置１７は、入出力インタフェイ
スと中央処理装置と記憶装置とを有するコンピュータに
より構成され、その散乱光強度に対応する出力振幅の時
系列のデジタルデータから粒子群の粒度と相関関係を有
する統計値を演算する。その統計値として、例えば図５
に示す振幅Ｓの確率密度関数Ｐ（Ｓ）の最大値Ｐｍａｘ
や半値幅（ＳＨ−ＳＬ）等が用いられる。その演算結果
はデータ記録装置１８に記録されると共に表示装置１９
に表示される。
アナログ電気信号を増幅する。そのローパスフィルタ１
５は、その増幅された信号の高周波のノイズ成分すなわ
ち電気的なノイズや粒子中に混在する微小な塵等による
ノイズを除去する。図４は、そのローパスフィルタ１５
を通過した散乱光の強度に応じたアナログ電気信号の出
力振幅Ｓと時間ｔとの関係を示す。なお、振幅Ｓがマイ
ナス値になる部分があるのは受光素子１３のヒステリシ
スによる。そのＡ／Ｄコンバータ１６は、ローパスフィ
ルタ１５を通過した散乱光の強度に応じたアナログ電気
信号を微小時間間隔でサンプリングしてデジタルデータ
に変換する。その演算装置１７は、入出力インタフェイ
スと中央処理装置と記憶装置とを有するコンピュータに
より構成され、その散乱光強度に対応する出力振幅の時
系列のデジタルデータから粒子群の粒度と相関関係を有
する統計値を演算する。その統計値として、例えば図５
に示す振幅Ｓの確率密度関数Ｐ（Ｓ）の最大値Ｐｍａｘ
や半値幅（ＳＨ−ＳＬ）等が用いられる。その演算結果
はデータ記録装置１８に記録されると共に表示装置１９
に表示される。
【００１４】上記検出装置１による粒子群の粒度の検出
手順を図６に示すフローチャートに基づき説明する。ま
ず、造粒機２の容器３内で流動する粒子群にレーザ装置
１０から発光器８を介しレーザビームを照射する（ステ
ップ１）。その粒子群により散乱されたレーザビームの
強度を受光器９を介し受光素子１３により時系列に検出
する（ステップ２）。その検出した散乱光強度の出力振
幅のアナログ電気信号を増幅器１４により増幅する（ス
テップ３）。その増幅された信号の高周波のノイズ成分
をローパスフィルタ１５により除去する（ステップ
４）。そのローパスフィルタ１５を通過した散乱光の強
度に応じたアナログ電気信号をＡ／Ｄコンバータ１６に
より微小時間間隔でサンプリングし、散乱光の強度に応
じた多数のデジタルデータから成るデジタル電気信号に
変換する（ステップ５）。そのデジタルデータから粒子
群の粒度と相関関係を有する統計値を演算する（ステッ
プ６）。例えば、その統計値として散乱光強度に対応す
る振幅Ｓの確率密度関数Ｐ（Ｓ）の最大値Ｐｍａｘを用
いる場合は、一定時間Ｔ内に得られる振幅Ｓに対応する
デジタルデータを、演算装置１７の記憶装置における散
乱光強度に対応したアドレスのデータ格納領域に格納
し、各散乱光強度毎のデータ数を求め、各散乱光強度毎
のデータ数を一定時間Ｔ内に得られる全データ数で割る
ことで確率密度関数Ｐ（Ｓ）の関数値を求め、しかる後
にその最大値Ｐｍａｘを求める。また、その統計値とし
て散乱光強度に対応する振幅Ｓの確率密度関数Ｐ（Ｓ）
の半値幅（ＳＨ−ＳＬ）を用いる場合は、その確率密度
関数Ｐ（Ｓ）の最大値Ｐｍａｘの半値Ｐ1/2 を求め、そ
の半値Ｐ1/2 に対応する振幅の差である半値幅（ＳＨ−
ＳＬ）を求める。しかる後に、その統計値をデータ記録
装置１８に記録すると共に表示装置１９に表示する（ス
テップ７）。その表示内容は、例えば前記図７〜図１０
に示すものになり、この表示を参考に造粒工程における
品質管理を行なうことができる。例えば、図７において
破線で示す平均粒径の範囲が品質管理上の上下限である
とすれば、確率密度関数の最大値がその上下限に対応す
る値に入った時点を造粒終点とすればよい。
手順を図６に示すフローチャートに基づき説明する。ま
ず、造粒機２の容器３内で流動する粒子群にレーザ装置
１０から発光器８を介しレーザビームを照射する（ステ
ップ１）。その粒子群により散乱されたレーザビームの
強度を受光器９を介し受光素子１３により時系列に検出
する（ステップ２）。その検出した散乱光強度の出力振
幅のアナログ電気信号を増幅器１４により増幅する（ス
テップ３）。その増幅された信号の高周波のノイズ成分
をローパスフィルタ１５により除去する（ステップ
４）。そのローパスフィルタ１５を通過した散乱光の強
度に応じたアナログ電気信号をＡ／Ｄコンバータ１６に
より微小時間間隔でサンプリングし、散乱光の強度に応
じた多数のデジタルデータから成るデジタル電気信号に
変換する（ステップ５）。そのデジタルデータから粒子
群の粒度と相関関係を有する統計値を演算する（ステッ
プ６）。例えば、その統計値として散乱光強度に対応す
る振幅Ｓの確率密度関数Ｐ（Ｓ）の最大値Ｐｍａｘを用
いる場合は、一定時間Ｔ内に得られる振幅Ｓに対応する
デジタルデータを、演算装置１７の記憶装置における散
乱光強度に対応したアドレスのデータ格納領域に格納
し、各散乱光強度毎のデータ数を求め、各散乱光強度毎
のデータ数を一定時間Ｔ内に得られる全データ数で割る
ことで確率密度関数Ｐ（Ｓ）の関数値を求め、しかる後
にその最大値Ｐｍａｘを求める。また、その統計値とし
て散乱光強度に対応する振幅Ｓの確率密度関数Ｐ（Ｓ）
の半値幅（ＳＨ−ＳＬ）を用いる場合は、その確率密度
関数Ｐ（Ｓ）の最大値Ｐｍａｘの半値Ｐ1/2 を求め、そ
の半値Ｐ1/2 に対応する振幅の差である半値幅（ＳＨ−
ＳＬ）を求める。しかる後に、その統計値をデータ記録
装置１８に記録すると共に表示装置１９に表示する（ス
テップ７）。その表示内容は、例えば前記図７〜図１０
に示すものになり、この表示を参考に造粒工程における
品質管理を行なうことができる。例えば、図７において
破線で示す平均粒径の範囲が品質管理上の上下限である
とすれば、確率密度関数の最大値がその上下限に対応す
る値に入った時点を造粒終点とすればよい。
【００１５】なお、本発明は上記実施例に限定されな
い。例えば、粒子群の粒度と相関関係を有する統計値と
して、散乱光強度の時系列データの確率密度関数の最大
値や半値幅の時系列平均を用いてもよい。すなわち、一
定時間ｔ１〜ｔ２の間においてサンプリングされたデー
タを用いて上記同様に確率密度関数の最大値や半値幅を
求め、次に一定時間ｔ１＋Δｔ〜ｔ２＋Δｔの間におい
てサンプリングされたデータを用いて上記同様に確率密
度関数の最大値や半値幅を求め、次に一定時間ｔ１＋２
・Δｔ〜ｔ２＋２・Δｔの間においてサンプリングされ
たデータを用いて上記同様に確率密度関数の最大値や半
値幅を求め、これを繰り返すことで得られた確率密度関
数の最大値や半値幅の平均値を求め、それを統計値とし
て用いる。
い。例えば、粒子群の粒度と相関関係を有する統計値と
して、散乱光強度の時系列データの確率密度関数の最大
値や半値幅の時系列平均を用いてもよい。すなわち、一
定時間ｔ１〜ｔ２の間においてサンプリングされたデー
タを用いて上記同様に確率密度関数の最大値や半値幅を
求め、次に一定時間ｔ１＋Δｔ〜ｔ２＋Δｔの間におい
てサンプリングされたデータを用いて上記同様に確率密
度関数の最大値や半値幅を求め、次に一定時間ｔ１＋２
・Δｔ〜ｔ２＋２・Δｔの間においてサンプリングされ
たデータを用いて上記同様に確率密度関数の最大値や半
値幅を求め、これを繰り返すことで得られた確率密度関
数の最大値や半値幅の平均値を求め、それを統計値とし
て用いる。
【００１６】
【発明の効果】本発明によれば、造粒機内において攪拌
羽根によって攪拌されることで流動する粒子群の粒度を
直接的に非接触で検出することができ、その検出を正確
かつ簡便に行なうことができる。
羽根によって攪拌されることで流動する粒子群の粒度を
直接的に非接触で検出することができ、その検出を正確
かつ簡便に行なうことができる。
【図１】本発明の実施例の粒度検出装置の構成説明図
【図２】本発明の実施例の粒度検出用受発光器の構成説
明図
明図
【図３】本発明の実施例の作用説明図（図２のＩＩＩ部
分拡大図）
分拡大図）
【図４】本発明の実施例の粒度検出装置における散乱光
強度に応じた出力振幅と時間との関係を示す図
強度に応じた出力振幅と時間との関係を示す図
【図５】本発明の実施例の粒度検出装置における散乱光
強度に応じた出力振幅と確率密度関数値との関係を示す
図
強度に応じた出力振幅と確率密度関数値との関係を示す
図
【図６】本発明の実施例の粒度検出装置による検出工程
を示すフローチャート
を示すフローチャート
【図７】散乱光強度に応じた確率密度関数の最大値と平
均粒径との関係を示す図
均粒径との関係を示す図
【図８】散乱光強度に応じた確率密度関数の最大値と嵩
密度との関係を示す図
密度との関係を示す図
【図９】散乱光強度に応じた確率密度関数の半値幅と平
均粒径との関係を示す図
均粒径との関係を示す図
【図１０】散乱光強度に応じた確率密度関数の半値幅と
嵩密度との関係を示す図
嵩密度との関係を示す図
１０ レーザ光発生装置 １３ 受光素子 １６ Ａ／Ｄコンバータ １７ 演算装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 15/02 B01J 2/00
Claims (5)
- 【請求項１】造粒機内において攪拌羽根によって攪拌さ
れることで流動する粒子群に単色光を照射し、その粒子
群により散乱された光の強度を時系列に検出し、その散
乱光強度の時系列データから粒子群の粒度と相関関係を
有する統計値を演算し、その統計値から粒子群の粒度を
求める粒子群の粒度検出方法。 - 【請求項２】粒子群の粒度と相関関係を有する統計値
が、散乱光強度の時系列データの確率密度関数の最大値
である請求項１に記載の粒子群の粒度検出方法。 - 【請求項３】粒子群の粒度と相関関係を有する統計値
が、散乱光強度の時系列データの確率密度関数の半値幅
である請求項１に記載の粒子群の粒度検出方法。 - 【請求項４】造粒機内において攪拌羽根によって攪拌さ
れることで流動する粒子群に単色光を照射する手段と、
その粒子群により散乱された光の強度を検出する手段
と、その散乱光強度の時系列データから粒子群の粒度と
相関関係を有する統計値を演算する手段とを備える粒子
群の粒度検出装置。 - 【請求項５】造粒機内において攪拌羽根によって攪拌さ
れることで流動する粒子群にレーザビームを照射するレ
ーザ光発生装置と、その粒子群により散乱されたレーザ
光の強度を検出する受光素子と、この受光素子により検
出されたアナログデータをデジタルデータに変換するＡ
／Ｄ変換器と、その散乱光強度の時系列のデジタルデー
タから粒子群の粒度と相関関係を有する統計値を演算す
る演算装置とを備える粒子群の粒度検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12840893A JP3294668B2 (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 粒子群の粒度検出方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12840893A JP3294668B2 (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 粒子群の粒度検出方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06317513A JPH06317513A (ja) | 1994-11-15 |
| JP3294668B2 true JP3294668B2 (ja) | 2002-06-24 |
Family
ID=14984047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12840893A Expired - Fee Related JP3294668B2 (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 粒子群の粒度検出方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3294668B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP4215900A1 (en) | 2015-09-23 | 2023-07-26 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation |
| GB201604460D0 (en) | 2016-03-16 | 2016-04-27 | Malvern Instr Ltd | Dynamic light scattering |
| EP3379232A1 (en) | 2017-03-23 | 2018-09-26 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation |
-
1993
- 1993-04-30 JP JP12840893A patent/JP3294668B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06317513A (ja) | 1994-11-15 |
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