JP3258881B2 - 乾式粒度分布測定装置 - Google Patents
乾式粒度分布測定装置Info
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Description
はそれらの混合体からなる測定試料を空気でフローさせ
て、その試料の粒度分布を測定する乾式粒度分布測定装
置に関する。
化されるようになってきている。図3は、このような乾
式粒度分布測定装置の従来例の要部を概略的に示す。こ
の装置は、圧縮空気caが供給される試料供給筒30内
にオリフィス31を挿入してなるイジェクター式の分散
器32の前記オリフィス31に、試料供給器33から測
定試料Sを定量供給し、この分散器32で分散させた測
定試料Sを測定光学部34の測定セル35にフローさ
せ、測定セル35を経た測定試料Sを吸引器36で回収
するように構成されている。
来例のようにイジェクター式の分散器32だけで測定試
料Sを分散させるのでは、その分散器32の分散限界で
ある1μm前後の粒径までしか乾式粒度分布測定を行え
ないという問題点があった。
たもので、その目的は、乾式測定法で測定できる粒径の
下限を大幅に引き下げることができる乾式粒度分布測定
装置を提供することである。
に、この発明では、分散器で分散させた粉粒状の試料
を、空気を流動させている測定セルに供給してフローさ
せ、かつ前記測定セルに光線を入射し透過させて、前記
試料の散乱光および/または透過光の検出データに基づ
いて試料の粒度分布を測定する乾式粒度分布測定装置に
おいて、前記分散器として、試料を収容する容器内に、
回転駆動する攪拌翼を設けた分散器と、圧縮空気が供給
される試料供給筒内に挿入したオリフィスから、前記分
散器で分散させた試料を試料供給筒内に噴出させる分散
器とを設けたものである。
者の分散器により測定試料の第1段階の分散処理を行
い、次に後者の分散器により測定試料の第2段階の分散
処理を行うので、測定試料を0. 2〜0.3μm程度の
粒径の微粒子にまで分散させることができ、乾式測定法
で測定できる粒径の下限を大幅に引き下げることができ
る。
照しながら説明する。図1はこの発明の乾式粒度分布測
定装置の一例を示す。1はインパクター式分散器で、第
1段階の分散処理を粉粒状の測定試料Sに施すものであ
る。このインパクター式分散器1は、測定試料Sを収容
する容器2内に、測定試料Sを分散させる攪拌翼3を設
置し、その攪拌翼3を容器2外のモータ4で回転駆動す
るように構成されている。前記インパクター式分散器1
の容器2は、底部が図2のように底蓋2aで開閉自在に
閉じられ、その底蓋2aに攪拌翼3が設けられている。
この攪拌翼3に対してモータ4が着脱自在に連結されて
いる。
クター式分散器1で分散処理された測定試料Sに第2段
階の分散処理を施すものである。このイジェクター式分
散器5は、途中にバルブ6を介在させた連通管7を介し
て前記インパクター式分散器1の容器2に連通するオリ
フィス8を、試料供給筒9の上部開口9aに挿入して構
成されており、試料供給筒9の上部には圧縮空気caを
供給する圧縮空気供給管10が接続されている。この圧
縮空気供給管10の途中にはバルブ11が介在させてあ
る。また、前記試料供給筒9の下半部は小径部9bとさ
れている。
う)で、測定光学部を構成する光学チャンバー13内に
おいて上下方向に向けて配置される。このフローセル1
2の上端開口部12aには前記試料供給筒9の下半小径
部9bが挿入される。フローセル12の上端開口部12
aのうち、試料供給筒9の下半小径部9bを取り囲む部
分には整流板14が設けられ、その整流板14を介して
上端開口部12aからフローセル12内に整流された大
気aが流入可能である。フローセル12の下端は小径と
され、この小径下端はチューブ15を介して空気吸引器
16に接続されている。17a,17bはフローセル1
2の窓で、試料供給筒9よりも下流側に設けられてい
る。
eレーザ18が設けられ、そのレーザ光が反射ミラー1
9a,19bを経て、窓17aと相対して配置されたビ
ーム拡大器20を介してフローセル12に入射し透過す
るように構成されている。21は窓17bに対向して設
けられる拡大用レンズである。
を経た光を検出する光検出器で、例えばフォトダイオー
ドなどをリング状に配置してなる。この光検出器22が
検出した透過光データは、マルチプレクサ23およびA
/D変換器24を経てCPU25で選別され、この選別
された透過光データのみを制御装置26に入力するよう
に構成されている。制御装置26には入力された検出デ
ータに基づいて測定した粒度分布を表示する表示部27
が設けられている。この制御装置26は、粒度分布の演
算処理のほか、前記バルブ6,11の開閉や、モータ
4,空気吸引器16の駆動など、機構部の制御も行う。
検出器で、フローセル12をフローしている測定試料S
に前記レーザ光が照射されて生じる散乱角の異なる散乱
光を各別に検出するため、窓17a,17bと相対して
配置されている。この光検出器28のそれぞれが検出し
た散乱光データも、前記透過光データと同様に制御装置
26に入力するように構成されている。
動作を、その動作手順にしたがって説明する。 (1) 先ず、インパクター式分散器1の容器2の底蓋
2aを開けて容器2の内部に粉粒状の測定試料Sを収容
する。 (2) 空気吸引器16の動作開始により、フローセル
12の上端開口部12aからフローセル12内に外気a
を吸引する。これにより、フローセル12の上端開口部
12aに設けられた整流板14の作用で、フローセル1
2内に整流された空気流が生じる。 (3) バルブ6を閉じた状態のもとに、インパクター
式分散器1の攪拌翼3を10000 〜30000 rpmの回転速
度で十数秒〜数分間にわたって回転させ、これにより測
定試料Sの第1段階の分散処理を行う。 (4) 前記攪拌翼3の回転を続けながらバルブ6,1
1を開き、圧縮空気供給管10からイジェクター式分散
器5の試料供給筒9内に圧縮空気caを供給する。これ
により、試料供給筒9内が負圧となり、インパクター式
分散器1の容器2内で分散された測定試料Sが吸引さ
れ、連通管7を経てオリフィス8から試料供給筒9内に
噴射される。この噴射により、インパクター式分散器1
による第1段階の分散処理に次いで、測定試料Sの第2
段階の分散処理が行われる。すなわち、インパクター式
分散器1で十分に分散されなかった微粒子が、ここで十
分に分散される。 (5) イジェクター式分散器5で分散処理された測定
試料Sは、試料供給筒9から整流されてフローセル12
に導入され、その後チューブ15を経て、空気吸引器1
6に回収される。 (6) フローセル12内を下方へと落下する測定試料
Sは、He−Neレーザ18からのレーザ光を横切る。
このときの散乱光が光検出器22,28によって検出さ
れる。これらの光検出器22,28 の検出出力が制御
装置26に入力され、そのデータに基づいて粒度分布が
演算され、表示される。 (7) 測定が終了すると、インパクター式分散器1の
攪拌翼3の回転を停止させ、イジェクター式分散器5へ
の圧縮空気caの供給を停止させる。
ター式分散器1により第1段階の試料分散を行ってか
ら、イジェクター式分散器5により第2段階の試料分散
を行うので、イジェクター式分散器1だけで測定試料S
の分散処理を行っていた従来の装置では分散しにくかっ
た微粒子も十分に分散させることができ、0.2〜0.
3μm程度の粒径の粒子にわたって粒度分布測定を行う
ことができる。
は、空気を流動させている測定セルに供給する前に粉粒
状の試料を分散させる分散器として、試料を収容する容
器内に、回転駆動する攪拌翼を設けた分散器と、圧縮空
気が供給される試料供給筒内に挿入しオリフィスから、
前記分散器で分散された試料を試料供給筒内に噴出させ
る分散器とを設けているので、2段階にわたって試料の
分散が行われ、試料を0. 2〜0.3μm程度の粒径の
微粒子にまで分散させることができる。そのため、乾式
測定法で測定できる粒径の下限を大幅に引き下げること
ができる。
的に示す図である。
底蓋の開放動作説明図である。
…モータ、5…イジェクター式分散器、8…オリフィ
ス、9…試料供給筒、10…圧縮空気供給管、12…測
定セル(フローセル)、S…測定試料、ca…圧縮空気
Claims (1)
- 【請求項1】 分散器で分散させた粉粒状の試料を、空
気を流動させている測定セルに供給してフローさせ、か
つ前記測定セルに光線を入射し透過させて、前記試料の
散乱光および/または透過光の検出データに基づいて試
料の粒度分布を測定する乾式粒度分布測定装置におい
て、前記分散器として、試料を収容する容器内に、回転
駆動する攪拌翼を設けた分散器と、圧縮空気が供給され
る試料供給筒内に挿入したオリフィスから、前記分散器
で分散させた試料を試料供給筒内に噴出させる分散器と
を設けたことを特徴とする乾式粒度分布測定装置。
Priority Applications (1)
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Family Applications (1)
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JP32982995A Expired - Fee Related JP3258881B2 (ja) | 1995-11-24 | 1995-11-24 | 乾式粒度分布測定装置 |
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- 1995-11-24 JP JP32982995A patent/JP3258881B2/ja not_active Expired - Fee Related
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