JP3403564B2 - 粉体の粒度分布測定装置 - Google Patents
粉体の粒度分布測定装置Info
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- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、測定済みサンプル
の回収を容易にした粉体の粒度分布測定装置に関する。
の回収を容易にした粉体の粒度分布測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、粉体の粒度分布測定装置は、例え
ば図３に示すように、乾燥した粉体を気流中に充分に分
散させる分散器５０と分散器５０から供給された粉体の
粒度を測定する測定器５１と測定済みのサンプルを排気
ブロック５２を経由して回収する集塵装置５３とから構
成される。
ば図３に示すように、乾燥した粉体を気流中に充分に分
散させる分散器５０と分散器５０から供給された粉体の
粒度を測定する測定器５１と測定済みのサンプルを排気
ブロック５２を経由して回収する集塵装置５３とから構
成される。
【０００３】図３において、先ず試料用の粉体を供給口
５４から分散器５０に供給する。同時に空気源５５から
圧力調整器５６により圧力を調整した圧縮空気が分散器
５０内に供給され、気流中に粉体が分散される。分散器
５０により充分に分散された粉体はサンプルセル（測定
器）５１に供給される。サンプルセル５１に供給された
粉体はサンプルセル５１内を通過し、このサンプルセル
５１を通過する粉体に光（レーザ）５７が照射される。
照射した光が粉体により散乱され、その散乱された光が
受光検出手段により検出され、この受光検出手段から出
力される検出信号に基づいて粉体の粒度分布が測定され
る。そして、サンプルセル５１を通過した粉体は、排気
ブロック５２を経由して集塵装置５３の強力な吸引力に
より集塵装置５３内に吸引回収される。なお、集塵装置
５３の強力な吸引力によりサンプルセル５１内では気流
の乱れを生じ易いため、排気ブロック５２には、サンプ
ルセル５１内の気流の速度を適度に調整するための気流
調整孔５８を設けてある。
５４から分散器５０に供給する。同時に空気源５５から
圧力調整器５６により圧力を調整した圧縮空気が分散器
５０内に供給され、気流中に粉体が分散される。分散器
５０により充分に分散された粉体はサンプルセル（測定
器）５１に供給される。サンプルセル５１に供給された
粉体はサンプルセル５１内を通過し、このサンプルセル
５１を通過する粉体に光（レーザ）５７が照射される。
照射した光が粉体により散乱され、その散乱された光が
受光検出手段により検出され、この受光検出手段から出
力される検出信号に基づいて粉体の粒度分布が測定され
る。そして、サンプルセル５１を通過した粉体は、排気
ブロック５２を経由して集塵装置５３の強力な吸引力に
より集塵装置５３内に吸引回収される。なお、集塵装置
５３の強力な吸引力によりサンプルセル５１内では気流
の乱れを生じ易いため、排気ブロック５２には、サンプ
ルセル５１内の気流の速度を適度に調整するための気流
調整孔５８を設けてある。
【０００４】上記において、サンプルを回収する集塵装
置として使用する工業用の集塵機は、一般に高価、大形
で大電力を要し、騒音が大きく、集塵機が目詰まりする
と吸引性能が低下するという欠点がある。また集塵機に
回収されたサンプルの除去作業にも手間がかかる。さら
に粉体の搬送経路内は負の圧力状態で運転しないとサン
プルセルの窓部に粉体が付着してしまい、清掃作業が面
倒となるため、空気源と集塵機の運転とを連動させるイ
ンタロック機構を設ける必要がある。
置として使用する工業用の集塵機は、一般に高価、大形
で大電力を要し、騒音が大きく、集塵機が目詰まりする
と吸引性能が低下するという欠点がある。また集塵機に
回収されたサンプルの除去作業にも手間がかかる。さら
に粉体の搬送経路内は負の圧力状態で運転しないとサン
プルセルの窓部に粉体が付着してしまい、清掃作業が面
倒となるため、空気源と集塵機の運転とを連動させるイ
ンタロック機構を設ける必要がある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】そこで本発明は、集塵
機を不要として集塵機を用いた場合の上記問題を解消す
るとともに、測定済みのサンプルの回収をコンパクト、
経済的かつ保守作業も簡単にできるようにした粉体の粒
度分布測定装置を提供することを目的とする。
機を不要として集塵機を用いた場合の上記問題を解消す
るとともに、測定済みのサンプルの回収をコンパクト、
経済的かつ保守作業も簡単にできるようにした粉体の粒
度分布測定装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の粉体の粒度分布測定装置は、圧縮空気によ
り試料用の粉体を分散する分散器と、該分散器から供給
された粉体の粒度分布を測定する測定器とを設けてなる
粉体の粒度分布測定装置において、測定器の下流側に排
気エジェクターを接続し、分散器に供給する圧縮空気の
気流管から分岐した連結管を排気エジェクターのエア流
入部に接続し、排気エジェクターのエア流出部にフィル
ターケースを接続したこと、を特徴としている。ここ
で、前記連結管に排気エジェクター内へ供給する気流の
圧力を調整する圧力調整器を設けるのが好ましい。ま
た、前記フィルターケースは、排気エジェクターの流出
部に着脱可能に設けるのが好ましい。
に、本発明の粉体の粒度分布測定装置は、圧縮空気によ
り試料用の粉体を分散する分散器と、該分散器から供給
された粉体の粒度分布を測定する測定器とを設けてなる
粉体の粒度分布測定装置において、測定器の下流側に排
気エジェクターを接続し、分散器に供給する圧縮空気の
気流管から分岐した連結管を排気エジェクターのエア流
入部に接続し、排気エジェクターのエア流出部にフィル
ターケースを接続したこと、を特徴としている。ここ
で、前記連結管に排気エジェクター内へ供給する気流の
圧力を調整する圧力調整器を設けるのが好ましい。ま
た、前記フィルターケースは、排気エジェクターの流出
部に着脱可能に設けるのが好ましい。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下本発明の粉体の粒度分布測定
装置の実施例を図面を参照しつつ説明する。図１は本発
明の粉体の粒度分布測定装置の概要を示す説明図、図２
は排気エジェクター部の断面図である。
装置の実施例を図面を参照しつつ説明する。図１は本発
明の粉体の粒度分布測定装置の概要を示す説明図、図２
は排気エジェクター部の断面図である。
【０００８】本発明の粉体の粒度分布測定装置１は、空
気源２から気流管３ａを通って供給される圧縮空気によ
り試料用の乾燥粉体を気流中に分散させる分散器４と、
該分散器４から流出した粉体の粒度分布を測定する測定
器５とを設けてなる粉体の粒度分布測定装置において、
測定器５の下流側に排気エジェクター６を接続してあ
る。そして、分散器４に圧縮空気を供給する気流管３ａ
から連結管７を分岐し、この連結管７を排気エジェクタ
ー６のエア流入部８に接続するとともに、排気エジェク
ター６のエア流出部９にフィルターケース１０を着脱可
能に接続してある。
気源２から気流管３ａを通って供給される圧縮空気によ
り試料用の乾燥粉体を気流中に分散させる分散器４と、
該分散器４から流出した粉体の粒度分布を測定する測定
器５とを設けてなる粉体の粒度分布測定装置において、
測定器５の下流側に排気エジェクター６を接続してあ
る。そして、分散器４に圧縮空気を供給する気流管３ａ
から連結管７を分岐し、この連結管７を排気エジェクタ
ー６のエア流入部８に接続するとともに、排気エジェク
ター６のエア流出部９にフィルターケース１０を着脱可
能に接続してある。
【０００９】分散器４に圧縮空気を供給する気流管３ａ
には分散器４への気流の供給圧力を調整する圧力調整器
１１ａを設け、また連結管７には排気エジェクター６内
へ供給する気流の圧力を調整する圧力調整器１１ｂを設
けてある。
には分散器４への気流の供給圧力を調整する圧力調整器
１１ａを設け、また連結管７には排気エジェクター６内
へ供給する気流の圧力を調整する圧力調整器１１ｂを設
けてある。
【００１０】排気エジェクター６は、連結管７からの圧
縮空気をエジェクター６内に供給するエア流入部８とフ
ィルターケース１０を接続するエア流出部９とサンプル
セル５からの測定済みサンプルの導入部１２とからな
る。エア流入部８には、連結管７から供給される圧縮空
気を排気エジェクター６内に噴射させるノズル１３を取
り付けてあり、管継手１４を介して連結管７に接続され
る。エア流出部９には、フィルターケース１０を着脱可
能に接続してある。サンプル導入部１２には、サンプル
セル５からの測定済みサンプルを排気エジェクター６内
に導入する気流管３ｃが管継手１５を介して接続され
る。なお、符号１６は気流管３ｃと排気エジェクター６
との気密を保持するためのＯリング、符号１７はフィル
ターケース１０と排気エジェクター６との気密を保持す
るためのＯリングである。
縮空気をエジェクター６内に供給するエア流入部８とフ
ィルターケース１０を接続するエア流出部９とサンプル
セル５からの測定済みサンプルの導入部１２とからな
る。エア流入部８には、連結管７から供給される圧縮空
気を排気エジェクター６内に噴射させるノズル１３を取
り付けてあり、管継手１４を介して連結管７に接続され
る。エア流出部９には、フィルターケース１０を着脱可
能に接続してある。サンプル導入部１２には、サンプル
セル５からの測定済みサンプルを排気エジェクター６内
に導入する気流管３ｃが管継手１５を介して接続され
る。なお、符号１６は気流管３ｃと排気エジェクター６
との気密を保持するためのＯリング、符号１７はフィル
ターケース１０と排気エジェクター６との気密を保持す
るためのＯリングである。
【００１１】排気エジェクター６及びフィルターケース
１０はハウジング１８内に収容し、該ハウジング１８上
にサンプルセル５等の計測器を収容したハウジング１９
を配置して、装置のコンパクト化を図っている。
１０はハウジング１８内に収容し、該ハウジング１８上
にサンプルセル５等の計測器を収容したハウジング１９
を配置して、装置のコンパクト化を図っている。
【００１２】次に作用を説明する。先ず乾燥した試料用
の粉体がサンプル供給口２０から分散器４内に供給され
る。同時にエアコンプレッサー等の空気源２から圧力調
整器１１ａにより圧力を調整した圧縮空気が気流管３ａ
を通って分散器４内に供給され、気流中に粉体が充分に
分散される。気流中に分散した粉体は、その気流に搬送
されて気流管３ｂを通って測定器たるサンプルセル５に
供給される。サンプルセル５に供給された粉体はサンプ
ルセル５内を通過し、このサンプルセル５を通過する粉
体に図示しないレーザ光照射装置からレーザビーム２１
が照射される。照射した光が粉体により散乱され、その
散乱された光が図示しない受光検出手段により検出さ
れ、この受光検出手段から出力される検出信号に基づい
て粉体の粒度分布が測定される。そして、サンプルセル
５を通過した粉体は気流管３ｃを通り、排気エジェクタ
ー６のノズル１３の噴射口から噴射される気流によって
排気エジェクター６内に吸引され、エア流出口２２から
フィルターケース１０内に吸引回収される。
の粉体がサンプル供給口２０から分散器４内に供給され
る。同時にエアコンプレッサー等の空気源２から圧力調
整器１１ａにより圧力を調整した圧縮空気が気流管３ａ
を通って分散器４内に供給され、気流中に粉体が充分に
分散される。気流中に分散した粉体は、その気流に搬送
されて気流管３ｂを通って測定器たるサンプルセル５に
供給される。サンプルセル５に供給された粉体はサンプ
ルセル５内を通過し、このサンプルセル５を通過する粉
体に図示しないレーザ光照射装置からレーザビーム２１
が照射される。照射した光が粉体により散乱され、その
散乱された光が図示しない受光検出手段により検出さ
れ、この受光検出手段から出力される検出信号に基づい
て粉体の粒度分布が測定される。そして、サンプルセル
５を通過した粉体は気流管３ｃを通り、排気エジェクタ
ー６のノズル１３の噴射口から噴射される気流によって
排気エジェクター６内に吸引され、エア流出口２２から
フィルターケース１０内に吸引回収される。
【００１３】サンプルセル５への吸引量は、連結管７か
ら供給される圧縮空気の圧力を圧力調整器１１ｂにより
及び排気エジェクター６のノズル１３の孔径を適宜調整
して最適値に設定し、サンプルセル５内の気流の速度を
適度に調整する。これにより、サンプルセル５内での乱
流の発生を防止し、乱流によるサンプルセルの内壁面へ
の粉体の付着を防止でき、正確な粒度分布の測定を可能
にする。排気エジェクター６内に供給する空気源は分散
器４に用いられている空気源２から分岐して利用できる
ので、新たに用意する必要はない。またフィルターケー
ス１０を排気エジェクター６と着脱可能なカートリッジ
式にすれば、測定済みサンプルの回収作業が極めて簡単
となる。
ら供給される圧縮空気の圧力を圧力調整器１１ｂにより
及び排気エジェクター６のノズル１３の孔径を適宜調整
して最適値に設定し、サンプルセル５内の気流の速度を
適度に調整する。これにより、サンプルセル５内での乱
流の発生を防止し、乱流によるサンプルセルの内壁面へ
の粉体の付着を防止でき、正確な粒度分布の測定を可能
にする。排気エジェクター６内に供給する空気源は分散
器４に用いられている空気源２から分岐して利用できる
ので、新たに用意する必要はない。またフィルターケー
ス１０を排気エジェクター６と着脱可能なカートリッジ
式にすれば、測定済みサンプルの回収作業が極めて簡単
となる。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の粉体の粒
度分布測定装置によれば、測定済みサンプルを回収する
ために集塵機を設ける必要がなくなる。従って、スペー
スを削減でき、低騒音化を図ることができ、集塵機運転
用の電力が不要となりコストの削減が可能で、集塵機の
目詰まりによる吸引性能の低下の問題が解消される。ま
た空気源と集塵機とのインタロック機構も不要となる。
また測定済みサンプルはフィルターケース内に回収さ
れ、フィルターケースを排気エジェクターに着脱可能に
設ければ、回収作業が極めて容易となる。さらに排気エ
ジェクター内へ供給する圧縮空気の圧力とノズルの孔径
を適宜調整することにより、サンプルセル内の気流の乱
れを防止して正確な粒度分布の測定を可能にする。
度分布測定装置によれば、測定済みサンプルを回収する
ために集塵機を設ける必要がなくなる。従って、スペー
スを削減でき、低騒音化を図ることができ、集塵機運転
用の電力が不要となりコストの削減が可能で、集塵機の
目詰まりによる吸引性能の低下の問題が解消される。ま
た空気源と集塵機とのインタロック機構も不要となる。
また測定済みサンプルはフィルターケース内に回収さ
れ、フィルターケースを排気エジェクターに着脱可能に
設ければ、回収作業が極めて容易となる。さらに排気エ
ジェクター内へ供給する圧縮空気の圧力とノズルの孔径
を適宜調整することにより、サンプルセル内の気流の乱
れを防止して正確な粒度分布の測定を可能にする。
【図１】本発明の粉体の粒度分布測定装置の概要を示す
説明図。
説明図。
【図２】排気エジェクター部の断面図。
【図３】従来の粉体の粒度分布測定装置の概要をを示す
説明図。
説明図。
１ 粉体の粒度分布測定装置
２ 空気源
３ａ，３ｂ，３ｃ 気流管
４ 分散器
５ 測定器（サンプルセル）
６ 排気エジェクター
７ 連結管
８ エア流入部
９ エア流出部
１０ フィルターケース
１１ａ，１１ｂ 圧力調整器
１２ サンプル導入部
１３ ノズル
１４，１５ 管継手
１６，１７ Ｏリング
１８，１９ ハウジング
２０ サンプル供給口
２１ レーザビーム
２２ エア流出口
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 15/02
G01N 15/14
Claims (3)
- 【請求項１】圧縮空気により試料用の粉体を分散する分
散器と、該分散器から供給された粉体の粒度分布を測定
する測定器とを設けてなる粉体の粒度分布測定装置にお
いて、測定器の下流側に排気エジェクターを接続し、分
散器に供給する圧縮空気の気流管から分岐した連結管を
排気エジェクターのエア流入部に接続し、排気エジェク
ターのエア流出部にフィルターケースを接続したことを
特徴とする粉体の粒度分布測定装置。 - 【請求項２】前記連結管に排気エジェクター内へ供給す
る気流の圧力を調整する圧力調整器を設けてなる請求項
１に記載の粉体の粒度分布測定装置。 - 【請求項３】前記フィルターケースは、排気エジェクタ
ーの流出部に着脱可能に設けてなる請求項１又は２に記
載の粉体の粒度分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34444095A JP3403564B2 (ja) | 1995-12-04 | 1995-12-04 | 粉体の粒度分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34444095A JP3403564B2 (ja) | 1995-12-04 | 1995-12-04 | 粉体の粒度分布測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09159597A JPH09159597A (ja) | 1997-06-20 |
| JP3403564B2 true JP3403564B2 (ja) | 2003-05-06 |
Family
ID=18369285
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34444095A Expired - Fee Related JP3403564B2 (ja) | 1995-12-04 | 1995-12-04 | 粉体の粒度分布測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3403564B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5827515B2 (ja) * | 2011-07-28 | 2015-12-02 | 株式会社アルバック | パーティクル測定装置 |
| JP2014228276A (ja) * | 2013-05-17 | 2014-12-08 | アズビル株式会社 | 粒子検出装置及び粒子の検出方法 |
| JP7137998B2 (ja) * | 2018-09-06 | 2022-09-15 | Dmg森精機株式会社 | 付加製造装置 |
| JP2023160326A (ja) * | 2022-04-22 | 2023-11-02 | Ckd株式会社 | パーティクル検出装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2514048Y2 (ja) * | 1991-11-06 | 1996-10-16 | 新日本製鐵株式会社 | 粉粒体の落下発塵シミュレ―タ |
| JP3450405B2 (ja) * | 1994-03-09 | 2003-09-22 | 大川原化工機株式会社 | 噴霧乾燥造粒装置における造粒制御方法 |
| JP3499009B2 (ja) * | 1994-09-02 | 2004-02-23 | シスメックス株式会社 | 粒度分布測定装置 |
| JP3258882B2 (ja) * | 1995-11-24 | 2002-02-18 | 株式会社堀場製作所 | 粒度分布測定装置 |
-
1995
- 1995-12-04 JP JP34444095A patent/JP3403564B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09159597A (ja) | 1997-06-20 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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