JP2020514762A - 粒子特性評価 - Google Patents
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Abstract
Description
光子相関分光法(動的光散乱法、又はDLSともいう)は、試料のある領域から散乱する光の強度の経時的変化によって、粒子の特性を評価する技術である。散乱光の測定値の時系列が、試料中に分散している粒子の粒径又は粒径分布を決定するために用いられる。
本発明の一局面によれば、試料中の粒子を特性評価する方法が提供されており、該方法は、照射光線と試料との相互作用によって生成される散乱光の測定値の時系列をそれぞれ含む複数の散乱測定値を検出器から取得することと、各散乱測定値から分離パラメータを決定することと、分離パラメータから分離基準を決定することと、各散乱測定値の分離パラメータを分離基準と比較することにより、不純物が前記散乱光に影響していた汚染された散乱測定値を特定することと、汚染された散乱測定値として特定されていない散乱測定値から粒子特性を決定することと、を含む。
モデルを決定することは、散乱測定値をローパスフィルタ処理すること、又は散乱測定値をスムージング処理することを含んでもよい。これは、不純物からの散乱信号(周波数がより低い傾向にある)を維持しながら、対象の粒子からの光散乱を表現する可能性が高い高周波散乱信号を除去する効果を有する。モデルは、散乱測定値のローパスフィルタ処理された又は平滑化されたバージョンを含んでもよい。よって、散乱測定値のローパスフィルタ処理されたバージョンを除去することにより、「よりきれいな」散乱測定値が生成され得る。
不純物パラメータを決定することは、散乱測定値の複数の時間それぞれのスペクトルコンテンツを決定することを含んでもよい。例えば、測定値の時系列は、一連のより短い散乱測定値を含み、各散乱測定値のスペクトルコンテンツが決定されてもよい。各時間のスペクトルコンテンツを決定するために、フーリエ変換を用いてもよい。
時間の経過と共に振幅が変動する有意な信号を生成するために、少なくとも幾つかのビン時間の間に1より多い光子到達を含むのに十分な幅のあるビン幅を選定することが必要である。散乱強度のビニングされた時間履歴の時間分解能は、ビンの時間幅によって制限される。これは、ビニングされた時間履歴から導出されるコレログラムは、非常に短い減衰時間を分解しないであろうことを意味する。つまり、生の光子到達時間データで利用可能な時間分解能は、信号をビニングすることで破棄されざるを得ない。
散乱測定値を取得することは、検出器から測定値を受信すること、不揮発性機械読取り可能な記録媒体(例えば、ハードディスク、SSD、光媒体など)から散乱測定値を受信すること、又は、通信チャンネル(例えば、ネットワーク、直列接続、USB、SATA、IDE、PCIE)を介して測定値を受信することを含んでもよい。
この方法は、不純物による散乱光への寄与を含む散乱測定値として特定されている散乱測定値から、更なる粒子特性を決定することを更に含んでもよい。この方法は、散乱測定値全てから平均粒子特性を決定することを更に含んでもよい。
複数の散乱測定値が取得されている場合、粒度分布を決定することは、汚染された散乱測定値として特定されていない各散乱測定値の自己相関関数を組み合わせることを含んでもよい。更なる粒度分布を決定することは、各汚染された散乱測定値の自己相関関数を組み合わせることを含んでもよい。一般に、粒度分布を決定することは、含まれるべき散乱測定値の自己相関関数を組み合わせることを含んでもよい。
粒度分布を決定することは、処理された測定値の時系列から動的光散乱測定を行うことを含んでもよい。
不純物からの散乱による信号をこのように補正することにより、試料中に存在する小径粒子に関するより正確な情報を散乱測定値から抽出することができる。これにより、複数の光子計数検出器の必要性が低減され得る。大径粒子挙動のモデルをデータに当てはめ、不純物の予測の寄与分を除去することは、非常に有利である。測定された信号に大径粒子が影響を及ぼしている期間において、小径粒子データの少なくともかなりの部分が失われないためである。
この方法は、最適な時間から粒子特性を決定することを含んでもよい。
この方法は、反復的な処理を含んでもよい。この反復的な処理において、大きなウィンドウは、候補の最適な時間を初期に特定するために用いられ、小さなウィンドウ(又は、一連の小さなウィンドウ)は、不純物が存在しない最適な時間の信頼レベルを高めるために用いられる。
幾つかの実施形態において、検出器は、光子計数検出器を含んでもよく、及び/又は、後方散乱光、前方散乱光、及び/又は側方散乱光を検出するように構成されてもよい。上記装置は、散乱光を検出するように構成される複数の検出器を含んでもよい。検出器のうち少なくとも幾つかは、異なる散乱角度で散乱する光を検出するように構成されてもよく、及び/又は、検出器のうち少なくとも幾つかは、同一の散乱角度で散乱される光を検出するように構成されてもよい。
本発明の1つの局面によると、光源と、試料セルと、検出器と、プロセッサと、を含む、粒子特性評価装置が提供される。光源は、光線を試料セル内の試料に照射して、光線と試料との相互作用により散乱光を生成するように動作可能であり、検出器は、散乱光を検出し、且つ、検出器での散乱光の一連の光子到達時間を含む散乱測定値を生成するように構成され、プロセッサは、複数のウィンドウそれぞれについて光子数の関数として光子到達時間の勾配を決定し、且つ、各ウィンドウの勾配を閾値勾配領域と比較することにより、不純物からの光散乱を含む汚染されたウィンドウを決定することにより、散乱測定値の汚染された部分を特定するように構成される。
光源102は、レーザ等のコヒーレント光源であってもよく、単色光を出力してもよい。あるいは、光源102はLEDであってもよい。光源102は、試料セル104内の試料106に対し、光軸に沿って光線103を照射するように構成されている。
図2は、検出器114、プロセッサ130、及び出力装置132を示す。プロセッサ130は、検出器114から光強度測定値の時系列を受信し、それら測定値に相関演算を行って、動的光散乱により試料の粒子を特性評価するように構成されている。プロセッサ130は、例えばメモリ、ソリッドステートストレージドライブ、ハードディスク、クラウド等、機械読取り可能な記録媒体に測定値を保存してもよい。プロセッサ130は、その後、解析結果を出力装置132に出力してもよく、出力装置132は表示画面を備えてもよい。
図5は、散乱光検出器から取得された経時的な光子計数率のグラフ350を示している。スパイク351がデータ内に存在し(それら全てが図5に表示されているわけではない)、装置の測定ボリューム内に高散乱粒子(すなわち不純物)が存在している時間に対応している。この不純物からの寄与に対処する1つの方法は、データを補正し、不純物からの散乱寄与を除去することである。これは、潜在的に価値のある測定データを維持し得るので、汚染されたデータを単に破棄することと比べて有利となり得る。
分子量測定等の用途のための静的光散乱において、関心の対象となるのは、測定された散乱強度の時間的特性というよりも、測定された散乱強度の大きさであり、SLS測定もまた、試料内のダストの影響を受けやすいことを意味する。
図14は、外れ値データを特定して破棄するために、スペクトル幅がどのように用いられ得るかを説明する。図14のグラフ500は、散乱光の正規化された強度対周波数シフトの多数の曲線を示す。各曲線は、リゾチームを含む試料の電気泳動測定の異なる測定ラン(又はサブラン)に対応する。狭いスペクトル幅502を有する測定ランは、凝集体が存在する試料に対応する。広いスペクトル幅501を有する測定ランは、凝集体を含まない試料に対応する。よって、凝集体を有するサンプルは、複数のサブランを選び、例えば、測定されたスペクトル幅の分布(例えば、平均プラス又はマイナスいくつかの標準偏差)に基づいて、非常に狭いスペクトル幅(他の測定と比較して)を有するサブランを破棄することによって、解析してもよい。
この装置では、ビームスプリッタは、散乱光111の一部を更なる検出器129に提供するように配置される。制御電子機器127は、散乱光の中の不純物からの散乱寄与を更なる検出器129で検出するように構成される。ここでもまた、制御電子機器は、不純物からの散乱寄与を検出するために本明細書に記載される方法を具体化し得る。1つの例として、制御電子機器は、ローパスフィルタを含んでもよい。制御電子機器は、不純物からの散乱寄与に比例する制御信号を、検出器110によって受け取られる散乱光を減衰する可変減衰器に提供して、不純物からの散乱を補償してもよい。
本明細書で詳細に記載されるこれら例は、動的光散乱測定の状況に焦点を置く傾向があったが、同様の概念が他の種類の光散乱測定にも直接準用され得ることが理解されるだろう。例えば、本明細書に記載される測定結果は強度に基づくが、幾つかの実施形態においては、光散乱測定は、変調基準(又は散乱)ビームを用いるヘテロダイン検波に基づいてもよい。その場合、変調された検出信号の包絡線の振幅が測定パラメータであってもよく(散乱光の強度ではなく)、本明細書に記載される方法は、適宜修正されてもよい。同様に、本明細書に記載される方法は、ゼータ電位測定への不純物の影響を低減するために、PALS(位相角光散乱)を処理するように簡単に適合できる。
Claims (15)
- 試料中の粒子を特性評価する方法であって、
照射光線と試料との相互作用によって生成される散乱光の測定値の時系列を含む散乱測定値を検出器から取得することと、
散乱測定の少なくともいくつかの時間の中で散乱強度を低減することにより、不純物からの散乱寄与を補償することを含み、補正された散乱測定値を生成することと、
前記補正された散乱測定値から粒子特性を決定することと、
を含む、方法。 - 前記散乱強度を低減することは、記録された散乱測定値を修正することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記散乱強度を低減することは、前記散乱測定値をハイパスフィルタリングすることを含む、
請求項1又は2に記載の方法。 - 前記散乱強度を低減することは、前記散乱測定値から不純物パラメータを決定することを含み、前記散乱強度を低減する工程は、前記不純物パラメータに対応する、
請求項1から3のいずれか一項に記載の方法。 - 前記不純物パラメータは、フィルタ処理用のカットオフ周波数を含む、
請求項4に記載の方法。 - 前記不純物パラメータを決定することは、前記散乱測定値のスペクトルコンテンツ内の統計的外れ値を見つけることを含む、
請求項4又は5に記載方法。 - 補正された散乱測定値を生成することは、補正されていない前記散乱測定値から導出される生の自己相関関数の部分を、少なくとも1つの時間の散乱強度が不純物からの散乱寄与を補償するために低減された、調整された散乱測定値から導出される調整された自己相関関数の部分と組み合わせることにより、複合自己相関関数を生成することを含む、
請求項1から6のいずれか一項に記載の方法。 - 前記生の自己相関関数の部分は、選択された遅延時間と同じかそれより短い遅延時間に対応し、前記調整された自己相関関数の部分は、前記選択された遅延時間と同じかそれより長い遅延時間に対応する、
請求項7に記載の方法。 - 前記複合自己相関関数が前記選択された遅延時間で連続するように、前記生の自己相関関数を正規化することを含む、
請求項8に記載の方法。 - 前記選択された遅延時間は、50から200マイクロ秒の範囲にある、
請求項8又は9に記載の方法。 - 前記選択された遅延時間は、該選択された遅延時間で、前記生の自己相関関数の線形領域の勾配が前記調整された自己相関関数の同一の線形領域の勾配と一致するように、決定される、
請求項8から10のいずれか一項に記載の方法。 - 前記散乱測定値は一連の光子パルスを含み、前記散乱強度を低減することは、該一連の光子パルスから光子パルスを除去することを含む、
請求項1から7のいずれか一項に記載に方法。 - 前記一連の光子パルスから光子パルスを除去することは、前記一連の光子パルスをビニングすることと、選択されたビンそれぞれから複数の光子パルスを除去することで該選択されたビンを補正することと、を含む、
請求項12に記載の方法。 - 前記散乱強度を低減することは、不純物からの散乱寄与のモデルを決定することを含み、該モデルは不純物からの散乱による各ビンの中の光子パルスの数の推定値を含み、前記選択されたビンを補正することは、選択されたビンそれぞれの前記推定値に基づいて複数の光子パルスを除去することを含む、
請求項13に記載の方法。 - 粒子を特性評価する装置であって、
光源と、
試料セルと、
検出器と、
プロセッサと、を含み、
前記光源は、前記試料セル内の試料に光線を照射して、前記光線と前記試料との相互作用により散乱光を生成するように動作可能であり、
前記検出器は、前記散乱光を検出して、測定値の時系列を生成するように構成され、
前記プロセッサは、
前記検出器からの前記散乱光の測定値の時系列を含む散乱測定値を取得し、
散乱測定の少なくともいくつかの時間の中で散乱強度を低減することにより不純物からの散乱寄与を補償することを含み、補正された散乱測定値を生成し、
前記補正された散乱測定値から粒子特性を決定するように構成される、
装置。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP7363984B1 (ja) | 2022-07-22 | 2023-10-18 | 栗田工業株式会社 | 凝集状態の判断方法及び凝集処理方法 |
WO2024018885A1 (ja) * | 2022-07-22 | 2024-01-25 | 栗田工業株式会社 | 凝集状態の判断方法及び凝集処理方法 |
JP7473200B2 (ja) | 2020-11-12 | 2024-04-23 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | 動的光散乱測定装置、動的光散乱測定・解析方法、および、測定・解析プログラム |
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Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11002655B2 (en) | 2015-09-23 | 2021-05-11 | Malvern Panalytical Limited | Cuvette carrier |
EP4215900A1 (en) | 2015-09-23 | 2023-07-26 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation |
GB201604460D0 (en) | 2016-03-16 | 2016-04-27 | Malvern Instr Ltd | Dynamic light scattering |
EP3379232A1 (en) | 2017-03-23 | 2018-09-26 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation |
EP3739321B1 (de) * | 2019-05-17 | 2023-03-08 | Xtal Concepts GmbH | Qualifizierungsverfahren für kryoelektronenmikroskopie-proben sowie dazugehöriger probenhalter |
EP3922977A1 (en) * | 2020-06-08 | 2021-12-15 | Universität für Bodenkultur Wien | Method for determining a property of a particle in a medium |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06317513A (ja) * | 1993-04-30 | 1994-11-15 | Kao Corp | 粒子群の粒度検出方法および装置 |
US6052184A (en) * | 1996-11-13 | 2000-04-18 | The Administrators Of The Tulane Educational Fund | Miniature, submersible, versatile, light scattering probe for absolute equilibrium and non-equilibrium characterization of macromolecular and colloidal solutions |
JP2007527997A (ja) * | 2004-03-06 | 2007-10-04 | マイケル トレイナー, | 粒子のサイズおよび形状を決定する方法および装置 |
JP2011059048A (ja) * | 2009-09-14 | 2011-03-24 | Hokuto Denshi Kogyo Kk | 液体中の粒子のサイズの検出方法および装置 |
US8854621B1 (en) * | 2012-08-29 | 2014-10-07 | University Of South Florida | Systems and methods for determining nanoparticle dimensions |
Family Cites Families (85)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3621220A (en) | 1969-08-29 | 1971-11-16 | Norman C Ford Jr | Scattered light measurement providing autocorrelation function |
US4074939A (en) | 1973-12-19 | 1978-02-21 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. | Apparatus for investigating fast chemical reactions by optical detection |
US4473296A (en) | 1978-05-03 | 1984-09-25 | Ppm, Inc. | System and method and apparatus for a continuous aerosol monitor (CAM) using electro-optical weighing for general aerosols |
US4178917A (en) | 1979-01-03 | 1979-12-18 | Shapiro Howard M | Method and system for non-invasive detection of zinc protoporphyrin in erythrocytes |
US4710025A (en) | 1982-06-22 | 1987-12-01 | Wyatt Technology Company | Process for characterizing suspensions of small particles |
US4537861A (en) | 1983-02-03 | 1985-08-27 | Elings Virgil B | Apparatus and method for homogeneous immunoassay |
US4690561A (en) | 1985-01-18 | 1987-09-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Particle analyzing apparatus |
US4676641A (en) | 1986-01-08 | 1987-06-30 | Coulter Electronics Of New England, Inc. | System for measuring the size distribution of particles dispersed in a fluid |
US4781460A (en) * | 1986-01-08 | 1988-11-01 | Coulter Electronics Of New England, Inc. | System for measuring the size distribution of particles dispersed in a fluid |
US5166052A (en) | 1986-05-27 | 1992-11-24 | Boris Cercek | Method for measuring polarization of bathochromically shifted fluorescence |
GB8705844D0 (en) | 1987-03-12 | 1987-04-15 | Secr Defence | Dynamic light scattering apparatus |
EP0359681B1 (en) * | 1988-09-15 | 1995-11-08 | The Board Of Trustees Of The University Of Arkansas | Characterization of particles by modulated dynamic light scattering |
JPH02228069A (ja) | 1989-02-28 | 1990-09-11 | Omron Tateisi Electron Co | 受光素子アレイ |
JPH05172730A (ja) | 1991-12-25 | 1993-07-09 | Shimadzu Corp | 粒度分布測定装置 |
US5576827A (en) | 1994-04-15 | 1996-11-19 | Micromeritics Instrument Corporation | Apparatus and method for determining the size distribution of particles by light scattering |
FI98765C (fi) | 1995-01-16 | 1997-08-11 | Erkki Soini | Virtaussytometrinen menetelmä ja laite |
DE19725211C1 (de) | 1997-06-15 | 1998-06-04 | Alv Laser Vertriebsgesellschaf | Faserdetektor zur Detektion des Streulichtes oder des Fluoreszenzlichtes einer flüssigen Suspension |
US5956139A (en) | 1997-08-04 | 1999-09-21 | Ohio Aerospace Institute | Cross-correlation method and apparatus for suppressing the effects of multiple scattering |
US6016193A (en) | 1998-06-23 | 2000-01-18 | Awareness Technology, Inc. | Cuvette holder for coagulation assay test |
US6100976A (en) | 1998-09-21 | 2000-08-08 | The Board Of Regents For Oklahoma State University | Method and apparatus for fiber optic multiple scattering suppression |
US6509161B1 (en) | 2000-02-29 | 2003-01-21 | Gentronix Limited | Green fluorescent protein |
US6603546B1 (en) | 2000-07-21 | 2003-08-05 | I.S.S. (Usa) Inc. | Rapid high throughput spectrometer and method |
JP2002196222A (ja) | 2000-12-25 | 2002-07-12 | Nikon Corp | 面位置検出装置、露光装置 |
JP2002341173A (ja) | 2001-05-15 | 2002-11-27 | Namiki Precision Jewel Co Ltd | 微小レンズ付光ファイバアレイ及びその製造方法 |
EP1291642A1 (en) | 2001-09-05 | 2003-03-12 | Linde Medical Sensors AG | Sensor system comprising an integrated optical waveguide for the detection of chemical substances |
GB0122219D0 (en) | 2001-09-13 | 2001-11-07 | Gentronix Ltd | Toxicity monitoring |
US6794671B2 (en) * | 2002-07-17 | 2004-09-21 | Particle Sizing Systems, Inc. | Sensors and methods for high-sensitivity optical particle counting and sizing |
JP3720799B2 (ja) * | 2002-10-02 | 2005-11-30 | 神栄株式会社 | 花粉センサ |
CN1502981A (zh) | 2002-11-20 | 2004-06-09 | 上海理工大学 | 基于动态光散射信号分形的颗粒测量方法及装置 |
US7138091B2 (en) | 2003-07-18 | 2006-11-21 | Dade Behring Inc. | Reaction cuvette having anti-wicking features for use in an automatic clinical analyzer |
ZA200601273B (en) | 2003-08-14 | 2007-09-26 | Cytonome Inc | Optical detector for a particle sorting system |
US7268881B2 (en) | 2004-02-17 | 2007-09-11 | The Curators Of The University Of Missouri | Light scattering detector |
WO2005099408A2 (en) * | 2004-04-10 | 2005-10-27 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining particle characterics by measuring scattered light |
US20140226158A1 (en) | 2004-03-06 | 2014-08-14 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining particle characteristics |
US10620105B2 (en) | 2004-03-06 | 2020-04-14 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining characteristics of particles from scattered light |
US20080221814A1 (en) | 2004-04-10 | 2008-09-11 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining particle characteristics by measuring scattered light |
US10386283B2 (en) | 2004-03-06 | 2019-08-20 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining particle characteristics by utilizing force on particles |
US9297737B2 (en) * | 2004-03-06 | 2016-03-29 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining characteristics of particles |
US20070242269A1 (en) * | 2004-03-06 | 2007-10-18 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining characteristics of particles |
US10955327B2 (en) | 2004-03-06 | 2021-03-23 | Michael Trainer | Method and apparatus for determining particle characteristics utilizing a plurality of beam splitting functions and correction of scattered light |
JP4517145B2 (ja) * | 2004-09-02 | 2010-08-04 | 国立大学法人北海道大学 | 光散乱装置、光散乱測定法、光散乱解析装置および光散乱測定解析法 |
ITMI20050964A1 (it) | 2005-05-25 | 2006-11-26 | Tenax Spa | Confezione particolarmente per prodotti ortofrutticoli ed alimentari in genere realizzabile con macchine confezionatrici automatiche |
US20070229823A1 (en) | 2006-03-31 | 2007-10-04 | Intel Corporation | Determination of the number concentration and particle size distribution of nanoparticles using dark-field microscopy |
WO2007126389A1 (en) | 2006-05-02 | 2007-11-08 | Asensor Pte Ltd | Optical detector system for sample analysis having at least two different optical pathlengths |
JP2008039539A (ja) * | 2006-08-04 | 2008-02-21 | Shimadzu Corp | 光散乱検出装置 |
EP1906252A1 (en) | 2006-09-28 | 2008-04-02 | Carl Zeiss SMT AG | Instrument for measuring the angular distribution of light produced by an illumination system of a microlithographic projection exposure apparatus |
CA2677123A1 (en) | 2007-02-02 | 2008-08-07 | Canadian Blood Services | Method of detecting bacterial contamination using dynamic light scattering |
AU2008298551A1 (en) | 2007-09-13 | 2009-03-19 | Duke University | Apparatuses, systems, and methods for low-coherence interferometry (LCI) |
CN101477023A (zh) | 2008-01-02 | 2009-07-08 | 杨晖 | 基于动态光散射信号时间相干度的超细颗粒测量装置及方法 |
JP5259736B2 (ja) | 2008-01-15 | 2013-08-07 | マルバーン インストゥルメンツ リミテッド | 粒子測定装置及び粒子特性測定方法 |
US9013692B2 (en) | 2008-06-12 | 2015-04-21 | East Carolina University | Flow cytometer apparatus for three dimensional difraction imaging and related methods |
JP5172730B2 (ja) | 2009-02-05 | 2013-03-27 | 株式会社ジェイアール西日本ビルト | 外装材用取付部材、外装構造、及びその施工方法 |
US8493559B2 (en) | 2009-03-17 | 2013-07-23 | Trevor Harvard | Cuvette |
DE102009014080B4 (de) | 2009-03-23 | 2011-12-15 | Baumer Innotec Ag | Vorrichtung zum Bestimmen von Partikelgrössen |
CN102428377B (zh) * | 2009-05-12 | 2015-08-12 | 赛默飞世尔科技有限公司 | 颗粒检测与传感器的校准 |
DE102010005962B4 (de) * | 2010-01-21 | 2012-01-26 | Alv-Laser Vertriebsgesellschaft Mbh | Verfahren zur Bestimmung der statischen und/oder dynamischen Lichtstreuung |
EP2365313B1 (en) | 2010-03-12 | 2015-08-26 | LS Instruments AG | Cross-correlation dynamic light scattering (DLS) method and system |
US8717562B2 (en) * | 2010-08-23 | 2014-05-06 | Scattering Solutions, Inc. | Dynamic and depolarized dynamic light scattering colloid analyzer |
JP5662742B2 (ja) | 2010-08-27 | 2015-02-04 | アイステーシス株式会社 | 粒径計測装置及び粒径計測方法 |
US8729502B1 (en) | 2010-10-28 | 2014-05-20 | The Research Foundation For The State University Of New York | Simultaneous, single-detector fluorescence detection of multiple analytes with frequency-specific lock-in detection |
KR101545419B1 (ko) * | 2011-02-10 | 2015-08-18 | 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 | 이물 검출 장치 및 이물 검출 방법 |
US10359361B2 (en) | 2011-02-18 | 2019-07-23 | The General Hospital Corporation | Laser speckle micro-rheology in characterization of biomechanical properties of tissues |
CN202275041U (zh) | 2011-03-17 | 2012-06-13 | 上海理工大学 | 同时测量多颗粒的动态光散射纳米颗粒粒度的装置 |
WO2012172330A1 (en) | 2011-06-15 | 2012-12-20 | Malvern Instruments Limited | Surface charge measurement |
GB2493391B (en) | 2011-08-05 | 2015-09-16 | Malvern Instr Ltd | Optical detection and analysis of particles |
CN202453283U (zh) | 2011-12-27 | 2012-09-26 | 江西科技师范学院 | 一种比色皿支撑架 |
JP5442052B2 (ja) | 2012-02-16 | 2014-03-12 | 株式会社堀場製作所 | 粒子分析装置 |
CN104662407A (zh) | 2012-06-22 | 2015-05-27 | 马尔文仪器有限公司 | 颗粒表征 |
EP2698624A1 (de) | 2012-08-16 | 2014-02-19 | Siemens Healthcare Diagnostics Products GmbH | Reaktionsgefäß |
RU2525605C2 (ru) | 2012-10-26 | 2014-08-20 | Вячеслав Геннадьевич Певгов | Способ и устройство для оптического измерения распределения размеров и концентраций дисперсных частиц в жидкостях и газах с использованием одноэлементных и матричных фотоприемников лазерного излучения |
WO2015067930A1 (en) | 2013-11-05 | 2015-05-14 | Malvern Instruments Limited | Improvements relating to particle characterisation |
EP2869054A1 (en) | 2013-11-05 | 2015-05-06 | Malvern Instruments Limited | Improvements relating to particle characterisation |
US11002655B2 (en) | 2015-09-23 | 2021-05-11 | Malvern Panalytical Limited | Cuvette carrier |
EP4215900A1 (en) | 2015-09-23 | 2023-07-26 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation |
GB201516851D0 (en) | 2015-09-23 | 2015-11-04 | Malvern Instr Ltd | Cuvette carrier |
CN108291863B (zh) | 2015-10-02 | 2020-07-03 | 国家光学研究所 | 用于使用光散射技术进行个体颗粒尺寸测量的系统和方法 |
US10119910B2 (en) | 2015-10-09 | 2018-11-06 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation instrument |
FR3048240B1 (fr) | 2016-02-29 | 2018-04-13 | Cordouan Tech | Dispositif de caracterisation de particules dispersees dans un milieu liquide |
GB201604460D0 (en) | 2016-03-16 | 2016-04-27 | Malvern Instr Ltd | Dynamic light scattering |
US10365198B2 (en) | 2016-04-21 | 2019-07-30 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterization |
US10113945B2 (en) | 2016-05-10 | 2018-10-30 | Microtrac Inc. | Method and apparatus for combining measurements of particle characteristics using light scattering and optical imaging |
EP3309536A1 (en) | 2016-10-11 | 2018-04-18 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation instrument |
DE102017001439A1 (de) | 2017-02-15 | 2018-08-16 | Paragon Ag | Partikelmessvorrichtung zur Bestimmung der Partikelmassenkonzentration in Aerosolen mit unterschiedlichen Eigenschaften und Verfahren zur Bestimmung der Partikelmassenkonzentration in Aerosolen mit unterschiedlichen Eigenschaften |
EP3379232A1 (en) | 2017-03-23 | 2018-09-26 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation |
FR3090874B1 (fr) | 2018-12-21 | 2022-05-27 | Commissariat Energie Atomique | Détecteur optique de particules |
-
2017
- 2017-03-23 EP EP17162676.5A patent/EP3379232A1/en not_active Withdrawn
-
2018
- 2018-03-20 EP EP18710904.6A patent/EP3602001A1/en active Pending
- 2018-03-20 WO PCT/EP2018/057033 patent/WO2018172362A1/en unknown
- 2018-03-20 US US16/496,027 patent/US11199486B2/en active Active
- 2018-03-20 CN CN201880018559.3A patent/CN110431398B/zh active Active
- 2018-03-20 JP JP2019552113A patent/JP7281409B2/ja active Active
-
2021
- 2021-11-19 US US17/531,021 patent/US11906412B2/en active Active
-
2023
- 2023-10-20 US US18/491,034 patent/US20240192108A1/en active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06317513A (ja) * | 1993-04-30 | 1994-11-15 | Kao Corp | 粒子群の粒度検出方法および装置 |
US6052184A (en) * | 1996-11-13 | 2000-04-18 | The Administrators Of The Tulane Educational Fund | Miniature, submersible, versatile, light scattering probe for absolute equilibrium and non-equilibrium characterization of macromolecular and colloidal solutions |
JP2007527997A (ja) * | 2004-03-06 | 2007-10-04 | マイケル トレイナー, | 粒子のサイズおよび形状を決定する方法および装置 |
JP2011059048A (ja) * | 2009-09-14 | 2011-03-24 | Hokuto Denshi Kogyo Kk | 液体中の粒子のサイズの検出方法および装置 |
US8854621B1 (en) * | 2012-08-29 | 2014-10-07 | University Of South Florida | Systems and methods for determining nanoparticle dimensions |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
XINJUN ZHU: "Analysis of noisy dynamic light scattering data using constrained regularization techniques", APPLIED OPTICS, vol. 51, no. 31, JPN6022002736, 1 November 2012 (2012-11-01), pages 7537 - 7548, XP001579329, ISSN: 0004689688, DOI: 10.1364/AO.51.007537 * |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7473200B2 (ja) | 2020-11-12 | 2024-04-23 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | 動的光散乱測定装置、動的光散乱測定・解析方法、および、測定・解析プログラム |
JP7504460B2 (ja) | 2021-01-07 | 2024-06-24 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | 動的光散乱測定装置、動的光散乱測定・解析方法、および、測定・解析プログラム |
KR20230055857A (ko) * | 2021-10-19 | 2023-04-26 | 관악아날로그 주식회사 | 먼지 센서 |
KR102544474B1 (ko) | 2021-10-19 | 2023-06-20 | 관악아날로그 주식회사 | 먼지 센서 |
JP7363984B1 (ja) | 2022-07-22 | 2023-10-18 | 栗田工業株式会社 | 凝集状態の判断方法及び凝集処理方法 |
WO2024018884A1 (ja) * | 2022-07-22 | 2024-01-25 | 栗田工業株式会社 | 凝集状態の判断方法及び凝集処理方法 |
WO2024018885A1 (ja) * | 2022-07-22 | 2024-01-25 | 栗田工業株式会社 | 凝集状態の判断方法及び凝集処理方法 |
JP7452583B2 (ja) | 2022-07-22 | 2024-03-19 | 栗田工業株式会社 | 凝集状態の判断方法及び凝集処理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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JP2020514762A5 (ja) | ||
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