JP2020098296A - 感光性樹脂組成物、感光性ドライフィルム及びパターン形成方法 - Google Patents
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Abstract
Description
1.(A)下記式(A1)で表される繰り返し単位と、下記式(A2)で表される繰り返し単位及び下記式(A3)で表される繰り返し単位から選ばれる少なくとも1種とを含むポリマー、
(B)重量平均分子量が300〜10,000のフェノール化合物、
(C)光酸発生剤、
(D)ベンゾトリアゾール化合物及び/又はイミダゾール化合物、並びに
(E)有機溶剤
を含む感光性樹脂組成物。
Y1は、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜5のアルカンジイル基である。
Z1は、ヒドロキシ基を含んでいてもよい炭素数1〜10の直鎖状アルカンジイル基、炭素数2〜10の分岐状アルカンジイル基、又は下記式(A4)で表される2価の基である。
R1、R2、R3及びR4は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜10の1価炭化水素基である。
a1、a2及びa3は、0<a1<1、0≦a2<1、0≦a3<1及びa1+a2+a3=1を満たす数である。
x及びyは、それぞれ独立に、1〜50の整数である。]
2.1の感光性樹脂組成物から得られる感光性樹脂皮膜。
3.支持フィルムと、該支持フィルム上に2の感光性樹脂皮膜とを備える感光性ドライフィルム。
4.(a)1の感光性樹脂組成物を用いて、基板上に感光性樹脂皮膜を形成する工程、
(b)前記感光性樹脂皮膜を露光する工程、及び
(c)前記露光した感光性樹脂皮膜を、有機溶剤を用いて現像する工程
を含むパターン形成方法。
5.(a')3の感光性ドライフィルムを用いて、基板上に感光性樹脂皮膜を形成する工程、
(b)前記感光性樹脂皮膜を露光する工程、及び
(c)前記露光した感光性樹脂皮膜を、有機溶剤を用いて現像する工程
を含むパターン形成方法。
本発明の感光性樹脂組成物は、(A)分子中に架橋基又は架橋反応が生じる反応点を有するシルフェニレン骨格及びフルオレン骨格を含むポリマー、(B)重量平均分子量が300〜10,000のフェノール化合物、(C)光酸発生剤、(D)ベンゾトリアゾール化合物及び/又はイミダゾール化合物、並びに(E)有機溶剤を含むものである。
(A)成分のポリマーは、下記式(A1)で表される繰り返し単位と、下記式(A2)で表される繰り返し単位及び下記式(A3)で表される繰り返し単位から選ばれる少なくとも1種とを含むポリマーである。
(B)成分は、Mwが300〜10,000のフェノール化合物である。前記フェノール化合物は、少なくとも1つのフェノール性ヒドロキシ基を有する化合物であり、例えば、ノボラック樹脂が挙げられる。前記ノボラック樹脂は、フェノールやクレゾールとアルデヒドやケトンとを酸触媒下で縮合重合させることで製造することができる。前記酸触媒としては、塩酸、ギ酸、シュウ酸等が挙げられ、フェノールやクレゾール類として、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、o−エチルフェノール、m−エチルフェノール、2,3−キシレノール、2,5−キシレノール、3,5−キシレノール等が挙げられ、アルデヒド類やケトン類としては、例えば、ホルムアルデヒド、ベンズアルデヒド、アセトアルデヒド、アセトン等が挙げられる。
(C)成分の光酸発生剤は、高エネルギー線照射により酸を発生する化合物であれば、特に限定されない。前記高エネルギー線としては、紫外線、遠紫外線、電子線(EB)等が挙げられ、具体的には、g線、h線、i線、KrFエキシマレーザー、ArFエキシマレーザー、EB、シンクロトロン放射光等が挙げられる。
(E)成分の有機溶剤は、他の成分に対し、十分な溶解性を有し、良好な塗膜性を有するものであれば、特に限定されない。このような有機溶剤としては、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、メチルセロソルブアセテート、エチルセロソルブアセテート等のセロソルブ系溶剤;プロピレングリコール、ジプロピレングリコール等のプロピレングリコール系溶剤;プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル等のプロピレングリコールアルキルエーテル系溶剤;プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート等のプロピレングリコールアルキルエーテルアセテート系溶剤;酢酸ブチル、酢酸ペンチル、乳酸メチル、乳酸エチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル等のエステル系溶剤;メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、ヘキサノール、ジアセトンアルコール等のアルコール系溶剤;アセトン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、メチルエチルケトン、メチルペンチルケトン、メチルイソブチルケトン等のケトン系溶剤;メチルフェニルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル等のエーテル系溶剤;N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチルピロリドン、ジメチルスルホキシド等の高極性溶剤;及びこれらの混合溶剤が挙げられる。
質量%がより好ましい。(E)成分の含有量が前記範囲であれば、均一な膜厚でフィルムを製造でき、フィルム中に欠陥が発生するおそれがない。
本発明の感光性樹脂組成物は、前述した成分以外の成分として、界面活性剤を含んでもよい。界面活性剤としては、特に限定されないが、ポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポリオキシエチレンステリアルエーテル、ポリオキシエチレンセチルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエーテル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル類、ポリオキシエチレンオクチルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル等のポリオキシエチレンアルキルアリルエーテル類、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー類、ソルビタンモノラウレート、ソルビタンモノパルミテート、ソルビタンモノステアレート等のソルビタン脂肪酸エステル類、ポリオキシエチレンソルビタンモノラウレート、ポリオキシエチレンソルビタンモノパルミテート、ポリオキシエチレンソルビタンモノステアレート、ポリエーテルシリコーン、ポリオキシエチレンソルビタントリオレエート、ポリオキシエチレンソルビタントリステアレート等のポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステルのノニオン系界面活性剤、エフトップ(登録商標)EF301、EF303、EF352((株)トーケムプロダクツ製)、メガファック(登録商標)F171、F172、F173(DIC(株)製)、Fluorad(登録商標)FC-4430、FC-430、FC-431(3M社製)、サーフィノール(登録商標)E1004(日信化学工業(株)製)、アサヒガード(登録商標)AG710(AGC(株)製)、サーフロン(登録商標)S-381、S-382、SC101、SC102、SC103、SC104、SC105、SC106、KH-10、KH-20、KH-30、KH-40(AGCセイミケミカル(株)製)等のフッ素系界面活性剤、オルガノシロキサンポリマーKP-341、X-70-092、X-70-093(信越化学工業(株)製)、アクリル酸系又はメタクリル酸系ポリフローNo. 75、No. 95(共栄社化学(株)製)が挙げられ、中でもFC-4430、X-70-093が好適である。これらは、1種単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
本発明の感光性樹脂組成物を用いるパターン形成方法は、(a)前記感光性樹脂組成物を用いて、基板上に感光性樹脂皮膜を形成する工程、(b)前記感光性樹脂皮膜を露光する工程、及び(c)前記露光した感光性樹脂皮膜を、有機溶剤を用いて現像する工程を含むものである。
本発明の感光性ドライフィルムは、支持フィルムと、その上に本発明の感光性樹脂組成物から得られる感光性樹脂皮膜とを備えるものである。
本発明の感光性ドライフィルムを用いるパターン形成方法は、(a')前記感光性ドライフィルムを用いて、基板上に感光性樹脂皮膜を形成する工程、(b)前記感光性樹脂皮膜を露光する工程、及び(c)前記露光した感光性樹脂皮膜を、有機溶剤を用いて現像する工程を含むものである。
更に、本発明では、現像工程後、電解メッキ又は無電解メッキにより、基板上に金属メッキ層を形成し、メッキパターンを形成することができる。なお、メッキ工程は、電解メッキ法又は無電解メッキ法により基板上に導体パターンを形成し、その後、レジストパターンを除去するものである。
[合成例1]Poly−1の合成
攪拌機、温度計、窒素置換装置及び還流冷却器を具備した3Lフラスコに、化合物(M−1)172.1g(0.40モル)及び化合物(M−2)(日油(株)製ユニオックス、Mw≒500)53.9g(0.10モル)を加えた後、トルエン2,000gを加え、70℃に加熱した。その後、塩化白金酸トルエン溶液(白金濃度0.5質量%)1.0gを投入し、化合物(M−3)97.0g(0.50モル)を1時間かけて滴下した(ヒドロシリル基の合計/アルケニル基の合計=1/1(モル比))。滴下終了後、100℃まで加熱し6時間熟成した後、反応溶液からトルエンを減圧留去して、Poly−1を得た。Poly−1のMwは、38,000であり、1H-NMR(Bluker社製)により目的のポリマーであることを確認した。
攪拌機、温度計、窒素置換装置及び還流冷却器を具備した3Lフラスコに、化合物(M−4)217.1g(0.40モル)及び化合物(M−2)(日油(株)製ユニオックス、Mw≒500)53.9g(0.10モル)を加えた後、トルエン2,000gを加え、70℃に加熱した。その後、塩化白金酸トルエン溶液(白金濃度0.5質量%)1.0gを投入し、化合物(M−3)97.0g(0.50モル)を1時間かけて滴下した(ヒドロシリル基の合計/アルケニル基の合計=1/1(モル比))。滴下終了後、100℃まで加熱し6時間熟成した後、反応溶液からトルエンを減圧留去して、Poly−2を得た。Poly−2のMwは、40,000であり、1H-NMR(Bluker社製)により目的のポリマーであることを確認した。
攪拌機、温度計、窒素置換装置及び還流冷却器を具備した3Lフラスコに、化合物(M−4)217.1g(0.40モル)及び化合物(M−5)(日油(株)製ブレンマー)70.4g(0.10モル)を加えた後、トルエン2,000gを加え、70℃に加熱した。その後、塩化白金酸トルエン溶液(白金濃度0.5質量%)1.0gを投入し、化合物(M−3)97.0g(0.50モル)を1時間かけて滴下した(ヒドロシリル基の合計/アルケニル基の合計=1/1(モル比))。滴下終了後、100℃まで加熱し6時間熟成した後、反応溶液からトルエンを減圧留去して、Poly−3を得た。Poly−3のMwは、35,000であり、1H-NMR(Bluker社製)により目的のポリマーであることを確認した。
[実施例1−1〜1−11、比較例1−1〜1−5]
Poly−1〜3、光酸発生剤(PAG−1、PAG−2)、フェノール化合物(Ph−1、Ph−2、Ph−3)、ベンゾトリアゾール化合物(BTA−1、BTA−2)、イミダゾール化合物(4−MI)、有機溶剤(シクロペンタノン)及びその他の添加剤を、表1に示す組成で混合し、得られた溶液を1.0μmのメンブランフィルターで濾過し、感光性樹脂組成物1〜16を調製した。なお、全ての組成物について、界面活性剤としてKP−341(信越化学工業(株)製)0.10質量部を添加した。
・PAG−1:PAI−101(みどり化学(株)製、4−メチルフェニルスルホニルオキシイミノ−α−(4−メトキシフェニル)アセトニトリル)
・PAG−2:CPI−200K(サンアプロ(株)製)
・Ph−2:マルカリンカーM S−2P(丸善石油化学(株)製、ポリパラビニルフェノール、Mw=5,000)
・Ph−3:TrisP−PA(本州化学工業(株)製、α,α-Bis(4-hydroxyphenyl)-4-(4-hydroxy-α,α-dimethylbenzyl)-ethylbenzene)
[実施例2−1〜2−11、比較例2−1〜2−5]
感光性樹脂組成物1〜16をそれぞれスパッタにてCuを蒸着した8インチシリコンウェハー上にスピンコートし、ホットプレート上で、110℃、5分間プリベークを行い、厚さ100μmの感光性樹脂皮膜を形成した。次に、形成された感光性樹脂皮膜を、レチクルを介してi線用ステッパー((株)ニコン製NSR-2205i11D)を用いて露光し、100℃で2分間PEBを行った後、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)を用いて15分間スプレー現像を行い、乾燥させ、パターンを形成した。
得られたパターンに関して、走査型電子顕微鏡((株)日立ハイテクノロジーズ製S-4700)を用いて、露光量、解像性、パターン形状の確認を行った。なお、最適露光量は、50μmサイズのホールパターンが50μmとなる露光量とし、解像性は、最適露光量で最も小さなホールパターンが解像しているマスクサイズとした。
[実施例3]
クリーン度1000、湿度40〜45%、温度22〜26℃のクリーンルームで、フィルムコータとしてダイコータを用いて、感光性樹脂組成物7を支持フィルムであるPETフィルム(厚さ38μm)上に塗布した。次いで、100℃に設定された熱風循環オーブン(長さ4m)を5分間通過させることにより乾燥し、支持フィルム上に厚さ100μmの感光性樹脂皮膜を形成した。前記感光性樹脂皮膜の表面に、保護フィルムとしてPEフィルム(厚さ50μm)を圧力1MPaで貼り付け、保護フィルム付き感光性ドライフィルムを作製した。
得られたパターンに関して、走査型電子顕微鏡((株)日立ハイテクノロジーズ製S-4700)を用いて確認を行ったところ、1,200mJ/cm2の露光量で、20μmのホールパターンが、矩形に解像していた。
Claims (5)
- (A)下記式(A1)で表される繰り返し単位と、下記式(A2)で表される繰り返し単位及び下記式(A3)で表される繰り返し単位から選ばれる少なくとも1種とを含むポリマー、
(B)重量平均分子量が300〜10,000のフェノール化合物、
(C)光酸発生剤、
(D)ベンゾトリアゾール化合物及び/又はイミダゾール化合物、並びに
(E)有機溶剤
を含む感光性樹脂組成物。
Y1は、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜5のアルカンジイル基である。
Z1は、ヒドロキシ基を含んでいてもよい炭素数1〜10の直鎖状アルカンジイル基、炭素数2〜10の分岐状アルカンジイル基、又は下記式(A4)で表される2価の基である。
R1、R2、R3及びR4は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜10の1価炭化水素基である。
a1、a2及びa3は、0<a1<1、0≦a2<1、0≦a3<1及びa1+a2+a3=1を満たす数である。
x及びyは、それぞれ独立に、1〜50の整数である。] - 請求項1記載の感光性樹脂組成物から得られる感光性樹脂皮膜。
- 支持フィルムと、該支持フィルム上に請求項2記載の感光性樹脂皮膜とを備える感光性ドライフィルム。
- (a)請求項1記載の感光性樹脂組成物を用いて、基板上に感光性樹脂皮膜を形成する工程、
(b)前記感光性樹脂皮膜を露光する工程、及び
(c)前記露光した感光性樹脂皮膜を、有機溶剤を用いて現像する工程
を含むパターン形成方法。 - (a')請求項3記載の感光性ドライフィルムを用いて、基板上に感光性樹脂皮膜を形成する工程、
(b)前記感光性樹脂皮膜を露光する工程、及び
(c)前記露光した感光性樹脂皮膜を、有機溶剤を用いて現像する工程
を含むパターン形成方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018237135A JP7056541B2 (ja) | 2018-12-19 | 2018-12-19 | 感光性樹脂組成物、感光性ドライフィルム及びパターン形成方法 |
KR1020190152136A KR20200076587A (ko) | 2018-12-19 | 2019-11-25 | 감광성 수지 조성물, 감광성 드라이 필름 및 패턴 형성 방법 |
EP19215181.9A EP3671345B1 (en) | 2018-12-19 | 2019-12-11 | Photosensitive resin composition, photosensitive dry film, and pattern forming process |
US16/716,821 US11460774B2 (en) | 2018-12-19 | 2019-12-17 | Photosensitive resin composition, photosensitive dry film, and pattern forming process |
TW108146350A TWI814966B (zh) | 2018-12-19 | 2019-12-18 | 感光性樹脂組成物,感光性乾膜及圖案形成方法 |
CN201911315425.0A CN111338181A (zh) | 2018-12-19 | 2019-12-19 | 感光性树脂组合物、感光性干膜和图案形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018237135A JP7056541B2 (ja) | 2018-12-19 | 2018-12-19 | 感光性樹脂組成物、感光性ドライフィルム及びパターン形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020098296A true JP2020098296A (ja) | 2020-06-25 |
JP7056541B2 JP7056541B2 (ja) | 2022-04-19 |
Family
ID=68886785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018237135A Active JP7056541B2 (ja) | 2018-12-19 | 2018-12-19 | 感光性樹脂組成物、感光性ドライフィルム及びパターン形成方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11460774B2 (ja) |
EP (1) | EP3671345B1 (ja) |
JP (1) | JP7056541B2 (ja) |
KR (1) | KR20200076587A (ja) |
CN (1) | CN111338181A (ja) |
TW (1) | TWI814966B (ja) |
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JP6874584B2 (ja) | 2017-08-09 | 2021-05-19 | 信越化学工業株式会社 | 感光性樹脂組成物、感光性樹脂皮膜、感光性ドライフィルム、積層体、及びパターン形成方法 |
JP6866802B2 (ja) | 2017-08-09 | 2021-04-28 | 信越化学工業株式会社 | シリコーン骨格含有高分子化合物、感光性樹脂組成物、感光性樹脂皮膜、感光性ドライフィルム、積層体、及びパターン形成方法 |
JP6870657B2 (ja) | 2018-05-17 | 2021-05-12 | 信越化学工業株式会社 | 感光性樹脂組成物、感光性ドライフィルム、及びパターン形成方法 |
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JP7056541B2 (ja) | 2018-12-19 | 2022-04-19 | 信越化学工業株式会社 | 感光性樹脂組成物、感光性ドライフィルム及びパターン形成方法 |
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-
2019
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- 2019-12-17 US US16/716,821 patent/US11460774B2/en active Active
- 2019-12-18 TW TW108146350A patent/TWI814966B/zh active
- 2019-12-19 CN CN201911315425.0A patent/CN111338181A/zh active Pending
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TWI814966B (zh) | 2023-09-11 |
CN111338181A (zh) | 2020-06-26 |
KR20200076587A (ko) | 2020-06-29 |
EP3671345A1 (en) | 2020-06-24 |
JP7056541B2 (ja) | 2022-04-19 |
US11460774B2 (en) | 2022-10-04 |
TW202034085A (zh) | 2020-09-16 |
EP3671345B1 (en) | 2022-02-02 |
US20200201182A1 (en) | 2020-06-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20201124 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210831 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20211005 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211126 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220308 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220321 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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