JP2020065727A - 放射線撮影装置、放射線撮影方法及びプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
放射線に基づいた画像を取得するための複数の画素を含む領域を設定し、前記領域における複数の画素に基づく画素値を出力させる設定手段と、
前記領域に前記遮光画素が含まれているか否かを判定し、前記領域に前記遮光画素が含まれている場合、前記領域における複数の画素に基づく画素値を補正する補正手段と、を備えることを特徴とする。
以下、本発明を適用した実施形態を、添付図面を参照しながら詳細に説明する。尚、以下の各実施形態の説明において放射線とは、一般的に用いられるX線に限らず、放射性崩壊によって放出される粒子(光子を含む)の作るビームであるα線、β線、及びγ線などの他、同程度以上のエネルギーを有するビームも含まれ、本発明を他の放射線(例えば、α線、β線、γ線等)を用いて被写体の放射線画像の撮影を行う放射線撮影装置に適用することも可能である。
先ず、本発明の第1の実施形態について説明する。図1は、第1の実施形態に係る放射線撮影装置1000の全体構成を示す図である。放射線撮影装置1000は、医療用として使用され、医療従事者(以下、「操作者」という)は操作部1011を通して撮影条件を設定する。設定された撮影条件は、記憶部1013に記憶されるとともに、放射線撮影装置1000の制御部として機能するCPU1010により、CPUバス1014を通して、放射線発生部1001および放射線検出部を備えた撮影部1004に設定される。
次に、図4を用いて、撮影部1004の構成を説明する。撮影部1004は、アレイ基板410を含む放射線検出部450、ゲート駆動回路402、及び電源回路403、読出し回路404、信号変換回路405を有する。
次に図2を用いて、放射線撮影装置1000による被写体1003の撮影開始から終了までの処理の流れを説明する。本処理は放射線撮影装置1000のCPU1010の全体的な制御の下に実行される。
遮光画素算出部1060は、ビニングサイズ毎に異なる計算方法を実行する演算部として、1×1遮光画素算出部1061、2×2遮光画素算出部1062、3×3遮光画素算出部1063、4×4遮光画素算出部1064・・・・を有しており、各遮光画素算出部により、各ビニング撮影における遮光画素の画素値を演算する。遮光画素算出部1060は、欠損マップメモリ部1071または遮光画素マップメモリ部1077を用いて、図3にて後述する方法にて、ビニング撮影時の各遮光画素の画素値を演算する。
遮光画素を含むビニング画像の画素値β=8*X+9*D・・・(2)
各ビニング画像の画素値を(1)、(2)式により取得すると、求めるビニング撮影後における画素値Zは、αとβの値を用いて以下の(3)式のように示すことができる。
= β − 8*(α−β)
= −8*α + 9*β・・・・ (3)
遮光画素算出部1060は、ビニング設定に基づいて、設定されているビニングサイズに対応する遮光画素算出部を特定し、特定された遮光画素算出部(1060〜1065)が上記の画素値Zを求める演算処理を行う。画素値Zより、遮光画素1050の画素値を取得することができる。
ここで、撮影部1004の放射線検出部が複数画素の信号をまとめ読みするビニング読み出し機能を有する場合に2つの課題が生じ得る。1つ目の課題は、遮光画素1050が大画素化する課題である。例えば、3×3の計9画素の光遮蔽素子420を隣り合わせで有効画素領域401内に配置させることで、3×3ビニング読み出しの際にも光遮蔽素子420のオフセット信号(暗電流出力)を用いることができる。3×3ビニング読み出しにおいては1画素分の処理となるが、3×3の計9画素を遮光画素1050として欠損扱いすると、9画素の連欠損となり得る。このようにビニング読み出しに対応して遮光画素1050を配置させると、医療用途において、腫瘍や、腫瘍の辺縁の形状(例えばスピキュラスの形状)を放射線画像において把握する際に、連欠損となり得る画素サイズと同等サイズの病変を撮影できない場合が生じ得る。このため、ビニング読み出しを行う放射線検出部においても、遮光画素が大画素化することは避けることが望ましい。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。第2の実施形態の処理と第1の実施形態の処理との違いは、遮光画素算出部1060の演算処理において、遮光画素1050が含まれていない、周辺のビニング画像の画素値(α)と、遮光画素1050を含むビニング画像の画素値(β)とに基づいて取得したビニング撮影後における遮光画素の画素値を用いるのではなく、事前に取得された遮光画素の出力信号オフセット信号を用いて演算する点である。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
Claims (19)
- 放射線に基づいた画像を取得するための画素と遮光された遮光画素とがアレイ状に配置された放射線撮影装置であって、
放射線に基づいた画像を取得するための複数の画素を含む領域を設定し、前記領域における複数の画素に基づく画素値を出力させる設定手段と、
前記領域に前記遮光画素が含まれているか否かを判定し、前記領域に前記遮光画素が含まれている場合、前記領域における複数の画素に基づく画素値を補正する補正手段と、
を備えることを特徴とする放射線撮影装置。 - 前記遮光画素は、前記画像に含まれるオフセット信号を取得するための画素であることを特徴とする請求項1に記載の放射線撮影装置。
- 前記設定手段は、前記放射線を検出する検出手段の面内において複数の領域を設定し、前記複数の領域ごとに複数の画素に基づく画素値を出力させることを特徴とする請求項1または2に記載の放射線撮影装置。
- 前記補正手段は、前記領域に前記遮光画素が含まれている場合、前記領域における遮光画素の数に応じて、複数の画素に基づく画素値を補正することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。
- 前記補正手段は、前記領域に前記遮光画素が含まれている場合、前記領域における前記複数の画素及び前記遮光画素の数に応じて、複数の画素に基づく画素値を増幅することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。
- 前記補正手段は、前記遮光画素のオフセット信号に基づいて、前記複数の画素に基づく画素値を補正することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。
- 前記補正手段は、前記放射線を検出する検出手段の面内で均一になるように前記遮光画素のオフセット信号を補正することを特徴とする請求項3に記載の放射線撮影装置。
- 複数の画素を一つのまとまりとし、一つのまとまりの画素の信号を出力するビニング撮影が設定されている場合、前記設定手段は、放射線に基づいた画像を取得するための複数の画素を含む領域を設定し、前記領域における複数の画素に基づく画素値を出力させ、ビニング画像を生成させることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。
- 前記補正手段は、前記遮光画素の位置情報に基づいて、前記領域に前記遮光画素が含まれているか否かを判定することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。
- 前記補正手段は、設定された前記領域のビニングサイズにおいて、前記遮光画素が含まれていない、周辺のビニング画像の画素の値と、前記遮光画素を含むビニング画像の画素の値とに基づいて、ビニング撮影後における前記遮光画素のオフセット信号を補正することを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。
- 前記補正手段は、前記ビニング画像において、欠損画素が含まれている場合、前記欠損画素の画素値を、前記遮光画素のオフセット信号の補正で使用しないことを特徴とする請求項10に記載の放射線撮影装置。
- 前記検出手段において、前記遮光画素は隣接しないように配置されていることを特徴とする請求項3または7に記載の放射線撮影装置。
- 放射線に基づいた画像を取得するための画素と遮光された遮光画素とがアレイ状に配置された放射線撮影装置における放射線撮影方法であって、
放射線に基づいた画像を取得するための複数の画素を含む領域を設定し、前記領域における複数の画素に基づく画素値を出力させる設定工程と、
前記領域に前記遮光画素が含まれているか否かを判定し、前記領域に前記遮光画素が含まれている場合、前記領域における複数の画素に基づく画素値を補正する補正工程と、
を有することを特徴とする放射線撮影方法。 - 前記設定工程では、前記放射線を検出する検出手段の面内において複数の領域を設定し、前記複数の領域ごとに複数の画素に基づく画素値を出力させることを特徴とする請求項13に記載の放射線撮影方法。
- 前記補正工程は、前記領域に前記遮光画素が含まれている場合、前記領域における遮光画素の数に応じて、複数の画素に基づく画素値を補正することを特徴とする請求項13または14に記載の放射線撮影方法。
- 前記補正工程は、前記領域に前記遮光画素が含まれている場合、前記領域における前記複数の画素及び前記遮光画素の数に応じて、複数の画素に基づく画素値を増幅することを特徴とする請求項13乃至15のいずれか1項に記載の放射線撮影方法。
- 前記補正工程では、前記放射線を検出する検出手段の面内で均一になるように前記遮光画素のオフセット信号を補正することを特徴とする請求項13乃至16のいずれか1項に記載の放射線撮影方法。
- 複数の画素を一つのまとまりとし、一つのまとまりの画素の信号を出力するビニング撮影が設定されている場合、前記設定工程では、放射線に基づいた画像を取得するための複数の画素を含む領域を設定し、前記領域における複数の画素に基づく画素値を出力させ、ビニング画像を生成させることを特徴とする請求項13乃至17のいずれか1項に記載の放射線撮影方法。
- コンピュータに、請求項13乃至18のいずれか1項に記載の放射線撮影方法の各工程を実行させるためのプログラム。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7426899B2 (ja) | 2020-05-26 | 2024-02-02 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影装置の制御方法、および、プログラム |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20220043571A (ko) * | 2020-09-29 | 2022-04-05 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센싱 장치 및 그의 동작 방법 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000139891A (ja) * | 1998-11-17 | 2000-05-23 | Toshiba Corp | 放射線診断装置 |
JP2003190126A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-07-08 | Hitachi Medical Corp | X線画像処理装置 |
JP2003347539A (ja) * | 2002-05-27 | 2003-12-05 | Hamamatsu Photonics Kk | 固体撮像装置及び固体撮像装置アレイ |
JP2007019820A (ja) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Fujifilm Corp | 固体撮像素子 |
JP2009089219A (ja) * | 2007-10-02 | 2009-04-23 | Olympus Corp | 固体撮像素子及びそれを用いた固体撮像システム |
JP2010057114A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Canon Inc | 欠陥検出補正装置及び欠陥検出補正方法 |
JP2014228671A (ja) * | 2013-05-22 | 2014-12-08 | ソニー株式会社 | 信号処理装置および信号処理方法、固体撮像装置、並びに、電子機器 |
US20160028976A1 (en) * | 2013-12-13 | 2016-01-28 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Digital imaging with masked pixels |
US20160050376A1 (en) * | 2014-08-18 | 2016-02-18 | Ron Fridental | Image sensor with sub-wavelength resolution |
JP2017158176A (ja) * | 2016-02-26 | 2017-09-07 | 株式会社リコー | 撮像装置及び撮像システム |
JP2017220616A (ja) * | 2016-06-09 | 2017-12-14 | キヤノン株式会社 | 撮像装置および放射線撮像システム |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5040458B2 (ja) * | 2007-06-16 | 2012-10-03 | 株式会社ニコン | 固体撮像素子及びこれを用いた撮像装置 |
JP5335313B2 (ja) * | 2008-08-05 | 2013-11-06 | キヤノン株式会社 | X線画像撮影装置、x線画像撮影システム、x線撮影制御装置、制御方法及びプログラム |
JP5393245B2 (ja) | 2009-05-12 | 2014-01-22 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理装置の制御方法、x線画像撮影装置およびx線画像撮影装置の制御方法 |
JP5713864B2 (ja) * | 2011-09-30 | 2015-05-07 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影装置 |
JP5921180B2 (ja) | 2011-12-15 | 2016-05-24 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
TW201403804A (zh) * | 2012-07-05 | 2014-01-16 | Sony Corp | 固體攝像裝置及其製造方法、以及電子機器 |
KR20140010553A (ko) * | 2012-07-13 | 2014-01-27 | 삼성전자주식회사 | 픽셀 어레이, 이를 포함하는 이미지 센서, 및 상기 이미지 센서의 로컬 다크 전류 보상 방법 |
JP2014086873A (ja) * | 2012-10-23 | 2014-05-12 | Canon Inc | 放射線撮影装置及びその制御方法、プログラム |
JP6494274B2 (ja) | 2014-12-24 | 2019-04-03 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、撮影制御装置、撮影制御方法およびプログラム |
JP6626301B2 (ja) * | 2015-09-28 | 2019-12-25 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム |
JP6887812B2 (ja) * | 2017-01-18 | 2021-06-16 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
CN111491120B (zh) * | 2019-01-29 | 2022-11-01 | Jvc建伍株式会社 | 拍摄装置 |
JP7368948B2 (ja) * | 2019-03-12 | 2023-10-25 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、放射線撮影装置および画像処理方法 |
-
2018
- 2018-10-24 JP JP2018200299A patent/JP6788648B2/ja active Active
-
2019
- 2019-10-21 US US16/658,568 patent/US10971532B2/en active Active
- 2019-10-21 CN CN201910998978.4A patent/CN111084630B/zh active Active
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000139891A (ja) * | 1998-11-17 | 2000-05-23 | Toshiba Corp | 放射線診断装置 |
JP2003190126A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-07-08 | Hitachi Medical Corp | X線画像処理装置 |
JP2003347539A (ja) * | 2002-05-27 | 2003-12-05 | Hamamatsu Photonics Kk | 固体撮像装置及び固体撮像装置アレイ |
JP2007019820A (ja) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Fujifilm Corp | 固体撮像素子 |
JP2009089219A (ja) * | 2007-10-02 | 2009-04-23 | Olympus Corp | 固体撮像素子及びそれを用いた固体撮像システム |
JP2010057114A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Canon Inc | 欠陥検出補正装置及び欠陥検出補正方法 |
JP2014228671A (ja) * | 2013-05-22 | 2014-12-08 | ソニー株式会社 | 信号処理装置および信号処理方法、固体撮像装置、並びに、電子機器 |
US20160028976A1 (en) * | 2013-12-13 | 2016-01-28 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Digital imaging with masked pixels |
US20160050376A1 (en) * | 2014-08-18 | 2016-02-18 | Ron Fridental | Image sensor with sub-wavelength resolution |
JP2017158176A (ja) * | 2016-02-26 | 2017-09-07 | 株式会社リコー | 撮像装置及び撮像システム |
JP2017220616A (ja) * | 2016-06-09 | 2017-12-14 | キヤノン株式会社 | 撮像装置および放射線撮像システム |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7426899B2 (ja) | 2020-05-26 | 2024-02-02 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影装置の制御方法、および、プログラム |
Also Published As
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---|---|
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US10971532B2 (en) | 2021-04-06 |
CN111084630A (zh) | 2020-05-01 |
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