JP2020053084A - 複数のパターン認識及び登録ツールモデルをトレーニングするための半教師付き方法 - Google Patents

複数のパターン認識及び登録ツールモデルをトレーニングするための半教師付き方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2020053084A
JP2020053084A JP2019222530A JP2019222530A JP2020053084A JP 2020053084 A JP2020053084 A JP 2020053084A JP 2019222530 A JP2019222530 A JP 2019222530A JP 2019222530 A JP2019222530 A JP 2019222530A JP 2020053084 A JP2020053084 A JP 2020053084A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
model
pattern
training
image
trained
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2019222530A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6967060B2 (ja
Inventor
バーカー サイモン
Barker Simon
バーカー サイモン
ジェイ.マイケル デイヴィッド
J Michael David
ジェイ.マイケル デイヴィッド
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Cognex Corp
Original Assignee
Cognex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Cognex Corp filed Critical Cognex Corp
Publication of JP2020053084A publication Critical patent/JP2020053084A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6967060B2 publication Critical patent/JP6967060B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/70Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning
    • G06V10/77Processing image or video features in feature spaces; using data integration or data reduction, e.g. principal component analysis [PCA] or independent component analysis [ICA] or self-organising maps [SOM]; Blind source separation
    • G06V10/772Determining representative reference patterns, e.g. averaging or distorting patterns; Generating dictionaries
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F18/00Pattern recognition
    • G06F18/20Analysing
    • G06F18/21Design or setup of recognition systems or techniques; Extraction of features in feature space; Blind source separation
    • G06F18/214Generating training patterns; Bootstrap methods, e.g. bagging or boosting
    • G06F18/2155Generating training patterns; Bootstrap methods, e.g. bagging or boosting characterised by the incorporation of unlabelled data, e.g. multiple instance learning [MIL], semi-supervised techniques using expectation-maximisation [EM] or naïve labelling
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F18/00Pattern recognition
    • G06F18/20Analysing
    • G06F18/21Design or setup of recognition systems or techniques; Extraction of features in feature space; Blind source separation
    • G06F18/217Validation; Performance evaluation; Active pattern learning techniques
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F18/00Pattern recognition
    • G06F18/20Analysing
    • G06F18/21Design or setup of recognition systems or techniques; Extraction of features in feature space; Blind source separation
    • G06F18/217Validation; Performance evaluation; Active pattern learning techniques
    • G06F18/2193Validation; Performance evaluation; Active pattern learning techniques based on specific statistical tests
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F18/00Pattern recognition
    • G06F18/20Analysing
    • G06F18/28Determining representative reference patterns, e.g. by averaging or distorting; Generating dictionaries

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Data Mining & Analysis (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Evolutionary Biology (AREA)
  • Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Probability & Statistics with Applications (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

【課題】複数のパターン認識及び登録ツールモデルをトレーニングするための半教師付き方法を提供する。【解決手段】複数のパターン認識及び登録モデルをトレーニングするためのシステム及び方法は、第1のパターンモデルで開始する。当該モデルは複数の画像からトレーニングされる。合成モデルを使用してロバスト性を改善するか又はターゲット領域の外観における小さい差異をモデル化する。合成モデルは、基本的なパターンの例を示すノイズの多いトレーニング画像からのデータを結合して単一のモデルを形成する。トレーニング画像のセットにおけるターゲットパターンの外観の全範囲に及ぶパターン認識及び登録モデルが生成される。【選択図】図3

Description

関連する出願
本出願は、2013年6月28日に出願された米国仮出願第61/841142号、名称「複数のPATMAXモデルをトレーニングするための半教師付き方法」の優先権を主張するものであり、その全体は参照により本明細書に編入される。
本発明は、カメラ又はその他の撮像装置を用いて対象物の画像が取得され、画像内のターゲットパターンの位置特定が撮像されている対象物上のパターンの位置特定に対応しているマシンビジョンに関する。
マシンビジョンシステムの課題は、これらをユーザにとって使いやすく、より広範な潜在的ユーザに近づきやすいものにすることである。ユーザが明確に理解している側面は確かにある(例えばトレーニング画像のセットをどのように生成するか、及び状況のグラウンドトゥルースとは何か)。しかしながらそれ以上にマシンビジョンシステムのトレーニングと実行時動作の多くの側面は、適用するのがより困難である。
カメラ又はその他の撮像装置を用いて対象物の画像が取得され、コンピュータ又はその他の計算装置で実行される方法を用いて撮像されている対象物上のパターン位置が特定されるマシンビジョンにおいて。ターゲットパターンの少なくとも1つのインスタンスを含む画像のセットが与えられ、しかも当該ターゲットパターンの外観が変動することがある場合は、当該画像セット内のすべての画像に適用可能なパターン認識及び登録モデルの最小限のセットを特定してトレーニングすることが課題となり得る。パターン認識及び登録手順は米国特許第6,408,109号;6,658,145号;及び7,016,539号により詳細に説明されており、その開示内容は有用な背景情報として参照により本明細書に編入される。パターンが認識されたら、パターン認識及び登録手順(又は「ツール」)は、見られているパターンが、実際に、ツールがサーチしてその位置、向き、スケール、スキュー及びアスペクトを固定するパターンであることを確認する。このようなサーチツールの一例は、米国マサチューセッツ州ネイティック市のコグネックス株式会社から出ている製品PatMax(R)である。パターン認識及び登録手順は、ジオメトリックパターン検出の方法である。本明細書で記述する方法は、概してジオメトリックパターン検出に適用する。
例えば、パターンは円と線を含む要素から成っていてもよい。図1を参照すると、パターン110は円112と2本の交差する線114、116を含み、パターン120は円122と1対の線124、126を含み、パターン130は円132と1対の線134、136を含んでいる。トレーニングされた画像の画像セットにわたって、円は半径が変動し、線は太さ又は数が変動することがある。これは特に基体上に複数の層が積層される半導体又はその他の材料の分野で見られ、各層における特徴の歪みを招く可能性がある。パターンの極性も画像セットを通して変化することがある(パターン120とパターン130の差異として示されている)。画像は高いノイズを含むこともある。
この問題は少なくとも2つの構成要素を有する。第1に、トレーニング画像セットはノイズの多い画像から成るので単一の画像からクリーンなモデルをトレーニングすることは難しい。第2に、パターンはトレーニングセットにおいて異なる外観を持ち、そのことが単一モデルのトレーニングを困難にすると共に実行時にエラーが起こりやすくする。
先行技術の短所を克服するために、本明細書に記載のシステム及び方法はパターン認識及び登録モデルを用いてトレーニングを行う。例示的に、パターン検出モデルは、複数のトレーニング画像からトレーニングされた単一のモデルである。幾つかの実施形態において、合成モデルを使用してロバスト性を標準パターン認識及び登録モデルに比べて改善し、及び/又はターゲット領域の外観における小さい差異をモデル化する。ロバスト性を改善するために、合成モデルは単一の基本的パターンのインスタンスを示すノイズの多い(または別様に歪んだ)トレーニング画像からデータを結合して単一のロバストなモデルを形成する。これを達成するために、パターン認識及び登録モデルを用いるトレーニングエレメントは、入力された画像と既知の相対的位置又は姿勢(これは人が特定するかコンピュータが判定する)を使用する。
ターゲット領域の外観における小さい差異を把握するために、トレーニングセット内のターゲットパターンの外観の全範囲(又は少なくとも全範囲の大部分)に及ぶパターン認識及び登録モデルのセットをトレーニングするトレーニング方法が採用される。パターン認識及び登録モデルのセットは、パターンモデルの別個のインスタンスとして、又はパターンマルチモデルとして出現し得る。パターンマルチモデルはパターン認識及び登録モデルオン集合である。基礎モデルは、標準パターン認識及び登録モデル、又は合成パターンモデル、又は両者の結合であってもよい。パターンマルチモデルは、外観が顕著に変動するターゲットのモデル化で使用するためのものである。マルチモデルは、実際にあり得そうな時系列モデルの外観の予備知識を利用するために種々のモードで実行することができる。複数のパターンモデルをパターンマルチモデルフレームワークに組み入れることによりフロントエンド処理の量を減らすことができ、それによって、別個のパターンモデルインスタンスを実行することに比べて増分性能利得が可能になる。パターンマルチモデルはそのコンポーネントモデルからの結果を検査してオーバーラップについてフィルターをかけることができ、例えば2個のモデルからの結果がユーザの指定する閾値より多くオーバーラップしていないか検査し、次にパターンマルチモデルはより良好なマッチ(又はより高い得点)結果のみをユーザに戻すことができる。
以下に、本発明を添付の図面を参照して説明する。
図1は、既に述べたように、それぞれパターン認識及び登録手順に従い1つのパターンを含む3個の模範的な画像を示す。
図2は、例示的な実施形態により本発明の原理を実施するための模範的なマシンビジョンシステムの概略的なブロック図である。
図3は、例示的な実施形態により単一のパターン認識及び登録モデルをトレーニングするための手順のフローチャートである。
図4は、例示的な実施形態によりパターンマルチモデルをトレーニングし、現在トレーニングされて出力されるモデルの性能を測定するための手順のフローチャートである。
図5は、例示的な実施形態により出力されるモデル集合に追加するための候補の提案及びランク付けの手順のフローチャートである。
図6は、例示的な実施形態により最高得点の候補をユーザに提案し、パターンマルチモデルを出力する手順のフローチャートである。
図2は、例示的な実施形態により本発明の原理を実施するために用いられ得るマシンビジョンシステム200の概略的なブロック図である。マシンビジョンシステム200は、1以上の特徴215を有する対象物210の画像を生成する撮像装置205を含んでいる。撮像装置205は慣用的なビデオカメラ又はスキャナを備えていてもよい。そのようなビデオカメラは電荷結合素子(CCD)、又は適当な画像情報を取得するためのその他のシステム、例えばよく知られたCMOSセンサであってもよい。撮像装置205によって生成される画像データ(又はピクセル)は、画像強度、例えばシーン内の各点色又は輝度を撮像装置205の解像度の範囲内で表す。撮像装置205は通信パス220を介してデジタル画像データを画像分析システム225に伝送する。画像分析システム225は、慣用的なデジタルデータプロセッサ、例えばコグネックス社から市販されているタイプの視覚処理システムを備えていてもよい。画像分析システム225は、慣用的なマイクロコンピュータ又はその他の例示的な計算装置を備えていてもよい。例えばパーソナルデジタルアシスタント(PDA)等を含む他の形態のインタフェースを利用することができる。代替的な実施形態において、撮像装置は分析システムの機能を実行するための処理能力を含んでいてもよい。そのような実施形態では別個の画像分析システムの必要はない。更に代替的な実施形態において、撮像装置はトレーニング目的のために画像分析システムと相互に動作接続されてもよい。トレーニングが行われたら、1以上の適当なモデルは実行時に使用するために撮像装置に保存できる。
画像分析システム225は、本発明の教示に従い、複数の画像間に類似の特徴を検出してマシンビジョンシステムをトレーニングするための適当な認識及び登録情報を生成するようにプログラムされ得る。画像分析システム225は1以上の中央処理ユニット(プロセッサ)230、主メモリ235、入力/出力システム245、及び1以上のディスクドライブ、又は他の形態の大容量記憶装置240を有していてもよい。例示的に、入力/出力システム245は通信パス220によって撮像装置205と画像分析システム225とを相互接続する。システム225は、本発明の教示に従いプログラミング命令によって本発明の新規のマルチ画像トレーニングされたパターン認識及び登録を実行するように設定できる。当業者によって理解されるように、本発明の原理を実装するために代替的なハードウェア及び/又はソフトウェア設定を利用することができる。具体的には、本発明の教示はソフトウェア、ハードウェア、ファームウェア及び/又はそれらの組み合わせにおいて実装され得る。更に、トレーニング時とは対照的に、実行時にはマシンビジョンシステム200に追加のコンポーネントを含めることができる。例えば、対象物215はコンベヤベルト又はその他の組立ライン機器等によって搬送されてもよい。
本発明の例示的な実施形態により、マシンビジョンシステム200を利用して実行時マシンビジョンシステムのためのトレーニングモデルを生成できる。従って、マシンビジョンシステム200を利用して、類似のコンポーネントを用いる複数のマシンビジョンシステムで使用可能なトレーニングモデルを生成できる。
更に、本明細書で図示及び説明されるパターンエレメント(又はパターン認識及び登録要素)、並びにそれらと関連するモデルは、概して画像分析システム225の内部にあることに留意すべきである。しかしながら、エレメント及びモデルの配置と保存は、通常技術の範囲内で大いに変更させ得る。
本発明はマシンビジョンシステム200の観点から説明されているが、本発明の原理は種々異なる実施形態で利用できることに留意すべきである。例えばマシンビジョンシステムという用語は、代替的なシステムを含むものとして受け取られるべきである。より一般的に、本発明の原理は画像中のサブパターンを登録する任意のシステムに実装させることができる。例えば1実施形態では、画像等を処理するようにプログラムされたスタンドアロン型コンピュータと相互に動作接続されたスタンドアロン型カメラから成る慣用的なマシンビジョンシステムを含んでいてもよい。しかしながら、本発明の原理は画像中のサブパターンを登録するその他の装置及び/又はシステムで利用できる。例えば、コグネックス社から発売されている製品チェッカ等のビジョンセンサ、又は画像取得能力及び/又は処理能力を有するその他の装置である。そのようなビジョンセンサは、コグネックス社製ビジョンビュー等の別個のモジュールを介してトレーニングされ、及び/又は、設定され得る。そのような実施形態において、ユーザは単一の部分の代わりに複数の部分を用いてビジョンセンサをトレーニングできる。ユーザは第1の部分を選択して、それをセンサの前に置き、トレーニング部分が位置決めされたことをシステムに示す。第2(第3等々)の部分も同様にトレーニングできる。ユーザは、例えばグラフィカルユーザインタフェース(GUI)及び/又はボタン、あるいは、トレーニングモジュール及び/又はビジョンセンサ自体に配置されたその他のコントロールサーフェスを用いてトレーニングステップを制御できる。更に、本発明の機能性は手持ち装置や、互換性のあるワイヤレス装置等に組み入れることができる。そのようなものとしてマシンビジョンシステムという用語は広く解釈して、本発明の1以上の教示を利用するシステム及び装置を包含すべきである。
単一のパターン認識及び登録モデルのトレーニング
例示的な実施形態により、パターン認識及び登録モデルは複数の画像からトレーニングされる。単一のパターン認識及び登録モデルのトレーニングのより詳細な説明は、例えば米国特許第8,315,457号を参照することとし、その開示内容は有用な背景情報として参照により本明細書に編入される。合成モデルは、ロバスト性を標準パターンモデルに比べて改善するために、又はターゲット領域の外観における小さい差異をモデル化するために使用できる。本明細書で実装されるトレーニングエレメントは、1組のトレーニング画像におけるターゲットパターンの外観の全範囲に及ぶ、パターン認識及び登録モデルのセットをトレーニングする。このモデルのセットは、単一のパターン認識及び登録モデル、又は本明細書でパターン「マルチモデル」エレメントと呼ばれるモデルの集合であってもよい。マルチモデルエレメントは、外観が顕著に変動するターゲットのモデル化で使用するためのものである。マルチモデルは、実際にあり得そうな時系列モデルの外観の予備知識を利用するために種々のモードで実行することができる。
本明細書で用いられる「トレーニングエレメント」(又はトレーニングモジュール)という用語は、トレーニングモデルの生成において実行されるステップの非一時的な実施形態を表す。トレーニングエレメントは、特定のタスクのみ実行するように設計された1つの(又は幾つかの)ルーチン又は機能を含む非一時的なコンピュータプログラムの部分である。本明細書で図示及び説明される各エレメント(又はモジュール)は、マシンビジョンシステム内部で単独で又は他のモジュールと組み合わせて使用できる。トレーニングエレメントは、データベースに保存されているトレーニング画像の全範囲に及ぶ1組のモデルをトレーニングすることによってトレーニングモデルを作成する。加えて、本明細書で用いられる「パターン認識及び登録モデル」又は「パターンモデル」という用語は、別途注記しない限り、概して米国特許第8,315,457号で開示されているパターンモデルを表す。
ここで図3を参照すると、例示的な実施形態により単一のパターン認識及び登録モデルをトレーニングするためのトレーニングエレメントによって実行される手順300のフローチャートが示されている。ステップ310では、アルゴリズム(ユーザ又はコンピュータにより提供されてもよい)に対する初期入力は、初期トレーニング画像とトレーニングされるべきパターンを規定する領域(「関心のある領域」)であり、これもユーザ又はコンピュータにより提供されてもよい。手順300はこの入力を受け取り、ステップ320で325でのトレーニングパラメータを用いて第1の(初期)パターン認識及び登録(「PatMax」)モデル(P)をトレーニングする。次にステップ330で、システムが画像セット(少なくとも残りのトレーニング画像の一部又はサブセット)にわたってパターンモデルPの実行を反復する。この画像セットはユーザ又はコンピュータにより提供され、以前にデータベースに保存されたものである。システムは残りの全トレーニング画像セット又は残りの画像セットの一部でモデルを反復でき、結果得点、姿勢及びマッチング領域データを保存する。ステップ340で、結果は得点順(グラウンドトゥルースデータが利用できる場合は精度順)にソートされる。グラウンドトゥルースはユーザにより供給されてもよいし、あるいは、コンピュータにより生成されてもよい。ステップ350で、手順はトップ画像(N−1)(Nは、合成モデルトレーニングに入力される画像数を規定するパラメータ)を入力し、ステップ360で、以前にPの実行において生成された結果からの姿勢及び領域情報を用いて合成モデルをトレーニングする。
参照することにより本明細書に有用な背景情報として編入される米国特許第8,315,457号により詳細に説明されているように、パターン認識及び登録のためにマルチ画像トレーニングが実行される。マシンビジョンシステムは複数(「N」)のトレーニング画像を取得する。1個の画像が選択されると、その他の(N−1)画像は実質的にこの選択された画像に登録される。この選択と登録が反復されて、N個の画像の各々はベースライン画像として利用される。ベースライン画像としてN個の画像の各々について反復することにより、この手順は対応付けられた特徴のデータベースを構築するが、これは画像間で安定している特徴のモデルを形成する際に利用することができる。次に1組の対応する画像特徴を表す特徴がモデルに追加される。対応付けられた特徴のデータベースを形成するために、各々の特徴は境界検査ツール又はマシンビジョンシステム内の輪郭と対応させる他の慣用的な技術を用いて対応付けることができる。例示的に、モデルのために選択される特徴は、特徴が現れる各々の画像で対応する特徴間の最大距離を最小化するものである。モデルに追加される特徴は、特徴が現れる各々の画像からの特徴の平均を含んでいてもよい。プロセスは、閾値要件を満たすすべての特徴が把握されるまで継続する。このプロセスの結果生じるモデルは、少なくとも閾値であるN個のトレーニング画像で検出される安定した特徴を表す。このプロセス(米国特許第8,315,457号で開示)は、それらが安定した特徴であるというトレーニング画像の証拠によって充分支持される特徴を特定する。次にモデルは、アラインメント、サーチ又は検査ツールを特徴のセットでトレーニングするために使用できる。
再び図3を参照すると、ユーザは追加の合成モデルトレーニングパラメータ355を供給できるが、これはNトレーニング画像のどの分画が出力モデルに含まれるべき当該画像に特有の特徴を備えなければならないかを規定する。例示的に、この分画は80%〜90%等のパーセンテージであってもよいが、具体的な応用に応じて通常技術の範囲内で大いに変わり得る。ユーザはまたマッチとみなされるべき異なるトレーニング画像からの特徴に対して近接閾値も規定できる。
パターン認識及び登録マルチモデルのトレーニング
ここで図4を参照すると、例示的な実施形態によりパターン認識及び登録マルチモデルをトレーニングし、現在トレーニングされて出力されるモデルの性能を測定するための手順400のフローチャートが示されている。ステップ410で、この手順に対する初期入力(通常はユーザから提供されるが、コンピュータにより提供されてもよい)は、トレーニング画像(I)、R画像I内のパターンの範囲を規定する領域、トレーニング画像I内のパターン(O)の原点、及び関心のあるパターンの外観の範囲を示す1組のトレーニング画像{I,I,…,I}である。
この手順はステップ420でこれらの入力を使用して、上に図3で単一のパターン認識及び登録モデルのトレーニングについて説明した手順を用いて合成モデルパラメータ422に従い第1の「PatMax」パターン合成モデル(PCMOUT )をトレーニングする。トレーニングパラメータ424は出力されるモデル(TPOUT)のトレーニングで使用され、トレーニングされたモデルがトレーニング画像の全セットにわたる探索で高得点の誤った検出を生じないことを保証するために充分制限的である。パターン認識及び登録マルチモデルフレームワークを用いる場合、PCMOUT は出力されるマルチモデルPMMOUTに追加される。マルチモデルフレームワークを用いなければ、PCMOUT は出力されるセットの第1のパターン認識及び登録モデル(これは既述目的のためにPMMOUT とも呼ばれる)として保存される。
次に、ステップ430ではこの手順は、同じ(410からの)入力を使用して異なる(第2の)パターン認識及び登録モデルPCMCAND を、図3で単一のパターン認識及び登録モデルについて示した上述のアルゴリズムを用いてトレーニングする。このプロセスで用いられるパターントレーニングパラメータTPCAND434は、専ら更に出力される合成モデルのトレーニング用の候補の検出に使用されるモデルをトレーニングするためのパラメータである。これらのトレーニングパラメータ434は、出力されるモデルを生み出すのに使用されるパラメータよりも緩やかでなければならない。ここで前提とされねばならないのは、PCMCAND はより制限的にトレーニングされたPCMOUT を用いた場合に可能なものよりも多様なトレーニング候補の範囲を提案できるが、誤った検出はユーザによって拒否され、又は自動的に既知のグラウンドトゥルースに準拠され得ることである。出力されるモデルに関しては、PCMCAND はパターン認識マルチモデルPMMCANDに追加されてもよいし、他のタイプのモデル集合に保存されてもよい。
性能測定
ステップ440で、パターン候補を検出して、「最良」(最高得点又はマッチ)とみなされる候補をトレーニングするプロセスを開始する前に、システムは最初に現在トレーニングされて出力されるモデル、即ちPMMOUTの性能を測定しなければならない。性能を測定するために、この手順は画像の全テストセットにわたってモデルを実行し、0に初期化された複合得点を計算する。PMMOUTがユーザの定義する信頼度閾値より大きい得点を有する画像(得点範囲は0〜1)中にパターンを検出したら、当該得点は複合得点に加算される。しかしながらPMMOUTがユーザの定義する信頼度閾値より大きい得点を有する画像中にパターンを検出できなければ、複合得点から1が減算される。その他の類似の採点機能も当業者によって実装されることができ、グラウンドトゥルースデータが利用できる場合はアラインメント精度の測定を組み入れてもよい。
性能測定の後、手順の残りのステップは繰り返し反復されてよく、その場合は変数「t」で表される。ここで、例示的な実施形態により候補モデルを提案するための手順のフローチャートを示す図5及び図6を参照する。図5を参照すると、手順500は出力されるモデル集合PMMOUT(t)に追加するための候補を提案及びランク付けするためのものである。510で、反復(t)に対する入力は候補PMMCAND(t)及び出力マルチモデルPMMOUT(t)を含み、ここで、
PMMCAND(t)は、{PCMCAND(0)、PCMCAND(1)、
…、PCMCAND(t)}を含み、
PMMOUT(t)は、{PCMOUT(0)、PCMOUT(1)、…
、PCMOUT(t)}を含む。
この手順のステップ520で、候補マルチモデルPMMCANDは出力されるモデル集合PMMOUT(t)に追加するための候補を提案及びランク付けする。これを達成するために、候補パターンマルチモードPMMCAND(t)が各トレーニング画像Iで実行される。容認可能な結果が戻されたら(即ちモデル得点がユーザの定義する容認閾値より高い位置が検出されたら)、ステップ520でマッチング領域R及び/又は原点Oを使用して候補パターン合成モデルPCMOUT (i)(上でPMMOUT(t)に対する単一のモデルのトレーニングについて説明されたように)をトレーニングする。それゆえ候補合成モデルは、画像Iの候補領域Rと、当該候補画像領域(画像IのR)の最良マッチングN−1画像の対応する領域からトレーニングされる。
ステップ530で、この手順は候補パターン合成モデルのセットを通して反復し、各々について最初に出力される集合に追加してPMMOUT(t)→PMMOUT(t)’となり、次いでその性能を上で性能測定について説明したのと同じ仕方で測定する。得点を獲得して出力されるマルチモデルPMMOUT(t)’に拡張することが提案された後、PCMOUT (i)が取り除かれてPMMOUT(t)’→PMMOUT(t)となる。ステップ534で、これらの得点に従って、候補がソートされる(即ちPCMOUT (i))。
手順500の最後に、ステップ540でシステムは、PMMCAND(t)が容認可能な結果を検出し得る場合にはすべてのトレーニング画像をカバーする候補パターン合成モデルの集合を持つ。この手順はこれらのモデルを、それぞれ出力されるパターンモデル集合(又はマルチモデル)PMMOUT(t)にどの程度のカバレッジの改善を提供するかに応じてランク付けする。ユーザの定義する量より多く得点を改善する候補が検出されなければ、停止基準が満たされたとみなされ得る。
ここで例示的な実施形態により候補モデルを提案し、パターンマルチモデルを出力するための手順600を示す図6を参照する。ステップ620で、この手順はユーザに最高得点候補を(例えば候補画像I内の候補の関心のある領域を表示することによって)提案する。ステップ622で、ユーザは候補を容認又は拒否でき、又は等価的にコンピュータに最高得点候補が提示されてよく、コンピュータは既知のグラウンドトゥルースに基づいて候補を容認又は拒否する。候補が容認されたら、ステップ630で、PMMCAND(t)の出力に僅かなアラインメント誤差がある場合に、ユーザは新しいモデルの原点を調整する機会が与えられ得る。ステップ624で候補が拒否されたら、トップ候補PCMOUT(top)は捨てられ、システムは順序付きリストにおける次の候補を提案する。
候補が容認されたら、ステップ640で容認された候補モデルPCMOUT (accepted)が現在の出力モデル集合に追加されてPMMOUT(T)→PMMOUT(t+1)となる。このとき候補検出モデル集合(又はマルチモデル)は好ましくは類似のモデルで更新されるべきである。ステップ650で、候補モデルPCMCAND (accepted)は、トレーニングパラメータTPCANDを用いて画像I(accepted)の領域Racceptedからトレーニングされる。次にステップ660でPCMCAND (accepted)が追加されてPMMCAND(t)→PMMCAND(t+1)となる。ステップ670で反復(t)に出力されるのは、候補マルチモデルPMMCAND(t+1)及び出力マルチモデルPMMOUT(t+1)である。
種々の例示的な実施形態は、複数のトレーニング画像の各トレーニング画像にわたって反復されるパターン認識及び登録モデルン生成を提供して、トレーニング画像の全データベースに及ぶ(即ち有効な)モデルを提供する。これは実行時システムのロバスト性及び効率を改善する。
以上にて、本発明の例示的な実施形態を詳細に説明した。本発明の精神と範囲から逸脱することなく種々の修正及び追加を行うことができる。上述した種々の実施形態の各々の特徴は、関連する新しい実施形態において複数の特徴の組合せを提供するために、必要に応じて説明された他の実施形態の特徴と組み合わすことができる。更に、以上では本発明の装置及び方法の幾つかの別個の実施形態が記述されているが、本明細書で記述されているものは本発明の原理の応用の例示に過ぎない。例えば本明細書で用いられる「プロセス」及び/又は「プロセッサ」という用語は、機能及びコンポーネントに基づき多様な電子的ハードウェア及び/又はソフトウェアを含むために広く理解されるべきである。本明細書で使用される様々な方向および/または向きを表わす用語、例えば、「垂直」、「水平」、「上」、「下」、「底部」、「頂部」、「側部」、「前部」、「後部」、「左」、「右」およびこれに類するものは、相対的な表現法として用いられているに過ぎず、重力等の固定した座標系を基準とした絶対的な向きを表わすものではない。更に、表現されたプロセス又はプロセッサは他のプロセス及び/又はプロセッサと組み合わされ、又は種々のサブプロセス又はプロセッサに分割されてもよい。そのようなサブプロセス及び/又はサブプロセッサは本明細書に記載された実施形態に従って種々に組み合わせることができる。同様に、本明細書に記載された機能、プロセス及び/又はプロセッサは、プログラム命令の非一時的コンピュータ可読媒体から成る電子的ハードウェア及びソフトウェア、又はハードウェアとソフトウェアの組み合わせを用いて実装され得ることが明確に考えられている。更に、タスクを処理する一部又はすべてのビジョンシステムは、有線又は無線通信(ネットワーク)リンクを介してメインモジュールとインタフェースモジュールを通して作動的に結合されているメインモジュール又は遠隔プロセッサ(例えばサーバ又はPC)において実行され得ると考えられている。従って、以上の説明は単なる例示として受け取られるべきであり、本発明の範囲を別途制限するものではない。

Claims (26)

  1. マシンビジョンシステムにおけるパターン認識及び登録モデルのトレーニング方法であって、
    トレーニングされるべきパターンを規定する領域を有する1個以上の初期トレーニング画像を提供するステップであって、前記1個以上の初期トレーニング画像は複数のトレーニング画像を保存するデータベースから提供される前記ステップと、
    前記1個以上の初期トレーニング画像から第1のパターンモデルをトレーニングするステップと、
    残りの画像にわたって反復するステップおよび高得点画像をモデルトレーニングに対する入力として選択するステップと、
    所定の数の複数のトレーニング画像に共通の特徴を含むトレーニングされたパターンモデルを出力するステップと、を含み、
    前記トレーニングされたパターンモデルは前記第1のパターンモデルと異なる、
    上記方法。
  2. 前記反復するステップは、前記第1のパターンモデルを実行して各画像を採点することを含む、請求項1に記載の方法。
  3. 第1のパターンモデルは第1セットのトレーニングパラメータを用いてトレーニングされ、第2のパターンモデルは第2セットのトレーニングパラメータを用いてトレーニングされる、請求項1に記載の方法。
  4. 画像を採点するために使用されるメトリックは、ゼロに初期化される複合得点を計算することから成り、前記第1のパターンモデルがユーザの定義する信頼度閾値より大きい得点を有する画像中に前記パターンを検出する場合は、前記得点が複合得点に加算され、第1の候補パターンモデルがユーザの定義する信頼度閾値より大きい得点を有する画像中に前記パターンを検出しない場合は、複合得点から1が減算される、請求項1に記載の方法。
  5. トレーニングされて出力されるパターンにおける各特徴はトレーニング画像の約80%〜90%で発生する、請求項1に記載の方法。
  6. 前記トレーニングされるべきパターンを規定する領域は各画像に対して所定のグラウンドトゥルースによって与えられる、請求項1に記載の方法。
  7. 前記所定のグラウンドトゥルースは前記第1のパターンモデルを実行することによって各画像に対して見出される、請求項6に記載の方法。
  8. 更に、第2セットのパターントレーニングパラメータを有する第2の候補パターンモデルをトレーニングし、データベースに保存されている残りのトレーニング画像にわたって第2の候補パターンモデルを反復し、且つ前記第2の候補パターンモデルについて得点、姿勢及びマッチング領域データを採点するステップを含む、請求項1に記載の方法。
  9. 前記第1のパターンモデルをトレーニングするステップは、更に得点、姿勢及びマッチング領域データを採点することを含む、請求項1に記載の方法。
  10. 前記第1の候補パターンモデルは合成モデルを含む請求項1に記載の方法。
  11. データベースから提供される1個以上のトレーニング画像はコンピュータによって選択される請求項1に記載の方法。
  12. 前記トレーニングされたパターンモデルは、マシンビジョンシステムの実行時動作においてアラインメント、サーチ又は画像検査ツールを実行するために使用される、請求項1に記載の方法。
  13. パターンの原点は、トレーニング画像及び領域に加えて第1のパターンモデルをトレーニングするための入力として規定される、請求項1に記載の方法。
  14. パターン認識及び登録マルチモデルのトレーニング方法であって、
    トレーニングされるべきパターンを規定する領域を有する少なくとも1個の初期トレーニング画像を提供するステップであって、前記少なくとも1個の画像は複数のトレーニング画像を含むデータベースから提供される前記ステップと、
    前記初期トレーニング画像と前記領域から第1のパターンモデルをトレーニングし、これを出力されるマルチモデルに追加するステップと、
    残りの画像にわたって反復するステップであって、各画像について
    (i) 追加の1個のパターンモデルがトレーニングされてよく、
    (ii) 前記第1のモデルと前記追加のモデルとの結合に対するメトリックはデータベース内の残りのトレーニング画像にわたって採点されてもよい前記ステップと、
    高得点の1以上の追加のパターンモデルを出力されるマルチモデルに追加するステップと、
    を含む、上記方法。
  15. 前記第1のパターンモデルのトレーニングは、前記第1セットのパターン認識及び登録トレーニングパラメータに従って実行され、前記第2のパターンモデルのトレーニングは第2セットのパターン認識及び登録トレーニングパラメータに従って実行される、請求項14に記載の方法。
  16. 前記第1及び/又は第2のパターンモデルは合成モデルを含む請求項14に記載の方法。
  17. 前記第2のパターンモデルは、トレーニングすべき第1のモデルを用いて候補領域を生成する際に自由度を緩和し、次いで前記第2のパターンモデルが実行される際にメトリックが改善されたか否か判定するために自由度を強化することによってトレーニングされる、請求項14に記載の方法。
  18. 前記メトリックは得点又は特徴の例の数を含む請求項17に記載の方法。
  19. 第2のパターンモデルは初期トレーニング画像と規定された領域からトレーニングされるが、異なるトレーニングパラメータを使用する結果として、第2のパターンモデルは元のパターンの歪められた、ノイズの多い、又は何らかの形で修正された例を検出する可能性が高く、
    追加のパターンモデルのトレーニングに使用するために、前記第2のパターンモデルを用いて候補領域を提案する、請求項17に記載の方法。
  20. 前記パターンの原点はパターンモデルトレーニングに対する追加の入力である、請求項14に記載の方法。
  21. 前記高得点の追加のパターンモデルは、前記出力されるマルチモデルに可能な追加が行われる前に、最初にユーザに提示されて容認、拒否又は再採点される、請求項14に記載の方法。
  22. ユーザが、追加のパターンの原点を前記出力されるマルチモデルに追加する前に修正してもよい、請求項14に記載の方法。
  23. 前記追加のパターンモデルに対する前記トレーニングプロセスは繰り返し反復的であり、従って前記マルチモデルが拡張して3個以上の2パターンモデルを含むことを可能にする、請求項14又は17に記載の方法。
  24. 停止条件が適用され、前記停止条件はメトリックの相対的改善から導出される、請求項23に記載の方法。
  25. 前記マルチモデルに追加するための候補モデルの姿勢を容認又は拒否及び/又は補正するために、前記トレーニング画像データベース内の複数の画像の各々に対して供給されるグラウンドトゥルースが使用されてもよい、請求項14に記載の方法。
  26. パターン認識及び登録モデルを生成するためのシステムであって、
    少なくとも1個の画像はトレーニングされるべきパターンを規定する領域を有する、複数のトレーニング画像を含むデータベースと、
    複数のトレーニング画像にわたって初期パターン認識及び登録モデルを反復し、得点、姿勢及びマッチング領域データを採点することによって初期パターン認識及び登録モデルをトレーニングするトレーニングエレメントと、
    トレーニングされたモデルの性能を複数のトレーニング画像にわたって測定する性能測定要素と
    を含む、上記システム。
JP2019222530A 2013-06-28 2019-12-09 複数のパターン認識及び登録ツールモデルをトレーニングするための半教師付き方法 Active JP6967060B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201361841142P 2013-06-28 2013-06-28
US61/841,142 2013-06-28
US13/955,120 2013-07-31
US13/955,120 US9679224B2 (en) 2013-06-28 2013-07-31 Semi-supervised method for training multiple pattern recognition and registration tool models
JP2016110432A JP6630633B2 (ja) 2013-06-28 2016-06-01 複数のパターン認識及び登録ツールモデルをトレーニングするための半教師付き方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016110432A Division JP6630633B2 (ja) 2013-06-28 2016-06-01 複数のパターン認識及び登録ツールモデルをトレーニングするための半教師付き方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020053084A true JP2020053084A (ja) 2020-04-02
JP6967060B2 JP6967060B2 (ja) 2021-11-17

Family

ID=52115658

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014110507A Pending JP2015015019A (ja) 2013-06-28 2014-05-28 複数のパターン認識及び登録ツールモデルをトレーニングするための半教師付き方法
JP2016110432A Active JP6630633B2 (ja) 2013-06-28 2016-06-01 複数のパターン認識及び登録ツールモデルをトレーニングするための半教師付き方法
JP2019222530A Active JP6967060B2 (ja) 2013-06-28 2019-12-09 複数のパターン認識及び登録ツールモデルをトレーニングするための半教師付き方法

Family Applications Before (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014110507A Pending JP2015015019A (ja) 2013-06-28 2014-05-28 複数のパターン認識及び登録ツールモデルをトレーニングするための半教師付き方法
JP2016110432A Active JP6630633B2 (ja) 2013-06-28 2016-06-01 複数のパターン認識及び登録ツールモデルをトレーニングするための半教師付き方法

Country Status (3)

Country Link
US (2) US9679224B2 (ja)
JP (3) JP2015015019A (ja)
CN (2) CN104252626B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020213462A1 (ja) 2019-04-16 2020-10-22 三ツ星ベルト株式会社 Vリブドベルトとその製造方法、およびゴム組成物

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102494139B1 (ko) * 2015-11-06 2023-01-31 삼성전자주식회사 뉴럴 네트워크 학습 장치 및 방법과, 음성 인식 장치 및 방법
JP6490037B2 (ja) * 2016-10-04 2019-03-27 ファナック株式会社 移動可能な台車に支持されたロボットを備えるロボットシステム
US10789703B2 (en) * 2018-03-19 2020-09-29 Kla-Tencor Corporation Semi-supervised anomaly detection in scanning electron microscope images
WO2019183141A1 (en) * 2018-03-21 2019-09-26 Realtime Robotics, Inc. Motion planning of a robot for various environments and tasks and improved operation of same
TWI675331B (zh) * 2018-08-31 2019-10-21 財團法人工業技術研究院 儲物裝置及儲物方法
CN109166625B (zh) * 2018-10-10 2022-06-07 欧阳聪星 一种牙齿虚拟编辑方法及系统
KR20210072048A (ko) * 2018-10-11 2021-06-16 테슬라, 인크. 증강 데이터로 기계 모델을 훈련하기 위한 시스템 및 방법
CN109657374B (zh) * 2018-12-25 2023-10-27 中科曙光信息产业成都有限公司 印刷电路板的建模系统以及建模方法
US10671892B1 (en) 2019-03-31 2020-06-02 Hyper Labs, Inc. Apparatuses, methods, and systems for 3-channel dynamic contextual script recognition using neural network image analytics and 4-tuple machine learning with enhanced templates and context data
CN113420017B (zh) * 2021-06-21 2023-10-13 上海特高信息技术有限公司 一种机器人导航算法训练数据集获取的区块链应用方法
FR3126253B1 (fr) 2021-08-20 2024-01-12 Visionairy Procédé pour normaliser la variabilité d’une image, application de ce procédé à la détection d’anomalie et système d’inspection visuelle implémentant cette détection
CN114299172B (zh) * 2021-12-31 2022-07-08 广东工业大学 一种用于视觉系统的平面编码靶标及其实时位姿测量方法
CN115147679B (zh) * 2022-06-30 2023-11-14 北京百度网讯科技有限公司 多模态图像识别方法和装置、模型训练方法和装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0467277A (ja) * 1990-07-06 1992-03-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> パターン認識辞書作成装置
JPH0676068A (ja) * 1992-08-25 1994-03-18 N T T Data Tsushin Kk パターン認識辞書作成システムおよびその追加パターン作成方法
JPH0695685A (ja) * 1992-09-17 1994-04-08 N T T Data Tsushin Kk パターン認識辞書作成方法
JP2002269560A (ja) * 2001-03-06 2002-09-20 Seiko Epson Corp テンプレートマッチング方法、それを実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、テンプレートマッチング装置、位置決め装置および実装装置
US20090290788A1 (en) * 2007-12-21 2009-11-26 Nathaniel Bogan System and method for performing multi-image training for pattern recognition and registration
JP2010511938A (ja) * 2006-12-01 2010-04-15 グーグル・インコーポレーテッド 顔認識を用いた画像の識別
JP2010205007A (ja) * 2009-03-04 2010-09-16 Omron Corp モデル画像取得支援装置、モデル画像取得支援方法およびモデル画像取得支援プログラム

Family Cites Families (329)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3069654A (en) 1960-03-25 1962-12-18 Paul V C Hough Method and means for recognizing complex patterns
US3899240A (en) 1965-08-13 1975-08-12 Ibm Method for distinguishing similar subjects using discriminating holograms
US3560930A (en) 1968-01-15 1971-02-02 Ibm Method and apparatus for reducing data in a pattern recognition system
US3816722A (en) 1970-09-29 1974-06-11 Nippon Electric Co Computer for calculating the similarity between patterns and pattern recognition system comprising the similarity computer
GB1401008A (en) 1971-08-17 1975-07-16 Mullared Ltd Character recognition apparatus
JPS5214112B2 (ja) 1973-02-22 1977-04-19
JPS5425782B2 (ja) 1973-03-28 1979-08-30
US3986007A (en) 1975-08-20 1976-10-12 The Bendix Corporation Method and apparatus for calibrating mechanical-visual part manipulating system
US4146924A (en) 1975-09-22 1979-03-27 Board Of Regents For Education Of The State Of Rhode Island System for visually determining position in space and/or orientation in space and apparatus employing same
CH611017A5 (ja) 1976-05-05 1979-05-15 Zumbach Electronic Ag
US4183013A (en) 1976-11-29 1980-01-08 Coulter Electronics, Inc. System for extracting shape features from an image
JPS5369063A (en) 1976-12-01 1978-06-20 Hitachi Ltd Detector of position alignment patterns
US4213150A (en) 1978-04-21 1980-07-15 Northrop Corporation Real-time edge processing unit
US4200861A (en) 1978-09-01 1980-04-29 View Engineering, Inc. Pattern recognition apparatus and method
US4295198A (en) 1979-04-02 1981-10-13 Cogit Systems, Inc. Automatic printed circuit dimensioning, routing and inspecting apparatus
JPS57102017A (en) 1980-12-17 1982-06-24 Hitachi Ltd Pattern detector
US4441205A (en) 1981-05-18 1984-04-03 Kulicke & Soffa Industries, Inc. Pattern recognition system
DE3267548D1 (en) 1982-05-28 1986-01-02 Ibm Deutschland Process and device for an automatic optical inspection
US4567610A (en) 1982-07-22 1986-01-28 Wayland Research Inc. Method of and apparatus for pattern recognition
JPS5951536A (ja) 1982-09-14 1984-03-26 Fujitsu Ltd パタ−ン認識方法及びその装置
US4736437A (en) 1982-11-22 1988-04-05 View Engineering, Inc. High speed pattern recognizer
US4441248A (en) 1982-12-02 1984-04-10 Stanley Electric Company, Ltd. On-line inspection method and system for bonds made to electronic components
JPS59133414A (ja) 1983-01-21 1984-07-31 Agency Of Ind Science & Technol 楕円形状検出方法とその装置
US4783829A (en) 1983-02-23 1988-11-08 Hitachi, Ltd. Pattern recognition apparatus
GB8314778D0 (en) 1983-05-27 1983-07-06 Pa Management Consult Adaptive pattern recognition
DE3377934D1 (en) 1983-12-28 1988-10-13 Ibm Process and equipment for the automatic alignment of an object in respect of a reference
US4581762A (en) 1984-01-19 1986-04-08 Itran Corporation Vision inspection system
US4860374A (en) 1984-04-19 1989-08-22 Nikon Corporation Apparatus for detecting position of reference pattern
US4688088A (en) 1984-04-20 1987-08-18 Canon Kabushiki Kaisha Position detecting device and method
JPS60263807A (ja) 1984-06-12 1985-12-27 Dainippon Screen Mfg Co Ltd プリント配線板のパタ−ン欠陥検査装置
US4922543A (en) 1984-12-14 1990-05-01 Sten Hugo Nils Ahlbom Image processing device
DE3587582D1 (de) 1985-03-14 1993-10-21 Beltronics Inc Gerät und Verfahren zum selbsttätigen Inspizieren von Objekten und zum Identifizieren oder Erkennen bekannter und unbekannter Teile davon, einschliesslich Fehler und dergleichen.
US4685143A (en) 1985-03-21 1987-08-04 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for detecting edge spectral features
US4763280A (en) 1985-04-29 1988-08-09 Evans & Sutherland Computer Corp. Curvilinear dynamic image generation system
JPS61269710A (ja) 1985-05-24 1986-11-29 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 倣い軌跡のデイジタイジング方法
US4876728A (en) 1985-06-04 1989-10-24 Adept Technology, Inc. Vision system for distinguishing touching parts
FR2586120B1 (fr) 1985-08-07 1987-12-04 Armines Procede et dispositif de transformation sequentielle d'image
US5060277A (en) 1985-10-10 1991-10-22 Palantir Corporation Pattern classification means using feature vector regions preconstructed from reference data
US4843631A (en) 1985-12-20 1989-06-27 Dietmar Steinpichler Pattern recognition process
US4860375A (en) 1986-03-10 1989-08-22 Environmental Research Inst. Of Michigan High speed cellular processing system
US5046109A (en) 1986-03-12 1991-09-03 Nikon Corporation Pattern inspection apparatus
FR2597636B1 (fr) 1986-04-18 1988-06-17 Commissariat Energie Atomique Procede de reconnaissance automatique d'objets susceptibles de se chevaucher
US4823394A (en) 1986-04-24 1989-04-18 Kulicke & Soffa Industries, Inc. Pattern recognition system
US4707647A (en) 1986-05-19 1987-11-17 Gmf Robotics Corporation Gray scale vision method and system utilizing same
US4783828A (en) 1986-06-02 1988-11-08 Honeywell Inc. Two-dimensional object recognition using chain codes, histogram normalization and trellis algorithm
US4903313A (en) 1986-07-03 1990-02-20 Ricoh Company, Ltd. Character recognition method
US4783826A (en) 1986-08-18 1988-11-08 The Gerber Scientific Company, Inc. Pattern inspection system
FR2604320B1 (fr) 1986-09-19 1988-11-04 Thomson Csf Systeme de prise de vues en videographie rapide utilisant un capteur optique matriciel a transfert de charges
JPS6378009A (ja) 1986-09-20 1988-04-08 Fujitsu Ltd パタ−ン検査装置
US4955062A (en) 1986-12-10 1990-09-04 Canon Kabushiki Kaisha Pattern detecting method and apparatus
JPS63211076A (ja) 1987-02-27 1988-09-01 Hitachi Ltd パタ−ン検査装置
US4972359A (en) 1987-04-03 1990-11-20 Cognex Corporation Digital image processing system
US5268999A (en) 1987-05-30 1993-12-07 Ricoh Company, Ltd. Modeling method and system using solid data having functional structure and normal projection drawing dimensional format
US4982438A (en) 1987-06-02 1991-01-01 Hitachi, Ltd. Apparatus and method for recognizing three-dimensional shape of object
US4849914A (en) 1987-09-22 1989-07-18 Opti-Copy, Inc. Method and apparatus for registering color separation film
US5040231A (en) 1987-09-30 1991-08-13 Raytheon Company Vertical vector pattern recognition algorithm
US4979223A (en) 1988-03-25 1990-12-18 Texas Instruments Incorporated Data handling system for pattern inspector or writer
FR2631188A1 (fr) 1988-05-03 1989-11-10 Thomson Csf Photodetecteur matriciel a transfert de charges avec dispositif integre de filtrage de charges
US5168530A (en) 1988-08-29 1992-12-01 Raytheon Company Confirmed boundary pattern matching
US4876457A (en) 1988-10-31 1989-10-24 American Telephone And Telegraph Company Method and apparatus for differentiating a planar textured surface from a surrounding background
US5072384A (en) 1988-11-23 1991-12-10 Arch Development Corp. Method and system for automated computerized analysis of sizes of hearts and lungs in digital chest radiographs
JPH02148180A (ja) 1988-11-29 1990-06-07 Nippon Seiko Kk パターン検査方法及び装置
US6067379A (en) 1988-12-09 2000-05-23 Cognex Corporation Method and apparatus for locating patterns in an optical image
US5717785A (en) 1992-01-30 1998-02-10 Cognex Corporation Method and apparatus for locating patterns in an optical image
US5406642A (en) 1988-12-23 1995-04-11 Nec Corporation Image matching method using direction sensitivity and vector smoothing functions for correcting matches
US5027417A (en) 1989-03-31 1991-06-25 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Method of and apparatus for inspecting conductive pattern on printed board
JP2885823B2 (ja) 1989-04-11 1999-04-26 株式会社豊田中央研究所 視覚認識装置
US5020006A (en) 1989-05-03 1991-05-28 Hewlett-Packard Company Method for finding a reference point
US5822742A (en) 1989-05-17 1998-10-13 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Health & Human Services Dynamically stable associative learning neural network system
US5060276A (en) 1989-05-31 1991-10-22 At&T Bell Laboratories Technique for object orientation detection using a feed-forward neural network
US5253308A (en) 1989-06-21 1993-10-12 Amber Engineering, Inc. Massively parallel digital image data processor using pixel-mapped input/output and relative indexed addressing
JPH0638274B2 (ja) 1989-07-31 1994-05-18 工業技術院長 画像認識装置および画像認識方法
US5003166A (en) 1989-11-07 1991-03-26 Massachusetts Institute Of Technology Multidimensional range mapping with pattern projection and cross correlation
US4980971A (en) 1989-12-14 1991-01-01 At&T Bell Laboratories Method and apparatus for chip placement
US5265170A (en) 1990-01-11 1993-11-23 Hine Design, Inc. Devices and methods for reading identification marks on semiconductor wafers
JPH03210679A (ja) 1990-01-12 1991-09-13 Hiyuutec:Kk パターンマッチング方法および装置
US5313532A (en) 1990-01-23 1994-05-17 Massachusetts Institute Of Technology Recognition of patterns in images
JPH07111335B2 (ja) 1990-02-07 1995-11-29 株式会社東芝 パターン形状測定方法及び装置
JPH041869A (ja) 1990-04-19 1992-01-07 Nippon Sheet Glass Co Ltd 画像照合方法
US4959898A (en) 1990-05-22 1990-10-02 Emhart Industries, Inc. Surface mount machine with lead coplanarity verifier
US5113565A (en) 1990-07-06 1992-05-19 International Business Machines Corp. Apparatus and method for inspection and alignment of semiconductor chips and conductive lead frames
GB9019538D0 (en) 1990-09-07 1990-10-24 Philips Electronic Associated Tracking a moving object
JPH0769155B2 (ja) 1990-11-27 1995-07-26 大日本スクリーン製造株式会社 プリント基板のパターン検査方法
US5586058A (en) 1990-12-04 1996-12-17 Orbot Instruments Ltd. Apparatus and method for inspection of a patterned object by comparison thereof to a reference
US5086478A (en) 1990-12-27 1992-02-04 International Business Machines Corporation Finding fiducials on printed circuit boards to sub pixel accuracy
GB2252468B (en) 1991-02-04 1994-10-19 Sony Broadcast & Communication Television standards converters
JP2851447B2 (ja) 1991-03-08 1999-01-27 三菱電機株式会社 形状シミュレーション方法
US5177559A (en) 1991-05-17 1993-01-05 International Business Machines Corporation Dark field imaging defect inspection system for repetitive pattern integrated circuits
EP0514688A2 (en) 1991-05-21 1992-11-25 International Business Machines Corporation Generalized shape autocorrelation for shape acquisition and recognition
US5272657A (en) 1991-07-26 1993-12-21 American Neuralogix, Inc. Fuzzy pattern comparator having automatic update threshold function
US5245674A (en) 1991-07-30 1993-09-14 Xerox Corporation Image processing using distance as a function of direction
DE69232343D1 (de) 1991-08-13 2002-02-14 Canon Kk Bildübertragungsvorrichtung
EP0550131A2 (en) 1991-12-31 1993-07-07 AT&T Corp. Graphical system for automated segmentation and recognition for image recognition systems
US5371690A (en) 1992-01-17 1994-12-06 Cognex Corporation Method and apparatus for inspection of surface mounted devices
US5497451A (en) 1992-01-22 1996-03-05 Holmes; David Computerized method for decomposing a geometric model of surface or volume into finite elements
US6002793A (en) 1992-01-30 1999-12-14 Cognex Corporation Machine vision method and apparatus for finding an object orientation angle of a rectilinear object
US5343390A (en) 1992-02-28 1994-08-30 Arch Development Corporation Method and system for automated selection of regions of interest and detection of septal lines in digital chest radiographs
FR2690031A1 (fr) 1992-04-14 1993-10-15 Philips Electronique Lab Dispositif de segmentation d'images.
JP3073599B2 (ja) 1992-04-22 2000-08-07 本田技研工業株式会社 画像のエッジ検出装置
US5657403A (en) 1992-06-01 1997-08-12 Cognex Corporation Vision coprocessing
JP2795058B2 (ja) 1992-06-03 1998-09-10 松下電器産業株式会社 時系列信号処理装置
JP2851023B2 (ja) 1992-06-29 1999-01-27 株式会社鷹山 Icの傾き検査方法
JPH0737893B2 (ja) 1992-07-24 1995-04-26 松下電器産業株式会社 パターンマッチング方法
US5343028A (en) 1992-08-10 1994-08-30 United Parcel Service Of America, Inc. Method and apparatus for detecting and decoding bar code symbols using two-dimensional digital pixel images
US5555317A (en) 1992-08-18 1996-09-10 Eastman Kodak Company Supervised training augmented polynomial method and apparatus for character recognition
FR2695497A1 (fr) 1992-09-09 1994-03-11 Philips Electronique Lab Dispositif de codage d'images fixes.
US5550937A (en) 1992-11-23 1996-08-27 Harris Corporation Mechanism for registering digital images obtained from multiple sensors having diverse image collection geometries
DE69331982T2 (de) 1992-11-27 2003-01-23 Fuji Photo Film Co Ltd Verfahren zur Lageanpassung von Röntgenbildern
JP3163185B2 (ja) 1992-11-27 2001-05-08 株式会社東芝 パターン認識装置およびパターン認識方法
DE69332042T2 (de) 1992-12-18 2003-01-02 Koninkl Philips Electronics Nv Ortungszurückstellung von relativ elastisch verformten räumlichen Bildern durch übereinstimmende Flächen
US5859923A (en) 1992-12-29 1999-01-12 Cognex Corporation Mark quality inspection apparatus and method
US5513275A (en) 1993-01-12 1996-04-30 Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Automated direct patterned wafer inspection
ATE178439T1 (de) 1993-01-16 1999-04-15 James Andrew Bangham Signalverarbeitungssystem
US5384451A (en) 1993-01-29 1995-01-24 United Parcel Service Of America, Inc. Method and apparatus for decoding bar code symbols using composite signals
JPH074934A (ja) 1993-02-12 1995-01-10 General Electric Co <Ge> 結晶性物体の分級・選別
DE69331518T2 (de) 1993-02-19 2002-09-12 Ibm Neuronales Netz zum Vergleich von Merkmalen von Bildmustern
US5848184A (en) 1993-03-15 1998-12-08 Unisys Corporation Document page analyzer and method
JP3679426B2 (ja) 1993-03-15 2005-08-03 マサチューセッツ・インスティチュート・オブ・テクノロジー 画像データを符号化して夫々がコヒーレントな動きの領域を表わす複数の層とそれら層に付随する動きパラメータとにするシステム
US5481712A (en) 1993-04-06 1996-01-02 Cognex Corporation Method and apparatus for interactively generating a computer program for machine vision analysis of an object
US5424853A (en) 1993-04-19 1995-06-13 Sharp Kabushiki Kaisha Image processing apparatus
US5475768A (en) 1993-04-29 1995-12-12 Canon Inc. High accuracy optical character recognition using neural networks with centroid dithering
JPH06325181A (ja) 1993-05-17 1994-11-25 Mitsubishi Electric Corp パターン認識方法
US5621807A (en) 1993-06-21 1997-04-15 Dornier Gmbh Intelligent range image camera for object measurement
DE69429743T2 (de) 1993-06-29 2002-10-02 Koninkl Philips Electronics Nv Verfahren und Gerät zur Bestimmung einer Kontur in einem durch eine Dichteverteilung gekennzeichneten Raum
JPH0749927A (ja) 1993-08-09 1995-02-21 Nireco Corp パターン認識方法
US5638116A (en) 1993-09-08 1997-06-10 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Object recognition apparatus and method
US5537488A (en) 1993-09-16 1996-07-16 Massachusetts Institute Of Technology Pattern recognition system with statistical classification
US5537669A (en) 1993-09-30 1996-07-16 Kla Instruments Corporation Inspection method and apparatus for the inspection of either random or repeating patterns
US5548326A (en) 1993-10-06 1996-08-20 Cognex Corporation Efficient image registration
FR2711824B1 (fr) 1993-10-21 1996-01-05 Recif Sa Procédés et dispositifs d'identification de caractères inscrits sur des substrats.
US5604822A (en) 1993-11-12 1997-02-18 Martin Marietta Corporation Methods and apparatus for centroid based object segmentation in object recognition-type image processing system
US5471541A (en) 1993-11-16 1995-11-28 National Research Council Of Canada System for determining the pose of an object which utilizes range profiles and synethic profiles derived from a model
US5434927A (en) 1993-12-08 1995-07-18 Minnesota Mining And Manufacturing Company Method and apparatus for machine vision classification and tracking
JP3445394B2 (ja) 1993-12-17 2003-09-08 ゼロックス・コーポレーション 少なくとも二つのイメージセクションの比較方法
US5459636A (en) 1994-01-14 1995-10-17 Hughes Aircraft Company Position and orientation estimation neural network system and method
US5500906A (en) 1994-01-14 1996-03-19 Cognex Corporation Locating curvilinear objects using feathered fiducials
US5515453A (en) 1994-01-21 1996-05-07 Beacon System, Inc. Apparatus and method for image processing in symbolic space
EP0742898B1 (de) 1994-02-02 1997-06-18 Kratzer Automatisierung Gmbh Vorrichtung zum abbilden eines dreidimensionalen objekts
AU1523695A (en) 1994-02-08 1995-08-29 Cognex Corporation Methods and apparatus for remote monitoring and control of automated video data systems
DE4406020C1 (de) 1994-02-24 1995-06-29 Zentrum Fuer Neuroinformatik G Verfahren zur automatisierten Erkennung von Objekten
US6178262B1 (en) 1994-03-11 2001-01-23 Cognex Corporation Circle location
US5550763A (en) 1994-05-02 1996-08-27 Michael; David J. Using cone shaped search models to locate ball bonds on wire bonded devices
US5581632A (en) 1994-05-02 1996-12-03 Cognex Corporation Method and apparatus for ball bond inspection system
US5613013A (en) 1994-05-13 1997-03-18 Reticula Corporation Glass patterns in image alignment and analysis
US5602938A (en) 1994-05-20 1997-02-11 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Method of generating dictionary for pattern recognition and pattern recognition method using the same
US5570430A (en) 1994-05-31 1996-10-29 University Of Washington Method for determining the contour of an in vivo organ using multiple image frames of the organ
US5495537A (en) 1994-06-01 1996-02-27 Cognex Corporation Methods and apparatus for machine vision template matching of images predominantly having generally diagonal and elongate features
US5602937A (en) 1994-06-01 1997-02-11 Cognex Corporation Methods and apparatus for machine vision high accuracy searching
NZ270892A (en) 1994-08-24 1997-01-29 Us Natural Resources Detecting lumber defects utilizing optical pattern recognition algorithm
US5640200A (en) 1994-08-31 1997-06-17 Cognex Corporation Golden template comparison using efficient image registration
US5793901A (en) 1994-09-30 1998-08-11 Omron Corporation Device and method to detect dislocation of object image data
JP3266429B2 (ja) 1994-11-08 2002-03-18 松下電器産業株式会社 パターン検出方法
US5694482A (en) 1994-11-08 1997-12-02 Universal Instruments Corporation System and method for locating solder bumps on semiconductor chips or chip carriers
JP3190220B2 (ja) 1994-12-20 2001-07-23 シャープ株式会社 撮像装置
KR0170932B1 (ko) 1994-12-29 1999-03-20 배순훈 영상의 시각적, 기하학적 특성에 따른 고속 움직임 추정장치
US5627915A (en) 1995-01-31 1997-05-06 Princeton Video Image, Inc. Pattern recognition system employing unlike templates to detect objects having distinctive features in a video field
US5850466A (en) 1995-02-22 1998-12-15 Cognex Corporation Golden template comparison for rotated and/or scaled images
KR0171147B1 (ko) 1995-03-20 1999-03-20 배순훈 그레디언트 변화를 이용한 특징점 선정장치
KR100414432B1 (ko) 1995-03-24 2004-03-18 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 윤곽추출장치
US6070160A (en) 1995-05-19 2000-05-30 Artnet Worldwide Corporation Non-linear database set searching apparatus and method
US5676302A (en) 1995-06-02 1997-10-14 Cognex Corporation Method and apparatus for crescent boundary thresholding on wire-bonded leads
US6035066A (en) 1995-06-02 2000-03-07 Cognex Corporation Boundary tracking method and apparatus to find leads
JP3598651B2 (ja) 1995-06-08 2004-12-08 オムロン株式会社 類似度算出装置及び方法ならびにこれを用いた位置検出装置
FR2735598B1 (fr) 1995-06-16 1997-07-11 Alsthom Cge Alcatel Methode d'extraction de contours par une approche mixte contour actif et amorce/guidage
KR0174454B1 (ko) 1995-06-30 1999-03-20 배순훈 특징점 기반 움직임 보상에서의 에지 검출, 세선화 방법 및 장치
US5825913A (en) 1995-07-18 1998-10-20 Cognex Corporation System for finding the orientation of a wafer
US5768421A (en) 1995-09-12 1998-06-16 Gaffin; Arthur Zay Visual imaging system and method
JPH09138471A (ja) 1995-09-13 1997-05-27 Fuji Photo Film Co Ltd 特定形状領域の抽出方法、特定領域の抽出方法及び複写条件決定方法
US5757956A (en) 1995-10-31 1998-05-26 Cognex Corp. Template rotating method for locating bond pads in an image
US6023530A (en) 1995-11-13 2000-02-08 Applied Intelligent Systems, Inc. Vector correlation system for automatically locating patterns in an image
US5673334A (en) 1995-11-30 1997-09-30 Cognex Corporation Method and apparatus for inspection of characteristics on non-rigid packages
US5875040A (en) 1995-12-04 1999-02-23 Eastman Kodak Company Gradient based method for providing values for unknown pixels in a digital image
US5987172A (en) 1995-12-06 1999-11-16 Cognex Corp. Edge peak contour tracker
US6870566B1 (en) 1995-12-07 2005-03-22 Canon Kabushiki Kaisha Image sensing system for sensing an image and converting the image into image signals with a controlled operating rate
US5845288A (en) 1995-12-11 1998-12-01 Xerox Corporation Automated system for indexing graphical documents having associated text labels
US5825483A (en) 1995-12-19 1998-10-20 Cognex Corporation Multiple field of view calibration plate having a reqular array of features for use in semiconductor manufacturing
US5682886A (en) 1995-12-26 1997-11-04 Musculographics Inc Computer-assisted surgical system
US5796868A (en) 1995-12-28 1998-08-18 Cognex Corporation Object edge point filtering system for machine vision
US5751853A (en) 1996-01-02 1998-05-12 Cognex Corporation Locating shapes in two-dimensional space curves
US5845007A (en) 1996-01-02 1998-12-01 Cognex Corporation Machine vision method and apparatus for edge-based image histogram analysis
US5809171A (en) 1996-01-05 1998-09-15 Mcdonnell Douglas Corporation Image processing method and apparatus for correlating a test image with a template
US6005978A (en) 1996-02-07 1999-12-21 Cognex Corporation Robust search for image features across image sequences exhibiting non-uniform changes in brightness
US5828770A (en) 1996-02-20 1998-10-27 Northern Digital Inc. System for determining the spatial position and angular orientation of an object
JP3764773B2 (ja) 1996-02-29 2006-04-12 富士通株式会社 注視点を用いた頑健な認識装置
GB2311182A (en) 1996-03-13 1997-09-17 Innovision Plc Improved gradient based motion estimation
US6259827B1 (en) 1996-03-21 2001-07-10 Cognex Corporation Machine vision methods for enhancing the contrast between an object and its background using multiple on-axis images
US5848189A (en) 1996-03-25 1998-12-08 Focus Automation Systems Inc. Method, apparatus and system for verification of patterns
WO1997039416A2 (en) 1996-04-02 1997-10-23 Cognex Corporation Image formation apparatus for viewing indicia on a planar specular substrate
US6154566A (en) 1996-05-15 2000-11-28 Omron Corporation Method and apparatus for determining image similarity and position
US6173066B1 (en) 1996-05-21 2001-01-09 Cybernet Systems Corporation Pose determination and tracking by matching 3D objects to a 2D sensor
US5937084A (en) 1996-05-22 1999-08-10 Ncr Corporation Knowledge-based document analysis system
US5815198A (en) 1996-05-31 1998-09-29 Vachtsevanos; George J. Method and apparatus for analyzing an image to detect and identify defects
US5943442A (en) 1996-06-12 1999-08-24 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Method of image processing using parametric template matching
JP3293742B2 (ja) 1996-06-28 2002-06-17 日本電気株式会社 判定帰還型信号推定器
US5850469A (en) 1996-07-09 1998-12-15 General Electric Company Real time tracking of camera pose
US6226418B1 (en) 1997-11-07 2001-05-01 Washington University Rapid convolution based large deformation image matching via landmark and volume imagery
US6188784B1 (en) 1996-07-12 2001-02-13 American Tech Manufacturing, Inc. Split optics arrangement for vision inspection/sorter module
JP3419213B2 (ja) 1996-08-30 2003-06-23 ミノルタ株式会社 3次元形状データ処理装置
US6026359A (en) 1996-09-20 2000-02-15 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Scheme for model adaptation in pattern recognition based on Taylor expansion
US6064958A (en) 1996-09-20 2000-05-16 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Pattern recognition scheme using probabilistic models based on mixtures distribution of discrete distribution
US6859548B2 (en) 1996-09-25 2005-02-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Ultrasonic picture processing method and ultrasonic picture processing apparatus
US6137893A (en) 1996-10-07 2000-10-24 Cognex Corporation Machine vision calibration targets and methods of determining their location and orientation in an image
US6408109B1 (en) 1996-10-07 2002-06-18 Cognex Corporation Apparatus and method for detecting and sub-pixel location of edges in a digital image
US5828769A (en) 1996-10-23 1998-10-27 Autodesk, Inc. Method and apparatus for recognition of objects via position and orientation consensus of local image encoding
US5940535A (en) 1996-10-31 1999-08-17 Industrial Technology Research Institute Method and apparatus for designing a highly reliable pattern recognition system
JP3560749B2 (ja) 1996-11-18 2004-09-02 株式会社東芝 画像出力装置及び画像出力のための信号処理方法
US6453069B1 (en) 1996-11-20 2002-09-17 Canon Kabushiki Kaisha Method of extracting image from input image using reference image
US5912984A (en) 1996-12-19 1999-06-15 Cognex Corporation Method and apparatus for in-line solder paste inspection
US5953130A (en) 1997-01-06 1999-09-14 Cognex Corporation Machine vision methods and apparatus for machine vision illumination of an object
US6021220A (en) 1997-02-11 2000-02-01 Silicon Biology, Inc. System and method for pattern recognition
JP3469031B2 (ja) * 1997-02-18 2003-11-25 株式会社東芝 顔画像登録装置及びその方法
US6078700A (en) 1997-03-13 2000-06-20 Sarachik; Karen B. Method and apparatus for location and inspecting a two-dimensional image including co-linear features
US5933523A (en) 1997-03-18 1999-08-03 Cognex Corporation Machine vision method and apparatus for determining the position of generally rectangular devices using boundary extracting features
US5995648A (en) 1997-03-18 1999-11-30 Cognex Corporation Image processing system and method using subsampling with constraints such as time and uncertainty constraints
US5974169A (en) 1997-03-20 1999-10-26 Cognex Corporation Machine vision methods for determining characteristics of an object using boundary points and bounding regions
US6466923B1 (en) 1997-05-12 2002-10-15 Chroma Graphics, Inc. Method and apparatus for biomathematical pattern recognition
US6141033A (en) 1997-05-15 2000-10-31 Cognex Corporation Bandwidth reduction of multichannel images for machine vision
JP3580670B2 (ja) 1997-06-10 2004-10-27 富士通株式会社 入力画像を基準画像に対応付ける方法、そのための装置、及びその方法を実現するプログラムを記憶した記憶媒体
US6608647B1 (en) 1997-06-24 2003-08-19 Cognex Corporation Methods and apparatus for charge coupled device image acquisition with independent integration and readout
US5926568A (en) 1997-06-30 1999-07-20 The University Of North Carolina At Chapel Hill Image object matching using core analysis and deformable shape loci
US6118893A (en) 1997-07-16 2000-09-12 Cognex Corporation Analysis of an image of a pattern of discrete objects
US5950158A (en) 1997-07-30 1999-09-07 Nynex Science And Technology, Inc. Methods and apparatus for decreasing the size of pattern recognition models by pruning low-scoring models from generated sets of models
US6178261B1 (en) 1997-08-05 2001-01-23 The Regents Of The University Of Michigan Method and system for extracting features in a pattern recognition system
TW376492B (en) 1997-08-06 1999-12-11 Nippon Telegraph & Telephone Methods for extraction and recognition of pattern in an image, method for image abnormality judging, and memory medium with image processing programs
US5933516A (en) 1997-08-07 1999-08-03 Lockheed Martin Corp. Fingerprint matching by estimation of a maximum clique
US6122399A (en) 1997-09-04 2000-09-19 Ncr Corporation Pattern recognition constraint network
US6061086A (en) 1997-09-11 2000-05-09 Canopular East Inc. Apparatus and method for automated visual inspection of objects
US5978080A (en) 1997-09-25 1999-11-02 Cognex Corporation Machine vision methods using feedback to determine an orientation, pixel width and pixel height of a field of view
US5982475A (en) 1997-09-30 1999-11-09 Tropel Corporation Raster-scan photolithographic reduction system
US6151406A (en) 1997-10-09 2000-11-21 Cognex Corporation Method and apparatus for locating ball grid array packages from two-dimensional image data
US5974365A (en) 1997-10-23 1999-10-26 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army System for measuring the location and orientation of an object
US6064388A (en) 1997-11-10 2000-05-16 Cognex Corporation Cartesian to polar coordinate transformation
US6457032B1 (en) 1997-11-15 2002-09-24 Cognex Corporation Efficient flexible digital filtering
US6026186A (en) 1997-11-17 2000-02-15 Xerox Corporation Line and curve detection using local information
US6658145B1 (en) 1997-12-31 2003-12-02 Cognex Corporation Fast high-accuracy multi-dimensional pattern inspection
US6856698B1 (en) 1997-11-26 2005-02-15 Cognex Corporation Fast high-accuracy multi-dimensional pattern localization
CA2310275C (en) 1997-11-26 2007-05-01 Acuity Imaging, Llc Apparent network interface for and between embedded and host processors
US6975764B1 (en) 1997-11-26 2005-12-13 Cognex Technology And Investment Corporation Fast high-accuracy multi-dimensional pattern inspection
US6363173B1 (en) 1997-12-19 2002-03-26 Carnegie Mellon University Incremental recognition of a three dimensional object
US6173070B1 (en) 1997-12-30 2001-01-09 Cognex Corporation Machine vision method using search models to find features in three dimensional images
US6850646B1 (en) 1997-12-31 2005-02-01 Cognex Corporation Fast high-accuracy multi-dimensional pattern inspection
IL122850A0 (en) 1998-01-05 1999-03-12 Wizsoft Pattern recognition using generalized association rules
US6272245B1 (en) 1998-01-23 2001-08-07 Seiko Epson Corporation Apparatus and method for pattern recognition
US6714679B1 (en) 1998-02-05 2004-03-30 Cognex Corporation Boundary analyzer
US6115052A (en) 1998-02-12 2000-09-05 Mitsubishi Electric Information Technology Center America, Inc. (Ita) System for reconstructing the 3-dimensional motions of a human figure from a monocularly-viewed image sequence
US6381375B1 (en) 1998-02-20 2002-04-30 Cognex Corporation Methods and apparatus for generating a projection of an image
US6215915B1 (en) 1998-02-20 2001-04-10 Cognex Corporation Image processing methods and apparatus for separable, general affine transformation of an image
US6226783B1 (en) 1998-03-16 2001-05-01 Acuity Imaging, Llc Object oriented method of structuring a software step program
JP3406831B2 (ja) 1998-03-19 2003-05-19 富士通株式会社 無線基地局のアレーアンテナシステム
US6424734B1 (en) 1998-04-03 2002-07-23 Cognex Corporation Fiducial mark search using sub-models
US6324299B1 (en) 1998-04-03 2001-11-27 Cognex Corporation Object image search using sub-models
GB2336729B (en) 1998-04-25 2001-10-31 Ibm A reticle for an object measurement system
US6516092B1 (en) 1998-05-29 2003-02-04 Cognex Corporation Robust sub-model shape-finder
US6025849A (en) 1998-06-01 2000-02-15 Autodesk, Inc. Framework for objects having authorable behaviors and appearance
US6154567A (en) 1998-07-01 2000-11-28 Cognex Corporation Pattern similarity metric for image search, registration, and comparison
US7016539B1 (en) 1998-07-13 2006-03-21 Cognex Corporation Method for fast, robust, multi-dimensional pattern recognition
US6324298B1 (en) 1998-07-15 2001-11-27 August Technology Corp. Automated wafer defect inspection system and a process of performing such inspection
US6963338B1 (en) 1998-07-31 2005-11-08 Cognex Corporation Method for refining geometric description models using images
US6421458B2 (en) 1998-08-28 2002-07-16 Cognex Corporation Automated inspection of objects undergoing general affine transformation
DE19854011A1 (de) 1998-11-12 2000-05-25 Knoll Alois Einrichtung und Verfahren zum Vermessen von Mechanismen und ihrer Stellung
US6687402B1 (en) 1998-12-18 2004-02-03 Cognex Corporation Machine vision methods and systems for boundary feature comparison of patterns and images
US6381366B1 (en) 1998-12-18 2002-04-30 Cognex Corporation Machine vision methods and system for boundary point-based comparison of patterns and images
US6625303B1 (en) 1999-02-01 2003-09-23 Eastman Kodak Company Method for automatically locating an image pattern in digital images using eigenvector analysis
US6477275B1 (en) 1999-06-16 2002-11-05 Coreco Imaging, Inc. Systems and methods for locating a pattern in an image
US6532301B1 (en) 1999-06-18 2003-03-11 Microsoft Corporation Object recognition with occurrence histograms
US7139421B1 (en) 1999-06-29 2006-11-21 Cognex Corporation Methods and apparatuses for detecting similar features within an image
JP3907874B2 (ja) 1999-08-02 2007-04-18 松下電器産業株式会社 欠陥検査方法
JP3226513B2 (ja) 1999-08-09 2001-11-05 株式会社半導体理工学研究センター 演算回路、演算装置、及び半導体演算回路
US7043055B1 (en) 1999-10-29 2006-05-09 Cognex Corporation Method and apparatus for locating objects using universal alignment targets
US6594623B1 (en) 1999-11-12 2003-07-15 Cognex Technology And Investment Corporation Determining three-dimensional orientation of objects
US6973207B1 (en) 1999-11-30 2005-12-06 Cognex Technology And Investment Corporation Method and apparatus for inspecting distorted patterns
US6639624B1 (en) 1999-12-30 2003-10-28 Cognex Corporation Machine vision methods for inspection of leaded components
US6748104B1 (en) 2000-03-24 2004-06-08 Cognex Corporation Methods and apparatus for machine vision inspection using single and multiple templates or patterns
US6950548B1 (en) 2000-05-17 2005-09-27 Cognex Corporation Creating geometric model descriptions for use in machine vision inspection systems
US6691126B1 (en) 2000-06-14 2004-02-10 International Business Machines Corporation Method and apparatus for locating multi-region objects in an image or video database
US7167583B1 (en) * 2000-06-28 2007-01-23 Landrex Technologies Co., Ltd. Image processing system for use with inspection systems
DE10048029A1 (de) 2000-09-26 2002-04-25 Philips Corp Intellectual Pty Verfahren zur Berechnung einer zwei Abbildungen verbindenden Transformation
US6760483B1 (en) 2000-10-13 2004-07-06 Vimatix (Bvi) Ltd. Method and apparatus for image analysis and processing by identification of characteristic lines and corresponding parameters
US6751338B1 (en) 2000-12-15 2004-06-15 Cognex Corporation System and method of using range image data with machine vision tools
US6681151B1 (en) 2000-12-15 2004-01-20 Cognex Technology And Investment Corporation System and method for servoing robots based upon workpieces with fiducial marks using machine vision
US6771808B1 (en) 2000-12-15 2004-08-03 Cognex Corporation System and method for registering patterns transformed in six degrees of freedom using machine vision
US6728582B1 (en) 2000-12-15 2004-04-27 Cognex Corporation System and method for determining the position of an object in three dimensions using a machine vision system with two cameras
US6751361B1 (en) 2000-12-22 2004-06-15 Cognex Corporation Method and apparatus for performing fixturing in a machine vision system
US6785419B1 (en) 2000-12-22 2004-08-31 Microsoft Corporation System and method to facilitate pattern recognition by deformable matching
US7006669B1 (en) 2000-12-31 2006-02-28 Cognex Corporation Machine vision method and apparatus for thresholding images of non-uniform materials
US7010163B1 (en) 2001-04-20 2006-03-07 Shell & Slate Software Method and apparatus for processing image data
US6959112B1 (en) 2001-06-29 2005-10-25 Cognex Technology And Investment Corporation Method for finding a pattern which may fall partially outside an image
US7200270B2 (en) * 2001-12-13 2007-04-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Pattern recognition apparatus and method using distributed model representation of partial images
KR100484640B1 (ko) 2002-01-14 2005-04-20 삼성에스디아이 주식회사 생물분자 고정용 올리고머, 및 이를 포함하는 생물분자고정화 조성물
US6993193B2 (en) * 2002-03-26 2006-01-31 Agilent Technologies, Inc. Method and system of object classification employing dimension reduction
US20040081346A1 (en) 2002-05-01 2004-04-29 Testquest, Inc. Non-intrusive testing system and method
US7015418B2 (en) 2002-05-17 2006-03-21 Gsi Group Corporation Method and system for calibrating a laser processing system and laser marking system utilizing same
EP1394727B1 (en) 2002-08-30 2011-10-12 MVTec Software GmbH Hierarchical component based object recognition
JP4229714B2 (ja) 2002-09-19 2009-02-25 株式会社リコー 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム、及び画像処理プログラムを記憶する記憶媒体
CA2411338C (en) 2002-11-07 2011-05-31 Mcmaster University Method for on-line machine vision measurement, monitoring and control of product features during on-line manufacturing processes
US7190834B2 (en) 2003-07-22 2007-03-13 Cognex Technology And Investment Corporation Methods for finding and characterizing a deformed pattern in an image
US8081820B2 (en) 2003-07-22 2011-12-20 Cognex Technology And Investment Corporation Method for partitioning a pattern into optimized sub-patterns
US7720291B2 (en) * 2004-02-17 2010-05-18 Corel Corporation Iterative fisher linear discriminant analysis
US7340089B2 (en) * 2004-08-17 2008-03-04 National Instruments Corporation Geometric pattern matching using dynamic feature combinations
US7260813B2 (en) 2004-10-25 2007-08-21 Synopsys, Inc. Method and apparatus for photomask image registration
WO2006089197A1 (en) 2005-02-16 2006-08-24 Qualcomm Incorporated Low duty cycle half-duplex mode operation with communication device
CN101142586A (zh) * 2005-03-18 2008-03-12 皇家飞利浦电子股份有限公司 执行人脸识别的方法
JP2006293528A (ja) * 2005-04-07 2006-10-26 Sharp Corp 学習用画像選択方法および装置、画像処理アルゴリズム生成方法および装置、プログラムならびに記録媒体
US7863612B2 (en) 2006-07-21 2011-01-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and semiconductor device
US7707539B2 (en) 2007-09-28 2010-04-27 Synopsys, Inc. Facilitating process model accuracy by modeling mask corner rounding effects
ATE452379T1 (de) 2007-10-11 2010-01-15 Mvtec Software Gmbh System und verfahren zur 3d-objekterkennung
ATE468572T1 (de) 2008-01-18 2010-06-15 Mvtec Software Gmbh System und verfahren zur erkennung verformbarer objekte
JP5163281B2 (ja) * 2008-05-21 2013-03-13 ソニー株式会社 静脈認証装置および静脈認証方法
US8131063B2 (en) * 2008-07-16 2012-03-06 Seiko Epson Corporation Model-based object image processing
US8457390B1 (en) * 2008-10-10 2013-06-04 Cognex Corporation Method and apparatus for training a probe model based machine vision system
US20110202487A1 (en) * 2008-10-21 2011-08-18 Nec Corporation Statistical model learning device, statistical model learning method, and program
CN101732031A (zh) * 2008-11-25 2010-06-16 中国大恒(集团)有限公司北京图像视觉技术分公司 眼底图像处理方法
JP5229478B2 (ja) * 2008-12-25 2013-07-03 日本電気株式会社 統計モデル学習装置、統計モデル学習方法、およびプログラム
US8266078B2 (en) * 2009-02-06 2012-09-11 Microsoft Corporation Platform for learning based recognition research
JP5385752B2 (ja) * 2009-10-20 2014-01-08 キヤノン株式会社 画像認識装置、その処理方法及びプログラム
US8131786B1 (en) * 2009-11-23 2012-03-06 Google Inc. Training scoring models optimized for highly-ranked results
US8180146B2 (en) 2009-12-22 2012-05-15 The Chinese University Of Hong Kong Method and apparatus for recognizing and localizing landmarks from an image onto a map
US20120029289A1 (en) 2010-07-29 2012-02-02 Cannuflow, Inc. Optical Cap for Use With Arthroscopic System
US8566746B2 (en) 2010-08-30 2013-10-22 Xerox Corporation Parameterization of a categorizer for adjusting image categorization and retrieval
US8144976B1 (en) 2010-12-06 2012-03-27 Seiko Epson Corporation Cascaded face model
JP2012128638A (ja) * 2010-12-15 2012-07-05 Canon Inc 画像処理装置、位置合わせ方法及びプログラム
US8542905B2 (en) * 2010-12-29 2013-09-24 Cognex Corporation Determining the uniqueness of a model for machine vision
US9710730B2 (en) * 2011-02-11 2017-07-18 Microsoft Technology Licensing, Llc Image registration
US8620837B2 (en) 2011-07-11 2013-12-31 Accenture Global Services Limited Determination of a basis for a new domain model based on a plurality of learned models
US9152700B2 (en) * 2011-09-30 2015-10-06 Google Inc. Applying query based image relevance models
US9111173B2 (en) 2012-04-23 2015-08-18 Honda Motor Co., Ltd. Learning part-based models of objects
CN102722719B (zh) * 2012-05-25 2014-12-17 西安电子科技大学 基于观察学习的入侵检测方法
JP5880454B2 (ja) * 2013-01-11 2016-03-09 富士ゼロックス株式会社 画像識別装置及びプログラム
CN103116754B (zh) * 2013-01-24 2016-05-18 浙江大学 基于识别模型的批量图像分割方法及系统

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0467277A (ja) * 1990-07-06 1992-03-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> パターン認識辞書作成装置
JPH0676068A (ja) * 1992-08-25 1994-03-18 N T T Data Tsushin Kk パターン認識辞書作成システムおよびその追加パターン作成方法
JPH0695685A (ja) * 1992-09-17 1994-04-08 N T T Data Tsushin Kk パターン認識辞書作成方法
JP2002269560A (ja) * 2001-03-06 2002-09-20 Seiko Epson Corp テンプレートマッチング方法、それを実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、テンプレートマッチング装置、位置決め装置および実装装置
JP2010511938A (ja) * 2006-12-01 2010-04-15 グーグル・インコーポレーテッド 顔認識を用いた画像の識別
US20090290788A1 (en) * 2007-12-21 2009-11-26 Nathaniel Bogan System and method for performing multi-image training for pattern recognition and registration
JP2010205007A (ja) * 2009-03-04 2010-09-16 Omron Corp モデル画像取得支援装置、モデル画像取得支援方法およびモデル画像取得支援プログラム

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
LUOSI WEI, 外1名: ""Visual Location System for Placement Machine Based on Machine Vision"", 2008 FIFTH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON EMBEDDED COMPUTING, JPN6021009689, 6 October 2008 (2008-10-06), pages 141 - 146, XP031366799, ISSN: 0004467600 *
大澤翔吾, 外1名: ""クラウドソーシングによる食事画像認識モデルの自動構築"", 第5回データ工学と情報マネジメントに関するフォーラム (第11回日本データベース学会年次大会), JPN6021009687, 31 May 2013 (2013-05-31), JP, ISSN: 0004467599 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020213462A1 (ja) 2019-04-16 2020-10-22 三ツ星ベルト株式会社 Vリブドベルトとその製造方法、およびゴム組成物

Also Published As

Publication number Publication date
US9659236B2 (en) 2017-05-23
CN104252626B (zh) 2021-02-05
JP6630633B2 (ja) 2020-01-15
JP2016184424A (ja) 2016-10-20
US20150003726A1 (en) 2015-01-01
CN104252626A (zh) 2014-12-31
US20160155022A1 (en) 2016-06-02
JP2015015019A (ja) 2015-01-22
CN110084260A (zh) 2019-08-02
US9679224B2 (en) 2017-06-13
JP6967060B2 (ja) 2021-11-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6967060B2 (ja) 複数のパターン認識及び登録ツールモデルをトレーニングするための半教師付き方法
CN106203305B (zh) 人脸活体检测方法和装置
JP6295645B2 (ja) 物体検出方法及び物体検出装置
US11868863B2 (en) Systems and methods for joint learning of complex visual inspection tasks using computer vision
US9384585B2 (en) 3-dimensional shape reconstruction device using depth image and color image and the method
US20180075618A1 (en) Measurement system and method for measuring multi-dimensions
JP2019194616A (ja) 画像に基づく位置検出方法、装置、機器及び記憶媒体
CN111678459B (zh) 三维扫描方法、三维扫描系统和计算机可读存储介质
JP2018508019A (ja) 光パターンの強度変動を利用した体積内の物体の深さマッピング
CN106524909B (zh) 三维图像采集方法及装置
JP2019079487A (ja) パラメータ最適化装置、パラメータ最適化方法、プログラム
WO2016107638A1 (en) An image face processing method and apparatus
US8542912B2 (en) Determining the uniqueness of a model for machine vision
US8315457B2 (en) System and method for performing multi-image training for pattern recognition and registration
JP6317725B2 (ja) 取得された画像内のクラッタを決定するためのシステム及び方法
WO2021212273A1 (zh) 图像处理方法、装置、标定板和计算机可读存储介质
US8542905B2 (en) Determining the uniqueness of a model for machine vision
JP2015111128A (ja) 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、およびプログラム
US11580662B2 (en) Associating three-dimensional coordinates with two-dimensional feature points
CN111767932B (zh) 动作判定方法及装置、计算机设备及计算机可读存储介质
JP2010113562A (ja) 物体検知追跡装置,物体検知追跡方法および物体検知追跡プログラム
CN107341799B (zh) 诊断数据获取方法及装置
JP7228509B2 (ja) 識別装置及び電子機器
JP2020012667A (ja) 識別装置、識別方法およびプログラム
US8428339B2 (en) System and method for alignment and inspection of ball grid array devices

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200107

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200107

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210302

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210318

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20210616

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210921

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20211011

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20211022

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6967060

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150