JP2020034924A - 酸化スズに基づく導電膜を有する反射防止または反射コーティングを塗膜した光学物品、および製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
−少なくとも1つの主表面がある基材で、上に記載したようにして水分吸収率を測定した場合に水分吸収率が前記基材の全重量に対して重量で少なくとも0.6%以上である、光学物品を供給する;
−前記基材の主表面の上に反射防止または反射コーティングを堆積し、ここに前記コーティングは導電性の層の全重量に対して重量で少なくとも30%の酸化スズ(SnO2)を含有する少なくとも1つの導電性の層を有し、前記導電性の層はイオン−アシスト溶着により堆積される;
−その主表面に前記導電性の層を含む前記反射防止または反射コーティングを塗工された基材を含む、光学物品を回収する;ことを含む。
実施例に用いられる光学物品はORMATMESSILORの直径65mm、度数−2.00ジオプトリーおよび厚み1.2mmで:i)ポリウレタンラテックスをベースとした、90℃で1時間硬化されたポリエステル単位を含む耐衝撃プライマーコーティング(BAXENDEN CHEMICALSによるWitcobondTM234、1500rpmで10から15秒スピンコートする);ii)特許EP0614957の実施例3で開示され(屈折率1.50)、エポキシトリアルコキシシラン水解物(γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、GLYMO)およびジアルキルジアルコキシシラン(ジメチルジエトキシシラン、DMDES)、コロイダルシリカおよびアルミニウムアセチルアセトネートをベースとした耐摩耗および耐ひっかきコーティング(ハードコート);iii)反射防止コーティング;およびiv)汚れ防止コーティング、により塗工されている。
光学物品を準備する方法は上述したプライマーコーティングおよび耐摩耗コーティングを塗工した基材を真空溶着チャンバー内への導入、次いで高真空を得るまでの排気行程、基材の表面をアルゴンイオンビームで活性化させる工程(IPC:1分間、100V、1A)、イオン放射の中断および:
−堆積速度0.3nm/秒のZrO2層、
−速度0.7nm/秒のSiO2層、
−速度0.3nm/秒のZrO2層、
−速度0.15nm/秒の酸素イオン−アシスト(1.2A/100V)下の導電層(比較実施例にはSnO2、またはITO)
−速度1nm/秒のSiO2層
−汚れ防止層(トップコート)(ダイキンによるOptool DSXTM)
−および最後に通気工程
の蒸着による堆積が含まれる。
a.耐摩耗性の特性評価
耐摩耗性は特許出願WO2008/001011(標準ASTM F735.81)に記載してある方法にしたがって反射防止コーティングが塗工された基材についてBAYER ASTM値(Bayer砂)およびBayer ISTM値(Bayerアルミナ)を決定することにより評価されている。BAYER試験値が高い程、耐摩耗性が強い。
「nx10カウント」として知られる定性試験により基材上に堆積された層の接着特性、とりわけ反射防止コーティングのめがねレンズ用の基材に対する接着性を評価できる。これはレンズの凸面に対し国際特許WO99/49097に記載された手順にしたがって実施されてきている。
光学物品の放電時間は前記光学物品を−9000ボルトで30msのコロナ放電に曝した後、室温(25℃)で、製造者の取扱説明書にしたがって放電時間測定装置JCI155(John Chubb Instrumentation)を用いて測定されている。
局所的な光学的な欠陥がある。
この試験は光学物品の剥き出しの基材について実施され、ひとたび伝統的な帯電防止層、即ち酸化スズを本発明による量だけ含有しない層を含む反射防止コーティングが塗工されると、どの基材が経時的に表面欠陥を現す可能性があるかを決定することが可能になる。発明者は剥き出しの基材の水分吸収率ならびに反射防止および帯電防止処理を受けた後に表面欠陥を生じるその傾向との間の良好な相関関係をもたらすこの試験を開発した。
a.ORMA TM 基材
実施例1、2および比較実施例C1およびC2で得られた光学物品の構造について以下に詳細に述べる(表2)。さらにこれらの挙動、接着性、耐摩耗性、帯電防止特性、表面欠陥の存在の可能性および次の様な光学パラメータ:可視範囲内の平均立体角反射率Rm、視覚感受性により重み付けした平均立体角反射率(光反射率)Rv、可視光透過率τV、標準表色系CIE L*a*b*内の色相角hおよび彩度C*に関しても示されている。以下に与えられた結果は同様の条件下で作成された一連の類似の論文の平均値に一致している。
実施例2および比較実施例C2はORMATM 基材とは別の基材を用いて繰り返されている(実施例3および4および比較実施例C3からC10)。結果は表3に示され、復習として実施例2および比較実施例C2の結果も要約している。
実施例2は基材の性質を変更し(ORMATMの代わりにMR8TM)、次いでSnO2帯電防止層の厚みを3から75nmまで変化させて繰り返されてきている。表面欠陥の発生が観察されさらに全ての結果が表4に要約されている。
SnO225% In2O375% SnO250% In2O350% SnO275% In2O325%
結果を次の表に示す。
Claims (16)
- 帯電防止および反射防止または反射特性を持つ光学物品で、反射防止または反射コーティングを塗工された少なくとも1つの主表面を持つ基材を有し、前記コーティングが少なくとも1つの導電層を含有し、ここに:
前記導電層が導電層の全重量に対して重量で少なくとも30%、好ましくは重量で少なくとも40%およびさらに好ましくは重量で少なくとも50%の酸化スズ(SnO2)を含有し、
前記導電層の堆積がイオン−アシストの下で実施されていて、さらに
前記基材の水分吸収率が前記基材の全重量に対して重量で0.6%以上であり、水分吸収率が前記基材を予備乾燥し次いで50℃で相対湿度100%および大気圧下のチャンバー内で800時間保管後に測定されたものである、
帯電防止および反射防止または反射特性を持つ光学物品。 - 導電層の厚みが0.1から150nm、好ましくは0.1から50nm、より好ましくは1から20nmの範囲である、請求項1に記載の光学物品。
- 導電層がインジウムを含まない、請求項1および2のいずれかに記載の光学物品。
- 導電層が導電層の全重量に対して重量で少なくとも90%の酸化スズ(SnO2)を含む、請求項1〜3のいずれかに記載の光学物品。
- 導電層がSnO2層から成る、請求項1〜4のいずれかに記載の光学物品。
- 導電層がスタック順で反射防止または反射コーティングの外側層を形成しない、請求項1〜5のいずれかに記載の光学物品。
- 導電層がスタック順で反射防止または反射コーティングの最後から2番目の層を形成する、請求項1〜6のいずれかに記載の光学物品。
- 基材がポリ(チオウレタン)の種類もしくはアルキレングリコールビスアリルカーボネート類の重合または共重合によるものである、請求項1〜7のいずれかに記載の光学物品。
- 反射防止または反射コーティングが交互の高屈折率層および低屈折率層を有する多層コーティングである、請求項1〜8のいずれかに記載の光学物品。
- さらに光学レンズ、好ましくはめがねレンズと定義される、請求項1〜9のいずれかに記載の物品。
- 反射防止または反射コーティングがSiO2およびAl2O3の混合物を含む少なくとも1つの層を有し、さらにこの層の堆積が真空チャンバー内で前記堆積中に前記チャンバー内にガスを供給しながら実施されている、請求項1〜10のいずれかに記載の物品。
- ガスを供給中の真空チャンバー内の圧力が5x10−5から3x10−4mbarの範囲である、請求項11に記載の物品。
- 光学物品を製造する方法で:
少なくとも1つの主表面がある基材で、請求項1に記載した様にして水分吸収率を測定した場合に水分吸収率が前記基材の全重量に対して重量で少なくとも0.6%以上である、光学物品を供給する;
前記基材の主表面の上に反射防止または反射コーティングを堆積し、ここに前記コーティングは導電性の層の全重量に対して重量で少なくとも30%の酸化スズ(SnO2)、好ましくは少なくとも40%およびさらに好ましくは重量で少なくとも50%を含有する少なくとも1つの導電性の層を有し、前記導電性の層はイオン−アシスト溶着により堆積される;
その主表面に前記導電性の層を含む前記反射防止または反射コーティングを塗工された基材を含む、光学物品を回収する;
ことを含む、請求項1〜12のいずれかに記載の光学物品を製造する方法。 - 反射防止または反射コーティング層それぞれの堆積が真空下の蒸着により実施される、請求項13に記載の方法。
- 光学物品の基材の上に堆積した反射防止または反射の帯電防止コーティング内に、前記コーティングの透明性を保つために前記基材が重量で少なくとも0.6%の水分吸収率を持ち、重量で少なくとも30%のSnO2を含有する層の使用。
- 光学物品の基材の上に堆積した反射防止または反射の帯電防止コーティング内に、光学物品に表面欠陥が発生することを防止するために前記基材が重量で少なくとも0.6%の水分吸収率を持ち、重量で少なくとも30%のSnO2を含有する層の使用。
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