JP2019532511A - バッチボンディング装置及びバッチボンディング方法 - Google Patents

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フェイビャオ チェン
ソン グオ
ソン グオ
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Abstract

バッチボンディング装置及びバッチボンディング方法を提供する。バッチボンディング装置は、接合されるチップ60を提供するように構成されたチップ供給ユニット10と、基板を供給するように構成された基板供給ユニット20と、チップ供給ユニット10と基板供給ユニット20との間でチップ60を移送するように構成された搬送ユニット40と、チップ供給ユニット10の上方に配置され、チップ供給ユニット10から各チップ60をピックアップし、チップ60のマーク面61を必要とされた向きに反転させて搬送ユニット40に載置するピックアップユニット30と、備える。本願では、各チップ60のピックアップと高精度な位置調整とを別々に実施し、複数のチップ60の搬送工程とボンディング工程とを同時に完了することができるので、生産性が大幅に向上する。【選択図】図1

Description

本出願はチップボンディングの分野に関し、特に、バッチボンディング装置および方法に関する。
チップボンディング技術は、チップを基板上に一体化する相互接続プロセスである。処理されるチップは、それらのマークが上方を向くように、分離台上に配置される。ロボットアームがチップを把持して、反転させた後、それらをボンディングのために基板に移送する。長い圧着時間(約30秒)を必要とする工程では、単一のボンディング手順で、1つのチップしか処理できず、大量生産の要件を満たすことができない。よって、一連のボンディング工程は、非常に低い生産性を示す。また、チップボンディング技術には、2つの技術、すなわち、チップのマークを下方に向けてチップを基板にボンディングする技術、及び、チップのマークを上方に向けてチップを基板にボンディングする技術がある。
既存の装置は、装置の複雑な切り替えのために、1種類のチップボンディングプロセスしか実施することができず、ボンディング生産性をさらに低下させる。
本出願は、先行技術におけるチップボンディングの生産性が低いという問題を解決するために、バッチボンディング装置及びバッチボンディング方法を提供する。
前述の技術的問題を解決するために、本出願は以下を含むバッチボンディング装置を提供する。
接合されるチップを供給するように構成されたチップ供給ユニットと、
基板を供給するように構成された基板供給ユニットと、
前記チップ供給ユニットと前記基板供給ユニットとの間で前記チップを移送するように構成された搬送ユニットと、
前記チップ供給ユニットの上方に配置され、前記チップ供給ユニットから各チップをピックアップし、前記チップのマーク面を所望の向きに反転させた後に前記搬送ユニットに搭載するピックアップユニット。
好ましくは、前記ピックアップユニットは、第1ピックアップアセンブリと第2ピックアップアセンブリとを含み、前記第1ピックアップアセンブリは、前記チップ供給ユニットの上方に配置され、第1回転部と、前記第1回転部上に配置された第1ピックアップヘッドとを含み、前記第2ピックアップアセンブリは、第2回転部と、前記第2回転部上に配置された第2ピックアップヘッドとを含み、前記第1ピックアップヘッドは、前記チップ供給ユニットから前記チップをピックアップし、前記チップを、前記搬送ユニットまたは前記第2ピックアップヘッドに移送する。
好ましくは、前記第1回転部の各回転の回転角度は、90°または180°である。
好ましくは、前記第2ピックアップアセンブリは、前記第2ピックアップヘッド上の前記チップの位置を識別するように構成された第1整列部をさらに含む。
好ましくは、前記第2ピックアップヘッドは、1つ有り、前記第2ピックアップヘッドは、前記第1整列部に対応する整列位置、前記第1ピックアップヘッドに対応するハンドオーバー位置、及び、前記搬送ユニットに対応する移送位置を切り替えるように、前記第2回転部によって駆動される。
好ましくは、前記第2ピックアップヘッドは、少なくとも3つ有り、少なくとも3つの前記第2ピックアップヘッドは、前記第2回転部上に均一に配置され、前記第2回転部の円周に沿って互いに離間し、前記第2回転部が回転を停止すると、少なくとも3つの前記第2ピックアップヘッドのうちの3つは、それぞれ、前記第1整列部に対応する整列位置、前記第1ピックアップヘッドに対応するハンドオーバー位置、及び、前記搬送ユニットに対応する移送位置に配置される。
好ましくは、前記第2回転部の各回転の角度は、隣り合う前記第2ピックアップヘッド間の角度に等しい。
好ましくは、バッチボンディング装置は、微調整ユニットをさらに備え、前記微調整ユニットは、第2整列部と、ファインレギュレータと、を有し、前記第2整列部は、前記搬送ユニット上の前記チップの位置を走査し、前記ファインレギュレータは、前記第2整列部の走査結果に応じて、前記チップの位置を調整する。
好ましくは、前記搬送ユニットは、ガイドレールと、前記ガイドレール上に取り付けられ、前記ガイドレールに沿ってスライド可能な搬送台とを有し、前記搬送台には、前記チップを吸引するための吸引ヘッドが設けられている。
本出願はまた、前述のバッチボンディング装置と共に使用される、以下のステップを含むバッチボンディング方法を提供する。
S1:チップを有するウェハをチップ供給ユニットに搭載し、基板を基板供給ユニットに搭載するステップと、
S2:前記ボンディングにおける前記マーク面を下向きにする必要がある場合には、ピックアップユニットによって、前記チップ供給ユニットから前記チップを順次ピックアップし、前記チップを順次180°回転させ、前記チップを前記基板供給ユニットの前記基板に移送すると同時に前記チップを前記基板にボンディングする搬送ユニットに、回転された前記チップを移送するステップと、
S4:前記ボンディングにおける前記マーク面を上向きにする必要がある場合には、ピックアップユニットによって、前記チップ供給ユニットから前記チップをピックアップし、前記チップを反転させ、前記チップを前記基板供給ユニットの前記基板に移送すると同時に前記チップを前記基板にボンディングする搬送ユニットに、前記チップを移送するステップ。
好ましくは、ステップS3及びステップS4は、それぞれ、前記搬送ユニットによって、前記チップを微調整ユニットの上方の位置に移動させ、前記微調整ユニットによって、前記搬送ユニット上の各チップの位置を調整する。
好ましくは、ステップS4において、前記ピックアップユニットによって、前記チップ供給ユニットから前記チップをピックアップし、前記チップを反転させるステップは、第1ピックアップアセンブリによって、前記チップ供給ユニットから前記チップをピックアップし、前記チップを90°回転させた後に、第2ピックアップアセンブリに前記チップを移送し、そして、前記第2ピックアップアセンブリによって、前記チップを前記搬送ユニット上に搭載することを含む。
好ましくは、ステップS4は、第1整列部によって、前記第2ピックアップアセンブリ上の前記チップの位置を識別し、次いで、前記チップを整列するように、前記搬送ユニットに移送する。
先行技術と比較して、本出願において提供されるバッチボンディング装置および方法は、以下の利点を有する。
1.本出願では、各チップのピックアップ及び高精度の位置調整を別々に実施し、それとともに、複数のチップの搬送プロセス及びボンディングプロセスを同時に完了することができ、それによって、生産性を大幅に改善し、大量生産の要件を満たす。
2.本出願は、ボンディング中におけるチップのマーク面の配向要件に従って、第2ピックアップアセンブリを使用することにより、チップのマーク面を上方及び下方のいずれの方向にも向くように選択して接合することができる。
実施形態に係る(マーク面を下方に向けてチップをボンディングさせる)バッチボンディング装置の概略構造図である。 実施形態に係る(マーク面を上方に向けてチップをボンディングさせる)バッチボンディング装置の概略構造図である。 実施形態に係るピックアップユニットの概略構造図である。 実施形態に係る微調整ユニットの概略構造図である。 実施形態に係る基板供給ユニットの概略構造図である。 実施形態に係る搬送ユニットの概略構造図である。 実施形態に係るチップの概略構造図である。 実施形態に係る第2ピックアップヘッドの概略構造図である。 実施形態に係るボンディング中にチップのマーク面を上方に向ける必要がある場合の第1ピックアップアセンブリと第2ピックアップアセンブリとの間の移送プロセスの概略図である。
図において、10 チップ供給ユニット、11 分離台、12 搬送ディスク、20 基板供給ユニット、21 接合台、22 運搬ボード、30 ピックアップユニット、31 第1回転部、32 第1ピックアップヘッド、33 第2回転部、34 第2ピックアップヘッド、35 第1整列部、40 搬送ユニット、41 ガイドレール、42 搬送台、50 微調整ユニット、51 第2整列部、52 ファインレギュレータ、60 チップ、61 マーク面である。
本出願の目的、利点および特徴をより明確にするために、添付の図面を参照しながら本発明の実施形態を以下により詳細に説明する。添付の図面は、本出願の目的を説明する際の利便性および明確さを容易にすることのみを目的として、非常に簡略化された形で提示され、必ずしも一定の縮尺で提示されていないことに留意されたい。
図1及び図2に示すように、本出願において提供されるバッチボンディング装置は、以下のユニットを備える。
チップ供給ユニット10は、接合される1つのチップ60をウェハから分離してピックアップユニット30に供給するように構成されている。図3を参照すると、チップ供給ユニット10は、分離台11と、分離台11上に載置された搬送ディスク12とを備えている。搬送ディスク12はチップ60を搬送するように構成されており、分離台11はチップ60を水平方向に移動させるように駆動することができる。
基板供給ユニット20は基板を供給するように構成されている。特に、図5を参照すると、基板供給ユニット20は、接合台21と、接合台21上に搭載された運搬ボード22とを含む。搬送ボード22は基板を搬送するように構成され、接合台21は基板を水平方向に移動するように駆動することができる。
搬送ユニット40は、チップ供給ユニット10と基板供給ユニット20との間でチップ60を移送するように構成されている。
ピックアップユニット30は、チップ供給ユニット10の上方に配置されており、チップ供給ユニット10から各チップ60をピックアップし、図7に示すように、配向要求に応じて、チップ60のマーク面61を所望の向きに反転させた後に搬送ユニット40に搭載する。
具体的には、本願では、各チップ60のピックアップと高精度の位置調整とを別々に実施しながら、複数のチップの搬送工程とボンディング工程とを同時に完了することができるため、生産性が大幅に向上し、大量生産の条件を満たす。本出願は、ボンディングにおけるチップ60のマーク面61の配向要件に従って、第2ピックアップアセンブリを使用することにより、チップ60のマーク面61を上方及び下方のいずれの方向にも向くように選択して接合することができる。
好ましくは、特に、図3に示すように、ピックアップユニット30は、第1ピックアップアセンブリと第2ピックアップアセンブリとを含む。第1ピックアップアセンブリは、チップ供給ユニット10の上方に配置され、第1回転部31と、第1回転部31上に配置された第1ピックアップヘッド32とを含む。第2ピックアップアセンブリは、第2回転部33と、第2回転部33上に配置された第2ピックアップヘッド34とを含む。第1ピックアップヘッド32は、チップ供給ユニット10からチップ60をピックアップし、チップ60を、搬送ユニット40または第2ピックアップヘッド34に移送する。具体的には、チップを反転させる必要がない場合には、チップ60は、第1ピックアップヘッド32によって、直接、搬送ユニット40に移送される。チップを反転させる必要がある場合には、第1ピックアップヘッド32は、チップ60を、第2ピックアップヘッド34に移送してチップを反転させる。そして、第2ピックアップヘッド34は、反転したチップ60を、搬送部40に移送する。好ましくは、第2ピックアップアセンブリは、第2のピックアップヘッド34上のチップ60の位置を識別するように構成された第1整列部35をさらに含む。第1整列部35は、第2回転部33の下方に配置されている。第1ピックアップヘッド32から第2ピックアップヘッド34への移動が完了した後、第1整列部35は、第2ピックアップヘッド34上のチップ60の位置を走査する。この位置情報に基づいて、第2ピックアップヘッド34は、チップ60を搬送ユニット40の正確な位置に移送することができる。
好ましくは、引き続き、図3に示すように、第2ピックアップヘッド34は、1つ有る。第2ピックアップヘッド34は、第1整列部35に対応する整列位置(第2ピックアップヘッド34が第1整列部35と対向する位置)、第1ピックアップヘッド32に対応するハンドオーバー位置(第2のピックアップヘッド34が第1ピックアップヘッド32と対向する位置)、及び、搬送部40に対応する移送位置(第2のピックアップヘッド34が搬送部40と対向する位置)を切り替えるように、第2回転部33によって駆動される。移送中、第1回転部31の各回転の回転角度は90°または180°であり、これは移送精度を保証し、装置構造を単純化する。
好ましくは、図8に示すように、第2ピックアップヘッド34は複数(本実施形態では4個)設けられている。4つの第2ピックアップヘッド34は、第2回転部33上に均一に配置され、第2回転部の円周に沿って互いに離間し、好ましくは、均一に離間している。第2回転部33が回転を停止すると、3つの第2ピックアップヘッド34は、第1整列部35に対応する整列位置、第1ピックアップヘッド32に対応するハンドオーバー位置、及び、搬送ユニット40に対応する移送位置に配置される。このように、各第2ピックアップヘッド34は、異なる作業位置で異なる動作を実行することができ、接合効率を向上させる。本実施形態では、第2回転部33の各回転の角度は、隣り合う第2ピックアップヘッド34間の角度に等しい。また、4つの第2ピックアップヘッド34を例にとると、第2回転部33の各回転角度は90°である。
好ましくは、図1および図2に示すように、バッチボンディング装置は、微調整ユニット50をさらに備える。図4に示すように、微調整ユニット50は、第2整列部51とファインレギュレータ52とを含む。第2整列部51は、搬送ユニット40上のチップ60の位置を走査し、ファインレギュレータ52は、第2整列部51の走査結果に応じてチップ60の位置を調整する。
好ましくは、図6に示すように、搬送ユニット40は、ガイドレール41と、このガイドレール41上に取り付けられ、ガイドレール41に沿ってスライド移動可能な搬送台42とを備えている。搬送台42には、チップを吸引するための吸引ヘッド(図示せず)が設けられており、吸引ヘッド上のチップ60の位置および配置は必要に応じて調整可能である。
特に、図1および図2を参照すると、本出願は、また、前述のバッチボンディング装置と共に使用されるバッチボンディング方法を提供し、以下のステップを含む。
S1:チップ60のマーク面61が上方を向くように、チップ60を有するウェハをチップ供給ユニット10に搭載し、基板を基板供給ユニット20に搭載する。
S2:ボンディングにおけるチップ60のマーク面61の必要な向きを決定する。すなわち、ボンディング中にマーク面61を上方または下方に向けることを必要とする。
S3:マーク面61が接合中に下向きになることが要求される場合には、図1に示すように、ピックアップユニット30により、チップ60をチップ供給ユニット10から順次ピックアップし、チップ60を順次180°回転させる。次に、運搬ユニット40の搬送台42上のチップ60の数および配置が要件を満たすまで、回転されたチップを運搬ユニット40に移送する。搬送ユニット40は、全てのチップ60を基板供給ユニット20の基板に搬送すると同時に、全てのチップ60を基板にボンディングする。
S4:マーク面61が接合中に上向きになることが要求される場合には、図2に示すように、第1ピックアップヘッド32により、チップ60をチップ供給ユニット10からピックアップし、チップ60を第2ピックアップヘッド34に移送して反転させる。このステップにおいて、ピックアップユニットによって、チップ60をチップ供給ユニット10からピックアップし、反転させるステップは、以下の通りである。第1ピックアップアセンブリによって、チップ60をチップ供給ユニット10からピックアップし、チップ60を90°回転させた後に、チップ60を第2ピックアップアセンブリに移送する。そして、第2ピックアップアセンブリによって、チップ60を搬送ユニット40に搭載する。すなわち、第2ピックアップヘッド34によって、チップ60を搬送ユニット40上に順次移送する。搬送ユニット40は、全てのチップ60を基板供給ユニット20の基板に搬送すると同時に、全てのチップ60を基板にボンディングする。
図9に示すように、ボンディング時にマーク面61を下方に向ける必要がある場合には、第1ピックアップヘッド32が下方に伸びて、チップ供給ユニット10から1つのチップ60をピックアップする。次に、後退して反時計回りに90°回転し、チップ60を、第2のピックアップヘッド34に移送する。その後、第1ピックアップヘッド32が時計方向に90°回転して、次のチップ60をピックアップすると同時に、第2ピックアップヘッド34が回転して第1整列部35と対向して位置を走査する。第1ピックアップヘッド32は、第2ピックアップヘッド34へのチップの移送を支援する位置まで、チップ60を回転させ、第2ピックアップヘッド34がチップをピックアップすることを待つ。同時に、第2ピックアップヘッド34によって搬送された第1のチップ60は、第1整列部35によって走査された位置情報に従って、搬送ユニット40に正確に搬送される。同様にして、チップ供給ユニット10から搬送ユニット40へのチップ60の移送が完了する。
好ましくは、ステップS3およびステップS4は、搬送ユニット40によって、チップ60を微調整ユニット50の上方の位置に移動させること、及び、微調整ユニット50によって、搬送ユニット40の上方の各チップ60の位置を調整することをさらに含む。
具体的には、ステップS3において、搬送ユニット40は、複数のチップ60を同時に微調整ユニット50の上方に移動させる。そして、微調整ユニット50は、搬送ユニット40上の各チップ60の位置を調整する。具体的には、第2整列部51は、搬送台42上の各チップ60を走査する。第2整列部51がチップ60の走査を完了して計算を行った後、ファインレギュレータ52は、チップ60を搬送台42から1枚ずつ取り出し、各チップ60の走査結果に応じた調整を行う。また、搬送台42上のチップ60の位置および角度が要求を満たすように、搬送台42は走査結果に応じて水平調整を行う。
ステップS4はさらに以下の動作を含む。第1整列部35によって、第2ピックアップアセンブリ上のチップ60の位置を識別し、次に、チップ60を整列するように、搬送ユニット40に移送する。具体的には、反転させたチップ60を第1整列部35に向けて移動させ、第1整列部35がチップマークを走査して算出する。アライメント結果に応じて、搬送台42が正しい位置に移動すると同時に、第2ピックアップヘッド34がチップ60を反転させて搬送台42に移送する。この間、第1整列部35が既に精密に位置調整を行っているので、精度調整を行うために、微調整ユニット50を用いる必要がなく、精度を保証することを前提として時間とエネルギーを節約することができる。
要約すると、本出願において提供されるバッチボンディング装置および方法において、装置は以下を含む。すなわち、接合されるチップ60を提供するように構成されたチップ供給ユニット10と、基板を供給するように構成された基板供給ユニット20と、チップ供給ユニット10と基板供給ユニット20との間でチップ60を移送するように構成された搬送ユニット40と、チップ供給ユニット10の上方に配置され、チップ供給ユニット10から各チップ60をピックアップし、チップ60のマーク面61を必要とされた向きに反転させて搬送ユニット40に載置するピックアップユニット30と、備える。本願では、各チップ60のピックアップと高精度な位置調整とを別々に実施し、複数のチップ60の搬送工程とボンディング工程とを同時に完了することができるので、生産性が大幅に向上する。ボンディング中のチップ60のマーク面61の配向要件に従って、本出願は、選択的に反転機構を使用し、動作ステップを実行し、それによって、チップがそのマーク面61を上方及び下方に向けてボンディングされる両方の場合を可能にする。
明らかに、当業者は、本出願の精神および範囲から逸脱することなく、本出願に対して様々な変更および修正を加えることができる。したがって、本出願に対するそのような修正形態および変形形態が添付の特許請求の範囲および同等の技術の範囲内にある場合、本出願はまた、これらの修正形態および変形形態を包含することを意図している。

Claims (13)

  1. 接合されるチップを供給するように構成されたチップ供給ユニットと、
    基板を供給するように構成された基板供給ユニットと、
    前記チップ供給ユニットと前記基板供給ユニットとの間で前記チップを移送するように構成された搬送ユニットと、
    前記チップ供給ユニットの上方に配置され、前記チップ供給ユニットから各チップをピックアップし、前記チップのマーク面を所望の向きに反転させた後に前記搬送ユニットに搭載するピックアップユニットと、
    を備えたバッチボンディング装置。
  2. 前記ピックアップユニットは、第1ピックアップアセンブリと第2ピックアップアセンブリとを含み、
    前記第1ピックアップアセンブリは、前記チップ供給ユニットの上方に配置され、第1回転部と、前記第1回転部上に配置された第1ピックアップヘッドとを含み、
    前記第2ピックアップアセンブリは、第2回転部と、前記第2回転部上に配置された第2ピックアップヘッドとを含み、
    前記第1ピックアップヘッドは、前記チップ供給ユニットから前記チップをピックアップし、前記チップを、前記搬送ユニットまたは前記第2ピックアップヘッドに移送する、
    請求項1に記載のバッチボンディング装置。
  3. 前記第1回転部の各回転の回転角度は、90°または180°である、
    請求項2に記載のバッチボンディング装置。
  4. 前記第2ピックアップアセンブリは、前記第2ピックアップヘッド上の前記チップの位置を識別するように構成された第1整列部をさらに含む、
    請求項2に記載のバッチボンディング装置。
  5. 前記第2ピックアップヘッドは、1つ有り、前記第2ピックアップヘッドは、前記第1整列部に対応する整列位置、前記第1ピックアップヘッドに対応するハンドオーバー位置、及び、前記搬送ユニットに対応する移送位置を切り替えるように、前記第2回転部によって駆動される、
    請求項4に記載のバッチボンディング装置。
  6. 前記第2ピックアップヘッドは、少なくとも3つ有り、
    少なくとも3つの前記第2ピックアップヘッドは、前記第2回転部上に均一に配置され、前記第2回転部の円周に沿って互いに離間し、
    前記第2回転部が回転を停止すると、少なくとも3つの前記第2ピックアップヘッドのうちの3つは、それぞれ、前記第1整列部に対応する整列位置、前記第1ピックアップヘッドに対応するハンドオーバー位置、及び、前記搬送ユニットに対応する移送位置に配置される、
    請求項4に記載のバッチボンディング装置。
  7. 前記第2回転部の各回転の角度は、隣り合う前記第2ピックアップヘッド間の角度に等しい、
    請求項6に記載のバッチボンディング装置。
  8. 微調整ユニットをさらに備え、
    前記微調整ユニットは、第2整列部と、ファインレギュレータと、を有し、
    前記第2整列部は、前記搬送ユニット上の前記チップの位置を走査し、
    前記ファインレギュレータは、前記第2整列部の走査結果に応じて、前記チップの位置を調整する、
    請求項1に記載のバッチボンディング装置。
  9. 前記搬送ユニットは、ガイドレールと、前記ガイドレール上に取り付けられ、前記ガイドレールに沿ってスライド可能な搬送台とを有し、
    前記搬送台には、前記チップを吸引するための吸引ヘッドが設けられている、
    請求項1に記載のバッチボンディング装置。
  10. 請求項1に記載のバッチボンディング装置で使用され、以下のステップ、すなわち、
    S1:チップを有するウェハをチップ供給ユニットに搭載し、基板を基板供給ユニットに搭載するステップと、
    S2:ボンディングにおける前記チップのマーク面の必要な向きを決定するステップと、
    S3:前記ボンディングにおける前記マーク面を下向きにする必要がある場合には、ピックアップユニットによって、前記チップ供給ユニットから前記チップを順次ピックアップし、前記チップを順次180°回転させ、前記チップを前記基板供給ユニットの前記基板に移送すると同時に前記チップを前記基板にボンディングする搬送ユニットに、回転された前記チップを移送するステップと、
    S4:前記ボンディングにおける前記マーク面を上向きにする必要がある場合には、ピックアップユニットによって、前記チップ供給ユニットから前記チップをピックアップし、前記チップを反転させ、前記チップを前記基板供給ユニットの前記基板に移送すると同時に前記チップを前記基板にボンディングする搬送ユニットに、前記チップを移送するステップと、
    を備えたバッチボンディング方法。
  11. ステップS3及びステップS4は、それぞれ、前記搬送ユニットによって、前記チップを微調整ユニットの上方の位置に移動させ、前記微調整ユニットによって、前記搬送ユニット上の各チップの位置を調整する、
    請求項10に記載のバッチボンディング方法。
  12. ステップS4において、前記ピックアップユニットによって、前記チップ供給ユニットから前記チップをピックアップし、前記チップを反転させるステップは、
    第1ピックアップアセンブリによって、前記チップ供給ユニットから前記チップをピックアップし、前記チップを90°回転させた後に、第2ピックアップアセンブリに前記チップを移送し、そして、前記第2ピックアップアセンブリによって、前記チップを前記搬送ユニット上に搭載することを含む、
    請求項10に記載のバッチボンディング方法。
  13. ステップS4は、第1整列部によって、前記第2ピックアップアセンブリ上の前記チップの位置を識別し、次いで、前記チップを整列するように、前記搬送ユニットに移送する、
    請求項12に記載のバッチボンディング方法。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111383972A (zh) * 2018-12-29 2020-07-07 上海微电子装备(集团)股份有限公司 一种键合装置及键合方法
TW202119533A (zh) * 2019-11-04 2021-05-16 台灣愛司帝科技股份有限公司 具有晶片吸附功能的晶片承載結構
KR102386337B1 (ko) * 2019-11-08 2022-04-13 세메스 주식회사 다이 이송 모듈 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치
KR102330659B1 (ko) * 2019-11-08 2021-11-23 세메스 주식회사 다이 이송 모듈 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치
KR102316940B1 (ko) * 2019-11-08 2021-10-25 세메스 주식회사 다이 이송 모듈 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치
KR102386338B1 (ko) * 2019-11-08 2022-04-13 세메스 주식회사 다이 이송 모듈 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치
CN112967991B (zh) * 2020-11-25 2022-10-21 重庆康佳光电技术研究院有限公司 转移装置、系统及方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11330109A (ja) * 1998-05-20 1999-11-30 Nec Corp 素子実装装置及び素子実装方法
JP2005517289A (ja) * 2002-01-30 2005-06-09 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト チップ取出し装置、チップ取出しシステム、装着システムおよびウェーハからチップを取り出すための方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001326251A (ja) 2000-05-12 2001-11-22 Hitachi Ltd 半導体製造装置
JP4190161B2 (ja) 2001-05-08 2008-12-03 株式会社新川 ウェーハリングの供給返送装置
US7179346B2 (en) * 2003-06-03 2007-02-20 Asm Assembly Automation Ltd. Semiconductor apparatus with multiple delivery devices for components
US7727800B2 (en) 2005-12-12 2010-06-01 Asm Assembly Automation Ltd. High precision die bonding apparatus
KR20130079031A (ko) 2012-01-02 2013-07-10 삼성전자주식회사 반도체 칩 실장 장치
US20140341691A1 (en) * 2013-05-14 2014-11-20 Kui Kam Lam Bonding apparatus having a plurality of rotary transfer arms for transferring electronic devices for bonding
CN104183527A (zh) 2013-05-28 2014-12-03 北京中电科电子装备有限公司 工件键合系统
KR20140146852A (ko) * 2013-06-18 2014-12-29 삼성테크윈 주식회사 플립칩 마운터 및 이를 이용한 마운팅 방법
CN104051318B (zh) 2014-07-04 2017-02-01 格科微电子(上海)有限公司 图像传感器芯片的自动化封装系统和自动化封装方法
SE538792C2 (en) * 2015-02-06 2016-11-29 Stora Enso Oyj Apparatus and method for component assembly
JP6522735B2 (ja) * 2015-02-26 2019-05-29 株式会社Fuji 部品実装機

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11330109A (ja) * 1998-05-20 1999-11-30 Nec Corp 素子実装装置及び素子実装方法
JP2005517289A (ja) * 2002-01-30 2005-06-09 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト チップ取出し装置、チップ取出しシステム、装着システムおよびウェーハからチップを取り出すための方法

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