JP2019201047A5 - - Google Patents

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Claims (13)

  1. 処理室内の静電チャックに載置された基板の近傍に設けられる内側エッジリングと、
    前記内側エッジリングの外側に設けられ、移動機構により上下に移動が可能な中央エッジリングと、
    前記中央エッジリングの外側に設けられる外側エッジリングとを有するエッジリングのクリーニング方法であって、
    前記静電チャックに直流電圧を印加する工程と、
    前記中央エッジリングを上又は下の少なくともいずれかに移動させる工程と、
    を有するクリーニング方法。
  2. 処理室内の載置台に載置された基板の近傍に設けられる内側エッジリングと、
    前記内側エッジリングの外側に設けられ、移動機構により上下に移動が可能な中央エッジリングと、
    前記中央エッジリングの外側に設けられる外側エッジリングとを有するエッジリングのクリーニング方法であって、
    前記中央エッジリングの下部にクリーニングガスを供給する工程と、
    前記中央エッジリングを上又は下の少なくともいずれかに移動させる工程と、
    を有するクリーニング方法。
  3. 前記内側エッジリングは、前記処理室内の静電チャックに載置された基板の近傍に設けられ、
    前記静電チャックに直流電圧を印加する工程と、
    前記中央エッジリングの下部にクリーニングガスを供給する工程と、
    前記中央エッジリングを上又は下の少なくともいずれかに移動させる工程と、
    を有する請求項1又は2に記載のクリーニング方法。
  4. 前記クリーニングガスは不活性ガスである、
    請求項2又は3のいずれか一項に記載のクリーニング方法。
  5. 前記直流電圧を印加する工程において、前記静電チャックにプラスの電圧とマイナスの電圧とを交互に印加する、
    請求項1に記載のクリーニング方法。
  6. 前記直流電圧を印加する工程において、前記中央エッジリングに付着した付着物の種類によって、印加する前記直流電圧の極性を制御する、
    請求項1又は5に記載のクリーニング方法。
  7. 前記内側エッジリング及び/又は前記外側エッジリングは電極を備え、前記電極に直流電圧を印加する工程をさらに有する、
    請求項1〜6のいずれか一項に記載のクリーニング方法。
  8. 前記内側エッジリング及び/又は前記外側エッジリングは電極を備え、前記基板に対向する位置に設けられるシャワーヘッドと、前記電極とのいずれか1つ以上に直流電圧を印加する工程をさらに有する、
    請求項1〜7のいずれか一項に記載のクリーニング方法。
  9. 前記内側エッジリング及び/又は前記外側エッジリングは上下に移動可能であり、
    前記内側エッジリング及び/又は前記外側エッジリングを上又は下の少なくともいずれかに移動させる工程をさらに有する、
    請求項1〜8のいずれか一項に記載のクリーニング方法。
  10. 前記直流電圧を印加する工程の後、前記直流電圧の印加を開始してから所定時間経過したかを判定する工程をさらに有する、
    請求項1、5及び6のいずれか一項に記載のクリーニング方法。
  11. 前記クリーニングガスをパージする工程をさらに有する、
    請求項2〜4のいずれか一項に記載のクリーニング方法。
  12. 前記クリーニングガスを供給する工程の後、前記クリーニングガスの供給を開始してから所定時間経過したかを判定する工程をさらに有する、
    請求項2〜4及び11のいずれか一項に記載のクリーニング方法。
  13. 処理室内の静電チャックに載置された基板の近傍に設けられる内側エッジリングと、
    前記内側エッジリングの外側に設けられ、移動機構により上下に移動が可能な中央エッジリングと、
    前記中央エッジリングの外側に設けられる外側エッジリングとを有するエッジリングと、
    制御部とを有する基板処理装置であって、
    前記制御部は、
    前記静電チャックに直流電圧を印加する工程と、
    前記中央エッジリングを上又は下の少なくともいずれかに移動させる工程と、
    を制御する、基板処理装置。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018219509A1 (en) * 2017-06-01 2018-12-06 Asml Netherlands B.V. Particle removal apparatus and associated system
JP7370259B2 (ja) * 2020-01-27 2023-10-27 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
CN111341719B (zh) * 2020-03-18 2023-04-14 北京北方华创微电子装备有限公司 承载装置、半导体设备及残余电荷的检测方法
JP7409976B2 (ja) * 2020-06-22 2024-01-09 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理システム、プラズマ処理装置及びエッジリングの交換方法
JP7455012B2 (ja) * 2020-07-07 2024-03-25 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置およびプラズマ処理装置の載置台
KR20220104955A (ko) * 2021-01-19 2022-07-26 에스케이하이닉스 주식회사 중간 전극을 가진 기판 처리 장치
JP2022181831A (ja) 2021-05-27 2022-12-08 東京エレクトロン株式会社 クリーニングを制御する方法及びプラズマ処理装置
CN113430504B (zh) * 2021-08-26 2021-11-09 上海陛通半导体能源科技股份有限公司 一种晶圆便捷升降夹紧的化学气相沉积设备
WO2023120679A1 (ja) * 2021-12-23 2023-06-29 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5507874A (en) * 1994-06-03 1996-04-16 Applied Materials, Inc. Method of cleaning of an electrostatic chuck in plasma reactors
US6475336B1 (en) * 2000-10-06 2002-11-05 Lam Research Corporation Electrostatically clamped edge ring for plasma processing
JP4330467B2 (ja) 2004-02-26 2009-09-16 東京エレクトロン株式会社 プロセス装置及び該プロセス装置内のパーティクル除去方法
JP5317424B2 (ja) * 2007-03-28 2013-10-16 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置
KR20110080811A (ko) * 2010-01-07 2011-07-13 세메스 주식회사 정전척 유닛 및 이를 갖는 기판 처리 장치
JP5719599B2 (ja) * 2011-01-07 2015-05-20 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
JP2012222235A (ja) * 2011-04-12 2012-11-12 Hitachi High-Technologies Corp プラズマ処理装置
JP5976377B2 (ja) * 2012-04-25 2016-08-23 東京エレクトロン株式会社 被処理基体に対する微粒子付着の制御方法、及び、処理装置
US10658222B2 (en) * 2015-01-16 2020-05-19 Lam Research Corporation Moveable edge coupling ring for edge process control during semiconductor wafer processing

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