JP2019069459A - 成形品処理システム - Google Patents

Abstract

【課題】粉体圧縮成形機で成形した成形品に任意の後工程の処理を施すために好適な成形品処理システムを提供する。【解決手段】テーブルに設けられた臼孔内に充填された粉体を上杵と下杵とで圧縮する粉体圧縮成形機において成形された成形品に対して後工程の処理を実施するためのシステムＳであって、複数個の成形品を整列させた状態で搬送する搬送機構Ｂ１、Ｃ１、Ｄ１と、前記搬送機構Ｂ１、Ｃ１、Ｄ１により搬送される成形品の移動経路に臨み、搬送される個々の成形品に対して所定の後工程の処理を実施する処理機構Ｂ２、Ｃ２、Ｃ３、Ｄ２とを具備するモジュールＢ、Ｃ、Ｄを要素とし、上流側のモジュールＢ、Ｃと下流側のモジュールＣ、Ｄとを接続することで、上流側のモジュールＢ、Ｃである処理を実施した後の成形品を下流側のモジュールＣ、Ｄに受け渡して当該モジュールＣ、Ｄにて別の所定の処理を実施できる成形品処理システムＳを構成した。【選択図】図１１

Description

本発明は、粉体圧縮成形機において成形された成形品に対して任意の後工程の処理を実施する成形品処理システムに関する。

回転盤のテーブルに臼孔を設けるとともに、各臼孔の上下に上杵及び下杵をそれぞれ摺動可能に保持させておき、テーブル及び杵をともに水平回転させて、上杵及び下杵の対が上ロール及び下ロールの間を通過するときに臼孔内に充填された粉体を圧縮成形（又は、打錠）する回転式の粉体圧縮成形機が公知である。この種の成形機は、医薬品の錠剤や食品、電子部品等を製造するために利用される。

成形品に対しては、種々の後工程の処理が実施される。例えば、成形品の外面の異常の有無の検査、成形品に付着した粉塵の除去、成形品の体積、重量若しくは含有成分の検査、金属の混入の有無の検査、成形品の外面への印刷若しくは刻印、成形品の包装、等である。近時では、下記特許文献にも開示されているように、後工程の処理を実施するための装置又は機器を粉体圧縮成形機の下流に連結し、成形品の成形から後工程までを一括して実行することが試みられている。

粉体圧縮成形機の臼孔内で成形された成形品は、下杵によりテーブルの上面の高さまで押し上げられる。その後、成形品は、テーブルの上面に臨む位置に設置されたダンパ（又は、スクレーパ）により掻き取られ、下方に傾斜した樋状のシュートに導かれ、シュートを落下して後工程の装置又は機器に送り込まれる。ある処理を実施する装置又は機器と、次の処理を実施する装置又は機器との間も同様に、樋状のシュートを介して接続し、成形品を受け渡しすることが通例である。

このような手法では、当然ながら成形品の高さ位置が徐々に下降してゆくため、途中で成形品を持ち上げるリフト装置を配置する必要が生じる。加えて、成形品がシュートに落とし込まれる際に、成形品がシュートの内壁や底壁に衝突したり成形品同士が衝突したりしてダメージ（割れ、欠け、摩損等）を受ける懸念もある。特に、成形品が硬度の低いＯＤ錠（口腔内崩壊錠。口腔内で唾液又は少量の水で崩壊する錠剤）やチュアブル錠（咀嚼錠。口腔内で噛み砕かれる錠剤）等であると、落下によるダメージの問題が顕在化する。

また、シュートを通じて成形品を流送する過程で、粉体圧縮成形機で成形品が成形された順序が保たれなくなる。そのため、粉体圧縮成形機の特定の臼または杵に、粉体が付着したまま残存して成形品に欠けが生じるスティッキングその他の打錠障害や、杵の杵先が欠損する等の金型異常が起こったときには、正常な成形品と不良な成形品とが区別できずに混交することになり、多数個の成形品をおしなべて廃棄せざるを得なくなる。

特開２０１７−１６４７８６号公報

本発明は、粉体圧縮成形機で成形した成形品に任意の後工程の処理を施すために好適な成形品処理システムを提供しようとするものである。

本発明では、テーブルに上下に貫通した臼孔が設けられ、臼孔の上下に上杵及び下杵が上下摺動可能に保持され、臼孔内に充填された粉体を上杵と下杵とで圧縮して成形品を成形する粉体圧縮成形機において成形された成形品に対して後工程の処理を実施するためのシステムであって、複数個の成形品を前記粉体圧縮成形機において成形された順序を維持したまま整列させた状態で搬送する搬送機構と、前記搬送機構により搬送される成形品の移動経路に臨み、搬送される個々の成形品に対して所定の後工程の処理を実施する処理機構とを具備するモジュールを要素とし、上流側のモジュールと下流側のモジュールとを接続することで、上流側のモジュールである処理を実施した後の成形品を順次下流側のモジュールに受け渡して当該モジュールにて別の所定の処理を実施できるように構成された成形品処理システムを構成した。ここで、粉体とは、微小個体の集合体であり、いわゆる顆粒などの粒体の集合体と、粒体より小なる形状の粉末の集合体とを含む概念である。

このようなものであれば、成形品が前記粉体圧縮成形機において成形された順序を維持したまま整列させた状態で搬送されるので、任意の処理機構を具備するモジュールを加除することで、成形品に対して任意の後工程の処理を実施することができる。

前記各モジュールが封じ込め容器内に収められ、当該封じ込め容器内の雰囲気の外部への漏出を抑制するとともに、当該封じ込め容器内で成形品に対する後工程の処理を実施するものであれば、中途で成形品の系外排出が生じず、粉体を含む雰囲気が外部に漏出しないコンテインメント（封じ込め）環境を実現することができ、特に高薬理活性物質を含有する成形品の生産において有用となる。また、成形品へのコンタミネーション（汚染）も抑制することができる。

前記モジュールが具備する前記搬送機構は、複数個の成形品を整列させた状態で略水平方向に移動させるものであることが好ましい。さすれば、成形品の高さ位置の上下動を極力抑制することができ、成形品が重力により落下する際にダメージを受けるリスクを低減できる。また、成形品を持ち上げるリフト装置が必須ではなくなる。

前記モジュールが具備する前記処理機構の具体例としては、成形品を撮影するカメラを含み成形品の外面の状態を検査する外面検査機構、成形品に付着している粉塵を除去する粉塵除去機構、成形品の体積、重量若しくは含有成分を検査する品質検査機構、成形品への異物の混入の有無を検査する異物探知機構、成形品の外面に印刷若しくは刻印を施す印字機構、成形品を包装する包装機構等を挙げることができる。

前記粉体圧縮成形機が、複数の臼孔、上杵及び下杵の組を具備しており、前記モジュールが具備する前記処理機構が、成形品を撮影するカメラを含み成形品の外面の状態を検査する外面検査機構、成形品の体積、重量若しくは含有成分を検査する品質検査機構、又は成形品への異物の混入の有無を検査する異物探知機構であり、前記処理機構により成形品を検査した結果に係る情報を、当該成形品を成形した臼孔、上杵及び下杵の組を識別する情報と関連づけて制御装置の記憶デバイスに記憶させるものであれば、検査処理により不良が検知された成形品を特定して追跡することができる。粉体圧縮成形機において成形品の不良を生んだ臼及び杵の組を速やかに特定することもできる。

前記モジュールが、前記処理機構による検査を得て不良であると判断された成形品を正常な成形品から選り分けて排除する排除機構を具備していれば、粉体圧縮成形機及び成形品処理システムの稼働を停止することなく不良の成形品のみを排除することができ、成形品の歩留まりもよくなる。

本発明によれば、粉体圧縮成形機で成形した成形品に任意の後工程の処理を施すために好適な成形品処理システムを実現することができる。

本発明の一実施形態の回転式粉体圧縮成形機の側断面図。 同実施形態の回転式粉体圧縮成形機及び搬送機構の要部平面図。 同実施形態の回転式粉体圧縮成形機の円筒図。 同実施形態の回転式粉体圧縮成形機のロール及びロードセルの構成を示す図。 同実施形態の搬送機構の平面図。 同実施形態の搬送機構の要部縦断面図。 同実施形態の搬送機構の要部縦断面図。 同実施形態の搬送機構及び処理機構の要部縦断面図。 同実施形態の搬送機構の要部縦断面図。 同実施形態の搬送機構の要部縦断面図。 同実施形態の搬送機構の要部平面図。 同実施形態の搬送機構の要部縦断面図。 同実施形態の搬送機構及び処理機構の要部縦断面図。 同実施形態の搬送機構及び処理機構の要部縦断面図。 同実施形態の搬送機構の要部縦断面図。 同実施形態の搬送機構及び処理機構の要部縦断面図。 同実施形態の搬送機構及び排除機構の要部縦断面図。

本発明の一実施形態を、図面を参照して説明する。はじめに、本実施形態における回転式粉体圧縮成形機（以下「成形機」という）Ａの全体概要を述べる。図１に示すように、本成形機Ａのフレーム１内には、回転軸となる立シャフト２を設立し、その立シャフト２の上部に接続部を介して回転盤３を取り付けている。

回転盤３は、立シャフト２の軸回りに水平回転、即ち自転する。回転盤３は、テーブル（臼ディスク）３１と、上杵保持部３２と、下杵保持部３３とからなる。図２に示すように、テーブル３１は上下方向から見た平面視において略円板状をなしており、その外周部に回転方向（周方向）に沿って所定間隔で複数の臼孔４を設けてある。臼孔４は、テーブル３１を上下方向に貫通している。テーブル３１は、複数のプレートに分割するものでもよい。また、テーブル３１自体に直接臼孔４を穿ち形成するのではなく、テーブル３１とは別体をなしテーブル３１に対して着脱可能な複数個の臼部材をテーブル３１に装着し、それら臼部材の各々に上下方向に貫通した臼孔を穿っている構成としてもよい。

各臼孔４の上下には、上杵５及び下杵６を配置する。上杵５及び下杵６は、上杵保持部３２及び下杵保持部３３により、それぞれが個別に臼孔４に対して上下方向に摺動可能であるように保持させる。上杵５の杵先５３は、臼孔４に対して出入りする。下杵６の杵先６３は、常時臼孔４に挿入してある。上杵５及び下杵６は、回転盤３及び臼孔４とともに立シャフト２の軸回りに水平回転、即ち公転する。

立シャフト２の下端側には、ウォームホイール７を取り付けている。ウォームホイール７には、ウォームギア１０が噛合する。ウォームギア１０は、モータ８により駆動されるギア軸９に固定している。モータ８が出力する駆動力は、ベルト１１によってギア軸９に伝わり、ウォームギア１０、ウォームホイール７を介して立シャフト２ひいては回転盤３及び杵５、６を回転駆動する。

圧縮成形品Ｐ、例えば医薬品の錠剤等の原材料となる粉体は、フィードシューＸから臼孔４に充填する。フィードシューＸの種類には、攪拌フィードシューとオープンフィードシューがあり、そのうちの何れを採用しても構わない。フィードシューＸへの粉体の供給には、粉体供給装置を使用する。その粉体供給装置に対する粉体の供給は、ホッパ１９から行う。ホッパ１９は、成形機Ａに対して着脱することができる。

図２及び図３に示しているように、杵５、６の立シャフト２の軸回りの公転軌道上には、杵５、６を挟むようにして上下に対をなす予圧上ロール１２及び予圧下ロール１３、本圧上ロール１４及び本圧下ロール１５がある。予圧上ロール１２及び予圧下ロール１３、並びに本圧上ロール１４及び本圧下ロール１５は、臼孔４内に充填された粉体を杵先５３、６３の先端面を以て上下から圧縮するべく、上下両杵５、６を互いに接近させる方向に付勢する。

上杵５、下杵６はそれぞれ、ロール１２、１３、１４、１５によって押圧される頭部５１、６１と、この頭部５１、６１よりも細径な胴部５２、６２とを有する。回転盤３の上杵保持部３２は、上杵５の胴部５２を上下に摺動可能に保持し、下杵保持部３３は、下杵６の胴部６２を上下に摺動可能に保持する。胴部５２、６２の先端部位即ち杵先５３、６３は、臼孔４内に挿入可能であるように、それ以外の部位と比べて一層細く、臼孔４の内径に略等しい直径である。杵５、６の公転により、ロール１２、１３、１４、１５は杵５、６の頭部５１、６１に接近し、頭部５１、６１に乗り上げるようにして接触する。さらに、ロール１２、１３、１４、１５は上杵５を下方に押し下げ、下杵６を上方に押し上げる。ロール１２、１３、１４、１５が杵５、６上の平坦面に接している期間は、杵５、６が臼孔４内の粉体に対して一定の圧力を加え続ける。

本圧上ロール１４及び本圧下ロール１５による加圧位置から、回転盤３及び杵５、６の回転方向に沿って先に進んだ位置に、成形品取出位置１６が存在する。成形品取出位置１６までに、下杵６の杵先６３の上端面が臼孔４の上端即ちテーブル３１の上面と略同じ高さとなるまで下杵６が上昇し、臼孔４内にある成形品Ｐを臼孔４から押し出す。臼孔４から押し出された成形品Ｐは、成形品取出位置１６において成形機Ａに連結した成形品処理システム（以下「処理システム」という）Ｓに移送される。

本実施形態の成形機Ａ及び処理システムＳ（の各モジュールＢ、Ｃ、Ｄ）の制御を司る制御装置０は、プロセッサ、記憶デバイスであるメインメモリ及び補助記憶デバイス（例えば、フラッシュメモリ、ハードディスクドライブ等）、入出力インタフェース等を有したマイクロコンピュータシステム、パーソナルコンピュータ又はワークステーション、あるいはプログラマブルコントローラである。この制御装置０は、予め補助記憶デバイスに格納されているプログラムをメモリを介してプロセッサに読み込み、プロセッサにおいて解読して、成形機Ａ及び処理システムＳの制御を遂行する。

図４に示すように、成形機Ａの上ロール１２、１４には、ロール１２、１３、１４、１５が杵５、６を介して臼孔４内の粉体を圧縮する際の圧力を検出するためのロードセル１００を付設してある。制御装置０は、ロール１２、１３、１４、１５に付帯するロードセル１００が出力する信号を受信し参照することで、予圧ロール１２、１３が臼孔４内の粉体を圧縮する圧力（予圧圧力）の大きさや、本圧ロール１４、１５が臼孔４内の粉体を圧縮する圧力（本圧圧力）の大きさを知得することができる。ロードセル１００からもたらされる信号は、一組の杵５、６が一つの臼孔４の粉体を圧縮する圧力が最大となる時点でピークを迎えるようなパルス信号列の形をとる。そのパルス列の数を計数すれば、成形機Ａにおける単位時間あたりの成形品の製造数量を把握することができる。

圧縮圧力が所定の適正範囲外の大きさとなったときには、今圧縮成形した成形品Ｐが不良であると解釈される。即ち、臼孔４に適正量よりも多量の粉体が充填されると、ロードセル１００により計測される圧縮圧力が所定範囲を超えて大きくなる。逆に、臼孔４に適正量よりも少量の粉体が充填されると、ロードセル１００により計測される圧縮圧力が所定範囲よりも小さくなる。何れにせよ、当該臼孔４内で圧縮成形される成形品の重量、密度及び硬度が所望の値から逸脱することとなり、不良の成形品Ｐとなる可能性が高い。

また、成形機Ａには、回転盤３の回転角度及び回転速度を検出するための角位置センサ（回転角センサ）、例えばロータリエンコーダを設置している。制御装置０は、このロータリエンコーダが出力する信号を受信し参照することで、回転盤３の回転の中心軸回りの周方向に沿って配列されている多数の臼４及び杵５、６の組の各々が現在どの位置にあるかを知得することができる。ロードセル１００の出力信号を参照して成形品Ｐの不良を感知した場合には、その成形品Ｐが収まっている臼孔４の現在位置を認識してこれを追跡できるということになる。制御装置０は、ロードセル１００を介して成形品Ｐを成形する際の圧縮圧力の適否を検査した結果に係る情報（対象の成形品Ｐが正常であるか不良であるかの判定結果）を、その対象の成形品Ｐを成形した臼４及び杵５、６の組を識別する情報、例えば何番目の臼孔４で成形されたのかを示すＩＤ番号に関連づけて、記憶デバイスに記憶保持する。

図２及び図１１に示すように、本実施形態において成形機Ａに付帯する処理システムＳは、成形品Ｐに対する何らかの後工程の処理を実施するためのモジュールＢ、Ｃ、Ｄを複数配列したものであり、各モジュールＢ、Ｃ、Ｄはそれぞれ、複数個の成形品Ｐを成形機Ａにおいて成形された順序を維持したまま整列させた状態で搬送する搬送機構Ｂ１、Ｃ１、Ｄ１と、搬送機構Ｂ１、Ｃ１、Ｄ１により搬送される成形品Ｐの移動経路に臨み、搬送される個々の成形品Ｐに対して所定の処理を実施する処理機構Ｂ２、Ｂ３、Ｃ２、Ｃ３、Ｄ２とを具備している。

搬送機構Ｂ１、Ｃ１、Ｄ１は、互いに同期して水平回転する回転体１７、２４、２７を有し、その回転体１７、２４、２７の外周縁に沿って、即ち回転体１７、２４、２７の回転の中心軸回りの周方向に沿って、所定の間隔を隔てて間欠的に係合部１７１、２４２、２７２が設けられたものである。係合部１７１、２４２、２７２は、それぞれが一個の成形品Ｐと係合し、その成形品Ｐを回転体１７、２４、２７に対し相対的に変位しないよう保定する。係合部１７１、２４２、２７２に係合した成形品Ｐは、回転体１７、２４、２７の回転に伴い、水平回転の軌跡に沿って移動する。特に、成形機Ａの下流に直結するモジュールＢの搬送機構Ｂ１は、成形機Ａにおいて成形品Ｐを成形した順番を維持したままで成形機Ａから成形品Ｐを順次取り出す取出装置としての役割を担っている。よって、まず、このモジュールＢの搬送機構Ｂ１に関して詳記する。

搬送機構Ｂ１は、成形機Ａにおいて成形した成形品Ｐを成形品取出位置１６にて取り出し、成形品Ｐに対して次の工程を実施する処理機構Ｂ２、Ｂ３に向けて搬送する。図５ないし図８に示すように、搬送機構Ｂ１は、成形機Ａのテーブル３１と同期して水平回転する回転体１７と、回転体１７の直下にあって回転体１７と対向する保持体１８と、回転体１７の外周部における保持体１８と対向する下面から保持体１８に向かって下方に突出する複数の突起１７１と、回転体１７の外周部に近接し突起１７１と突起１７１との間の空隙を外側方から閉鎖する外側のガイド２０と、回転体１７の外周部よりも内方にあって突起１７１と突起１７１との間の空隙を内側方から閉鎖する内側のガイド２１とを主たる構成要素とする。

回転体１７は、上下方向から見た平面視において略円板状をなしている。この回転体１７に設けた複数の突起１７１は、回転体１７の外周縁に沿って、即ち回転体１７の回転の中心軸回りの周方向に沿って、所定の間隔を隔てて間欠的に配置されている。これらの突起１７１は、回転体１７と一体となって回転することは言うまでもない。成形機Ａが成形した成形品Ｐは、回転体１７の突起１７１に捕捉され、突起１７１と突起１７１との間の空隙に収容された状態で移送される。つまり、突起１７１、又は突起１７１間の空隙が、搬送機構Ｂ１における成形品Ｐが係合する係合部として機能する。

周方向に沿って隣り合う突起１７１と突起１７１との間の空隙の大きさＷは、成形機Ａが成形する成形品Ｐの最も長い外寸よりも大きい。ここに言う最も長い外寸とは、平面視において成形品Ｐの外縁（輪郭）上のある点から当該成形品Ｐの重心又は幾何中心に向かって伸び、同重心又は幾何中心を通過して成形品Ｐの外縁上の別の点に到達する線分の長さのうち、最も大きいものを指す。成形品Ｐが平面視楕円形状をなす場合には、その長軸又は長径が最も長い外寸に該当する。

図６に示すように、回転体１７の下面と、保持体１８の上面とは、上下方向に沿って所定距離を隔てて対向している。回転体１７の下面は、成形機Ａのテーブル３１の上面よりも高位置にある。その上で、回転体１７の外周部の一部が、成形機Ａのテーブル３１に上方から重なる。回転体１７の下面から突出する突起１７１の先端は、保持体１８の上面及びテーブル３１の上面に極近接する。テーブル３１及び回転体１７の同期回転に伴い、各臼孔４と、各突起１７１間の空隙とは、成形品取出位置１６において一時的に重なり合う。

回転体１７と異なり、保持体１８は回転せず、回転体１７の外周部に下方から重なるように配置される。保持体１８は、成形機Ａのテーブル３１に隣接し、その上面がテーブル３１の上面と略等しい高さにある。回転体１７の突起１７１間の空隙内に捕捉された成形品は、突起１７１とともに水平回転しながら、この保持体１８の上面を摺動又は滑走する。つまり、保持体１８は、移送される成形品を下方から支持する。テーブル３１との干渉を避けるべく、保持体１８における、テーブル３１と回転体１７とが平面視重なり合う成形品取出位置１６に対応する部位は、テーブル３１の外周縁に沿って円弧状に切り欠いてある。保持体１８の当該部位の端縁は、テーブル３１の外周縁に極近接しており、成形品Ｐが成形機Ａのテーブル３１の上面から搬送機構Ｂ１の保持体１８の上面に円滑に移乗することができる。

回転体１７の下面と保持体１８の上面との離間距離Ｈは、成形機Ａが成形する成形品Ｐの上下方向に沿った厚みと同程度又はこれよりも大きく、なおかつ成形品Ｐの最も短い外寸よりも小さく設定する。ここに言う最も短い外寸とは、平面視において成形品Ｐの外縁上のある点から当該成形品Ｐの重心又は幾何中心に向かって伸び、同重心又は幾何中心を通過して成形品Ｐの外縁上の別の点に到達する線分の長さのうち、最も小さいものを指す。成形品Ｐが平面視楕円形状をなす場合には、その短軸又は短径が最も短い外寸に該当する。成形品Ｐの厚みは、成形機Ａにおいて臼孔４内に充填された粉体の圧縮が完了するときの上杵５の杵先５３と下杵６の杵先６３との上下方向に沿った距離に略等しい。

外側のガイド２０は、回転体１７の外周縁に隣接し、平面視回転体１７を取り巻く略円弧状をなすように拡張している。このガイド２０は、回転体１７の径方向に沿った外側方に開口している突起１７１間の空隙を外側方より閉塞し、成形品が遠心力により空隙から外側方に飛び出すことを抑止する。外側のガイド２０の始端部２０１は、成形機Ａのテーブル３１に向かって突き出し、テーブル３１に上方から重なるようにして臼孔４の水平回転の軌跡の直上に位置しており、成形機Ａのテーブル３１の上面まで押し出された成形品を掻き取るダンパ（又は、スクレーパ）としての役割を担う。

また、内側のガイド２１は、回転体１７の突起１７１の径方向に沿った内側方の端縁に隣接し、回転体１７の外周部の内側で平面視略円弧状をなすように拡張している。このガイド２１は、回転体１７の径方向に沿った内側方に開口している空隙を内側方より閉塞し、成形品が意図せず内側方に変位することを抑止する。内側のガイド２１は、保持体１８に対して固定され、または保持体１８と一体化していることがある。なお、回転体１７における、内側のガイド２１の上面が面する部位の下面は、回転体１７の外周部の空隙に面する（即ち、突起１７１を設けていない箇所の）下面よりも若干上方に凹んでいる。そして、内側のガイド２１の上面は、後述する粉塵除去機構Ｂ２が設けられている区域を除き、回転体１７の外周部の空隙に面する下面よりも若干ながら高い位置にある。これにより、成形品Ｐが回転体１７の下面と内側のガイド２１の上面との間隙に入り込むことを防止する。

既に述べた通り、成形品取出位置１６までに、成形機Ａの下杵６が上昇して成形品Ｐを臼孔４から押し出す。押し出された成形品Ｐは、成形品取出位置１６においてテーブル３１の回転に伴って外側のガイド２０に当接し、外側のガイド２０に沿って移動して、テーブル３１上から保持体１８上へと遷移する。このとき、成形品Ｐは、回転体１７から下方に突出している突起１７１により捕捉され、回転体１７と保持体１８との間の領域における、突起１７１と突起１７１との間の空隙に入り込む。成形品Ｐは、一つ一つの空隙に一個ずつ収まる。これにより、成形機Ａのテーブル３１の臼孔４が並ぶ順番に、換言すれば成形機Ａにおいて成形品Ｐを圧縮成形した順番を崩さずに、各空隙に一個ずつ成形品Ｐを順番に並べて収容することができる。しかも、成形機Ａのテーブル３１からモジュールＢの搬送機構Ｂ１の回転体１７への成形品Ｐの受け渡しの過程で、成形品Ｐの上面と下面とが裏返ることがない。

突起１７１間の空隙内に捕捉された成形品Ｐは、回転体１７の回転方向に沿って後方にある突起１７１と当接し、この突起１７１に押されながら、突起１７１の回転の軌跡に沿って、保持体１８上を摺動又は滑走しつつ移送される。各成形品Ｐは、各空隙内において、突起１７１に対する相対位置が略一定となる。成形品Ｐは、回転体１７の回転により遠心力の作用を受け、空隙内で回転体１７の径方向に沿った内側方から外側方へと変位する。だが、その成形品Ｐは、外側のガイド２０の内側方の縁辺に当接してそれ以上の変位が阻まれ、空隙から外側方に飛び出すことはない。また、空隙の上方は回転体１７により閉塞されているので、空隙内に捕捉した成形品Ｐが不意に跳ねて空隙から脱出してしまうこともない。

回転体１７には、突起１７１間の空隙を外部に連通せしめる連通孔１７２が穿たれている。連通孔１７２は、各空隙よりも回転体１７の径方向に沿って内側方に所在し、回転体１７を上下方向に沿って貫通し、回転体１７の周方向に沿って拡張した長孔である。連通孔１７２の数は、空隙の数と同数である。

回転体１７の外周部における一部の区域には、モジュールＢにおける処理機構の一つとして、粉塵除去機構Ｂ２を付設している。粉塵除去機構Ｂ２は、連通孔１７２、突起１７１間の空隙、及び回転体１７と外側のガイド２０との境界部位に上方から覆い被さり、回転体１７の周方向に沿って拡張している。図８に示すように、粉塵除去機構Ｂ２は、連通孔１７２の直上に位置して連通孔１７２に向けて下方に圧縮空気Ｋを噴出させる噴出ノズル２２１と、回転体１７と外側のガイド２０との境界部位の直上に位置して上方に空気Ｋを吸引する集塵ダクト２２２とを具備している。圧縮空気Ｋは、予め除電器によりイオン化されていてもよく、またパルス状に噴出させてもよい。

噴出ノズル２２１から供給される圧縮空気Ｋは、回転体１７の下面と内側のガイド２１の上面との間隙を通じて突起１７１間の空隙内に至り、この空隙に収容されている成形品Ｐの外面に吹き付けられて、成形品Ｐの外面に付着している粉塵を成形品Ｐから吹き飛ばして除去する。成形品Ｐに吹き当たった後の粉塵を含む空気Ｋは、回転体１７と外側のガイド２０との間隙から上方に漏出し、集塵ダクト２２２に吸引される。

また、図８に示しているように、回転体１７の外周部における所定の区域に、モジュールＢにおける処理機構の一つとして、カメラを含む外面検査機構Ｂ３を付設することもできる。外面検査機構Ｂ３のカメラは、突起１７１間の空隙内に捕捉されて移送される各成形品Ｐの所定の面、例えば下面を撮影し、その画像を取得する。得られた画像は、成形品Ｐの外面の状態の検査に使用することができる。即ち、撮影した画像を解析し、又は正常な成形品Ｐの画像と比較する等して、成形品Ｐの外面の状態が正常であるか不良であるかを判定することができる。

回転体１７の突起１７１に捕捉された成形品Ｐは、その移送の終端位置２３まで移送される。保持体１８における、終端位置２３に対応する部位は切り欠いてある。終端位置２３では、回転体１７の外周部と保持体１８とが平面視重なり合わない。従って、終端位置２３に到達した成形品Ｐは、保持体１８による下方からの支持を失い、突起１７１間の空隙から脱落して、モジュールＢの下流に直結するモジュールＣの搬送機構Ｃ１に順番を崩さずに受け渡される。

本実施形態では、テーブル３１に上下に貫通した臼孔４が設けられ、臼孔４の上下に上杵５及び下杵６が上下摺動可能に保持され、臼孔４内に充填された粉体を上杵５と下杵６とで圧縮して成形品Ｐを成形する成形機Ａに付帯し、この成形機Ａから取り出される成形品Ｐを移送するための装置Ｂであって、水平回転可能な回転体１７と、前記回転体１７と所定距離を隔てて対向する保持体１８と、前記回転体１７の外周部における前記保持体１８と対向する面から保持体１８に向かって突出するとともに、回転体１７の回転中心軸回りの周方向に沿って成形品の外寸よりも大きな間隔Ｗで配列され、各々が成形品を捕捉する複数個の突起１７１と、前記回転体１７の外周部に近接し前記突起１７１間の空隙を外側方から閉鎖するガイド２０とを具備する搬送機構Ｂ１を構成した。

成形機Ａにて成形される成形品Ｐは、回転体１７から突出する突起１７１により捕捉される。そして、互いに対向する回転体１７と保持体１８との間の領域における、突起１７１と突起１７１との間の空隙に収容されて、突起１７１の回転の軌跡に沿って移送される。本実施形態によれば、寸法や形状の相異なる成形品Ｐに対し、同じ回転体１７を使用してその取り出し及び移送を実行することができる。

そして、前記成形機Ａが、前記テーブル３１、前記上杵５及び前記下杵６がともに水平回転しながら成形品を成形する回転式のものであり、前記外側のガイド２０の始端部が、前記テーブル３１に上方から重なるように配置されて前記臼孔４の水平回転の軌跡の直上に位置し、前記下杵６によりテーブル３１の上面まで押し上げられた成形品Ｐを掻き取って前記突起１７１間の空隙へと導くため、成形機Ａにおいて順次成形される成形品Ｐを一つずつ、順番に空隙に収容して移送することができる。

前記回転体１７と前記保持体１８との離間距離Ｈを、成形品Ｐの厚みと同程度又はこれよりも大きく、かつ成形品Ｐの外寸よりも小さく設定していることから、移送している成形品Ｐが移送の最中に裏返ったり転がったりすることを防止することができる。

加えて、前記回転体１７の前記突起１７１間の空隙を内側方から閉鎖するガイド２１を具備しているため、成形品Ｐが意図せず回転体１７の径方向に沿った内側方に変位することを抑制することができる。

前記回転体１７に、前記突起１７１間の空隙を外部に連通せしめ、空隙内に侵入した粉塵又は空隙内に捕捉された成形品Ｐに付着している粉塵を吹き飛ばす気流Ｋを導入するための連通孔１７２が穿たれているため、成形品Ｐを移送する過程で成形品Ｐに付着している粉塵を除去することができる。

また、前記突起１７１の水平回転の軌跡に臨む位置に設けられ、突起１７１間の空隙内に捕捉された成形品Ｐを撮影するカメラＢ３を具備しているため、搬送機構Ｂ１において成形品Ｐの外面の検査を実行することが可能となる。

成形機Ａで成形した成形品Ｐを傾斜した樋状のシュートに落とし込んで容器等に回収するようなものでは、成形品Ｐの順序も上下も維持することができず、多数個の成形品Ｐの混交が避けられない。だが、本実施形態の搬送機構Ｂ１を用いれば、成形機Ａから取り出される複数個の成形品Ｐを一個ずつ、成形機Ａにおいて臼孔４が並ぶ順に、即ち成形品Ｐを成形した順に取り出し、その順序を崩すことなく空隙に整列させて収容することができる。そして、成形機Ａにおける成形品Ｐの製造の順序を維持したまま、搬送機構Ｂ１により成形品Ｐを回収位置１６から終端位置２３まで移送することができる。しかも、その移送の過程で成形品Ｐの上面と下面とが裏返ることがない。

搬送機構Ｂ１は、成形品Ｐを成形機Ａのテーブル３１の上面と略同じ高さのままで水平方向に搬送することができる。シュートでは当然ながら成形品Ｐが落下するので、成形品Ｐに対して次の工程を実施する装置又は機器に受け渡すために、成形品Ｐを再び高位値に持ち上げる必要が生じるが、本実施形態の搬送機構Ｂ１によればそのような必要性から解放される。加えて、落下する成形品Ｐがシュートや容器等の内壁、又は既に容器等に貯留している成形品Ｐに衝突してダメージを受けるおそれも回避することができる。

成形品を収容する突起１７１間の空隙の寸法が大きいので、成形機Ａのテーブルから搬送機構Ｂ１の回転体１７への成形品Ｐの受け渡しの位置精度が厳しくならない。つまり、搬送機構Ｂ１を据え付ける際の成形機Ａに対する位置の精度が顕著に高くなくとも、適正に成形品Ｐの取り出し及び移送を実行することができる。

成形機Ａの側で回転盤３に組み付けられる臼４及び上下の杵５、６の対の数が変更されたときには、それに合わせて回転体１７を（突起１７１及び空隙の数が臼４及び杵５、６の数に対応しているものに）を交換したり、成形機Ａの回転盤３の回転速度に対する搬送機構Ｂ１の回転体１７の相対的な回転速度を調整したりすることで対処することができる。

成形機Ａの回転盤３の回転と搬送機構Ｂ１の回転体１７の回転とを同期させるためには、例えば、回転体１７を回転させるモータをサーボモータまたはステッピングモータとし、かつロータリエンコーダ等の角位置センサを用いて回転盤３の回転角度及び回転速度を検出して、回転盤３の回転と回転体１７の回転とが同期するように回転体１７を回転させるモータの回転速度をフィードバック制御する。あるいは、回転盤３と回転体１７とを、歯車伝動機構や巻掛伝動機構等を介して機械的に接続して連動させるようにしてもよい。これにより、様々な種類、仕様、諸元の成形機Ａに対して、本実施形態の搬送機構Ｂ１を適用することができる。

成形機Ａのテーブル３１とモジュールＢの搬送機構Ｂ１の回転体１７とは、同期して回転する。制御装置０は、成形機Ａの回転盤３又は搬送機構Ｂ１の回転体１７に付随する角位置センサが出力する信号を参照することで、回転体１７の回転の中心軸回りの周方向に沿って配列されている突起１７１間の空隙の各々が現在どの位置にあるのかを知得することができる。さらに言えば、成形機Ａのテーブル３１における何番目の臼孔４内で圧縮成形された成形品Ｐが、現在モジュールＢ内のどの位置にあるのかを知得することができる。これは、今外面検査機構Ｂ３のカメラの前を通過した、即ち外面検査を行った成形品Ｐが、何番目の臼孔４内で成形されたものであるのかが分かるということを意味する。制御装置０は、外面検査機構Ｂ３を介して成形品Ｐの外面検査を行った結果に係る情報（対象の成形品Ｐの外面の状態が正常であるか不良であるかの判定結果）を、その対象の成形品Ｐが何番目の臼孔４で成形されたのかを示すＩＤ番号に関連づけて、記憶デバイスに記憶保持する。

いわゆるコンテインメント機では、成形品Ｐを随時取り出してその様子を観察することは困難であるが、搬送機構Ｂ１をコンテインメント機内に配置することで、成形品Ｐを系外排出せずとも、その搬送経路上の所定位置に設置したカメラＢ３で撮影することができる。従って、成形機Ａによる成形品Ｐの製造及び搬送機構Ｂ１による成形品Ｐの移送を停止させることなく、成形品の外面を検査することができる。外面検査機構を組み込むことで、コンテインメント機においても製造過程で成形品を（成形品による打錠を止めずに、製造を続行しながら）観察することができる。

移送の過程で成形品Ｐの順序が入れ替わらない、即ち各空隙内に捕捉されている成形品Ｐと、これを成形した臼４及び杵５、６の組とを紐付けできるので、粉体が臼４や杵５、６に付着したまま残り成形品に欠けが生じるスティッキングその他の打錠障害や、杵５、６の杵先５３、６３が欠損する等の金型異常が起こったことを成形品Ｐの外面検査を通じて検出したときに、問題のある臼４又は杵５、６を速やかに特定することができる。また、不良な成形品Ｐのみを廃棄し、正常な成形品Ｐを廃棄せずに済み、歩留まりがよくなる。

突起１７１間の空隙に収容された成形品Ｐは、回転体１７の回転方向に沿って後ろ側の突起１７１に押されながら搬送される。そして、各空隙内における成形品Ｐの、突起１７１及び空隙に対する相対的な位置が一定化する。このことは、成形品ＰをカメラＢ３で撮影して外面検査をする処理や、特定の空隙に収められた成形品Ｐに圧縮空気を噴射してこれを排除又は抽出する処理等のために有効である。

本実施形態の搬送機構Ｂ１によれば、次の工程を実施する装置又は装置において成形品Ｐを整列させる手間を省略することができる。成形品Ｐを整列させるための機構が不要となるので、その分だけ装置全体の寸法をコンパクト化することができる。

移送の過程で成形品Ｐの上面と下面とが裏返らないので、後続の装置又は機器、例えば成形品Ｐに対して印刷を行う印刷装置に搬入する前段階で、個々の成形品Ｐの表裏を判別したり、表裏を揃えたりする必要がなくなる。また、後続の装置又は機器において成形品Ｐを吸着して搬送するような場合においても、各成形品Ｐの表裏が揃っていることでその吸着が容易となる。成形品Ｐの中には、一方の面に大きな割線や刻印が形成されており、その面を吸引して成形品Ｐを吸着することが難しい場合がある。このような状況下において、搬送されてくる各成形品Ｐの表裏が揃っていないと、成形品Ｐの吸着が困難となるが、本実施形態の搬送機構Ｂ１によればそのような懸念を払拭することができる。

加えて、搬送機構Ｂ１による搬送中に吸塵を実行することで、個々の成形品Ｐに確実に吸引の気流Ｋを当て、効果的に粉塵を除去することができる。

なお、図９に示すように、突起１７１間の空隙を外部に連通せしめる粉塵除去用の連通孔１７２を保持体１８に形成し、この連通孔１７２を介して突起１７１間の空隙内の空気Ｋを吸引し、又は空隙内に圧縮空気Ｋを送り込む粉塵除去機構Ｂ２を設置することで、空隙内に侵入した粉塵又は空隙内に捕捉された成形品Ｐに付着している粉塵を吹き飛ばすことも考えられる。

また、図１０に示すように、突起１７１間の空隙内の空気Ｋを吸引して負圧を発生させ、空隙内に収容した成形品Ｐを回転体１７に吸着させるようにすれば、成形品Ｐが保持体１８の上面から浮上し、成形品Ｐの移送の過程で成形品Ｐが保持体１８上を摺動又は滑走する距離や期間を短縮することができる。これにより、成形品Ｐが摩耗しにくくなる。のみならず、成形品Ｐを構成している粉体の粒子が固い場合には、成形品Ｐと保持体１８との摺動により保持体１８が摩耗して粉塵が発生し成形品Ｐを汚損する可能性を完全には否定できないが、成形品Ｐを回転体１７に吸着させることでそのような汚損の懸念を払拭することができる。

モジュールＢに後続するモジュールＣの搬送機構Ｃ１は、モジュールＢの搬送機構Ｂ１による成形品Ｐの搬送の終端位置２３にて成形品Ｐを受け取り、成形品Ｐに対して次の工程を実施する処理機構Ｃ２、Ｃ３に向けて搬送する。図１１及び図１２に示すように、搬送機構Ｃ１は、搬送装置Ｂ１の回転体１７と同期して水平回転する回転体２４を主たる構成要素とする。

回転体２４は、上下方向から見た平面視おいて略円板状をなすとともに、その外周縁に沿って、当該回転体２４の径方向に沿って外側方に張り出したフランジ２４１を有している。このフランジ２４１は、大きさの異なる二枚の円板体を（外径がより小さい円板体を外径がより大きい円板体の上に）重ね合わせ両者を剛結することによって形成することができる。その上で、フランジ２４１の上面に、若しくはフランジ２４１の上面から起立する回転体２４の円筒状の外周面に、又はフランジ２４１の上面及び回転体２４の外周面に跨って、複数の凹穴２４２を形成している。凹穴２４２は、回転体２４の外周縁に沿って、即ち回転体２４の回転の中心軸回りの周方向に沿って、所定の間隔を隔てて間欠的に配置されている。これらの凹穴２４２は、回転体２４と一体となって回転することは言うまでもない。モジュールＢの搬送機構Ｂ１から受け渡される成形品Ｐは、回転体２４の凹穴２４２に係合し、凹穴２４２に捕捉された状態で移送される。つまり、凹穴２４２が、搬送機構Ｃ１における成形品Ｐが係合する係合部として機能する。

図１２に示すように、搬送機構Ｃ１の回転体２４の外周部のフランジ２４１の上面は、モジュールＢの搬送機構Ｂ１の回転体１７の下面よりも低位置にあり、保持体１８の上面と略等しい高さ位置にある。その上で、回転体２４のフランジ２４１の一部が、回転体１７に下方から重なる。回転体１７の下面から突出する突起１７１の先端は、保持体１８の上面及びフランジ２４１の上面に極接近する。回転体１７及び回転体２４の同期回転に伴い、各突起１７１間の空隙と、凹穴２４２とは、終端位置２３において一時的に重なり合う。

回転体２４のフランジ２４１との干渉を避けるべく、保持体１８における、フランジ２４１と回転体１７とが平面視重なり合う終端位置２３に対応する部位は、フランジ２４１の外周縁に沿って円弧状に切り欠いてある。保持体１８の当該部位の端縁は、フランジ２４１の外周縁に極近接しており、成形品Ｐが搬送機構Ｂ１の保持体１８の上面から搬送機構Ｃ１の回転体２４のフランジ２４１の上面に円滑に移乗することができる。

終端位置２３では、回転体１７の突起１７１間の空隙内に収まり、突起１７１に押されながら移送されている成形品Ｐが、回転体１７の回転に伴って、保持体１８上から回転体２４のフランジ２４１上へと遷移する。このとき、成形品Ｐは、回転体２４に形成されている凹穴２４２に捕捉され、凹穴２４２に入り込むようにして係合する。成形品Ｐは、一つ一つの凹穴２４２に一個ずつ収容される。これにより、搬送機構Ｂ１の回転体１７の突起１７１間の空隙が並ぶ順番に、換言すれば成形機Ａにおいて成形品Ｐを圧縮成形した順番を崩さずに、各凹穴２４２に一個ずつ成形品Ｐを順番に係合させることができる。搬送機構Ｂ１の回転体１７から搬送機構Ｃ１の回転体２４への成形品Ｐの受け渡しの過程で、成形品Ｐの上面と下面とが裏返ることはない。

凹穴２４２に捕捉された成形品Ｐは、回転体２４の回転に伴い、凹穴２４２の回転の軌跡に沿って移送される。各成形品Ｐは、各凹穴２４２内において、回転体２４及び凹穴２４２に対する相対位置が略一定となる。成形品Ｐは、回転体２４の回転により遠心力の作用を受けるが、凹穴２４２に係合してその変位が阻まれ、外側方に飛び出さない。また、成形品Ｐの移送の過程で、成形品Ｐの上面と下面とが裏返らない。

なお、凹穴２４２内の空気を吸引して負圧を発生させて、成形品Ｐを回転体２４に吸着させるようにしても構わない。

図１１及び図１３に示すように、回転体２４の外周部に面する所定の区域には、モジュールＣにおける処理機構の一つとして、異物探知機構Ｃ２を付設している。異物探知機構Ｃ２は、搬送機構Ｃ１が搬送する成形品Ｐの移動の軌跡と平面視重なり合う位置に設置した光源２５１及び分光分析用の受光センサ２５２を要素とする。光源２５１及びセンサ２５２は、成形品Ｐを挟んで上下に対向するように配置され、光源２５１から放たれた光のうち成形品Ｐを透過した透過光をセンサ２５２に入射させ、その透過光を分析することで、成形品Ｐに異物が混入していないかどうかを検査する。

成形品Ｐを捕捉する凹穴２４２は、回転体２４のフランジ２４２を上下に貫通しており、光源２５１とセンサ２５２とのうちの一方がフランジ２４２の直上に、他方がフランジ２４２の直下に位置している。このため、異物探知機構Ｃ２において、成形品Ｐを透過した信号光以外の迷光が回転体２４及びフランジ２４２によって遮蔽され、センサ２５２に入射することが抑制される。

また、図１１及び図１４に示しているように、回転体２４の外周部における所定の区域に、モジュールＣにおける処理機構の一つとして、カメラを含む外面検査機構Ｃ３を付設することもできる。外面検査機構Ｃ３のカメラは、凹穴２４２に捕捉されて移送される各成形品Ｐの所定の面、例えば上面を撮影し、その画像を取得する。取得した画像は、成形品Ｐの外面の状態の検査に使用することができる。即ち、撮影した画像を解析し、又は正常な成形品Ｐの画像と比較する等して、成形品Ｐの外面の状態が正常であるか不良であるかを判定することができる。

外観検査機構Ｃ３のカメラは、成形品Ｐの上面を撮影するに限らず、成形品Ｐの下面をも撮影するようにしてもよい。成形品Ｐの上面／下面を撮影した画像を解析し、成形品Ｐの幅、長さ、直径、面積等を測定することもできる。また、成形品Ｐの側面を撮影し、その状態が正常であるか不良であるかを判定することもできる。成形品Ｐの側面を撮影した画像を解析し、成形品Ｐの高さ（厚さ）を測定することもできる。あるいは、外観検査機構Ｃ３に光切断法による３次元測定装置を採用すれば、成形品Ｐの３次元データを取得することができ、取得したデータを解析し、成形品Ｐの外面の状態が正常であるか不良であるかを判定することができる。外観検査機構Ｃ３における処理は、これらのうち何れかひとつを採用するに限らず、複数の処理を併合するようにしてもよい。

成形機Ａのテーブル３１、モジュールＢの搬送機構Ｂ１の回転体１７、モジュールＣの搬送機構Ｃ１の回転体２４は、互いに同期して回転する。制御装置０は、成形機Ａの回転盤３、搬送機構Ｂ１の回転体１７又は搬送機構Ｃ１の回転体２４に付随する角位置センサ（ロータリーエンコーダ等）が出力する信号を参照することで、回転体２４の回転の中心軸回りの周方向に沿って配列されている凹穴２４２の各々が現在どの位置にあるのかを知得することができる。さらに言えば、成形機Ａのテーブル３１における何番目の臼孔４内で圧縮成形された成形品Ｐが、現在モジュールＣ内のどの位置にあるのかを知得することができる。これは、今異物探知機構Ｃ２の受光センサ２５２又は外面検査機構Ｃ３のカメラの前を通過した、即ち異物検査又は外面検査を行った成形品Ｐが、何番目の臼孔４内で成形されたものであるのかが分かるということを意味する。制御装置０は、異物検査機構Ｃ２又は外面検査機構Ｃ３を介して成形品Ｐの外面検査を行った結果に係る情報（対象の成形品Ｐに異物が混入していないかどうか、対象の成形品Ｐの外面の状態が正常であるか不良であるかの判定結果）を、その対象の成形品Ｐが何番目の臼孔４で成形されたのかを示すＩＤ番号に関連づけて、記憶デバイスに記憶保持する。

凹穴２４２に係合する成形品Ｐは、回転体２４の回転方向に沿って搬送されながらも、回転体２４及び凹穴２４２に対する相対的な位置が一定化する。このことは、成形品Ｐに光を照射してその透過光を分析する処理や、成形品ＰをカメラＣ３で撮影して外面検査をする処理等のために有効である。

回転体２４の凹穴２４２に捕捉された成形品Ｐは、その移送の終端位置２６まで移送される。終端位置２６に到達した成形品Ｐは、モジュールＣの搬送機構Ｃ１から、当該モジュールＣの下流に直結するモジュールＤの搬送機構Ｄ１に受け渡される。

モジュールＣに後続するモジュールＤの搬送機構Ｄ１は、モジュールＣの搬送機構Ｃ１による成形品Ｐの搬送の終端位置２６にて成形品Ｐを受け取り、成形品Ｐに対して次の工程を実施する処理機構Ｄ２に向けて搬送する。図１１及び図１５に示すように、搬送機構Ｄ１は、搬送装置Ｃ１の回転体２４と同期して水平回転する回転体２７を主たる構成要素とする。

回転体２７は、上下方向から見た平面視おいて略円板状をなすとともに、その外周縁に沿って、当該回転体２７の径方向に沿って外側方に張り出したフランジ２７１を有している。このフランジ２７１は、大きさの異なる二枚の円板体を（外径がより大きい円板体を外径がより小さい円板体の上に）重ね合わせ両者を剛結することによって形成することができる。その上で、フランジ２７１の下面に、若しくはフランジ２７１の下面から垂下する回転体２７の円筒状の外周面に、又はフランジ２７１の下面及び回転体２７の外周面に跨って、複数の凹穴２７２を形成している。凹穴２７２は、回転体２７の外周縁に沿って、即ち回転体２７の回転の中心軸回りの周方向に沿って、所定の間隔を隔てて間欠的に配置されている。これらの凹穴２７２は、回転体２７と一体となって回転することは言うまでもない。モジュールＣの搬送機構Ｃ１から受け渡される成形品Ｐは、回転体２７の凹穴２７２に係合し、凹穴２７２に捕捉された状態で移送される。つまり、凹穴２７２が、搬送機構Ｄ１における成形品Ｐが係合する係合部として機能する。

図１５に示すように、搬送機構Ｄ１の回転体２７の外周部のフランジ２７１の下面は、モジュールＣの搬送機構Ｃ１の回転体２４の外周部のフランジ２４１の上面よりも高位置にある。その上で、回転体２７のフランジ２７１の一部が、回転体１４のフランジ２４１に上方から重なる。回転体２４及び回転体２７の同期回転に伴い、凹穴２４２と凹穴２７２とは、終端位置２６において一時的に重なり合う。

終端位置２６では、回転体２４の凹穴２４２に係合して移送されている成形品Ｐが、回転体２４の回転に伴って、フランジ２４１上から回転体２７のフランジ２７１の直下へと遷移する。このときに、成形品Ｐが、回転体２７に形成された凹穴２７２に捕捉されて、凹穴２７２に入り込むようにして係合する。成形品Ｐは、一つ一つの凹穴２７２に一個ずつ収容される。これにより、搬送機構Ｃ１の回転体２４の凹穴２４２が並ぶ順番に、換言すれば成形機Ａにおいて成形品Ｐを圧縮成形した順番を崩さずに、各凹穴２７２に一個ずつ成形品Ｐを順番に係合させることができる。搬送機構Ｃ１の回転体２４から搬送機構Ｄ１の回転体２７への成形品Ｐの受け渡しの過程で、成形品Ｐの上面と下面とが裏返ることはない。

凹穴２７２に捕捉された成形品Ｐは、回転体２７のフランジ２７１の下面側に保持される。そして、回転体２７の回転に伴い、凹穴２７２の回転の軌跡に沿って移送される。各成形品Ｐは、各凹穴２７２内において、回転体２７及び凹穴２７２に対する相対位置が略一定となる。成形品Ｐは、回転体２７の回転により遠心力の作用を受けるが、凹穴２７２に係合してその変位が阻まれ、外側方に飛び出さない。また、成形品Ｐの移送の過程で、成形品Ｐの上面と下面とが裏返らない。

なお、凹穴２７２内の空気を吸引して負圧を発生させて、成形品Ｐを回転体２７に吸着させるようにしても構わない。

図１１及び図１６に示すように、回転体２７の外周部に面する所定の区域には、モジュールＤにおける処理機構の一つとして、カメラを含む外面検査機構Ｄ２を付設している。外面検査機構Ｄ３のカメラは、凹穴２７２に捕捉されて移送される各成形品Ｐの所定の面、例えば下面を撮影し、その画像を取得する。得られた画像は、成形品Ｐの外面の状態の検査に用いることができる。即ち、撮影した画像を解析し、又は正常な成形品Ｐの画像と比較する等して、成形品Ｐの外面の状態が正常であるか不良であるかを判定することができる。

成形機Ａのテーブル３１、モジュールＢの搬送機構Ｂ１の回転体１７、モジュールＣの搬送機構Ｃ１の回転体２４、そしてモジュールＤの搬送機構の回転体２７は、互いに同期して回転する。制御装置０は、成形機Ａの回転盤３、搬送機構Ｂ１の回転体１７、搬送機構Ｃ１の回転体２４又は搬送機構Ｄ１の回転体２７に付随する角位置センサ（ロータリーエンコーダ等）が出力する信号を参照することで、回転体２７の回転の中心軸回りの周方向に沿って配列されている凹穴２７２の各々が現在どの位置にあるのかを知得することができる。さらに言えば、成形機Ａのテーブル３１における何番目の臼孔４内で圧縮成形された成形品Ｐが、現在モジュールＤ内のどの位置にあるのかを知得することができる。これは、今外面検査機構Ｄ２のカメラの前を通過した、即ち外面検査を行った成形品Ｐが、何番目の臼孔４内で成形されたものであるのかが分かるということを意味する。制御装置０は、外面検査機構Ｄ２を介して成形品Ｐの外面検査を行った結果に係る情報（対象の成形品Ｐの外面の状態が正常であるか不良であるかの判定結果）を、その対象の成形品Ｐが何番目の臼孔４で成形されたのかを示すＩＤ番号に関連づけて、記憶デバイスに記憶保持する。

回転体２７の凹穴２７２に捕捉された成形品Ｐは、通常、その移送の終端位置２９まで移送される。しかしながら、特定の成形品Ｐ、例えば不良品やサンプリング品を、終端位置２９まで移送する成形品Ｐ群から選り分けて排除または回収したいという要望も存在する。

そこで、図１１及び図１７に示すように、モジュールＤの搬送機構Ｄ１における、終端位置２９へと至る凹穴２７２及び成形品Ｐの回転移動の軌跡の中途に、特定の成形品Ｐを排除するための排除機構Ｄ３を付設している。排除機構Ｄ３は、回転体２７の凹穴２７２に係合している成形品Ｐに向けて圧縮空気Ｋを噴射する噴射ノズル２８１と、圧縮空気Ｋによって吹き飛ばされた成形品Ｐが落とし込まれるシュート２８２とを要素とする。噴射ノズル２８１及びシュート２８２は、成形品Ｐを挟んで上下に対向するように配置されており、噴射ノズル２８１から噴射した圧縮空気Ｋにより凹穴２７２に保持された成形品Ｐを凹穴２７２から脱離させ、回転体２７のフランジ２７１から落下する当該成形品Ｐをシュート２８２で受けて回収する。

成形品Ｐを捕捉する凹穴２７２は、回転体２７のフランジ２７２を上下に貫通しており、噴射ノズル２８１がフランジ２７２の直上に、シュート２８２がフランジ２７２の直下に位置している。また、噴射ノズル２８１の先端は、フランジ２７２の上面の近傍まで伸びている。噴射ノズル２８１から下向きに噴射された圧縮空気Ｋは、凹穴２７２を通じて成形品Ｐに吹き当たり、成形品Ｐをフランジ２７２から剥落させる。この圧縮空気Ｋの噴射量（単位時間あたりの流量）及び噴射圧力は、僅かでよい。なお、噴射ノズル２８１の回転体２７に対する相対的な位置や、噴射ノズル２８１から圧縮空気Ｋを噴射する向きは、成形品Ｐをフランジ２７２から剥落させることができる限りにおいて任意である。

制御装置０は、回転体２７の各凹穴２７２に係合している成形品Ｐが、成形機Ａにおける何番目の臼孔４内で成形されたものであるのかを把握している。そして、制御装置０は、成形機Ａ及び処理システムＳのモジュールＢ、Ｃ、Ｄにおいて実施した成形品Ｐに対する各種の検査の結果、即ち圧縮成形時の圧縮圧力の異常の有無、成形品Ｐの外面の異常の有無、異物の混入の有無等の情報を、各成形品Ｐ毎に、当該成形品Ｐが成形機Ａにおける何番目の臼孔４で成形されたのかを示すＩＤ番号に関連づけて記憶している。従って、制御装置０は、回転体２７の各凹穴２７２に係合している成形品Ｐがそれそれ正常品であるか不良品であるかを認識しており、不良の成形品Ｄが係合している凹穴２７２の現在位置を知得することができる。

制御装置０は、不良の成形品Ｐを捕捉した凹穴２７２が噴射ノズル２８１の近傍を通過するときに、圧縮空気Ｋの流通を制御するバルブ（噴射ノズル２８１に内蔵されていることがある）を開弁する制御信号を与え、噴射ノズル２８１から不良の成形品Ｐに向けて圧縮空気Ｋを噴射し、当該成形品Ｐを回転体２７から脱落させて排除する。シュート２８２に落ちた成形品Ｐは、終端位置２９には到達することができない。

排除機構Ｄ３により排除されなかった正常な成形品Ｐは、搬送機構Ｄ１による移送の終端位置２９に到達する。そして、この終端位置２９にて回転体２７の凹穴２７２から離脱し、成形品Ｐに対して次の工程を実施する装置又は機器に受け渡され、あるいは成形品Ｐを回収する容器等に向けて落下することとなる。

凹穴２７２に係合する成形品Ｐは、回転体２７の回転方向に沿って搬送されながらも、回転体２７及び凹穴２７２に対する相対的な位置が一定化する。このことは、成形品ＰをカメラＤ２で撮影して外面検査をする処理や、特定の凹穴２７２に係合する成形品Ｐに圧縮空気Ｋを噴射してこれを排除又は抽出する処理等のために有効である。

なお、処理システムＳのモジュールＢ、Ｃ、Ｄに設けられる処理機構は、上述した例に限定されないことは言うまでもない。処理機構の具体例としては、成形品Ｐの体積、重量若しくは含有成分を検査して成形品Ｐの良／不良を個々に判定する品質検査機構、特に成形品Ｐの含有成分や偏析等をラマン分光分析、近赤外分光分析（ＮＩＲ、または近赤外吸収スペクトル法）、Ｘ線回折、Ｘ線透過測定、高速液体クロマトグラフィー（ＨＰＬＣ）等により分析して成形品Ｐの良／不良を判定するものや、成形品Ｐへの金属片の混入の有無を検査する金属検知機型の異物探知機構、成形品Ｐにレーザ光を照射することでその外面に彫刻やレーザマーキングを施すレーザ加工機型の印字機構や、成形品Ｐの表面にインクジェット印刷を行うインクジェットプリンタ型の印字機構、成形品ＰをＰＴＰ（Ｐｒｅｓｓ Ｔｈｒｏｕｇｈ Ｐａｃｋ）包装シートやＥＳＯＰ（Ｅａｓｙ Ｓｅａｌ Ｏｐｅｎ Ｐａｃｋ）包装シート等に包装する包装機構、成形品Ｐをボトルその他の容器に詰めることで成形品Ｐを包装する包装機構、等を挙げることができる。これらの処理機構もまた封じ込め容器内に収容され、成形品Ｐに対する処理を当該封じ込め容器内で実施することになる。上記の品質検査機構や異物探知機構で各成形品Ｐを検査した結果に係る情報は、当該成形品Ｐを成形した臼孔４、上杵５及び下杵６の組を識別する情報と関連づけて、制御装置０の記憶デバイスに記憶させる。そして、不良と判定された成形品Ｐは、排除機構Ｄ３により排除することができる。

図２及び図１１に模式的に示しているように、成形機Ａは、封じ込め容器Ｅ１内に収められている。また、処理システムＳの各モジュールＢ、Ｃ、Ｄも、各々封じ込め容器Ｅ２、Ｅ３に収容されている。

成形機Ａの封じ込め容器Ｅ１とこれに直結するモジュールＢの封じ込め容器Ｅ２とは、ジョイントＪを介して接続する。このジョイントＪは、成形機Ａを収容する封じ込め容器Ｅ１の内部空間と、モジュールＢを収容する封じ込め容器Ｅ２の内部空間を連通させるとともに、前者の封じ込め容器Ｅ１と後者の封じ込め容器Ｅ２とを任意に着脱することができる。ひいては、成形機ＡとモジュールＢとを任意に着脱することができる。成形機Ａのテーブル３１とモジュールＢの搬送機構Ｂ１の回転体１７とが平面視重なり合う成形品取出位置１６及びその周辺部位は、ジョイントＪ内に収容される。

モジュールＢの封じ込め容器Ｅ２とこれに直結するモジュールＣ、Ｄの封じ込め容器Ｅ３ともまた、ジョイントＪを介して接続する。ジョイントＪは、モジュールＢを収容する封じ込め容器Ｅ２の内部空間と、モジュールＣ、Ｄを収容する封じ込め容器Ｅ３の内部空間を連通させるとともに、前者の封じ込め容器Ｅ２と後者の封じ込め容器Ｅ３とを任意に着脱することができる。ひいては、モジュールＢとモジュールＣとを任意に着脱することができる。モジュールＢの搬送機構Ｂ１の回転体１７とモジュールＣの搬送機構Ｃ１の回転体２４とが平面視重なり合う終端位置２３及びその周辺部位は、ジョイントＪ内に収容される。

封じ込め容器Ｅ１、Ｅ２、Ｅ３及びジョイントＪは、成形機Ａ及び各モジュールＢ、Ｃ、Ｄを収容している内部空間の雰囲気の封じ込め容器Ｅ１、Ｅ２、Ｅ３外への意図せざる漏洩を抑止する。成形品Ｐの成形、成形機ＡとモジュールＢとの間及び各モジュールＢ、Ｃ、Ｄ間での成形品Ｐの受け渡し、並びに成形品Ｐに対する後工程の処理、例えば成形品Ｐに付着した粉塵の除去や成形品Ｐの検査等は、おしなべて封じ込め容器Ｅ１、Ｅ２、Ｅ３内で実施される。後工程の処理の実施のために、成形品Ｐを系外排出する必要はない。

また、成形機Ａや各モジュールＢ、Ｃ、Ｄを収容する封じ込め容器Ｅ１、Ｅ２、Ｅ３に設けられたジョイントＪは、各封じ込め容器Ｅ１、Ｅ２、Ｅ３毎に共通している。従って、任意の封じ込め容器Ｅ１、Ｅ２、Ｅ３のジョイントＪを、別の任意の封じ込め容器Ｅ１、Ｅ２、Ｅ３のジョイントＪに接続することができる。つまり、任意のモジュールＢ、Ｃ、Ｄを、成形機Ａの下流に連結することができる。例えば、成形機Ａの封じ込め容器Ｅ１のジョイントＪにモジュールＣの封じ込め容器Ｅ３のジョイントＪを接続して、成形機Ａの下流にモジュールＣを直結することができる。モジュールＤの封じ込め容器Ｅ３のジョイントＪに他のモジュールの封じ込め容器のジョイントを接続することで、モジュールＤの下流にさらにモジュールを追加することも考えられる。なお、モジュールＢは成形機Ａの次に連結していることが好適である。

封じ込め容器Ｅ１、Ｅ２、Ｅ３間の接続に使用しないジョイントＪは、封じ込め容器Ｅ１、Ｅ２、Ｅ３内の雰囲気を外部に漏出させないよう閉鎖することができる。

上述した例では、モジュールＢとモジュールＣ、Ｄをそれぞれ別個の封じ込め容器Ｅ２、Ｅ３に収容することとしているが、モジュールＢ、Ｃ、Ｄを一個の封じ込め容器に収容することを妨げない。モジュールＣとモジュールＤとを、それぞれ別個の封じ込め容器に収容しても構わない。また、成形機Ａとこれに連結する一以上のモジュールＢ、Ｃ、Ｄを、一個の封じ込め容器に収容することを妨げない。

結局のところ、任意の処理機構が搬送機構Ｂ１、Ｃ１、Ｄ１に付随して設けられたモジュールＢ、Ｃ、Ｄが封じ込め容器Ｅ２、Ｅ３に収容されており、その封じ込め容器Ｅ２、Ｅ３に配されているジョイントＪを介して、任意のモジュールＢ、Ｃ、Ｄを成形機Ａの下流に連結することができる。そして、成形機Ａの下流に連結するモジュールＢ、Ｃ、Ｄの選定を通じて、成形機Ａが成形した成形品Ｐにどのような後工程の処理を実施するかを任意に設定できる。成形機Ａの下流に連結するモジュールＢ、Ｃ、Ｄの数、封じ込め容器Ｅ１の下流にジョイントＪを介して接続する封じ込め容器Ｅ２、Ｅ３の個数は、上記例に限定されない。

本実施形態では、テーブル３１に上下に貫通した臼孔４が設けられ、臼孔４の上下に上杵５及び下杵６が上下摺動可能に保持され、臼孔４内に充填された粉体を上杵５と下杵６とで圧縮して成形品Ｐを成形する成形機Ａにおいて成形された成形品Ｐに対して後工程の処理を実施するためのシステムＳであって、複数個の成形品Ｐを前記成形機Ａにおいて成形された順序を維持したまま整列させた状態で搬送する搬送機構Ｂ１、Ｃ１、Ｄ１と、前記搬送機構Ｂ１、Ｃ１、Ｄ１により搬送される成形品Ｐの移動経路に臨み、搬送される個々の成形品Ｐに対して所定の後工程の処理を実施する処理機構Ｂ２、Ｂ３、Ｃ２、Ｃ３、Ｄ２とを具備するモジュールＢ、Ｃ、Ｄを要素とし、上流側のモジュールＢ、Ｃと下流側のモジュールＣ、Ｄとを接続することで、上流側のモジュールＢ、Ｃである処理を実施した後の成形品Ｐを順次下流側のモジュールＣ、Ｄに受け渡して当該モジュールＣ、Ｄにて別の所定の処理を実施できる処理システムＳを構成した。

本実施形態によれば、任意の処理機構を具備したモジュールを加除することで、成形品Ｐに対して任意の後工程の処理を実施することができる。

前記各モジュールＢ、Ｃ、Ｄは封じ込め容器Ｅ２、Ｅ３内に収められ、当該封じ込め容器Ｅ２、Ｅ３内の雰囲気の外部への漏出を抑制するとともに、当該封じ込め容器Ｅ２、Ｅ３内で成形品Ｐに対する後工程の処理を実施するものであるため、中途で成形品Ｐの系外排出が生じず、粉体を含む雰囲気が外部に漏出しないコンテインメント環境を実現でき、特に高薬理活性物質を含有する成形品Ｐの生産において有用となる。また、成形品Ｐへのコンタミネーションも抑制することができる。

前記モジュールＢ、Ｃ、Ｄが具備する前記搬送機構Ｂ１、Ｃ１、Ｄ１は、複数個の成形品Ｐを整列させた状態で略水平方向に移動させるものである。従って、成形品Ｐの高さ位置の上下動を極力抑制することができ、成形品Ｐが重力で落下する際にダメージを受けるリスクを低減することができる。また、成形品Ｐを持ち上げるリフト装置が必須ではなくなる。

前記粉体圧縮成形機Ａが、複数の臼孔４、上杵５及び下杵６の組を具備しており、前記モジュールＢ、Ｃ、Ｄが具備する前記処理機構Ｂ２、Ｂ３、Ｃ２、Ｃ３、Ｄ２が、成形品Ｐを撮影するカメラを含み成形品Ｐの外面の状態を検査する外面検査機構Ｂ３、Ｃ３、Ｄ２、成形品の体積、重量若しくは含有成分を検査する品質検査機構、又は成形品Ｐへの異物の混入の有無を検査する異物探知機構Ｃ２であり、前記処理機構Ｂ３、Ｃ２、Ｃ３、Ｄ２により成形品Ｐを検査した結果に係る情報を、当該成形品Ｐを成形した臼孔４、上杵５及び下杵６の組を識別する情報と関連づけて制御装置０の記憶デバイスに記憶させるものであるため、検査処理により不良が検知された成形品Ｐを特定して追跡することができる。加えて、成形機Ａにおいて成形品Ｐの不良を生んだ臼４及び杵５、６の組を速やかに特定することもでき、成形品Ｐの不良を有む金型即ち臼４又は杵５、６を交換して成形品Ｐの製造不良をいち早く解消することができる。

前記モジュールＤが、前記処理機構Ｂ３、Ｃ２、Ｃ３、Ｄ２による検査を得て不良であると判断された成形品Ｐを正常な成形品から選り分けて排除する排除機構Ｄ３を具備しているため、成形機Ａ及び処理システムＳの稼働を停止することなく不良の成形品Ｐのみを排除することができ、成形品Ｐの歩留まりもよくなる。

本発明は、以上に詳述した実施形態に限られるものではない。例えば、上記実施形態における搬送機構Ｂ１、Ｃ１、Ｄ１は、成形品Ｐを水平回転の軌跡に沿って移送するものであったが、直線的な軌跡に沿って成形品Ｐを移送する搬送機構を組み込み、その搬送機構に付随して処理機構Ｂ２、Ｂ３、Ｃ２、Ｃ３、Ｄ２を付設するようにしてもよい。

また、搬送機構により成形品Ｐを搬送する過程で、成形品Ｐを一列ではなく複数列に整列させてもよい。

上記実施形態では、成形機Ａに処理システムＳのモジュールＢ、Ｃ、Ｄを連結し、成形機Ａで成形した成形品Ｐを成形機Ａから直に取り出して直ちに後工程の処理を実施していたが、処理システムＳのモジュールＢ、Ｃ、Ｄを成形機Ａに連結せずに成形機Ａから独立させ、成形機Ａで製造した後貯留しておいた成形品Ｐを最上流のモジュールＢに供給して後工程の処理を実施するようにしてもよい。

処理システムＳは、成形機Ａに付帯することに限らず、例えば成形品Ｐにコーティングを実施する装置に付帯するようにしてもよい。また、処理システムＳのモジュールＢ、Ｃ、Ｄの数は３つに限定されるものではない。

制御装置０は、外面検査機構Ｂ３、Ｃ３、Ｄ２や品質検査機構、異物探知機構Ｃ２等を介して成形品Ｐの不良を感知したときに、成形機Ａの作動を停止させる制御を実施することができる。

その他、各部の具体的構成は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形することができる。

Ａ…回転式粉体圧縮成形機
３１…テーブル
４…臼孔
５…上杵
６…下杵
Ｂ、Ｃ、Ｄ…モジュール
Ｂ１、Ｃ１、Ｄ１…搬送機構
Ｂ２、Ｂ３、Ｃ２、Ｃ３、Ｄ２…処理機構
Ｄ３…排除機構
Ｐ…成形品
Ｓ…処理システム

Claims (6)

1. テーブルに上下に貫通した臼孔が設けられ、臼孔の上下に上杵及び下杵が上下摺動可能に保持され、臼孔内に充填された粉体を上杵と下杵とで圧縮して成形品を成形する粉体圧縮成形機において成形された成形品に対して後工程の処理を実施するためのシステムであって、
   複数個の成形品を前記粉体圧縮成形機において成形された順序を維持したまま整列させた状態で搬送する搬送機構と、
   前記搬送機構により搬送される成形品の移動経路に臨み、搬送される個々の成形品に対して所定の後工程の処理を実施する処理機構と
   を具備するモジュールを要素とし、
   上流側のモジュールと下流側のモジュールとを接続することで、上流側のモジュールである処理を実施した後の成形品を順次下流側のモジュールに受け渡して当該モジュールにて別の所定の処理を実施できるように構成された成形品処理システム。
2. 前記各モジュールが封じ込め容器内に収められ、当該封じ込め容器内の雰囲気の外部への漏出を抑制するとともに、当該封じ込め容器内で成形品に対する後工程の処理を実施する請求項１記載の成形品処理システム。
3. 前記モジュールが具備する前記搬送機構が、複数個の成形品を整列させた状態で略水平方向に移動させる請求項１又は２記載の成形品処理システム。
4. 前記モジュールが具備する前記処理機構が、成形品を撮影するカメラを含み成形品の外面の状態を検査する外面検査機構、成形品に付着している粉塵を除去する粉塵除去機構、成形品の体積、重量若しくは含有成分を検査する品質検査機構、成形品への異物の混入の有無を検査する異物探知機構、成形品の外面に印刷若しくは刻印を施す印字機構、又は成形品を包装する包装機構のうち少なくとも何れか一つである請求項１、２又は３記載の成形品処理システム。
5. 前記粉体圧縮成形機が、複数の臼孔、上杵及び下杵の組を具備しており、
   前記モジュールが具備する前記処理機構が、成形品を撮影するカメラを含み成形品の外面の状態を検査する外面検査機構、成形品の体積、重量若しくは含有成分を検査する品質検査機構、又は成形品への異物の混入の有無を検査する異物探知機構であり、
   前記処理機構により成形品を検査した結果に係る情報を、当該成形品を成形した臼孔、上杵及び下杵の組を識別する情報と関連づけて制御装置の記憶デバイスに記憶させる請求項１、２、３又は４記載の成形品処理システム。
6. 前記モジュールが、前記処理機構による検査を得て不良であると判断された成形品を正常な成形品から選り分けて排除する排除機構を具備している請求項５記載の成形品処理システム。

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