JP2019053020A - 検査方法、装置、システム及びプログラム - Google Patents

検査方法、装置、システム及びプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP2019053020A
JP2019053020A JP2017180358A JP2017180358A JP2019053020A JP 2019053020 A JP2019053020 A JP 2019053020A JP 2017180358 A JP2017180358 A JP 2017180358A JP 2017180358 A JP2017180358 A JP 2017180358A JP 2019053020 A JP2019053020 A JP 2019053020A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
illumination
patterns
inspection
brightness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017180358A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6969252B2 (ja
Inventor
布施 貴史
Takashi Fuse
貴史 布施
哲男 肥塚
Tetsuo Hizuka
哲男 肥塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Publication of JP2019053020A publication Critical patent/JP2019053020A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6969252B2 publication Critical patent/JP6969252B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

【課題】透明な検査対象の欠陥を正確に検出することができる検査方法を提供する。【解決手段】照明装置2が照明パターンを表示面に表示し、撮像装置5が照明パターンにより照明された透明な検査対象の画像を撮像し、プロセッサが、照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンについて生成し、複数の照明パターンで照明された検査対象10の画像を各種類のパターン毎に撮像して撮像画像を取得させる指示を撮像装置に出力し、照明装置と撮像装置の動作を同期させる同期制御を行い、プロセッサは、各種類のパターン毎に複数の照明パターンで照明された検査対象の撮像画像の明るさの振幅変化を重畳し、重畳した撮像画像の明るさの振幅変化と、基準対象に対して各種類のパターン毎に予め重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、検査対象の欠陥を検出する。【選択図】図1

Description

本発明は、検査方法、装置、システム及びプログラムに関する。
透明部材は、各種分野で利用されている。装置の一部を覆う透明なカバー等の透明部材は、様々な形状を有し、照明機能を有する照明装置、表示機能を有する表示装置等に設けられている。透明部材は、防塵、防水、保護等の用途で使用されることもあるが、光を透過して照明機能、表示機能等を妨げないことが望ましい。このため、欠陥の無い透明部材を提供することが望ましい。
透明部材の欠陥には、透明部材の内部に存在する傷、凹凸、異物等の欠陥と、透明部材の表面に存在する傷、凹凸、異物等の欠陥とがある。これらの欠陥を目視により検査する場合、透明部材に照明を当てるが、透明部材の表面形状によっては、検査が検査対象の背景や周囲の影響を受けやすい。特に透明部材の表面形状が湾曲している等して複雑な場合には、目視による検査が難しく、欠陥を正確に検出することは難しい。
そこで、透明部材を検査装置で検査して、透明部材の欠陥を検出する検査方法が提案されている。検査装置は、光源からの光で透明部材を照明して、撮像装置で透明部材の画像を撮像し、撮像画像から透明部材の欠陥を検出する。この場合、目視による検査と比較すると、検査の感度が安定化し、検査を高速に行え、検査のコストも低減できる。しかし、検査装置を用いても、透明部材の表面形状によっては、検査が検査対象の背景や周囲の影響を受けやすいことには変わりなく、これらの影響を受けることのない検査専用の環境で検査を行う等の対策を採らないと、欠陥を正確に検出することは難しい。
特開2013−108944号公報 特開2006−267022号公報 特開2002−323454号公報
従来の検査方法では、検査対象が透明であり、且つ、様々な表面形状を有するため、検査が検査対象の背景や周囲の影響を受けやすく、透明な検査対象の欠陥を正確に検出することは難しい。
そこで、1つの側面では、透明な検査対象の欠陥を正確に検出することができる検査方法、装置、システム及びプログラムを提供することを目的とする。
1つの案によれば、照明装置が、照明パターンを表示面に表示し、撮像装置が、前記表示面に表示された前記照明パターンにより照明された透明な検査対象の画像を撮像し、プロセッサが、照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンについて生成し、各種類のパターン毎に、前記複数の照明パターンを前記照明装置の前記表示面に表示させる指示を前記照明装置に出力すると共に、前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の画像を各種類のパターンについて撮像して撮像画像を取得させる指示を前記撮像装置に出力し、前記照明装置と前記撮像装置の動作を同期させる同期制御を行い、前記プロセッサが、各種類のパターンについて前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して重畳し、前記プロセッサが、重畳した前記撮像画像の明るさの振幅変化と、基準対象に対して各種類のパターンについて予め演算して重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、前記検査対象の欠陥を検出する検査方法が提供される。
一態様によれば、透明な検査対象の欠陥を正確に検出することができる。
第1実施例における検査システムの一例を示す図である。 コンピュータのハードウェア構成の一例を示すブロック図である。 第1実施例における検査処理の一例を説明するフローチャートである。 第1実施例における検査対象の撮像画像に対する演算処理の一例を説明する図である。 検査対象の撮像領域を撮像した4つの撮像画像の明るさの一例を示す図であり、 検査対象の撮像画像に対する位相演算結果の一例を示す図である。 基準対象の撮像画像に対する演算処理の一例を説明する図である。 基準対象の撮像領域を撮像した4つの撮像画像の明るさの一例を示す図であり、 基準対象の撮像画像に対する位相演算結果の一例を示す図である。 第1実施例における検査対象の撮像画像に対する演算処理の一例を説明する図である。 第1実施例における検査結果の一例を説明する図である。 第1実施例における検査結果と比較例の検査結果の一例を説明する図である。 第2実施例における検査システムの一例を示す図である。 第2実施例における検査結果と比較例の検査結果の一例を説明する図である。 第3実施例における検査処理の一例を説明するフローチャートである。 第3実施例における検査対象の撮像画像に対する演算処理の一例を説明する図である。
開示の検査方法、装置、システム及びプログラムでは、照明パターンを表示面に表示し、表示面に表示された照明パターンにより照明された透明な検査対象の画像を撮像し、照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンについて生成し、各種類のパターン毎に、複数の照明パターンを照明装置の表示面に表示させる指示を照明装置に出力すると共に、複数の照明パターンで照明された検査対象の画像を撮像して撮像画像を取得させる指示を撮像装置に出力し、照明装置と撮像装置の動作を同期させる同期制御を行う。各種類のパターン毎に複数の照明パターンで照明された検査対象の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して重畳し、重畳した撮像画像の明るさの振幅変化と、基準対象に対して各種類のパターン毎に予め演算して重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、検査対象の欠陥を検出する。
以下に、開示の検査方法、装置、システム及びプログラムの各実施例を図面と共に説明する。
図1は、第1実施例における検査システムの一例を示す図である。図1に示す検査システム1−1は、照明装置2、支持部3、コントローラ4、撮像装置5、コントローラ6、制御装置7及び入出力装置8を有する。制御装置7は、検査装置の一例を形成する。検査装置は、照明装置2及び撮像装置5のうち少なくとも一方を含んでも良い。検査対象10は、透明な部材であり、表面形状及び材質は特に限定されない。
この例では、照明装置2は、光を出射する光源21、光源21からの照射パターンを反射するミラー22及びミラー22が反射した照射パターンが投影される透過型スクリーン23を有する。しかし、照明装置2は、後述する周期的な照明パターンを表示可能な装置であれば、特に限定されない。照明装置2は、周期的な照明パターンを表示する表示装置(又は、表示パネル)により形成可能であり、表示装置は、例えば光源の一例であるバックライトを有する周知の液晶表示装置(LCD:Liquid Crystal Display)、有機エレクトロルミネッセンス表示装置等であっても良い。透過型スクリーン23は、照明パターンを表示する表示面の一例である。表示装置の場合、表示画面が照明パターンを表示する表示面の一例である。
支持部3は、検査対象10を支持可能な構成であれば、特に限定されない。本実施例では、照明装置2は、検査対象10の第1の表面の一例である下面側から検査対象10を照射パターンで照明するので、図1に示す例では、支持部3は検査対象10を透過型スクリーン23の上方で検査対象10を照明する照明パターンを遮らないように保持する周知の構成を有する。検査対象10は、透過型スクリーン23と接触していても、検査対象10の下面と透過型スクリーン23の上面との間に隙間が設けられていても良い。なお、支持部3を、検査対象10が載置される周知の構成を有するステージで形成し、透過型スクリーン23の上方に配置する場合には、支持部3は透明材料で形成されることは言うまでもない。
コントローラ4は、支持部3を移動して支持部3と撮像装置5の相対位置を変化させる移動手段の一例であり、制御装置7からの指示に応じて支持部3による検査対象10の移動の開始と終了を制御する機能を有しても良い。コントローラ4は、支持部3を移動しない場合には省略可能しても良い。
撮像装置5は、照明装置2の透過型スクリーン23に表示された照明パターンにより照明された検査対象10の画像を撮像する。この例では、撮像装置5が撮像した検査対象10の画像に、透明な検査対象10を透過した照明パターンが含まれる。撮像装置5は、例えば周知のCCD(Charge-Coupled Device)カメラ等で形成可能である。撮像装置5は、検査対象10の第1の表面とは反対側の第2の表面の一例である上面側から撮像する。
コントローラ6は、撮像装置5を移動して支持部3と撮像装置5の相対位置を変化させる移動手段の一例であり、制御装置7からの指示に応じて撮像装置5による撮像の開始と終了を制御する機能を有しても良い。コントローラ6は、撮像装置5を移動しない場合には省略可能である。コントローラ6を省略した場合、制御装置7からの指示により撮像装置5による撮像の開始と終了を直接制御しても良い。なお、支持部3と撮像装置5の相対位置を変化させる場合、コントローラ4及びコントローラ6のうち少なくとも一方を省略しても良い。この例では、撮像装置5が撮像した撮像画像は、コントローラ6を介して制御装置7に供給されるが、制御装置7に直接供給されても良い。
制御装置7は、検査システム1−1全体の制御を司る。入出力装置8は、制御装置7に命令、データ等を入力する入力装置と、メッセージ、検査結果等を出力する出力装置を含む。命令、データ等が検査システム1−1の外部から入力される場合、入力装置は省略可能である。また、メッセージ、検査結果等を検査システム1−1の外部へ出力する場合、出力装置は省略可能である。
制御装置7は、汎用のコンピュータにより形成可能である。図2は、コンピュータのハードウェア構成の一例を示すブロック図である。図2に示すコンピュータ100は、プロセッサの一例であるCPU(Central Processing Unit)101、記憶装置の一例であるメモリ102を有する。CPU101は、メモリ102に記憶された検査プログラム等を含むプログラムを実行し、後述する検査処理等を実行する。メモリ102は、プログラム、データ等を記憶する。メモリ102は、USB(Universal Serial Bus)メモリ等の可搬型記録媒体、フラッシュメモリ等の半導体記憶装置、磁気記録媒体、CD−ROM(Compact Disk-Read Only Memory)、DVDディスク(Digital Versatile Disk)等の光記録媒体、光磁気記録媒体等のコンピュータ読取可能な記録媒体により形成可能である。なお、メモリ102にディスク等の磁気記録媒体、光記録媒体又は光磁気記録媒体を用いる場合、記録媒体はディスクドライブ等のドライブにロードされ、ドライブによりプログラム等を記録媒体から読み出し、必要に応じて記録媒体にデータ等を書き込む。図2では、便宜上、コンピュータ100に無線又は有線で接続可能なタッチパネル等の入出力装置(又は、別々に設けられた入力装置と表示装置)の図示は省略する。
図3は、第1実施例における検査処理の一例を説明するフローチャートである。図3に示す処理は、例えば図2に示すCPU101により実行可能である。
図3に示すステップS1では、CPU101がコントローラ4を制御して検査対象10を支持する支持部3を予め決められた撮像位置まで移動する。なお、コントローラ4が省略されている場合は、利用者が手動で、検査対象10を予め決められた撮像位置にある支持部3に支持させても良い。なお、ステップS1では、CPU101がコントローラ6を制御して撮像装置5も移動するようにしても良い。
ステップS2では、CPU101が周期的な照明パターンを生成する。本実施例では、CPU101は、照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンについて生成する。従って、CPU101は、照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターン毎に生成する生成手段の一例を形成する。互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンは、特に限定されないが、例えば互いに異なる方向に沿って延在する縞状の第1のパターン及び第2のパターンを含む。この場合、互いに異なる方向に沿って延在する縞状の第1のパターン及び第2のパターンは、互いに直交する縞状パターンであっても良い。また、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンは、矩形状、三角状、正弦波状等のパターンであっても良い。
ステップS3では、CPU101が1種類のパターンについて生成した複数の照明パターンを照明装置2の表示面に表示する。この例では、CPU101は、照明パターンを出射するように光源21を制御することで、光源21からの照明パターンをミラー22で反射して透過型スクリーン23に投影する。
ステップS4では、CPU101がコントローラ6を制御して撮像装置5を検査対象10の撮像領域を撮像する位置まで移動して、検査対象10の撮像領域を撮像する。なお、ステップS4では、CPU101がコントローラ4を制御して、支持部3も移動するようにしても良い。また、コントローラ6が省略されている場合は、利用者が手動で、撮像装置5を検査対象10の撮像領域を撮像する位置まで移動しても良い。
CPU101は、1種類のパターンについて、複数の照明パターンを照明装置2の表示面に表示させる指示を照明装置2に出力するステップS3の処理と、同じ1種類のパターンについて、複数の照明パターンで照明された検査対象10の画像を撮像して撮像画像を取得させる指示を撮像装置5に出力するステップS4の処理を同期する。つまり、CPU101は、照明装置2と撮像装置5の動作を同期させる同期制御を行う。従って、CPU101は、各種類のパターン毎に、複数の照明パターンを照明装置2の表示面に表示させる指示を照明装置2に出力すると共に、複数の照明パターンで照明された検査対象10の画像を各種類のパターン毎に撮像して撮像画像を取得させる指示を撮像装置5に出力し、照明装置2と撮像装置5の動作を同期させる同期制御を行う制御手段の一例を形成する。これにより、照明装置2は、1種類のパターンについて生成した複数の照明パターンで検査対象10を照明し、撮像装置5は、同じ1種類のパターンについて複数の照明パターンの各々で照明された検査対象10の画像を撮像する。この例では、撮像装置5が撮像した撮像画像は、コントローラ6を介して制御装置7に供給されるが、制御装置7に直接供給されても良い。
ステップS5では、CPU101が生成した全ての種類のパターンについて、複数の照明パターンの各々で照明された検査対象10の画像を撮像したか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS3へ戻り、判定結果がYESであると処理はステップS6へ進む。これにより、全ての種類のパターンについて、複数の照明パターンを照明装置2の表示面に表示すると共に、複数の照明パターンで照明された検査対象10の画像を全ての種類のパターンについて撮像すると、処理はステップS6へ進む。
ステップS6では、CPU101が各種類のパターン毎に複数の照明パターンで照明された検査対象10の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して重畳する。ステップS7では、CPU101が検査対象10のうち検査するべき全ての撮像領域を撮像したか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS2へ戻り、判定結果がYESであると処理はステップS8へ進む。なお、検査対象10のうち検査するべき全ての撮像領域を1回の撮像処理で撮像可能な場合には、ステップS7の処理は省略可能である。
ステップS8では、CPU101がステップS6で重畳した撮像画像の明るさの振幅変化と、メモリ102に格納された、基準対象に対して各種類のパターン毎に予め演算して重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、例えば振幅変化の差が閾値以上であると、検査対象10の欠陥を検出する。基準対象とは、予め検査済みであり、欠陥を有さない検査対象10と同一の透明部材の良品である。
ステップS9では、CPU101が検査対象10の検査を終了するか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS1へ戻り、判定結果がYESであると処理はステップS10へ進む。検査対象10の検査を終了する場合は、例えば利用者が入出力装置8から制御装置7(又は、コンピュータ100)に検査終了の命令を入力すれば良い。
ステップS10では、CPU101がステップS9で比較した結果、即ち、検査対象10の欠陥が検出されたか否かの結果出力を、入出力装置8に出力し、検査処理は終了する。
図4は、第1実施例における検査対象の撮像画像に対する演算処理の一例を説明する図である。この演算処理は、位相シフト演算処理と呼ばれることもある。説明の便宜上、図4は、1種類のパターンの一例である周期的な縦縞状のパターンについて、照射強度(又は、明るさ)の位相差がπ/2(90°)で一定である4つの照明パターンを照射した検査対象10の撮像領域を撮像した4つの撮像画像P1〜P4を示す。図4中、黒い部分程、各撮像画像P1〜P4の明るさが低い(即ち、暗い)ことを表している。
図5は、検査対象10の撮像領域を撮像した4つの撮像画像P1〜P4の明るさI1〜I4の一例を示す図であり、撮像画像P1の明るさI1を実線で示し、撮像画像P2〜P4の明るさI2〜I4を破線で示す。図5中、縦軸は明るさを任意単位で示し、横軸は位置を任意単位で示す。また、図5において、Aは、図4中白い破線で示す位置に相当し、Bは、位置Aから明るさのピークまでの振幅を示す。また、図5において、一点鎖線Dで示す部分では、検査対象10に存在する欠陥のため明るさの振幅変化に歪みが生じている。撮像画像P1〜P4の明るさI1〜I4は、位相をφで表すと、この例では次式で表すことができる。
I1=A+Bcos(φ)
I2=A+Bcos(φ+π/2)
I3=A+Bcos(φ+π)
I4=A+Bcos(φ+3π/2)
図3に示すステップS6で、CPU101が縦縞状のパターンについて4つの照明パターンで照明された検査対象10の4つの撮像画像P1〜P4の明るさの振幅変化を演算して重畳すると、例えばAmp=2×sqrt{(I1−I3)+(I2−I4)}/(I1+I2+I3+I4)なる位相演算結果が得られる。図6は、この検査対象10の撮像画像に対する位相演算結果の一例を示す図である。図6中、縦軸は明るさの振幅変化を任意単位で示し、横軸は位置を任意単位で示す。図6において、明るさの振幅変化が一定である位置には欠陥が存在しない。一方、図6において、図5の一点鎖線Dで示す部分に相当する、明るさの振幅変化が一定ではなく変化している位置に欠陥が存在する。このように、検査対象10に存在する欠陥の有無と、存在する欠陥の位置を検出することができる。
図7は、第1実施例における基準対象の撮像画像に対する演算処理の一例を説明する図である。説明の便宜上、図7は、図4の場合と同様に、1種類のパターンの一例である周期的な縦縞状のパターンについて、照射強度の位相差がπ/2(90°)で一定である4つの照明パターンを照射した基準対象の4つの撮像画像P1r〜P4rを示す。図7中、黒い部分程、各撮像画像P1r〜P4rの明るさが低い(即ち、暗い)ことを表している。
図8は、基準対象の撮像領域を撮像した4つの撮像画像P1r〜P4rの明るさI1r〜I4rの一例を示す図であり、撮像画像P1rの明るさI1rを実線で示し、撮像画像P2r〜P4rの明るさI2r〜I4rを破線で示す。図8中、縦軸は明るさを任意単位で示し、横軸は位置を任意単位で示す。また、図8において、Aは、図7中白い破線で示す位置に相当し、Bは、位置Aから明るさのピークまでの振幅を示す。また、図8では、基準対象には欠陥が存在しないので、明るさの振幅変化に歪みが生じていない。撮像画像P1r〜P4rの明るさI1r〜I4rは、位相をφで表すと、この例では次式で表すことができる。
I1r=A+Bcos(φ)
I2r=A+Bcos(φ+π/2)
I3r=A+Bcos(φ+π)
I4r=A+Bcos(φ+3π/2)
縦縞状のパターンについて4つの照明パターンで照明された基準対象の撮像領域を撮像した4つの撮像画像P1r〜P4rの明るさの振幅変化を演算して重畳すると、例えばAmpr=2×sqrt{(I1r−I3r)+(I2r−I4r)}/(I1r+I2r+I3r+I4r)なる位相演算結果が得られる。図9は、この基準対象の撮像画像に対する位相演算結果の一例を示す図である。図9中、縦軸は明るさの振幅変化を任意単位で示し、横軸は位置を任意単位で示す。図9において、明るさの振幅変化は一定であり、欠陥が存在しないことがわかる。
図3に示すステップS8で、CPU101がステップS6で重畳した図6に示す如き撮像画像の明るさの振幅変化と、メモリ102に格納された、基準対象に対して各種類のパターン毎に予め演算して重畳した図9に示す如き撮像画像の明るさの振幅変化とを比較すると、検査対象10の表面形状に依存する照明パターンの位相変化を吸収して、明るさの振幅変化が一定ではなく変化している位置が顕著化される。また、検査対象10の表面形状に強く依存して照明パターンの位相変化が生じるため、検査対象の背景や周囲の影響を受けにくい。これにより、顕著化された、明るさの振幅変化が一定ではなく変化している位置に欠陥が存在することがわかり、検査対象10の欠陥の有無と欠陥の位置を正確に検出することができる。また、検査結果は利用者の判断に依存しないので、検査の感度が安定化する。更に、上記の演算処理は、比較的簡単であるため、演算処理を短時間で実行することができ、検査を高速に行えると共に、検査のコストも低減できる。
ところで、検査対象10の欠陥が例えば縦縞状の照射パターンと同じ縦方向に沿って存在する傷等の場合、上記の如き周期的な縦縞状のパターンについて照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを照射した検査対象10の撮像画像に基づき、上記の如き位相演算を行うことで欠陥を検出することができる。しかし、検査対象10の欠陥が例えば縦縞状の照射パターンとは異なる方向、例えば横方向に沿って存在する傷等の場合、上記の如き周期的な縦縞状のパターンについて照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを照射した検査対象10の撮像画像に基づき、上記の如き位相演算を行っても、欠陥を検出することは難しい。
このため、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンのうち、一方が例えば縦縞状のパターンの場合、他方は縦縞状パターンとは異なる方向に沿って周期的な縞状パターンとすることで、検査対象10の欠陥をより正確に検出することができる。縦縞状パターンとは異なる方向に沿って周期的な縞状パターンは、例えば縦縞状のパターンと直交する横縞状のパターンである。
このように、照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な2種類以上のパターンについて生成して、検査対象10の画像の撮像時に検査対象10を照明することで、検査対象10の欠陥が延在する方向にかかわらず、欠陥を正確に検出することができる。
図10は、第1実施例における検査対象の撮像画像に対する演算処理の一例を説明する図である。この例では、検査対象10の撮像領域501に、実際には線状欠陥502,503が存在する。図4乃至6と共に説明したように、例えば照射強度の位相差が一定である4つの照明パターンを縦縞状のパターンについて生成して、検査対象10の画像の撮像時に検査対象10を照明することで、撮像画像504の如き画像が4つの照明パターンの各々について撮像される。従って、4つの照明パターンについて撮像した撮像画像504の如き画像に基づき、上記の如き位相演算を行うことで、演算後の画像505から線状欠陥502を検出することができる。一方、線状欠陥503は、演算後の画像505では便宜上破線で示すように、縦縞状のパターンとは略直交する方向に延在するため、正確に検出することは難しい。
そこで、図4乃至6と共に説明したように、例えば照射強度の位相差が一定である4つの照明パターンを横縞状のパターンについて生成して、検査対象10の画像の撮像時に検査対象10を照明することで、撮像画像506の如き画像が4つの照明パターンの各々について撮像される。従って、4つの照明パターンについて撮像した撮像画像506の如き画像に基づき、上記の如き位相演算を行うことで、演算後の画像507から線状欠陥503を検出することができる。一方、線状欠陥502は、演算後の画像507では便宜上破線で示すように、横縞状のパターンとは略直交する方向に延在するため、正確に検出することは難しい。
しかし、図3に示すステップS6で、CPU101が縦縞状のパターンと横縞状のパターンの各々について4つの照明パターンで照明された検査対象10の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して、演算後の画像505,507を重畳することで、線状欠陥502,503の両方を正確に検出することができる。
図11は、第1実施例における検査結果の一例を説明する図である。図11は、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンを照射した検査対象10の撮像画像に対する位相演算後の重畳画像601、前記と同じ種類のパターンを照射した基準対象の撮像画像に対する位相演算後の重畳画像602及び重畳画像601,602の比較結果603を示す。この例では、比較結果603から検査対象10に存在する欠陥604が正確に検出できることが確認された。
図12は、第1実施例における検査結果と比較例の検査結果の一例を説明する図である。図12において、照明装置2の縦縞状の照明パターンで照明された検査対象10の撮像領域を撮像装置5で撮像した画像701中、破線710で囲んだ領域内に実際には欠陥が存在するが、1枚の画像701からでは欠陥の有無を判断することは難しい。なお、画像701中の縞が完全に縦方向に延在していないのは、検査対象10の表面形状によるものである。しかし、検査対象10の画像701と同様にして位相シフトされた縦縞状の照明パターンを用いて撮像した例えば合計4枚の画像に対する上記位相演算後の重畳画像702では、破線710で囲んだ領域内の欠陥604を判断することができ、位相シフトされた横縞状の照明パターンを用いて撮像した合計4枚の画像に対する上記位相演算後の重畳画像でも、欠陥604を判断することができる。従って、縦縞状の照明パターンによる重畳画像702と、横縞状の照明パターンによる重畳画像を重畳することで、欠陥604を更に顕著化できる。また、縦縞状の照明パターンによる重畳画像702と横縞状の照明パターンによる重畳画像を重畳した画像と、検査対象10と同じ縦縞状の照明パターン及び横縞状の照明パターンで照明された基準対象に対する位相演算後の重畳画像を重畳した画像とを比較した比較結果では、欠陥604が更に顕著化される。これに対し、例えば白色光で照明された検査対象10の撮像領域を撮像装置5で撮像した比較例の明視野画像703では、破線710で囲んだ領域内に存在する欠陥の有無を判断することは難しい。このように、明視野画像703を用いた検査と比較すると、本実施例によれば、透明な検査対象の表面形状等にかかわらず、検査対象の欠陥を正確に検出することができる。
図13は、第2実施例における検査システムの一例を示す図である。図13中、図1と同一部分には同一符号を付し、その説明は省略する。本実施例では、検査システム1−2の照明装置2は、検査対象10の一方の表面の一例である上面側から検査対象10を照射パターンで照明するので、図13に示す例では、支持部3は検査対象10を透過型スクリーン23の下方で保持する周知の構成を有する。支持部3を、検査対象10が載置される周知の構成を有するステージで形成しても良い。なお、支持部3は不透明材料で形成され、この例では白色の上面を有する。
撮像装置5は、照明装置2の透過型スクリーン23に表示された照明パターンにより照明された検査対象10の画像を撮像する。この例では、撮像装置5が撮像した検査対象10の画像に、透明な検査対象10に照射して映り込んだ照明パターンが含まれる。撮像装置5は、検査対象10の前記一方の表面の一例である上面側から撮像する。照明装置2及び撮像装置5の配置は、検査対象10への照明と検査対象10の画像の撮像とが互いに干渉しなければ特に限定されない。更に、支持部3及び撮像装置5の少なくとも一方が移動する場合には、照明装置2及び撮像装置5の配置は、支持部3及び撮像装置5の相対位置を変化させる際に干渉しなければ特に限定されない。制御装置7は、検査システム1−2全体の制御を司る。
本実施例における検査処理は、図3と共に説明した上記第1実施例の検査処理と同様に行えるので、その図示及び説明は省略する。
図14は、第2実施例における検査結果と比較例の検査結果の一例を説明する図である。図14において、照明装置2の縦縞状の照明パターンで照明された検査対象10の撮像領域を撮像装置5で撮像した画像801中、破線810で囲んだ領域内に実際には欠陥が存在するが、1枚の画像801からでは欠陥の有無を判断することは難しい。なお、画像801中の縞が完全に縦方向に延在していないのは、検査対象10の表面形状によるものである。しかし、検査対象10の画像801と同様にして位相シフトされた縦縞状の照明パターンを用いて撮像した例えば合計4枚の画像に対する上記位相演算後の重畳画像802では、破線810で囲んだ領域内の欠陥604を判断することができ、位相シフトされた横縞状の照明パターンを用いて撮像した合計4枚の画像に対する上記位相演算後の重畳画像でも、欠陥604を判断することができる。従って、縦縞状の照明パターンによる重畳画像802と、横縞状の照明パターンによる重畳画像を重畳することで、欠陥604を更に顕著化できる。また、縦縞状の照明パターンによる重畳画像802と横縞状の照明パターンによる重畳画像を重畳した画像と、検査対象10と同じ縦縞状の照明パターン及び横縞状の照明パターンで照明された基準対象に対する位相演算後の重畳画像を重畳した画像とを比較した比較結果では、欠陥604が更に顕著化される。これに対し、例えば白色光で照明された検査対象10の撮像領域を撮像装置5で撮像した比較例の明視野画像803では、破線810で囲んだ領域内に存在する欠陥の有無を判断することは難しい。このように、明視野画像803を用いた検査と比較すると、本実施例によれば、透明な検査対象の表面形状等にかかわらず、検査対象の欠陥を正確に検出することができる。
本実施例によれば、上記第1実施例と同様の効果を得ることができ、透明な検査対象の表面形状等にかかわらず、検査対象の欠陥を正確に検出することができる。
図15は、第3実施例における検査処理の一例を説明するフローチャートである。本実施例では、図1に示す上記第1実施例の検査システム1−1を用いても、図13に示す上記第2実施例の検査システム1−2を用いても良い。図15に示す処理は、例えば図2に示すCPU101により実行可能である。
図15に示すステップS11では、CPU101がコントローラ4を制御して検査対象10を支持する支持部3を予め決められた撮像位置まで移動する。なお、コントローラ4が省略されている場合は、利用者が手動で、検査対象10を予め決められた撮像位置にある支持部3に支持させる。なお、ステップS11では、CPU101がコントローラ6を制御して撮像装置5も移動するようにしても良い。
ステップS12では、CPU101が周期的な照明パターンを生成する。本実施例では、CPU101は、照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類の色の異なるパターンについて生成する。互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類の色の異なるパターンは、特に限定されないが、例えば互いに異なる方向に沿って延在する縞状の第1の色の第1のパターン及び第1の色とは異なる第2の色の第2のパターンを含む。この場合、互いに異なる方向に沿って延在する縞状の第1の色の第1のパターン及び第2の色の第2のパターンは、互いに直交する縞状パターンであっても良い。また、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類の色の異なるパターンは、矩形状、三角状、正弦波状等のパターンであっても良い。説明の便宜上、この例では、第1のパターンが縦縞状のパターンで第1の色が青色であり、第2のパターンが横縞状のパターンで第2の色が赤色である場合について説明するが、例えば3種類の色の異なるパターンを用いる場合、三原色の赤(R)、緑(G)及び青(B)を用いて各色成分の分離を容易にしても良い。
ステップS13では、CPU101が同じ位相の第1及び第2のパターンについて生成した2つの照明パターンを重ねて照明装置2の表示面に表示する。この例では、同じ位相の縦縞状の青色のパターンと横縞状の赤色のパターンについて生成した2つの照明パターンを重ねて照明装置2の表示面に表示する。
ステップS14では、CPU101がコントローラ6を制御して撮像装置5を検査対象10の撮像領域を撮像する位置まで移動して、検査対象10の撮像領域を撮像する。なお、ステップS14では、CPU101がコントローラ4を制御して、支持部3も移動するようにしても良い。また、コントローラ6が省略されている場合は、利用者が手動で、撮像装置5を検査対象10の撮像領域を撮像する位置まで移動しても良い。
CPU101は、第1及び第2のパターンについて生成した同じ位相の2つの照明パターンを重ねて照明装置2の表示面に表示させる指示を照明装置2に出力するステップS13の処理と、このように第1及び第2のパターン毎に生成した同じ位相の2つの照明パターンを重ねて照明された検査対象10の画像を撮像して撮像画像を取得させる指示を撮像装置5に出力するステップS14の処理を同期する。つまり、CPU101は、照明装置2と撮像装置5の動作を同期させる同期制御を行う。これにより、照明装置2は、第1及び第2のパターン毎に生成した同じ位相の2つの照明パターンを重ねて検査対象10を照明し、撮像装置5は、このように照明された検査対象10の画像を撮像する。この例では、撮像装置5が撮像した撮像画像は、コントローラ6を介して制御装置7に供給されるが、制御装置7に直接供給されても良い。
ステップS15では、CPU101が生成した全ての位相の照明パターンについて、同じ位相の2つの照明パターンを重ねて照明された検査対象10の画像を撮像したか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS13へ戻り、判定結果がYESであると処理はステップS16へ進む。これにより、第1及び第2のパターン毎に生成した同じ位相の2つの照射パターン重ねて、各位相毎に照明装置2の表示面に表示すると共に、2つの照明パターンを各位相毎に重ねて照明された検査対象10の画像を全ての位相について撮像すると、処理はステップS16へ進む。
ステップS16では、CPU101が各位相で撮像された検査対象10の撮像画像から、一方では青色成分を分離して、分離された青色成分の撮像画像の明るさの振幅変化(即ち、縦縞状のパターンで照明された検査対象10の撮像画像の明るさの振幅変化)を演算して重畳し、他方では赤色成分を分離して、分離された赤色成分の撮像画像の明るさの振幅変化(即ち、横縞状のパターンで照明された検査対象10の撮像画像の明るさの振幅変化)を演算して重畳する。異なる種類(又は、色)のパターンを分離した後の処理は、上記第1実施例又は上記第2実施例の処理と同様であり、例えば図4と共に説明した撮像画像504,506の処理と同様で良い。
ステップS17では、CPU101が検査対象10のうち検査するべき全ての撮像領域を撮像したか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS12へ戻り、判定結果がYESであると処理はステップS18へ進む。なお、検査対象10のうち検査するべき全ての撮像領域を1回の撮像処理で撮像可能な場合には、ステップS17の処理は省略可能である。
ステップS18では、CPU101がステップS16で重畳した撮像画像の明るさの振幅変化と、メモリ102に格納された、基準対象に対して各種類のパターン毎に予め演算して重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、例えば振幅変化の差が閾値以上であると、検査対象10の欠陥を検出する。基準対象とは、予め検査済みであり、欠陥を有さない検査対象10と同一の透明部材の良品である。
ステップS19では、CPU101が検査対象10の検査を終了するか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS11へ戻り、判定結果がYESであると処理はステップS10へ進む。検査対象10の検査を終了する場合は、例えば利用者が入出力装置8から制御装置7(又は、コンピュータ100)に検査終了の命令を入力すれば良い。
ステップS20では、CPU101がステップS9で比較した結果、即ち、検査対象10の欠陥が検出されたか否かの結果出力を、入出力装置8に出力し、検査処理は終了する。
図16は、第3実施例における検査対象の撮像画像に対する演算処理の一例を説明する図である。図16中、図10と同一部分には同一符号を付し、その説明は省略する。この例では、検査対象10の撮像領域501に、実際には線状欠陥502,503が存在する。
そこで、本実施例では、CPU101は、ステップS13で同じ位相の縦縞状の青色のパターン901と横縞状の赤色のパターン902とを重ねた照明パターン903を照明装置2の表示面に表示する。また、CPU101は、ステップS14で撮像装置5により照明パターン903で照明された検査対象10の画像を撮像する。この例では、4つの各位相で撮像された検査対象10の撮像画像から、一方では青色成分を分離して、分離された青色成分の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して重畳し、他方では赤色成分を分離して、分離された赤色成分の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して重畳する。青色成分を分離することで、4つの位相の照明パターンについて撮像した撮像画像504の如き画像に基づき、上記の如き位相演算を行うことで、演算後の画像505から線状欠陥502を検出することができる。また、青色成分を分離することで、4つの位相の照明パターンについて撮像した撮像画像506の如き画像に基づき、上記の如き位相演算を行うことで、演算後の画像507から線状欠陥502を検出することができる。演算後の画像505,507を重畳することで、線状欠陥502,503の両方を正確に検出することができる。
本実施例によれば、上記第1実施例又は上記第2実施例と同様の効果を得ることができ、透明な検査対象の表面形状等にかかわらず、検査対象の欠陥を正確に検出することができる。また、本実施例では、各位相毎に第1及び第2のパターンを重ねた照明パターンで照明された検査対象を撮像するので、各位相毎に第1のパターンで照明された検査対象と第2のパターンで照明された検査対象を夫々撮像する上記第1実施例又は第2実施例と比べると、撮像する画像数を減らせる分、検査をより高速に行うことができる。
上記の各実施例によれば、透明な検査対象の表面形状等にかかわらず、検査対象の欠陥を正確に検出することができ、検査が検査対象の背景や周囲の影響を受けることなく、安定な感度で欠陥検出できる。更に、検査を高速に行え、検査のコストも低減できる。
以上の実施例を含む実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
(付記1)
照明装置が、照明パターンを表示面に表示し、
撮像装置が、前記表示面に表示された前記照明パターンにより照明された透明な検査対象の画像を撮像し、
プロセッサが、照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンについて生成し、各種類のパターン毎に、前記複数の照明パターンを前記照明装置の前記表示面に表示させる指示を前記照明装置に出力すると共に、前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の画像を各種類のパターン毎に撮像して撮像画像を取得させる指示を前記撮像装置に出力し、前記照明装置と前記撮像装置の動作を同期させる同期制御を行い、
前記プロセッサが、各種類のパターン毎に前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して重畳し、
前記プロセッサが、重畳した前記撮像画像の明るさの振幅変化と、基準対象に対して各種類のパターン毎に予め演算して重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、前記検査対象の欠陥を検出する、
ことを特徴とする、検査方法。
(付記2)
前記照明装置の表示面を、前記複数の照明パターンを投影する透過型スクリーン又は表示装置の表示画面で形成することを特徴とする、付記1記載の検査方法。
(付記3)
前記照明装置が、前記検査対象の第1の表面側から前記照明パターンにより前記検査対象を照明し、
前記撮像装置が、前記検査対象を透過した前記照明パターンを含む前記撮像画像を前記検査対象の前記第1の表面側とは反対側の第2の表面側から撮像する、
ことを特徴とする、付記1又は2記載の検査方法。
(付記4)
前記照明装置が、前記検査対象の一方の表面側から前記照明パターンにより前記検査対象を照明し、
前記撮像装置が、前記検査対象に映り込んだ前記照明パターンを含む前記撮像画像を前記一方の表面側から撮像する、
ことを特徴とする、付記1又は2記載の検査方法。
(付記5)
前記互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンは、互いに異なる方向に沿って周期的な縞状の第1のパターン及び第2のパターンを含むことを特徴とする、付記1乃至4のいずれか1項記載の検査方法。
(付記6)
前記互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンは、互いに異なる色の第1のパターン及び第2のパターンを含むことを特徴とする、付記1乃至5のいずれか1項記載の検査方法。
(付記7)
前記プロセッサが、前記第1及び第2のパターンの位相を順次一定値だけシフトして同じ位相で同時に前記検査対象を照明し、各位相の前記第1及び第2のパターンで同時に照明された前記検査対象の画像を撮像するように、前記同期制御を行い、
前記プロセッサが、各位相の前記第1及び第2のパターンで照明された前記検査対象の撮像画像から、前記第1のパターンの色成分を分離して前記撮像画像の明るさの第1の振幅変化を演算すると共に、前記第2のパターンの色成分を分離して前記撮像画像の明るさの第2の振幅変化を演算し、
前記プロセッサが、前記第1及び第2の振幅変化を重畳した前記撮像画像の明るさの振幅変化と、予め演算された、前記基準対象に対して明るさの第1及び第2の振幅変化を重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、前記検査対象の欠陥を検出する、
ことを特徴とする、付記6記載の検査方法。
(付記8)
照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンについて生成する生成手段と、
各種類のパターン毎に、前記複数の照明パターンを照明装置の表示面に表示させる指示を前記照明装置に出力すると共に、前記複数の照明パターンで照明された検査対象の画像を各種類のパターン毎に撮像して撮像画像を取得させる指示を撮像装置に出力し、前記照明装置と前記撮像装置の動作を同期させる同期制御を行う制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、
各種類のパターン毎に前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して重畳し、
重畳した前記撮像画像の明るさの振幅変化と、基準対象に対して各種類のパターン毎に予め演算して重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、前記検査対象の欠陥を検出する、
ことを特徴とする、検査装置。
(付記9)
前記検査対象は、前記検査対象の第1の表面側から前記照明装置により前記照明パターンを照明され、
前記検査対象を透過した前記照明パターンを含む前記撮像画像は、前記第1の表面側とは反対側の前記検査対象の第2の表面側から前記撮像装置により撮像される、
ことを特徴とする、付記8記載の検査装置。
(付記10)
前記互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンは、互いに異なる方向に沿って周期的な縞状の第1のパターン及び第2のパターンを含むことを特徴とする、付記8又は9記載の検査装置。
(付記11)
前記互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンは、互いに異なる色の第1のパターン及び第2のパターンを含むことを特徴とする、付記8乃至10のいずれか1項記載の検査装置。
(付記12)
照明パターンを表示面に表示する照明装置と、
透明な検査対象を支持する支持部と、
前記表示面に表示された前記照明パターンにより照明された前記検査対象の画像を撮像する撮像装置と、
照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンについて生成し、各種類のパターン毎に、前記複数の照明パターンを前記照明装置の前記表示面に表示させる指示を前記照明装置に出力すると共に、前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の画像を各種類のパターン毎に撮像して撮像画像を取得させる指示を前記撮像装置に出力し、前記照明装置と前記撮像装置の動作を同期させる同期制御を行う制御装置と、
を備え、
前記制御装置は、
各種類のパターン毎に前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して重畳し、
重畳した前記撮像画像の明るさの振幅変化と、基準対象に対して各種類のパターン毎に予め演算して重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、前記検査対象の欠陥を検出する、
ことを特徴とする、検査システム。
(付記13)
前記支持部及び前記撮像装置のうち少なくとも一方を移動する移動手段を更に備え、
前記制御装置は、前記移動手段を制御して前記支持部及び前記撮像装置の相対位置を変化させることで、前記撮像装置が撮像する前記検査対象の撮像領域を移動することを特徴とする、付記12記載の検査システム。
(付記14)
前記照明装置は、前記検査対象の第1の表面側から前記照明パターンにより前記検査対象を照明し、
前記撮像装置は、前記検査対象を透過した前記照明パターンを含む前記撮像画像を前記検査対象の前記第1の表面側とは反対側の第2の表面側から撮像する、
ことを特徴とする、付記12又は13記載の検査システム。
(付記15)
前記互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンは、互いに異なる方向に沿って周期的な縞状の第1のパターン及び第2のパターンを含むことを特徴とする、付記12乃至14のいずれか1項記載の検査システム。
(付記16)
前記互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンは、互いに異なる色の第1のパターン及び第2のパターンを含むことを特徴とする、付記12乃至15のいずれか1項記載の検査システム。
(付記17)
照明パターンを照明装置の表示面に表示し、
前記表示面に表示された前記照明パターンにより照明された透明な検査対象の画像を撮像装置により撮像し、
照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンについて生成し、
各種類のパターン毎に、前記複数の照明パターンを前記照明装置の前記表示面に表示させる指示を前記照明装置に出力すると共に、前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の画像を各種類のパターン毎に撮像して撮像画像を取得させる指示を前記撮像装置に出力して、前記照明装置と前記撮像装置の動作を同期させる同期制御を行い、
各種類のパターン毎に前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して重畳し、
重畳した前記撮像画像の明るさの振幅変化と、基準対象に対して各種類のパターン毎に予め演算して重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、前記検査対象の欠陥を検出する、
処理をコンピュータに実行させるためのプログラム。
(付記18)
前記照明装置の前記表示面に表示する処理は、前記検査対象の第1の表面側から前記照明パターンにより前記検査対象を照明し、
前記検査対象の画像を撮像装置で撮像する処理は、前記検査対象を透過した前記照明パターンを含む前記撮像画像を前記検査対象の前記第1の表面側とは反対側の第2の表面側から撮像する、
ことを特徴とする、付記17記載のプログラム。
(付記19)
前記互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンは、互いに異なる方向に沿って周期的な縞状の第1のパターン及び第2のパターンを含むことを特徴とする、付記17又は18記載のプログラム。
(付記20)
前記互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンは、互いに異なる色の第1のパターン及び第2のパターンを含むことを特徴とする、付記17乃至19のいずれか1項記載のプログラム。
以上、開示の検査方法、装置、システム及びプログラムを実施例により説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形及び改良が可能であることは言うまでもない。
1−1,1−2 検査システム
2 照明装置
3 支持部
4,6 コントローラ
5 撮像装置
7 制御装置
8 入出力装置
10 検査対象

Claims (10)

  1. 照明装置が、照明パターンを表示面に表示し、
    撮像装置が、前記表示面に表示された前記照明パターンにより照明された透明な検査対象の画像を撮像し、
    プロセッサが、照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンについて生成し、各種類のパターン毎に、前記複数の照明パターンを前記照明装置の前記表示面に表示させる指示を前記照明装置に出力すると共に、前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の画像を各種類のパターン毎に撮像して撮像画像を取得させる指示を前記撮像装置に出力し、前記照明装置と前記撮像装置の動作を同期させる同期制御を行い、
    前記プロセッサが、各種類のパターン毎に前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して重畳し、
    前記プロセッサが、重畳した前記撮像画像の明るさの振幅変化と、基準対象に対して各種類のパターン毎に予め演算して重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、前記検査対象の欠陥を検出する、
    ことを特徴とする、検査方法。
  2. 前記照明装置の表示面を、前記複数の照明パターンを投影する透過型スクリーン又は表示装置の表示画面で形成することを特徴とする、請求項1記載の検査方法。
  3. 前記照明装置が、前記検査対象の第1の表面側から前記照明パターンにより前記検査対象を照明し、
    前記撮像装置が、前記検査対象を透過した前記照明パターンを含む前記撮像画像を前記検査対象の前記第1の表面側とは反対側の第2の表面側から撮像する、
    ことを特徴とする、請求項1又は2記載の検査方法。
  4. 前記照明装置が、前記検査対象の一方の表面側から前記照明パターンにより前記検査対象を照明し、
    前記撮像装置が、前記検査対象に映り込んだ前記照明パターンを含む前記撮像画像を前記一方の表面側から撮像する、
    ことを特徴とする、請求項1又は2記載の検査方法。
  5. 前記互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンは、互いに異なる方向に沿って周期的な縞状の第1のパターン及び第2のパターンを含むことを特徴とする、請求項1乃至4のいずれか1項記載の検査方法。
  6. 前記互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンは、互いに異なる色の第1のパターン及び第2のパターンを含むことを特徴とする、請求項1乃至5のいずれか1項記載の検査方法。
  7. 前記プロセッサが、前記第1及び第2のパターンの位相を順次一定値だけシフトして同じ位相で同時に前記検査対象を照明し、各位相の前記第1及び第2のパターンで同時に照明された前記検査対象の画像を撮像するように、前記同期制御を行い、
    前記プロセッサが、各位相の前記第1及び第2のパターンで照明された前記検査対象の撮像画像から、前記第1のパターンの色成分を分離して前記撮像画像の明るさの第1の振幅変化を演算すると共に、前記第2のパターンの色成分を分離して前記撮像画像の明るさの第2の振幅変化を演算し、
    前記プロセッサが、前記第1及び第2の振幅変化を重畳した前記撮像画像の明るさの振幅変化と、予め演算された、前記基準対象に対して明るさの第1及び第2の振幅変化を重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、前記検査対象の欠陥を検出する、
    ことを特徴とする、請求項6記載の検査方法。
  8. 照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンについて生成する生成手段と、
    各種類のパターン毎に、前記複数の照明パターンを照明装置の表示面に表示させる指示を前記照明装置に出力すると共に、前記複数の照明パターンで照明された検査対象の画像を各種類のパターン毎に撮像して撮像画像を取得させる指示を撮像装置に出力し、前記照明装置と前記撮像装置の動作を同期させる同期制御を行う制御手段と、
    を備え、
    前記制御手段は、
    各種類のパターン毎に前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して重畳し、
    重畳した前記撮像画像の明るさの振幅変化と、基準対象に対して各種類のパターン毎に予め演算して重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、前記検査対象の欠陥を検出する、
    ことを特徴とする、検査装置。
  9. 照明パターンを表示面に表示する照明装置と、
    透明な検査対象を支持する支持部と、
    前記表示面に表示された前記照明パターンにより照明された前記検査対象の画像を撮像する撮像装置と、
    照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンについて生成し、各種類のパターン毎に、前記複数の照明パターンを前記照明装置の前記表示面に表示させる指示を前記照明装置に出力すると共に、前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の画像を各種類のパターン毎に撮像して撮像画像を取得させる指示を前記撮像装置に出力し、前記照明装置と前記撮像装置の動作を同期させる同期制御を行う制御装置と、
    を備え、
    前記制御装置は、
    各種類のパターン毎に前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して重畳し、
    重畳した前記撮像画像の明るさの振幅変化と、基準対象に対して各種類のパターン毎に予め演算して重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、前記検査対象の欠陥を検出する、
    ことを特徴とする、検査システム。
  10. 照明パターンを照明装置の表示面に表示し、
    前記表示面に表示された前記照明パターンにより照明された透明な検査対象の画像を撮像装置により撮像し、
    照射強度の位相差が一定である複数の照明パターンを、互いに異なる方向に沿って周期的な少なくとも2種類のパターンについて生成し、
    各種類のパターン毎に、前記複数の照明パターンを前記照明装置の前記表示面に表示させる指示を前記照明装置に出力すると共に、前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の画像を各種類のパターン毎に撮像して撮像画像を取得させる指示を前記撮像装置に出力して、前記照明装置と前記撮像装置の動作を同期させる同期制御を行い、
    各種類のパターン毎に前記複数の照明パターンで照明された前記検査対象の撮像画像の明るさの振幅変化を演算して重畳し、
    重畳した前記撮像画像の明るさの振幅変化と、基準対象に対して各種類のパターン毎に予め演算して重畳した撮像画像の明るさの振幅変化とを比較した結果に基づいて、前記検査対象の欠陥を検出する、
    処理をコンピュータに実行させるためのプログラム。
JP2017180358A 2017-09-12 2017-09-20 検査方法、装置、システム及びプログラム Active JP6969252B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017174955 2017-09-12
JP2017174955 2017-09-12

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019053020A true JP2019053020A (ja) 2019-04-04
JP6969252B2 JP6969252B2 (ja) 2021-11-24

Family

ID=66014672

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017180358A Active JP6969252B2 (ja) 2017-09-12 2017-09-20 検査方法、装置、システム及びプログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6969252B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020101486A (ja) * 2018-12-25 2020-07-02 アイシン精機株式会社 検査装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000018932A (ja) * 1998-04-27 2000-01-21 Asahi Glass Co Ltd 被検物の欠点検査方法および検査装置
WO2010117004A1 (ja) * 2009-04-09 2010-10-14 旭硝子株式会社 光透過性板状物のリーム検出方法
JP2012230005A (ja) * 2011-04-26 2012-11-22 Fujitsu Ltd 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP2013108944A (ja) * 2011-11-24 2013-06-06 Fujitsu Ltd 表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法
JP2013113657A (ja) * 2011-11-28 2013-06-10 Fujitsu Ltd 表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置
JP2014002125A (ja) * 2012-06-21 2014-01-09 Fujitsu Ltd 検査方法及び検査装置
US20150204797A1 (en) * 2012-07-23 2015-07-23 Msc & Sgcc Method and device for detecting, in particular, refracting defects
JP2016109463A (ja) * 2014-12-02 2016-06-20 リコーエレメックス株式会社 検査システム、及び検査方法
JP2017101976A (ja) * 2015-11-30 2017-06-08 リコーエレメックス株式会社 検査システム、及び検査方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000018932A (ja) * 1998-04-27 2000-01-21 Asahi Glass Co Ltd 被検物の欠点検査方法および検査装置
WO2010117004A1 (ja) * 2009-04-09 2010-10-14 旭硝子株式会社 光透過性板状物のリーム検出方法
JP2012230005A (ja) * 2011-04-26 2012-11-22 Fujitsu Ltd 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP2013108944A (ja) * 2011-11-24 2013-06-06 Fujitsu Ltd 表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法
JP2013113657A (ja) * 2011-11-28 2013-06-10 Fujitsu Ltd 表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置
JP2014002125A (ja) * 2012-06-21 2014-01-09 Fujitsu Ltd 検査方法及び検査装置
US20150204797A1 (en) * 2012-07-23 2015-07-23 Msc & Sgcc Method and device for detecting, in particular, refracting defects
JP2016109463A (ja) * 2014-12-02 2016-06-20 リコーエレメックス株式会社 検査システム、及び検査方法
JP2017101976A (ja) * 2015-11-30 2017-06-08 リコーエレメックス株式会社 検査システム、及び検査方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020101486A (ja) * 2018-12-25 2020-07-02 アイシン精機株式会社 検査装置
JP7314508B2 (ja) 2018-12-25 2023-07-26 株式会社アイシン 検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP6969252B2 (ja) 2021-11-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10724960B2 (en) Inspection system and inspection method
JP6507653B2 (ja) 検査装置及び検査装置の制御方法
US10430940B2 (en) Inspection system and inspection method
JP2012242364A (ja) 内視鏡装置および計測方法
JP2012239834A (ja) 内視鏡装置
JP5741186B2 (ja) 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
US11016613B2 (en) Image recognition device, image recognition method and image recognition unit
JP5790446B2 (ja) 表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置
JP2016011857A (ja) 基板検査装置及びその制御方法
JP2012127934A (ja) 検査方法及び検査装置
JP2019053020A (ja) 検査方法、装置、システム及びプログラム
CN212845064U (zh) 一种图纹照明检测系统
JP6927294B2 (ja) 計測装置、計測方法及び計測プログラム
JP5895733B2 (ja) 表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法
JP2009139365A (ja) 透光性物品の欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP6032870B2 (ja) 計測方法
JP2013101028A (ja) 油漏れ検出装置
TWI583932B (zh) 量測鏡頭光學品質的裝置
JP7006392B2 (ja) 検査方法、装置、システム及びプログラム
JP6488874B2 (ja) 表面検査装置及び表面検査方法
US20230306575A1 (en) Defect detection device
WO2018198828A1 (ja) 欠陥検査用画像の生成装置および欠陥検査用画像の生成方法
KR101056392B1 (ko) 표면 검사방법 및 장치
JP2014038015A (ja) 三次元計測装置
JP2007285753A (ja) 欠陥検出方法および欠陥検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200611

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210420

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210622

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210804

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210928

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20211011

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6969252

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150