JP7314508B2 - 検査装置 - Google Patents
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Description
また、このような構成とすれば、検査パターンを容易に作成することができるので、検査パターンの作製に係る演算負荷の増大を抑制できる。
(1)検査パターンにおける暗い部分の輝度値を大きくする
(2)検査パターンにおける明るい部分の輝度値を小さくする
(3)検査パターンにおける暗い部分の輝度値を大きくし、明るい部分の輝度値を小さくする
上記実施形態では、第2領域Sは、第1領域Fの夫々を彩色した複数の色のうち、2つの色を混ぜた色で彩色されるとして説明したが、第2領域Sは、第1領域Fの夫々を彩色した複数の色のうち、3つ以上の色を混ぜた色で彩色することも可能である。具体的には、赤、緑、青を用いる場合には、2色を混ぜた黄、シアン、マジェンタと共に、3色を混ぜた白を用いるように第1領域Fと第2領域Sとを構成することも可能である。
2:検査対象物
10:検査パターン作製部
11:縞状パターン作製部
12:彩色済縞状パターン作製部
13:混色済縞状パターン作製部
20:照射部
30:撮像画像取得部
31:撮像画像
40:判定部
F:第1領域
S:第2領域
Claims (3)
- 互いに異なる色で彩色された複数の第1領域と、前記第1領域の夫々を彩色した複数の色のうち、少なくとも2つの色を混ぜた色である混色で彩色された複数の第2領域とを有し、前記複数の第1領域の夫々と前記複数の第2領域の夫々とが交互に並ぶ検査パターンを作製する検査パターン作製部と、
前記検査パターンを予め設定された移動量だけスライド移動しながら検査対象物の表面に照射する照射部と、
前記照射部により前記検査パターンが照射された前記検査対象物の表面を撮像した撮像画像を取得する撮像画像取得部と、
取得された前記撮像画像を前記複数の色の夫々の色成分毎に分離した色成分画像を生成し、当該色成分画像に基づき前記検査対象物の表面の欠陥の有無を判定する判定部と、
を備え、
前記検査パターン作製部は、
第1パターンと第2パターンとが交互に並ぶ縞状パターンであって、前記第1パターン及び前記第2パターンの並び方向に沿って予め設定された量だけずらした前記複数の色の数に応じた複数の縞状パターンを作製する縞状パターン作製部と、
前記複数の縞状パターン毎に前記互いに異なる色で、夫々の前記第1パターンを彩色した彩色済縞状パターンを作製する彩色済縞状パターン作製部と、
夫々の前記彩色済縞状パターンを積層した場合において、前記第1パターンが互いに重複していない領域は当該第1パターンに彩色されている色で彩色した前記第1領域とし、前記第1パターンが互いに重複している領域は当該重複している第1パターンの夫々に彩色されている色を混ぜた色で彩色した前記第2領域とした混色済縞状パターンを前記検査パターンとして作製する混色済縞状パターン作製部と、を備え、
前記予め設定された量は、前記第1パターンの前記並び方向に沿う長さにおける、前記複数の色の数から1を減じた数を、当該色の数で除した値の量である検査装置。 - 前記第1領域と前記第2領域とは、前記スライド移動に沿う方向の長さが互いに等しい請求項1に記載の検査装置。
- 前記複数の色は、赤、緑、及び青であり、
前記混色は、黄、シアン、及びマジェンタである請求項1又は2に記載の検査装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018240895A JP7314508B2 (ja) | 2018-12-25 | 2018-12-25 | 検査装置 |
US16/725,073 US10887501B2 (en) | 2018-12-25 | 2019-12-23 | Inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018240895A JP7314508B2 (ja) | 2018-12-25 | 2018-12-25 | 検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020101486A JP2020101486A (ja) | 2020-07-02 |
JP7314508B2 true JP7314508B2 (ja) | 2023-07-26 |
Family
ID=71097989
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018240895A Active JP7314508B2 (ja) | 2018-12-25 | 2018-12-25 | 検査装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10887501B2 (ja) |
JP (1) | JP7314508B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11190684B2 (en) * | 2018-03-30 | 2021-11-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus, image processing method, and storage medium |
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JP7003502B2 (ja) | 2017-09-04 | 2022-01-20 | 株式会社アイシン | 検査装置 |
-
2018
- 2018-12-25 JP JP2018240895A patent/JP7314508B2/ja active Active
-
2019
- 2019-12-23 US US16/725,073 patent/US10887501B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2020101486A (ja) | 2020-07-02 |
US20200204714A1 (en) | 2020-06-25 |
US10887501B2 (en) | 2021-01-05 |
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