JP2019049538A5 - - Google Patents

Description

光学アライメントプレート３２０は光学センサ３１６のための多数の読み取り位置を含み得る。図３に示す形態において、光学アライメントプレート３２０は３つの読み取り位置を含む。特に、第１読み取り位置３２６は透明チップ２０８内のサンプルの発光読み取りのためであり得る。第２読み取り位置３２８は実質的に何もなく、暗電流か他の電気的背景測定が得られることを可能とする閉じた位置を可能にさせる。第３読み取り位置３３０は光ファイバケーブルを通して伝送される蛍光読み取りのためであり得る。

サンプルからの発光信号が極めて小さいとき、光電子増倍管（ＰＭＴ）のような高感度光学検出器が用いられ得る。第１の読み取り位置３２６、すなわち発光読み取り位置において、ＰＭＴは透明チップ２０８内のサンプルに近接しており、そのためサンプルから放射されるごく少量の発光フォトンを受容し得る。第３読み取り位置３３０、すなわち、蛍光読み取り位置において、ＰＭＴは受け入れファイバ束の一端に近接し、チップからの発せられる放射光の大部分を捕捉する。蛍光及び発光読み取り位置に加えて、ＰＭＴは、暗電流及び他の電気的背景測定結果が得られる第２の読み取り位置３２８、すなわち光学的に隔離された位置に配置され得る。

Claims (20)

1. 内部領域を含むハウジングと、
   前記ハウジングの前記内部領域内で光を通さない様式でサンプル位置に流体サンプルを保持するように構成された容器と、
   前記容器内の前記流体サンプルに光を放射するように構成された光源と、
   前記流体サンプルが前記サンプル位置に静止したままで、異なるセンサ位置の間で移動するように構成された光学センサと、
   を備え、
   前記異なるセンサ位置は、（ｉ）前記流体サンプルの発光読み取りを取得するための第１のセンサ位置、（ｉｉ）暗電流又は他の背景測定を取得するための第２のセンサ位置、及び（ｉｉｉ）前記流体サンプルの蛍光読み取りを取得するための第３のセンサ位置の少なくとも２つを含む、
   光学読み取りサブアセンブリ。
2. 前記異なるセンサ位置は、前記第１のセンサ位置、前記第２のセンサ位置及び前記第３のセンサ位置のそれぞれを含む、
   請求項１に記載の光学読み取りサブアセンブリ。
3. 前記光学センサは、前記異なるセンサ位置の間で前記光学センサを移動する機構に取り付けられている、
   請求項１に記載の光学読み取りサブアセンブリ。
4. 前記機構は、前記異なるセンサ位置の間で前記光学センサを旋回する、
   請求項３に記載の光学読み取りサブアセンブリ。
5. 前記機構は、カムを含む、
   請求項３に記載の光学読み取りサブアセンブリ。
6. アライメントプレートを含み、
   前記光学センサは、前記異なるセンサ位置の間で移動するために前記アライメントプレートに沿って移動する、
   請求項１に記載の光学読み取りサブアセンブリ。
7. 前記容器は、ピペットである、
   請求項１に記載の光学読み取りサブアセンブリ。
8. 内部領域を含むハウジングと、
   前記ハウジングの前記内部領域内で光を通さない様式でサンプル位置に流体サンプルを保持するように構成された容器と、
   前記容器内の流体サンプルに光を放射するように構成された光源と、
   前記流体サンプルが前記サンプル位置に静止したままで、発光読み取りを取得するための第１のセンサ位置と、蛍光読み取りを取得するための第２のセンサ位置との間で移動するように構成された光学センサと、
   を備える光学読み取りサブアセンブリ。
9. 前記光学センサは、前記第１のセンサ位置及び前記第２のセンサ位置の間で前記光学センサを移動する機構に取り付けられている、
   請求項８に記載の光学読み取りサブアセンブリ。
10. アライメントプレートを含み、
    前記光学センサは、前記第１のセンサ位置及び前記第２のセンサ位置の間で移動するために前記アライメントプレートに沿って移動する、
    請求項８に記載の光学読み取りサブアセンブリ。
11. 前記光学センサは、前記アライメントプレートに沿って前記光学センサを移動する機構に取り付けられている、
    請求項１０に記載の光学読み取りサブアセンブリ。
12. 前記光学センサは、暗電流又は他の背景測定を取得するようにさらに構成されている、
    請求項８に記載の光学読み取りサブアセンブリ。
13. 前記光学センサは、前記流体サンプルが前記サンプル位置に静止したまま、第３のセンサ位置で暗電流又は他の背景測定を取得するように構成されている、
    請求項１２に記載の光学読み取りサブアセンブリ。
14. 前記容器は、ピペットである、
    請求項８に記載の光学読み取りサブアセンブリ。
15. 流体サンプルを光学的に分析する方法であって、
    光源及び光学センサに近接している光を通さない領域に流体サンプルを配置することと、
    前記流体サンプルに前記光源からの光を放射することと、
    第１の位置にある前記光学センサで前記流体サンプルの発光読み取りを取得することと、
    第２の位置に前記光学センサを移動することと、
    前記光学センサが前記第２の位置にある間に前記流体サンプルの蛍光読み取りを取得することと、
    を含む方法。
16. 前記蛍光読み取りを取得することは、前記光学センサが前記第２の位置にある間に、前記光学センサに放射光を伝送することを含む、
    請求項１５に記載の方法。
17. 前記光学センサがアライメントプレートにある第１の貫通孔に配置された前記第１の位置と、前記光学センサが前記アライメントプレートにある第２の貫通孔に配置された前記第２の位置との間で移動するために、前記アライメントプレートに沿って前記光学センサを移動することを含む、
    請求項１６に記載の方法。
18. 前記光学センサを移動することは、前記第２の位置に前記光学センサを旋回することを含む、
    請求項１５に記載の方法。
19. 前記光を通さない領域に前記流体サンプルを配置することは、前記光を通さない領域内に前記流体サンプルを含むピペットを下ろすことを含む、
    請求項１５に記載の方法。
20. 暗電流又は他の背景測定を取得するために第３の位置に前記光学センサを移動することを含む、
    請求項１５に記載の方法。