JP2019046920A - 厚膜抵抗体ペースト及び厚膜抵抗体ペーストの抵抗器への使用 - Google Patents

厚膜抵抗体ペースト及び厚膜抵抗体ペーストの抵抗器への使用 Download PDF

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Abstract

【課題】低抵抗値および低TCRを得ることができ、かつ、耐熱性を併せ持つ厚膜抵抗体を形成することが可能な厚膜抵抗体ペーストを提供する。
【解決手段】銅粉末およびマンガン粉末を含む導電性金属粉末と、ガラス粉末と、有機ビヒクルとを含有する抵抗体ペーストであって、前記ガラス粉末はアルカリ土類金属を主に含むことを特徴とする厚膜抵抗体ペースト。
【選択図】図2

Description

本発明は、厚膜抵抗体ペースト及び厚膜抵抗体ペーストの抵抗器への使用に関する。
低抵抗特性を得るための抵抗ペースト組成物として、以下の先行文献がある。
特許文献1は、Cu系導体を配置したセラミック基板の上に、銅粉とニッケル粉の混合粉(Cu/Ni=60/40〜80/20)からなる導電性粉末と、ガラス粉末および銅酸化物粉末を、有機樹脂および溶剤からなるビヒクルに分散した抵抗体ペースト技術を開示する。
特許文献2は、低抵抗値(100mΩ以下)と低TCR化(300ppm/℃以下)を実現するため、少なくとも銅を含有する銅系導電性金属粉末と、銀粉末と、ガラスフリットと、有機ビヒクルからなる超小形チップ抵抗器用の抵抗体ペーストを開示する。
特開平11−288801号公報 特開2007−123301号公報
上記のような、従来の抵抗ペースト組成物を用いて製造した抵抗器のシート抵抗値は50mΩ/□程度である。これよりも低抵抗領域(例えば、約20mΩ/□程度の抵抗領域)を得るためには、例えば、銅系金属粉末の含有量を増加させることが考えられる。
しかしながら、銅粉末単体のTCRは極めて大きく、銅系金属粉末を増加させると厚膜抵抗体のTCRが大きくなる。従って、低抵抗値・低TCRを両立させることは難しかった。
本発明は、低抵抗値および低TCRを得ることができ、かつ、耐熱性を併せ持つ厚膜抵抗体を形成することが可能な厚膜抵抗体ペーストを提供することを目的とする。
本発明は、低抵抗かつ高耐熱性の厚膜抵抗器の厚膜抵抗体ペーストであり、ガラス成分として主に酸化バリウムを含む、または酸化バリウムと酸化カルシウムの組合せを含むことを特徴とする。
本発明の一観点によれば、銅粉末およびマンガン粉末を含む導電性金属粉末と、ガラス粉末と、有機ビヒクルとを含有する抵抗体ペーストであって、前記ガラス粉末はアルカリ土類金属を主に含むことを特徴とする厚膜抵抗体ペーストが提供される。
前記ガラス粉末は、主成分のひとつとして酸化バリウムを含むことが好ましい。
前記導電性金属粉末は、平均粒径が異なる2種以上の銅粉末と、マンガン粉末との混合物からなり、前記銅粉末のうち、平均粒径が最小の銅粉末(A)と平均粒径が最大の銅粉末(B)の粒径比は、(A)/(B)≧0.4 を満たすようにすると良い。
前記導電性金属粉末の総量を100重量%としたとき、銅粉末が80〜90重量%、マンガン粉末が5〜20重量%であり、前記銅粉末は、平均粒径が1〜5μmの銅粉末を40重量%以下、平均粒径が0.5〜2μmの銅粉末を50重量%以上含むことが好ましい。
前記導電性金属粉末は、粒形状が異なる2種以上の銅粉末と、マンガン粉末の混合物からなり、前記銅粉末は、球状の銅粉末と、薄片状の銅粉末とを含むようにすると良い。
また、本発明は、上記のいずれか1に記載の厚膜抵抗体抵抗体ペーストの厚膜抵抗体膜への使用である。
本発明によれば、低抵抗値および低TCRを得ることができ、かつ、耐熱性を併せ持つ厚膜抵抗体を形成することが可能である。
本発明の実施の形態による厚膜抵抗体ペーストを用いて抵抗体を形成した抵抗器の一構成例を示す断面図である。 厚膜抵抗体ペーストの作製方法を示すフローチャート図である。 厚膜抵抗体を有する厚膜抵抗器の製造方法を示すフローチャート図である。
本明細書において耐熱性とは高温放置下で抵抗値変化が少ないことを意味する。
以下において、本発明の実施の形態による厚膜抵抗体ペースト技術について、図面等を参照しながら詳細に説明する。
まず、本発明の実施の形態による厚膜抵抗体ペースト技術における目標を明らかにする。
(1)目標値
以下においては、シート抵抗、TCR、耐熱性について、それぞれ以下の範囲を目標とする。
1−1)シート抵抗:20mΩ/□以下
1−2)TCR:100×10−6/K(100ppm/℃)
1−3)耐熱性:ΔR(%)≦±0.4%(高温放置試験の条件:155℃,1000時間または、175℃,1000時間)
(2)目標値を達成するためのポイントとなる構成
2−1)銅およびマンガンを含む導電性金属粉末と、主成分のひとつに酸化バリウムを含むガラス粉末と、有機ビヒクルとを含有する厚膜抵抗体ペーストである。
発明者の知見によると、導電性金属粉末として銅およびマンガンを含む厚膜抵抗体ペーストは、低抵抗値・低TCR特性を得るために有用な一方、高温放置下での抵抗値上昇が大きいという問題がある。これは、ガラスに主成分として含まれる酸化亜鉛(ZnO)から酸素が乖離し、マンガンと結びつくことによりマンガンが酸化されたことが影響しているものと発明者は推測した。
そこで、ガラスの主成分を、マンガンよりも酸素との結合が強いバリウム(Ba)(またはバリウム(Ba)とカルシウム(Ca)の組合せ)からなる酸化物とすることにより、マンガンの酸化を防止し、耐熱性を向上させる。
2−2)導電性金属粉末は、平均粒径が異なる2種以上の銅を含む。
発明者の知見によれば、ガラスの主成分を酸化バリウム(BaO)、または酸化バリウム(BaO)と酸化カルシウム(CaO)の組合せとすると、これらは酸化亜鉛よりも導電性金属粉末に対する濡れ性が劣る傾向にあるため、高抵抗化しやすいという問題が生じる。
しかしながら、前述の通り低抵抗化のために銅粉末を増加させるとTCRが大きくなってしまうという問題がある。
そこで、2種類以上の平均粒径の異なる銅粉末を含有することにより、金属粉末同士の接触面積を増やし、導電性を向上させることにより低抵抗化を図る。つまり、導電性金属粉末として、少なくとも平均粒径の大きい銅粉末と、平均粒径の小さい銅粉末と、マンガン粉末の3種類を含むようにする。
このようにすると、銅粉末の総量を増加させることなく低抵抗化を図ることができるため、TCRを低く抑えることができる。
2−3)2種類以上の平均粒径の銅粉末を比較したとき、平均粒径が最小の銅粉末(A)と平均粒径が最大の銅粉末(B)の粒径とは、(A)/(B)≧0.4を満たし、かつ平均粒径が最小の銅粉末は0.5〜2μmの範囲である。
平均粒径の異なる2種類以上の銅粉末は、平均粒径が最大の銅粉末と比較して、平均粒径が最小の銅粉末は0.4倍以上の大きさである(最小の平均粒径の銅粉末が小さすぎない)ことが重要である。なお、本実施の形態において、平均粒径はレーザー回析法により測定している。
粒径差が大きいほど、または、最小の平均粒径の銅粉末が小さいほど、金属粉末同士の接触面積は多くなる。
しかしながら、最小粒径よりも2倍以上大きい粒径の銅粉末を使用するとスクリーン印刷に適さない粒径となることがあり、大きい粒径の銅粉末の比率が多くなると、焼結しづらくなり、高抵抗化するおそれがある。
反対に、平均粒径が最大の銅粉末と比較して0.4倍より小さい粒径の銅粉末を使用したり、小さい粒径の比率が多くなると、厚膜抵抗体ペースト中に必要な樹脂量が多くなり、高抵抗化するおそれがある。
粒径差が小さい銅粉末同士を混合することによって、単一の粒径時よりも充填率が向上できるとともに、低抵抗化することが可能になる。
銅粉末は、球状の銅粉末と、薄片状の銅粉末を含む。
2−4)銅粉末として、薄片状(フレーク状または鱗片状)の粒子を含む。
薄片状の粒子は球状の粒子よりも焼結時に溶融しやすく、金属粉末同士の接触面積を増やし、マンガンと銅の合金化を促す。そこで、銅粉末の総量を増加させることなく導電性を向上させることができる。これにより低抵抗化を図ることができる。
図1は、本発明の実施の形態による厚膜抵抗体ペーストを用いて抵抗体を形成した抵抗器の一構成例を示す断面図である。図1に示すように、抵抗器Aは、アルミナなどの絶縁性基板1と、絶縁性基板1に形成された抵抗体11と、表面電極3a,3b、端面電極5a,5b、裏面電極7a,7bと、それらを覆うように形成された外部電極21a,21bと、抵抗体11上に形成された第1保護膜15,第2保護膜17と、を有する。
以下に、本発明の実施の形態による厚膜抵抗体ペーストについて、詳細に説明する。
(第1の実施の形態)
第1の実施の形態と第2の実施の形態とでは、銅粉末のパラメータが異なる。第1の実施の形態では、平均粒径の異なる銅粉末を用いた。
(3)厚膜抵抗体ペースト
3−1)導電性金属粉末
まず、マンガン粉末は、スクリーン印刷に適した粒径、例えば平均粒径10μm程度のものを用いる。導電性金属粉末の総量に対して、4〜13wt%の範囲で含有する。マンガン粉末は、以下の実施の形態のいずれにおいても同じものを使用した。
銅粉末の平均粒径は以下の通りである。
a)銅粉末(大粒径):平均粒径 1〜5μm
導電性金属粉末の総量に対して、4〜38wt%の範囲で含有する。タップかさ密度3.9g/cm以上であることが望ましい。
b)銅粉末(小粒径):平均粒径0.5〜2μm(大粒径に対して0.4倍以上)
導電性金属粉末の総量に対して、49〜89wt%の範囲で含有する。タップかさ密度2.7g/cm以上であることが望ましい。
3−2)ガラス粉末
ガラス粉末としては、酸化バリウム(BaO)を主に含むガラスが望ましく、硼珪酸バリウム系ガラス、硼珪酸バリウムカルシウム系ガラスを用いることができる。
酸化バリウム(BaO)を主に含むガラスの他には、カルシウム(Ca)やストロンチウム(Sr)等のアルカリ土類を主に含むガラス組成を用いることができる。或いは、これらのガラス組成に対して金属粉末との濡れ性改善のため、酸化亜鉛を含むガラス組成を使用することもできる。
尚、後述する高温放置試験では、BaO−B−SiOガラス、およびBaO/CaO−B−SiOガラスを用いた。
尚、本明細書において、BaまたはBaとCaを主に含むとは、主成分がBaOまたはBaOおよびCaOであり、その含有量がガラス成分総量に対して20〜70wt%、望ましくは30〜70wt%含まれていることを意味する。
3−3)有機ビヒクル
エポキシ、フェノール、イミド、セルロース、ブチラール、アクリル等から選択される少なくとも1種類の樹脂を、テルピネオール、エタノール、ブチルカルビトール、ブチルカルビトールアセテート等から選択される少なくとも1種類の溶剤に溶解したものである。通常使用されているものを用いることができる。
3−4)その他の添加剤
3−4−1)無機粒子
セラミックスや、上記以外の金属粉末(Ag,Cu)等を抵抗値、膜硬度、粘度等の調整のために添加することができる。一次粒子の粒径は50μmより小さいほうが望ましい。
3−4−2)銅酸化物粉体
抵抗体と絶縁性基板との密着性を向上させるために、CuOまたはCuOを添加することができる。
CuOまたはCuOは、平均粒径0.1μm〜20μmが好ましく、特に平均粒径2μm以下のものがより好ましい。添加量は、導電性金属粉末の総量に対して10wt%を超えない範囲で添加する。
(4)厚膜抵抗体ペーストの作製方法と抵抗器の製造方法
4−1)抵抗体ペーストの作製手順
図2は、厚膜抵抗体ペーストの作製方法を示すフローチャート図である。
処理を開始し(Start)、ステップS1において、原材料を混合する。例えば、導電性金属粉末(Cu,Mn)31と、ガラス組成物33と、有機ビヒクル35とを混合する。
次いで、ステップS2において、例えば三本ロールミルなどにより原材料混合物を混練・分散し、ステップS3において、例えば、ミキサーなどにより混合し、ステップS4において、厚膜抵抗体ペーストを生成する(End)。
4−2)抵抗器の製造方法
図3は、厚膜抵抗体を有する厚膜抵抗器の製造方法を示すフローチャート図である。
まず、ステップS11において、例えばアルミナ大型基板1の裏面にCu電極ペーストを塗布する。ステップS12において、スクリーン印刷でパターンを形成し約960℃で焼成することで、裏面電極7a,7bを形成する。
ステップS13において、基板1の表面にCu電極ペーストを塗布する。ステップS14において、スクリーン印刷で表面電極パターンを形成し約960℃で焼成することで、表面電極3a,3bを形成する。
なお、表面電極3a,3bと裏面電極7a,7bは同じ材料で形成することができ、同時に焼成しても良い。また、表面電極3a,3bと裏面電極7a,7bはどちらを先に形成しても良い。
ステップS15において、厚膜抵抗体ペーストを塗布する。ステップS16において、スクリーン印刷で抵抗パターンを形成し約960℃で焼成することで、抵抗体11を形成する。
次いで、ステップS17において、抵抗体11上にガラスペーストを塗布またはスクリーン印刷し、ステップS18において、約670℃で焼成することで第1保護膜15を形成する。
次いで、ステップS19において、レーザートリミングにより抵抗体11の抵抗値を調整する。
ステップS20において、第1保護膜15の全面および表面電極3a,3bの少なくとも一部を覆うように樹脂ペーストを塗布またはスクリーン印刷し、ステップS21において、第2保護膜17を形成する。
次いで、ステップS22において、基板を短冊状に分割し、ステップS23において、例えば、NiCr合金のターゲットを用いてスパッタリング法により端面電極5a,5bを形成する。
次いで、ステップS24において、短冊状に分割した基板を分割して個片化し、ステップS25において、Ni/Snの順に電解メッキを行うことで、ステップS26において、外部電極21a,21bを形成する。
以上の工程により、抵抗器Aを製造することができる。
(第2の実施の形態)
第2の実施の形態では、粒子の形状の異なる銅粉末を用いた。その他の条件は同様である。
a)銅粉末(形状が球状のもの):平均粒径は20μm以下であり、スクリーン印刷可能な範囲である。
導電性金属粉末の総量に対して、40〜89wt%の範囲で含有する。
b)銅粉末(形状が薄片状のもの):平均粒径は5〜25μmである。
導電性金属粉末の総量に対して、40〜89wt%の範囲で含有する。
その他のパラメータは同じである。
以下に、第1の実施の形態と第2の実施の形態とのそれぞれの評価結果について説明する。
(第1の実施の形態の評価結果)
(5)厚膜抵抗体ペーストの評価
次に、厚膜抵抗体ペーストの評価結果について説明する。
5−1)サンプル
アルミナ基板上にCu電極を形成し、本実施の形態による厚膜抵抗体ペーストを用いて評価用試料を作製した。評価用試料としては、厚膜抵抗体を1×50mmの長方形に形成したテストパターンを用いた。サンプル数nは各10個である。
5−2)目標値
以下に、シート抵抗、TCR、耐熱性について、目標とする範囲を示す。
a)シート抵抗:20mΩ/□以下(焼成後の膜厚20μm)
b)TCR:100×10−6/K以下(100ppm/℃)
c)耐熱性:ΔR(%)≦±0.4%(高温放置試験は155℃,1000時間または、175℃,1000時間)
Figure 2019046920
5−3)厚膜抵抗体の評価結果
表1に示すガラス組成系を用いて5種類の厚膜抵抗体ペースト(試料1〜5)を作製し、上記の工程により厚膜抵抗体のサンプルを作製した。
試料1は、SiO−B−BaO−CaO系、試料2は、BaO−SiO−B系、試料3は、BaO−B−SiO系、試料4は、B−BaO−SiO系、試料5は、BaO−SiO−B系のガラス組成系である。試料3、4には、主成分であるBaOよりも少ない量のZnOが含まれる。
評価方法としては、シート抵抗値とTCRを測定するとともに、耐熱性評価として155℃または175℃の高温環境下に1000時間放置後の抵抗値変化を見る、高温放置試験を行った。
なお、試料6に比較例として、硼硅酸亜鉛系ガラス(ZnO−B−SiO系)を用いた厚膜抵抗体ペーストで作製した厚膜抵抗体についても評価した(高温放置時間は500時間)。
評価結果を表2に示す。
Figure 2019046920
表2に示すように、BaOまたはBaOとCaOを主成分とした本実施の形態によるガラスを用いた厚膜抵抗体ペースト(試料1〜5)は、比較例(試料6)よりもTCRを低く抑えることができることがわかる。
また、高温放置試験においても、試料1〜5のいずれも、比較例(試料6)よりも抵抗値変化(ΔR)が少なく、目標値(ΔR(%)≦±0.4%)に入っており、良好な結果が得られた。
しかしながら、試料1〜6のシート抵抗を比較すると、表2の結果より、試料1〜5はシート抵抗が目標値付近の結果が得られているものの、比較例の値よりも高くなっていることがわかる。
そこで、金属粉末(銅粉末)の粒径または粒形を工夫することによりシート抵抗を下げることを検討した。
5−4)平均粒径の異なる銅粉末を用いた例
上記ガラス組成のうち、評価結果が良好であった試料1のガラス組成を用いて、導電性金属粉末としてマンガン粉末と、平均粒径が2種類の銅粉末を混合した厚膜抵抗体ペースト(試料1−1〜1−3)の評価を行った。
試料1−1は、大粒径(D50=1.7μm)の球状Cuが20g,小粒径(D50=0.79μm)の球状Cuが70g、Mnが10gのものであり、試料1−2は、大粒径(D50=1.7μm)の球状Cuが30g,小粒径(D50=0.79μm)の球状Cuが60g、Mnが10gのものであり、試料1−3は、大粒径(D50=3.0μm)の球状Cuが60g,小粒径(D50=1.3μm)の球状Cuが30g、Mnが10gのものである。
Figure 2019046920
表3に示すように、いずれの厚膜抵抗体ペーストを用いた試料においても、シート抵抗、TCR、高温放置試験の結果のいずれにおいても、目標値と比べて良い評価が得られた。
特に、試料1−3の厚膜抵抗体ペーストを用いると、シート抵抗、TCR、抵抗値変化率のいずれもバランスよく、良好な結果が得られた。これは、試料1−3においては、球形Cuの大粒径と小粒径との粒径差が比較的大きいことに加えて、タップかさ密度が高いことが影響していると推測できる。
5−5)まとめ
以上の結果から、2種類以上の平均粒径の銅粉末を用いた場合には、以下の条件を満たすことが望ましいことがわかる。
5−5−1) 平均粒径が最小の銅粉末(A)と平均粒径が最大の銅粉末(B)の粒径とは、(A)/(B)≧0.4 を満たすこと。
5−5−2) 最小の銅粉末は、平均粒径が0.5〜2μmの範囲であること。
5−5−3) 銅粉末はタップかさ密度が、3.0g/cm以上、望ましくは4.6g/cm以上であること。
5−6)2種類の銅粉末の含有量の影響
平均粒径が2種類の銅粉末の含有量比がペーストの特性に与える影響について詳細に検証するため、試料6において、2種類の銅粉末の含有量を変えたサンプル(試料7〜11)を作製し、シート抵抗とTCRの評価とを行った。
試料7は、大粒径の球状Cuが0g、小粒径の球状Cuが90gであり、試料8は、大粒径の球状Cuが9g、小粒径の球状Cuが81gであり、試料9は、大粒径の球状Cuが18g、小粒径の球状Cuが72gであり、試料10は、大粒径の球状Cuが27g、小粒径の球状Cuが63gであり、試料11は、大粒径の球状Cuが90g、小粒径の球状Cuが0gである。
Figure 2019046920
表4より、小粒径の球状Cu単独(試料7)では、TCRが92.4×10−6/Kと目標値の範囲内であるが比較的高い値となっている。これに、大粒径の球状Cuを混合することにより、シート抵抗をほとんど変えることなく、TCRを下げることができることがわかった。
とりわけ、大粒径の球状Cuを27gと小粒径の球状Cuを63g混合した厚膜抵抗体ペースト(試料10)において、最も低いシート抵抗を得ることができた。
一方で、大粒径の球状Cu単独(試料11)は、シート抵抗が16.1mΩ/□と目標値の範囲内であるが比較的高い値となった。この原因は、大粒径の球状Cuの粒径が大きいため融着(焼成)が進みにくく、CuとMnの合金化が十分に進まなかったためと推測することができる。
(第2の実施の形態の評価結果)
次に、第2の実施の形態の評価結果について説明する。
5−7)銅粉末における粒子の形状の影響
試料1のガラス組成を用いて、導電性金属粉末としてマンガン粉末と、粒形の異なる銅粉末として球状の銅粉末と、薄片状の銅粉末の2種類の銅粉末を混合した厚膜抵抗体ペースト(試料1−4〜1−8)の評価を行った。
表5に示すように、試料1−4から1−8までは、球状Cuが80g、薄片状Cuが10g、Mnが10gの試料である。但し、球状のCuと薄片状のCuの粒径を変化させている。
Figure 2019046920
試料1−5〜1−8は、いずれも本実施の形態のガラス組成を用いたことにより低抵抗(20mΩ/□以下)、低TCR(100×10−6/K以下)とすることができている。
さらに、試料1−7は、高温放置後の抵抗値変化がΔR(%)=0.01%と非常に小さく、良好な結果が得られた。
これは、薄片状Cuに加えて球状Cuとして比較的小さな粒径(D50=0.79μm)のものを用いたことにより、融着(焼成)が進み、CuとMnの合金化が促進されたことによるものと推測できる。
本発明の各実施の形態によれば、低抵抗値および低TCRを得ることができ、かつ、耐熱性を併せ持つ厚膜抵抗体を形成することが可能な厚膜抵抗体ペーストを提供することができる。ガラスを含むペーストであるため、基板との密着性が十分に確保できるため、抵抗器の抵抗体層に利用した場合に好適である。また、体積抵抗率が低く、厚膜抵抗体ペーストを用いて作製した抵抗器を低抵抗化することができる。
上記の実施の形態において、添付図面に図示されている構成等については、これらに限定されるものではなく、本発明の効果を発揮する範囲内で適宜変更することが可能である。その他、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施することが可能である。
また、本発明の各構成要素は、任意に取捨選択することができ、取捨選択した構成を具備する発明も本発明に含まれるものである。
本発明は、厚膜抵抗体ペーストに利用可能である。
A…抵抗器
1…絶縁性基板
3a,3b…表面電極
5a,5b…端面電極
7a,7b…裏面電極
11…抵抗体
15…第1保護膜
17…第2保護膜
21a,21b…外部電極

Claims (6)

  1. 銅粉末およびマンガン粉末を含む導電性金属粉末と、ガラス粉末と、有機ビヒクルとを含有する抵抗体ペーストであって、
    前記ガラス粉末はアルカリ土類金属を主に含むことを特徴とする厚膜抵抗体ペースト。
  2. 前記ガラス粉末は、主成分のひとつとして酸化バリウムを含む請求項1に記載の厚膜抵抗体ペースト。
  3. 前記導電性金属粉末は、平均粒径が異なる2種以上の銅粉末と、マンガン粉末との混合物からなり、
    前記銅粉末のうち、平均粒径が最小の銅粉末(A)と平均粒径が最大の銅粉末(B)の粒径比は、(A)/(B)≧0.4を満たす請求項1又は2に記載の厚膜抵抗体ペースト。
  4. 前記導電性金属粉末の総量を100重量%としたとき、
    銅粉末が80〜90重量%、マンガン粉末が5〜20重量%であり、
    前記銅粉末は、平均粒径が1〜5μmの銅粉末を40重量%以下、平均粒径が0.5〜2μmの銅粉末を50重量%以上含む請求項1から3までのいずれか1項に記載の厚膜抵抗体ペースト。
  5. 前記導電性金属粉末は、粒形状が異なる2種以上の銅粉末と、マンガン粉末の混合物からなり、前記銅粉末は、球状の銅粉末と、薄片状の銅粉末とを含む請求項1から4までのいずれか1項に記載の厚膜抵抗体ペースト。
  6. 請求項1から5までのいずれか1項に記載の厚膜抵抗体ペーストの厚膜抵抗体膜への使用。
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