JP2019021912A - 光吸収材料及びそれを用いた太陽電池 - Google Patents
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- 230000031700 light absorption Effects 0.000 title claims abstract description 136
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 63
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 237
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 53
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 29
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 28
- 238000005084 2D-nuclear magnetic resonance Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000003929 heteronuclear multiple quantum coherence Methods 0.000 claims abstract 3
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 claims description 93
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 75
- 238000002189 fluorescence spectrum Methods 0.000 claims description 24
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims description 22
- -1 halogen anion Chemical group 0.000 claims description 13
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 12
- 238000000425 proton nuclear magnetic resonance spectrum Methods 0.000 claims description 8
- 238000005160 1H NMR spectroscopy Methods 0.000 claims description 7
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 238000000655 nuclear magnetic resonance spectrum Methods 0.000 abstract description 2
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 94
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 72
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 53
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 38
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 33
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 31
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 24
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 24
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 23
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 19
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 18
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 18
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 16
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 16
- 230000006870 function Effects 0.000 description 14
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 14
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 11
- MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N chlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1 MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 10
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 10
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 10
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 9
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N indium tin Chemical compound [In].[Sn] RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 8
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 8
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 7
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 7
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 7
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 7
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical class C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 5
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 5
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 5
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ORILYTVJVMAKLC-UHFFFAOYSA-N adamantane Chemical compound C1C(C2)CC3CC1CC2C3 ORILYTVJVMAKLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000002585 base Substances 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 4
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 4
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000002608 ionic liquid Substances 0.000 description 4
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 4
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 3
- 229910002367 SrTiO Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 3
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 3
- GAEKPEKOJKCEMS-UHFFFAOYSA-N gamma-valerolactone Chemical compound CC1CCC(=O)O1 GAEKPEKOJKCEMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 3
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 3
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000027756 respiratory electron transport chain Effects 0.000 description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000003115 supporting electrolyte Substances 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 3
- YBNMDCCMCLUHBL-UHFFFAOYSA-N (2,5-dioxopyrrolidin-1-yl) 4-pyren-1-ylbutanoate Chemical compound C=1C=C(C2=C34)C=CC3=CC=CC4=CC=C2C=1CCCC(=O)ON1C(=O)CCC1=O YBNMDCCMCLUHBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000011481 absorbance measurement Methods 0.000 description 2
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 description 2
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N digallium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Ga+3].[Ga+3] AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001195 gallium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 2
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 2
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Chemical compound [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 2
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001208 nuclear magnetic resonance pulse sequence Methods 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 2
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 2
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 2
- UUIMDJFBHNDZOW-UHFFFAOYSA-N 2-tert-butylpyridine Chemical compound CC(C)(C)C1=CC=CC=N1 UUIMDJFBHNDZOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N C60 fullerene Chemical class C12=C3C(C4=C56)=C7C8=C5C5=C9C%10=C6C6=C4C1=C1C4=C6C6=C%10C%10=C9C9=C%11C5=C8C5=C8C7=C3C3=C7C2=C1C1=C2C4=C6C4=C%10C6=C9C9=C%11C5=C5C8=C3C3=C7C1=C1C2=C4C6=C2C9=C5C3=C12 XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-O Imidazolium Chemical compound C1=C[NH+]=CN1 RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 229910001508 alkali metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000272 alkali metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910001615 alkaline earth metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 239000003125 aqueous solvent Substances 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 238000007611 bar coating method Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- XLKNMWIXNFVJRR-UHFFFAOYSA-N boron potassium Chemical compound [B].[K] XLKNMWIXNFVJRR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N diethanolamine Chemical compound OCCNCCO ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003618 dip coating Methods 0.000 description 1
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 229910003472 fullerene Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002391 heterocyclic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 150000004693 imidazolium salts Chemical class 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- MHCFAGZWMAWTNR-UHFFFAOYSA-M lithium perchlorate Chemical compound [Li+].[O-]Cl(=O)(=O)=O MHCFAGZWMAWTNR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910001486 lithium perchlorate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004899 motility Effects 0.000 description 1
- 238000001683 neutron diffraction Methods 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 238000005424 photoluminescence Methods 0.000 description 1
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 1
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 150000004053 quinones Chemical class 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 239000013557 residual solvent Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- KBLZDCFTQSIIOH-UHFFFAOYSA-M tetrabutylazanium;perchlorate Chemical compound [O-]Cl(=O)(=O)=O.CCCC[N+](CCCC)(CCCC)CCCC KBLZDCFTQSIIOH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- YUOWTJMRMWQJDA-UHFFFAOYSA-J tin(iv) fluoride Chemical compound [F-].[F-].[F-].[F-].[Sn+4] YUOWTJMRMWQJDA-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
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Abstract
【解決手段】本開示の一態様に係る光吸収材料は、組成式HC(NH2)2SnI3で示され、ペロブスカイト構造を有し、かつ、2次元NMRの1H−14NのHMQC法による固体1H−NMRスペクトルにおいて、25℃で6.9ppmのピーク強度が7.0ppmのピーク強度の80%以上である化合物を含む。
【選択図】図10A
Description
本開示の基礎となった知見は以下のとおりである。
本開示の第1の態様に係る光吸収材料は、組成式HC(NH2)2SnI3で示され、ペロブスカイト構造を有し、かつ、2次元核磁気共鳴(NMR)の1H−14NのHMQC法による固体1H−NMRスペクトルにおいて、25℃で6.9ppmのピーク強度が7.0ppmのピーク強度の80%以上である化合物を含む。
以下、本開示の実施形態を、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、以下の実施形態は一例であり、本開示は以下の実施形態に限定されない。
実施形態1では、本開示の光吸収材料の実施形態について説明する。本開示の光吸収材料の実施形態の概要は以下のとおりである。ここでは、本開示の光吸収材料の実施形態として、5つの形態(実施形態AからE)について説明する。
実施形態AからEにおけるペロブスカイト型化合物は、太陽電池用の光吸収材料として有用な以下の物性を示し得る。
次に、実施形態AからEにおけるペロブスカイト型化合物のそれぞれの製造方法の一例を説明する。ここでは、ITC(Inverse temperature crystallization)法を例に説明するが、実施形態AからEにおけるペロブスカイト型化合物の製造方法はこれに限定されない。
実施形態2では、本開示のペロブスカイト太陽電池の実施形態について説明する。
基板1は、付随的な構成要素である。基板1は、太陽電池100の各層を保持する役割を果たす。基板1は、透明な材料から形成することができる。基板1としては、例えば、ガラス基板又はプラスチック基板を用いることができる。プラスチック基板は、例えば、プラスチックフィルムであってもよい。また、第1電極2が十分な強度を有している場合、第1電極2によって各層を保持することができるので、必ずしも基板1を設けなくてもよい。
第1電極2は、導電性を有する。また、第1電極2は、光吸収層3とオーミック接触を形成しない。さらに、第1電極2は、光吸収層3からの正孔に対するブロック性を有する。光吸収層3からの正孔に対するブロック性とは、光吸収層3で発生した電子のみを通過させ、正孔を通過させない性質のことである。このような性質を有する材料とは、光吸収層3の価電子帯上端のエネルギーよりも、フェルミエネルギーが高い材料である。上記の材料は、光吸収層3のフェルミエネルギーよりも、フェルミエネルギーが高い材料であってもよい。具体的な材料としては、アルミニウムが挙げられる。
光吸収層3は、実施形態1で説明した実施形態AからEの光吸収材料の少なくともいずれか1つを含む。すなわち、光吸収層3の光吸収材料は、実施形態1で説明した実施形態AからEにおけるペロブスカイト化合物の少なくともいずれか1つのペロブスカイト型化合物を含む。光吸収層3の厚さは、その光吸収の大きさにもよるが、例えば100nm以上10μm以下である。光吸収層3は、前述したようにペロブスカイト型化合物FASnI3を切り出すことによって形成されてもよい。光吸収層3は、FASnI3からなるテンプレート層と、当該テンプレート層の上に形成されたペロブスカイト型化合物FASnI3とを有していてもよい。
第2電極4は、導電性を有する。また、第2電極4は、光吸収層3とオーミック接触しない。さらに、第2電極4は、光吸収層3からの電子に対するブロック性を有する。光吸収層3からの電子に対するブロック性とは、光吸収層3で発生した正孔のみを通過させ、電子を通過させない性質のことである。このような性質を有する材料とは、光吸収層3の伝導帯下端のエネルギーよりも、フェルミエネルギーが低い材料である。上記の材料は、光吸収層3のフェルミエネルギーよりも、フェルミエネルギーが低い材料であってもよい。具体的な材料としては、白金、金、又は、グラフェンなどの炭素材料が挙げられる。
第1電極22は、導電性を有する。第1電極22は、第1電極2と同様の構成とすることもできる。太陽電池200では、電子輸送層5を用いるため、第1電極22は、光吸収層3からの正孔に対するブロック性を有さなくてもよい。すなわち、第1電極22の材料は、光吸収層3とオーミック接触する材料であってもよい。
電子輸送層5は、半導体を含む。電子輸送層5は、バンドギャップが3.0eV以上の半導体であってもよい。バンドギャップが3.0eV以上の半導体で電子輸送層5を形成することにより、可視光及び赤外光を光吸収層3まで透過させることができる。半導体の例としては、有機又は無機のn型半導体が挙げられる。
多孔質層6は、光吸収層3を形成する際の土台となる。多孔質層6は、光吸収層3の光吸収、及び、光吸収層3から電子輸送層5への電子移動を阻害しない。
上述したように、第2電極34は、光吸収層3からの電子に対するブロック性を有さなくてもよい。すなわち、第2電極34の材料は、光吸収層3とオーミック接触する材料であってもよい。そのため、第2電極34を、透光性を有するように形成することができる。
基板31は、図2に示す太陽電池100の基板1と同様の構成とすることができる。また、第2電極34が透光性を有している場合には、基板31の材料は、透光性を有さない材料であってもよい。例えば、基板31の材料として、金属、セラミックス又は透過性の小さい樹脂材料を用いることができる。
正孔輸送層7は、有機物、無機半導体などによって構成される。正孔輸送層7は、互いに異なる材料からなる複数の層を含んでいてもよい。
第1層であるテンプレート層8は、組成式AMX3(式中、Aは1価のカチオンであり、Mは2価のカチオンであり、Xはハロゲンアニオンである)で示され、ペロブスカイト構造を有する第1化合物を含む。第1化合物は、例えば、FASnI3とは異なる組成を有する。第1化合物において、組成式AMX3は、例えば、MASnI3又はMAPbI3である。テンプレート層8は、MASnI3又はMAPbI3からなっていてもよい。テンプレート層8の厚さは、例えば、50nm以上1000nm以下である。テンプレート層8において、第1化合物の結晶の配向が揃っていてもよい。テンプレート層8において、第1化合物の結晶は、(100)配向又は(110)配向を有していてもよい。すなわち、テンプレート層8において、第1化合物の結晶の(100)面又は(110)面が、テンプレート層8と電子輸送層5との界面に平行になるように結晶成長していてもよい。
第2層である光吸収層3は、上述のとおり、実施形態1で説明した実施形態AからEの光吸収材料の少なくともいずれか1つを含む。すなわち、光吸収層3は、FASnI3で示され、ペロブスカイト構造を有する第2化合物を含む。第1化合物と第2化合物とは、互いに異なる組成を有している。光吸収層3において、第2化合物の結晶の配向が揃っていてもよい。光吸収層3において、第2化合物の結晶は、(100)配向又は(110)配向を有していてもよい。すなわち、光吸収層3において、第2化合物の結晶の(100)面又は(110)面が、光吸収層3とテンプレート層8との界面に平行になるように結晶成長していてもよい。テンプレート層8における第1化合物の結晶の配向と、光吸収層3における第2化合物の結晶の配向とが揃っていてもよい。
多孔質層6は、テンプレート層8及び光吸収層3を形成する際の土台となる。多孔質層6は、光吸収層3の光吸収、及び、光吸収層3からテンプレート層8及び電子輸送層5への電子移動を阻害しない。
テンプレート層8は、上述した第1化合物を含む。テンプレート層8は、MASnI3又はMAPbI3からなっていてもよい。テンプレート層8は、例えば、基板31、第1電極32、電子輸送層5、多孔質層6で形成されている積層体の多孔質層6上に形成される。テンプレート層8の作製方法は、実施形態1で説明した方法を利用できる。
光吸収層3は、実施形態1で説明した実施形態AからEの光吸収材料の少なくともいずれか1つを含む。光吸収層3は、例えば、基板31、第1電極32、電子輸送層5、テンプレート層8で形成されている積層体のテンプレート層8上に形成される。上記の積層体を加熱した溶液中に浸漬させて結晶を成長させる方法によって、光吸収層3を形成できる。なお、この方法で用いられる溶液とは、実施形態1で示したような、実施形態1におけるペロブスカイト型化合物FASnI3を液相成長法によって作製する際に用いられる溶液である。
[実施例1]
まず、SnI2及びFAIを含むGVL溶液を用意した。GVL溶液におけるSnI2の濃度は、1mol/Lであった。GVL溶液におけるFAIの濃度は、1mol/Lであった。次に、このGVL溶液を基板上に、回転数4000rpmの条件でスピンコート法により塗布した。基板として、厚さ0.7mmのガラス基板を用いた。この後、基板を100℃のホットプレート上で10min熱処理し、続けて180℃のホットプレート上で15min熱処理することによりFASnI3からなるテンプレート層が基板上に形成された試料を作製した。次に、上記GVL溶液及び試料を100℃に加熱した後に、高温のGVL溶液中に高温の試料を1sec浸漬させた。上記GVL溶液から試料を取り出した後、100℃のホットプレート上で10min熱処理し、続けて180℃のホットプレート上で15min熱処理することにより、実施例1の化合物(FASnI3膜)を得た。
FASnI3からなるテンプレート層の代わりに、(100)配向のMAPbI3からなるテンプレート層を作製したことを除き、実施例1と同じ方法によって、実施例2の化合物(FASnI3膜)を得た。(100)配向のMAPbI3からなるテンプレート層の作製方法を以下に示す。まず、PbI2及びMAIを含むDMSO溶液を用意した。DMSO溶液におけるPbI2の濃度は、1mol/Lであった。DMSO溶液におけるMAIの濃度は、3mol/Lであった。次に、このDMSO溶液を基板上にスピンコート法で塗布した。この後、基板を170℃のホットプレート上で5min熱処理することにより(100)配向のMAPbI3からなるテンプレート層を基板上に作製した。
FASnI3からなるテンプレート層の代わりに、(110)配向のMAPbI3からなるテンプレート層を作製したことを除き、実施例1と同じ方法によって、実施例3の化合物(FASnI3膜)を得た。(110)配向のMAPbI3からなるテンプレート層の作製方法を以下に示す。まず、PbI2及びMAIを含むDMSO溶液を用意した。DMSO溶液におけるPbI2の濃度は、1mol/Lであった。DMSO溶液におけるMAIの濃度は、1mol/Lであった。次に、この溶液を基板上にスピンコート法で塗布した。この後、基板を130℃のホットプレート上で10min熱処理することにより(110)配向のMAPbI3からなるテンプレート層を基板上に作製した。
FASnI3からなるテンプレート層の代わりに、(100)配向のMASnI3からなるテンプレート層を作製したことを除き、実施例1と同じ方法によって、実施例4の化合物(FASnI3膜)を得た。(100)配向のMASnI3からなるテンプレート層の作製方法を以下に示す。まず、SnI2及びMAIを含む、DMSO:DMF=1:1の混合溶液を用意した。混合溶液におけるSnI2の濃度は、1mol/Lであった。混合溶液におけるMAIの濃度は、1mol/Lであった。次に、この混合溶液を基板上にスピンコート法で塗布した。このとき、回転中の基板上に、クロロベンゼン200μLを滴下した。この後、基板を100℃のホットプレート上で10min熱処理し、続けて180℃のホットプレート上で15min熱処理することにより(100)配向のMASnI3からなるテンプレート層を基板上に作製した。
後述する方法によって実施例5の太陽電池を作製した。実施例5の太陽電池は、実施形態2において第6例として説明した太陽電池600(図7参照)と同じ構造を有していた。実施例5の太陽電池の各構成は、以下のとおりである。
第1電極32:透明電極 インジウム−錫複合酸化物層(厚さ100nm)及びアンチモンドープ酸化錫層(厚さ100nm)
電子輸送層5:酸化チタン
テンプレート層8:MAPbI3
光吸収層3:FASnI3(厚さ5000nm)
正孔輸送層7:ポリトリアリルアミン(PTAA)
第2電極34:Au(厚さ80nm)
実施例6の化合物の作製手順は以下の通りである。実施例1において、SnI2及びFAIを含むGVL溶液を基板上にスピンコート法で塗布する際に、回転数を1000rpmに下げることで、テンプレート層の膜厚を厚くしたことを除き、実施例1と同じ方法によって、実施例6の化合物(FASnI3膜)を得た。
実施例7の化合物の作製手順は以下の通りである。実施例4のMASnI3からなるテンプレート層上に、実施例1のSnI2及びFAIを含むGVL溶液をホットプレート上で180℃に加熱しておき、高温の同溶液を基板上にスピンコート法にて塗布した。その後、100℃のホットプレート上で10min熱処理し、続けて180℃のホットプレート上で15min熱処理することにより、実施例7の化合物(FASnI3膜)を得た。
まず、SnI2及びFAIを含むGVL溶液を用意した。GVL溶液におけるSnI2の濃度は、1mol/Lであった。GVL溶液におけるFAIの濃度は、1mol/Lであった。次に、この溶液を基板上にスピンコート法で塗布した。基板として、厚さ0.7mmのガラス基板を用いた。この後、基板を100℃のホットプレート上で10min熱処理し、180℃のホットプレート上で15min熱処理することにより、比較例1の化合物(FASnI3膜)を得た。
まず、SnI2及びFAIを含む、DMSO:DMF=1:1の混合溶液を用意した。混合溶液におけるSnI2の濃度は、1mol/Lであった。混合溶液におけるFAIの濃度は、1mol/Lであった。次に、この混合溶液を基板上にスピンコート法で塗布した。このとき、回転中の基板上に、クロロベンゼン200μLを滴下した。基板として、厚さ0.7mmのガラス基板を用いた。この後、基板を100℃のホットプレート上で10min熱処理し、180℃のホットプレート上で15min熱処理することにより、比較例2の化合物(FASnI3膜)を得た。
まず、SnI2及びMAIを含む、DMSO:DMF=1:1の混合溶液を用意した。混合溶液におけるSnI2の濃度は、1mol/Lであった。混合溶液におけるMAIの濃度は、1mol/Lであった。次に、この混合溶液を基板上にスピンコート法で塗布した。このとき、回転中の基板上に、クロロベンゼン200μLを滴下した。基板として、厚さ0.7mmのガラス基板を用いた。この後、基板を100℃のホットプレート上で10min熱処理し、180℃のホットプレート上で15min熱処理することにより、比較例3の化合物(MASnI3膜)を得た。
後述する方法によって比較例4の太陽電池を作製した。比較例4の太陽電池の各構成は、以下のとおりである。
第1電極:透明電極 インジウム−錫複合酸化物層(厚さ100nm)及びアンチモンドープ酸化錫層(厚さ100nm)
電子輸送層:酸化チタン
光吸収層:FASnI3(厚さ500nm)
正孔輸送層:ポリトリアリルアミン(PTAA)
第2電極:Au(厚さ80nm)
実施例1から4及び比較例1から3で得た化合物について、Cu−Kα線を用いてX線回折(XRD)測定を行った。図9は、実施例1から4及び比較例1から3のXRD測定結果を示す。横軸が2θを示し、縦軸がX線回折強度を示す。図9より、実施例1から4及び比較例1から3で得た化合物は、ペロブスカイト構造を有していることが確認された。実施例2、実施例4及び比較例3で得た化合物が(100)配向を有していることと、実施例3で得た化合物が(110)配向を有していることとが確認された。これに対し、比較例1及び比較例2の結果からわかるとおり、従来のスピンコート法では結晶配向性の高いFASnI3膜は得られない。また、実施例4では、(100)配向のMASnI3からなるテンプレート層を用いたが、実施例4及び比較例3のXRD測定結果を比較すると、実施例4では比較例3で観測されたMASnI3由来のピーク、及び、当該ピークの位置がシフトしたピークは観測されなかった。すなわち、実施例4では、FASnI3の(100)配向の膜が得られており、光吸収層は、テンプレート層の結晶配向性を反映して成長することが明らかとなった。
実施例1及び比較例1の化合物の運動性解析を行った。以下の条件での固体1H−NMR分光測定によりスピン−格子緩和時間測定を実施した。スピン−格子緩和時間は分子の運動性を表す指標である。ここでは、FAカチオンとSnI6八面体の結合の強さを示す。
観測核:1H
観測周波数:600.172MHz
測定温度:25℃
測定法:飽和回復法
90度パルス幅:0.85μs
マジック角回転の回転数:70kHz
パルス印加までの待ち時間:0.1s
積算回数:64回
M(τ)=M(∞){1−exp(−τ/T1)}
実施例1及び比較例1の化合物の電子状態解析を行った。ここでは、以下の条件で2次元NMRの1H−14NのHMQC法により固体1H−NMRスペクトル測定を実施した。本測定によりN原子と結合するH原子のみの電子状態を観測することが可能である。
観測核:1H
観測周波数:600.172 MHz
測定温度:25℃
測定法:MAS法
パルス系列:1H−14N/HMQC
90度パルス幅:0.85μs
マジック角回転の回転数:70kHz
パルス印加までの待ち時間:60s
積算回数:64回
実施例1及び比較例1の化合物について、吸光度測定及び蛍光測定を行い、吸収端エネルギーからバンドギャップを算出した。
実施例5及び比較例4の太陽電池について、IPCE効率測定(incident photon to current conversion efficiency:各波長の量子効率測定)を行った。光源のエネルギーは各波長で5mW/cm2とした。
2,22,32 第1電極
3 光吸収層
4,34 第2電極
5 電子輸送層
6 多孔質層
7 正孔輸送層
8 テンプレート層
100,200,300,400,500,600,700 太陽電池
Claims (12)
- 組成式HC(NH2)2SnI3で示され、ペロブスカイト構造を有し、かつ、2次元NMRの1H−14NのHMQC法による固体1H−NMRスペクトルにおいて、25℃で6.9ppmのピーク強度が7.0ppmのピーク強度の80%以上である化合物を含む、
光吸収材料。 - 前記化合物は複数の結晶を含み、
前記複数の結晶の配向が揃っている、
請求項1に記載の光吸収材料。 - 第1電極と、
前記第1電極と対向する第2電極と、
前記第1電極と前記第2電極との間に配置され、光電変換により電荷を生成する光吸収層と、
を備え、
前記第1電極及び前記第2電極からなる群より選ばれる少なくとも1つの電極が透光性を有し、
前記光吸収層は、光吸収材料を含み、
前記光吸収材料は、
組成式HC(NH2)2SnI3で示され、ペロブスカイト構造を有し、かつ、2次元NMRの1H−14NのHMQC法による固体1H−NMRスペクトルにおいて、25℃で6.9ppmのピーク強度が7.0ppmのピーク強度の80%以上である化合物を含む、
太陽電池。 - 組成式HC(NH2)2SnI3で示され、ペロブスカイト構造を有し、かつ、固体1H−NMR分光測定により測定されるスピン−格子緩和時間T1が25℃で33秒以上45秒以下である化合物を含む、
光吸収材料。 - 前記化合物は複数の結晶を含み、
前記複数の結晶の配向が揃っている、
請求項4に記載の光吸収材料。 - 第1電極と、
前記第1電極と対向する第2電極と、
前記第1電極と前記第2電極との間に配置され、光電変換により電荷を生成する光吸収層と、
を備え、
前記第1電極及び前記第2電極からなる群より選ばれる少なくとも1つの電極が透光性を有し、
前記光吸収層は、光吸収材料を含み、
前記光吸収材料は、
組成式HC(NH2)2SnI3で示され、ペロブスカイト構造を有し、かつ、固体1H−NMR分光測定により測定されるスピン−格子緩和時間T1が25℃で33秒以上45秒以下である化合物を含む、
太陽電池。 - 組成式HC(NH2)2SnI3で示され、ペロブスカイト構造を有し、かつ、蛍光スペクトルが1.33eV以上1.39eV以下の範囲にピークを有する化合物を含む、
光吸収材料。 - 前記化合物は複数の結晶を含み、
前記複数の結晶の配向が揃っている、
請求項7に記載の光吸収材料。 - 第1電極と、
前記第1電極と対向する第2電極と、
前記第1電極と前記第2電極との間に配置され、光電変換により電荷を生成する光吸収層と、
を備え、
前記第1電極及び前記第2電極からなる群より選ばれる少なくとも1つの電極が透光性を有し、
前記光吸収層は、光吸収材料を含み、
前記光吸収材料は、
組成式HC(NH2)2SnI3で示され、ペロブスカイト構造を有し、かつ、蛍光スペクトルが1.33eV以上1.39eV以下の範囲にピークを有する化合物を含む、
太陽電池。 - 第1電極と、
前記第1電極と対向する第2電極と、
前記第1電極と前記第2電極との間に配置され、光電変換により電荷を生成する光吸収層と、
を備え、
前記第1電極及び前記第2電極からなる群より選ばれる少なくとも1つの電極が透光性を有し、
前記光吸収層は、
組成式AMX3(式中、Aは1価のカチオンであり、Mは2価のカチオンであり、Xはハロゲンアニオンである)で示され、ペロブスカイト構造を有する第1化合物を含む第1層と、
前記第1層の上に配置され、組成式HC(NH2)2SnI3で示され、ペロブスカイト構造を有する第2化合物を含む第2層と、
を含み、
前記第1化合物と前記第2化合物とは、互いに異なる組成を有する、
太陽電池。 - 前記第1層において、前記第1化合物は複数の第1結晶を含み、
前記第1化合物の前記複数の第1結晶の配向が揃っており、
前記第2層において、前記第2化合物は複数の第2結晶を含み、
前記第2化合物の前記複数の第2結晶の配向が揃っている、
請求項10に記載の太陽電池。 - 前記第1化合物の前記複数の第1結晶の前記配向と、前記第2化合物の前記複数の第2結晶の前記配向とが揃っている、
請求項11に記載の太陽電池。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017140978 | 2017-07-20 | ||
JP2017140978 | 2017-07-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019021912A true JP2019021912A (ja) | 2019-02-07 |
JP7113254B2 JP7113254B2 (ja) | 2022-08-05 |
Family
ID=65023110
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018113929A Active JP7113254B2 (ja) | 2017-07-20 | 2018-06-14 | 光吸収材料及びそれを用いた太陽電池 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11328876B2 (ja) |
JP (1) | JP7113254B2 (ja) |
CN (1) | CN109285952B (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104795499A (zh) * | 2015-04-09 | 2015-07-22 | 中国乐凯集团有限公司 | 有机无机杂化钙钛矿基太阳能电池及其制备方法 |
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Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5101255A (en) * | 1987-01-14 | 1992-03-31 | Sachio Ishioka | Amorphous photoelectric conversion device with avalanche |
CN106684246B (zh) | 2012-09-18 | 2020-01-21 | 牛津大学科技创新有限公司 | 光电器件 |
CN105210204A (zh) | 2012-12-20 | 2015-12-30 | 耶路撒冷希伯来大学伊森姆研究发展有限公司 | 钙钛矿肖特基型太阳能电池 |
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JP2016063090A (ja) | 2014-09-18 | 2016-04-25 | 学校法人上智学院 | 太陽電池用有機−無機複合材料、太陽電池用光吸収層および太陽電池 |
JP6312252B2 (ja) | 2014-11-07 | 2018-04-18 | 富士フイルム株式会社 | 光電変換素子および太陽電池 |
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-
2018
- 2018-06-14 JP JP2018113929A patent/JP7113254B2/ja active Active
- 2018-06-14 CN CN201810611508.3A patent/CN109285952B/zh active Active
- 2018-07-14 US US16/035,597 patent/US11328876B2/en active Active
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Title |
---|
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN109285952A (zh) | 2019-01-29 |
US20190027317A1 (en) | 2019-01-24 |
CN109285952B (zh) | 2024-04-12 |
US11328876B2 (en) | 2022-05-10 |
JP7113254B2 (ja) | 2022-08-05 |
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