JP2018531399A - モノリシックに集積された信号処理部を有する高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ - Google Patents

モノリシックに集積された信号処理部を有する高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ Download PDF

Info

Publication number
JP2018531399A
JP2018531399A JP2018536333A JP2018536333A JP2018531399A JP 2018531399 A JP2018531399 A JP 2018531399A JP 2018536333 A JP2018536333 A JP 2018536333A JP 2018536333 A JP2018536333 A JP 2018536333A JP 2018531399 A JP2018531399 A JP 2018531399A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor array
signal processing
infrared sensor
thermopile infrared
pixels
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2018536333A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018531399A6 (ja
JP6709285B2 (ja
Inventor
フォルク・ボード
シュノッル・ミヒャエル
シーフェルデッカー・イェルク
シュトルック・カールハインツ
ジーモン・マーリオン
レーネケ・ヴィルヘルム
Original Assignee
ハイマン・ゼンゾル・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ハイマン・ゼンゾル・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング filed Critical ハイマン・ゼンゾル・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング
Publication of JP2018531399A publication Critical patent/JP2018531399A/ja
Publication of JP2018531399A6 publication Critical patent/JP2018531399A6/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6709285B2 publication Critical patent/JP6709285B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0881Compact construction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F1/00Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
    • G01F1/68Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using thermal effects
    • G01F1/684Structural arrangements; Mounting of elements, e.g. in relation to fluid flow
    • G01F1/688Structural arrangements; Mounting of elements, e.g. in relation to fluid flow using a particular type of heating, cooling or sensing element
    • G01F1/6888Thermoelectric elements, e.g. thermocouples, thermopiles
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/06Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/12Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/12Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
    • G01J5/14Electrical features thereof
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/20Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
    • G01J5/22Electrical features thereof
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/75Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00Details of television systems
    • H04N5/30Transforming light or analogous information into electric information
    • H04N5/33Transforming infrared radiation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J2005/0077Imaging
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/12Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
    • G01J2005/123Thermoelectric array

Abstract

本発明は、モノリシックに集積された信号処理部と1つのセンサアレイの複数の画素の信号のための並列な複数の信号処理チャネルとこれらの画素の信号をシリアルに出力するための1つのデジタルポートとを有する高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイであって、前記センサアレイが、1つ又は複数のセンサチップ上に存在する当該高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイに関する。当該課題は、最小の電力損失で高い集積密度を有し、同時に熱的に且つ幾何学的に高い分解能である、モノリシックに集積された信号処理部と並列な複数の信号処理チャネルとを有するサーモパイル赤外線センサアレイを提供することにある。この課題は、それぞれの信号処理チャネルK1…KNが、少なくとも1つのアナログ/デジタル変換器ADCを有すること、及び、前記画素SEの信号を記憶するため、1つのメモリの1つのメモリ領域RAMが、それぞれの信号処理チャネルK1…KNに割り当てられていることによって解決される。

Description

本発明は、モノリシックに集積された信号処理部と1つのセンサアレイの複数の画素の信号のための並列な複数の信号処理チャネルとこれらの画素の信号をシリアルに出力するための1つのデジタルポートとを有する高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイであって、当該センサアレイが、1つ又は複数のセンサチップ上に存在する当該サーモパイル赤外線センサアレイに関する。
高解像度の赤外線サーモパイルセンサアレイを構成するためには、個々のサーモパイル素子の数、すなわち画素数を増やし、当該画素の幾何学寸法を小さくする必要がある。市場に出回り始めた頃に入手可能なサーモパイルセンサアレイでは、画素数が少なかった(例えば、8×8又は16×16個の画素)。この場合、個々の画素は非常に大きかった(例えば、150…300μm×150…300μm)。したがって、当該サーモパイルセンサアレイに加えて幾つかの増幅器又は低域通過フィルタをチップ上に実装するためのスペースは、(例えばシリコンから成る)当該センサチップ上に十分に存在した。
今日において一般的なより多くの画素数を有するサーモパイルセンサアレイは、当該画素の辺長の寸法を100μmまで又はさらに25μmまで減少させることを要求する。しかし、増大する集積密度によってより小さくなった画素には、これらの画素が、面積に比例するより小さい信号を生成するという欠点がある。これは、半分の画素の寸法の場合に、さらなる処理のために必要な信号の強さの4分の1しか確保できないことを意味する。
したがって、信号が、実際のセンサハウジングの外側の追加の雑音又はその他の干渉影響なしにさらに処理され得るように、多くの場合にnV〜μVの範囲内にある当該常により低い信号電圧は、より大きい増幅率を常に必要とする。しかしながら、結果として、SN比が、常により小さい。
当該信号電圧が、別の構成要素群にさらに印加され、さらに処理され得るように、当該信号電圧を上げるため、当該低い信号電圧に起因して必要な信号利得は、約数千倍であり、多くの場合は一万倍さえも超える。信号を増幅するために従来において使用された大きい増幅率を有するアナログ増幅器は、比較的大きい面積を必要とする多段増幅器を必要とし、さらにこれらの増幅器は、相当な電力を消費する。これは、電力損失と、それと同時に自己加熱とを増大させることを意味する。その結果、サーモパイルセンサアレイ全体の測定誤差が大きくなる。
その一方で、シリコンマイクロマシニングによってチップ上に製造される赤外線サーモパイルセンサアレイが、様々な実施の形態において知られるようになった。これらのセンサアレイの場合、信号処理の一部が、当該チップ上で実行される。しかし、少数の前置増幅器と、全ての画素の信号を出力する共通の1つのマルチプレクサとが存在するだけである。当該サーモパイルは、次第に小さくなっている赤外線受信面上にいわゆる「温」接点を有し、それぞれの画素の縁部に対するヒートシンク上にいわゆる「冷」接点を有する。当該サーモパイルによって生成された信号電圧が、当該「温」接点と当該「冷」接点との間の温度差に直接に依存する。
例えば、国際公開第2006/122529号パンフレットによるサーモパイルセンサアレイの場合、当該センサアレイのセルごとに、それぞれ1つの前置増幅器と1つの低域通過フィルタとが、1つのチップ上に集積されている。しかしながら、多数の行と列とを成す高解像度のセンサアレイに対処するには、当該サーモパイルセンサアレイは十分でない。例えば、64×64個の画素から成る1つのアレイの場合、64個の前置増幅器と64個の低域通過フィルタだけが使用される。達成し得る雑音帯域幅は、64倍程度高すぎる。しかし、雑音は、当該雑音帯域幅の平方根に比例して増大するので、当該雑音は、8倍程度まで減少し得るか、又は、熱分解能が、8倍程度まで改善され得る。
しかしながら、信号チャネルごとに信号を増幅するにもかかわらず、電力及びスペースを節約する措置が取られていない。
さらに、特開2004−170375号は、ただ1つの前置増幅器を有するサーモパイルセンサアレイを開示する。
独国特許第10322860号明細書には、1つのマルチプレクサの前方に存在する複数の前置増幅器を有する高解像の度温度センサから電子信号を読み取るための回路装置が記載されている。並列に動作するこれらの前置増幅器の多大な電力損失を減少させるため、これらの前置増幅器は、電力を節約するために周期的に停止される。
しかしながら、この措置では、希望する高い温度分解能は達成されない。何故なら、走査される信号の雑音帯域幅が、並列な複数の増幅器チャネルの数に比例して同時に減少するときにだけ、当該マルチプレクサの複数の前置増幅器は、期待される結果をもたらし得るからである。しかし、これらの前置増幅器を通過した増幅信号が、当該雑音帯域幅を限定するための低域通過フィルタによって連続して「積分」されるか、又は例えば低域通過フィルタによって平滑される場合、当該希望する高い温度分解能は不可能である。
欧州特許出願公開第2587234号明細書は、信号を処理するための回路を有するサーモパイル赤外線センサを開示する。当該サーモパイル赤外線センサの場合、個々の画素の信号が、帯域幅を限定することなしに、又は中間接続された複数の前置増幅器なしに転送される。
しかしながら、上記の全ての措置では、チップ上のより高い集積密度で信号を処理するための措置を提唱するサーモパイル赤外線センサは記載されていない。特に、必要スペースと電力損失とを同時に最小にしつつ、雑音帯域幅を減少させることは提唱されていない。
上記の既知の措置では、熱分解能が不十分である。何故なら、ただ1つの前置増幅器チャネル又は非常に少ない前置増幅器チャネルだけが、センサチップ上に集積されたからである。その結果、雑音帯域幅が高くなり、同時にSN比が低下する。
高い集積密度は、画素サイズ及びいわゆる画素ピッチ、すなわちサーモパイルの中心間隔を小さくし、これによって多数の画素を同じチップ面積に実装することを要求する。高い幾何学的分解能に加えて、高い熱分解能、すなわち高いSN比と、低い雑音透過温度差NETD(Noise Equivalent Temperature Difference)が望ましい。
より小さい受信面積に起因して、これによるサーモパイル画素の、「温」接点と「冷」接点との間の小さい間隔に起因して、画素サイズが減少すると同時に、当該サーモパイル画素から出力されるセンサ信号も減少する。その結果、SN比がより小さくなり、熱分解能が低下し、測定精度が低下する。
原理的には、サーモパイルセル(サーモパイル画素)の大きさを減少させること、及び常により大きい画素数をセンサチップ上に集積することが可能である。例えば、16×16個のサーモパイル画素、64×64個のサーモパイル画素若しくは128×128個のサーモパイル画素又はこれらよりも多いサーモパイル画素が、1つのセンサチップ上で実現される。当該個々のサーモパイル画素の信号電圧を、m×nアドレス指定及びマルチプレクサスイッチによって多重送信する必要がある。すなわち、当該個々のサーモパイル画素の信号電圧を、共通の1つのシリアル信号線でアレイごとに1つの増幅器へ送信する必要があるか、又は共通の1つのシリアルインタフェースを通じて行ごとに又は列ごとに送信する必要がある。
多くの用途の場合、さらに小さくなった画素サイズを有するサーモパイル画素の最小にさらに分解すべき信号が、依然としてnVの範囲内にあるので、当該信号が、センサチップの外側と内側との電気的な干渉影響によって影響され得ないように、当該信号は、さらに当該チップ上で十分に高く増幅され、さらに処理される必要がある。
上記の既知の措置の場合、MUX(マルチプレクサ)からシリアルに高速でアナログ出力されるセンサ信号が、センサチップから出力されるように、又はセンサチップ上に集積されたか若しくはセンサチップに直接に隣接して集積された高速AD変換器によってデジタル信号に変換され得るように、このような小さいサーモパイル画素のセンサ信号を数mVに増幅するためには、一般に10,000以上の増幅率が必要である。
この場合の欠点は、連続して走査される多数のサーモパイル画素のセンサ信号を数Hz〜数十Hzの画像周波数で依然として伝送するためには、マルチプレクサの後方に存在するこれらの前置増幅器の帯域幅を非常に広くする必要があることである。
このため、アレイごとに1つの前置増幅器の場合は、当該画像周波数(いわゆるフレームレート)のm×n倍の画像周波数(いわゆるフレームレート)が少なくとも必要であるか、又は、m個の列を成し、それぞれ1つの前置増幅器を列ごとに有する1つのアレイに対しては、当該画像周波数(いわゆるフレームレート)のm倍の画像周波数(いわゆるフレームレート)が少なくとも必要である。しかし、同時にシステムの雑音も、当該(雑音)帯域幅の平方根に比例して増大し、温度分解能NETDが低下する。
安定に且つ正確に作動する高利得の増幅器は、多数の増幅段を必要とし、センサチップ上に比較的大きいスペースを必要とし、対応する大きい放熱を伴って電力を著しく消費する。また、当該大きい放熱は、サーモパイル素子の達成可能な信号電圧をさらに減少させる。
この理由から、このように大きい多数の前置増幅器を1つのセンサチップの狭く限定された空間で複数の画素の隣に実装することは不可能である。
国際公開第2006/122529号パンフレット 特開2004−170375号 独国特許第10322860号明細書 欧州特許出願公開第2587234号明細書
それ故に、本発明の課題は、最小の電力損失で高い集積密度を有し、同時に熱的に且つ幾何学的に高い分解能である、モノリシックに集積された信号処理部と並列な複数の信号処理チャネルとを有するサーモパイル赤外線センサアレイを提供することにある。
冒頭で述べた種類の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイの場合、この課題は、それぞれの信号処理チャネル(K…K)が、前記センサチップ(SP)上に又はこのセンサチップ(SP)の近くに配置されていて、少なくとも1つのアナログ/デジタル変換器(ADC)を有すること、及び、前記アナログ/デジタル変換器(ADC)の結果を記憶するため、1つのメモリの1つのメモリ領域(RAM)が、それぞれの信号処理チャネル(K…K)に割り当てられていることによって解決される。
前記センサアレイの個々の画素間の中心間隔は、300μm未満と100μm未満との間にある。
本発明の好適な構成では、それぞれの信号処理チャネルに、少なくとも1つの画素が割り当てられていて、最大で16個の数の画素が割り当てられていて、好ましくは4つ、3つ又は2つの画素が割り当てられていて、特に好ましくは1つの画素が割り当てられている。
それぞれの信号処理チャネルに対して、1つの信号マルチプレクサが、前記信号処理チャネルに割り当てられた前記センサアレイの前記画素を選択するために設けられ得る。
本発明の別の構成では、1つの前置増幅器が、前記信号処理チャネル内の前記アナログ/デジタル変換器の前方に接続されている。
前記前置増幅器は、500未満と100未満との間にある増幅率を有する。
前記アナログ/デジタル変換器は、少なくとも10ビットと少なくとも16ビットとの間の分解能を有する。この場合、前記アナログ/デジタル変換器は、集積方法、例えば「電荷平衡」又は「シグマ/デルタ」の方式にしたがって作動する。
本発明の別のさらなる構成では、それぞれの信号処理チャネルは、雑音帯域幅を限定するために1つの低域通過フィルタを有し、この低域通過フィルタのカットオフ周波数は、前記サーモパイル赤外線センサの画像レートと信号処理チャネルごとの前記画素の数との積であるが、特に、当該積の2倍又は3倍の値よりも高くない。
最後に、前記低域通過フィルタは、集積するアナログ/デジタル変換器の構成要素でもよい。
それぞれの信号処理チャネルの雑音帯域幅が、それぞれの画像レートに応じて、集積する1つのアナログ/デジタル変換器の使用によって、例えば「電荷平衡」の方式にしたがって作動する前記アナログ/デジタル変換器の予め設定されている変換速度によって設定されている。
複数の前記信号処理チャネルの一部がそれぞれ、前記複数の画素間の中間空間内に、すなわちヒートシンクの近くに配置されている。
さらに、発生する電力損失を均一に分布させるためには、複数の前記信号処理チャネルの少なくとも一部が、別の電子機器と一緒に、前記センサアレイを包囲する前記センサチップの外側の縁領域内の領域に配置されていることが有益である。
最後に、前記信号処理チャネルと信号マルチプレクサとに加えて、基準電圧部、電圧供給部、リセット回路、温度基準部、基準データメモリ、クロック発生器、I/Oデジタルポート及びデジタル信号処理部(例えば、デジタルコントローラ)のような別の電子部品が、前記センサチップ上に集積されてもよい。
基準データメモリとしては、特にEEPROM又はフラッシュメモリが適する。
本発明の非常に好適な構成では、複数の前記信号処理チャネルの少なくとも一部が、センサ素子を有する前記センサチップの下の独立チップ上に配置されている。この場合、前記画素が、前記センサチップを貫通するビア又は迂回配線のような別の電気接続手段によって前記信号処理チャネル又は/及び別の電子部品に電気接続されている。この場合、前記サーモパイル赤外線センサチップと独立チップとが互いに固定して接合されている。こうして、前記センサチップの必要スペースが、さらに著しく減少され得る。
以下に、本発明の実施の形態を詳しく説明する。
本発明のサーモパイル赤外線センサアレイの原理構造を示す。 サーモパイル赤外線アレイセンサチップのための信号を統合処理するための、複数の低域通過フィルタと画素ごとのそれぞれ1つの信号処理チャネルとを有する本発明の回路装置のブロック図である。 サーモパイル赤外線アレイセンサチップのための信号を統合処理するための、低域通過フィルタ機能がADC(AD変換器)内で実行される本発明の第2の実施の形態における回路装置のブロック図である。 サーモパイル赤外線アレイセンサチップのための信号を統合処理するための、複数の画素が1つの信号処理チャネルを共用する本発明の第3の実施の形態における前置増幅器の後方に接続された低域通過フィルタを有する回路装置のブロック図である。 サーモパイル赤外線アレイセンサチップのための信号を統合処理するための、複数の画素が1つの信号処理チャネルを共用する本発明の第3の実施の形態における低域通過フィルタ機能を担う集積されたAD変換器を有する回路装置のブロック図である。 サーモパイル赤外線アレイセンサチップのための信号を統合処理するための、低域通過フィルタ機能が集積されたAD変換器内で実行される本発明の別の回路装置のブロック図である。 複数のビアと、1つのセンサチップの下に配置され、複数の信号処理チャネル及び信号処理回路を集積した独立チップとを伴う当該センサチップの概略断面図である。 図6aに倣うものの、放射線入射窓を有するキャップウェハと、サーモパイル赤外線アレイセンサチップを作動させるための別の機能構成要素群に接続するためのボンドワイヤのような追加の電気接続手段とを付加した回路装置を示す。
図1、2には、センサチップの中央に配置されたm×n個の画素SE1,1…SE1,n×SEm1,1…SEm,nから成るマトリックス状のサーモパイル赤外線センサアレイTPAを有する本発明のサーモパイル赤外線センサアレイの基本構成が明確に示されている。個々の画素SEの信号を増幅し、フィルタリングし、デジタル信号に変換するm×(n/2)/a個の信号処理チャネルK…Kが、当該同じセンサチップSP上でこれらの画素SEの周りに、好ましくは2つの側で存在する。ここでは、それぞれa個の画素が、1つの信号処理チャネルK…Kを共用する。
原理的には、全ての信号処理チャネルが、画素領域の片側に存在してもよい。この場合、サーモパイル赤外線センサアレイは、非対称な熱分布を有する。
可能な限り長い配線経路を介して互いに結合されている、すなわち可能な限り互いに離れて配置されているこの「温」接点とこの「冷」接点とが、当該サーモパイルの機能のために重要である。この場合、当該「温」接点と当該「冷」接点との間の温度差に依存して、評価可能な信号電圧を生成するため、当該「温」接点は、放射線受信機上(図示せず)に配置されていて、当該「冷」接点は、画素の縁部沿いのヒートシンク上に配置されている。
サーモパイル赤外線センサアレイTPAのそれぞれの画素SEは、それ自体既知の1つの小型サーモパイルセルを備え、また適切な光学素子を有する1つの放射線入射窓を、それぞれのサーモパイルセルの上にオプションとして備える。当該個々のサーモパイルセルは、最高で400μm、好ましくは200μm未満、特に好ましくは100μm未満の中心間隔(いわゆる画素ピッチ)を有する。同じ画素数の場合、当該画素ピッチが小さい程、全体のサーモパイル赤外線センサアレイが小さくなり、赤外線を当該画素SE上に照射するために必要な光学素子の寸法も減少する。当該チップの寸法及び光学素子の寸法が減少すると、一般に、製造コストもさらに減少する。
より高い光学解像度を達成するため、より小さいピッチが、より多くの画素SEを所定の大きさの1つのセンサチップ上に実装することを可能にする。
図2は、サーモパイル赤外線センサアレイTPAのための信号を統合処理するための、当該センサアレイTPAの2つの側の画素SE当たりの信号処理チャネルK…Kごとに1つの前置増幅器VVと後続接続された1つの低域通過フィルタTPFと1つのアナログ/デジタル変換器ADCとを有するミラー対称に構成された本発明の回路装置のブロック図である。
デジタル出力信号が、当該さらなる処理のためにデジタル入出力ポートDIOで入出力されるように、複数のデジタル/アナログ変換器ADCの出力部が、制御回路CRTLによって読み出され得る記憶領域RAMに接続されている。
さらに、それぞれのセンサチップSP上には、クロック発生器CLKのような動作に必要な構成要素群と、当該構成要素群に必要な電圧供給部VDD、VSSと、1つ若しくは複数の基準電圧部VREF又はREF/PTATが存在し、追加の静電気放電(ESD)回路ブロックも設けられ得る。
本発明によれば、多数の個別信号処理チャネルK…Kが、同じセンサチップSPの上又は下に集積されている。この場合、最大で16個又は8個のa個の画素SEが、1つの信号処理チャネルK…Kを共用するが、好ましくはそれぞれa=4、3又は2個の画素SEだけが、1つの信号処理チャネルを共用する。
当該対応するa個の画素SEは、複数のマルチプレクサMUX又は1つのマルチプレクサMUXの複数の領域を介してそれぞれ割り当てられた信号処理チャネルK…Kに接続されている(図4a)。特に好ましくは、それぞれの画素は、固有の1つの信号処理チャネルK…Kを有する(すなわち、a=1;図3及び図4b参照)。このとき、最小の雑音帯域幅、すなわち最小の雑音と最良の温度分解能とが達成される。このとき、さらに、信号処理チャネルK…Kの前方のマルチプレクサが省略され得る(図2)。
しかし、より多くの信号処理チャネルK…Kによって、必要スペース及び電力損失も増大するので、特に非常に多くの画素を有するセンサアレイTPAの場合は、熱分解能及び必要スペースを考慮して、a>1を選択することも有効であり得る。
可能な限り多くの信号処理チャネルK…Kを1つのチップ上に実装するためには、チップの寸法及びコスト並びにサーモパイルセンサアレイTPAの複数の画素間の熱クロストークを僅かに抑えるように、当該個々のチャネルの必要面積と電力損失との双方を非常に小さくする必要がある。
このことを達成するため、比較的小さい、すなわち小さい500倍の増幅率を呈するそれぞれ1つの小型の低雑音前置増幅器VVだけを有する信号処理チャネルK…Kと、高い分解能を呈する、すなわち少なくとも10ビットを有する低消費電力の低速アナログ/デジタル変換器ADCとが使用される。
100倍未満の増幅率を呈する前置増幅器VVが有益であり、アナログ/デジタル変換器ADCの分解能は、特に16〜24ビットでなければならない。
小さい増幅率を呈する前置増幅器VVと高い分解能を呈する低速アナログ/デジタル変換器ADCとを組み合わせることによって、小さい必要面積が、当該小さい増幅率に起因して保証される。さらに、少ない電力消費が、確かに高い分解能であるが、比較的小さい転送速度で作動するアナログ/デジタル変換器ADCに起因して確実に達成される。
さらに、前置増幅器VVを使用することなしに、高い分解能のアナログ/デジタル変換器ADCを使用することが考えられる。当該アナログ/デジタル変換器ADCの正の基準電圧と負の基準電圧との僅かな差が有益である。何故なら、これにより、温度分解能が大きくなるからである。
例えば、小さいオフセット電圧及びオフセット電圧ドリフトを特徴とするオートゼロ(切り替えチョッパ)増幅器が、前置増幅器VVとして適する。100…500未満の増幅率の場合、1つのチョッパ増幅器が、一段で、すなわちスペース及び電力を非常に節約するように構成され得る。
高い分解能を呈する低速アナログ/デジタル変換器ADCに対しては、例えば「シグマ/デルタ」方式又は「電荷平衡」方式が適する。非常に多くのアナログ/デジタル変換器ADCが、センサチップSP上で並行して作動するので、出力部にただ1つのアナログ/デジタル変換器ADCを有する従来のサーモパイル赤外線センサアレイと比べると、低い変換速度が適する。変換速度が低いと、64×64センサアレイTPAで明らかにされ得るように、電力損失が要求通りに低くなり、必要スペースが小さくなる。
「シグマ/デルタ」方式又は「電荷平衡」方式にしたがって作動するアナログ/デジタル変換器は、その専門家において周知であり、一般的な変換器である。
ただ1つのアナログ/デジタル変換器を伴い、64×64個の画素を有する従来の技術にしたがって構成されたセンサアレイは、15Hzのフレームレートの場合に64×64個の画素×15Hz=61,440Hzのアナログ/デジタル変換器ADCの変換速度を必要とする。
本発明にしたがって並行に作動するアナログ/デジタル変換器ADCの場合は、専ら15Hz(a=1のとき)又は60Hz(a=4のとき)の変換速度が必要である。その結果、少ない電力消費で高い分解能を呈する(例えば16ビット以上を有する)アナログ/デジタル変換器が実現可能になる。
それぞれの信号処理チャネルK…Kのデジタル化された信号が、1つのI/OデジタルポートDIOのシリアル出力データストリームに変換される前に、当該それぞれの信号処理チャネルK…Kのデジタル化された信号は、メモリのメモリ領域RAM内に中間記憶され得る。これにより、1つの画像の全ての時間が、複数の画素信号を積分し低域通過フィルタリングするために提供されるように、データをデジタルポートDIOによって読み出すためのタイムチャートが選択され得る。
信号処理チャネルK…Kの雑音帯域幅は、好ましくは必要な最小の雑音帯域幅に減少されなければならない。当該最小の雑音帯域幅は、信号処理チャネルK…Kごとの画素SEの数とセンサチップTPAの画像周波数(フレームレート)との積から得られる。
例えば前置増幅器VVの一部として又は追加の低域通過フィルタTPFとして可能である低域通過フィルタTPFが、アナログ/デジタル変換器ADCの前方に集積されることによって、当該最小の雑音帯域幅への減少は、簡単に実現され得る。
図3及び図4bには、スペースを非常に節約するバリエーションが示されている。当該バリエーションの場合、雑音帯域幅の減少が、適切なアナログ/デジタル変換器ADC、例えば電荷平衡方式にしたがって作動するアナログ/デジタル変換器ADCの積分器の挙動によって非常に好適に達成される。
上記の新しい信号処理を使用することで、当該性能が、全体的に著しく改良される。
よく知られているように、白色雑音の場合は、当該雑音は、前置増幅器VVの信号帯域幅又は雑音帯域幅の平方根に比例して増大する。従来の技術による64×64個のセンサアレイを使用する場合、ただ1つの前置増幅器VVのときは、当該雑音帯域幅は、画像レート(フレームレート)の64×64倍だけ増大し、コラムごとに1つの信号増幅器のときでも、64倍だけ増大する。
したがって、1つの前置増幅器VVを有する1つの64×64センサアレイの全体の雑音及び温度分解能は、それぞれの画素が固有の1つの信号チャネルを有する1つのアレイの場合よりも64倍だけ高く、64個のコラム増幅器の場合でも、約8倍高い。
したがって、例えば本発明の1つの64×64センサアレイTPAは、従来の技術にしたがって構成された既知のセンサアレイよりも8倍まで高い熱分解能を達成し得る。同様に、熱分解能が、本発明の1つの16×16センサアレイTPAの場合は4倍程度改善可能であり、1つの32×32センサアレイTPAの場合は5.5倍程度改善可能であり、1つの128×128センサアレイTPAの場合は11倍程度改善可能である。
1つの128×128センサアレイTPAの場合に、信号処理チャネルの数が減少され、例えば、a=16個の画素が、1つの信号処理チャネルを共用するならば、熱分解能が、11倍改善されるだけではなくて、さらに、SN比が、国際公開第2006/122529号パンフレットに比べて3倍改善され、ただ1つの信号伝送チャネルを有するその他の従来の技術に比べて32倍程度改善される。
本発明にしたがって構成された信号処理チャネルK…Kは、図5に示されているように個々の画素SEの縁領域内か、若しくはセンサチップSPの周囲の縁領域、すなわちこれらの画素の外側か、又は双方の領域上のうちの1つの配列で配置され得る。
良好な熱平衡、すなわち均一の熱画像を全てのセンサチップSEにわたって得るためには、様々な部品の損失電力が、センサチップSE上で可能な限り均一に且つ対称に分布されなければならない。
実際の信号処理チャネルK…KとマルチプレクサMUXとに加えて、別の複数の電子部品が、センサチップ上に一緒に集積され、当該マルチプレクサMUXを介してデジタルインタフェースに接続され得る(図1及び5参照)。これらの別の電子部品は、温度基準部、電圧基準部、又はメモリ手段(例えば、補正データを記憶するためのEEPROM)でもよく、又は場合によっては、例えばさらに信号を処理する若しくは温度を算出するための小型のマイクロコントローラでもよい。
ドリフト効果を補正し、これにより測定精度を向上させるため、例えば画素又は画像要素の信号のような追加情報REF/PTATが、シリアルデータストリームと一緒に同じ信号処理チャネルを通じて挿入されることがさらに有益であり得る。
積分形アナログ/デジタル変換器ADCを使用する場合、それぞれの画像レートに対して望ましい雑音帯域幅の設定が、その内部で生成されるマスタークロックと、そのクロックチャートによって予め設定される変換速度とによって予め設定され得る。
完璧を期すため、信号処理チャネルK…Kが、実際のセンサチップSPの下の独立チップROIC上に配置されてもよいことにも言及する(図6a、6b)。
図6aは、上述したように、複数のビアTSVと、1つのセンサチップSPの下に配置され、複数の信号処理チャネルK…K及び信号処理回路を集積した独立チップROICとを伴う当該センサチップSPの概略断面図である。これらのビアTSVは、導電性材料で充填され、センサチップSPを貫通する複数の貫通孔である。これらの貫通孔は、センサチップSPから絶縁されている。これらの貫通孔の端部がそれぞれ、センサチップSP又は独立チップROIC上の図示されていない配線経路に接続されている。言うまでもなく、センサチップSPと独立チップRIOCとの間も、機械的に固定して接合される必要がある。
図6bは、図6aに倣うものの、放射線入射窓SEFを有するキャップウェハCAPをセンサチップSP上に付加した回路装置を示す。キャップウェハCAPの全体が、赤外線透過材料から成ってもよく、又は、センサアレイTPAの上の領域だけが、このような赤外線透過材料から成ってもよい。さらに、サーモパイル赤外線センサアレイTPAを作動させるために必要になるプリント回路等上の別の機能構成要素群にセンサチップSPを接続するためのボンドワイヤBDのような追加の電気接続手段が設けられてもよい。
センサチップSPと独立チップROICとの間を電気接続するためのビアTSVの代わりに、迂回配線も考慮される。当該迂回配線の場合、配線経路が、側辺を迂回してセンサチップSPから独立チップROICまで延在する。
TPA センサアレイ
VV 前置増幅器
TPF 低域通過フィルタ
ADC アナログ/デジタル変換器
…K 信号処理チャネル
SE 画素
SP センサチップ
RAM メモリ領域
CRTL 制御回路
DIO デジタルポート
CLK クロック発生器
VREF 基準電圧
VDD ドレイン電圧
VSS ソース電圧
MUX マルチプレクサ
REF/PTAT 基準温度
a 画素数
TSV ビア
ROIC 独立チップ
CAP キャップウェハ
SEF 放射線入射窓
BD ボンドワイヤ

Claims (15)

  1. モノリシックに集積された信号処理部と1つのセンサアレイの複数の画素の信号のための並列な複数の信号処理チャネルとこれらの画素の信号をシリアルに出力するための1つのデジタルポートとを有する高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイであって、前記センサアレイが、1つ又は複数のセンサチップ上に存在する当該高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイにおいて、
    それぞれの信号処理チャネル(K…K)が、前記センサチップ(SP)上に又はこのセンサチップ(SP)の近くに配置されていて、少なくとも1つのアナログ/デジタル変換器(ADC)を有すること、及び
    前記アナログ/デジタル変換器(ADC)の結果を記憶するため、1つのメモリの1つのメモリ領域(RAM)が、それぞれの信号処理チャネル(K…K)に割り当てられていることを特徴とする高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  2. 前記センサアレイ(TPA)の個々の画素(SE)間の中心間隔は、300μm未満と100μm未満との間にあることを特徴とする請求項1に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  3. それぞれの信号処理チャネル(K…K)に、少なくとも1つの画素(SE)が割り当てられていて、最大で16個の数(a)の画素(SE)が割り当てられていることを特徴とする請求項1又は2に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  4. それぞれの信号処理チャネル(K…K)に対して、1つの信号マルチプレクサ(MUX)が、前記信号処理チャネル(K…K)に割り当てられた前記センサアレイ(TPA)の前記画素(SP)を選択するために設けられていることを特徴とする請求項3に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  5. 1つの前置増幅器(VV)が、前記信号処理チャネル(K…K)内の前記アナログ/デジタル変換器(ADC)の前方に接続されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  6. 前記前置増幅器(VV)は、500未満と100未満との間にある増幅率を有する請求項5に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  7. 前記アナログ/デジタル変換器(ADC)は、少なくとも10ビットと少なくとも16ビットとの間の分解能を有することを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  8. 前記アナログ/デジタル変換器(ADC)は、電荷平衡又はシグマ/デルタの方式にしたがって作動することを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  9. それぞれの信号処理チャネル(K…K)は、雑音帯域幅を限定するために1つの低域通過フィルタ(TPF)を有し、この低域通過フィルタ(TPF)のカットオフ周波数は、前記サーモパイル赤外線センサ(TPA)の画像レートと信号処理チャネル(K…K)ごとの前記画素(SE)の数との積に少なくとも相当するが、最大で前記積の3倍の値に相当することを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  10. 前記低域通過フィルタ(TPF)は、集積するアナログ/デジタル変換器(ADC)の構成要素であることを特徴とする請求項9に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  11. それぞれの信号処理チャネル(K…K)の雑音帯域幅が、それぞれの画像レートに応じて、集積する1つのアナログ/デジタル変換器(ADC)の使用によって、且つ外部に設けられているか又は内部で生成されるマスタークロックと前記アナログ/デジタル変換器(ADC)の予め設定されている変換速度とによって設定されていることを特徴とする請求項1〜10のいずれか1項に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  12. 複数の前記信号処理チャネル(K…K)の一部がそれぞれ、前記複数の画素(SE)間の中間空間内に配置されていることを特徴とする請求項1〜11のいずれか1項に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  13. 複数の前記信号処理チャネル(K…K)の少なくとも一部が、別の電子機器と一緒に、前記センサアレイ(TPA)を包囲する前記センサチップ(SP)の外側の縁領域内の領域に配置されていることを特徴とする請求項1〜12のいずれか1項に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  14. 前記信号処理チャネル(K…K)と信号マルチプレクサ(MUX)とに加えて、基準電圧部(VREF)、電圧供給部(VDD,VSS)、温度基準部、基準データメモリ(REF/PTAT)、基準データメモリ、クロック発生器(CLK)、I/Oデジタルポート(DIO)及び信号処理部のような別の電子部品が、前記センサチップ(SP)上に集積されていて、前記サーモパイル赤外線センサチップ(SP)と独立チップ(ROIC)とが互いに固定して接合されていることを特徴とする請求項1〜13のいずれか1項に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
  15. 複数の前記信号処理チャネル(K…K)の少なくとも一部が、センサ素子(SE)を有する前記センサチップ(SP)の下の独立チップ上に配置されていて、
    前記画素(SE)が、前記センサチップ(SP)を貫通するビア(VIA)又は迂回配線のような別の電気接続手段によって前記信号処理チャネル(K…K)又は/及び別の電子部品に電気接続されていて、
    前記サーモパイル赤外線センサチップ(SP)と独立チップ(ROIC)とが互いに固定して接合されていることを特徴とする請求項1〜14のいずれか1項に記載の高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ。
JP2018536333A 2015-10-05 2016-07-05 モノリシックに集積された信号処理部を有する高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ Active JP6709285B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102015116866 2015-10-05
DE102015116866.9 2015-10-05
PCT/EP2016/065844 WO2017059970A1 (de) 2015-10-05 2016-07-05 Hochauflösendes thermopile infrarot sensorarray mit monolithisch integrierter signalverarbeitung

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2018531399A true JP2018531399A (ja) 2018-10-25
JP2018531399A6 JP2018531399A6 (ja) 2018-12-13
JP6709285B2 JP6709285B2 (ja) 2020-06-10

Family

ID=56360409

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018536333A Active JP6709285B2 (ja) 2015-10-05 2016-07-05 モノリシックに集積された信号処理部を有する高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ

Country Status (6)

Country Link
US (2) US10578493B2 (ja)
EP (1) EP3359932A1 (ja)
JP (1) JP6709285B2 (ja)
KR (1) KR102100228B1 (ja)
CN (2) CN113008385B (ja)
WO (1) WO2017059970A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021199511A1 (ja) * 2020-03-31 2021-10-07 パナソニックIpマネジメント株式会社 赤外線センサ装置
US11595593B2 (en) 2020-12-24 2023-02-28 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Infrared image sensor

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10502622B2 (en) * 2016-06-30 2019-12-10 U.S.A. As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Detector control and data acquisition with custom application specific integrated circuit (ASIC)
DE102017102833A1 (de) 2017-01-18 2018-07-19 Heimann Sensor Gmbh Hochauflösendes Thermopile Infrarot Sensorarray
US11280500B2 (en) * 2018-08-03 2022-03-22 Pixart Imaging Inc. Auto detection system based on thermal signals
US10871394B2 (en) 2018-08-03 2020-12-22 Pixart Imaging Inc. Optical sensor assembly
CN110349946A (zh) * 2019-07-30 2019-10-18 北京北方高业科技有限公司 一种温度图像传感器及其制备方法
KR102217903B1 (ko) * 2019-11-19 2021-02-19 엘아이지넥스원 주식회사 신호 계측 회로를 이용한 신호 계측 장치 및 방법
CN114257242A (zh) * 2020-09-22 2022-03-29 无锡华润上华科技有限公司 热电堆阵列及其信号读出电路
CN114252160B (zh) * 2020-09-22 2024-03-22 无锡华润上华科技有限公司 模数转换器及热电堆阵列

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0743216A (ja) * 1993-07-26 1995-02-14 Nec Corp 赤外線センサおよびその製造方法
JP2001255203A (ja) * 2000-03-10 2001-09-21 Nec Corp 熱分離構造を有する熱型赤外線検出器
JP2003532111A (ja) * 2000-05-01 2003-10-28 ビーエイイー・システムズ・インフォメーション・アンド・エレクトロニック・システムズ・インテグレイション・インコーポレーテッド 放射センサの温度変動を補償するための方法および装置
JP2003535162A (ja) * 2000-05-25 2003-11-25 バセル ポリオレフィン イタリア エス.ピー.エー. 高流動性のプロピレンブロック共重合体
JP2006098223A (ja) * 2004-09-29 2006-04-13 Sanyo Electric Co Ltd ノイズ除去回路及びそれを備えた温度測定処理装置
JP2008187299A (ja) * 2007-01-26 2008-08-14 Toyota Motor Corp Δσadc回路
JP2008541102A (ja) * 2005-05-17 2008-11-20 ハイマン・ゼンゾル・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング サーモパイル赤外線センサアレイ
JP2012112665A (ja) * 2010-11-19 2012-06-14 Panasonic Corp センサ装置
JP2013535162A (ja) * 2010-06-29 2013-09-09 エクセリタス テクノロジーズ シンガポール プライヴェート リミテッド 多重化センサアレイ
WO2014061688A1 (ja) * 2012-10-17 2014-04-24 Ntn株式会社 直動案内装置
WO2015051274A1 (en) * 2013-10-04 2015-04-09 icClarity, Inc. A method to use array sensors to measure multiple types of data at full resolution of the sensor

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6046398A (en) * 1998-11-04 2000-04-04 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Micromachined thermoelectric sensors and arrays and process for producing
JP4255628B2 (ja) 2001-06-07 2009-04-15 雅則 奥山 赤外線2次元センサアレイシステム
JP3709846B2 (ja) * 2002-01-18 2005-10-26 ソニー株式会社 並列型ad変換器
JP4231681B2 (ja) 2002-11-22 2009-03-04 株式会社堀場製作所 サーモパイルアレイセンサ
DE10322860B4 (de) 2003-05-21 2005-11-03 X-Fab Semiconductor Foundries Ag Schaltungsanordnung zum Auslesen elektronischer Signale aus hochauflösenden thermischen Sensoren
JP4682750B2 (ja) * 2005-08-22 2011-05-11 ソニー株式会社 Da変換装置
JP4750206B2 (ja) * 2007-03-16 2011-08-17 富士通株式会社 拡散スイッチを有するサンプルホールド回路及びそれを利用したアナログデジタルコンバータ
EP2358266A4 (en) * 2008-11-20 2012-10-03 Bodymedia Inc METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING CRITICAL CARE PARAMETERS
DE102010042108B4 (de) * 2010-01-18 2013-10-17 Heimann Sensor Gmbh Thermopile-Infrarot-Sensor in monolithischer Si-Mikromechanik
DE102010013661A1 (de) 2010-04-01 2011-10-06 Perkinelmer Technologies Gmbh & Co. Kg Strahlungssensor
JP5842118B2 (ja) 2010-06-24 2016-01-13 パナソニックIpマネジメント株式会社 赤外線センサ
KR101331996B1 (ko) 2011-12-09 2013-11-25 주식회사 지멤스 써모파일 센서 및 그 제조방법
CN104246457B (zh) * 2012-02-16 2018-07-20 赫曼传感器公司 具有高填充水平的热电堆红外线传感器结构
US8896474B2 (en) * 2012-02-16 2014-11-25 Stichting Voor De Technische Wetenschappen Two-stage phase digitizer
US20130284927A1 (en) 2012-04-10 2013-10-31 Ud Holdings, Llc Infrared detector having at least one switch positioned therein for modulation and/or bypass
CN105210190A (zh) 2013-06-13 2015-12-30 巴斯夫欧洲公司 光学检测器及其制造方法

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0743216A (ja) * 1993-07-26 1995-02-14 Nec Corp 赤外線センサおよびその製造方法
JP2001255203A (ja) * 2000-03-10 2001-09-21 Nec Corp 熱分離構造を有する熱型赤外線検出器
JP2003532111A (ja) * 2000-05-01 2003-10-28 ビーエイイー・システムズ・インフォメーション・アンド・エレクトロニック・システムズ・インテグレイション・インコーポレーテッド 放射センサの温度変動を補償するための方法および装置
JP2003535162A (ja) * 2000-05-25 2003-11-25 バセル ポリオレフィン イタリア エス.ピー.エー. 高流動性のプロピレンブロック共重合体
JP2006098223A (ja) * 2004-09-29 2006-04-13 Sanyo Electric Co Ltd ノイズ除去回路及びそれを備えた温度測定処理装置
JP2008541102A (ja) * 2005-05-17 2008-11-20 ハイマン・ゼンゾル・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング サーモパイル赤外線センサアレイ
JP2008187299A (ja) * 2007-01-26 2008-08-14 Toyota Motor Corp Δσadc回路
JP2013535162A (ja) * 2010-06-29 2013-09-09 エクセリタス テクノロジーズ シンガポール プライヴェート リミテッド 多重化センサアレイ
JP2012112665A (ja) * 2010-11-19 2012-06-14 Panasonic Corp センサ装置
WO2014061688A1 (ja) * 2012-10-17 2014-04-24 Ntn株式会社 直動案内装置
WO2015051274A1 (en) * 2013-10-04 2015-04-09 icClarity, Inc. A method to use array sensors to measure multiple types of data at full resolution of the sensor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021199511A1 (ja) * 2020-03-31 2021-10-07 パナソニックIpマネジメント株式会社 赤外線センサ装置
US11595593B2 (en) 2020-12-24 2023-02-28 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Infrared image sensor

Also Published As

Publication number Publication date
KR102100228B1 (ko) 2020-04-13
US20200124481A1 (en) 2020-04-23
US20180283958A1 (en) 2018-10-04
US10578493B2 (en) 2020-03-03
CN113008385B (zh) 2023-04-07
CN113008385A (zh) 2021-06-22
CN108351252A (zh) 2018-07-31
EP3359932A1 (de) 2018-08-15
US10948355B2 (en) 2021-03-16
WO2017059970A1 (de) 2017-04-13
KR20180083854A (ko) 2018-07-23
JP6709285B2 (ja) 2020-06-10
CN108351252B (zh) 2021-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6709285B2 (ja) モノリシックに集積された信号処理部を有する高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ
JP2018531399A6 (ja) モノリシックに集積された信号処理部を有する高解像度のサーモパイル赤外線センサアレイ
JP7198309B2 (ja) 高分解能サーモパイル型赤外線センサアレイ
JP2021144046A5 (ja)
JP5235814B2 (ja) 固体撮像装置
JP2009141631A (ja) 光電変換装置及び撮像装置
JP2017501628A (ja) イメージングアレイでの使用に適合された可変利得カラム増幅器
KR101949524B1 (ko) 공간 잡음에 대해 낮은 민감도를 가지는 전자기 방사 검출 기기
JP2015084492A (ja) 信号読み出し回路および信号読み出し回路の制御方法
KR102576469B1 (ko) 롤링 서브프레임 펄스드 바이어스 마이크로볼로미터 적산
US5225695A (en) Solid-state imaging device having multiple charge detectors
JP4633991B2 (ja) 信号読出回路
JP5210943B2 (ja) 赤外線固体撮像素子
CN114257242A (zh) 热电堆阵列及其信号读出电路
JP5188641B2 (ja) 光電変換装置及び撮像装置
WO2001088989A2 (en) Unit cell with fan-out for large focal plane arrays with small detector pitch

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180605

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180605

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190222

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190320

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20190507

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190614

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20191002

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200130

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20200210

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200430

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200522

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6709285

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250