JP2018523095A - 特に低減ピッチ用途のための、垂直プローブを有するテストヘッド - Google Patents
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Claims (18)
- 被テストデバイス(24)の動作をテストするための垂直プローブを有するテストヘッド(20)であって、前記テストヘッドは複数の接触プローブ(21)を含み、各接触プローブ(21)は、第1の端(21A)と第2の端(21B)との間で延在する所定の長さの棒状の本体であって、互いに平行な且つ曲げゾーン(29)によって間隔をあけられた少なくとも1つのプレート状の下側ガイド(22)と1つのプレート状の上側ガイド(23)とにおいて作られたそれぞれのガイド穴(22A、23A)内に収容される棒状の本体を有し、前記テストヘッドは、前記下側ガイド(22)及び上側ガイド(23)のうちの少なくとも1つが、少なくとも1つの凹陥部(27、27B)であって、複数の前記ガイド穴(22A、23A)において形成され、且つ前記複数の前記ガイド穴(22A、23A)の厚さを低減するように適合された低下部分(26A、26B)を実現する、少なくとも1つの凹陥部(27、27B)を備えることを特徴とする、テストヘッド(20)。
- 前記凹陥部(27、27B)及び低下部分(26A、26B)は、対応するガイド(22、23)であってそこにおいて前記低下部分(26A、26B)が作られる対応するガイド(22、23)の厚さ(S1、S’1)の20%〜80%に等しい厚さ(S2、S’2)を有することを特徴とする、請求項1に記載のテストヘッド(20)。
- 前記凹陥部(27、27B)及び低下部分(26A、26B)の前記厚さ(S2、S’2)は、前記複数の前記ガイド穴(22A、23A)であってその中で前記接触プローブ(21)が摺動する前記複数の前記ガイド穴(22A、23A)の前記厚さ(S3、S’3)を80μm〜150μmの値まで、好ましくは100μmまで低減するように適合された値を有することを特徴とする、請求項2に記載のテストヘッド(20)。
- 前記下側ガイド(22)及び上側ガイド(23)の両方が、それぞれの凹陥部(27、27B)によるそれぞれの低下部分(26A、26B)を備えたガイド穴(22A、23A)を含むことを特徴とする、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載のテストヘッド(20)。
- 前記テストヘッド(20)は、前記被テストデバイス(24)の第1の信号領域の接触パッド(24A)をテストするための第1の複数の接触プローブ(21)と、前記被テストデバイス(24)の第2の電力領域の接触パッド(24B)をテストするための第2の複数の接触プローブ(21’)とを含むこと、及び、第1の領域の前記接触パッド(24A)は、第2の領域の前記接触パッド(24B)のピッチより小さいピッチを有することを特徴とする、請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載のテストヘッド(20)。
- 前記第1の領域の前記接触パッド(24A)は、前記第2の領域の前記接触パッド(24B)より小さい直径を有することを特徴とする、請求項5に記載のテストヘッド(20)。
- 前記第1の複数の前記接触プローブ(21)は、前記第2の複数の前記接触プローブ(21’)のプローブ直径より小さいプローブ直径を有し、直径は、前記接触プローブ(21)の断面の最大横寸法を意味し、これは非円形のものについても同様であることを特徴とする、請求項5又は請求項6に記載のテストヘッド(20)。
- 前記第1の複数の前記接触プローブ(21)は、前記第2の複数の前記接触プローブ(21’)によって運ばれる信号(特に電力信号)より小さい電流値を有する信号(特に入力/出力信号)を運ぶことを特徴とする、請求項5〜請求項7のいずれか一項に記載のテストヘッド(20)。
- 前記第2の複数の前記接触プローブ(21’)は5000μmより短い長さの本体を有し、前記本体内に長手方向に作られた少なくとも1つの開口(30)又は非貫通溝を含むことを特徴とする、請求項5〜請求項8のいずれか一項に記載のテストヘッド(20)。
- 前記凹陥部(27)において作られる前記複数の前記ガイド穴(22A、23A)は、前記被テストデバイス(24)の一領域の接触パッド(24A)をテストするための接触プローブ(21)であって前記テストヘッド(20)内に収容された残りの接触プローブ(21、21’)より小さいピッチを有する接触プローブ(21)を収容し、この領域は微細ピッチ領域として示されることを特徴とする、請求項1に記載のテストヘッド(20)。
- 前記テストヘッド(20)は、前記下側ガイド(22)と又は前記上側ガイド(23)と結合された少なくとも1つの中間ガイド(220、230)を含むことを特徴とする、請求項1〜請求項10のいずれか一項に記載のテストヘッド(20)。
- 前記中間ガイドは、好適な連結フレーム(28)によって前記下側ガイド(22)に連結された下側中間ガイド(220)であり、前記連結フレーム(28)は、前記下側中間ガイド(220)と前記下側ガイド(22)との間に、前記ガイド(220、22)の間のスペーサ要素として且つ接続要素として働くように配置されるものであり、及び/又は、前記中間ガイドは、好適な追加の連結フレーム(28’)によって前記上側ガイド(23)に連結された上側中間ガイド(230)であり、前記追加の連結フレーム(28’)は、前記上側ガイド(23)と前記上側中間ガイド(230)との間に、前記ガイド(23、230)の間のスペーサ要素として且つ接続要素として働くように配置されるものであることを特徴とする、請求項11に記載のテストヘッド(20)。
- 前記中間ガイド(220、230)は、前記中間ガイド(220、230)のガイド穴(220A、230A)における低下部分(260A、260B)を実現する少なくとも1つの凹陥部(270、270B)を備えることを特徴とする、請求項11又は請求項12に記載のテストヘッド(20)。
- 前記ガイド(22、23、220、230)のうちの少なくとも1つは、互いに適切に一体化された少なくとも1つの第1及び第2のプレート状要素(31、32;33、34;310、320;330、340)によって形成され、前記少なくとも1つの第1及び第2のプレート状要素(31、32;33、34;310、320;330、340)は、それらによって形成される前記ガイド(22、23、220、230)のうちの前記少なくとも1つの厚さ(S1、S’1)より小さいそれぞれの厚さ(S2、S’2、S3、S3’)を有し、前記第1のプレート状要素(31;33;310;330)は開口(27、27B、270、270B)を備え、前記第2のプレート状要素(32;34;320;340)はガイド穴(22A、23A、220A、230A)を備え、前記開口(27、27B、270、270B)は、前記ガイド穴(22A、23A、220A、230A)における低下部分(26A、26B、260A、260B)を実現する凹陥部に対応することを特徴とする、請求項1〜請求項13のいずれか一項に記載のテストヘッド(20)。
- 前記ガイド(22、23、220、230)のうちの少なくとも1つは、互いに異なる厚さを有する複数の凹陥部(27、27B)を含むことを特徴とする、請求項1〜請求項14のいずれか一項に記載のテストヘッド(20)。
- 前記テストヘッド(20)は、前記ガイド(22、23、220、230)の少なくとも1つのコーティング層であって、前記ガイド穴(22A、23A、220A、230A)も覆うように適合された少なくとも1つのコーティング層をさらに含むことを特徴とする、請求項1〜請求項15のいずれか一項に記載のテストヘッド(20)。
- 前記コーティング層は、低い摩擦係数を有する材料で作られることを特徴とする、請求項16に記載のテストヘッド(20)。
- 前記材料はテフロン及びパリレンから選択されることを特徴とする、請求項17に記載のテストヘッド(20)。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR102106137B1 (ko) * | 2019-06-14 | 2020-04-29 | 주식회사 마이크로컨텍솔루션 | 컨택트 핀, 및 소켓 장치 |
JP2020143976A (ja) * | 2019-03-06 | 2020-09-10 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
KR20210121555A (ko) * | 2020-03-30 | 2021-10-08 | (주)포인트엔지니어링 | 프로브 헤드 및 이를 구비하는 프로브 카드 |
KR102475883B1 (ko) * | 2022-11-09 | 2022-12-08 | 윌테크놀러지(주) | 니들 팁의 길이조절을 위한 가변형 스페이서를 갖는 니들블럭 |
WO2023105553A1 (ja) * | 2021-12-06 | 2023-06-15 | 日本電子材料株式会社 | プローブカード |
JP7470114B2 (ja) | 2018-11-06 | 2024-04-17 | テクノプローべ ソシエタ ペル アチオニ | 被試験デバイスに対する改善された接触特性を有する垂直プローブヘッド |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT201600127507A1 (it) * | 2016-12-16 | 2018-06-16 | Technoprobe Spa | Sonda di contatto e relativa testa di misura per un’apparecchiatura di test di dispositivi elettronici |
IT201700017061A1 (it) * | 2017-02-15 | 2018-08-15 | Technoprobe Spa | Scheda di misura perfezionata per applicazioni ad alta frequenza |
IT201700021397A1 (it) | 2017-02-24 | 2018-08-24 | Technoprobe Spa | Testa di misura con migliorate proprietà in frequenza |
US20200124664A1 (en) * | 2017-04-03 | 2020-04-23 | Kes Systems & Service (1993) Pte, Ltd. | Electrical test apparatus having adjustable contact pressure |
JP2018179721A (ja) * | 2017-04-12 | 2018-11-15 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
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CN110068711B (zh) * | 2018-01-24 | 2022-04-26 | 台湾中华精测科技股份有限公司 | 探针卡装置及矩形探针 |
IT201800002877A1 (it) | 2018-02-20 | 2019-08-20 | Technoprobe Spa | Apparato e metodo per l’assemblaggio automatizzato di una testa di misura |
CN110346616B (zh) * | 2018-04-03 | 2021-06-15 | 中华精测科技股份有限公司 | 探针卡装置及探针座 |
CN108593980A (zh) * | 2018-04-18 | 2018-09-28 | 强半导体(苏州)有限公司 | 一种接触探针、测试头及接触探针的制造方法 |
KR102072451B1 (ko) * | 2018-07-27 | 2020-02-04 | 주식회사 에스디에이 | 프로브카드 헤드블록 |
IT201900014208A1 (it) * | 2019-08-07 | 2021-02-07 | Technoprobe Spa | Testa di misura di dispositivi elettronici e relativa scheda di misura |
KR20210040685A (ko) * | 2019-10-04 | 2021-04-14 | (주)포인트엔지니어링 | 프로브 카드 |
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TWI712802B (zh) * | 2020-01-21 | 2020-12-11 | 中華精測科技股份有限公司 | 探針卡裝置及其類頸式探針 |
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TWI817426B (zh) * | 2022-03-31 | 2023-10-01 | 中華精測科技股份有限公司 | 模組化垂直式探針卡的探針頭 |
KR20230163902A (ko) | 2022-05-24 | 2023-12-01 | (주)포인트엔지니어링 | 금속 성형물 |
TWI831307B (zh) * | 2022-07-26 | 2024-02-01 | 思達科技股份有限公司 | 導板結構及探針陣列 |
KR20240017651A (ko) | 2022-08-01 | 2024-02-08 | (주)포인트엔지니어링 | 전기 전도성 접촉핀 및 그 제조방법 |
KR20240055546A (ko) * | 2022-10-20 | 2024-04-29 | 주식회사 에이엠에스티 | 프로브 카드, 프로브 카드용 프로브 핀, 프로브 카드용 가이드 플레이트 및 이들의 제조 방법 |
Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05312833A (ja) * | 1992-05-13 | 1993-11-26 | Hitachi Ltd | プローブカード |
JPH0650991A (ja) * | 1992-07-31 | 1994-02-25 | Toho Denshi Kk | プローブ装置 |
JP2000214182A (ja) * | 1999-01-27 | 2000-08-04 | Mitsubishi Electric Corp | ウエハテスト用プロ―ブカ―ド |
US6292004B1 (en) * | 1999-04-23 | 2001-09-18 | Douglas Kocher | Universal grid interface |
WO2007125974A1 (ja) * | 2006-04-28 | 2007-11-08 | Nhk Spring Co., Ltd. | 導電性接触子ホルダ |
JP2009002845A (ja) * | 2007-06-22 | 2009-01-08 | Micronics Japan Co Ltd | 接触子及び接続装置 |
JP2012078297A (ja) * | 2010-10-05 | 2012-04-19 | Tokuso Riken:Kk | ワイヤープローブ用治具並びにこれを用いた検査装置並びに検査方法 |
JP2012173263A (ja) * | 2011-02-24 | 2012-09-10 | Japan Electronic Materials Corp | 電気的接触子及び電気的接触子ユニット |
JP2013015422A (ja) * | 2011-07-04 | 2013-01-24 | Gardian Japan Co Ltd | 配線検査治具及び配線検査装置 |
JP2013205098A (ja) * | 2012-03-27 | 2013-10-07 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ及びプローブカード |
JP2014510283A (ja) * | 2011-03-21 | 2014-04-24 | フォームファクター, インコーポレイテッド | 非線形垂直板バネ |
JP2014232030A (ja) * | 2013-05-28 | 2014-12-11 | 新光電気工業株式会社 | プローブガイド板及びその製造方法、半導体検査装置 |
JP2014240788A (ja) * | 2013-06-12 | 2014-12-25 | 日置電機株式会社 | プローブユニット、基板検査装置およびプローブユニット製造方法 |
Family Cites Families (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5144997B1 (ja) | 1971-03-22 | 1976-12-01 | ||
JPS51118559A (en) | 1975-04-10 | 1976-10-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Device for automatically igniting and sending out cigarette |
JPS5312833A (en) * | 1976-07-22 | 1978-02-04 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | Preparation of dimethylterephthalate |
JPS6050991A (ja) * | 1983-08-31 | 1985-03-22 | 昭和電工株式会社 | 電気絶縁基板 |
US5701086A (en) * | 1993-10-26 | 1997-12-23 | Hewlett-Packard Company | Connecting test equipment to adjacent legs of an IC or the like by interdigitating conductive wedges with the legs |
US5729150A (en) * | 1995-12-01 | 1998-03-17 | Cascade Microtech, Inc. | Low-current probe card with reduced triboelectric current generating cables |
JPH10132895A (ja) * | 1996-10-25 | 1998-05-22 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 半導体装置の電気特性検査装置およびその製造方法 |
US5773988A (en) * | 1996-10-29 | 1998-06-30 | Hewlett-Packard Company | Standard- and limited-access hybrid test fixture |
JP3364401B2 (ja) * | 1996-12-27 | 2003-01-08 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブカードクランプ機構及びプローブ装置 |
US6551844B1 (en) * | 1997-01-15 | 2003-04-22 | Formfactor, Inc. | Test assembly including a test die for testing a semiconductor product die |
US5923178A (en) * | 1997-04-17 | 1999-07-13 | Cerprobe Corporation | Probe assembly and method for switchable multi-DUT testing of integrated circuit wafers |
US6404211B2 (en) | 1999-02-11 | 2002-06-11 | International Business Machines Corporation | Metal buckling beam probe |
JP2005332982A (ja) * | 2004-05-20 | 2005-12-02 | Renesas Technology Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP4757531B2 (ja) | 2005-04-28 | 2011-08-24 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子ホルダおよび導電性接触子ユニット |
CN100432679C (zh) * | 2005-08-10 | 2008-11-12 | 采钰科技股份有限公司 | 垂直式探针卡 |
JP2008034569A (ja) * | 2006-07-28 | 2008-02-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路検査用プローブカードとその製造方法 |
JP4458077B2 (ja) * | 2006-08-21 | 2010-04-28 | ヤマハ株式会社 | 検査用チップソケット |
US8907689B2 (en) * | 2006-10-11 | 2014-12-09 | Microprobe, Inc. | Probe retention arrangement |
US7554348B2 (en) | 2007-06-29 | 2009-06-30 | Wentworth Laboratories, Inc. | Multi-offset die head |
US8166446B2 (en) * | 2007-09-13 | 2012-04-24 | Jabil Circuit, Inc. | Flexible test fixture |
JP5144997B2 (ja) * | 2007-09-21 | 2013-02-13 | 東京特殊電線株式会社 | コンタクトプローブユニット及びその製造方法 |
JP5069542B2 (ja) * | 2007-12-03 | 2012-11-07 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブカード |
US20110006799A1 (en) * | 2008-02-21 | 2011-01-13 | Tokyo Electron Limited | Method for manufacturing probe supporting plate, computer storage medium and probe supporting plate |
TWM342638U (en) * | 2008-03-10 | 2008-10-11 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector |
US8103992B1 (en) * | 2008-05-02 | 2012-01-24 | Xilinx, Inc. | Rapid rerouting based runtime reconfigurable signal probing |
US8803539B2 (en) * | 2009-06-03 | 2014-08-12 | Hsio Technologies, Llc | Compliant wafer level probe assembly |
JP2011043377A (ja) * | 2009-08-20 | 2011-03-03 | Tokyo Electron Ltd | 検査用接触構造体 |
TWI416121B (zh) * | 2009-11-04 | 2013-11-21 | Mjc Probe Inc | 探針卡 |
TWI435083B (zh) * | 2010-07-27 | 2014-04-21 | Mpi Corp | Combination probe head for vertical probe card and its assembly alignment method |
US8957691B2 (en) * | 2011-10-21 | 2015-02-17 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Probe cards for probing integrated circuits |
JP5690321B2 (ja) * | 2012-11-29 | 2015-03-25 | 株式会社アドバンテスト | プローブ装置および試験装置 |
US9423424B2 (en) * | 2013-01-11 | 2016-08-23 | Mpi Corporation | Current-diverting guide plate for probe module and probe module using the same |
TW201441628A (zh) * | 2013-04-16 | 2014-11-01 | Mpi Corp | 用於探針模組之分流導板及使用該分流導板之探針模組 |
JP6033130B2 (ja) * | 2013-03-13 | 2016-11-30 | 新光電気工業株式会社 | プローブガイド板及びその製造方法 |
US9880199B2 (en) * | 2014-08-21 | 2018-01-30 | Teradyne, Inc. | Probe alignment connection device |
-
2016
- 2016-05-05 KR KR1020177034399A patent/KR102577451B1/ko active IP Right Grant
- 2016-05-05 TW TW105113919A patent/TWI702402B/zh active
- 2016-05-05 EP EP16726015.7A patent/EP3292415B1/en active Active
- 2016-05-05 JP JP2017558436A patent/JP6820277B2/ja active Active
- 2016-05-05 WO PCT/EP2016/060123 patent/WO2016177850A1/en active Application Filing
- 2016-05-05 MY MYPI2017704067A patent/MY186784A/en unknown
- 2016-05-05 CN CN201680026635.6A patent/CN107580681B/zh active Active
-
2017
- 2017-10-30 PH PH12017501988A patent/PH12017501988A1/en unknown
- 2017-11-01 US US15/801,067 patent/US10698003B2/en active Active
Patent Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05312833A (ja) * | 1992-05-13 | 1993-11-26 | Hitachi Ltd | プローブカード |
JPH0650991A (ja) * | 1992-07-31 | 1994-02-25 | Toho Denshi Kk | プローブ装置 |
JP2000214182A (ja) * | 1999-01-27 | 2000-08-04 | Mitsubishi Electric Corp | ウエハテスト用プロ―ブカ―ド |
US6292004B1 (en) * | 1999-04-23 | 2001-09-18 | Douglas Kocher | Universal grid interface |
WO2007125974A1 (ja) * | 2006-04-28 | 2007-11-08 | Nhk Spring Co., Ltd. | 導電性接触子ホルダ |
JP2009002845A (ja) * | 2007-06-22 | 2009-01-08 | Micronics Japan Co Ltd | 接触子及び接続装置 |
JP2012078297A (ja) * | 2010-10-05 | 2012-04-19 | Tokuso Riken:Kk | ワイヤープローブ用治具並びにこれを用いた検査装置並びに検査方法 |
JP2012173263A (ja) * | 2011-02-24 | 2012-09-10 | Japan Electronic Materials Corp | 電気的接触子及び電気的接触子ユニット |
JP2014510283A (ja) * | 2011-03-21 | 2014-04-24 | フォームファクター, インコーポレイテッド | 非線形垂直板バネ |
JP2013015422A (ja) * | 2011-07-04 | 2013-01-24 | Gardian Japan Co Ltd | 配線検査治具及び配線検査装置 |
JP2013205098A (ja) * | 2012-03-27 | 2013-10-07 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ及びプローブカード |
JP2014232030A (ja) * | 2013-05-28 | 2014-12-11 | 新光電気工業株式会社 | プローブガイド板及びその製造方法、半導体検査装置 |
JP2014240788A (ja) * | 2013-06-12 | 2014-12-25 | 日置電機株式会社 | プローブユニット、基板検査装置およびプローブユニット製造方法 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7470114B2 (ja) | 2018-11-06 | 2024-04-17 | テクノプローべ ソシエタ ペル アチオニ | 被試験デバイスに対する改善された接触特性を有する垂直プローブヘッド |
JP2020143976A (ja) * | 2019-03-06 | 2020-09-10 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
US12000867B2 (en) | 2019-03-06 | 2024-06-04 | Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | Electrical connecting device |
KR102106137B1 (ko) * | 2019-06-14 | 2020-04-29 | 주식회사 마이크로컨텍솔루션 | 컨택트 핀, 및 소켓 장치 |
KR20210121555A (ko) * | 2020-03-30 | 2021-10-08 | (주)포인트엔지니어링 | 프로브 헤드 및 이를 구비하는 프로브 카드 |
KR102342806B1 (ko) | 2020-03-30 | 2021-12-23 | (주)포인트엔지니어링 | 프로브 헤드 및 이를 구비하는 프로브 카드 |
WO2023105553A1 (ja) * | 2021-12-06 | 2023-06-15 | 日本電子材料株式会社 | プローブカード |
KR102475883B1 (ko) * | 2022-11-09 | 2022-12-08 | 윌테크놀러지(주) | 니들 팁의 길이조절을 위한 가변형 스페이서를 갖는 니들블럭 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6820277B2 (ja) | 2021-01-27 |
KR102577451B1 (ko) | 2023-09-12 |
EP3292415A1 (en) | 2018-03-14 |
CN107580681A (zh) | 2018-01-12 |
KR20180004753A (ko) | 2018-01-12 |
US20180052190A1 (en) | 2018-02-22 |
MY186784A (en) | 2021-08-20 |
EP3292415B1 (en) | 2020-04-01 |
US10698003B2 (en) | 2020-06-30 |
WO2016177850A1 (en) | 2016-11-10 |
PH12017501988A1 (en) | 2018-03-26 |
CN107580681B (zh) | 2020-06-19 |
TWI702402B (zh) | 2020-08-21 |
TW201643441A (zh) | 2016-12-16 |
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