JP2018520582A - アナログ−デジタル変換器システム - Google Patents
アナログ−デジタル変換器システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018520582A JP2018520582A JP2017561944A JP2017561944A JP2018520582A JP 2018520582 A JP2018520582 A JP 2018520582A JP 2017561944 A JP2017561944 A JP 2017561944A JP 2017561944 A JP2017561944 A JP 2017561944A JP 2018520582 A JP2018520582 A JP 2018520582A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- adc
- signal
- digital
- sampling
- time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 103
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 73
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 63
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 11
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 28
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000005094 computer simulation Methods 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/10—Calibration or testing
- H03M1/1009—Calibration
- H03M1/1033—Calibration over the full range of the converter, e.g. for correcting differential non-linearity
- H03M1/1038—Calibration over the full range of the converter, e.g. for correcting differential non-linearity by storing corrected or correction values in one or more digital look-up tables
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/10—Calibration or testing
- H03M1/1004—Calibration or testing without interrupting normal operation, e.g. by providing an additional component for temporarily replacing components to be tested or calibrated
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/1205—Multiplexed conversion systems
- H03M1/121—Interleaved, i.e. using multiple converters or converter parts for one channel
- H03M1/1215—Interleaved, i.e. using multiple converters or converter parts for one channel using time-division multiplexing
Abstract
Description
Claims (23)
- 時間インターリーブアナログ−デジタル変換器(ADC)システム(200)であって、
アナログ信号を受信するように設定される入力ポート(202)と、
並列に配置構成される、M≧2であるM個のADCを備えるADCアレイ(204)であって、各々のADCは、前記アナログ信号の一部分を受信して、サンプルレートfsでデジタル信号に変換するように設定される、ADCアレイ(204)と、
前記アナログ信号を受信して、fsより低いアベレージサンプリングレートfrefでデジタル参照信号に変換するように設定される参照ADC(206)であって、前記参照ADCの各々のサンプリング時点は、ADCの前記アレイ内のADCのサンプリング時点に対応し、各々の参照ADCサンプリング時点に対して選択すべき前記ADCは、時間と共にランダム化される、参照ADC(206)と、
前記ADCアレイのデジタル信号出力を補正されたデジタル出力信号に調整することを、前記デジタル参照信号のサンプル、および、対応する選択されたADCからのデジタル信号に基づいて行うように設定される補正モジュール(208)と
を備える、時間インターリーブADCシステム。 - 各々の参照ADCサンプリング時点に対して選択すべき前記ADCは、擬似ランダムパターンに基づく、請求項1に記載のシステム。
- 前記擬似ランダムパターンは、あらかじめ決定されたパターンである、請求項2に記載のシステム。
- 前記補正モジュールは、前記出力信号と前記参照信号との間の差として計算されるフィードバック誤差を使用して更新されるように設定される、請求項1から3のいずれか一項に記載のシステム。
- 前記サンプリングレートfsは、fs=F/Mとして定義され、Fは、システムクロック周波数である、請求項1から4のいずれか一項に記載のシステム。
- システムクロックレートをM倍低減してfs=F/Mを得て、前記ADCアレイに対する連続的なサンプリングイベントをtD=1/(fs*M)だけ遅延させるように設定される時間遅延モジュール(210)をさらに備える、請求項1から5のいずれか一項に記載のシステム。
- 前記参照ADCの前記サンプリング時点を制御するように設定される参照ADCクロック制御モジュール(212)をさらに備え、前記参照ADCクロック制御モジュールは、前記参照ADCに対する2つの連続的なサンプルイベントの間の期間が、1/fs+D/(fs*M)であるように、サンプリングすべき前記ADCを、基本期間1/fsに加算されるオフセット時間toffset=D/(fs*M)に基づいて選択するようにさらに設定され、式中、Dは、ランダム整数D=0…(M−1)である、請求項1から6のいずれか一項に記載のシステム。
- Dは、擬似ランダムバイナリシーケンスから生成される、請求項7に記載のシステム。
- 前記参照ADCは、因子Rによりアンダーサンプリングされ、Rは、正の整数R≧1であり、したがって、アベレージのアンダーサンプリングされるサンプリングレートfrefUは、frefU=fref/Rとして決定され、したがって、前記参照ADCに対する2つの連続的なサンプルイベントの間の前記期間は、R/fs+D/(fs*M)により得られ、式中、Dは、ランダム整数D=0…(M−1)である、請求項1から8のいずれか一項に記載のシステム。
- 前記補正モジュールは、DC誤差、ゲインオフセット誤差、時間オフセット誤差、および/または非線形性誤差を補正するように設定される、請求項1から9のいずれか一項に記載のシステム。
- 前記補正モジュールは、M個の補正ブロック(304a〜d)を備え、各々の補正ブロックは、前記ADCアレイのそれぞれのADCに対応する、請求項1から10のいずれか一項に記載のシステム。
- 時間インターリーブアナログ−デジタル変換器(ADC)システムであって、
アナログ信号を受信するように設定される入力ポート(202)と、
並列に配置構成される、M≧2であるM個のADCを備えるADCアレイ(204)であって、各々のADCは、前記アナログ信号の一部分を受信して、サンプルレートfsでデジタル信号に変換するように設定される、ADCアレイ(204)と、
サンプリング周波数fs=F/Mを有するサンプルクロックモジュール(210)であって、Fは、システムクロックであり、前記ADCに対する連続的なサンプリングイベントが、tD=1/(fs*M)だけ遅延させられる、サンプルクロックモジュール(210)と、
前記ADCの各々に接続され、前記ADCからの出力信号を単一のデータストリームに連結するように設定される第1の多重化器(302)と、
前記アナログ信号を受信して、fsより低いアベレージサンプリングレートfrefでデジタル参照信号に変換するように設定される参照ADC(206)であって、前記参照ADCの各々のサンプリング時点は、ADCの前記アレイ内のADCのサンプリング時点に対応し、各々の参照ADCサンプリング時点に対して選択すべき前記ADCは、時間と共にランダム化される、参照ADC(206)と、
前記参照ADCの前記サンプリング時点を制御するように設定される参照ADCクロック制御モジュール(212)と、
前記データストリームを受信するために前記第1の多重化器に接続される補正モジュール(208)であって、前記補正モジュールは、M個の補正ブロック(304a〜d)を備え、各々の補正ブロックは、対応するADCによりAD変換される前記データストリームの一部分を補正するように設定され、前記参照ADCからの出力信号は、前記参照ADCサンプリング時点が選択されるもとの、前記ADCからの前記データストリームの前記一部分を補正するように設定される前記誤差補正ブロックに提供される、補正モジュール(208)と、
前記補正ブロックの各々の出力に接続され、前記誤差補正ブロックの各々からの出力信号を組み合わせて、ADCシステム出力信号(308)を提供するように設定される第2の多重化器(306)と
を備える、時間インターリーブADCシステム。 - 並列に配置構成される、M≧2であるM個のADCを備えるADCアレイを有する、時間インターリーブアナログ−デジタル変換器(ADC)を備えるシステムにおけるアナログ−デジタル(AD)変換のための方法であって、
アナログ信号を受信することと、
前記信号を前記ADCアレイによってサンプリングレートfsを使用してAD変換することと、
参照ADCで、前記アナログ信号を、デジタル参照信号に、fsより低いアベレージサンプリングレートfrefで変換することであって、前記参照ADCの、各々のサンプリング時点は、ADCの前記アレイ内のADCのサンプリング時点に対応し、各々の参照ADCサンプリング時点に対して選択すべき前記ADCは、時間と共にランダム化される、変換することと、
ADCの前記アレイのデジタル信号出力を、補正されたデジタル出力信号に調整することを、前記デジタル参照信号のサンプル、および、対応する選択されたADCからのデジタル信号に基づいて行うことと
を含む、方法。 - 各々の参照ADCサンプリング時点に対して選択すべき前記ADCは、擬似ランダムパターンに基づく、請求項13に記載の方法。
- 前記擬似ランダムパターンは、あらかじめ決定されたパターンである、請求項14に記載の方法。
- 補正モジュールを、前記出力信号と前記参照信号との間の差として計算されるフィードバック誤差を使用して更新することをさらに含む、請求項13から15のいずれか一項に記載の方法。
- 前記サンプリングレートfsは、fs=F/Mとして定義され、Fは、システムクロック周波数である、請求項13から16のいずれか一項に記載の方法。
- 前記ADCアレイに対する連続的なサンプリングイベントをtD=1/(fs*M)だけ遅延させることをさらに含む、請求項13から17のいずれか一項に記載の方法。
- 2つの連続的なサンプルイベントの間の期間が、R/fs+D/(fs*M)であるように、サンプリングすべき前記ADCを、基本期間R/fsに加算されるオフセット時間toffset=D/(fs*M)に基づいて選択することをさらに含み、式中、Dは、ランダム整数D=0…(M−1)である、請求項13から18のいずれか一項に記載の方法。
- Dを、擬似ランダムバイナリシーケンスに基づいて生成することをさらに含む、請求項19に記載の方法。
- DC誤差、ゲインオフセット誤差、時間オフセット誤差、および/または非線形性誤差を補正することをさらに含む、請求項13から20のいずれか一項に記載の方法。
- 時間インターリーブアナログ−デジタル変換器(ADC)モジュール(200)であって、
アナログ信号を受信するための入力ポート(202)と、
サンプリングレートfsでの前記信号のアナログ−デジタル変換のためのADCアレイモジュール(204)と、
前記アナログ信号を、fsより低いアベレージサンプリングレートfrefでデジタル参照信号に変換するための参照ADCモジュール(206)であって、前記参照ADCの各々のサンプリング時点は、ADCの前記アレイ内のADCのサンプリング時点に対応し、各々の参照ADCサンプリング時点に対して選択すべき前記ADCは、時間と共にランダム化される、参照ADCモジュール(206)と、
ADCの前記アレイのデジタル信号出力を、補正されたデジタル出力信号に調整することを、前記デジタル参照信号のサンプル、および、対応する選択されたADCからのデジタル信号に基づいて行うための補正モジュール(208)と
を備える、時間インターリーブADCモジュール(200)。 - アナログ−デジタル変換器(ADC)システム(920)であって、
アナログ信号を受信するように設定される入力ポート(922)と、
M=1であり、前記アナログ信号を受信して、サンプルレートfsでデジタル信号に変換するように設定される、単一のADC(924)を備えるADCアレイと、
前記アナログ信号を受信して、fsより低いアベレージサンプリングレートfrefでデジタル参照信号に変換するように設定される参照ADC(926)であって、前記参照ADCの各々のサンプリング時点は、前記単一のADCのサンプリング時点に対応し、前記参照ADCの前記サンプリング時点は、時間と共にランダム化される、参照ADC(926)と、
前記単一のADCの前記デジタル信号出力を補正されたデジタル出力信号に調整することを、前記デジタル参照信号のサンプル、および、前記単一のADCからの対応するサンプルに基づいて行うように設定される補正モジュール(928)と
を備える、ADCシステム(920)。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/EP2015/062036 WO2016192763A1 (en) | 2015-05-29 | 2015-05-29 | Analog-to-digital converter system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018520582A true JP2018520582A (ja) | 2018-07-26 |
JP6612898B2 JP6612898B2 (ja) | 2019-11-27 |
Family
ID=53269496
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017561944A Active JP6612898B2 (ja) | 2015-05-29 | 2015-05-29 | アナログ−デジタル変換器システム |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10833693B2 (ja) |
EP (1) | EP3304744A1 (ja) |
JP (1) | JP6612898B2 (ja) |
CN (1) | CN107636971B (ja) |
HK (1) | HK1244113A1 (ja) |
MX (1) | MX2017013365A (ja) |
WO (1) | WO2016192763A1 (ja) |
ZA (1) | ZA201706984B (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3418760B1 (en) | 2017-06-22 | 2020-08-26 | IHP GmbH - Innovations for High Performance Microelectronics / Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik | Method and system for oversampling a waveform with variable oversampling factor |
US11545989B2 (en) | 2017-12-22 | 2023-01-03 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | Time-interleaved analog-to-digital converter |
EP3579419B1 (en) * | 2018-06-08 | 2021-09-15 | Nxp B.V. | Apparatus for determining calibration values of an adc |
US10735115B2 (en) * | 2018-07-31 | 2020-08-04 | Nxp B.V. | Method and system to enhance accuracy and resolution of system integrated scope using calibration data |
CN109379080A (zh) * | 2018-09-21 | 2019-02-22 | 电子科技大学 | 用于时间交替采样的时间误差自适应消除方法 |
CN112740556A (zh) * | 2018-09-28 | 2021-04-30 | 英特尔公司 | 模数转换 |
CN110971233B (zh) * | 2019-11-04 | 2023-06-06 | 西安电子科技大学 | 一种时域交织adc多相时钟产生电路 |
CN111049522B (zh) * | 2019-12-20 | 2023-12-22 | 西安电子科技大学 | 基于伪随机码的随机化通道校准方法和系统 |
CN111130648B (zh) * | 2019-12-31 | 2021-06-08 | 中国科学院微电子研究所 | 一种光通信信号接收方法、信号接收装置和电子设备 |
CN111224671A (zh) * | 2020-01-15 | 2020-06-02 | 高跃 | 信号处理设备 |
US11038516B1 (en) * | 2020-05-29 | 2021-06-15 | Intel Corporation | Apparatus and method for analog-to-digital conversion |
US11558065B2 (en) * | 2021-01-26 | 2023-01-17 | Nxp B.V. | Reconfigurable analog to digital converter (ADC) |
US11658670B2 (en) * | 2021-01-28 | 2023-05-23 | Avago Technologies International Sales Pte. Limited | System and method of digital to analog conversion adaptive error cancelling |
TWI813240B (zh) * | 2022-03-31 | 2023-08-21 | 創意電子股份有限公司 | 類比至數位轉換裝置與偏移校正方法 |
CN115425972B (zh) * | 2022-08-31 | 2023-06-02 | 集益威半导体(上海)有限公司 | 高速级联模数转换器电路的误差校准电路 |
CN117200790B (zh) * | 2023-09-22 | 2024-04-12 | 扬州宇安电子科技股份有限公司 | 一种交织采样系统的杂散抑制方法、装置及系统 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04172274A (ja) * | 1990-11-06 | 1992-06-19 | Hitachi Ltd | アナログ・ディジタル混在集積回路及びその試験方法並びに通信機器及びビデオ信号処理機器及び計測機器 |
JP2001308804A (ja) * | 2000-04-27 | 2001-11-02 | Agilent Technologies Japan Ltd | 冗長性をもったインターリーブ方法と、それを利用したa/d変換器と、d/a変換器、トラック・ホールド回路 |
JP2003502979A (ja) * | 1999-06-23 | 2003-01-21 | テレフオンアクチーボラゲツト エル エム エリクソン(パブル) | パラレル式アナログ−デジタル・コンバータ |
US20060238397A1 (en) * | 2005-04-26 | 2006-10-26 | Analog Devices, Inc. | Time-interleaved signal converter systems with reduced timing skews |
JP2009130444A (ja) * | 2007-11-20 | 2009-06-11 | Hitachi Ltd | アナログデジタル変換器チップおよびそれを用いたrf−icチップ |
WO2011071142A1 (ja) * | 2009-12-11 | 2011-06-16 | 日本電気株式会社 | A/d変換装置とその補正制御方法 |
US20120262318A1 (en) * | 2011-04-12 | 2012-10-18 | Maxim Integrated Products, Inc. | System and Method for Background Calibration of Time Interleaved Analog to Digital Converters |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001208804A (ja) | 2000-01-25 | 2001-08-03 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
ATE330367T1 (de) | 2002-09-17 | 2006-07-15 | Siemens Mobile Comm Spa | Offsetspannungskompensationsverfahren für parallele zeitverschachtelte analog- digitalwandler sowie schaltung dafür |
WO2006075505A1 (ja) * | 2005-01-11 | 2006-07-20 | Anritsu Corporation | 改良された時間インタリーブ方式のアナログ-デジタル変換装置及びそれを用いる高速信号処理システム |
US7777660B2 (en) * | 2008-09-09 | 2010-08-17 | Mediatek Inc. | Multi-channel sampling system and method |
CN102332920A (zh) * | 2011-07-18 | 2012-01-25 | 复旦大学 | 一种高sfdr多通道时间交错逐次逼近型模数转换器 |
CN102497210B (zh) * | 2011-11-30 | 2013-12-11 | 电子科技大学 | 一种多adc数据采集系统的数据同步识别装置 |
CN102571034B (zh) * | 2011-12-30 | 2015-04-22 | 北京邮电大学 | 基于随机循环矩阵的模拟压缩感知采样方法及系统 |
WO2014038056A1 (ja) * | 2012-09-07 | 2014-03-13 | 株式会社日立製作所 | インターリーブa/d変換器 |
US8890739B2 (en) * | 2012-12-05 | 2014-11-18 | Crest Semiconductors, Inc. | Time interleaving analog-to-digital converter |
US9143149B1 (en) * | 2014-04-01 | 2015-09-22 | Entropic Communications, LLC. | Method and apparatus for calibration of a time interleaved ADC |
US9287889B2 (en) * | 2014-04-17 | 2016-03-15 | The Board Of Regents, The University Of Texas System | System and method for dynamic path-mismatch equalization in time-interleaved ADC |
CN104467842A (zh) * | 2014-11-03 | 2015-03-25 | 合肥工业大学 | 一种带参考通道的tiadc的数字后台实时补偿方法 |
US9294112B1 (en) * | 2014-11-13 | 2016-03-22 | Analog Devices, Inc. | Methods and systems for reducing order-dependent mismatch errors in time-interleaved analog-to-digital converters |
US9401726B2 (en) * | 2014-11-26 | 2016-07-26 | Silicon Laboratories Inc. | Background calibration of time-interleaved analog-to-digital converters |
US9654133B2 (en) * | 2014-12-17 | 2017-05-16 | Analog Devices, Inc. | Microprocessor-assisted calibration for analog-to-digital converter |
US10057048B2 (en) * | 2016-07-19 | 2018-08-21 | Analog Devices, Inc. | Data handoff between randomized clock domain to fixed clock domain |
-
2015
- 2015-05-29 JP JP2017561944A patent/JP6612898B2/ja active Active
- 2015-05-29 WO PCT/EP2015/062036 patent/WO2016192763A1/en active Application Filing
- 2015-05-29 US US15/563,963 patent/US10833693B2/en active Active
- 2015-05-29 EP EP15725355.0A patent/EP3304744A1/en not_active Withdrawn
- 2015-05-29 MX MX2017013365A patent/MX2017013365A/es active IP Right Grant
- 2015-05-29 CN CN201580080501.8A patent/CN107636971B/zh active Active
-
2017
- 2017-10-16 ZA ZA2017/06984A patent/ZA201706984B/en unknown
-
2018
- 2018-03-13 HK HK18103469.6A patent/HK1244113A1/zh unknown
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04172274A (ja) * | 1990-11-06 | 1992-06-19 | Hitachi Ltd | アナログ・ディジタル混在集積回路及びその試験方法並びに通信機器及びビデオ信号処理機器及び計測機器 |
JP2003502979A (ja) * | 1999-06-23 | 2003-01-21 | テレフオンアクチーボラゲツト エル エム エリクソン(パブル) | パラレル式アナログ−デジタル・コンバータ |
JP2001308804A (ja) * | 2000-04-27 | 2001-11-02 | Agilent Technologies Japan Ltd | 冗長性をもったインターリーブ方法と、それを利用したa/d変換器と、d/a変換器、トラック・ホールド回路 |
US20060238397A1 (en) * | 2005-04-26 | 2006-10-26 | Analog Devices, Inc. | Time-interleaved signal converter systems with reduced timing skews |
JP2009130444A (ja) * | 2007-11-20 | 2009-06-11 | Hitachi Ltd | アナログデジタル変換器チップおよびそれを用いたrf−icチップ |
WO2011071142A1 (ja) * | 2009-12-11 | 2011-06-16 | 日本電気株式会社 | A/d変換装置とその補正制御方法 |
US20120262318A1 (en) * | 2011-04-12 | 2012-10-18 | Maxim Integrated Products, Inc. | System and Method for Background Calibration of Time Interleaved Analog to Digital Converters |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10833693B2 (en) | 2020-11-10 |
WO2016192763A1 (en) | 2016-12-08 |
ZA201706984B (en) | 2019-02-27 |
CN107636971B (zh) | 2022-03-01 |
HK1244113A1 (zh) | 2018-07-27 |
EP3304744A1 (en) | 2018-04-11 |
JP6612898B2 (ja) | 2019-11-27 |
MX2017013365A (es) | 2017-12-07 |
US20180138919A1 (en) | 2018-05-17 |
CN107636971A (zh) | 2018-01-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6612898B2 (ja) | アナログ−デジタル変換器システム | |
US9281834B1 (en) | N-path interleaving analog-to-digital converter (ADC) with offset gain and timing mismatch calibration | |
JP6076268B2 (ja) | パイプラインadc内部ステージ誤差キャリブレーション | |
US7138933B2 (en) | Time-interleaved signal converter systems with reduced timing skews | |
US8519875B2 (en) | System and method for background calibration of time interleaved analog to digital converters | |
US7786910B2 (en) | Correlation-based background calibration of pipelined converters with reduced power penalty | |
US8269657B2 (en) | Background calibration of offsets in interleaved analog to digital converters | |
US8587460B2 (en) | A/D conversion device and compensation control method for A/D conversion device | |
EP2537255B1 (en) | Apparatus and method for converting an analog time domain signal into a digital frequency domain signal, and apparatus and method for converting an analog time domain signal into a digital time domain signal | |
US9143149B1 (en) | Method and apparatus for calibration of a time interleaved ADC | |
CN109245766B (zh) | 一种时间交织结构模数转换器的误差补偿校正系统及方法 | |
KR101933569B1 (ko) | 파이프라인형 아날로그 디지털 변환기에서 지연 시간 감소를 위해 수정된 동적 요소 정합 | |
US20090110102A1 (en) | Signal routing method | |
US6839009B1 (en) | Analog-to-digital converter methods and structures for interleavably processing data signals and calibration signals | |
KR101287097B1 (ko) | 채널 간 부정합 문제를 최소화한 4채널 파이프라인 sar adc | |
CN108494403B (zh) | 一种双通道tiadc采样保持电路失配自适应校准方法 | |
US6567022B1 (en) | Matching calibration for dual analog-to-digital converters | |
WO2011118370A1 (ja) | 時間インターリーブ方式a/d変換装置 | |
Iroaga et al. | A background correction technique for timing errors in time-interleaved analog-to-digital converters | |
US6867718B2 (en) | Method of correction of the error introduced by a multibit DAC incorporated in an ADC | |
WO2009098641A1 (en) | Signal converter | |
Haftbaradaran et al. | A sample-time error compensation technique for time-interleaved ADC systems | |
Ye et al. | A 14-bit 200-MS/s time-interleaved ADC calibrated with LMS-FIR and interpolation filter | |
EP3675364A1 (en) | Mismatch compensation in an analog-to-digital converter using reference path reconfiguration | |
Haftbaradaran et al. | Mismatch compensation techniques using random data for time-interleaved A/D converters |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180118 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20181226 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190115 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190401 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191001 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191031 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6612898 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |