JP2018070728A - 液晶ポリエステル樹脂組成物 - Google Patents
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Abstract
Description
[1].液晶ポリエステルと、下記構成単位(I)〜(III)を構成単位として有する化合物であり、融点が100℃以上であるアミド化合物と、を含む液晶ポリエステル樹脂組成物であって、前記アミド化合物の体積平均粒径は、5μm以上50μm以下であり、前記液晶ポリエステルの含有量100質量部に対する、前記アミド化合物の含有量が、0.005質量部以上0.1質量部未満である液晶ポリエステル樹脂組成物。
構成単位(I):CH3−X−CO−
(Xは炭素数が10以上の脂肪族炭化水素基、又は脂肪族炭化水素基の1つ若しくは2つ以上の水素原子がヒドロキシ基で置換されたヒドロキシ炭化水素基を表す。)
構成単位(II):−HN−Y−NH−
(Yは炭素数が2以上の炭化水素基を表す。)
構成単位(III):−OC−Z−CO−
(Zは炭素数が4以上の脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、又は芳香族炭化水素基を表す。)
(I)’:CH3−(CH2)l−CO−
(lは10以上の整数を表す。)
[3].前記アミド化合物の構成単位(II)が下記式(II)’で表される、[1]又は[2]に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
(II)’:−HN−(CH2)m−NH−
(mは2〜12の整数を表す。)
[4].前記アミド化合物の構成単位(III)が下記式(III)’で表される、[1]〜[3]のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
(III)’:−OC−(CH2)n−CO−
(nは4〜12の整数を表す。)
[5].前記アミド化合物の含有量が、液晶ポリエステルの含有量100質量部に対して、0.02質量部以上0.05質量部以下である、[1]〜[4]のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
[6].前記アミド化合物が、構成単位(I)と、構成単位(II)と、構成単位(III)との合計量に対して、構成単位(III)を1〜30モル%有する、[1]〜[5]のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
[7].前記液晶ポリエステルが、芳香族ヒドロキシカルボン酸に由来する繰返し単位と、芳香族ジカルボン酸に由来する繰返し単位と、芳香族ジオール、芳香族ヒドロキシアミン又は芳香族ジアミンに由来する繰返し単位とからなる、[1]〜[6]のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
構成単位(I):CH3−X−CO−
(Xは炭素数が10以上の脂肪族炭化水素基、又は脂肪族炭化水素基の1つ若しくは2つ以上の水素原子がヒドロキシ基で置換されたヒドロキシ炭化水素基を表す。)
構成単位(II):−HN−Y−NH−
(Yは炭素数が2以上の炭化水素基を表す。)
構成単位(III):−OC−Z−CO−
(Zは炭素数が4以上の脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、又は芳香族炭化水素基を表す。)
[9].[1]〜[7]のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物、又は[8]に記載の液晶ポリエステルペレットを用いて形成された射出成形体。
[10].液晶ポリエステルを含むペレットと、下記構成単位(I)〜(III)を構成単位として有し、融点が100℃以上であり、体積平均粒径が5μm以上50μm以下であるアミド化合物とを、前記液晶ポリエステルの混合量100質量部に対する、前記アミド化合物の混合量を0.005質量部以上0.1質量部未満として混合する、液晶ポリエステル樹脂組成物の製造方法。
構成単位(I):CH3−X−CO−
(Xは炭素数が10以上の脂肪族炭化水素基、又は脂肪族炭化水素基の1つ若しくは2つ以上の水素原子がヒドロキシ基で置換されたヒドロキシ炭化水素基を表す。)
構成単位(II):−HN−Y−NH−
(Yは炭素数が2以上の炭化水素基を表す。)
構成単位(III):−OC−Z−CO−
(Zは炭素数が4以上の脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、又は芳香族炭化水素基を表す。)
[11].下記構成単位(I)〜(III)を構成単位として有し、融点が100℃以上であり、体積平均粒径が5μm以上50μm以下であるアミド化合物。
構成単位(I):CH3−X−CO−
(Xは炭素数が10以上の脂肪族炭化水素基、又は脂肪族炭化水素基の1つ若しくは2つ以上の水素原子がヒドロキシ基で置換されたヒドロキシ炭化水素基を表す。)
構成単位(II):−HN−Y−NH−
(Yは炭素数が2以上の炭化水素基を表す。)
構成単位(III):−OC−Z−CO−
(Zは炭素数が4以上の脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、又は芳香族炭化水素基を表す。)
本発明の液晶ポリエステル樹脂組成物は、液晶ポリエステルと、下記構成単位(I)〜(III)を構成単位として有する化合物であり、融点が100℃以上であるアミド化合物と、を含む液晶ポリエステル樹脂組成物であって、前記アミド化合物の体積平均粒径は、5μm以上50μm以下であり、前記液晶ポリエステルの含有量100質量部に対する、前記アミド化合物の含有量が、0.005質量部以上0.1質量部未満である。
構成単位(I):CH3−X−CO−
(Xは炭素数が10以上の脂肪族炭化水素基、又は脂肪族炭化水素基の1つ若しくは2つ以上の水素原子がヒドロキシ基で置換されたヒドロキシ炭化水素基を表す。)
構成単位(II):−HN−Y−NH−
(Yは炭素数が2以上の炭化水素基を表す。)
構成単位(III):−OC−Z−CO−
(Zは炭素数が4以上の脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、又は芳香族炭化水素基を表す。)
以下、前記液晶ポリエステル樹脂組成物の含有成分について、説明する。
前記液晶ポリエステルは、溶融状態で液晶性を示すポリエステルであり、450℃以下の温度で溶融するものであることが好ましい。なお、液晶ポリエステルは、液晶ポリエステルアミドであってもよいし、液晶ポリエステルエーテルであってもよいし、液晶ポリエステルカーボネートであってもよいし、液晶ポリエステルイミドであってもよい。液晶ポリエステルは、原料モノマーとして芳香族化合物のみを用いてなる全芳香族液晶ポリエステルであることが好ましい。
(2)−CO−Ar2−CO−
(3)−X−Ar3−Y−
繰返し単位(1)としては、Ar1が1,4−フェニレン基であるもの(p−ヒドロキシ安息香酸に由来する繰返し単位)、及びAr1が2,6−ナフチレン基であるもの(6−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸に由来する繰返し単位)が好ましい。
繰返し単位(2)としては、Ar2が1,4−フェニレン基であるもの(テレフタル酸に由来する繰返し単位)、Ar2が1,3−フェニレン基であるもの(イソフタル酸に由来する繰返し単位)、Ar2が2,6−ナフチレン基であるもの(2,6−ナフタレンジカルボン酸に由来する繰返し単位)、及びAr2がジフェニルエーテル−4,4’−ジイル基であるもの(ジフェニルエーテル−4,4’−ジカルボン酸に由来する繰返し単位)が好ましい。
繰返し単位(3)としては、Ar3が1,4−フェニレン基であるもの(ヒドロキノン、p−アミノフェノール又はp−フェニレンジアミンに由来する繰返し単位)、及びAr3が4,4’−ビフェニリレン基であるもの(4,4’−ジヒドロキシビフェニル、4−アミノ−4’−ヒドロキシビフェニル又は4,4’−ジアミノビフェニルに由来する繰返し単位)が好ましい。
液晶ポリエステルは、繰返し単位(1)の含有率が多いほど、溶融流動性、耐熱性、強度・剛性が向上し易いが、例えば、80モル%を超える量であまり多いと、溶融温度や溶融粘度が高くなり易く、成形に必要な温度が高くなり易い。
前記アミド化合物は、構成単位(I)と、構成単位(II)と、構成単位(III)と、を有するカルボン酸アミド化合物であり、その融点は100℃以上である。
(Xは炭素数が10以上の脂肪族炭化水素基、又は脂肪族炭化水素基の1つ若しくは2つ以上の水素原子がヒドロキシ基で置換されたヒドロキシ炭化水素基を表す。)
(Yは炭素数が2以上の炭化水素基を表す。)
(Zは炭素数が4以上の脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、又は芳香族炭化水素基を表す。)
すなわち、Xの炭素数は、10〜26であることが好ましい。
(lは10以上の整数を表す。)
すなわち、Yの炭素数は、2以上12以下であることが好ましい。
(mは2〜12の整数を表す。)
すなわち、Zの炭素数は、4〜12であることが好ましい。
(nは4〜12の整数を表す。)
前記アミド化合物の体積平均粒径は、5μm以上50μm以下であり、好ましくは5μm以上35μm以下である。アミド化合物の体積平均粒径が前記範囲にあると、アミド化合物は、2次凝集しにくいため、配合しやすくなり、さらに、樹脂組成物の表面に付着して、前記表面を被覆しやすくなり、樹脂組成物から脱離しにくくなり、好ましい。
ここで、アミド化合物の体積平均粒径は、レーザー回折散乱法により、例えば、HORIBA(株)製のレーザー回折/散乱式粒径分布測定装置を用いて、測定できる。
なお、アミド化合物の融点は、示差熱量測定により、20℃/分の昇温条件で、アミド化合物を室温から400℃まで昇温した際に観測される吸熱ピーク温度により、求められる。
前記その他の構成単位は、本発明の効果を損なわない限り特に限定されない。
アミド結合を形成可能な、構成単位(I)を導く化合物(前記カルボン酸)の誘導体としては、例えば、前記カルボン酸中のカルボキシ基(−CO−OH)をアルコキシカルボニル基又はアリールオキシカルボニル基に変換してなるもの(エステル)、カルボキシ基をハロホルミル基に変換してなるもの(酸ハロゲン化物)、及びカルボキシ基をアシルオキシカルボニル基に変換してなるもの(酸無水物)が挙げられる。
アミド結合を形成可能な、構成単位(II)を導く化合物(前記ジアミン)の誘導体としては、例えば、前記ジアミン中のアミノ基(−NH2)をアシル化してアシルアミノ基に変換してなるもの(アシル化物)が挙げられる。
アミド結合を形成可能な、構成単位(III)を導く化合物(前記ジカルボン酸)の誘導体としては、例えば、前記カルボン酸中のカルボキシ基(−CO−OH)をアルコキシカルボニル基又はアリールオキシカルボニル基に変換してなるもの(エステル)、カルボキシ基をハロホルミル基に変換してなるもの(酸ハロゲン化物)、及びカルボキシ基をアシルオキシカルボニル基に変換してなるもの(酸無水物)が挙げられる。
本発明の液晶ポリエステル樹脂組成物は、前記液晶ポリエステル及びアミド化合物以外に、充填材を含むものが好ましい。
前記充填材は、特に限定されず、繊維状充填材であってもよいし、板状充填材であってもよいし、粒状充填材であってもよい。また、前記充填材は、無機充填材であってもよいし、有機充填材であってもよい。
前記ガラス繊維の例としては、チョップドストランドガラス繊維、ミルドストランドガラス繊維等、種々の方法で製造されたものが挙げられる。
前記充填材は、前記繊維状充填材、板状充填材及び粒状充填材からなる群から選ばれる1種又は2種以上であることが好ましく、繊維状充填材及び板状充填材からなる群から選ばれる1種又は2種以上であることがより好ましく、1種又は2種以上の前記繊維状充填材及び1種又は2種以上の板状充填材であることがさらに好ましい。
本発明の液晶ポリエステル樹脂組成物は、前記液晶ポリエステル、アミド化合物及び充填材以外の、他の成分を含んでいてもよい。
前記他の成分は、特に限定されず、目的に応じて適宜選択すればよい。
前記他の成分としては、当該分野で公知の添加剤、前記液晶ポリエステル以外の樹脂(以下、「他の樹脂」ということがある。)等が挙げられる。
前記液晶ポリエステル樹脂組成物は、例えば、前記液晶ポリエステルと、前記アミド化合物と、必要に応じて前記充填材及び他の成分からなる群から選ばれる1種又は2種以上とを、一括で又は適当な順序で混合することにより得られる。
なかでも、前記液晶ポリエステル樹脂組成物は、例えば、前記液晶ポリエステルと、必要に応じて、前記液晶ポリエステル及びアミド化合物以外の、1種又は2種以上の成分(例えば、前記充填材、前記他の成分等)と、を溶融混練して、混練物として中間組成物を得た後、前記中間組成物に、固体の前記アミド化合物を混合することで、製造することが好ましい。
すなわち、本発明の液晶ポリエステル樹脂組成物としては、液晶ポリエステルを含む前記ペレットの表面の少なくとも一部を、アミド化合物が被覆しており、前記アミド化合物は、前記構成単位(I)〜(III)を構成単位として有し、融点が100℃以上であり、体積平均粒径が5μm以上50μm以下であり、前記液晶ポリエステル樹脂の含有量100質量部に対する、前記アミド化合物の含有量が、0.005質量部以上0.1質量部未満であるものも挙げられる。
また、前記アミド化合物は、前記中間組成物中で分散していることが好ましい。
本発明の成形体は、上述の本発明の液晶ポリエステル樹脂組成物又は液晶ポリエステルペレットを用いて形成されたものである。
前記成形体は、より具体的には、例えば、射出成形法;Tダイ法やインフレーション法等の押出成形法;圧縮成形法;ブロー成形法;真空成形法;プレス成形法等の溶融成形法で成形することで、製造できる。なかでも、本発明の成形体は、射出成形体であることが好ましい。
本発明の成形体で構成される製品及び部品の例としては、光ピックアップボビン、トランスボビン等のボビン;リレーケース、リレーベース、リレースプルー、リレーアーマチャー等のリレー部品;RIMM、DDR、CPUソケット、S/O、DIMM、Board to Boardコネクター、FPCコネクター、カードコネクター等のコネクター;ランプリフレクター、LEDリフレクター等のリフレクター;ランプホルダー、ヒーターホルダー等のホルダー;スピーカー振動板等の振動板;コピー機用分離爪、プリンター用分離爪等の分離爪;カメラモジュール部品;スイッチ部品;モーター部品;センサー部品;ハードディスクドライブ部品;オーブンウェア等の食器;車両部品;電池部品;航空機部品;半導体素子用封止部材、コイル用封止部材等の封止部材等が挙げられる。
<体積平均粒径の測定方法>
体積平均粒径を、下記条件でレーザー回折法により測定した。
測定条件
測定装置:レーザー回折/散乱式粒径分布測定装置(HORIBA(株)製;LA−950V2)
粒子屈折率:1.53−0.1i
分散媒:水
分散媒屈折率:1.33
<融点の測定方法>
示差熱分析装置((株)島津製作所製;DTA−50)を用いて、融点を測定した。5mgのサンプルを使用して室温から400℃まで20℃/分の昇温条件で測定した際に観測される吸熱ピーク温度を融点とした。
<ペレット形状の測定方法>
キーエンス(株)製VHX1000を用いて、ペレットの長さ、長径、短径を測定した。ペレットの母数は20とし、その平均値を求めた。
[繊維状充填材B1]
B1−1:ミルドガラス繊維、日東紡績(株)製「PF70E−001」
B1−2:チョップドガラス繊維、オーウェンスコーニング(株)製「CS03JAPX−1」
B2:タルク、日本タルク(株)製、「X-50」
C1:下記方法で製造されたアミド化合物C1。
反応器にステアリン酸568gとセバシン酸66.8gを入れて、加熱溶解後、エチレンジアミン83.5gを徐々に加え、窒素気流中で160℃から脱水反応を開始し、250℃にてアミン価が5mgKOH/g以下になるまで5時間反応した後、バットに流し固めて、粉砕機により粉砕することにより粉末状のアミド化合物C1を得た。アミド化合物C1の融点は210℃であり、体積平均粒径は23μmであった。アミン価は、American Oil Chemists SocietyのTf 2a−64の方法に準拠して過塩素酸による非水滴定により測定することができ、試料1gあたりのmgKOHとして算出されるものである。
反応器にステアリン酸568gとセバシン酸202gを入れて、加熱溶解後、エチレンジアミン120gを徐々に加え、窒素気流中で160℃から脱水反応を開始し、250℃にてアミン価が5mgKOH/g以下になるまで5時間反応した後、バットに流し固めて、粉砕機により粉砕することにより、粉末状のアミド化合物C2を得た。アミド化合物C2の融点は242℃であった。
上記によって得られたアミド化合物C2を、目開き25μm、63μm、75μmの篩を使用して分級し、体積平均粒径が9μmのアミド化合物(アミド化合物C2−9)、19μmのアミド化合物(アミド化合物C2−19)、28μmのアミド化合物(アミド化合物C2−28)、46μmのアミド化合物(アミド化合物C2−46)、55μmのアミド化合物(アミド化合物C2−55)をそれぞれ得た。使用した篩と、それぞれの体積平均粒径を有するアミド化合物(粉体)と、の関係は以下のとおりである。
C2−55:目開き75μmの篩上に残った粉体。
C2−46:目開き75μmの篩を通過し、目開き63μmの篩上に残った粉体。
C2−28:目開き63μmの篩を通過し、目開き25μmの篩上に残った粉体。
C2−19:C2−28を再度分級し、目開き63μmの篩を通過し、目開き25μmの篩上に残った粉体。
C2−9:目開き25μmの篩を通過した粉体。
C4:ポリアミド化合物、ダイセル・デグサ(株)製「VESTOSINT 2070(商品名)」(融点182℃、体積平均粒径9μm)。なお、本明細書においてポリアミド化合物とは、ラウロラクタムを開環重合したポリアミド樹脂を指す。
反応器にステアリン酸568gを入れて、加熱溶解後、エチレンジアミン60gを徐々に加え、窒素気流中で160℃から脱水反応を開始し、250℃にてアミン価が5mgKOH/g以下になるまで5時間反応した後、バットに流し固めて、粉砕機により粉砕することにより、粉末状のアミド化合物C5を得た。融点は、146℃であった。
更に、上記によって得られたアミド化合物C5を、目開き63μmの篩を使用して分級し、体積平均粒径が15μmのアミド化合物(アミド化合物C5−15)、135μmのアミド化合物(アミド化合物C5−135)をそれぞれ得た。
[製造例1]
攪拌装置、トルクメータ、窒素ガス導入管、温度計及び還流冷却器を備えた反応器に、p−ヒドロキシ安息香酸(994.5g、7.20モル)、テレフタル酸(272.1g、1.64モル)、イソフタル酸(126.6g、0.76モル)、4,4’−ジヒドロキシビフェニル(446.9g、2.40モル)、無水酢酸1347.6g(13.20モル)を仕込んだ。反応器内のガスを窒素ガスで置換した後、1−メチルイミダゾールを0.18g添加し、窒素ガス気流下で攪拌しながら、室温から150℃まで30分かけて昇温し、150℃で30分間還流させた。
次いで、1−メチルイミダゾールを2.4g添加した後、副生した酢酸及び未反応の無水酢酸を留去しながら、150℃から320℃まで2時間50分かけて昇温し、トルクの上昇が認められた時点で反応終了とし、反応器から内容物を取り出して、室温まで冷却し、プレポリマー(固形物)を得た。
次いで、粉砕機を用いてこのプレポリマーを粉砕し、得られた粉砕物を窒素ガス雰囲気下、室温から250℃まで1時間かけて昇温し、250℃から280℃まで5時間かけて昇温し、280℃で3時間保持することにより、固相重合を行った。得られた固相重合物を室温まで冷却して、液晶ポリエステルA1を得た。得られた液晶ポリエステルA1の流動開始温度は、312℃であった。
攪拌装置、トルクメータ、窒素ガス導入管、温度計及び還流冷却器を備えた反応器に、p−ヒドロキシ安息香酸(994.5g、7.20モル)、テレフタル酸(299.0g、1.80モル)、イソフタル酸(99.7g、0.60モル)、4,4’−ジヒドロキシビフェニル(446.9g、2.40モル)及び無水酢酸(1347.6g、13.20モル)を入れ、反応器内のガスを窒素ガスで置換した後、1−メチルイミダゾールを0.18g添加し、窒素ガス気流下で攪拌しながら、室温から150℃まで30分かけて昇温し、150℃で1時間還流させた。
次いで、1−メチルイミダゾールを2.4g添加した後、副生した酢酸及び未反応の無水酢酸を留去しながら、150℃から320℃まで2時間50分かけて昇温し、トルクの上昇が認められた時点で反応終了とし、反応器から内容物を取り出して、室温まで冷却し、プレポリマー(固形物)を得た。
次いで、粉砕機を用いてこのプレポリマーを粉砕し、得られた粉砕物を窒素ガス雰囲気下、室温から250℃まで1時間かけて昇温し、250℃から285℃まで5時間かけて昇温し、285℃で3時間保持することにより、固相重合を行った。得られた固相重合物を室温まで冷却して、液晶ポリエステルA2を得た。得られた液晶ポリエステルA2の流動開始温度は、327℃であった。
<液晶ポリエステル樹脂組成物の製造>
シリンダ温度を340℃とした二軸押出機(池貝鉄工(株)製「PCM−30型」)に、その原料供給口から、表1に示す量の液晶ポリエステルA1又はA2と、表1に示す量の繊維状充填材B1及び板状充填材B2と、を共に供給し、スクリュウ回転数150rpmの条件で溶融混練して、直径3mmの円形ノズル(吐出口)を経由してストランド状に混練物を吐出した。次いでこの吐出した混練物を、水温30℃の水浴に1.5秒くぐらせた後、引き取り速度40m/minの条件で引き取りローラーを経由させて、回転刃を60m/minに調整されたストランドカッター(田辺プラスチック機械(株)製)を用いてペレタイズし、液晶ポリエステル組成物(中間組成物)のペレットを得た。ペレット形状を測定の結果、ペレットの長さ2.6mm、長径2.1mm、短径1.8mmであった。
次いで、得られたペレット100質量部に対して、表1に示す種類と量のアミド化合物又はエステル化合物Cを、固体状態で混合した。その際、放射温度計で測定したペレットの温度は180℃であった。アミド化合物又はエステル化合物Cを混合した後に、タンブラーミキサーを用いて更に混合し、前記ペレットの表面がアミド化合物で被覆されてなる液晶ポリエステル樹脂組成物(液晶ポリエステルペレット)を得た。実施例1〜10で得られた液晶ポリエステル樹脂組成物には、混合した粉末状のアミド化合物と同じ体積平均粒径を有するアミド化合物が含まれている。
なお、表1中、配合成分の欄の「−」との記載は、その成分が未配合であることを意味する。
得られた液晶ポリエステル樹脂組成物について、射出成形機(日精樹脂工業(株)製「ES400−5E」)を用いて、下記条件での30ショット連続成形時の計量時間(可塑化時間)を測定し、これらの平均値と標準偏差を求めた。
(成形条件)
シリンダ温度(℃):350−350−330−310
金型温度(℃):130
計量(mm):54
サックバック(mm):2
スクリュー回転数(rpm):175
背圧(MPa):4
成形品形状:鏡面試験片(長さ64mm、幅64mm、厚さ3mm)
上記の射出成形時に求めた、液晶ポリエステル樹脂組成物の計量時間の標準偏差又は平均値から、下記基準に従って計量安定性を評価した。それぞれの計量時間、その標準偏差及び平均値、並びに評価結果を表2に示す。
なお、表2中、評価結果の欄の「−」との記載は、その項目が未評価であることを意味する。
◎:標準偏差が0.3以下であり、計量安定性が特に高い。
○:標準偏差が0.3より大きく1以下であり、計量安定性が高い。
×:標準偏差が1より大きいか、又は計量時間が20秒以上であり、計量安定性が不良である。
アミド化合物又はエステル化合物Cの脱落性を、以下に示す方法で評価した。
すなわち、得られた液晶ポリエステル樹脂組成物(液晶ポリエステルペレット)500gを、目開き1mmの篩を使用して1分間篩がけを行い、脱落したアミド化合物又はエステル化合物Cを集めて、その重さ(液晶ポリエステル自体の粉を含む)を測り、前記ペレットの表面を被覆しているアミド化合物又はエステル化合物Cの脱落性を、下記基準に従って評価した。評価結果を表2に示す。
○:脱落したアミド化合物又はエステル化合物Cの重さが0.1g未満である。
×:脱落したアミド化合物又はエステル化合物Cの重さが0.1g以上である。
Claims (11)
- 液晶ポリエステルと、下記構成単位(I)〜(III)を構成単位として有する化合物であり、融点が100℃以上であるアミド化合物と、を含む液晶ポリエステル樹脂組成物であって、
前記アミド化合物の体積平均粒径は、5μm以上50μm以下であり、
前記液晶ポリエステルの含有量100質量部に対する、前記アミド化合物の含有量が、0.005質量部以上0.1質量部未満である液晶ポリエステル樹脂組成物。
構成単位(I):CH3−X−CO−
(Xは炭素数が10以上の脂肪族炭化水素基、又は脂肪族炭化水素基の1つ若しくは2つ以上の水素原子がヒドロキシ基で置換されたヒドロキシ炭化水素基を表す。)
構成単位(II):−HN−Y−NH−
(Yは炭素数が2以上の炭化水素基を表す。)
構成単位(III):−OC−Z−CO−
(Zは炭素数が4以上の脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、又は芳香族炭化水素基を表す。) - 前記アミド化合物の構成単位(I)が下記式(I)’で表される、請求項1に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
(I)’:CH3−(CH2)l−CO−
(lは10以上の整数を表す。) - 前記アミド化合物の構成単位(II)が下記式(II)’で表される、請求項1又は2に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
(II)’:−HN−(CH2)m−NH−
(mは2〜12の整数を表す。) - 前記アミド化合物の構成単位(III)が下記式(III)’で表される、請求項1〜3のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
(III)’:−OC−(CH2)n−CO−
(nは4〜12の整数を表す。) - 前記アミド化合物の含有量が、液晶ポリエステルの含有量100質量部に対して、0.02質量部以上0.05質量部以下である、請求項1〜4のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
- 前記アミド化合物が、構成単位(I)と、構成単位(II)と、構成単位(III)との合計量に対して、構成単位(III)を1〜30モル%有する、請求項1〜5のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
- 前記液晶ポリエステルが、芳香族ヒドロキシカルボン酸に由来する繰返し単位と、芳香族ジカルボン酸に由来する繰返し単位と、芳香族ジオール、芳香族ヒドロキシアミン又は芳香族ジアミンに由来する繰返し単位とからなる、請求項1〜6のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
- 液晶ポリエステルを含むペレットの表面の少なくとも一部を、アミド化合物が被覆しており、
前記アミド化合物は、下記構成単位(I)〜(III)を構成単位として有し、融点が100℃以上であり、体積平均粒径が5μm以上50μm以下であり、
前記液晶ポリエステル樹脂の含有量100質量部に対する、前記アミド化合物の含有量が、0.005質量部以上0.1質量部未満である液晶ポリエステルペレット。
構成単位(I):CH3−X−CO−
(Xは炭素数が10以上の脂肪族炭化水素基、又は脂肪族炭化水素基の1つ若しくは2つ以上の水素原子がヒドロキシ基で置換されたヒドロキシ炭化水素基を表す。)
構成単位(II):−HN−Y−NH−
(Yは炭素数が2以上の炭化水素基を表す。)
構成単位(III):−OC−Z−CO−
(Zは炭素数が4以上の脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、又は芳香族炭化水素基を表す。) - 請求項1〜7のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物、又は請求項8に記載の液晶ポリエステルペレットを用いて形成された射出成形体。
- 液晶ポリエステルを含むペレットと、下記構成単位(I)〜(III)を構成単位として有し、融点が100℃以上であり、体積平均粒径が5μm以上50μm以下であるアミド化合物とを、
前記液晶ポリエステルの混合量100質量部に対する、前記アミド化合物の混合量を0.005質量部以上0.1質量部未満として混合する、液晶ポリエステル樹脂組成物の製造方法。
構成単位(I):CH3−X−CO−
(Xは炭素数が10以上の脂肪族炭化水素基、又は脂肪族炭化水素基の1つ若しくは2つ以上の水素原子がヒドロキシ基で置換されたヒドロキシ炭化水素基を表す。)
構成単位(II):−HN−Y−NH−
(Yは炭素数が2以上の炭化水素基を表す。)
構成単位(III):−OC−Z−CO−
(Zは炭素数が4以上の脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、又は芳香族炭化水素基を表す。) - 下記構成単位(I)〜(III)を構成単位として有し、融点が100℃以上であり、体積平均粒径が5μm以上50μm以下であるアミド化合物。
構成単位(I):CH3−X−CO−
(Xは炭素数が10以上の脂肪族炭化水素基、又は脂肪族炭化水素基の1つ若しくは2つ以上の水素原子がヒドロキシ基で置換されたヒドロキシ炭化水素基を表す。)
構成単位(II):−HN−Y−NH−
(Yは炭素数が2以上の炭化水素基を表す。)
構成単位(III):−OC−Z−CO−
(Zは炭素数が4以上の脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、又は芳香族炭化水素基を表す。)
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