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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7310805B2 (ja) 2018-05-09 2023-07-19 住友電気工業株式会社 炭化珪素エピタキシャル基板および炭化珪素半導体装置の製造方法
JP6585799B1 (ja) 2018-10-15 2019-10-02 昭和電工株式会社 SiC基板の評価方法及びSiCエピタキシャルウェハの製造方法
CN115279956A (zh) 2019-12-27 2022-11-01 沃孚半导体公司 大直径碳化硅晶片
EP4195239A4 (en) * 2020-08-28 2023-09-27 Huawei Technologies Co., Ltd. SUBSTRATE AND POWER AMPLIFICATION DEVICE
US12125701B2 (en) * 2020-12-15 2024-10-22 Wolfspeed, Inc. Large dimension silicon carbide single crystalline materials with reduced crystallographic stress
CN113388888B (zh) * 2021-06-22 2022-07-12 山东天岳先进科技股份有限公司 一种碳化硅晶体、其使用的籽晶及籽晶的制备方法
WO2024080071A1 (ja) * 2022-10-11 2024-04-18 住友電気工業株式会社 炭化珪素結晶基板、エピタキシャル基板および半導体装置の製造方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7314520B2 (en) * 2004-10-04 2008-01-01 Cree, Inc. Low 1c screw dislocation 3 inch silicon carbide wafer
KR101287787B1 (ko) 2007-09-12 2013-07-18 쇼와 덴코 가부시키가이샤 에피택셜 SiC 단결정 기판 및 에피택셜 SiC 단결정 기판의 제조 방법
CN101803100A (zh) 2007-09-12 2010-08-11 大金工业株式会社 电解液
JP2010184833A (ja) * 2009-02-12 2010-08-26 Denso Corp 炭化珪素単結晶基板および炭化珪素単結晶エピタキシャルウェハ
BR112012021991A2 (pt) 2010-03-01 2020-09-01 The University Of British Columbia policlicerol hiperramificado uso de um poliglicerol hipermanificado, método de adiministração de uma força biologicamente ativa a um tecido biológico, composição farmacêutica e método de síntese de um poliglicerol hiperrramificado.
JP6025306B2 (ja) * 2011-05-16 2016-11-16 株式会社豊田中央研究所 SiC単結晶、SiCウェハ及び半導体デバイス
JP5958949B2 (ja) * 2011-05-26 2016-08-02 一般財団法人電力中央研究所 炭化珪素基板、炭化珪素ウェハ、炭化珪素ウェハの製造方法及び炭化珪素半導体素子
US8940614B2 (en) * 2013-03-15 2015-01-27 Dow Corning Corporation SiC substrate with SiC epitaxial film
JP6122704B2 (ja) * 2013-06-13 2017-04-26 昭和電工株式会社 SiCエピタキシャルウェハ及びその製造方法
CN106715767A (zh) * 2014-10-01 2017-05-24 住友电气工业株式会社 碳化硅外延基板
DE112015006024B9 (de) * 2015-01-21 2025-04-24 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Verfahren zum Herstellen eines Siliziumkarbid-Einkristalls, Siliziumkarbid-Einkristallsubstrat und Siliziumkarbid-Epitaxiesubstrat
JP2016166112A (ja) * 2015-03-10 2016-09-15 株式会社東芝 半導体基板及び半導体装置
KR102106722B1 (ko) * 2015-07-29 2020-05-04 쇼와 덴코 가부시키가이샤 에피택셜 탄화규소 단결정 웨이퍼의 제조 방법
US20170321345A1 (en) * 2016-05-06 2017-11-09 Ii-Vi Incorporated Large Diameter Silicon Carbide Single Crystals and Apparatus and Method of Manufacture Thereof

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