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Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5994337B2 (ja) 2012-03-30 2016-09-21 ソニー株式会社 微小粒子分取装置及びディレイタイム決定方法
JPWO2013145836A1 (ja) 2012-03-30 2015-12-10 ソニー株式会社 マイクロチップ型光学測定装置及び該装置における光学位置調整方法
JP5924077B2 (ja) 2012-03-30 2016-05-25 ソニー株式会社 微小粒子分取装置及び微小粒子分取装置における軌道方向判定方法
JP5601424B2 (ja) 2012-03-30 2014-10-08 ソニー株式会社 微小粒子分取装置及び該装置における流体ストリーム最適化方法
JP6065527B2 (ja) 2012-11-08 2017-01-25 ソニー株式会社 微小粒子分取装置及び微小粒子分取方法
EP2950079B1 (en) 2013-01-28 2021-06-16 Sony Corporation Fine particle fractionation device, fine particle fractionation method and program
JP6299609B2 (ja) 2013-02-08 2018-03-28 ソニー株式会社 微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム
JP6447506B2 (ja) 2013-10-16 2019-01-09 ソニー株式会社 粒子分取装置及び粒子分取方法
JP6136843B2 (ja) 2013-10-17 2017-05-31 ソニー株式会社 粒子分取装置、粒子分取方法及びプログラム
CN107003227B (zh) * 2014-12-12 2020-06-05 贝克顿·迪金森公司 用于将光源与流动流对准的方法及其系统
CN105988579A (zh) * 2015-03-06 2016-10-05 北京智谷睿拓技术服务有限公司 设备间相对位置调整方法及调整装置
CZ2015590A3 (cs) * 2015-08-31 2017-04-12 Wolf & Danniel S.R.O. Způsob provádění průtokového cytometrického měření
US10466158B2 (en) * 2017-04-11 2019-11-05 Sony Corporation Microparticle sorting apparatus and delay time determination method
US10591400B2 (en) 2018-03-29 2020-03-17 Sony Corporation Micro particle analyzer and micro particle analysis method
US11686662B2 (en) 2018-04-25 2023-06-27 Sony Corporation Microparticle sorting device and method for sorting microparticles
JP7070797B2 (ja) * 2019-05-29 2022-05-18 株式会社島津製作所 光散乱検出装置
WO2021009849A1 (ja) * 2019-07-16 2021-01-21 アライドフロー株式会社 粒子分別装置及びフローセルのアライメント方法
US20220349806A1 (en) 2019-11-06 2022-11-03 Sony Group Corporation Position adjusting method, microparticle analysis device, and program
JP7473185B2 (ja) * 2020-07-06 2024-04-23 シンクサイト株式会社 フローサイトメータ、イメージング装置、位置検出方法、及びプログラム
JP7566302B2 (ja) * 2020-07-06 2024-10-15 シンクサイト株式会社 フローサイトメータ、観測対象物判別方法、及びプログラム
CN113252633B (zh) * 2021-07-14 2021-10-12 季华实验室 一种液相芯片分析仪的质控检测方法及标准盘
WO2023062831A1 (ja) * 2021-10-15 2023-04-20 シンクサイト株式会社 フローサイトメータ、位置算出方法、及びプログラム

Family Cites Families (55)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6129737A (ja) 1984-07-20 1986-02-10 Canon Inc 粒子解析装置
JPS6236542A (ja) 1985-08-09 1987-02-17 Canon Inc 粒子解析装置
JPS62100643A (ja) 1985-10-28 1987-05-11 Canon Inc 粒子解析装置
JPS6412245A (en) * 1987-07-03 1989-01-17 Canon Kk Particle analyzing device
US5700692A (en) 1994-09-27 1997-12-23 Becton Dickinson And Company Flow sorter with video-regulated droplet spacing
US5602039A (en) 1994-10-14 1997-02-11 The University Of Washington Flow cytometer jet monitor system
JP3258889B2 (ja) * 1996-01-11 2002-02-18 株式会社堀場製作所 散乱式粒度分布測定装置における光軸調整方法
US6538229B1 (en) * 1996-05-08 2003-03-25 Infineon Technologies Ag Method for the positionally accurate adjustment and fixing of a microoptical element
JP3736007B2 (ja) * 1997-03-03 2006-01-18 株式会社島津製作所 マイクロチップ電気泳動装置
EP0985142A4 (en) * 1997-05-23 2006-09-13 Lynx Therapeutics Inc SYSTEM AND APPARATUS FOR THE SEQUENTIAL TREATMENT OF ANALYTES
GB2326229A (en) * 1997-06-13 1998-12-16 Robert Jeffrey Geddes Carr Detecting and analysing submicron particles
US6248590B1 (en) 1998-02-27 2001-06-19 Cytomation, Inc. Method and apparatus for flow cytometry
US6372506B1 (en) 1999-07-02 2002-04-16 Becton, Dickinson And Company Apparatus and method for verifying drop delay in a flow cytometer
EP1245944B1 (en) * 2001-03-29 2007-02-14 Sysmex Corporation Flow cytometer
US6941005B2 (en) 2002-11-01 2005-09-06 Coulter International Corp. Monitoring and control of droplet sorting
JP3979304B2 (ja) * 2003-02-24 2007-09-19 日本光電工業株式会社 フローセル位置決め方法およびフローセル位置調整可能なフローサイトメータ
WO2005079194A2 (en) * 2003-09-19 2005-09-01 The Regents Of The University Of California Optical beam translation device and method utilizing a pivoting optical fiber
US7232687B2 (en) 2004-04-07 2007-06-19 Beckman Coulter, Inc. Multiple sorter monitor and control subsystem for flow cytometer
JP4304120B2 (ja) 2004-04-30 2009-07-29 ベイバイオサイエンス株式会社 生物学的粒子をソーティングする装置及び方法
JP4540506B2 (ja) 2005-03-04 2010-09-08 三井造船株式会社 試料液流の位置制御方法および装置
US7575589B2 (en) * 2006-01-30 2009-08-18 Photothera, Inc. Light-emitting device and method for providing phototherapy to the brain
US8343428B2 (en) * 2007-10-29 2013-01-01 Rohm Co., Ltd. Microchip and method of using the same
US8290625B2 (en) 2007-04-04 2012-10-16 Beckman Coulter, Inc. Flow cytometer sorter
JP5536995B2 (ja) * 2007-07-17 2014-07-02 オリンパス株式会社 顕微鏡対物レンズおよびレーザー走査型顕微鏡システム
US8075853B2 (en) * 2007-11-16 2011-12-13 Rohm Co., Ltd. Microchip
JP2009156659A (ja) * 2007-12-26 2009-07-16 Olympus Corp 測定装置及び測定方法
JP5202971B2 (ja) * 2008-01-28 2013-06-05 オリンパス株式会社 測定装置及び測定方法
WO2010085655A2 (en) * 2009-01-23 2010-07-29 University Of Washington Cytometer with automatic continuous alignment correction
JP5487638B2 (ja) 2009-02-17 2014-05-07 ソニー株式会社 微小粒子分取のための装置及びマイクロチップ
JP5304456B2 (ja) 2009-06-10 2013-10-02 ソニー株式会社 微小粒子測定装置
US8223445B2 (en) * 2009-09-21 2012-07-17 Cytopeia Lens positioning apparatus
WO2011097032A1 (en) * 2010-02-05 2011-08-11 Cytonome/St, Llc Multiple flow channel particle analysis system
WO2011121750A1 (ja) * 2010-03-31 2011-10-06 古河電気工業株式会社 光情報解析装置及び光情報解析方法
JP5437148B2 (ja) 2010-04-23 2014-03-12 ベイバイオサイエンス株式会社 フローサイトメータおよびセルソータ
JP2012047464A (ja) * 2010-08-24 2012-03-08 Sony Corp 微小粒子測定装置及び光軸補正方法
CA2826544C (en) 2011-02-04 2020-06-30 Cytonome/St, Llc Particle sorting apparatus and method
JP5765022B2 (ja) * 2011-03-31 2015-08-19 ソニー株式会社 微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法
US9897530B2 (en) * 2011-08-25 2018-02-20 Sony Corporation Compensation of motion-related error in a stream of moving micro-entities
JP5994337B2 (ja) 2012-03-30 2016-09-21 ソニー株式会社 微小粒子分取装置及びディレイタイム決定方法
JP5601424B2 (ja) 2012-03-30 2014-10-08 ソニー株式会社 微小粒子分取装置及び該装置における流体ストリーム最適化方法
JPWO2013145836A1 (ja) 2012-03-30 2015-12-10 ソニー株式会社 マイクロチップ型光学測定装置及び該装置における光学位置調整方法
JP5924077B2 (ja) 2012-03-30 2016-05-25 ソニー株式会社 微小粒子分取装置及び微小粒子分取装置における軌道方向判定方法
EP3511694A1 (en) 2012-03-30 2019-07-17 Sony Corporation Microparticle sorting device and method for controlling position in microparticle sorting device
JP6172147B2 (ja) 2012-07-18 2017-08-02 ソニー株式会社 微小粒子分取装置及び微小粒子分取方法
WO2014017186A1 (ja) 2012-07-25 2014-01-30 ソニー株式会社 微小粒子測定装置及び微小粒子測定装置における送液方法
JP2014062822A (ja) 2012-09-21 2014-04-10 Sony Corp 微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法
JP6065527B2 (ja) 2012-11-08 2017-01-25 ソニー株式会社 微小粒子分取装置及び微小粒子分取方法
EP2950079B1 (en) 2013-01-28 2021-06-16 Sony Corporation Fine particle fractionation device, fine particle fractionation method and program
JP6299609B2 (ja) 2013-02-08 2018-03-28 ソニー株式会社 微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム
JP6447506B2 (ja) 2013-10-16 2019-01-09 ソニー株式会社 粒子分取装置及び粒子分取方法
JP6136843B2 (ja) 2013-10-17 2017-05-31 ソニー株式会社 粒子分取装置、粒子分取方法及びプログラム
EP3690424B1 (en) 2014-02-13 2023-12-27 Sony Group Corporation Particle sorting device, particle sorting method, and program
JP6657625B2 (ja) 2014-09-05 2020-03-04 ソニー株式会社 液滴分取装置、液滴分取方法及びプログラム
CN108139312B (zh) 2015-10-19 2021-02-05 索尼公司 图像处理设备、微粒分选设备和图像处理方法
US10591400B2 (en) 2018-03-29 2020-03-17 Sony Corporation Micro particle analyzer and micro particle analysis method

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