JP2018020514A - 凸状金型の製造方法 - Google Patents

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【課題】
高い寸法・形状精度の樹脂成形が可能であると共に、成形物の離型性が良い凸状金型、およびその簡単で低コストの製造方法を提供する。
【解決手段】
フォトリソグラフィ―法と電解めっき法により、凹状金型を作製した後、キャビティ外の、樹脂成形に供さない周辺の部分をエッチングで溶解することで、凸状金型を得る。さらに、この凸状金型は、樹脂成形に供さない部分が粗面であるため、光沢面である場合に比べ、成形物の離形性が良い。
【選択図】図1

Description

本発明は、樹脂成形に使用される凸状金型に関するものである。
射出成形やホットスタンプ等の樹脂成形に使用される微細金型は、「キャビティ」または「コア」とよばれる成形に供する部分の形態に応じて、凹状金型と凸状金型に分類される。これらは両者とも、加工精度や製造工程の観点から電解めっき法により製造することが好ましいと考えられている(例えば特許文献1、2参照)。
従来の電解めっき法による微細金型の製造方法の代表的な例を、図5(a)〜(j)に基づいて概説する。まず、SUS304等の導電性材料よりなる平板状のめっき基材100を準備し(a)、その表面に、ラミネーターでフォトレジスト101を被覆し(b)、フォトマスク102でフォトレジスト101をマスキングして紫外線光源103で露光する(c)、(d)。次に、炭酸ナトリウムなどの無機アルカリ水溶液で現像をして、フォトレジスト101の、露光されていない部分を溶解除去し(d)、露光されている部分を残してレジストパターン105を形成し、母型104を作製する(e)((c)〜(e)の工程を一般にフォトリソグラフィ―法という。)。次に、母型104の上に、フォトレジスト101より厚く電解めっき(オーバーハングめっき)をして、電鋳物106を形成する(f)。次に、電鋳物106をめっき基材100から剥離して、フォトレジスト101を除去すれば、凹状金型107を得る(g)。また、凹状金型上にさらに所望の厚さまで電解めっきをすることで、凸状金型108を得る(i)(j)。すなわち、従来の方法では、凸状金型108を作製するためには、一度凹状金型107を完成させる必要があった。
凸状金型と凹状金型の、両者の微細金型としての特性を比べると、凸状金型108は、コア以外の樹脂成形に供さない部分が薄くなっているため、凹状金型に比べ、コアを成形材料に確りと押圧することができるので、寸法精度や形状に優れた成形ができる。しかしながら、凸状金型を作製するためには、上述の如く、凹状金型を作製後、さらにもう一度電解めっきを施す必要があり、そのため製造時間や製造コストの面で不利であった。
ここで、凸状金型の製造方法として、もう一つの従来例としては、特許文献1の図2に挙げられているように、レジストパターン上に導電性皮膜を成膜し、その上に直接電解めっきを行う方法があるが、これとて導電性皮膜を成膜するための設備やコスト、時間を必要としていた。
また、上記従来例の方法で製造された凹状金型の凹部(キャビティ)の表面(成形面)は、製造工程においてめっき基材101と密着しているため、全面に光沢に近い平滑な表面性状を有しており、さらに該面に密着して成形される凸状金型の成形面である凸部(コア)の表面も同様に全面光沢・平滑に仕上がる。しかしながら、成形面が全面光沢で平滑な場合、樹脂成形の際に成形材料が強く密着するため、成形後の離型が悪いという問題があった。
特開2006−334951 特開2006−289659
この発明は、上記事情に鑑み、成形品の寸法精度や形状再現性に優れ、さらに成形品の離型性の良い凸状金型及び、その簡単な製造方法を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、樹脂成形に供される凸状金型であって、所定のデザインで複数の凸形状が形成され、樹脂成形に供する成形部と、前記成形部の周辺にあり、前記凸形状が形成されておらず、樹脂成形をしない非成形部と、を有し、前記成形部の樹脂成形に供するコア側の表面粗さは、Ra≦0.2μmであるとともに、前記非成形部の厚さは、前記成形部の最低厚さ以下であり、前記コア側の表面粗さはRa≧0.5μmである、ことを特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、樹脂成形に供される凸状金型の製造方法であって、導電性材料よりなるめっき基材の表面に、フォトレジストを被覆し、フォトリソグラフィ―法により、前記フォトレジストで高さ20〜100μmの所定のパターンを形成して母型を作製する工程と、前記母型の前記めっき基材上に、オーバーハングめっきをして、めっき皮膜により、前記パターンに対応する凹パターンを有する凹型を形成する工程と、前記凹型をめっき基材から剥離する工程と、前記凹型をエッチング用フォトレジストで被覆し、フォトリソグラフィ―法により、前記凹パターンをエッチング用フォトレジスト膜で覆い、それ以外を露出させる工程と、前記凹型にエッチング処理を施して、前記凹パターンが形成された面の露出している部分を前記フォトレジストの厚さ以上溶解して、当該部分の厚さを150μm以上とし、表面粗さをRa≧0.5μmとする工程と、前記エッチング用フォトレジスト膜を除去する工程からなる、ことを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、樹脂成形に供される凸状金型の製造方法であって、導電性材料よりなるめっき基材の表面に、フォトレジストを被覆し、フォトリソグラフィー法により、前記フォトレジストで高さ20〜100μmの所定のパターンを形成する工程と、前記めっき基材上に、前記パターンと略同じ高さまで電解めっきをして第1めっき層を形成する工程と、前記第1めっき層の、前記パターンの領域外に、離型剤を塗布して、離型処理を行う工程と、前記第1めっき層の上に、オーバーハングめっきをして、第2めっき層を形成して凹型を形成する工程と、前記凹型をめっき基材から剥離する工程と、前記凹型における前記第1めっき層の前記密着阻害処理をした領域のみを、前記第2めっき層から剥離する工程からなり、前記電解めっきのうち、少なくとも第1めっき層を形成する工程が粗面めっきである、ことを特徴とする。
請求項1の発明によれば、凸状の成形部が成形材料に確りと押圧されるため、寸法精度や形状の良い成形品を得ることが可能になると共に、非成形部の表面が粗面であることにより、成形時に成形品がスムーズに型離れをし、成形品の不要な変形を抑制することが可能になる。
請求項2の発明によれば、成形部が凸状であるため成形性に優れると共に、非成形部の表面が粗面であるため離型性の良い凸状金型を、従来の製造方法よりも短時間で簡単に製造することが可能になる。
請求項3の発明によればエッチング工程を用いないで、さらに短時間で簡単に非成形部の表面が粗面である凸状金型を製造することが可能になる。
本発明の実施の形態1に係る、凸状金型の概略側面図である。 本発明の実施の形態1に係る、凸状金型の製造方法を示す概略工程図である。 本発明の実施の形態1に係る、凸状金型により成形された成形品の概略側面図である。 本発明の実施の形態2に係る、凸状金型の製造方法を示す概略工程図である。 従来の金型の製造方法を示す概略工程図である。
本発明の実施の形態について、添付の図面を参照しながら説明する。なお、図面において、図面中の各部の構成の大きさ、間隔、数は、視認と理解の助けのために、実態と異なり、簡略化・省略化して表現している。
実施の形態1
図1は、実施の形態1に係る、凸状金型1の概略側面図である。
まず、凸状金型1は、全体として、四角い平板状であり、一方の面に成形用の凹凸が形成されている成形部11と、それが形成されていない非成形部12から構成されている。ここで、図1は、厳密には断面を意味するものがあるが、図面の簡略化の為に、側面図の形式で表している。以下、図2以降においても、同様に本来は断面を意味するものであっても、側面図として表す。
本実施の形態1において、成形部11は、凸状金型1の片側の面に所定のデザインに配置された複数の凸形状111から形成されており、各凸形状111の寸法は、高さaが20〜200μm、幅bと凸形状111同士の間隔cは、フォトリソグラフィ―との関係から、高さaに依存し、幅b、間隔cともaの1/2倍以上(すなわち、b≧0.5a、c≧0.5a)である必要がある。これより幅b、間隔cが小さいとき、フォトリソグラフィによるレジストパターン26の形成が困難である。
また、成形部12の最低厚さ(凸形状111の谷における厚さ)fは、オーバーハングめっきを適正にするために、間隔cの1/2倍以上(すなわち、f≧0.5cであり、c≧0.5aより、f≧0.25aとなる)である必要がある。これより薄い場合には、電解めっき皮膜がフォトレジスト26上を完全に覆わずに孔が形成されてしまうので、不適正である。さらに、fは強度を保つために、150μm以上、より好ましくは200μm以上に設定される。150μm未満のときは、剛性不足のため、樹脂成形時に湾曲して成形品質を劣化させる恐れがある。
成形部11の、凸形状111が形成されている側(図1では上面にあたる。以下この面を「コア側」という)の表面粗さは、成形物に粗さが転写されないように、Ra=0.2μm以下、より好ましくは0.1μm以下に設定されている。
また、非成形部12は、凸状金型1の成形部11以外の部分であり、ここには凸形状111は形成されておらず、略平坦な形状をしている。非成形部12の、コア側と同じ側の面の表面粗さは、成形部11より大きく、Ra=0.5〜2.0μm、より好ましくは0.9〜1.5μmに設定されている。表面粗さをこの範囲に設定することで、樹脂成形をした時に離型性を良くすることができる。
非成形部12の厚さdは、成形部12の最低厚さfと同様に、凸状金型1の剛性を保つために、150μm以上、より好ましくは200μm以上に設定される。150μm未満のときは、剛性不足のため、樹脂成形時に湾曲して成形品質を劣化させる恐れがある。さらに、非成形部12の厚さdは、成形品質を確保するために、成形部12の最低厚さf以下となっている。これより厚い場合には、成形部11の凸形状111が成形材料に確りと押圧されないため、成形品質が悪くなる恐れがある。
以上より、凸状金型1の総厚eは、高さaの5/4倍以上(e≧1.25a、ただしe=a+f)と設定される。
次に、図2(a)〜(l)に基づいて、凸状金型1の製造方法について説明をする。当該製造方法は、基本的には従来の製造方法と同様に、フォトリソグラフィ―法と電解めっき法を利用して、所定の形状と寸法に金型を形成するものである。
まず、導電性材料よりなる平板状のめっき基材21を準備する(a)。本実施形態において、導電性材料は、その表面に電解めっき皮膜を形成することができると共に、電解めっき後に無理なく剥離することができるように、SUS304等のステンレスを使用している。めっき基材21の表面は、後述する感光性ドライフィルム(フォトレジスト)22の密着性を良くするために、バフによる研磨、塩酸水による洗浄の後、水洗と乾燥がなされている(図示略)。
次に、めっき基材21の表面に、ラミネーター(図示略)で感光性ドライフィルム22を熱圧着することで被覆をする(b)。ここで、感光性ドライフィルム22の厚さは、凸形状111の高さaと同じになる物を選択する。
さらに、フォトマスク23で感光性ドライフィルム22をマスキングし、紫外線光源24で露光して、感光性ドライフィルム22に、金型の成形部11に対応する所定のレジストパターン(パターン)26を描く(c)。
次に、炭酸ナトリウムなどの無機アルカリ水溶液の現像液で現像をし(d)、感光性ドライフィルム22の、露光されていない部分を除去し、露光されている部分を形作ることで、母型25が作製される(e)。母型25は、めっき基材21と感光性ドライフィルム22(露光部分)より構成されており、感光性ドライフィルム22(露光部分)は、金型の成形部11に対応するレジストパターン26を形成している。このレジストパターン26の高さは、感光性ドライフィルム22の厚さと同じであり、幅は、凸形状111の間隔cと同じであり、間隔は、凸形状111の幅bと同じである。
次に、母型25に電解めっきをして、めっき皮膜により、総厚eがレジストパターン26の5/4倍より厚く、かつ成形部12の最低厚さfが150μm以上、より好ましくは200μm以上であり、パターン24に対応する高さがaと同じである凹パターンを有する凹型27を形成する(f)。ここで、本実施形態において、電解めっきに用いためっき浴は、スルファミン酸ニッケル浴であり、その液組成は300〜500g/Lのスルファミン酸ニッケル水溶液を基本として、pH緩衝剤としてほう酸が10〜40g/L,消泡剤2〜10ml/L、塩化ニッケル10〜20g/L、応力緩和剤兼光沢剤5〜20ml/Lで構成されており、めっき浴はpH4.0〜5.0、温度40〜55℃に設定されている。また、電解めっきの電流密度は1.0〜3.0A/dmである。
さらに、凹型27をめっき基材21から剥離し(g)、凹型27を苛性ソーダなどの無機アルカリ水溶液に浸漬して、凹パターン28内の感光性ドライフィルム22を除去する(h)。
次に、凹型27を、エッチング用感光性ドライフィルム(エッチング用フォトレジスト膜)29で被覆し(i)、フォトリソグラフィ―法により、凹パターン28のみエッチング用感光性ドライフィルム29で覆い、凹パターン28外を露出させる(j)。
凹型27にエッチング処理を施して、エッチング用感光性ドライフィルム29で覆われていない部分を化学的に溶解して、成形部11と非成形部12を形作る(k)。
エッチングは、塩化第二鉄水溶液を主成分としたエッチング液を、凹型にスプレー噴射することで行った。この際、樹脂成形時に、成形部11が成形材料に十分に押圧されるように、非成形部12の厚さdを成形部11における、凸形状111を除いた厚さf以下とするため、感光性ドライフィルム22の厚さ以上の量を溶解する。さらに、非成形部12の厚さdは成形時の剛性を確保するために、150μm以上、より好ましくは200μm以上であり、樹脂成形後の成形物の離型性を確保するために、表面粗さがRa≧0.5になるように、エッチング液の圧力や、処理時間などの条件を調整する。
エッチング用感光性ドライフィルム29を、感光性ドライフィルム22と同様の方法で除去することで、凸状金型1が製作される(l)。
つぎに、実施の形態1に係る凸状金型1の作用である、成形品3の作製方法について説明する。
凸状金型1を、射出成形機やホットスタンプ等の成形機(図示略)に設置する。
成形材料を成形機により凸状金型1に所定の熱と圧力で押圧し成形品3を形作る。
成形品3を、凸状金型1から離型する。成形品3には、凸状金型1の成形部11に対応した模様31が形成されている。
本実施の形態1の発明によれば、凸状の成形部11が成形材料に確りと押圧されるため、寸法精度や形状の良い成形品を得ることが可能になると共に、非成形部12の表面が粗面であることにより、成形時に成形品3がスムーズに型離れをし、成形品3の不用な変形を抑制することが可能になる。
また、成形部11が凸状であるため成形性に優れると共に、非成形部の表面が粗面であるため離型性の良い凸状金型を、従来の製造方法よりも短時間で簡単に製造することが可能になる。
実施の形態2
次に、図4(a)〜(f)に基づいて、本発明に係る凸状金型1の製造方法について説明する。ここで、実施の形態1との違いは、本実施の形態2は、エッチング工程を用いない代わりに、電解めっきを2段階で行うことである。その他、実施の形態1と同様の構成については、図面と説明を省略する。
まず、実施の形態1と同様に、フォトリソグラフィ―法により、レジストパターン26を有する母型25を作製する(図2(a)〜(e))。
めっき基材21上に,感光性ドライフィルム22と略同じ高さまで電解めっきをして、第1めっき層41を形成する(a)。ここで、実施の形態2におけるめっき浴の緒元と電解めっき条件は、応力緩和剤兼光沢剤を含まない粗面めっき浴であることと、そのため生成されるめっき皮膜のめっき成長面の表面性状が光沢ではなく、表面粗さがRa=0.5〜2.0の粗面である、ということ以外は、実施の形態1と同様である。
次に、第1めっき層41の、レジストパターン26外に、離型剤(例えば硫化ナトリウム水溶液)を塗布して、離型剤膜411を形成し、当該部位状に形成されためっき皮膜が、めっき後に剥離できるよう離型処理をする(b)。
次に、第1めっき層41の上に、電解めっきにより第2めっき層42を150μm以上で、かつレジストパターン26の厚さの1/4倍以上の厚さで形成して、凹型43を形成する。
次に、凹型43をめっき基材から剥離して(d)、感光性ドライフィルム22を除去した後(e)、凹型43における第1めっき層41の離型剤膜411を塗布した領域のみを、第2めっき層42から剥離することで、凸状金型1が製造される(f)。
ここで、第2めっき層42のめっき基材21側の表面は、第1めっき層41のめっき成長面側の表面の粗さが転写されているため、第1めっき層41と同様に粗面になり、結果として凸状金型1の非成形部12は、実施の形態1の場合と同様に粗面となる。
実施の形態2の発明によればエッチング工程を用いないで、さらに短時間で簡単に非成形部12の表面が粗面である凸状金型1を製造することが可能になる。
以上、実施の形態1〜2について説明したが、本発明はこれに限られるものではなく、同様の効果を得られる他の形態も含まれる。例えば、上記の実施の形態では、めっき浴はスルファミン酸ニッケル水溶液を基本としていたが、硫酸ニッケル水溶液を用いることも可能である。
実施の形態1では、めっき液中に応力緩和剤兼光沢剤を含む光沢めっき浴であったが、粗面めっきでも可能である。さらに、実施の形態2における第2のめっき層42は光沢めっき・粗面めっきいずれも可能である。
感光性ドライフィルム22の除去は、実施の形態1においては、凹型22をめっき基材21から剥離した直後に限らず、工程の最後にエッチング用感光性ドライフィルム29と同時に除去しても良い。また、実施の形態2においては、第2めっき層42を剥離した後でも良い。
フォトリソグラフィにおける露光方法は、直描方法を使うことでフォトマスクを省略することができるので、さらに工程の簡略化を図ることができる。さらに、凸形状111の側壁を平滑にすることができるので、成形品質を向上させることができる。
本発明の凸状金型1は、樹脂成形に限らず、印刷分野にも利用可能である。
1 凸状金型
11 成形部
111 凸形状
12 非成形部
21 めっき基材
22 感光性ドライフィルム(フォトレジスト)
25 母型
26 レジストパターン(パターン)
27、43 凹型
28 凹パターン
29 エッチング用感光性ドライフィルム(エッチング用フォトレジスト膜)
41 第1めっき層
42 第2めっき層


上記の目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、樹脂成形に供される凸状金型の製造方法であって、導電性材料よりなるめっき基材の表面に、フォトレジストを被覆し、フォトリソグラフィ法により、前記フォトレジストで高さ20〜100μmの所定のパターンを形成して母型を作製する工程と、前記母型の前記めっき基材上に、オーバーハングめっきをして、めっき皮膜により、前記パターンに対応する凹パターンを有する凹型を形成する工程と、前記凹型をめっき基材から剥離する工程と、前記凹型をエッチング用フォトレジストで被覆し、フォトリソグラフィ法により、前記凹パターンをエッチング用フォトレジスト膜で覆い、それ以外を露出させる工程と、前記凹型にエッチング処理を施して、前記凹パターンが形成された面の露出している部分を前記フォトレジストの厚さ以上溶解して、当該部分の厚さを150μm以上とし、表面粗さをRa≧0.5μmとする工程と、前記エッチング用フォトレジスト膜を除去する工程からなる、ことを特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、樹脂成形に供される凸状金型の製造方法であって、導電性材料よりなるめっき基材の表面に、フォトレジストを被覆し、フォトリソグラフィー法により、前記フォトレジストで高さ20〜100μmの所定のパターンを形成する工程と、前記めっき基材上に、前記パターンと略同じ高さまで電解めっきをして第1めっき層を形成する工程と、前記第1めっき層の、前記パターンの領域外に、離型剤を塗布して、離型処理を行う工程と、前記第1めっき層の上に、オーバーハングめっきをして、第2めっき層を形成して凹型を形成する工程と、前記凹型をめっき基材から剥離する工程と、前記凹型における前記第1めっき層の前記密着阻害処理をした領域のみを、前記第2めっき層から剥離する工程からなり、前記電解めっきのうち、少なくとも第1めっき層を形成する工程が粗面めっきである、ことを特徴とする。

Claims (3)

  1. 樹脂成形に供される凸状金型であって、
    所定のデザインで凸形状が形成され、樹脂成形に供する成形部と、
    前記成形部の周辺にあり、前記凸形状が形成されておらず、樹脂成形をしない非成形部と、を有し、
    前記成形部の樹脂成形に供するコア側の表面粗さは、Ra≦0.2μmであるとともに、前記非成形部の厚さは、前記成形部の最低厚さ以下であり、前記コア側の表面粗さはRa≧0.5μmである、
    ことを特徴とする凸状金型。
  2. 樹脂成形に供される凸状金型の製造方法であって、
    導電性材料よりなるめっき基材の表面に、フォトレジストを被覆し、フォトリソグラフィ―法により、前記フォトレジストで高さ20〜100μmの所定のパターンを形成して母型を作製する工程と、
    前記母型の前記めっき基材上に、オーバーハングめっきをして、めっき皮膜により、前記パターンに対応する凹パターンを有する凹型を形成する工程と、
    前記凹型をめっき基材から剥離する工程と、
    前記凹型の前記凹パターンが形成された面を新たなフォトレジストで被覆し、フォトリソグラフィ―法により、前記凹パターンをエッチング用フォトレジスト膜で覆い、それ以外を露出させる工程と、
    前記凹型にエッチング処理を施して、前記凹パターンが形成された面の露出している部分を前記フォトレジストの厚さ以上溶解して、当該部分の厚さを150μm以上とし、表面粗さをRa≧0.5μmとする工程と、
    前記エッチング用フォトレジスト膜を除去する工程からなる、
    ことを特徴とする凸状金型の製造方法。
  3. 樹脂成形に供される凸状金型の製造方法であって、
    導電性材料よりなるめっき基材の表面に、フォトレジストを被覆し、フォトリソグラフィー法により、前記フォトレジストで高さ20〜100μmの所定のパターンを形成する工程と、
    前記めっき基材上に、前記パターンと略同じ高さまで電解めっきをして第1めっき層を形成する工程と、
    前記第1めっき層の、前記パターンの領域外に対して、離型剤を塗布して、離型処理を行う工程と、
    前記第1めっき層の上に、オーバーハングめっきをして、第2めっき層を形成して凹型を形成する工程と、
    前記凹型をめっき基材から剥離する工程と、
    前記凹型における前記第1めっき層の、前記離型処理をした領域のみを、前記第2めっき層から剥離する工程からなり、
    前記電解めっきのうち、少なくとも第1めっき層を形成する工程が粗面めっきである、
    ことを特徴とする凸状金型の製造方法。


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Citations (13)

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