JP2018017981A - 電子機器 - Google Patents
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- H01L2021/60075—Aligning the bump connectors with the mounting substrate involving active alignment, i.e. by apparatus steering, e.g. using alignment marks, sensors
Abstract
【課題】製品歩留まりの高い電子機器を提供する。又は、製造歩留まりの高い電子機器を提供する。
【解決手段】電子機器は、第1ガラス基板10と、第1導電層L1と、を有する第1基板SUB1と、第2ガラス基板20と、第2導電層L2と、を有する第2基板SUB2と、シール材SEと、第2ガラス基板20、シール材SE及び第1導電層L1を貫通した接続用孔V1と、接続用孔V1を通って第1導電層L1と第2導電層L2とを電気的に接続した接続部材Cと、を備える。
【選択図】図14
【解決手段】電子機器は、第1ガラス基板10と、第1導電層L1と、を有する第1基板SUB1と、第2ガラス基板20と、第2導電層L2と、を有する第2基板SUB2と、シール材SEと、第2ガラス基板20、シール材SE及び第1導電層L1を貫通した接続用孔V1と、接続用孔V1を通って第1導電層L1と第2導電層L2とを電気的に接続した接続部材Cと、を備える。
【選択図】図14
Description
本発明の実施形態は、電子機器に関する。
近年、表示装置を狭額縁化するための技術が種々検討されている。一例では、樹脂製の第1基板の内面と外面とを貫通する孔の内部に孔内接続部を有する配線部と、樹脂製の第2基板の内面に設けられた配線部とが基板間接続部によって電気的に接続される技術が開示されている。
本実施形態は、製品歩留まりの高い電子機器を提供する。又は、製造歩留まりの高い電子機器を提供する。
一実施形態に係る電子機器は、
第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第2ガラス基板、前記シール材及び前記第1導電層を貫通した接続用孔と、
前記接続用孔を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備える。
第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第2ガラス基板、前記シール材及び前記第1導電層を貫通した接続用孔と、
前記接続用孔を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備える。
また、一実施形態に係る電子機器は、
第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、複数の第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第2ガラス基板及び前記シール材を貫通し複数の接続用孔と、
前記複数の接続用孔のうち少なくとも1個の接続用孔を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備え、
前記複数の接続用孔の位置は、前記複数の第2導電層が並ぶ方向に揃っていない。
第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、複数の第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第2ガラス基板及び前記シール材を貫通し複数の接続用孔と、
前記複数の接続用孔のうち少なくとも1個の接続用孔を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備え、
前記複数の接続用孔の位置は、前記複数の第2導電層が並ぶ方向に揃っていない。
また、一実施形態に係る電子機器は、
第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第1導電層を貫通する第2貫通孔と、
前記第2貫通孔につなげられ前記シール材を貫通する第3貫通孔と、
前記第2貫通孔及び前記第3貫通孔と対向し前記第2ガラス基板の一側縁に形成された切り欠き部と、
前記第2貫通孔、前記第3貫通孔及び前記切り欠き部を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備える。
第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第1導電層を貫通する第2貫通孔と、
前記第2貫通孔につなげられ前記シール材を貫通する第3貫通孔と、
前記第2貫通孔及び前記第3貫通孔と対向し前記第2ガラス基板の一側縁に形成された切り欠き部と、
前記第2貫通孔、前記第3貫通孔及び前記切り欠き部を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備える。
以下に、本発明の各実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。
本実施形態においては、電子機器の一例として表示装置を開示する。この表示装置は、例えば、スマートフォン、タブレット端末、携帯電話端末、ノートブックタイプのパーソナルコンピュータ、ゲーム機器等の種々の装置に用いることができる。本実施形態にて開示する主要な構成は、液晶表示装置、有機エレクトロルミネッセンス表示装置等の自発光型の表示装置、電気泳動素子等を有する電子ペーパ型の表示装置、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)を応用した表示装置、或いはエレクトロクロミズムを応用した表示装置などに適用可能である。
図1は、本実施形態の表示装置DSPの構成例を示す断面図である。
図1に示すように、第1方向X、第2方向Y、及び第3方向Zは、互いに直交しているが、90度以外の角度で交差していてもよい。第1方向X及び第2方向Yは、表示装置DSPを構成する基板の主面と平行な方向に相当し、第3方向Zは、表示装置DSPの厚さ方向に相当する。ここでは、第2方向Y及び第3方向Zによって規定されるY−Z平面における表示装置DSPの一部の断面を示している。
図1に示すように、第1方向X、第2方向Y、及び第3方向Zは、互いに直交しているが、90度以外の角度で交差していてもよい。第1方向X及び第2方向Yは、表示装置DSPを構成する基板の主面と平行な方向に相当し、第3方向Zは、表示装置DSPの厚さ方向に相当する。ここでは、第2方向Y及び第3方向Zによって規定されるY−Z平面における表示装置DSPの一部の断面を示している。
表示装置DSPは、第1基板SUB1と、第2基板SUB2と、接続部材Cと、配線基板SUB3と、を備えている。第1基板SUB1及び第2基板SUB2は、第3方向Zに対向している。以下の説明において、第1基板SUB1から第2基板SUB2に向かう方向を上方(あるいは、単に上)と称し、第2基板SUB2から第1基板SUB1に向かう方向を下方(あるいは、単に下)と称する。また、第2基板SUB2から第1基板SUB1に向かって見ることを平面視という。
第1基板SUB1は、第1ガラス基板10と、第1ガラス基板10の第2基板SUB2と対向する側に位置する第1導電層L1と、を備えている。第1ガラス基板10は、第2基板SUB2と対向する主面10Aと、主面10Aとは反対側の主面10Bとを有している。図示した例では、第1導電層L1は、主面10Aに位置している。なお、図示しないが、第1ガラス基板10と第1導電層L1との間や、第1導電層L1の上には、各種絶縁膜や各種導電膜が配置されていてもよい。
第2基板SUB2は、第2ガラス基板20と、第2導電層L2とを備えている。第2ガラス基板20は、第1基板SUB1と対向する主面20Aと、主面20Aとは反対側の主面20Bとを有している。第2ガラス基板20は、その主面20Aが第1導電層L1と対向し、且つ、第1導電層L1から第3方向Zに離れている。図示した例では、第2導電層L2は、主面20Bに位置している。第1ガラス基板10、第1導電層L1、第2ガラス基板20、及び第2導電層L2は、この順に第3方向Zに並んでいる。第1導電層L1と第2ガラス基板20との間には、有機絶縁膜OIが位置している。
ここでの有機絶縁膜OIは、少なくとも第1基板SUB1及び第2基板SUB2を接着するシール材が含まれる。なお、有機絶縁膜OIには、例えば、シール材以外に、後述する遮光層、カラーフィルタ、オーバーコート層、配向膜などが含まれる。なお、図示しないが、第2ガラス基板20と第2導電層L2との間や、第2導電層L2の上には、各種絶縁膜や各種導電膜が配置されていてもよい。第1基板SUB1と第2基板SUB2との間にも、各種絶縁膜や各種導電膜が配置されていてもよい。
第1ガラス基板10及び第2ガラス基板20は、例えば無アルカリガラスによって形成されている。第1導電層L1及び第2導電層L2は、例えば、モリブデン、タングステン、チタン、アルミニウム、銀、銅、クロムなどの金属材料や、これらの金属材料を組み合わせた合金や、インジウム錫酸化物(ITO)やインジウム亜鉛酸化物(IZO)などの透明な導電材料などによって形成され、単層構造であってもよいし、多層構造であってもよい。接続部材Cは、銀などの金属材料を含み、その粒径が数ナノメートルから数十ナノメートルのオーダーの微粒子を含むものであることが望ましい。
配線基板SUB3は、第1基板SUB1に実装され、第1導電層L1と電気的に接続されている。このような配線基板SUB3は、例えば可撓性を有するフレキシブル基板である。なお、本実施形態で適用可能なフレキシブル基板とは、その少なくとも一部分に、屈曲可能な材料によって形成されたフレキシブル部を備えていればよい。例えば、本実施形態の配線基板SUB3は、その全体がフレキシブル部として構成されたフレキシブル基板であってもよいし、ガラスエポキシなどの硬質材料によって形成されたリジッド部及びポリイミドなどの屈曲可能な材料によって形成されたフレキシブル部を備えたリジッドフレキシブル基板であってもよい。
ここで、本実施形態における第1導電層L1と第2導電層L2との接続構造について詳述する。第2基板SUB2において、第2ガラス基板20は、主面20Aと主面20Bとの間を貫通する貫通孔(第1貫通孔)VAを有している。図示した例では、貫通孔VAは、第2導電層L2も貫通している。一方、第1基板SUB1においては、第1導電層L1は、貫通孔VAと第3方向Zで対向する貫通孔(第2貫通孔)VBを有している。また、第1ガラス基板10は、貫通孔VBと第3方向Zで対向する凹部CCを有している。
有機絶縁膜OIは、貫通孔VA及びVBに繋がった貫通孔(第3貫通孔)VCを有している。図示した例では、貫通孔VCは、貫通孔VA及びVBと比較して、第2方向Yに拡張されている。なお、貫通孔VCは、第2方向Yのみならず、X−Y平面内における全方位に亘って貫通孔VA及びVBよりも拡張されている。凹部CC、貫通孔VB、貫通孔VC、及び貫通孔VAは、この順に第3方向Zに並んでいる。
凹部CCは、主面10Aから主面10Bに向かって形成されているが、図示した例では、主面10Bまで貫通していない。一例では、凹部CCの第3方向Zに沿った深さは、第1ガラス基板10の第3方向Zに沿った厚さの約1/5〜約1/2程度である。なお、第1ガラス基板10は、凹部CCの代わりに、主面10Aと主面10Bとの間を貫通する貫通孔を有していてもよい。貫通孔VB及び凹部CCは、いずれも貫通孔VA及びVCの直下に位置している。貫通孔VA、貫通孔VC、貫通孔VB、及び凹部CCは、第3方向Zに沿った同一直線上に位置しており、接続用孔Vを形成している。
接続部材Cは、貫通孔VA,VB,及びVCを通って第1導電層L1と第2導電層L2とを電気的に接続している。図示した例では、接続部材Cは、第2基板SUB2において、第2導電層L2の上面LT2、貫通孔VAにおける第2導電層L2の内面LS2、及び貫通孔VAにおける第2ガラス基板20の内面20Sにそれぞれ接触している。これらの内面LS2及び20Sは、貫通孔VAを出現させている。
また、接続部材Cは、第1基板SUB1において、貫通孔VBにおける第1導電層L1の内面LS1、第1導電層L1の上面LT1、及び凹部CCにもそれぞれ接触している。内面LS1は、貫通孔VBを出現させている。
接続部材Cは、貫通孔VCにおける有機絶縁膜OIの内面OISに接触している。内面OISは、貫通孔VCを出現させている。なお、図示した例では、接続部材Cは、貫通孔VA,VB,VC、及び凹部CCを埋めるように充填されているが、少なくともそれらの内面に設けられていればよい。このような接続部材Cは、第1導電層L1と第2導電層L2との間において途切れることなく連続的に形成されている。
これにより、第2導電層L2は、接続部材C及び第1導電層L1を介して配線基板SUB3と電気的に接続される。このため、第2導電層L2に対して信号を書き込んだり、第2導電層L2から出力された信号を読み取ったりするための制御回路は、配線基板SUB3を介して第2導電層L2と接続可能となる。つまり、配線基板SUB3とは別の配線基板を第2基板SUB2に実装する必要がなくなる。
本実施形態によれば、上記別の配線基板を実装するための端子部や、第2導電層L2と上記別の配線基板とを接続するための引き回し配線が不要となる。このため、第1方向X及び第2方向Yで規定されるX-Y平面において、第2基板SUB2の基板サイズを縮小することができるとともに、表示装置DSPの周縁部の額縁幅を縮小することができる。また、不要となる上記別の配線基板のコストを削減することができる。これにより、狭額縁化及び低コスト化が可能となる。
接続用孔Vは、有機絶縁膜OI(シール材)の一部を除去し、第1導電層L1を露出させている。接続部材Cに利用する導電材料を接続用孔Vに充填しても、上記導電材料は、有機絶縁膜OIで堰き止められる。上記導電材料の粘度が低くとも、上記導電材料が第1基板SUB1と第2基板SUB2との間にてX-Y平面に沿って不所望に広がる事態を回避することができる。これにより、例えば、ショートが発生する事態を回避することができる。
加えて、接続部材Cが貫通孔VBにおける第1導電層L1の内面LS1のみならず、第1導電層L1の上面LT1にも接触しているため、接続部材Cの第1導電層L1との接触面積を拡大することができ、接続部材Cと第1導電層L1との接続不良を抑制することができる。
加えて、接続部材Cが貫通孔VBにおける第1導電層L1の内面LS1のみならず、第1導電層L1の上面LT1にも接触しているため、接続部材Cの第1導電層L1との接触面積を拡大することができ、接続部材Cと第1導電層L1との接続不良を抑制することができる。
次に、本実施形態の他の構成例について図2乃至図7を参照しながらそれぞれ説明する。
図2に示した構成例は、図1に示した構成例と比較して、第2基板SUB2が第2導電層L2及び接続部材Cを覆う保護部材PFを備えた点で相違している。図示した例では、保護部材PFは、第2ガラス基板20の主面20Bも覆っている。なお、接続部材Cが内面LS1,OIS,20S,LS2、及び凹部CCの内面に設けられ且つ各貫通孔VA,VB,及びVCの中心部付近に充填されなかった場合には、接続部材Cが中空部分を有する。このような場合には、保護部材PFが接続部材Cの中空部分に充填されてもよい。保護部材PFは、例えばアクリル系樹脂などの有機絶縁材料によって形成されている。このような構成例においても、上記同様の効果が得られるのに加えて、第2導電層L2及び接続部材Cを保護することができる。
図3に示した構成例は、図1に示した構成例と比較して、第2基板SUB2が第2導電層L2を覆う保護部材PF1を備えた点で相違している。図示した例では、第2導電層L2及び第2ガラス基板20の主面20Bは、保護部材PF1によって覆われているが、第2導電層L2のうち、貫通孔VAの周囲は保護部材PF1によって覆われていない。接続部材Cは、貫通孔VAの周囲において第2導電層L2の上面LT2に接触するとともに、さらに、その周囲において保護部材PF1の上面T3に接触している。このような構成例においても、上記同様の効果が得られるのに加えて、第2導電層L2を保護することができる。
図4に示した構成例は、図3に示した構成例と比較して、第2基板SUB2が接続部材Cを覆う保護部材PF2を備えた点で相違している。図示した例では、保護部材PF2は、接続部材Cの周囲において保護部材PF1に接触している。なお、保護部材PF2は、接続部材Cが中空部分を有する場合には、中空部分に充填されても良い。また、保護部材PF2は、接続部材Cの周囲だけでなく、保護部材PF1を覆って配置されていてもよい。このような構成例においても、上記同様の効果が得られるのに加えて、第2導電層L2及び接続部材Cを保護することができる。
図5に示した構成例は、図1に示した構成例と比較して、有機絶縁膜OIが内部に導電性粒子CPを含んでいる点で相違している。このような構成例においても、上記同様の効果が得られる。加えて、導電性粒子CPが貫通孔VCに位置する接続部材Cと接触することにより、貫通孔VCで接続部材Cが途切れたとしても、途切れた接続部材C同士を導電性粒子CPによって導通させることができ、信頼性を向上することができる。
図6に示した構成例は、図1に示した構成例と比較して、接続部材Cが内面LS1,OIS,20S,LS2、及び凹部CCの内面に設けられ、接続部材Cの中空部分に導電性の充填部材FMが充填された点で相違している。充填部材FMは、例えば銀等の導電性粒子を含むペーストを硬化させたものである。このような構成例においても、上記同様の効果が得られる。加えて、接続部材Cが途切れたとしても、充填部材FMが第1導電層L1及び第2導電層L2を電気的に接続させることができ、信頼性を向上することができる。また、接続部材Cに中空部分が形成されたことに起因する第3方向Zの段差を緩和することができる。
図7に示した構成例は、図6に示した構成例と比較して、接続部材Cの中空部分に絶縁性の充填部材FIが充填された点で相違している。充填部材FIは、例えば有機絶縁材料によって形成されている。このような構成例においても、上記同様の効果が得られるのに加えて、接続部材Cを保護することができる。
図8は、本実施形態の表示装置DSPの一構成例を示す平面図である。ここでは、表示装置DSPの一例として、センサSSを搭載した液晶表示装置について説明する。
表示装置DSPは、表示パネルPNL、ICチップI1、配線基板SUB3などを備えている。表示パネルPNLは、液晶表示パネルであり、第1基板SUB1と、第2基板SUB2と、シール材SEと、表示機能層(後述する液晶層LC)と、を備えている。第2基板SUB2は、第1基板SUB1に対向している。シール材SEは、図8において右上がりの斜線で示した部分に相当し、第1基板SUB1と第2基板SUB2とを接着している。
表示装置DSPは、表示パネルPNL、ICチップI1、配線基板SUB3などを備えている。表示パネルPNLは、液晶表示パネルであり、第1基板SUB1と、第2基板SUB2と、シール材SEと、表示機能層(後述する液晶層LC)と、を備えている。第2基板SUB2は、第1基板SUB1に対向している。シール材SEは、図8において右上がりの斜線で示した部分に相当し、第1基板SUB1と第2基板SUB2とを接着している。
表示パネルPNLは、画像を表示する表示領域DA、及び表示領域DAを囲む額縁状の非表示領域NDAを備えている。表示領域DAは、例えば第1領域に相当し、シール材SEによって囲まれた内側に位置している。非表示領域NDAは、例えば表示領域(第1領域)DAと隣り合う第2領域に相当する。シール材SEは、非表示領域NDAに位置している。
ICチップI1は、配線基板SUB3に実装されている。なお、図示した例に限らず、ICチップI1は、第2基板SUB2よりも外側に延出した第1基板SUB1に実装されていてもよいし、配線基板SUB3に接続される外部回路基板に実装されていてもよい。ICチップI1は、例えば、画像を表示するのに必要な信号を出力するディスプレイドライバDDを内蔵している。ここでのディスプレイドライバDDは、後述する信号線駆動回路SD、走査線駆動回路GD、及び共通電極駆動回路CDの少なくとも一部を含むものである。また、図示した例では、ICチップI1は、タッチパネルコントローラなどとして機能する検出回路RCを内蔵している。なお、検出回路RCは、ICチップI1とは異なる他のICチップに内蔵されていても良い。
表示パネルPNLは、例えば、第1基板SUB1の下方からの光を選択的に透過させることで画像を表示する透過表示機能を備えた透過型、第2基板SUB2の上方からの光を選択的に反射させることで画像を表示する反射表示機能を備えた反射型、あるいは、透過表示機能及び反射表示機能を備えた半透過型のいずれであってもよい。
センサSSは、表示装置DSPへの被検出物の接触あるいは接近を検出するためのセンシングを行うものである。センサSSは、複数の検出電極Rx(Rx1、Rx2…)を備えている。検出電極Rxは、第2基板SUB2に設けられており、上記の第2導電層L2に相当する。これらの検出電極Rxは、それぞれ第1方向Xに延出し、第2方向Yに間隔を置いて並んでいる。図8では、検出電極Rxとして、検出電極Rx1乃至Rx4が図示されているが、ここでは、検出電極Rx1に注目してその構造例について説明する。
すなわち、検出電極Rx1は、検出部RSと、端子部RT1と、接続部CNとを備えている。
検出部RSは、表示領域DAに位置し、第1方向Xに延出している。検出電極Rx1においては、主として検出部RSがセンシングに利用される。図示した例では、検出部RSは、帯状に形成されているが、より具体的には、図13を参照して説明するように微細な金属細線の集合体によって形成されている。また、1つの検出電極Rx1は、2本の検出部RSを備えているが、3本以上の検出部RSを備えていてもよいし、1本の検出部RSを備えていてもよい。
端子部RT1は、非表示領域NDAの第1方向Xに沿った一端側に位置し、検出部RSに繋がっている。接続部CNは、非表示領域NDAの第1方向Xに沿った他端側に位置し、複数の検出部RSを互いに接続している。図8において、一端側とは表示領域DAよりも左側に相当し、他端側とは表示領域DAよりも右側に相当する。端子部RT1の一部は、平面視でシール材SEと重なる位置に形成されている。
検出部RSは、表示領域DAに位置し、第1方向Xに延出している。検出電極Rx1においては、主として検出部RSがセンシングに利用される。図示した例では、検出部RSは、帯状に形成されているが、より具体的には、図13を参照して説明するように微細な金属細線の集合体によって形成されている。また、1つの検出電極Rx1は、2本の検出部RSを備えているが、3本以上の検出部RSを備えていてもよいし、1本の検出部RSを備えていてもよい。
端子部RT1は、非表示領域NDAの第1方向Xに沿った一端側に位置し、検出部RSに繋がっている。接続部CNは、非表示領域NDAの第1方向Xに沿った他端側に位置し、複数の検出部RSを互いに接続している。図8において、一端側とは表示領域DAよりも左側に相当し、他端側とは表示領域DAよりも右側に相当する。端子部RT1の一部は、平面視でシール材SEと重なる位置に形成されている。
一方で、第1基板SUB1は、上記の第1導電層L1に相当するパッドP1及び配線W1を備えている。パッドP1及び配線W1は、非表示領域NDAの一端側に位置し、平面視でシール材SEと重なっている。パッドP1は、平面視で端子部RT1と重なる位置に形成されている。配線W1は、パッドP1に接続され、第2方向Yに沿って延出し、配線基板SUB3を介してICチップI1の検出回路RCと電気的に接続されている。
接続用孔V1は、端子部RT1とパッドP1とが対向する位置に形成されている。また、接続用孔V1は、端子部RT1を含む第2基板SUB2及びシール材SEを貫通するとともに、パッドP1を貫通する場合もあり得る。図示した例では、接続用孔V1は、平面視で円形であるが、その形状は図示した例に限らず、楕円形などの他の形状であってもよい。図1などを参照して説明したように、接続用孔V1には、接続部材Cが設けられている。これにより、端子部RT1とパッドP1とが電気的に接続される。つまり、第2基板SUB2に設けられた検出電極Rx1は、第1基板SUB1に接続された配線基板SUB3を介して検出回路RCと電気的に接続される。検出回路RCは、検出電極Rxから出力されたセンサ信号を読み取り、被検出物の接触あるいは接近の有無や、被検出物の位置座標などを検出する。
図示した例では、奇数番目の検出電極Rx1、Rx3…の各々の端子部RT1、RT3…、パッドP1、P3…、配線W1、W3…、接続用孔V1、V3…は、いずれも非表示領域NDAの一端側に位置している。また、偶数番目の検出電極Rx2、Rx4…の各々の端子部RT2、RT4…、パッドP2、P4…、配線W2、W4…、接続用孔V2、V4…は、いずれも非表示領域NDAの他端側に位置している。このようなレイアウトによれば、非表示領域NDAにおける一端側の幅と他端側の幅とを均一化することができ、狭額縁化に好適である。
図示したように、パッドP3がパッドP1よりも配線基板SUB3に近接するレイアウトでは、配線W1は、パッドP3の内側(つまり、表示領域DAに近接する側)を迂回し、パッドP3と配線基板SUB3との間で配線W3の内側に並んで配置されている。同様に、配線W2は、パッドP4の内側を迂回し、パッドP4と配線基板SUB3との間で配線W4の内側に並んで配置されている。
図9は、図8に示した表示パネルPNLの基本構成及び等価回路を示す図である。
図9に示すように、表示パネルPNLは、表示領域DAにおいて、複数の画素PXを備えている。ここで、画素とは、画素信号に応じて個別に制御することができる最小単位を示し、例えば、後述する走査線と信号線とが交差する位置に配置されたスイッチング素子を含む領域に存在する。複数の画素PXは、第1方向X及び第2方向Yにマトリクス状に配置されている。また、表示パネルPNLは、表示領域DAにおいて、複数本の走査線G(G1〜Gn)、複数本の信号線S(S1〜Sm)、共通電極CEなどを備えている。走査線Gは、各々第1方向Xに延出し、第2方向Yに並んでいる。信号線Sは、各々第2方向Yに延出し、第1方向Xに並んでいる。なお、走査線G及び信号線Sは、必ずしも直線的に延出していなくてもよく、それらの一部が屈曲していてもよい。共通電極CEは、複数の画素PXに亘って配置されている。走査線G、信号線S、及び共通電極CEは、それぞれ非表示領域NDAに引き出されている。非表示領域NDAにおいて、走査線Gは走査線駆動回路GDに接続され、信号線Sは信号線駆動回路SDに接続され、共通電極CEは共通電極駆動回路CDに接続されている。信号線駆動回路SD、走査線駆動回路GD、及び共通電極駆動回路CDは、第1基板SUB1上に形成されてもよいし、これらの一部或いは全部が図8に示したICチップI1に内蔵されていてもよい。
図9に示すように、表示パネルPNLは、表示領域DAにおいて、複数の画素PXを備えている。ここで、画素とは、画素信号に応じて個別に制御することができる最小単位を示し、例えば、後述する走査線と信号線とが交差する位置に配置されたスイッチング素子を含む領域に存在する。複数の画素PXは、第1方向X及び第2方向Yにマトリクス状に配置されている。また、表示パネルPNLは、表示領域DAにおいて、複数本の走査線G(G1〜Gn)、複数本の信号線S(S1〜Sm)、共通電極CEなどを備えている。走査線Gは、各々第1方向Xに延出し、第2方向Yに並んでいる。信号線Sは、各々第2方向Yに延出し、第1方向Xに並んでいる。なお、走査線G及び信号線Sは、必ずしも直線的に延出していなくてもよく、それらの一部が屈曲していてもよい。共通電極CEは、複数の画素PXに亘って配置されている。走査線G、信号線S、及び共通電極CEは、それぞれ非表示領域NDAに引き出されている。非表示領域NDAにおいて、走査線Gは走査線駆動回路GDに接続され、信号線Sは信号線駆動回路SDに接続され、共通電極CEは共通電極駆動回路CDに接続されている。信号線駆動回路SD、走査線駆動回路GD、及び共通電極駆動回路CDは、第1基板SUB1上に形成されてもよいし、これらの一部或いは全部が図8に示したICチップI1に内蔵されていてもよい。
各画素PXは、スイッチング素子SW、画素電極PE、共通電極CE、液晶層LC等を備えている。スイッチング素子SWは、例えば薄膜トランジスタ(TFT)によって構成され、走査線G及び信号線Sと電気的に接続されている。より具体的には、スイッチング素子SWは、ゲート電極WG、ソース電極WS、及び、ドレイン電極WDを備えている。ゲート電極WGは、走査線Gと電気的に接続されている。図示した例では、信号線Sと電気的に接続された電極をソース電極WSと称し、画素電極PEと電気的に接続された電極をドレイン電極WDと称する。
走査線Gは、第1方向Xに並んだ画素PXの各々におけるスイッチング素子SWと接続されている。信号線Sは、第2方向Yに並んだ画素PXの各々におけるスイッチング素子SWと接続されている。画素電極PEの各々は、共通電極CEと対向し、画素電極PEと共通電極CEとの間に生じる電界によって液晶層LCを駆動している。保持容量CSは、例えば、共通電極CEと画素電極PEとの間に形成される。
走査線Gは、第1方向Xに並んだ画素PXの各々におけるスイッチング素子SWと接続されている。信号線Sは、第2方向Yに並んだ画素PXの各々におけるスイッチング素子SWと接続されている。画素電極PEの各々は、共通電極CEと対向し、画素電極PEと共通電極CEとの間に生じる電界によって液晶層LCを駆動している。保持容量CSは、例えば、共通電極CEと画素電極PEとの間に形成される。
図10は、図8に示した表示パネルPNLの一部の構造を示す断面図である。ここでは、表示装置DSPを第1方向Xに沿って切断した断面図を示す。
図10に示すように、図示した表示パネルPNLは、主として基板主面にほぼ平行な横電界を利用する表示モードに対応した構成を有している。なお、表示パネルPNLは、基板主面に対して垂直な縦電界や、基板主面に対して斜め方向の電界、或いは、それらを組み合わせて利用する表示モードに対応した構成を有していても良い。横電界を利用する表示モードでは、例えば第1基板SUB1及び第2基板SUB2のいずれか一方に画素電極PE及び共通電極CEの双方が備えられた構成が適用可能である。縦電界や斜め電界を利用する表示モードでは、例えば、第1基板SUB1に画素電極PE及び共通電極CEのいずれか一方が備えられ、第2基板SUB2に画素電極PE及び共通電極CEのいずれか他方が備えられた構成が適用可能である。なお、ここでの基板主面とは、X−Y平面と平行な面である。
図10に示すように、図示した表示パネルPNLは、主として基板主面にほぼ平行な横電界を利用する表示モードに対応した構成を有している。なお、表示パネルPNLは、基板主面に対して垂直な縦電界や、基板主面に対して斜め方向の電界、或いは、それらを組み合わせて利用する表示モードに対応した構成を有していても良い。横電界を利用する表示モードでは、例えば第1基板SUB1及び第2基板SUB2のいずれか一方に画素電極PE及び共通電極CEの双方が備えられた構成が適用可能である。縦電界や斜め電界を利用する表示モードでは、例えば、第1基板SUB1に画素電極PE及び共通電極CEのいずれか一方が備えられ、第2基板SUB2に画素電極PE及び共通電極CEのいずれか他方が備えられた構成が適用可能である。なお、ここでの基板主面とは、X−Y平面と平行な面である。
第1基板SUB1は、第1ガラス基板10、信号線S、共通電極CE、金属層M、画素電極PE、第1絶縁膜11、第2絶縁膜12、第3絶縁膜13、第1配向膜AL1などを備えている。なお、ここでは、スイッチング素子や走査線、これらの間に介在する各種絶縁膜等の図示を省略している。
第1絶縁膜11は、第1ガラス基板10の上に位置している。図示しない走査線やスイッチング素子の半導体層は、第1ガラス基板10と第1絶縁膜11の間に位置している。信号線Sは、第1絶縁膜11の上に位置している。第2絶縁膜12は、信号線S、及び、第1絶縁膜11の上に位置している。共通電極CEは、第2絶縁膜12の上に位置している。金属層Mは、信号線Sの直上において共通電極CEに接触している。図示した例では、金属層Mは、共通電極CEの上に位置しているが、共通電極CEと第2絶縁膜12との間に位置していてもよい。第3絶縁膜13は、共通電極CE、及び、金属層Mの上に位置している。画素電極PEは、第3絶縁膜13の上に位置している。画素電極PEは、第3絶縁膜13を介して共通電極CEと対向している。また、画素電極PEは、共通電極CEと対向する位置にスリットSLを有している。第1配向膜AL1は、画素電極PE及び第3絶縁膜13を覆っている。
走査線、信号線S、及び金属層Mは、モリブデン、タングステン、チタン、アルミニウムなどの金属材料によって形成され、単層構造であっても良いし、多層構造であってもよい。共通電極CE及び画素電極PEは、ITOやIZOなどの透明な導電材料によって形成されている。第1絶縁膜11及び第3絶縁膜13は無機絶縁膜であり、第2絶縁膜12は有機絶縁膜である。
第1絶縁膜11は、第1ガラス基板10の上に位置している。図示しない走査線やスイッチング素子の半導体層は、第1ガラス基板10と第1絶縁膜11の間に位置している。信号線Sは、第1絶縁膜11の上に位置している。第2絶縁膜12は、信号線S、及び、第1絶縁膜11の上に位置している。共通電極CEは、第2絶縁膜12の上に位置している。金属層Mは、信号線Sの直上において共通電極CEに接触している。図示した例では、金属層Mは、共通電極CEの上に位置しているが、共通電極CEと第2絶縁膜12との間に位置していてもよい。第3絶縁膜13は、共通電極CE、及び、金属層Mの上に位置している。画素電極PEは、第3絶縁膜13の上に位置している。画素電極PEは、第3絶縁膜13を介して共通電極CEと対向している。また、画素電極PEは、共通電極CEと対向する位置にスリットSLを有している。第1配向膜AL1は、画素電極PE及び第3絶縁膜13を覆っている。
走査線、信号線S、及び金属層Mは、モリブデン、タングステン、チタン、アルミニウムなどの金属材料によって形成され、単層構造であっても良いし、多層構造であってもよい。共通電極CE及び画素電極PEは、ITOやIZOなどの透明な導電材料によって形成されている。第1絶縁膜11及び第3絶縁膜13は無機絶縁膜であり、第2絶縁膜12は有機絶縁膜である。
なお、第1基板SUB1の構成は、図示した例に限らず、画素電極PEが第2絶縁膜12と第3絶縁膜13との間に位置し、共通電極CEが第3絶縁膜13と第1配向膜AL1との間に位置していてもよい。このような場合、画素電極PEはスリットを有していない平板状に形成され、共通電極CEは画素電極PEと対向するスリットを有する。また、画素電極PE及び共通電極CEの双方が櫛歯状に形成され、互いに噛み合うように配置されていてもよい。
第2基板SUB2は、第2ガラス基板20、遮光層BM、カラーフィルタCF、オーバーコート層OC、第2配向膜AL2などを備えている。
遮光層BM及びカラーフィルタCFは、第2ガラス基板20の第1基板SUB1と対向する側に位置している。遮光層BMは、各画素を区画し、信号線Sの直上に位置している。カラーフィルタCFは、画素電極PEと対向し、その一部が遮光層BMに重なっている。カラーフィルタCFは、赤色カラーフィルタ、緑色カラーフィルタ、青色カラーフィルタなどを含む。オーバーコート層OCは、カラーフィルタCFを覆っている。第2配向膜AL2は、オーバーコート層OCを覆っている。
遮光層BM及びカラーフィルタCFは、第2ガラス基板20の第1基板SUB1と対向する側に位置している。遮光層BMは、各画素を区画し、信号線Sの直上に位置している。カラーフィルタCFは、画素電極PEと対向し、その一部が遮光層BMに重なっている。カラーフィルタCFは、赤色カラーフィルタ、緑色カラーフィルタ、青色カラーフィルタなどを含む。オーバーコート層OCは、カラーフィルタCFを覆っている。第2配向膜AL2は、オーバーコート層OCを覆っている。
なお、カラーフィルタCFは、第1基板SUB1に配置されてもよい。カラーフィルタCFは、4色以上のカラーフィルタを含んでいても良い。白色を表示する画素には、白色のカラーフィルタが配置されてもよいし、無着色の樹脂材料が配置されてもよいし、カラーフィルタを配置せずにオーバーコート層OCを配置してもよい。
検出電極Rxは、第2ガラス基板20の主面20Bに位置している。検出電極Rxは、上記の通り、第2導電層L2に相当し、金属を含む導電層、ITOやIZO等の透明な導電材料によって形成されていてもよいし、金属を含む導電層の上に透明導電層が積層されていてもよいし、導電性の有機材料や、微細な導電性物質の分散体などによって形成されていてもよい。
第1偏光板PL1を含む第1光学素子OD1は、第1ガラス基板10と照明装置BLとの間に位置している。第2偏光板PL2を含む第2光学素子OD2は、検出電極Rxの上に位置している。第1光学素子OD1及び第2光学素子OD2は、必要に応じて位相差板を含んでいてもよい。
次に、本実施形態の表示装置DSPに搭載されるセンサSSの一構成例について説明する。以下に説明するセンサSSは、例えば相互容量方式の静電容量型であり、誘電体を介して対向する一対の電極間の静電容量の変化に基づいて、被検出物の接触あるいは接近を検出するものである。
図11は、センサSSの一構成例を示す平面図である。
図11に示すように、図示した構成例では、センサSSは、センサ駆動電極Tx、及び検出電極Rxを備えている。図示した例では、センサ駆動電極Txは、右下がりの斜線で示した部分に相当し、第1基板SUB1に設けられている。また、検出電極Rxは、右上がりの斜線で示した部分に相当し、第2基板SUB2に設けられている。センサ駆動電極Tx及び検出電極Rxは、X−Y平面において、互いに交差している。検出電極Rxは、第3方向Zにおいて、センサ駆動電極Txと対向している。
図11は、センサSSの一構成例を示す平面図である。
図11に示すように、図示した構成例では、センサSSは、センサ駆動電極Tx、及び検出電極Rxを備えている。図示した例では、センサ駆動電極Txは、右下がりの斜線で示した部分に相当し、第1基板SUB1に設けられている。また、検出電極Rxは、右上がりの斜線で示した部分に相当し、第2基板SUB2に設けられている。センサ駆動電極Tx及び検出電極Rxは、X−Y平面において、互いに交差している。検出電極Rxは、第3方向Zにおいて、センサ駆動電極Txと対向している。
センサ駆動電極Tx及び検出電極Rxは、表示領域DAに位置し、それらの一部が非表示領域NDAに延在している。図示した例では、センサ駆動電極Txは、それぞれ第2方向Yに延出した帯状の形状を有し、第1方向Xに間隔を置いて並んでいる。検出電極Rxは、それぞれ第1方向Xに延出し、第2方向Yに間隔を置いて並んでいる。検出電極Rxは、図8を参照して説明したように、第1基板SUB1に設けられたパッドに接続され、配線を介して検出回路RCと電気的に接続されている。センサ駆動電極Txの各々は、配線WRを介して共通電極駆動回路CDと電気的に接続されている。なお、センサ駆動電極Tx及び検出電極Rxの個数やサイズ、形状は特に限定されるものではなく種々変更可能である。
センサ駆動電極Txは、上記の共通電極CEを含み、画素電極PEとの間で電界を発生させる機能を有するとともに、検出電極Rxとの間で容量を発生させることで被検出物の位置を検出するための機能を有している。
共通電極駆動回路CDは、表示領域DAに画像を表示する表示駆動時に、共通電極CEを含むセンサ駆動電極Txに対してコモン駆動信号を供給する。また、共通電極駆動回路CDは、センシングを行うセンシング駆動時に、センサ駆動電極Txに対してセンサ駆動信号を供給する。検出電極Rxは、センサ駆動電極Txへのセンサ駆動信号の供給に伴って、センシングに必要なセンサ信号(つまり、センサ駆動電極Txと検出電極Rxとの間の電極間容量の変化に基づいた信号)を出力する。検出電極Rxから出力された検出信号は、図8に示した検出回路RCに入力される。
なお、上記した各構成例におけるセンサSSは、一対の電極間の静電容量(上記の例ではセンサ駆動電極Txと検出電極Rxとの間の静電容量)の変化に基づいて被検出物を検出する相互容量方式に限らず、検出電極Rxの静電容量の変化に基づいて被検出物を検出する自己容量方式であってもよい。
図12は、本実施形態の表示装置DSPの他の構成例を示す平面図である。図12に示した構成例は、図8に示した構成例と比較して、検出電極Rx1、Rx2、Rx3…がそれぞれ第2方向Yに延出し、第1方向Xに間隔をおいて並んでいる点で相違している。図示した例では、検出部RSは、表示領域DAにおいて第2方向Yに延出している。また、端子部RT1、RT2、RT3…は、表示領域DAと配線基板SUB3との間で第1方向Xに間隔をおいて並んでいる。接続用孔V1、V2、V3…は、第1方向Xに間隔をおいて並んでいる。なお、図示しないが、表示装置DSPは、第1方向Xに延出し第2方向Yに間隔をおいて並んだセンサ駆動電極を備えていてもよい。
図12に示した構成例は、検出電極Rxを利用した自己容量方式のセンサSSに適用可能であり、また、図示しないセンサ駆動電極及び検出電極Rxを利用した相互容量方式のセンサSSにも適用可能である。
図12に示した構成例は、検出電極Rxを利用した自己容量方式のセンサSSに適用可能であり、また、図示しないセンサ駆動電極及び検出電極Rxを利用した相互容量方式のセンサSSにも適用可能である。
図13は、図8及び図12に示した検出電極Rx1の検出部RSの構成例を示す図である。
図13(A)に示す例では、検出部RSは、メッシュ状の金属細線MSによって形成されている。金属細線MSは、端子部RT1に繋がっている。図13(B)に示す例では、検出部RSは、波状の金属細線MWによって形成されている。図示した例では、金属細線MWは、鋸歯状であるが、正弦波状などの他の形状であってもよい。金属細線MWは、端子部RT1に繋がっている。
端子部RT1は、例えば検出部RSと同一材料によって形成されている。端子部RT1には、円形の接続用孔V1が形成されている。
図13(A)に示す例では、検出部RSは、メッシュ状の金属細線MSによって形成されている。金属細線MSは、端子部RT1に繋がっている。図13(B)に示す例では、検出部RSは、波状の金属細線MWによって形成されている。図示した例では、金属細線MWは、鋸歯状であるが、正弦波状などの他の形状であってもよい。金属細線MWは、端子部RT1に繋がっている。
端子部RT1は、例えば検出部RSと同一材料によって形成されている。端子部RT1には、円形の接続用孔V1が形成されている。
図14は、図8に示した接続用孔V1を含む表示パネルPNLを線XIV−XIVで切断した表示パネルPNLの断面図である。ここでは、説明に必要な主要部のみを図示している。
図14に示すように、第1基板SUB1は、第1ガラス基板10、第1導電層L1に相当するパッドP1、有機絶縁膜に相当する第2絶縁膜12などを備えている。第1導電層L1は、例えば、図10に示した信号線Sと同一材料によって形成されている。第1ガラス基板10とパッドP1との間、及び第1ガラス基板10と第2絶縁膜12との間には、図10に示した第1絶縁膜11や、他の絶縁膜や他の導電層が配置されていてもよい。
図14に示すように、第1基板SUB1は、第1ガラス基板10、第1導電層L1に相当するパッドP1、有機絶縁膜に相当する第2絶縁膜12などを備えている。第1導電層L1は、例えば、図10に示した信号線Sと同一材料によって形成されている。第1ガラス基板10とパッドP1との間、及び第1ガラス基板10と第2絶縁膜12との間には、図10に示した第1絶縁膜11や、他の絶縁膜や他の導電層が配置されていてもよい。
第2基板SUB2は、第2ガラス基板20、第2導電層L2に相当する検出電極Rx1、有機絶縁膜に相当する遮光層BM及びオーバーコート層OCなどを備えている。
シール材SEは、有機絶縁膜に相当し、第2絶縁膜12とオーバーコート層OCとの間に位置している。液晶層LCは、第1基板SUB1と第2基板SUB2との間の間隙に位置している。なお、図示しないが、第2絶縁膜12とシール材SEとの間には、図10に示した金属層M、第3絶縁膜13、及び第1配向膜AL1が介在していてもよい。また、オーバーコート層OCとシール材SEとの間には、図10に示した第2配向膜AL2が介在していてもよい。
シール材SEは、有機絶縁膜に相当し、第2絶縁膜12とオーバーコート層OCとの間に位置している。液晶層LCは、第1基板SUB1と第2基板SUB2との間の間隙に位置している。なお、図示しないが、第2絶縁膜12とシール材SEとの間には、図10に示した金属層M、第3絶縁膜13、及び第1配向膜AL1が介在していてもよい。また、オーバーコート層OCとシール材SEとの間には、図10に示した第2配向膜AL2が介在していてもよい。
接続用孔V1は、第2ガラス基板20及び検出電極Rxの端子部RTを貫通する貫通孔VA、パッドP1を貫通する貫通孔VB、各種有機絶縁膜を貫通する貫通孔VC、及び第1ガラス基板10に形成された凹部CCを含んでいる。貫通孔VCは、第2絶縁膜12を貫通する第1部分VC1、シール材SEを貫通する第2部分VC2、及び遮光層BM及びオーバーコート層OCを貫通する第3部分VC3を有している。接続部材Cは、接続用孔V1に設けられ、パッドP1と検出電極Rxとを電気的に接続している。
第2絶縁膜12は、パッドP1と第2ガラス基板20との間に位置し、パッドP1の上面LT1に接している。接続部材Cは、パッドP1の上面LT1と、貫通孔VBにおけるパッドP1の内面LS1とに接触している。
上述したセンサSSを備える表示装置DSPによれば、第2基板SUB2に設けられた検出電極Rxは、接続用孔V(V1、V2、V3…)に設けられた接続部材Cにより、第1基板SUB1に設けられたパッドPと接続されている。このため、検出電極Rx(Rx1、Rx2、Rx3…)と検出回路RCとを接続するための配線基板を第2基板SUB2に実装する必要がなくなる。つまり、第1基板SUB1に実装された配線基板SUB3は、表示パネルPNLに画像を表示するのに必要な信号を伝送するための伝送路を形成するとともに、検出電極Rxと検出回路RCとの間で信号を伝送するための伝送路を形成する。したがって、配線基板SUB3の他に別個の配線基板を必要とする構成例と比較して、配線基板の個数を削減することができ、コストを削減することができる。また、第2基板SUB2に配線基板を接続するためのスペースが不要となるため、表示パネルPNLの非表示領域、特に、配線基板SUB3が実装される端辺の幅を縮小することができる。これにより、狭額縁化及び低コスト化が可能となる。
次に、上述した表示装置DSPの製造方法の一例について図15乃至図17を参照しながら説明する。
まず、図15(A)に示すように、表示パネルPNLを用意する。図示した表示パネルPNLは、少なくとも第1ガラス基板10及び第1導電層L1を備えた第1基板SUB1と、少なくとも第2ガラス基板20及び第2導電層L2を備えた第2基板SUB2とを備えている。この表示パネルPNLにおいては、第2ガラス基板20が第1導電層L1と対向し、且つ、第2ガラス基板20が第1導電層L1から離間した状態で、第1基板SUB1と第2基板SUB2とがシール材SEによって接着されている。なお、ここでの第1導電層L1とは、例えば図14に示したパッドP1などに相当し、第2導電層L2とは、例えば図14に示した検出電極Rx1などに相当する。
このような表示パネルPNLの製造方法の一例について説明する。すなわち、第1ガラス基板10の主面10A上に第1導電層L1や第2絶縁膜12などを形成した第1基板SUB1を用意する。一方で、第2ガラス基板20の主面20A上に遮光層BM、オーバーコート層OCなどを形成した第2基板SUB2を用意する。この時点で、第2基板SUB2の主面20Bには、第2導電層は形成されていない。これらの第1基板SUB1及び第2基板SUB2のいずれか一方に、基板の端辺に沿ってシール材SEを形成し、シール材SEの内側に液晶材料を滴下する。その後、第1基板SUB1及び第2基板SUB2を貼り合せ、シール材SEを硬化させて、第1基板SUB1及び第2基板SUB2を接着する。その後、フッ化水素酸(HF)などのエッチング液により第1ガラス基板10及び第2ガラス基板20をそれぞれエッチングし、第1ガラス基板10及び第2ガラス基板20を薄板化する。その後、第2ガラス基板20の主面20Bに第2導電層L2を形成する。これにより、図15(A)に示す表示パネルPNLが製造される。
また、表示パネルPNLの製造方法の他の例について説明する。すなわち、上記の例と同様に第1基板SUB1を用意する一方で、第2ガラス基板20の主面20A上に遮光層BM、オーバーコート層OCなどを形成し、且つ、第2ガラス基板20の主面20B上に第2導電層L2を形成した第2基板SUB2を用意する。その後、シール材SEを形成し、液晶材料を滴下した後に、第1基板SUB1及び第2基板SUB2を接着する。これにより、図15(A)に示す表示パネルPNLが製造される。
続いて、図15(B)に示すように、第2基板SUB2にレーザー光Lを照射する。図示した例では、レーザー光Lは、第2導電層L2の上方から照射される。レーザー光源としては、例えば炭酸ガスレーザー装置などが適用可能であるが、ガラス材料及び有機系材料に穴あけ加工ができるものであればよく、エキシマレーザー装置なども適用可能である。
このようなレーザー光Lが照射されることにより、図15(C)に示すように、第2ガラス基板20及び第2導電層L2を貫通する貫通孔VAが形成される。また、図示した例では、レーザー光Lが照射された際に、貫通孔VAの直下に位置する遮光層BM及びオーバーコート層OCを貫通する貫通孔の第3部分VC3、第3部分VC3の直下に位置するシール材SEを貫通する貫通孔の第2部分VC2、第2部分VC2の直下に位置する第2絶縁膜12を貫通する第1部分VC1、第1部分VC1の直下に位置する第1導電層L1を貫通する貫通孔VB、貫通孔VBの直下に位置する第1ガラス基板10の凹部CCも同時に形成される。これにより、第1導電層L1と第2導電層L2とを接続するための接続用孔V1が形成される。
レーザー光Lの照射により、表示パネルPNLに熱エネルギーが与えられると、パッドP1に利用する金属より、第2絶縁膜12に利用する有機絶縁材料の方が、昇華し易い。このため、上述したように、貫通孔VCは、貫通孔VA及びVBよりも拡張して形成されている。接続用孔V1は、第2絶縁膜12の一部を除去し、第1導電層L1を露出させている。
続いて、図16に示すように、第1導電層L1及び第2導電層L2を電気的に接続する接続部材Cを形成する。
より具体的には、まず、図16(A)に示すように、チャンバーCB内に表示パネルPNLを設置した後に、チャンバーCB内の空気を排出し、真空中(大気圧より低い気圧の環境下)で貫通孔VAに接続部材Cを注入する。このとき、接続部材Cが第1導電層L1まで流れ込まずに、接続部材Cと第1導電層L1との間に空間SPが形成される場合がある。但し、空間SPは、真空である。
その後、図16(B)に示すように、チャンバーCB内に空気、不活性ガス等の気体を導入することで真空度を低下させ、空間SPと表示パネルPNLの周囲との気圧差により、接続部材Cが貫通孔VAから貫通孔VC,VB、及び凹部CCに流れ込み、接続部材Cを第1導電層L1に接触させる。接続部材Cに利用する導電材料を接続用孔V1に充填しても、上記導電材料は、シール材SEなどの有機絶縁膜で堰き止められる。
より具体的には、まず、図16(A)に示すように、チャンバーCB内に表示パネルPNLを設置した後に、チャンバーCB内の空気を排出し、真空中(大気圧より低い気圧の環境下)で貫通孔VAに接続部材Cを注入する。このとき、接続部材Cが第1導電層L1まで流れ込まずに、接続部材Cと第1導電層L1との間に空間SPが形成される場合がある。但し、空間SPは、真空である。
その後、図16(B)に示すように、チャンバーCB内に空気、不活性ガス等の気体を導入することで真空度を低下させ、空間SPと表示パネルPNLの周囲との気圧差により、接続部材Cが貫通孔VAから貫通孔VC,VB、及び凹部CCに流れ込み、接続部材Cを第1導電層L1に接触させる。接続部材Cに利用する導電材料を接続用孔V1に充填しても、上記導電材料は、シール材SEなどの有機絶縁膜で堰き止められる。
その後、図16(C)に示すように、接続部材Cに含まれる溶剤を除去することにより、接続部材Cの体積が減少し、中空部分HLが形成される。このように形成された接続部材Cは、貫通孔VAにおいて第2導電層L2及び第2ガラス基板20にそれぞれ接触し、貫通孔VCにおいて遮光層BM、オーバーコート層OC、シール材SE、及び第2絶縁膜12にそれぞれ接触し、貫通孔VBにおいて第1導電層L1に接触し、凹部CCにおいて第1ガラス基板10に接触している。
なお、図16を参照して説明した接続部材Cの形成方法は一例にすぎず、これに限定されるものではない。例えば、大気圧下で貫通孔VAに接続部材Cを注入した後に、接続部材Cに含まれる溶剤を除去する手法であっても、上記と同様の接続部材Cを形成することができる。
続いて、図17(A)に示すように、保護部材PFを形成する。図示した例では、保護部材PFは、接続部材Cの中空部分HLに充填されるとともに、第2導電層L2及び接続部材Cを覆っている。これにより、第2基板SUB2の表面SUB2Aは、ほぼ平坦化され、接続用孔V1と重なる部分の段差を緩和することができる。
続いて、図17(B)に示すように、第2光学素子OD2を保護部材PFに接着する。図示した例では、第2光学素子OD2は、接続用孔V1と重なる部分にも延在している。接続用孔V1に起因した段差が保護部材PFによって緩和されているため、第2光学素子OD2を接着した際、第2光学素子OD2の下地の段差による第2光学素子OD2の剥離を抑制することができる。
以上説明したように、本実施形態によれば、狭額縁化及び低コスト化が可能な表示装置及びその製造方法を得ることができる。又は、製品歩留まりの高い表示装置を得ることができる。又は、製造歩留まりの高い表示装置得ることができる。
[変形例1]
次に、上記実施形態の変形例1に係る表示装置DSPについて説明する。図18Aは、上記実施形態の変形例1に係る表示装置DSPの一部の構成例を示す平面図である。
図18Aに示すように、図示した構成例は、上述した構成例と比較して、シール材SEの幅が均一ではない点で相違している。図中、シール材SEには斜線を付している。シール材SEは、第1幅WI1を有する第1シール部SE1と、第1幅WI1より大きい第2幅WI2を有する第2シール部SE2と、を有している。接続用孔Vが配置されるシール材SEの第2幅WI2は、接続用孔Vが配置されないシール材SEの第1幅WI1より広い(WI2>WI1)。本変形例1において、第1シール部SE1及び第2シール部SE2は、第2方向Yに延出している。第1幅WI1は、第1シール部SE1の第1方向Xの長さであり、第2幅WI2は、第2シール部SE2の第1方向Xの長さである。
次に、上記実施形態の変形例1に係る表示装置DSPについて説明する。図18Aは、上記実施形態の変形例1に係る表示装置DSPの一部の構成例を示す平面図である。
図18Aに示すように、図示した構成例は、上述した構成例と比較して、シール材SEの幅が均一ではない点で相違している。図中、シール材SEには斜線を付している。シール材SEは、第1幅WI1を有する第1シール部SE1と、第1幅WI1より大きい第2幅WI2を有する第2シール部SE2と、を有している。接続用孔Vが配置されるシール材SEの第2幅WI2は、接続用孔Vが配置されないシール材SEの第1幅WI1より広い(WI2>WI1)。本変形例1において、第1シール部SE1及び第2シール部SE2は、第2方向Yに延出している。第1幅WI1は、第1シール部SE1の第1方向Xの長さであり、第2幅WI2は、第2シール部SE2の第1方向Xの長さである。
接続用孔Vは、シール材SEのうち第2シール部SE2を貫通している。なお、本変形例1において、単個の端子部RTと対向する領域に、単個の接続用孔Vが位置しているが、複数個の接続用孔Vが位置していてもよい。また、本変形例1において、単個の第2シール部SE2と対向する領域に、単個の接続用孔Vが位置しているが、複数個の接続用孔Vが位置していてもよい。
なお、シール材SEの4辺のうち、第1シール部SE1及び第2シール部SE2以外の個所の幅は、特に限定されるものではない。例えば、シール材SEのうち第2シール部SE2以外の個所は、第1幅WI1を有していてもよい。
なお、シール材SEの4辺のうち、第1シール部SE1及び第2シール部SE2以外の個所の幅は、特に限定されるものではない。例えば、シール材SEのうち第2シール部SE2以外の個所は、第1幅WI1を有していてもよい。
上記のような変形例1に係る表示装置DSPによれば、シール材SEは、第2シール部SE2を有している。WI2>WI1である。このため、接続用孔Vの分、第2シール部SE2の体積が小さくなっても、第2シール部SE2と第1基板SUB1との接着力と、第2シール部SE2と第2基板SUB2との接着力と、の低下を抑制することができる。このため、剥離の生じ難い表示パネルPNLを得ることができる。又は、信頼性の高い表示パネルPNLを得ることができる。
図18Bに示すように、図18Aに示した例と異なり、接続用孔Vが配置される辺のシール材SEの第2幅WI2は、接続用孔Vが配置されない辺のシール材SEの第1幅WI1より広くともよい。図18Bに示す例では、第1シール部SE1は接続用孔Vが配置されない辺に設けられ、第2シール部SE2は接続用孔Vが配置される辺に設けられる。
[変形例2]
次に、上記実施形態の変形例2に係る表示装置DSPについて説明する。図19は、上記実施形態の変形例2に係る表示装置DSPの一部の構成例を示す平面図である。
図19に示すように、図示した構成例は、上述した構成例と比較して、複数の接続用孔Vが一直線上に並んでいない点で相違している。図中、シール材SEには斜線を付している。複数の接続用孔V1乃至V6は、第2ガラス基板20及びシール材SEを貫通し複数の端子部RTが並ぶ方向に並んでいる。この実施形態において、第2ガラス基板20の辺のうち、配線基板SUB3に近接する側の辺SI1に沿って、接続用孔V1乃至V6は並んでいる。本変形例2において、辺SI1は、第2ガラス基板20の長辺ではなく短辺である。複数の端子部RT1乃至RT6の位置は、辺SI1に沿った方向に揃っている。この例では、端子部RT1乃至RT6の位置は、第1方向Xに揃っている。
次に、上記実施形態の変形例2に係る表示装置DSPについて説明する。図19は、上記実施形態の変形例2に係る表示装置DSPの一部の構成例を示す平面図である。
図19に示すように、図示した構成例は、上述した構成例と比較して、複数の接続用孔Vが一直線上に並んでいない点で相違している。図中、シール材SEには斜線を付している。複数の接続用孔V1乃至V6は、第2ガラス基板20及びシール材SEを貫通し複数の端子部RTが並ぶ方向に並んでいる。この実施形態において、第2ガラス基板20の辺のうち、配線基板SUB3に近接する側の辺SI1に沿って、接続用孔V1乃至V6は並んでいる。本変形例2において、辺SI1は、第2ガラス基板20の長辺ではなく短辺である。複数の端子部RT1乃至RT6の位置は、辺SI1に沿った方向に揃っている。この例では、端子部RT1乃至RT6の位置は、第1方向Xに揃っている。
図示しないが、接続部材Cは、複数の接続用孔V1乃至V6のうち少なくとも1個の接続用孔Vを通って第1導電層L1(パッドP)と第2導電層L2(端子部RT)とを電気的に接続している。本変形例2において、1個の端子部RTに1個の接続用孔Vが重なっているため、接続部材Cは、1個の接続用孔Vを通って第1導電層L1(パッドP)と第2導電層L2(端子部RT)とを電気的に接続している。なお、本実施形態と異なり、1個の端子部RTに複数個の接続用孔Vが重なっていてもよい。
複数の接続用孔V1乃至V6の位置は、複数の端子部RT(複数の第2導電層)が並ぶ方向(第1方向X)に揃っていない。複数の接続用孔V1乃至V6は、千鳥状に並んでいる。第2方向Yにおいて、辺SI1から接続用孔V1までの距離、辺SI1から接続用孔V3までの距離、辺SI1から接続用孔V5までの距離を、距離DI1とする。第2方向Yにおいて、辺SI1から接続用孔V2までの距離、辺SI1から接続用孔V4までの距離、辺SI1から接続用孔V6までの距離を、距離DI2とする。距離DI1と距離DI2とは、異なっている(DI1≠DI2)。
なお、複数の接続用孔Vは、シール材SEが延在する方向に揃っていなければよく、千鳥状に並んでいなくともよい。
なお、複数の接続用孔Vは、シール材SEが延在する方向に揃っていなければよく、千鳥状に並んでいなくともよい。
上記のような変形例2に係る表示装置DSPによれば、複数の接続用孔Vは、複数の端子部RTが並ぶ方向に揃っていない。変形例2の接続用孔Vの第1方向Xのピッチと、複数の接続用孔Vが第1方向Xに揃っている場合の接続用孔Vの第1方向Xのピッチとが同一であっても、変形例2の方が接続用孔V間の直線距離を大きくすることができる。
これにより、複数の接続用孔Vの位置精度にマージンを得ることができる。又は、シール材SEが延在する方向における複数の接続用孔Vのピッチを小さくすることができる。上記のような構成は、接続用孔Vが第2ガラス基板20の長辺である辺SI2に沿って並ぶ場合にも適用可能である。この場合、接続用孔Vが配置される辺において、シール材SEは辺SI2に沿って延在している。しかし、短辺である辺SI1に沿って接続用孔Vが並ぶ場合は、複数の接続用孔Vの位置精度にマージンを得ることができることが可能である点で、より好ましい。
これにより、複数の接続用孔Vの位置精度にマージンを得ることができる。又は、シール材SEが延在する方向における複数の接続用孔Vのピッチを小さくすることができる。上記のような構成は、接続用孔Vが第2ガラス基板20の長辺である辺SI2に沿って並ぶ場合にも適用可能である。この場合、接続用孔Vが配置される辺において、シール材SEは辺SI2に沿って延在している。しかし、短辺である辺SI1に沿って接続用孔Vが並ぶ場合は、複数の接続用孔Vの位置精度にマージンを得ることができることが可能である点で、より好ましい。
[変形例3]
次に、上記実施形態の変形例3に係る表示装置DSPについて説明する。図20は、上記実施形態の変形例3に係る表示装置DSPの一部の構成例を示す平面図である。
図20に示すように、図示した構成例は、上述した構成例と比較して、第2ガラス基板20に貫通孔VAの替わりに切り欠き部Nが形成されている点で相違している。図中、シール材SEには斜線を付している。切り欠き部Nは、第2ガラス基板20の辺SI1(一側縁)に形成されている。
次に、上記実施形態の変形例3に係る表示装置DSPについて説明する。図20は、上記実施形態の変形例3に係る表示装置DSPの一部の構成例を示す平面図である。
図20に示すように、図示した構成例は、上述した構成例と比較して、第2ガラス基板20に貫通孔VAの替わりに切り欠き部Nが形成されている点で相違している。図中、シール材SEには斜線を付している。切り欠き部Nは、第2ガラス基板20の辺SI1(一側縁)に形成されている。
図21に示すように、接続用孔Vは、貫通孔VB,VC、及び凹部CCを有している。切り欠き部Nは、接続用孔V(貫通孔VB,VC)と対向している。シール材SEの一部は、第2基板SUB2で覆われていない。接続部材Cは、貫通孔VB、貫通孔VC及び切り欠き部Nを通って第1導電層L1と第2導電層L2とを電気的に接続している。
接続部材Cの中空部分に絶縁性の充填部材FIが充填され、接続部材C及びシール材SEの少なくとも一部は、充填部材FIで覆われている。充填部材FIは、例えば有機絶縁材料によって形成されている。充填部材FIは、必要に応じて設けられていればよい。充填部材FIを設けることにより、充填部材FIは接続部材Cなどを保護することができる。
接続部材Cの中空部分に絶縁性の充填部材FIが充填され、接続部材C及びシール材SEの少なくとも一部は、充填部材FIで覆われている。充填部材FIは、例えば有機絶縁材料によって形成されている。充填部材FIは、必要に応じて設けられていればよい。充填部材FIを設けることにより、充填部材FIは接続部材Cなどを保護することができる。
図22に示すように、切り欠き部Nを形成する際、上述した実施形態と同様に、表示パネルPNLにレーザー光を照射し、貫通孔VA,VB,VCを有する接続用孔Vを形成する。その後、接続用孔Vを通るスクライブラインeに沿って第2基板SUB2(第2ガラス基板20)を分断する。これにより、第2基板SUB2の端部A1を除去することができ、切り欠き部Nが形成される。そして、切り欠き部Nを形成した後、切り欠き部Nを通って第1導電層L1と第2導電層L2とを接続する接続部材Cを形成する。
スクライブラインeは、接続用孔Vを通ればよい。但し、その際、スクライブラインeは、接続用孔Vの中心よりも第2ガラス基板20の外周側に寄った位置を通った方が望ましい。
上記のような変形例3に係る表示装置DSPによれば、第2基板SUB2の端部A1を除去している。第2ガラス基板20の強度の低下を抑制することができ、第2ガラス基板20にかかり得る応力を緩和することができる。
なお、変形例3に係る構成は、図19に示したように、接続用孔Vが一方向に揃っていない構成にも適用可能である。
なお、変形例3に係る構成は、図19に示したように、接続用孔Vが一方向に揃っていない構成にも適用可能である。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
以下に、上述した実施形態及び変形例に係る発明を付記する。
(1)第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第2ガラス基板、前記シール材及び前記第1導電層を貫通した接続用孔と、
前記接続用孔を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備える、
電子機器。
(2)前記シール材は、第1幅を有する第1シール部と、前記第1幅より大きい第2幅を有する第2シール部と、を有し、
前記接続用孔は、前記シール材のうち前記第2シール部を貫通している、
(1)に記載の電子機器。
(3)第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、複数の第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第2ガラス基板及び前記シール材を貫通し複数の接続用孔と、
前記複数の接続用孔のうち少なくとも1個の接続用孔を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備え、
前記複数の接続用孔の位置は、前記複数の第2導電層が並ぶ方向に揃っていない、
電子機器。
(4)前記複数の接続用孔は、千鳥状に並んでいる、
(3)に記載の電子機器。
(5)第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第1導電層を貫通する第2貫通孔と、
前記第2貫通孔につなげられ前記シール材を貫通する第3貫通孔と、
前記第2貫通孔及び前記第3貫通孔と対向し前記第2ガラス基板の一側縁に形成された切り欠き部と、
前記第2貫通孔、前記第3貫通孔及び前記切り欠き部を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備える、
電子機器。
(6)前記第2導電層は、第1領域に位置した検出部と、前記第1領域と隣り合う第2領域に位置し前記検出部につながった端子部と、を有し、
前記接続部材は、前記第2領域にて前記端子部に電気的に接続されている、
(1)、(3)及び(5)の何れか1に記載の電子機器。
(7)前記第1導電層と電気的に接続され前記第2導電層から出力されるセンサ信号を読み取る検出回路を備える、
(6)に記載の電子機器。
(8)前記第1基板は、前記検出部と交差するセンサ駆動電極を有する、
(6)に記載の電子機器。
(1)第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第2ガラス基板、前記シール材及び前記第1導電層を貫通した接続用孔と、
前記接続用孔を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備える、
電子機器。
(2)前記シール材は、第1幅を有する第1シール部と、前記第1幅より大きい第2幅を有する第2シール部と、を有し、
前記接続用孔は、前記シール材のうち前記第2シール部を貫通している、
(1)に記載の電子機器。
(3)第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、複数の第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第2ガラス基板及び前記シール材を貫通し複数の接続用孔と、
前記複数の接続用孔のうち少なくとも1個の接続用孔を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備え、
前記複数の接続用孔の位置は、前記複数の第2導電層が並ぶ方向に揃っていない、
電子機器。
(4)前記複数の接続用孔は、千鳥状に並んでいる、
(3)に記載の電子機器。
(5)第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第1導電層を貫通する第2貫通孔と、
前記第2貫通孔につなげられ前記シール材を貫通する第3貫通孔と、
前記第2貫通孔及び前記第3貫通孔と対向し前記第2ガラス基板の一側縁に形成された切り欠き部と、
前記第2貫通孔、前記第3貫通孔及び前記切り欠き部を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備える、
電子機器。
(6)前記第2導電層は、第1領域に位置した検出部と、前記第1領域と隣り合う第2領域に位置し前記検出部につながった端子部と、を有し、
前記接続部材は、前記第2領域にて前記端子部に電気的に接続されている、
(1)、(3)及び(5)の何れか1に記載の電子機器。
(7)前記第1導電層と電気的に接続され前記第2導電層から出力されるセンサ信号を読み取る検出回路を備える、
(6)に記載の電子機器。
(8)前記第1基板は、前記検出部と交差するセンサ駆動電極を有する、
(6)に記載の電子機器。
DSP…表示装置、PNL…表示パネル、SS…センサ、
SUB1…第1基板、SUB2…第2基板、SUB3…配線基板、
10…第1ガラス基板、20…第2ガラス基板、
L1…導電層、L2…導電層、C…接続部材、
VA…貫通孔、VB…貫通孔、VC…貫通孔、CC…凹部、N…切り欠き部
VC1…第1部分、VC2…第2部分、VC3…第3部分、
V,V1,V2,V3,V4,V5,V6…接続用孔、
Rx…検出電極、RS…検出部、RT…端子部、
P,P1,P2,P3,P4…パッド、W…配線、
BM…遮光層、OC…オーバーコート層、
OI…有機絶縁膜、SE…シール材、SE1…第1シール部、SE2…第2シール部
DA…表示領域(第1領域)、NDA…非表示領域(第2領域)、
RC…検出回路、
WI1…第1幅、WI2…第2幅、SI1…辺。
SUB1…第1基板、SUB2…第2基板、SUB3…配線基板、
10…第1ガラス基板、20…第2ガラス基板、
L1…導電層、L2…導電層、C…接続部材、
VA…貫通孔、VB…貫通孔、VC…貫通孔、CC…凹部、N…切り欠き部
VC1…第1部分、VC2…第2部分、VC3…第3部分、
V,V1,V2,V3,V4,V5,V6…接続用孔、
Rx…検出電極、RS…検出部、RT…端子部、
P,P1,P2,P3,P4…パッド、W…配線、
BM…遮光層、OC…オーバーコート層、
OI…有機絶縁膜、SE…シール材、SE1…第1シール部、SE2…第2シール部
DA…表示領域(第1領域)、NDA…非表示領域(第2領域)、
RC…検出回路、
WI1…第1幅、WI2…第2幅、SI1…辺。
Claims (8)
- 第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第2ガラス基板、前記シール材及び前記第1導電層を貫通した接続用孔と、
前記接続用孔を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備える、
電子機器。 - 前記シール材は、第1幅を有する第1シール部と、前記第1幅より大きい第2幅を有する第2シール部と、を有し、
前記接続用孔は、前記シール材のうち前記第2シール部を貫通している、
請求項1に記載の電子機器。 - 第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、複数の第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第2ガラス基板及び前記シール材を貫通し複数の接続用孔と、
前記複数の接続用孔のうち少なくとも1個の接続用孔を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備え、
前記複数の接続用孔の位置は、前記複数の第2導電層が並ぶ方向に揃っていない、
電子機器。 - 前記複数の接続用孔は、千鳥状に並んでいる、
請求項3に記載の電子機器。 - 第1ガラス基板と、第1導電層と、を有する第1基板と、
前記第1ガラス基板及び前記第1導電層と対向した第2ガラス基板と、第2導電層と、を有する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に位置し前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せるシール材と、
前記第1導電層を貫通する第2貫通孔と、
前記第2貫通孔につなげられ前記シール材を貫通する第3貫通孔と、
前記第2貫通孔及び前記第3貫通孔と対向し前記第2ガラス基板の一側縁に形成された切り欠き部と、
前記第2貫通孔、前記第3貫通孔及び前記切り欠き部を通って前記第1導電層と前記第2導電層とを電気的に接続した接続部材と、を備える、
電子機器。 - 前記第2導電層は、第1領域に位置した検出部と、前記第1領域と隣り合う第2領域に位置し前記検出部につながった端子部と、を有し、
前記接続部材は、前記第2領域にて前記端子部に電気的に接続されている、
請求項1、3及び5の何れか1項に記載の電子機器。 - 前記第1導電層と電気的に接続され前記第2導電層から出力されるセンサ信号を読み取る検出回路を備える、
請求項6に記載の電子機器。 - 前記第1基板は、前記検出部と交差するセンサ駆動電極を有する、
請求項6に記載の電子機器。
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