JP2019185174A - 表示装置及び検出装置 - Google Patents

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Hayato Kurasawa
隼人 倉澤
利範 上原
Toshinori Uehara
利範 上原
鈴木 祐司
Yuji Suzuki
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Abstract

【課題】検出性能を向上させることが可能な表示装置及び検出装置を提供する。【解決手段】第1基板と、第1基板と対向する第2基板と、第1基板と第2基板との間に設けられ、画像を表示させる表示機能層と、第1基板の検出領域に設けられた複数の第1電極と、第2基板の上側において、検出領域に設けられた複数の第2電極と、第1基板の検出領域の外側の周辺領域に設けられた第1電極選択回路と、第2基板の上側において周辺領域と重なる領域に設けられた第2電極選択回路と、を有し、第1電極選択回路は、複数の第1電極のうちいくつかを選択し、所定の符号に基づいて位相が定められた検出駆動信号を第1電極のいくつかに供給し、第2電極選択回路は、所定の符号に基づいて複数の第2電極のうちいくつかを選択し、選択された複数の第2電極を1つの出力信号線に接続する。【選択図】図6

Description

本発明は、表示装置及び検出装置に関する。
近年、例えば、個人認証等に用いられる指紋検出を静電容量方式で実現することが要求されている(例えば、特許文献1参照)。指紋検出では、手や指の接触を検出する場合に比べ、面積の小さい電極が用いられる。小さい電極から信号を得る場合でも、符号分割選択駆動により、良好な検出感度が得られる。符号分割選択駆動は、複数の駆動電極を同時に選択して、選択された複数の駆動電極のそれぞれに対して、所定の符号に基づいて位相が決められた駆動信号を供給する駆動方式である(特許文献2参照)。
特開2010−39816号公報 特開2014−199605号公報
検出電極及び駆動電極を同一基板に設けた場合、検出電極と駆動電極との間の容量が増大する。このため、検出性能が低下する可能性がある。
本発明は、検出性能を向上させることが可能な表示装置及び検出装置を提供することを目的とする。
本発明の一態様の表示装置は、第1基板と、前記第1基板と対向する第2基板と、前記第1基板と前記第2基板との間に設けられ、画像を表示させる表示機能層と、前記第1基板の検出領域に設けられた複数の第1電極と、前記第2基板の上側において、前記検出領域に設けられた複数の第2電極と、前記第1基板の前記検出領域の外側の周辺領域に設けられた第1電極選択回路と、前記第2基板の上側において前記周辺領域と重なる領域に設けられた第2電極選択回路と、を有し、前記第1電極選択回路は、前記複数の第1電極のうちいくつかを選択し、所定の符号に基づいて位相が定められた検出駆動信号を前記第1電極のいくつかに供給し、前記第2電極選択回路は、所定の符号に基づいて前記複数の第2電極のうちいくつかを選択し、選択された前記複数の第2電極を1つの出力信号線に接続する。
本発明の一態様の検出装置は、第1センサ基体と、前記第1センサ基体と対向する第2センサ基体と、前記第1センサ基体の検出領域に設けられた複数の第1電極と、前記第2センサ基体の前記検出領域に設けられた複数の第2電極と、前記第1センサ基体の前記検出領域の外側の周辺領域に設けられた第1電極選択回路と、前記第2センサ基体の前記周辺領域に設けられた第2電極選択回路と、を有し、前記第1電極選択回路は、前記複数の第1電極のうちのいくつかを選択し、所定の符号に基づいて位相が定められた駆動信号を前記第1電極のいくつかに供給し、前記第2電極選択回路は、所定の符号に基づいて前記複数の第2電極のうちのいくつかを選択し、選択された前記第2電極を1つの出力信号線に接続する。
図1は、第1実施形態に係る表示装置の一構成例を示すブロック図である。 図2は、相互静電容量方式のタッチ検出の基本原理を説明するための説明図である。 図3は、表示装置の分解斜視図である。 図4は、第1基板を模式的に示す平面図である。 図5は、第2基板を模式的に示す平面図である。 図6は、図4のA1−A2線に沿って切断したときの表示装置の断面図である。 図7は、第1電極の他の構成例を示す平面図である。 図8は、第1実施形態に係る表示装置の画素配置を表す回路図である。 図9は、符号分割選択駆動の動作例を説明するための説明図である。 図10は、符号分割選択駆動の他の動作例を説明するための説明図である。 図11は、第1電極選択回路及び第2電極選択回路を模式的に示す回路図である。 図12は、第1電極と各駆動信号との関係、及び、第2電極とAFEとの接続関係を、期間ごとに示す表である。 図13は、第2電極選択回路の別の例を説明するための説明図である。 図14は、第1実施形態の第1変形例に係る表示装置の概略断面構造を示す断面図である。 図15は、第1実施形態の第2変形例に係る表示装置の概略断面構造を示す断面図である。 図16は、第1実施形態の第3変形例に係る表示装置の概略断面構造を示す断面図である。 図17は、第2実施形態に係る表示装置の概略断面構造を示す断面図である。 図18は、第1電極と、第1電極選択回路との接続を説明するための説明図である。 図19は、第3実施形態に係る検出装置の、第1基板の平面図である。 図20は、第3実施形態に係る検出装置の、第2基板の平面図である。 図21は、図19のB1−B2線に沿って切断したときの表示装置の断面図である。 図22は、第3実施形態の変形例に係る検出装置の概略断面構造を示す断面図である。
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態に係る表示装置の一構成例を示すブロック図である。表示装置1は、表示部10と、制御部11と、ゲートドライバ12と、ソースドライバ13と、駆動電極ドライバ14と、検出部40とを備えている。表示部10は、表示パネル20と検出装置30とを一体化した装置である。表示パネル20は液晶表示装置である。なお、表示部10は、表示パネル20の上に、検出装置30を装着した装置であってもよい。なお、表示パネル20は、例えば、有機ELディスプレイパネル(OLED: Organic Light Emitting Diode)であってもよい。或いは表示パネル20は、表示素子として電気泳動素子を用いた電気泳動型表示パネル(EPD:Electrophoretic Display)であってもよい。なお、ゲートドライバ12、ソースドライバ13、又は、駆動電極ドライバ14は、表示部10に設けられていてもよい。
表示パネル20は、ゲートドライバ12から供給される走査信号Vscanに従って、1水平ラインずつ順次走査して表示を行う装置である。制御部11は、ゲートドライバ12、ソースドライバ13、駆動電極ドライバ14、及び検出部40を制御する回路(制御装置)である。制御部11は、外部より供給された映像信号Vdispに基づいて、ゲートドライバ12、ソースドライバ13、駆動電極ドライバ14、及び検出部40に対してそれぞれ制御信号を供給する。
ゲートドライバ12は、制御部11から供給される制御信号に基づいて、表示部10の、表示駆動の対象となる1水平ラインを順次選択する。
ソースドライバ13は、制御部11から供給される制御信号に基づいて、表示部10の、各副画素SPix(図8参照)に画素信号Vpixを供給する回路である。
駆動電極ドライバ14は、制御部11から供給される制御信号に基づいて、表示部10の、複数の第1電極Tx(図4参照)に駆動信号Vcom又は表示駆動信号Vcomdcを供給する回路である。
検出装置30は、駆動電極ドライバ14から供給される駆動信号Vcomに従って、1検出ブロックずつ順次走査してタッチ検出を行う。検出装置30は、符号分割選択駆動(以下、CDM(Code Division Multiplexing)駆動と表す)により検出を行う。すなわち、第1電極選択回路15(図4参照)の動作により複数の第1電極Txを同時に選択する。そして、第1電極選択回路15は、選択された複数の第1電極Txのそれぞれに対して、所定の符号に基づいて位相が決められた駆動信号Vcomを供給する。検出装置30は、相互静電容量方式の検出原理に基づいて、接触又は近接する指又は手の表面の凹凸を検出することで、指紋や掌紋の形状を検出する。
また、検出装置30は、時分割選択駆動(以下、TDM(Time Division Multiplexing)駆動と表す)により、駆動信号Vcomに従って、接触又は近接する指等の位置の検出も可能となっている。TDM駆動では、検出装置30は、複数の第1電極Txを含む第1電極ブロックBKごとに走査することで、検出領域AA全体にわたって検出することができる。
検出部40は、制御部11から供給される制御信号と、表示部10の検出装置30から供給された検出信号Vdetに基づいて、細かいピッチでタッチの有無を検出する回路である。検出部40は、検出信号増幅部42と、A/D変換部43と、信号処理部44と、座標抽出部45と、検出タイミング制御部46とを備えている。
検出信号増幅部42は、検出装置30から供給される検出信号Vdetを増幅する。A/D変換部43は、駆動信号Vcomに同期したタイミングで、検出信号増幅部42から出力されるアナログ信号をそれぞれサンプリングしてデジタル信号に変換する。
信号処理部44は、A/D変換部43の出力信号に基づいて、表示部10に対するタッチの有無を検出する論理回路である。信号処理部44は、第1電極Txからの検出信号Vdetを受け取って、第3検出信号Vdet3(図10参照)を演算する。信号処理部44は、演算された第3検出信号Vdet3を受け取って、所定の符号に基づいて復号処理を行う。
また、検出部40は、TDM駆動において、制御部11から供給される制御信号と、検出装置30から供給される検出信号Vdetに基づいて、タッチの有無を検出する。TDM駆動では、信号処理部44は、第2電極選択回路16(図5参照)を介して、検出信号Vdetを受け取る。信号処理部44は、指による検出信号Vdetの差分の信号(絶対値|ΔV|)を取り出す処理を行う。信号処理部44は、絶対値|ΔV|を所定のしきい値電圧と比較し、この絶対値|ΔV|がしきい値電圧未満であれば、外部近接物体が非接触状態であると判断する。一方、信号処理部44は、絶対値|ΔV|がしきい値電圧以上であれば、外部近接物体の接触状態と判断する。
座標抽出部45は、信号処理部44においてタッチが検出されたときに、そのタッチパネル座標を求める論理回路である。座標抽出部45は、タッチパネル座標を出力信号Voutとして出力する。なお、座標抽出部45は、タッチパネル座標を算出せずに、センサ出力Voとして検出信号Vdetを出力してもよい。座標抽出部45は、出力信号Voutを制御部11に出力してもよい。制御部11は出力信号Voutに基づいて、所定の表示動作又は検出動作を実行することができる。
検出装置30は、静電容量型近接検出の基本原理に基づいて動作する。ここで、図2を参照して、本実施形態の表示装置1の相互静電容量方式によるタッチ検出の基本原理について説明する。図2は、相互静電容量方式のタッチ検出の基本原理を説明するための説明図である。なお、図2は、検出回路を併せて示している。
図2に示すように、容量素子C1は、誘電体Dを挟んで互いに対向配置された一対の電極、駆動電極E1及び検出電極E2を備えている。容量素子C1は、駆動電極E1と検出電極E2との対向面同士の間に形成される電気力線(図示しない)に加え、駆動電極E1の端部から検出電極E2の上面に向かって延びるフリンジ分の電気力線が生じる。容量素子C1は、その一端が交流信号源(駆動信号源)に接続され、他端は電圧検出器DETに接続される。電圧検出器DETは、例えば、図1に示す検出部40に含まれる積分回路である。
交流信号源から駆動電極E1(容量素子C1の一端)に所定の周波数(例えば数kHz〜数百kHz程度)の交流矩形波Sgが印加される。電圧検出器DETには、容量素子C1の容量値に応じた電流が流れる。電圧検出器DETは、交流矩形波Sgに応じた電流の変動を電圧の変動に変換する。
接触状態では、図2に示すように、指によって形成される静電容量C2が、検出電極E2と接触し、又は接触と同視し得るほど近傍にある。これにより、駆動電極E1と検出電極E2との間にあるフリンジ分の電気力線が導体(指)により遮られる。このため、容量素子C1は、非接触状態での容量値よりも容量値の小さい容量素子として作用する。
電圧検出器DETから出力される電圧信号の接触状態での振幅は、非接触状態に比べて小さくなる。この電圧差分の絶対値|ΔV|は、接触又は近接する被検出体の影響に応じて変化することになる。検出部40は、絶対値|ΔV|に基づいて指の凹凸等を判断する。また、検出部40は、絶対値|ΔV|を所定のしきい値電圧と比較することで、被検出体が非接触状態であるか、接触状態又は近接状態であるかを判断する。このようにして、検出部40は相互静電容量方式のタッチ検出の基本原理に基づいてタッチ検出が可能となる。なお、「接触状態」とは、指が検出面に接触した状態又は接触と同視し得るほど近接した状態を含む。また、「非接触状態」とは、指が検出面に接触していない状態又は接触と同視できるほどには近接していない状態を含む。
次に、本実施形態の表示装置1の構成例を詳細に説明する。図3は、表示装置の分解斜視図である。図4は、第1基板を模式的に示す平面図である。図5は、第2基板を模式的に示す平面図である。図6は、図4のA1−A2線に沿って切断したときの表示装置の断面図である。
図6に示すように、表示装置1は、画素基板2と、対向基板3と、液晶層6と、偏光板25、35とを備えている。対向基板3は、画素基板2の表面に垂直な方向に対向して配置される。液晶層6は、画素基板2と対向基板3との間に設けられる。
画素基板2は、第1基板21と、画素電極22と、複数の第1電極Txとを含む。第1基板21には、ゲートドライバ12に含まれるゲート線選択回路121(図4参照)や、ソースドライバ13に含まれる信号線選択回路131(図4参照)等の回路が設けられる。また、第1基板21には、TFT(Thin Film Transistor)等のTFT素子Trや、ゲート線GCL、信号線SGL(図8参照)等の各種配線が設けられる。また、第1基板21には、第1電極選択回路15(図4参照)が設けられる。画素電極22は、第1基板21の上側にマトリクス状に配列される。第1電極Txは、第1基板21と画素電極22との間に設けられる。画素電極22と第1電極Txとは絶縁層24を介して絶縁されている。第1基板21の下側には、接着層26を介して偏光板25が設けられている。なお、本実施形態では、画素電極22が第1電極Txの上側に設けられる例について説明したが、第1電極Txが画素電極22の上側に設けられていてもよい。
対向基板3は、第2基板31と、複数の第2電極Rxと、カラーフィルタ32とを含む。第2電極Rxは、検出装置30の検出電極であり、第2基板31の一方の面に設けられる。カラーフィルタ32は、第2基板31の他方の面に設けられる。さらに、第2電極Rxの上には、保護層38が設けられている。保護層38は、アクリル系樹脂等の透光性樹脂を用いることができる。保護層38の上に、接着層36を介して偏光板35が設けられている。また、第2基板31には、第2電極選択回路16が設けられる。第1基板21及び第2基板31は、可視光を透過可能な透光性を有するガラス基板である。又は、第2基板31は、ポリイミド等の樹脂で構成された透光性の樹脂基板又は樹脂フィルムであってもよい。
また、第1基板21には、フレキシブル基板72が設けられる。第1基板21は、フレキシブル基板72を介して外部の駆動ICと接続される。駆動ICは、図1に示す制御部11の機能の全部又は一部を含む。第2基板31にはフレキシブル基板71が設けられる。第2基板31は、フレキシブル基板71を介して外部のタッチICと接続される。タッチICは、図1に示す検出部40の機能の全部又は一部を含む。駆動IC及びタッチICは、外部の制御基板に設けられる。なお、駆動IC及びタッチICの少なくとも一方は、第1基板21に設けられていてもよい。
なお、本明細書において、第1基板21の表面に垂直な方向において、第1基板21から第2基板31に向かう方向を「上側」とする。また、第2基板31から第1基板21に向かう方向を「下側」とする。また、「平面視」とは、第1基板21の表面に垂直な方向から見た場合を示す。
第1基板21と第2基板31とは、シール部61により所定の間隔を設けて対向して配置される。第1基板21、第2基板31、及びシール部61によって囲まれた空間に液晶層6が設けられる。液晶層6は、電界の状態に応じてそこを通過する光を変調するものであり、例えば、FFS(フリンジフィールドスイッチング)を含むIPS(インプレーンスイッチング)等の横電界モードの液晶が用いられる。液晶層6は、画像を表示するための表示機能層として設けられる。なお、図6に示す液晶層6と画素基板2との間、及び液晶層6と対向基板3との間には、それぞれ配向膜が配設されてもよい。
図3及び図4に示すように、第1基板21は、検出装置30(図1参照)の検出領域AAと、検出領域AAの外側に設けられた周辺領域GAとに対応する領域が形成されている。検出領域AAは、表示パネル20の表示領域と重なる領域に設けられる。つまり、検出領域AAは、複数の画素Pix(図8参照)と重なる領域である。複数の第1電極Txは、検出領域AAに設けられ、第1方向Dxに延びており、第2方向Dyに配列される。第1電極Txは、ITO(Indium Tin Oxide)等の透光性の導電材料で構成されている。画素電極22は、平面視で第1電極Txと重なって設けられる。複数のゲート線GCLは、第1方向Dxに延びており、第2方向Dyに配列される。複数の信号線SGLは、第2方向Dyに延びており、第1方向Dxに配列される。画素電極22は、ゲート線GCLと信号線SGLとで囲まれた領域に設けられている。
なお、第1方向Dxは、第1基板21と平行な面内の一方向であり、例えば、検出領域AAの一辺と平行な方向である。また、第2方向Dyは、第1基板21と平行な面内の一方向であり、第1方向Dxと直交する方向である。なお、第2方向Dyは、第1方向Dxと直交しないで交差してもよい。第3方向Dzは、第1方向Dx及び第2方向Dyと直交する方向である。
図4に示すように、第2方向Dyにおける第1電極Txの配置間隔をPtとする。配置間隔Ptは、第2電極Rxの屈曲部26xの配置間隔Pryの1/2程度である(図5参照)。なお、これに限定されず、配置間隔Ptは、配置間隔Pryの半整数倍以外であってもよい。配置間隔Ptは、例えば20μm以上、100μm以下である。また、1つの第1電極Txに重なって、2つの画素電極22が第2方向Dyに隣り合って配置される。つまり、第1電極Txは、2つの画素Pixの幅を有する。
第1基板21の周辺領域GAには、ゲート線選択回路121、信号線選択回路131及び第1電極選択回路15が設けられている。ゲート線選択回路121は、ゲート線GCLを選択する回路である。ゲート線選択回路121は、第1電極Txの端部と隣り合う位置の周辺領域GAに設けられる。信号線選択回路131は、信号線SGLを選択する回路である。信号線選択回路131は、第1電極Txの延在方向に沿った周辺領域GAに設けられる。
第1電極選択回路15は、複数の第1電極Txのうちいくつかを選択し、所定の符号に基づいて位相が定められた駆動信号Vcomを第1電極Txのいくつかに供給する回路である。第1電極選択回路15は、第1符号生成回路151と、駆動信号供給回路152とを有する。第1電極選択回路15は、第1電極Txの端部と隣り合う位置の周辺領域GAに設けられる。第1電極選択回路15と第1電極Txとの間にゲート線選択回路121が設けられる。また、第1基板21には、フレキシブル基板73が設けられている。第1電極選択回路15は、フレキシブル基板73を介して制御部11(図1参照)と接続される。第1電極選択回路15は、制御部11からの制御信号に基づいて所定の符号を生成する。
図3及び図5に示すように、複数の第2電極Rxは、第2基板31の検出領域AAと重なる領域に設けられ、第2方向Dyに延びており、第1方向Dxに配列される。第2電極Rxは、平面視で、第1電極Txと交差する方向に延びている。第2電極Rxは、ジグザグ状の線であり、全体として第2方向Dyに長手を有する。例えば、第2電極Rxは、複数の第1直線部26aと、複数の第2直線部26bと、複数の屈曲部26xと、を有する。第2直線部26bは、第1直線部26aと交差する方向に延びている。また、屈曲部26xは、第1直線部26aと第2直線部26bとを接続している。
第1直線部26aは、第1方向Dx及び第2方向Dyと交差する方向に延びている。第2直線部26bも、第1方向Dx及び第2方向Dyと交差する方向に延びている。第1直線部26aと第2直線部26bは、第1方向Dxに平行な仮想線(図示せず)を軸に、対称となるように配置されている。第2電極Rxは、第1直線部26aと第2直線部26bとが第2方向Dyに交互に接続される。
第2電極Rxは、アルミニウム又はアルミニウム合金などの金属材料で構成されている。なお、第1電極Txを金属材料で構成し、第2電極RxをITOで形成してもよい。ただし、第2電極Rxを金属材料とすることで、検出信号Vdetに係る抵抗を低減することができる。また、第2電極Rxは、ジグザグ状に限定されず、波線状、直線状、メッシュ状等であってもよい。
第2基板31の周辺領域GAには、第2電極選択回路16が設けられている。第2電極選択回路16は、所定の符号に基づいて複数の第2電極Rxのうちいくつかを選択し、選択された複数の第2電極Rxを1つの第1出力信号線LA1(図11参照)に接続する回路である。第2電極選択回路16は、第2電極Rxの端部と隣り合う位置の周辺領域GAに設けられる。複数の第2電極Rxは、第2電極選択回路16を介してフレキシブル基板71に電気的に接続される。
第1電極Txと第2電極Rxとの交差部分に、それぞれ静電容量が形成される。相互静電容量方式のタッチ検出動作を行う際、第1電極選択回路15は、第1電極Txを選択し、選択された第1電極Txに同時に駆動信号Vcomを供給する。そして、接触又は近接する指等の表面の凹凸による容量変化に応じた検出信号Vdetが第2電極Rxから出力されることにより、指紋検出が行われる。又は、接触又は近接する指等による容量変化に応じた検出信号Vdetが第2電極Rxから出力されることにより、タッチ検出が行われる。
本実施形態では、第2電極Rxは、第1電極Txが設けられた第1基板21と異なる第2基板31に設けられている。具体的には、図6に示すように、第2電極Rxは、第2基板31を挟んで第1電極Txの反対側に設けられ、第2電極Rxは、第2基板31に垂直な方向において、第2基板31と偏光板35との間に配置される。このため、第1電極Txと第2電極Rxとを同一基板上に形成した場合に比べて、第1電極Txと第2電極Rxとの距離が大きくなる。第2電極Rxの配置間隔Pryを小さくし、多数の第2電極Rxが設けられた場合であっても、第1電極Txと第2電極Rxとの間の静電容量の増大を抑制できる。また、検出電極である第2電極Rxは、第1電極Txよりも指等の被検出体に近い位置に設けられる。したがって、表示装置1は、検出性能を向上させることが可能である。
また、第1電極選択回路15は第1基板21に設けられ、第2電極選択回路16は第2基板31に設けられる。このため、フレキシブル基板73と第1基板21との接続端子数が第1電極Txの数よりも少なくなる。また、フレキシブル基板71と第2基板31との接続端子数が第2電極Rxの数よりも少なくなる。すなわち、外部の駆動ICやタッチIC等と接続するための端子数を少なくすることができる。
図7は、第1電極の他の構成例を示す平面図である。図7は、異なる基板に設けられた第1電極Tx及び第2電極Rxの、配置の関係を模式的に示している。図7に示すように、第2方向Dyに並ぶ複数の第1電極Txの各々(例えば、Tx−1、Tx−2、Tx−3、Tx−4…)は、複数の電極部130と、複数の接続部127とをそれぞれ有する。複数の第1電極Txの各々において、複数の電極部130は第1方向Dxに並んでおり、互いに離して配置されている。また、複数の第1電極Txの各々において、接続部127は、複数の電極部130のうち隣り合う電極部同士を接続している。また、第3方向Dzから見て、1本の第2電極Rxは、隣り合う電極部130の間を通って接続部127と交差している。
電極部130は、第1電極部130Aと、第1電極部130Aとは異なる形状を有する第2電極部130Bと、を含む。法線方向Dzから見て、第1電極部130Aと、第2電極部130Bはそれぞれ平行四辺形である。第1電極部130Aを上下反転させた形状が、第2電極部130Bの形状となっている。
例えば、第2電極Rxの第2直線部26b(図5参照)と交差する第1電極Tx−1、Tx−2は、第2直線部26bと平行な2辺を有する第1電極部130Aを備える。また、第2電極Rxの第1直線部26a(図5参照)と交差する第1電極Tx−3、Tx−4は、第1直線部26aと平行な2辺を有する第2電極部130Bを備える。これにより、法線方向Dzから見て、第1電極部130A及び第2電極部130Bは、ジグザグ状の第2電極Rxに沿って配置されて、第2電極Rxと、各電極部との離隔距離を一定の長さにすることができる。
第2方向Dxにおける接続部127の配置間隔をPbとする。接続部127の配置間隔Pbは、第1電極Txの配置間隔Ptの0.5倍であることが好ましい。また、第1方向Dxに平行で電極部130の中心を通る仮想線を中心線Lcentとする。各第1電極Txにおいて、接続部127は、中心線Lcentを挟んで、一方の側と他方の側とに交互に配置されていることが好ましい。これにより、電極部130と比べて光の透過率が低い接続部127が一直線状に並ばないので、表示装置1はモアレ等の意図しない模様の発生を抑制することができる。
また、複数の接続部127の長手方向は、一方向に揃っていることが好ましい。例えば、第1電極Txが有する接続部127の長手方向は、全て第1方向Dxとなっている。これにより、第2電極Rxと交差する接続部127の形状が揃うため、第1電極Txと接続部127との間の容量が揃いやすい。
図7に示すように、第1電極Txの形状と第2電極Rxの形状、位置関係が電極間で揃っているこのため、第1電極Txの容量のばらつきや、第2電極Rxの容量のばらつきが小さい。また、検出部40における座標の算出の補正等も実行し易いという利点がある。
次に表示装置1の表示動作について説明する。図8は、第1実施形態に係る表示装置の画素配置を表す回路図である。第1基板21(図6参照)には、図8に示す薄膜トランジスタ素子(以下、TFT素子と表す)Tr、信号線SGL及びゲート線GCL等の配線が形成されている。TFT素子Trは、副画素SPixごとに設けられる。信号線SGLは、各画素電極22に画素信号Vpixを供給する配線である。ゲート線GCLは、各TFT素子Trを駆動する信号を供給する配線である。
図8に示す表示パネル20は、マトリックス状に配列された複数の副画素SPixを有している。副画素SPixは、それぞれTFT素子Tr及び液晶素子6aを備えている。TFT素子Trは、薄膜トランジスタにより構成されるものであり、この例では、nチャネルのMOS(Metal Oxide Semiconductor)型のTFTで構成されている。画素電極22と第1電極Tx(共通電極)との間に絶縁層24が設けられ、これらによって図8に示す保持容量6bが形成される。
図1に示すゲートドライバ12は、ゲート線GCLを順次選択する。ゲートドライバ12は、選択されたゲート線GCLを介して、走査信号Vscanを副画素SPixのTFT素子Trのゲートに印加する。これにより、副画素SPixのうちの1行(1水平ライン)が表示駆動の対象として順次選択される。また、ソースドライバ13は、選択された1水平ラインを構成する副画素SPixに、信号線SGLを介して画素信号Vpixを供給する。そして、これらの副画素SPixでは、供給される画素信号Vpixに応じて1水平ラインずつ表示が行われるようになっている。
駆動電極ドライバ14は、表示の際に、第1電極Txに表示駆動信号Vcomdcを供給する。表示駆動信号Vcomdcは所定の電位を有する直流電圧信号である。これにより、第1電極Txは、複数の画素Pixに対する共通の電位を与える共通電極として機能する。本実施形態の第1電極Txの延在する方向は、ゲート線GCLの延在する方向と平行であり、データ線SGLの延在する方向と交差する方向である。
図6に示すカラーフィルタ32は、例えば赤(R)、緑(G)、青(B)の3色に着色されたカラーフィルタ32の色領域32R、色領域32G及び色領域32Bが周期的に配列されている。図8に示す各副画素SPixに、R、G、Bの3色の色領域32R、色領域32G及び色領域32Bが1組として対応付けられ、色領域32R、色領域32G及び色領域32Bを1組として画素Pixが構成される。図6に示すように、カラーフィルタ32は、第1基板21と垂直な方向において、液晶層6と対向する。なお、カラーフィルタ32は、異なる色に着色されていれば、他の色の組み合わせであってもよい。また、カラーフィルタ32は、3色の組み合わせに限定されず、4色以上の組み合わせであってもよい。
次に、表示装置1におけるCDM駆動について説明する。図9は、符号分割選択駆動の動作例を説明するための説明図である。図9では、説明をわかりやすくするために、4つの第1電極Tx−1、Tx−2、Tx−3、Tx−4についてCDM駆動の動作例を示す。図9に示すように、第1電極選択回路15(図4参照)は、第1電極ブロックBKの4つの第1電極Tx−1、Tx−2、Tx−3、Tx−4を同時に選択する。そして、第1電極選択回路15は、所定の符号に基づいて位相が決められた駆動信号Vcomを、各第1電極Txに供給する。
例えば、所定の符号は、下記式(1)の正方行列で定義され、正方行列の次数は第1電極Tx−1、Tx−2、Tx−3、Tx−4の数である4になる。所定の符号は、「1」又は「−1」、若しくは「1」又は「0」を要素とし、任意の異なった2つの行が直交行列となる正方行列、例えば、アダマール行列に基づく符号である。下記式(1)の正方行列の対角成分「−1」は、当該正方行列の対角成分以外の成分「1」と異なる。第1電極選択回路15は、下記式(1)の正方行列に基づいて、正方行列の対角成分以外の成分「1」に対応する交流矩形波の位相と、正方行列の対角成分「−1」に対応する交流矩形波の位相とが、反転するように、駆動信号Vcomを印加する。また、成分「−1」は、成分「1」とは位相が異なるように決められた駆動信号Vcomを供給する成分である。
Figure 2019185174
第1電極Tx−1、Tx−2、Tx−3、Tx−4のうち第1電極Tx−2に、指などの外部近接物体CQがある場合、相互誘導により外部近接物体CQによる差分の電圧が生じる(例えば差分の電圧は20%とする)。なお、図9に示す例では、成分「1」に対応する第1検出信号Vdet1と、成分「−1」に対応する第2検出信号Vdet2と、が統合された信号が、第3検出信号Vdet3として第2電極Rxから出力される。検出部40が第1時間帯で検出する第3検出信号Vdet3は、(−1)+(0.8)+(1)+(1)=1.8になる。次に、第2時間帯の第3検出信号Vdet3は、(1)+(−0.8)+(1)+(1)=2.2になる。次に、第3時間帯の第3検出信号Vdet3は、(1)+(0.8)+(−1)+(1)=1.8になる。次に、第4時間帯の第3検出信号Vdet3は、(1)+(0.8)+(1)+(−1)=1.8になる。
信号処理部44は、第3検出信号Vdet3を式(1)の正方行列で掛け合わせ、復号を行う。これにより、信号処理部44は、復号信号Vdet4としてVdet4=(4.0、3.2、4.0、4.0)を演算する。検出部40は、復号信号Vdet4に基づいて、第1電極Tx−2の位置に、指などの外部近接物体CQの有無、又は、外部近接物体CQの表面の凹凸を検出できる。このように、表示装置1は、電圧を上げることなく時分割選択(TDM)駆動の4倍の検出感度で検出する。そして、座標抽出部45は、タッチパネル座標または復号信号Vdet4をセンサ出力Voとして出力する。
図10は、符号分割選択駆動の他の動作例を説明するための説明図である。図10では、正方行列の成分「1」に対応する第1電極Txと、正方行列の成分「−1」に対応する第1電極Txとは、異なる時間帯に駆動信号Vcomが印加される。この場合、正方行列の成分「1」に対応する交流矩形波の位相と、正方行列の成分「−1」に対応する交流矩形波の位相とは同じである。具体的には、第1電極選択回路15は、第1時間帯、第3時間帯、第5時間帯及び第7時間帯では、成分「1」に対応する第1電極Txに、駆動信号Vcomを供給する。そして、第1電極選択回路15は、成分「−1」に対応する第1電極Txには、駆動信号Vcomを供給しない。第2時間帯、第4時間帯、第6時間帯及び第8時間帯では、成分「1」に対応する第1電極Txに、駆動信号Vcomが供給されず、成分「−1」に対応する第1電極Txに、駆動信号Vcomが供給される。
信号処理部44は、第1時間帯で検出された第1検出信号Vdet1=2.8と、第2時間帯で検出された第2検出信号Vdet2=1.0との差分から、第3検出信号Vdet3=1.8を演算する。信号処理部44は、第3時間帯で検出された第1検出信号Vdet1=3.0と、第4時間帯で検出された第2検出信号Vdet2=0.8との差分から、第3検出信号Vdet3=2.2を演算する。第5時間帯以降も同様である。信号処理部44は、演算された各第3検出信号Vdet3を復号することで、復号信号Vdet4としてVdet4=(4.0、3.2、4.0、4.0)を演算する。
なお、図9及び図10では、4つの第1電極TxについてCDM駆動の動作例を示したが、5つ以上の第1電極TxについてCDM駆動を行ってもよい。この場合、所定の符号の次数は、第1電極Txの数以上である。
次に第1電極選択回路15及び第2電極選択回路16について説明する。図11は、第1電極選択回路及び第2電極選択回路を模式的に示す回路図である。図12は、第1電極と各駆動信号との関係、及び、第2電極とAFEとの接続関係を、期間ごとに示す表である。なお、図11では、異なる基板上に設けられた第1電極Txと第2電極Rxを、模式的に重ねて示している。
図11に示すように、第1電極選択回路15は、第1符号生成回路151と、駆動信号供給回路152とを有する。第1符号生成回路151は、例えば制御部11(図1参照)からの制御信号に基づいて、下記の式(2)に示す所定の符号を生成する回路である。第1符号生成回路151は、第1選択信号Vselt及び第2選択信号xVseltを駆動信号供給回路152に供給する。第1選択信号Vselt及び第2選択信号xVseltは、所定の符号に基づいて、第1電極Txごとに位相が定められた電圧信号である。第1選択信号Vseltは、例えば成分「1」に対応する信号である。第2選択信号xVseltは、成分「−1」に対応する信号である。第1選択信号Vselt及び第2選択信号xVseltは、互いに位相が反転された交流電圧信号である。なお、図11、図12では、所定の符号として式(2)に示す正方行列を例示しているが、これに限定されない。図11、図12においても、所定の符号は、他のアダマール行列に基づく符号であってもよい。
Figure 2019185174
駆動信号供給回路152は、第1駆動信号供給線L1、第2駆動信号供給線L2、第1スイッチSW1及び第2スイッチSW2を有する。第1駆動信号供給線L1及び第2駆動信号供給線L2は、複数の第1電極Txの端部と隣り合って設けられ、第1電極Txの配列方向に沿って延在する。第1駆動信号供給線L1は、第1電圧信号VHを第1電極Txに供給する。第2駆動信号供給線L2は、第2電圧信号VLを第1電極Txに供給する。第2電圧信号VLは、第1電圧信号VHよりも小さい電位を有する直流電圧信号である。
第1スイッチSW1及び第2スイッチSW2は、第1電極Txごとに設けられる。第1スイッチSW1は、第1電極Txと第1駆動信号供給線L1との間の接続と遮断を切り替える。第2スイッチSW2は、第1電極Txと第2駆動信号供給線L2の間の接続と遮断を切り替える。第1スイッチSW1及び第2スイッチSW2は、例えばTFT素子により形成される。
第1スイッチSW1は、第1選択信号Vseltに基づいてオン、オフが切り替えられる。第2スイッチSW2は、第2選択信号xVseltに基づいてオン、オフが切り替えられる。すなわち、第1スイッチSW1は、第2スイッチSW2とオン、オフが逆の動作を行う。第1スイッチSW1と第2スイッチSW2とが、オン、オフを交互に繰り返すことにより、高レベル電圧の第1電圧信号VHと、低レベル電圧の第2電圧信号VLとが交互に第1電極Txに供給される。これにより、第1電極Txに交流の電圧信号である駆動信号Vcomが供給される。第1符号生成回路151は、所定の符号に基づいて、第1電極Txごとに第1選択信号Vselt及び第2選択信号xVseltの位相を決定する。これにより、駆動信号供給回路152は、第1電極Txにそれぞれ駆動信号Vcom−H及び駆動信号Vcom−L(図12参照)を供給する。駆動信号Vcom−Hは、式(2)の成分「1」に対応する交流電圧信号である。駆動信号Vcom−Lは、成分「−1」に対応する交流電圧信号である。
図11に示すように、第2電極選択回路16は、第2符号生成回路161と、接続切替回路162とを有する。第2符号生成回路161は、例えば制御部11(図1参照)からの制御信号に基づいて、式(2)に示す所定の符号を生成する回路である。第2符号生成回路161は、第3選択信号Vselr及び第4選択信号xVselrを接続切替回路162に供給する。第3選択信号Vselr及び第4選択信号xVselrは、所定の符号に基づいて、第2電極Rxごとに位相が定められた電圧信号である。第3選択信号Vselrは、例えば成分「1」に対応する信号である。第4選択信号xVselrは、成分「−1」に対応する信号である。
接続切替回路162は、第1出力信号線LA1、基準電位供給線LR、第3スイッチSW3及び第4スイッチSW4を有する。第1出力信号線LA1及び基準電位供給線LRは、複数の第2電極Rxの端部と隣り合って設けられ、第2電極Rxの配列方向に沿って延在する。第1出力信号線LA1は、アナログフロントエンド回路(以下、AFE(Analog Front End))48と接続される。AFE48は、少なくとも検出信号増幅部42及びA/D変換部43(図1参照)の機能を有する信号処理回路である。第1出力信号線LA1は、選択された第2電極Rxからの検出信号VdetをAFE48に出力する。また、基準電位供給線LRは、基準電位VRに接続される。基準電位供給線LRは、非選択の第2電極Rxに基準電位VRを供給する。基準電位VRは、検出の際に第2電極Rxに供給される電圧信号と同じ電位を有する直流電圧信号である。
第3スイッチSW3及び第4スイッチSW4は、第2電極Rxごとに設けられる。第3スイッチSW3は、第2電極Rxと第1出力信号線LA1との間の接続と遮断を切り替える。第4スイッチSW4は、第2電極Rxと基準電位供給線LRの間の接続と遮断を切り替える。第3スイッチSW3及び第4スイッチSW4は、例えばTFT素子により形成される。
第3スイッチSW3は、第3選択信号Vselrに基づいてオン、オフが切り替えられる。第4スイッチSW4は、第4選択信号xVselrに基づいてオン、オフが切り替えられる。すなわち、第3スイッチSW3は、第4スイッチSW4とオン、オフが逆の動作を行う。成分「1」に対応する第3選択信号Vselrにより第3スイッチSW3がオンになる。これにより、選択された第2電極Rxは、AFE48に接続される。複数の第2電極Rxの検出信号Vdetが統合された信号がAFE48に出力される。一方、成分「−1」に対応する第4選択信号xVselrにより第4スイッチSW4がオンになる。これにより、非選択の第2電極Rxに基準電位VRが供給される。これにより、選択された第2電極Rxと、非選択の第2電極Rxとの間の容量結合を抑制できる。このため、検出誤差や検出感度の低下を抑制することができる。
図12では、第1電極Txに供給される駆動信号Vcom−H及び駆動信号Vcom−Lを、第1期間ta1、第2期間ta2、第3期間ta3、第4期間ta4ごとに示している。また、図12では、第2電極Rxが接続されるAFE48又は基準電位VRを、第1部分期間tb1から第7部分期間tb7ごとに示している。
第1電極選択回路15は、図12に示すように、式(2)に示す所定の符号に基づいて位相が決められた駆動信号Vcomを、各第1電極Txに供給する。具体的には、第1期間ta1では、第1電極選択回路15は、式(2)の1行目の成分「1」に対応して、全ての第1電極Tx−1、Tx−2、Tx−3、Tx−4に駆動信号Vcom−Hを供給する。第2期間ta2では、第1電極選択回路15は、式(2)の2行目の成分「1」に対応して、第1電極Tx−1、Tx−3に駆動信号Vcom−Hを供給する。また、第2期間ta2では、第1電極選択回路15は、式(2)の2行目の成分「−1」に対応して、第1電極Tx−2、Tx−4に駆動信号Vcom−Lを供給する。第3期間ta3、第4期間ta4にも同様に、第1電極選択回路15は、式(2)の各成分に対応した駆動信号Vcom−H又は駆動信号Vcom−Lを第1電極Txに供給する。
第2電極選択回路16は、図12に示すように、式(2)に示す所定の符号に基づいて第2電極Rxを選択し、選択された第2電極Rxを1つの第1出力信号線LA1に接続する。具体的には、第1部分期間tb1では、第2電極選択回路16は、式(2)の1行目の成分「1」に対応して、全ての第2電極Rx−1、Rx−2、Rx−3、Rx−4を選択する。第2電極Rx−1、Rx−2、Rx−3、Rx−4は、第1出力信号線LA1を介してAFE48に接続される。これにより、第2電極Rx−1、Rx−2、Rx−3、Rx−4から第1検出信号Vdet1(図10参照)がAFE48に出力される。式(2)の1行目には成分「−1」が存在しないため、第2検出信号Vdet2(図10参照)を検出する期間が省略される。信号処理部44は、第1部分期間tb1の第1検出信号Vdet1(図10参照)を第3検出信号Vdet3(図10参照)として取得する。
第2部分期間tb2では、第2電極選択回路16は、式(2)の2行目の成分「1」に対応して、第2電極Rx−1、Rx−3を選択する。第2電極Rx−1、Rx−3は、第1出力信号線LA1を介してAFE48に接続される。これにより、第2電極Rx−1、Rx−3から第1検出信号Vdet1がAFE48に出力される。一方、非選択の第2電極Rx−2、Rx−4には、基準電位供給線LRを介して基準電位VRが供給される。
第3部分期間tb3では、第2電極選択回路16は、式(2)の2行目の成分「−1」に対応して、第2電極Rx−2、Rx−4を選択する。第2電極Rx−2、Rx−4は、第1出力信号線LA1を介してAFE48に接続される。これにより、第2電極Rx−2、Rx−4から第2検出信号Vdet2(図10参照)がAFE48に出力される。一方、非選択の第2電極Rx−1、Rx−3には、基準電位供給線LRを介して基準電位VRが供給される。信号処理部44は、第2部分期間tb2の第1検出信号Vdet1と、第3部分期間tb3の第2検出信号Vdet2との差分から、第3検出信号Vdet3を演算する。
同様に、第2電極選択回路16は、第4部分期間tb4から第7部分期間tb7で、式(2)の所定の符号に基づいて第2電極Rxを選択する。これにより、信号処理部44は、第1部分期間tb1から第7部分期間tb7で、4つの第3検出信号Vdet3を取得する。そして、信号処理部44は、第3検出信号Vdet3を復号することで、第2電極Rxごとの復号信号Vdet4を演算する。これにより、第2電極選択回路16は、第2電極RxにおいてCDM駆動を行うことができる。
図5に示したように、第2電極Rx及び第2電極選択回路16は、第2基板31に設けられる。そして、複数の第2電極Rxは、第1出力信号線LA1を介して1つのAFE48と接続される。これにより、第2電極Rxの数を多くした場合でもAFE48の数を少なくすることができる。また、第2基板31と、AFE48とを接続する配線の数を抑制することができる。
図12に示すように、第1期間ta1、第2期間ta2、第3期間ta3、第4期間ta4のそれぞれに対応して、第1部分期間tb1から第7部分期間tb7が設けられている。なお、各期間の順番は適宜変更してもよい。また、図11、図12では、CDM駆動について説明したが、表示装置1はTDM駆動により検出を行ってもよい。TDM駆動では、第1電極選択回路15は、第1電極ブロックBKの複数の第1電極Txに、同じ位相の駆動信号Vcomを供給する。
図13は、第2電極選択回路の別の例を説明するための説明図である。なお、図13では、第1電極Tx、第1電極選択回路15及び第2符号生成回路161を省略して示す。また、図13では、成分「1」に対応して選択される第2電極Rxに斜線を付して示している。
図13では、接続切替回路162Aは、第1出力信号線LA1、第2出力信号線LA2、第3スイッチSW3及び第4スイッチSW4を有する。第1出力信号線LA1は、第1AFE48Aに接続される。第2出力信号線LA2は、第2AFE48Bに接続される。第1AFE48Aには、式(2)の成分「1」に対応して選択される第2電極Rxが接続される。一方、第2AFE48Bには、式(2)の成分「−1」に対応して選択される第2電極Rxが接続される。つまり、第2AFE48Bには、複数の第2電極Rxのうち、第1AFE48Aに接続されない非選択の第2電極Rxが接続される。これにより、第1AFE48Aには第1検出信号Vdet1(図10参照)が出力される。同じ期間に、第2AFE48Bには第2検出信号Vdet2(図10参照)が出力される。
具体的には、第1部分期間tc1では、第2電極選択回路16は、式(2)の1行目の成分「1」に対応して、第2電極Rx−1、Rx−2、Rx−3、Rx−4を選択する。第2電極Rx−1、Rx−2、Rx−3、Rx−4は、第3スイッチSW3及び第4スイッチSW4の動作により、第1出力信号線LA1を介して第1AFE48Aに接続される。これにより、第2電極Rx−1、Rx−2、Rx−3、Rx−4から第1検出信号Vdet1(図10参照)が第1AFE48Aに出力される。第1部分期間tc1では、式(2)の1行目に成分「−1」が存在しないため、全ての第2電極Rxは、第2AFE48Bと非接続となる。
第2部分期間tc2では、第2電極選択回路16は、式(2)の2行目の成分「1」に対応して、第2電極Rx−1、Rx−3を選択する。第2電極Rx−1、Rx−3は、第3スイッチSW3及び第4スイッチSW4の動作により、第1出力信号線LA1を介して第1AFE48Aに接続される。同時に、第2電極選択回路16は、式(2)の2行目の成分「−1」に対応して、第2電極Rx−2、Rx−4を選択する。第2電極Rx−2、Rx−4は、第3スイッチSW3及び第4スイッチSW4の動作により、第2出力信号線LA2を介して第2AFE48Bに接続される。
これにより、第2電極Rx−1、Rx−3から第1検出信号Vdet1(図10参照)が第1AFE48Aに出力される。第2電極Rx−2、Rx−4から第2検出信号Vdet2が第2AFE48Bに出力される。信号処理部44は、第1検出信号Vdet1と、第2検出信号Vdet2との差分から、第3検出信号Vdet3を演算する。
第3部分期間tc3では、第2電極選択回路16は、式(2)の3行目の成分に対応して、第2電極Rxを選択する。第4部分期間tc4では、第2電極選択回路16は、式(2)の4行目の成分に対応して、第2電極Rxを選択する。信号処理部44は、各部分期間で得られた第3検出信号Vdet3を復号することで、第2電極Rxごとの復号信号を演算する。
図13では、第2電極選択回路16は、第1AFE48A及び第2AFE48Bに接続される。このため、第1部分期間tc1から第4部分期間tc4の数を少なくすることができる。したがって、検出に要する時間が短くなる。なお、第1部分期間tc1から第4部分期間tc4は、図12に示す第1期間ta1、第2期間ta2、第3期間ta3、第4期間ta4のそれぞれに対応して設けられる。
(第1実施形態の第1変形例)
図14は、第1実施形態の第1変形例に係る表示装置の概略断面構造を示す断面図である。本変形例の表示装置1Aにおいて、対向基板3と偏光板35との間にセンサ部5が設けられている。センサ部5は、センサ基体51と、第2電極Rxと、第2電極選択回路16とを有する。
センサ基体51は、透光性の樹脂基板又は樹脂フィルムである。或いは、センサ基体51は、ガラス基板であってもよい。センサ基体51は、第2基板31の上に接着層37を介して貼り合わされる。センサ基体51の一方の面に、複数の第2電極Rx及び第2電極選択回路16が設けられる。センサ基体51の他方の面は、第2基板31に貼り合わされる。第2電極Rx及び第2電極選択回路16は、図5、図11等と同様の構成である。第2電極Rxの上には保護層38、接着層36を介して偏光板35が貼り合わされる。
言い換えると、本変形例の表示装置1Aは、第2基板31に垂直な方向において、第1基板21、複数の第1電極Tx、第2基板31、センサ基体51、複数の第2電極Rx、偏光板35の順に設けられる。
本変形例では、第2電極Rxは、第2基板31の上に直接設けられていない。このため、第2基板31の厚さを薄くすることが可能である。第2電極Rxは、第1電極Txが設けられた第1基板21と異なるセンサ基体51に設けられている。第1電極Txと第2電極Rxとを同一基板上に形成した場合に比べて、第1電極Txと第2電極Rxとの距離が大きくなる。これにより、多数の第2電極Rxが設けられた場合であっても、第1電極Txと第2電極Rxとの間の静電容量の増大を抑制できる。また、検出電極である第2電極Rxは、第1電極Txよりも指等の被検出体に近い位置に設けられる。具体的には、第2電極Rxは、第2基板31及びセンサ基体51を挟んで第1電極Txの反対側に設けられる。したがって、表示装置1Aは、検出性能を向上させることが可能である。
(第1実施形態の第2変形例)
図15は、第1実施形態の第2変形例に係る表示装置の概略断面構造を示す断面図である。本変形例の表示装置1Bにおいて、センサ部5は偏光板35の上に設けられている。すなわち、偏光板35は、接着層36を介して第2基板31の上に貼り合わされる。第2電極Rx及び第2電極選択回路16はセンサ基体51の一方の面に設けられる。センサ基体51の他方の面は、接着層37を介して偏光板35の上に貼り合わされる。第2電極Rx及び第2電極選択回路16の上には、保護層38が設けられる。
言い換えると、第2基板31に垂直な方向において、第1基板21、複数の第1電極Tx、第2基板31、偏光板35、センサ基体51、複数の第2電極Rx、の順に設けられる。
本変形例では、第2電極Rxと第1電極Txとの間に第2基板31及び偏光板35が設けられている。すなわち、表示装置1、1Aに比べて、当該垂直な方向において、第1電極Txと第2電極Rxとの距離が大きくなる。このため、多数の第2電極Rxが設けられた場合であっても、第1電極Txと第2電極Rxとの間の静電容量の増大を抑制できる。また、表示装置1、1Aに比べて、第2電極Rxは、指等の被検出体により近い位置に設けられる。具体的には、第2電極Rxと、指等の被検出体との間に偏光板35が配置されていない。したがって、表示装置1Bは、検出性能を向上させることが可能である。
(第1実施形態の第3変形例)
図16は、第1実施形態の第3変形例に係る表示装置の概略断面構造を示す断面図である。図16に示すように、本変形例の表示装置1Cは、さらにカバー基板101を有する。カバー基板101は、偏光板35の上側に設けられる。また、センサ部5は、偏光板35とカバー基板101との間に設けられる。
第2電極Rx及び第2電極選択回路16はセンサ基体51の一方の面に設けられる。センサ基体51の他方の面は、接着層102を介してカバー基板101の下に貼り合わされる。第2電極Rx及び第2電極選択回路16を覆って保護層38が設けられる。保護層38は、接着層37を介して偏光板35に貼り合わされる。また、偏光板35は、接着層36を介して第2基板31の上に貼り合わされる。
言い換えると、第2基板31に垂直な方向において、第1基板21、複数の第1電極Tx、第2基板31、偏光板35、複数の第2電極Rx、センサ基体51、カバー基板101の順に設けられる。なお、カバー基板101は、上述した表示装置1、1A、1Bにも、設けられていてもよい。
なお、カバー基板101を設けずに、センサ基体51の上面(他方の面)にコーティング層を設けてもよい。この場合、センサ基体51の上面(他方の面)が検出面となり、指等の被検出体は、センサ基体51の上面(他方の面)にコーティング層を介して接触又は近接する。
(第2実施形態)
図17は、第2実施形態に係る表示装置の概略断面構造を示す断面図である。図18は、第1電極と、第1電極選択回路との接続を説明するための説明図である。本実施形態の表示装置1Dにおいて、表示パネル20(図1参照)は、有機EL表示パネル(Organic Electro−Luminescence Diode:OLEDともいう)である。
図17に示すように、表示装置1Dは、第1基板21Aと、下部電極22Aと、自発光層106と上部電極22Bと、封止層27と、第1電極TxAと偏光板25A、35Aと、センサ部5と、カバー基板101Aとを有する。
第1基板21Aの上側に絶縁層24a、24bを介して複数の下部電極22Aが設けられる。下部電極22Aは各副画素SPixに対応してマトリクス状に設けられる。下部電極22Aは、有機発光ダイオードのアノード(陽極)である。第1基板21Aの下側には、接着層26Aを介して偏光板25Aが設けられる。第1基板21Aは、ポリイミド膜等の樹脂フィルムを用いることができる。なお、下部電極22Aと第1基板21Aとの間には、副画素SPixを駆動するTFT素子(図示しない)が設けられる。
複数の下部電極22Aの上側に上部電極22Bが設けられる。表示機能層である自発光層106は、下部電極22Aと上部電極22Bとの間に設けられる。上部電極22Bは、有機発光ダイオードのカソード(陰極)である。下部電極22A及び上部電極22Bは、例えばITO等の透光性を有する導電性材料が用いられる。自発光層106は、高分子有機材料を含み、不図示のホール注入層、ホール輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層を含む。自発光層106は、リブ(絶縁層)によって副画素SPixごとに区画される。
封止層27は、上部電極22Bを覆う絶縁層である。封止層27は、上部電極22B及び自発光層106を封止する。封止層27は、上部電極22B及び自発光層106を保護する機能を有する。
このような構成により、自発光層106からの光が封止層27から出射して、観察者の眼に到達する。副画素SPixごとに自発光層106の点灯量を制御することにより、表示面に画像が表示される。自発光層106は、副画素SPixごとに異なる発光材料が用いられ、それぞれ赤色(R)、緑色(G)、青色(B)の各色の光を表示する。これにより、表示装置1Dは、カラーフィルタを設けない構成とすることができる。なお、これに限定されず、自発光層106は副画素SPixごとに同じ発光材料が用いられてもよい。この場合、自発光層106の上側にカラーフィルタが設けられる。
複数の第1電極TxAは、封止層27の上に設けられる。複数の第1電極TxAの平面視での構成は、図4に示す第1電極Txと同様である。複数の第1電極TxAの上側には、保護層28、接着層36Aを介して偏光板35Aが設けられる。
カバー基板101Aは、偏光板35Aの上側に設けられる。センサ部5は、偏光板35Aとカバー基板101Aとの間に設けられる。
第2電極RxA及び第2電極選択回路16はセンサ基体51Aの一方の面に設けられる。センサ基体51Aの他方の面は、接着層を介してカバー基板101Aの下に貼り合わされる。第2電極RxAは、接着層37Aを介して偏光板35Aに貼り合わされる。第2電極RxAの平面視での構成は、図5に示す第2電極Rxと同様である。すなわち、第2電極RxAは、平面視で第1電極TxAと交差して設けられ、第2電極RxAと第1電極TxAとの間に静電容量が形成される。また、偏光板35Aは、接着層36Aを介して保護層28に貼り合わされる。
言い換えると、偏光板35Aは、第1基板21Aとセンサ基体51A(第2基板)との間に設けられる。カバー基板101Aは、センサ基体51Aの上側に設けられる。第2電極RxAは、偏光板35Aとセンサ基体51Aの間に設けられる。表示装置1Dは、センサ基体51Aに垂直な方向において、第1基板21A、自発光層106、上部電極22B、封止層27、複数の第1電極TxA、偏光板35A、複数の第2電極RxA、センサ基体51A、カバー基板101Aの順に設けられる、なお、本実施形態では、表示装置1Dは、第1電極TxAと上部電極22Bとを有する。このため、第1電極TxAは、共通電極としての機能を有していない。
本実施形態においても、第2電極RxAは、第1電極TxAが設けられた第1基板21Aと異なる基板に設けられる。第2電極RxAは、第1電極TxAとの間に偏光板35Aが設けられている。すなわち、第2電極RxAと第1電極TxAとを同一基板上に設けた構成に比べて、第1電極TxAと第2電極RxAとの距離が大きくなる。このため、多数の第2電極RxAが設けられた場合であっても、第1電極TxAと第2電極RxAとの間の静電容量の増大を抑制できる。また、センサ基体51Aがカバー基板101Aに貼り合わされている。このため、第2電極RxAは指等の被検出体に近い位置に設けられる。具体的には、第2電極RxAと、指等の被検出体との間に偏光板35Aが配置されていない。したがって、表示装置1Dは、検出性能を向上させることが可能である。
図18は、表示装置1Dの一部を拡大して示す断面図である。また、図18では、第1電極選択回路15に含まれるTFT素子TrAを示している。図18に示すように、封止層27は、上面27aと傾斜面27bとを有している。配線LBは、上面27aに設けられ、第1電極TxAと接続される。傾斜面27bは、封止層27の周縁に形成されて、絶縁層24bと上面27aとを接続する。配線LBは、上面27a及び傾斜面27bに設けられて、絶縁層24bに設けられたコンタクトホールを介してTFT素子TrAと接続される。
TFT素子TrAは、半導体層81と、ソース電極82と、ドレイン電極83と、ゲート電極84とを有する。ゲート電極84は、第1基板21Aの上に設けられる。第1絶縁層241は、ゲート電極84を覆って第1基板21Aの上に設けられる。半導体層81は、第1絶縁層241の上に設けられる。第2絶縁層242は、半導体層81を覆って第1絶縁層241の上に設けられる。ソース電極82及びドレイン電極83は、第2絶縁層242の上に設けられる。ソース電極82及びドレイン電極83は、第2絶縁層242に設けられたコンタクトホールを介して半導体層81と接続される。ドレイン電極83は、配線LBを介して第1電極TxAと接続される。また、ソース電極82は、配線LBaを介してフレキシブル基板72(図17参照)と接続される。
このような構成により、封止層27の上面27aに設けられた第1電極TxAは、配線LBを介して第1電極選択回路15と接続される。なお、図18に示すTFT素子TrAの構成はあくまで一例であり、適宜変更することができる。
(第3実施形態)
図19は、第3実施形態に係る検出装置の、第1基板の平面図である。図20は、第3実施形態に係る検出装置の、第2基板の平面図である。図21は、図19のB1−B2線に沿って切断したときの表示装置の断面図である。
図21に示すように、検出装置30Aは、第1センサ基体511と、第2センサ基体512と、複数の第1電極TxBと、複数の第2電極RxBと、第1電極選択回路15(図19参照)と、第2電極選択回路16と、を有する。
第2センサ基体512は、第1センサ基体511と対向する。第1センサ基体511及び第2センサ基体512は、ガラス基板、樹脂基板又は樹脂フィルムである。第1センサ基体511及び第2センサ基体512として透光性を有する材料が用いられる。これにより、検出装置30Aは、表示装置の表示面に装着することができる。なお、第1センサ基体511及び第2センサ基体512は、透光性を有さない樹脂材料であってもよい。この場合、検出装置30Aは、表示装置等の電子機器の筐体に装着することができる。
第1電極TxBは、第1センサ基体511の一方の面に設けられる。第1電極TxBの上に、保護層371が設けられる。第2電極RxBは、第2センサ基体512の一方の面に設けられる。第2電極RxBの上に、保護層38Aが設けられる。第1センサ基体511と第2センサ基体512とは、接着層372を介して貼り合わされる。
図19に示すように、複数の第1電極TxBは、検出領域AAに設けられ、第1方向Dxに延びており、第2方向Dyに配列される。又、第1電極選択回路15は、周辺領域GAに設けられる。第1電極選択回路15は、複数の第1電極TxBを選択し、所定の符号に基づいて位相が定められた駆動信号Vcomを第1電極TxBに供給する。第1電極選択回路15は、フレキシブル基板73と電気的に接続される。本実施形態の第1電極TxB及び第1電極選択回路15は、第1実施形態の第1電極Tx及び第1電極選択回路15と同様である。ただし、第1センサ基体511には、図4に示す画素電極22、ゲート線GCL、信号線SGL、フレキシブル基板72等が設けられていない。
図20に示すように、複数の第2電極RxBは、検出領域AAに設けられ、第2方向Dyに延びており、第1方向Dxに配列される。又、第2電極選択回路16は、周辺領域GAに設けられる。第2電極選択回路16は、所定の符号に基づいて複数の第2電極RxBを選択し、選択された第2電極RxBを1つの出力信号線(第1出力信号線LA1(図11参照))に接続する。第2電極選択回路16は、フレキシブル基板71と電気的に接続される。本実施形態の第2電極RxB及び第2電極選択回路16は、第1実施形態の第2電極Rx及び第2電極選択回路16と同様である。
本実施形態においても、第1電極TxBと第2電極RxBとの交差部分に、それぞれ静電容量が形成される。第1電極選択回路15は、第1電極TxBを選択し、選択された第1電極TxBに同時に駆動信号Vcomを供給する。そして、接触又は近接する指等の表面の凹凸による容量変化に応じた検出信号Vdetが第2電極RxBから出力されることにより、指紋検出が行われる。又は、接触又は近接する指等による容量変化に応じた検出信号Vdetが第2電極RxBから出力されることにより、タッチ検出が行われる。本実施形態の検出装置30Aにおいても、第1電極選択回路15により第1電極TxBのCDM駆動を行うとともに、第2電極選択回路16により第2電極RxBのCDM駆動を行うことができる。
図21に示すように、第2電極RxBは、第1電極TxBが設けられた第1センサ基体511と異なる第2センサ基体512に設けられている。このため、第1電極TxBと第2電極RxBとを同一基板上に形成した場合に比べて、第1電極TxBと第2電極RxBとの距離が大きくなる。このため、多数の第2電極RxBが設けられた場合であっても、第1電極TxBと第2電極RxBとの間の静電容量の増大を抑制できる。したがって、検出装置30Aは、検出性能を向上させることが可能である。
(第3実施形態の変形例)
図22は、第3実施形態の変形例に係る検出装置の概略断面構造を示す断面図である。本変形例の検出装置30Bは、第2センサ基体512にフレキシブル基板71(図21参照)が設けられていない。本変形例の第2センサ基体512は、ガラス基板である。第2センサ基体512には、厚み方向に貫通する貫通孔であるコンタクトホールH1が設けられている。
第2電極RxBは、第2電極選択回路16を介して配線LCに接続される。配線LCは、コンタクトホールH1を介して、第1センサ基体511に設けられた配線LDに接続される。配線LDはフレキシブル基板73と電気的に接続される。これにより、第1電極TxB及び第2電極RxBは、共通のフレキシブル基板73に接続することができる。
以上、本発明の好適な実施の形態を説明したが、本発明はこのような実施の形態に限定されるものではない。実施の形態で開示された内容はあくまで一例にすぎず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。本発明の趣旨を逸脱しない範囲で行われた適宜の変更についても、当然に本発明の技術的範囲に属する。上述した各実施形態及び各変形例の要旨を逸脱しない範囲で、構成要素の種々の省略、置換及び変更のうち少なくとも1つを行うことができる。
例えば、本態様の表示装置及び検出装置は、以下の態様をとることができる。
(1)第1基板と、
前記第1基板と対向する第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に設けられ、画像を表示させる表示機能層と、
前記第1基板の検出領域に設けられた複数の第1電極と、
前記第2基板の上側において、前記検出領域に設けられた複数の第2電極と、
前記第1基板の前記検出領域の外側の周辺領域に設けられた第1電極選択回路と、
前記第2基板の上側において前記周辺領域と重なる領域に設けられた第2電極選択回路と、を有し、
前記第1電極選択回路は、前記複数の第1電極のうちいくつかを選択し、所定の符号に基づいて位相が定められた検出駆動信号を前記第1電極のいくつかに供給し、
前記第2電極選択回路は、所定の符号に基づいて前記複数の第2電極のうちいくつかを選択し、選択された前記複数の第2電極を1つの出力信号線に接続する
表示装置。
(2)前記第2基板の上側に設けられた偏光板を有し、
前記複数の第2電極及び前記第2電極選択回路は前記第2基板に設けられ、
前記複数の第2電極は、前記第2基板に垂直な方向において、前記第2基板と前記偏光板との間に配置される、
上記(1)に記載の表示装置。
(3)前記第2基板の上側に設けられた偏光板と、
前記複数の第2電極及び前記第2電極選択回路が設けられるセンサ基体を有する、
上記(1)に記載の表示装置。
(4)前記第2基板に垂直な方向において、前記第1基板、前記複数の第1電極、前記第2基板、前記センサ基体、前記複数の第2電極、前記偏光板の順に設けられる、
上記(3)に記載の表示装置。
(5)前記第2基板に垂直な方向において、前記第1基板、前記複数の第1電極、前記第2基板、前記偏光板、前記センサ基体、前記複数の第2電極、の順に設けられる、
上記(3)に記載の表示装置。
(6)前記偏光板の上側に設けられるカバー基板を有し、
前記第2基板に垂直な方向において、前記第1基板、前記複数の第1電極、前記第2基板、前記偏光板、前記複数の第2電極、前記センサ基体、前記カバー基板の順に設けられる、
上記(3)に記載の表示装置。
(7)前記センサ基体は、接着層を介して前記カバー基板に貼り合わされる、
上記(6)に記載の表示装置。
(8)前記表示機能層は、液晶層であり、
前記複数の第1電極には、複数の画素に対する共通の電位となる表示駆動信号が供給される、
上記(1)乃至上記(7)のいずれか1つに記載の表示装置。
(9)前記表示機能層は、高分子有機材料を含む自発光層であり、
前記自発光層の上側に設けられた上部電極と、
前記自発光層及び前記上部電極を封止する封止層と、を有し、
前記複数の第1電極は、前記封止層の上に設けられる、
上記(1)に記載の表示装置。
(10)前記第1基板と前記第2基板との間に設けられた偏光板と、
前記第2基板の上側に設けられたカバー基板と、を有し、
前記第2電極及び前記第2電極選択回路は、前記第2基板に設けられる、
上記(9)に記載の表示装置。
(11)前記第2基板に垂直な方向において、前記第1基板、前記自発光層、前記上部電極、前記封止層、前記複数の第1電極、前記偏光板、前記複数の第2電極、前記第2基板、前記カバー基板の順に設けられる、
上記(10)に記載の表示装置。
(12)前記複数の第1電極は、前記封止層の上に設けられた配線を介して、前記第1電極選択回路と電気的に接続される、
上記(9)乃至上記(11)のいずれか1つに記載の表示装置。
(13)前記出力信号線に接続された第1アナログフロントエンド回路を有する、
上記(1)乃至上記(12)のいずれか1つに記載の表示装置。
(14)第2アナログフロントエンド回路を有し、
前記第2アナログフロントエンド回路には、前記複数の第2電極のうち、前記第1アナログフロントエンド回路に接続されない非選択の前記第2電極が接続される、
上記(13)に記載の表示装置。
(15)第1センサ基体と、
前記第1センサ基体と対向する第2センサ基体と、
前記第1センサ基体の検出領域に設けられた複数の第1電極と、
前記第2センサ基体の前記検出領域に設けられた複数の第2電極と、
前記第1センサ基体の前記検出領域の外側の周辺領域に設けられた第1電極選択回路と、
前記第2センサ基体の前記周辺領域に設けられた第2電極選択回路と、を有し、
前記第1電極選択回路は、前記複数の第1電極のうちのいくつかを選択し、所定の符号に基づいて位相が定められた駆動信号を前記第1電極のいくつかに供給し、
前記第2電極選択回路は、所定の符号に基づいて前記複数の第2電極のうちのいくつかを選択し、選択された前記第2電極を1つの出力信号線に接続する、
検出装置。
(16)前記第2センサ基体の前記周辺領域には、貫通孔が設けられており、
前記第2電極は、前記貫通孔を介して前記第1センサ基体に設けられた配線と接続される、
上記(15)に記載の検出装置。
1、1A、1B、1C、1D 表示装置
2 画素基板
3 対向基板
5 センサ部
6 液晶層
10 表示部
11 制御部
12 ゲートドライバ
13 ソースドライバ
14 駆動電極ドライバ
15 第1電極選択回路
16 第2電極選択回路
20 表示パネル
21、21A 第1基板
30、30A、30B 検出装置
31 第2基板
40 検出部
48 AFE
48A 第1AFE
48B 第2AFE
51、51A センサ基体
511 第1センサ基体
512 第2センサ基体
71、72、73 フレキシブル基板
101、101A カバー基板
121 ゲート線選択回路
131 信号線選択回路
151 第1符号生成回路
152 駆動信号供給回路
161 第2符号生成回路
162、162A 接続切替回路
AA 検出領域
GA 周辺領域
LA1 第1出力信号線
LA2 第2出力信号線
LR 基準電位供給線
Tx、TxA、TxB 第1電極
Rx、RxA、RxB 第2電極

Claims (16)

  1. 第1基板と、
    前記第1基板と対向する第2基板と、
    前記第1基板と前記第2基板との間に設けられ、画像を表示させる表示機能層と、
    前記第1基板の検出領域に設けられた複数の第1電極と、
    前記第2基板の上側において、前記検出領域に設けられた複数の第2電極と、
    前記第1基板の前記検出領域の外側の周辺領域に設けられた第1電極選択回路と、
    前記第2基板の上側において前記周辺領域と重なる領域に設けられた第2電極選択回路と、を有し、
    前記第1電極選択回路は、前記複数の第1電極のうちいくつかを選択し、所定の符号に基づいて位相が定められた検出駆動信号を前記第1電極のいくつかに供給し、
    前記第2電極選択回路は、所定の符号に基づいて前記複数の第2電極のうちいくつかを選択し、選択された前記複数の第2電極を1つの出力信号線に接続する
    表示装置。
  2. 前記第2基板の上側に設けられた偏光板を有し、
    前記複数の第2電極及び前記第2電極選択回路は前記第2基板に設けられ、
    前記複数の第2電極は、前記第2基板に垂直な方向において、前記第2基板と前記偏光板との間に配置される、
    請求項1に記載の表示装置。
  3. 前記第2基板の上側に設けられた偏光板と、
    前記複数の第2電極及び前記第2電極選択回路が設けられるセンサ基体を有する、
    請求項1に記載の表示装置。
  4. 前記第2基板に垂直な方向において、前記第1基板、前記複数の第1電極、前記第2基板、前記センサ基体、前記複数の第2電極、前記偏光板の順に設けられる、
    請求項3に記載の表示装置。
  5. 前記第2基板に垂直な方向において、前記第1基板、前記複数の第1電極、前記第2基板、前記偏光板、前記センサ基体、前記複数の第2電極、の順に設けられる、
    請求項3に記載の表示装置。
  6. 前記偏光板の上側に設けられるカバー基板を有し、
    前記第2基板に垂直な方向において、前記第1基板、前記複数の第1電極、前記第2基板、前記偏光板、前記複数の第2電極、前記センサ基体、前記カバー基板の順に設けられる、
    請求項3に記載の表示装置。
  7. 前記センサ基体は、接着層を介して前記カバー基板に貼り合わされる、
    請求項6に記載の表示装置。
  8. 前記表示機能層は、液晶層であり、
    前記複数の第1電極には、複数の画素に対する共通の電位となる表示駆動信号が供給される、
    請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の表示装置。
  9. 前記表示機能層は、高分子有機材料を含む自発光層であり、
    前記自発光層の上側に設けられた上部電極と、
    前記自発光層及び前記上部電極を封止する封止層と、を有し、
    前記複数の第1電極は、前記封止層の上に設けられる、
    請求項1に記載の表示装置。
  10. 前記第1基板と前記第2基板との間に設けられた偏光板と、
    前記第2基板の上側に設けられたカバー基板と、を有し、
    前記第2電極及び前記第2電極選択回路は、前記第2基板に設けられる、
    請求項9に記載の表示装置。
  11. 前記第2基板に垂直な方向において、前記第1基板、前記自発光層、前記上部電極、前記封止層、前記複数の第1電極、前記偏光板、前記複数の第2電極、前記第2基板、前記カバー基板の順に設けられる、
    請求項10に記載の表示装置。
  12. 前記複数の第1電極は、前記封止層の上に設けられた配線を介して、前記第1電極選択回路と電気的に接続される、
    請求項9乃至請求項11のいずれか1項に記載の表示装置。
  13. 前記出力信号線に接続された第1アナログフロントエンド回路を有する、
    請求項1乃至請求項12のいずれか1項に記載の表示装置。
  14. 第2アナログフロントエンド回路を有し、
    前記第2アナログフロントエンド回路には、前記複数の第2電極のうち、前記第1アナログフロントエンド回路に接続されない非選択の前記第2電極が接続される、
    請求項13に記載の表示装置。
  15. 第1センサ基体と、
    前記第1センサ基体と対向する第2センサ基体と、
    前記第1センサ基体の検出領域に設けられた複数の第1電極と、
    前記第2センサ基体の前記検出領域に設けられた複数の第2電極と、
    前記第1センサ基体の前記検出領域の外側の周辺領域に設けられた第1電極選択回路と、
    前記第2センサ基体の前記周辺領域に設けられた第2電極選択回路と、を有し、
    前記第1電極選択回路は、前記複数の第1電極のうちのいくつかを選択し、所定の符号に基づいて位相が定められた駆動信号を前記第1電極のいくつかに供給し、
    前記第2電極選択回路は、所定の符号に基づいて前記複数の第2電極のうちのいくつかを選択し、選択された前記第2電極を1つの出力信号線に接続する、
    検出装置。
  16. 前記第2センサ基体の前記周辺領域には、貫通孔が設けられており、
    前記第2電極は、前記貫通孔を介して前記第1センサ基体に設けられた配線と接続される、
    請求項15に記載の検出装置。
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