JP2017534181A - 薄膜太陽電池のための層構造及びその製造方法 - Google Patents

薄膜太陽電池のための層構造及びその製造方法 Download PDF

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Abstract

薄膜太陽電池のための層構造及びその製造方法を提供する。本発明は、少なくとも、光吸収層(5)の表面(6)に隣接する領域において、少なくとも一つのアルカリ金属でドープされた光吸収層を含む、薄膜太陽電池(1)のための層構造に関する。さらに、本発明は、この種の層構造を製造する方法に関する。本発明によれば、層構造は光吸収層(5)の表面(6)上に、光吸収層を腐食から保護するように設計された酸化不動態層(8)を有する。【選択図】図1

Description

本発明は、少なくとも光吸収層の表面に隣接する領域において、少なくとも一つのアルカリ金属でドープされた光吸収層を含む、薄膜太陽電池のための層構造に関する。さらに、本発明は、この種の層構造を製造する方法に関する。
一般的な層構造及び関連する製造方法は、国際公開第2014/097112号A1から公知である。従来、光吸収層を有する層構造は薄膜太陽電池内に一体化されている。調査は、アルカリ金属ドーピングは、光電活性に関連し、薄膜太陽電池の効率の顕著な改善につながる可能性のある吸収層−半導体化合物材料を典型的に含む−の特性に、有利に影響することがあることを示した。しかしながら、アルカリ金属ドーピングには特定の問題がないわけではない。特に、この種のいくつかの薄膜太陽電池のフィルファクター、すなわち効率が、同じ構造の他の薄膜太陽電池に比べて著しく低減されることがある。
本発明によって解決される技術的課題は、この種の層構造を有する薄膜太陽電池の効率を上げるために、改善された化学的及び物理的特性を有する層構造、及びこの種の層構造の製造方法を提供することである。
本発明は、請求項1の構成を有する層構造、及び請求項9の構成を有する層構造の製造方法を提供することによって、この課題を解決する。
本発明の層構造は、光吸収層の表面上に、光吸収層を腐食から保護するよう設計された酸化不動態層を有する。
酸化不動態層は、酸素化合物を有する材料を含み、又はそれから成る。酸化不動態層は、表面上に構築されていてもよく、及び/又は光吸収層の表面から内部に構築されていてもよい。組み込まれていることは、光吸収層の表面が変換されている可能性があることを意味してもよい。酸化不動態層は光吸収層を隙間なく覆い;酸化不動態層は途切れていない。ドープ領域に隣接する表面の他に、光吸収層は、例えば、電気的バックコンタクト層との反対側の界面を有してもよい。
通常、アルカリ金属をドープによって導入することで、特に吸収層が半導体化合物材料を含む場合、吸収層材料は、少なくとも表面の領域において、周囲環境下で化学的腐食を受けやすくなる。腐食は、薄膜太陽電池の光電子特性に悪影響を与える。腐食の結果、周囲空気の水分と相互作用して電子と大気中の酸素とが交換することによる酸化還元現象又は加水分解過程により、光吸収層の表面に、三次元的に分布した個々の酸化物の形成を伴う材料の欠陥が生じることがある。これらの材料の欠陥は、光誘発電荷キャリアの再結合の増大につながる。三次元的に分散した酸化物は、不動態化効果を有しない。また、それらは、特に光吸収層の表面より下の体積において、例えば、多結晶吸収層構造の粒子界面に沿って、光吸収層を更なる腐食から保護することもない。
しばしば、薄膜太陽電池を更に処理する間、従来のCdS緩衝層(硫化カドミウムCdS)に代えて、少なくとも一つの酸素含有緩衝層が光吸収層に適用される。典型的に、緩衝層は、酸化物(例えば、酸化亜鉛ZnO、酸化マグネシウム亜鉛ZnMgO)、及び/又はオキシ硫化物(例えば、亜鉛オキシ硫化物Zn(O,S))の材料を含み、又はこれらの材料の少なくとも一つから成る。これらの純粋に又は部分的に酸化された材料、又は適用された酸素含有緩衝層は、光吸収層を充分に腐食から保護することができない。
本発明の酸化不動態層は、特に薄膜太陽電池の封入の前の更なる層構造及び/若しくは薄膜太陽電池処理の間に、並びに/又は長期間のための封止密閉性が不完全である場合に、アルカリ金属ドーピングを含む光吸収層を、腐食及びそれに伴う電気的活性不純物の形成から有効に保護することができる。腐食からの保護は、少なくとも、腐食過程を時間的に遅らせることを含む。さらに、酸化不動態層は、光吸収層の表面上の光誘発電荷キャリアの再結合を低減又は防止することができる。酸化不動態層は、特に、光吸収層の表面又は界面における光電流損失を防止するよう設計されていてもよい。言い換えれば、酸化不動態層は、特に酸素化合物を形成することをとおして、「ダングリングボンド」として知られる不飽和結合を飽和させて、表面若しくは界面における正電荷の形成を防止し、及び/又は表面における電気的活性を回避するよう設計されていてもよい。このようにして、それによって生じる薄膜太陽電池の効率が特に高く、薄膜太陽電池の寿命全体にわたって理想的に高いままであるように、アルカリ金属ドーピングの利点を利用し、かつその不利な点を回避することができる。
更に、例えば、CdS、Zn(O,S)、又はInで構成される緩衝層の適用は、酸化不動態層によって促進されることがあり、それによって、緩衝層の質を強化し、したがって緩衝層の厚さを低減することを可能にする。酸化不動態層は、さらに、光吸収層と緩衝層との間の界面領域における原子/イオン拡散に関する弱い拡散バリヤとして機能してもよい。
本発明の成長において、光吸収層は、黄銅鉱材料、具体的にはCu(In1−xGa)(Se1−y(銅Cu、インジウムIn、ガリウムGa、セレンSe、硫黄S)、式中0≦x,y≦1、及び/又は黄錫亜鉛鉱材料、例えばCuZnSn(Se1−x(スズSn)、式中0≦x≦1を含み、又はこれらの材料の少なくとも一つから成る。これらの半導体化合物材料は、小さいeV(電子ボルト)の直接電気バンドギャップを有する。更に、これらは、アルカリ金属で効果的にドープすることができる。したがって、これらは、薄膜太陽電池に使用するのに理想的に適している。
半導体化合物層は、典型的には、内因性欠陥によってわずかにpドープされている。従来、薄膜太陽電池のp−n逆転は、少なくとも一つの上記緩衝層に、Al(アルミニウム)で高ドープされたZnO層を適用することによって達成される。p−n逆転によって薄膜太陽電池の層にわたって電界が生成し、光子吸収によって生成されるこの電子正孔対によって、空間的に分離することができる。本発明の開発において、光吸収層の表面に隣接する領域は、p−n逆転を示すような方法でドープされる。これは、ドープ領域にわたって相応に高いドーピングを有する適切なドーピングプロフィールによって達成することができる。その結果、光吸収層において生成される電子正孔対は、より効果的に分離されてもよい。より詳細には、電子正孔対の再結合を低減することができる。したがって、薄膜太陽電池の効率の増大を達成することができる。光吸収層は、有利にも、表面上にnドープされていてもよい。
現在までに、光吸収層のドープに利用されるアルカリ金属は、ナトリウム(Na)、及びカリウム(K)である。Naは、表面における領域のp−n逆転を一般に達成しない。Kで薄膜太陽電池の効率を上昇させることは不安定であり;言い換えれば、高性能なこの種の薄膜太陽電池の再現性が低い。本発明の開発の一つにおいて、少なくとも一つのアルカリ金属は、ルビジウムRb及び/又はセシウムCsである。これらのアルカリ金属を光吸収層の表面上に固定して、それによって、光吸収層の表面上の領域のp−n逆転を達成することを可能にしてもよい。驚くべきことに、これらの特定のアルカリ金属を有する薄膜太陽電池の効率を著しく増加させ、かつ、増加した効率の再現性を改善することができることがわかった。
本発明の開発において、酸化不動態層は、(In,Ga)、式中M=K、Rb、Cs、0<x,y,zであるM(In,Ga)(酸素O)、及び/又は酸化アルミニウムAlを含み、又はこれらの材料の少なくとも一つから成る。更に又は代替として、酸化不動態層は、ZnO及び/又はSnO、式中x=1〜2、及び/又はこれらの両方の材料の混合物を含んでもよく、又はこれらの材料の少なくとも一つから成ってもよく、アルカリ金属の一部は表面又は界面からの拡散によって存在してもよい。言い換えれば、記載の材料は、いずれの場合においてもドープ量の濃度で存在せず、その代わりに化学量論量で存在してもよい。黄銅鉱材料から成る又はこれを含む光吸収層について、(In,Ga)、M(In,Ga)を有する酸化不動態層は、例えば、光吸収層及び酸素から生成又は成長させてもよく;この場合、光吸収層の表面が変換されてもよい。黄錫亜鉛鉱材料から成る又はこれを含む光吸収層について、ZnO、SnOを有する酸化不動態層は、例えば、光吸収層及び酸素から成長又は生成させてもよく;この場合、光吸収層の表面が変換されてもよい。更に又は代替として、Alを有する酸化不動態層は、光吸収層にAlを適用することによって生成してもよい。特に、Alは、アルミ層だけでなく他の材料層を腐食から保護してもよい。
本発明の開発において、酸化不動態層の厚みは、1nm〜50nm(ナノメートル)、好ましくは3nm〜5nmである。この手段によって、一方では、光吸収層を腐食から有効に保護することができる。他方では、光吸収層から酸化不動態層を通り任意の緩衝層及び/又はフロントコンタクト層への有効な電気輸送をより確実にすることができる。光吸収層及び酸素から酸化不動態層を生成又は成長させる場合、そのような生成又は成長は、少なくとも一つのアルカリ金属、好ましくはRb及び/又はCsの存在により促進され、したがって、残りの光吸収層を損傷することなく、記載の範囲の厚みを達成することができる。対照的に、アルカリ金属ドーピングを有しない光吸収層の場合、この層及び酸素から上記準単層範囲の厚みを有する酸化物層を全く成長させることができないか、又は高温及び長い成長時間で強制的に成長させたとしても光吸収層への損傷が起こり、その場合、酸化物層は一貫せず、不動態化効果もまた有しない。光吸収層への損傷は、光吸収層がその半導体特性を失い、したがって、もはや薄膜太陽電池に使用することができないことを意味する。
本発明の層構造を生じる本発明の方法において、工程aでは、少なくとも、光吸収層の表面に隣接する領域に、少なくとも一つのアルカリ金属でドープされた光吸収層を基材上に生成する。同時又はその後、更に、工程bにおいて、具体的には光吸収層を腐食及びそれに伴う電気的活性不純物の形成から保護するように、光吸収層の表面上に酸化不動態層を成形する。工程bは、表面から光吸収層内への酸化不動態層の構築を好ましくは含んでもよく、そのために光吸収層の表面が変換されてもよい。工程bは工程aの直後であってよく、すなわちこれらの間に工程を有しなくてもよい。
工程aは、少なくとも一つのアルカリ金属が加えられた基材上に光吸収層を成長させ、少なくとも一つのアルカリ金属を比較的高温で基材から光吸収層内へと拡散させることを含んでもよい。更に又は代替として、工程aは、アルカリ金属フッ化物前駆体を基材に適用し、基材上に光吸収層を成長させ、少なくとも一つのアルカリ金属を比較的高温でアルカリ金属フッ化物前駆体から光吸収層内へと拡散させることを含んでもよい。
本発明の開発において、工程aは、サブステップaxとして、光吸収層を生成することと、サブステップazとして、少なくとも、光吸収層の表面に隣接する領域において、少なくとも一つのアルカリ金属で光吸収層をドープすることとを含む。サブステップazはサブステップaxと同時に始めてもよく、又はその後、その前、若しくはサブステップaxが完全に完了したときに開始してもよい。さらに、サブステップazは、サブステップaxと同時に、又はその後に終わってもよい。少なくとも一つのアルカリ金属は、アルカリ金属フッ化物、例えば、RbF及び/又はCsFを用いて、及び/又はその他のアルカリ金属化合物、例えば、アルカリ金属酸化物、アルカリ金属炭酸塩、アルカリ金属セレニド、及び/又は他のアルカリ金属ハロゲン化物、例えばRbCl、CsCl、RbBr、CsBr、RbI、及び/又はCsIを用いて提供してもよい。この方法を用いて、特にRb及び/又はCsを用いて、光吸収層の表面に隣接する領域にp−n逆転を生じることができる。
本発明の実施形態において、方法は、光吸収層の表面に少なくとも一つのアルカリ金属を適用する工程を含んでもよい。工程axは、後堆積処理(PDT)と呼ばれることもあるこの工程の前に完全に終えてもよい。アルカリ金属は、Se雰囲気及び/又はS雰囲気下で、例えば、アルカリ金属フッ化物及び/又は他のアルカリ金属化合物の形態の蒸着によって、光吸収体の表面に適用してもよい。同時又はその後に、工程azは、少なくとも光吸収層の表面に隣接する領域に、少なくとも一つのアルカリ金属を拡散するかたちで、特に場合によっては、Se雰囲気及び/又はS雰囲気下で強制的に実施してもよい。その場合、光吸収層は、少なくとも350℃まで加熱してもよい。アルカリ金属フッ化物の場合、Se雰囲気及び/又はS雰囲気下で蒸着及び拡散させる間、Fではなくアルカリ金属のみが光吸収層内に拡散することができるように、フッ素を光吸収層の外側のSe及び/又はSとの化学結合に入れてもよい。他のアルカリ金属化合物について、同様の機構が起こってもよい。
本発明の開発において、工程bは、酸素を含む雰囲気において、室温より高い温度で、アルカリ金属ドープ吸収層をアニーリングすることを含む。黄銅鉱から成る又はこれを含む光吸収層の場合、特にこのようにして、(In,Ga)、M(In,Ga)を有する酸化不動態層を生成又は成長させることができ;この場合、光吸収層の表面が変換されてもよい。より詳細には、黄錫亜鉛鉱材料から成る又はこれを含む光吸収層の場合、この手段によって、ZnO(SnO)を有する酸化不動態層を生成又は成長させることができ;この場合、光吸収層の表面が変換されてもよい。表面又は界面の拡散工程の結果、ZnO/SnO混合酸化物層はアルカリ金属を含んでもよい。アニーリング工程のための温度は、室温より少なくとも80ケルビン高い。アニーリングは、好ましくは少なくとも約120℃、より詳細には120℃〜250℃で行ってもよい。アニーリングは、少なくとも1分から最高で30分間持続してもよい。アニーリングは、少なくとも10−1mbarの酸素分圧、好ましくは1mbarから周囲空気中での酸素分圧までの範囲で行ってもよい。
本発明の開発において、工程bは、アルカリ金属ドーピングで光吸収層の表面に酸化物を適用することを含む。酸化物は、特にAlを含んでもよい。
本発明の開発において、方法は、CdS、Zn(O,S)、又はInの緩衝層を、例えば、酸化不動態層に適用する工程を含む。
本発明の有利な実施形態を図面に提示し、以下に記載する。
図1は、薄膜太陽電池の模式的な断面図を示す。 図2は、図1の薄膜太陽電池の製造方法のフロー図を示す。
図1は、有利な実施形態による薄膜太陽電池1の模式的な断面図を示す。図2は、薄膜太陽電池1の例示的な製造方法に関する本質的な工程をフロー図で示す。第一の工程Iでは、例えば、ガラスでできた基材2を提供する。第二の工程IIでは、例えば、減圧下でガラス基材2に約500nmの厚さでカソードスパッタリングすることによって、薄膜太陽電池1のバックコンタクトとして機能することを意図するMo層3(モリブデン)を適用する。
その後、共蒸発処理(工程III、ax)において、例えば、約600℃のガラス基材2の温度における蒸着によって元素Cu、In、Ga、及びSeを適用する。このようにして、合成半導体物質Cu(In,Ga)Se(CIGS)からなる光吸収層5を、例えば2μm〜3μm(マイクロメートル)で、Mo層3上に成長させる。このとき、光吸収層5は、CIGS材料の内因性欠陥のため、並びに、そこに存在する場合ガラス基材からのナトリウム及びカリウムで起こりうる外部ドーピングのため、至る所でわずかにpドープされる。
光吸収層5を生成したあと、RbF及び/又はCsFを、減圧下で、少なくとも約400℃のるつぼ温度で、蒸発るつぼから光吸収層5の表面6上へと蒸着によって適用する(工程IV)。少なくとも約350℃の、ガラス基材2のわずかに高い温度で、少なくとも一つのアルカリ金属を光吸収層5内へと拡散させる(工程V、az)。この処置において、Rb及び/又はCs原子/イオンは、それらのより大きなイオン性半径のために、表面6からモリブデン層3の方向に光吸収層5の体積内へとCu原子を不可逆的に置換する。この交換のため、アルカリ金属濃度は、光吸収層5の表面の近くで最大になる。これは、表面6の近くの光吸収層5におけるp−n逆転9につながる。Rb又はCsは、光吸収層5の体積内に、好ましくはCIGS材料の粒子界面に沿ってモリブデン層3まで侵入して、そこで、存在する場合ナトリウム及びカリウムを部分的に置換してもよい。この場合、工程IV及びVはPDT処理である。代替の実施形態において、RbF及び/又はCsFは、Se雰囲気及び/又はS雰囲気下で蒸着によって適用してもよい。更に又は代替として、少なくとも一つのアルカリ金属は、Se雰囲気及び/又はS雰囲気下で光吸収層に拡散させてもよい。
その後、例えば、周囲空気中約200℃において、これまでに生成した層構造をアニーリングすることによって、光吸収層5の表面6上に酸化不動態層8を生成する(工程VI、b)。この方法では、表面6上の酸素は、アルカリ金属ドープされたCIGS材料内に組み込まれ;光吸収層5の表面6が変換される。その場合、酸化不動態層8は、例えば、材料(In,Ga)、及び式中M=Rb及び/又はCs、0<x,y,zであるM(In,Ga)を含む。酸化不動態層8は、例えば、図1の光吸収層5内に約3nm〜5nmの厚さDに渡って下方へ向かって延在する。酸化不動態層8は、特に薄膜太陽電池1の更なる製造の間、光吸収層5の主要な残部を腐食から保護する。
その後、厚さ約30nm〜50nmのCdS緩衝層10を、光吸収層5及び/又は酸化不動態層8の表面6上に、化学析出浴内で堆積又は成長させる(工程VII)。吸収層5の表面の極性変化のため、酸化不動態層8はCdS緩衝層10の成長を促進し、その質を強化する。
減圧下のスパッタリングによる厚さ約50nm〜100nmのドープされていないi−ZnO層11(工程VIII)、及びアルミニウムによって高nドープされた厚さ約150nm〜250nmのZnO:Al層12(工程IX)が続く。CdS緩衝層10及びi−ZnO層11は、光吸収層5のCIGS材料とZnO:Al層12との間のバンドマッチングを確実にする。ZnO:Al層12は透明かつ導電性であり、薄膜太陽電池1のフロントコンタクトとして機能することが意図されている。
ZnO:Al層12に、およそ数μmの厚さのNi−Al−Niグリッド構造13(ニッケルNi)(工程X)、及びMgFの反射防止層14(工程XI)が適用される。
記載されているように、製造される薄膜太陽電池1で、最高21.7%の効率を測定することができる。
示された実施形態では、光吸収層はCIGS材料を含む。更に又は代替として、光吸収層は、他の半導体化合物材料を含んでもよく、又はこれから成ってもよく、特に、Moコーティングされた基材(例えば、ガラス、金属、セラミック、プラスチック)上に、記載の元素を共蒸発することによって、又は前駆体層のセレン化/硫化によって製造することのできる、Cu(In1−xGa)(Se1−y及び/又はCuZnSn(Se1−xを含んでもよく、又はこれから成ってもよい。
更に、光吸収層は、完全にドープされている又はp−n逆転を有する必要はなく;光吸収層の表面に隣接する少なくとも1つの領域は、少なくとも一つのアルカリ金属によってドープされている。さらに、少なくとも一つのアルカリ金属による光吸収層のドーピングは、上記のPDT処理ではなくその他の従来の方法によって、光吸収層の表面に隣接する少なくとも一つの領域で生じてもよい。
RbF及び/又はCsFに加えて又は代替として、異なるアルカリ金属フッ化物及び/又は異なるアルカリ金属化合物、例えば、アルカリ金属酸化物、アルカリ金属炭酸塩、アルカリ金属セレニド、及び/又は他のアルカリ金属ハロゲン化物、例えばRbCl、CsCl、RbBr、CsBr、RbI、及び/又はCsIによって、少なくとも一つのアルカリ金属を更に提供してもよい。
酸化不動態層は、材料(In,Ga)、及び式中M=Rb及び/又はCsであるM(In,Ga)に加えて又は代替として、材料Alを含んでもよく、又はそれから成ってもよく、Alは光吸収層の表面に適用することができる。更に加えて又は代替として、特に黄錫亜鉛鉱材料から成る又はこれを含む光吸収層について、酸化不動態層は、ZnO及び/又はx=1〜2であるSnO、及び/又は両方の材料の混合物を含んでもよく、又はこれらの材料の少なくとも一つから成ってもよく、この場合、アルカリ金属の一部は、表面又は界面から拡散した結果として存在してもよい。
CdSに加えて又は代替として、酸化不動態層に適用される緩衝層は、異なる材料、特にZn(O,S)及び/又はInを含んでもよく、又はこれらから成ってもよく、これらは化学析出浴中で、又は気相処理をとおして堆積させてもよい。
i−ZnO材料に加えて又は代替として、CdS緩衝層に適用される層は、カソードスパッタリングによって同様にi−ZnOに適用することのできる、式中0≦x≦0.4であるi−Zn1−xMgOを含んでもよく、又はこの材料から成ってもよい。
不動態酸化層の厚み及び光電子特性を最適化すること(材料の組合せ、ドーピング、バンドギャップ等)によって、化学的要求を満たす(例えば、光吸収層を腐食から保護する)だけでなく、例えば、更に物理的要求、例えば光吸収層の材料とフロントコンタクト層との間のバンドマッチングを満たしてもよい。したがって、その後の緩衝層並びに/又はi−ZnO及び/若しくはZnMgO層を省略することができる。従来のCIGS太陽電池においてCdS及び/又はZn(O,S)緩衝層の厚み及び堆積工程を最適化することに基づき、その後のi−ZnO及び/又はi−ZnMgO層を省略することができることを既にいくつも実証してきた。
示した実施形態及び上記に説明したそれらが明白にするように、本発明は、光吸収層の表面に、光吸収層を腐食から保護するように設計された酸化不動態層を含み、それによって薄膜太陽電池の効率を増大することができる、薄膜太陽電池のための有利な層構造を提供する。

Claims (15)

  1. 少なくとも、光吸収層(5)の表面(6)に隣接する領域において、少なくとも一つのアルカリ金属によってドープされた、光吸収層と
    前記光吸収層(5)の前記表面(6)上の酸化不動態層(8)と
    を含む、薄膜太陽電池のための層構造であって、
    前記酸化不動態層は、前記光吸収層を腐食から保護するよう設計されている、層構造。
  2. 前記表面(6)上の前記酸化不動態層(8)が前記光吸収層(5)に組み込まれ、前記光吸収層の前記表面が変換された、請求項1に記載の層構造。
  3. 前記光吸収層(5)は、式中0≦x,y≦1であるCu(In1−xGa)(Se1−y、及び/又は式中0≦x≦1であるCuZnSn(Se1−xを含む、請求項1又は2に記載の層構造。
  4. 前記光吸収層(5)の前記表面(6)に隣接する前記領域が、p−n逆転(9)を示すようにドープされた、請求項1〜3のいずれか一項に記載の層構造。
  5. 前記少なくとも一つのアルカリ金属がルビジウム及び/又はセシウムである、請求項1〜4のいずれか一項に記載の層構造。
  6. 前記酸化不動態層(8)が、(In,Ga)、式中M=K、Rb、Cs、かつ0<x,y,zであるM(In,Ga)、及び/又はAl、及び/又はZnO、式中x=1〜2であるSnOを含む、請求項1〜5のいずれか一項に記載の層構造。
  7. 前記酸化不動態層(8)の厚み(D)が1nm〜50nmである、請求項1〜6のいずれか一項に記載の層構造。
  8. 前記酸化不動態層(8)が、適用された緩衝層(10)を有する、請求項1〜7のいずれか一項に記載の層構造。
  9. 請求項1〜8のいずれか一項に記載の薄膜太陽電池のための層構造を製造する方法であって、前記方法は:
    a.少なくとも、光吸収層(5)の表面(6)に隣接する領域に、少なくとも一つのアルカリ金属によってドープされた光吸収層を基材上に生成することと、
    b.前記光吸収層の前記表面上に酸化不動態層(8)を生成することであって、前記酸化不動態層は、前記光吸収層を腐食から保護するよう設計されている、ことと
    を含む、方法。
  10. 工程bは、前記光吸収層(5)の前記表面(6)が変換されるように、前記光吸収層に組み込まれた前記表面上の前記酸化不動態層(8)を含む、請求項9に記載の方法。
  11. 工程aが、以下のサブステップ:
    ax.前記光吸収層(5)を生成することと
    az.少なくとも、前記光吸収層の前記表面(6)に隣接する領域において、少なくとも一つのアルカリ金属で前記光吸収層をドープすることと
    を含む、請求項9又は10に記載の方法。
  12. 前記光吸収層(5)の前記表面(6)に少なくとも一つのアルカリ金属を適用する工程であって、好ましくはSe雰囲気及び/又はS雰囲気下で、少なくとも一つのアルカリ金属を、少なくとも、前記光吸収層の前記表面に隣接する領域の内部へと内向きに拡散させることを含む工程azによって特徴付けられる、請求項11に記載の方法。
  13. 工程bが、アルカリ金属のドーピングを有する光吸収層(5)を、酸素を含む雰囲気中で、室温に対して高い温度でアニーリングすることを含み、前記酸化不動態層(8)は、好ましくは前記光吸収層及び酸素から生成される、請求項9〜12のいずれか一項に記載の方法。
  14. 工程bは、アルカリ金属のドーピングを有する前記光吸収層(5)の前記表面(6)に酸化物を適用することを含む、請求項9〜13のいずれか一項に記載の方法。
  15. 前記緩衝層(10)を前記酸化不動態層(8)に適用する工程によって特徴付けられる、請求項9〜14のいずれか一項に記載の方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019134151A (ja) * 2018-01-29 2019-08-08 ベイジン アポロ ディン ロン ソーラー テクノロジー カンパニー リミテッド 薄膜太陽電池
KR20210050564A (ko) * 2018-09-22 2021-05-07 (씨엔비엠) 벵부 디자인 앤드 리서치 인스티튜트 포 글래스 인더스트리 컴퍼니 리미티드 흡수체층의 후처리 방법

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN207834314U (zh) * 2018-06-08 2018-09-07 汉能新材料科技有限公司 太阳能电池

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110192454A1 (en) * 2010-02-09 2011-08-11 Feist Rebekah K Photovoltaic device with transparent, conductive barrier layer
US20120024366A1 (en) * 2010-07-27 2012-02-02 National Taiwan University Thin film solar cell structure and fabricating method thereof
US20120132281A1 (en) * 2010-11-26 2012-05-31 Nexpower Technology Corporation Thin-film solar cell and manufacturing method thereof
JP2013118265A (ja) * 2011-12-02 2013-06-13 Showa Shell Sekiyu Kk 薄膜太陽電池
US20140124011A1 (en) * 2011-09-09 2014-05-08 International Business Machines Corporation Heat Treatment Process and Photovoltaic Device Based on Said Process

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0460287A1 (de) * 1990-05-31 1991-12-11 Siemens Aktiengesellschaft Neuartige Chalkopyrit-Solarzelle
DE4447866B4 (de) * 1994-11-16 2005-05-25 Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg Verfahren zur Herstellung einer Verbindungshalbleiter-Dünnschichtsolarzelle
US6259016B1 (en) * 1999-03-05 2001-07-10 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Solar cell
KR100798234B1 (ko) * 2000-04-06 2008-01-24 아크조 노벨 엔.브이. 광기전성박의 제조 방법
US20040084079A1 (en) * 2002-09-04 2004-05-06 Ralph Romero Photovoltaic device and module
DE102008045522A1 (de) 2008-09-03 2010-03-04 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Heterosolarzelle und Verfahren zur Herstellung von Heterosolarzellen
JP5229901B2 (ja) * 2009-03-09 2013-07-03 富士フイルム株式会社 光電変換素子、及び太陽電池
US8709856B2 (en) * 2009-03-09 2014-04-29 Zetta Research and Development LLC—AQT Series Enhancement of semiconducting photovoltaic absorbers by the addition of alkali salts through solution coating techniques
JP5275950B2 (ja) * 2009-05-01 2013-08-28 富士フイルム株式会社 積層膜とその製造方法、光電変換素子とその製造方法、及び太陽電池
US20120055554A1 (en) * 2009-05-21 2012-03-08 E.I. Du Pont De Nemours And Company Copper zinc tin chalcogenide nanoparticles
FR2982422B1 (fr) * 2011-11-09 2013-11-15 Saint Gobain Substrat conducteur pour cellule photovoltaique
US9780238B2 (en) * 2012-01-13 2017-10-03 The Regents Of The University Of California Metal-chalcogenide photovoltaic device with metal-oxide nanoparticle window layer
DE102012211894A1 (de) 2012-07-09 2014-01-09 Robert Bosch Gmbh Verwendung von mikroporösen anionischen anorganischen Gerüststrukturen, insbesondere enthaltend Dotierstoffkationen, für die Herstellung von Dünnschichtsolarzellen bzw. -modulen, photovoltaische Dünnschichtsolarzellen, enthaltend mikroporöse anionische anorganische Gerüststrukturen sowie Verfahren zur Herstellung solcher photovoltaischen Dünnschichtsolarmodule
BR112015014939B1 (pt) 2012-12-21 2021-10-19 Flisom Ag Método para fabricar dispositivos optoeletrônicos de filme fino e aparelho de zona de deposição de vapor

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110192454A1 (en) * 2010-02-09 2011-08-11 Feist Rebekah K Photovoltaic device with transparent, conductive barrier layer
US20120024366A1 (en) * 2010-07-27 2012-02-02 National Taiwan University Thin film solar cell structure and fabricating method thereof
US20120132281A1 (en) * 2010-11-26 2012-05-31 Nexpower Technology Corporation Thin-film solar cell and manufacturing method thereof
US20140124011A1 (en) * 2011-09-09 2014-05-08 International Business Machines Corporation Heat Treatment Process and Photovoltaic Device Based on Said Process
JP2013118265A (ja) * 2011-12-02 2013-06-13 Showa Shell Sekiyu Kk 薄膜太陽電池

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019134151A (ja) * 2018-01-29 2019-08-08 ベイジン アポロ ディン ロン ソーラー テクノロジー カンパニー リミテッド 薄膜太陽電池
KR20210050564A (ko) * 2018-09-22 2021-05-07 (씨엔비엠) 벵부 디자인 앤드 리서치 인스티튜트 포 글래스 인더스트리 컴퍼니 리미티드 흡수체층의 후처리 방법
JP2022501825A (ja) * 2018-09-22 2022-01-06 (シーエヌビーエム)ボンブー デザイン アンド リサーチ インスティテュート フォー グラス インダストリー カンパニー,リミティド 吸収層を後処理する方法
KR102594725B1 (ko) 2018-09-22 2023-10-27 씨엔비엠 리서치 인스티튜트 포 어드밴스드 글래스 머터리얼즈 그룹 컴퍼니 리미티드 흡수체층의 후처리 방법

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