JP2017508703A - コーティングされたグレイジング - Google Patents

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Abstract

透明なガラス基材を含み、この基材の表面が、透明導電性コーティング(TCC)に基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で直接的もしくは間接的にコーティングされ、該表面が、該表面の該コーティングの前に少なくとも0.4nmの表面の算術平均高さ値、Saを有する、コーティングされたグレイジング。

Description

本発明はコーティングされたグレイジング、該グレイジングの製造方法、及びコーティングされたグレイジングによって示されるヘイズ(光散乱)を増加させるための酸性ガスの使用に関する。
光起電力(PV)モジュール、発光ダイオード(LED)、及び有機発光ダイオード(OLED)などの装置に対する関心が現在非常に高まっている。また、園芸用のガラスにも少なからぬ注目が集まっている。これらの装置及びグレイジングの製造業者は、様々な異なる手法で光を操作することを目指している。
光起電力(PV)モジュールまたは太陽電池は、日光を直流(DC)電力へ変換する材料接合装置である。日光(光子からのエネルギーで構成される)にさらされたとき、PVモジュールのPN接合部の電界は一対の自由電子及び正孔を分離させ、したがって光電圧を生成する。n側からp側への回路は、PVモジュールが電気負荷に接続されたときに電子の流れを可能にし、一方、PVモジュール接合部の面積及び他のパラメータが利用可能な電流を決定する。電力は電圧と電子及び正孔が再結合するときに生成される電流とを掛けた積である。
本発明の文脈において、用語「PVモジュール」は、組立体の寸法、電圧、及び生じた電流の強さがどのようであっても、またこの構成要素の組立体が1つ以上の内部電気接続(複数可)(直列及び/または並列)を呈するかどうかに関係なく、太陽放射線の変換によってその電極間で電流の発生を生成する任意の構成要素の組立体を含むことが理解される。本発明の意図の中での用語「PVモジュール」はつまり「光起電力装置」または「光起電力パネル」、同様に「光起電力電池」と同等である。
PVモジュールは半導体として知られている物質に依存する。半導体はそれらの純粋な形態において絶縁体であるが、加熱されたときまたは他の材料と結合されたとき、電気を通すことが可能である。例えば亜リン酸と混合された、または「ドープされた」半導体は、過剰な自由電子を生じさせる。これはn型半導体として知られている。ホウ素などの他の材料がドープされた半導体は、過剰な「正孔、」電子を受容する空間を生じさせる。これはp型半導体として知られている。
PVモジュールは、接合部として知られる中間の層で、n型の材料とp型の材料とを接続する。光がない状態であっても、少数の電子がn型半導体からp型半導体へ接合部を渡って移動し、小さな電圧を生じる。光の存在下では、光子が多くの電子を移動させ、電子は接合部を渡って流れ、電気装置の動力として使用できる電流を生み出す。
従来のPVモジュールはn型及びp型層にケイ素を使用している。薄膜PVモジュールの最新型は、テルル化カドミウム(CdTe)、非晶質ケイ素もしくは微結晶粒ケイ素、またはセレン化銅インジウムガリウム(CIGS)の薄い層を代わりとして使用する。
半導体接合部は、非晶質ケイ素(a−Si)内のp−i−n装置、またはCdTe及びCIGSのためのヘテロ接合部(例えば、日光のほとんどを通過させることができる薄い硫化カドミウム層を有する)のいずれかとして、異なる手法で形成される。それらの最も単純な形態において、a−Si電池は太陽にさらされたとき、それらの動力出力において大きな低下をこうむる(15〜35%の範囲内)。より優れた安定性はより薄い層の使用を必要とするが、これは光吸収、及びひいては電池効率を低下させる。このため、業界は、直列型、及び更には互いの上に積み重ねられたp−i−n電池を含む三層装置を開発するに至った。
一般的に透明導電性酸化物(TCO)層は電池の前部電気接点を形成し、金属層は後部接点を形成する。TCOはドープされた酸化亜鉛(例えば、ZnO:Al[ZAO]またはZnO:B)、フッ素ドープ酸化スズ(SnO:F)またはインジウム及びスズの酸化物材料(ITO)に基づき得る。これらの材料は化学的に、例えば化学蒸着(「CVD」)などによって、または物理的に、例えばマグネトロンスパッタリングによる真空蒸着などによって堆積される。
PVモジュールにとって、モジュールに入る光を散乱させることは、その量子変換効率を改善するために有利であり得る。薄膜ケイ素PVモジュールについては、散乱の角度を増加させるために有用であり、したがって、モジュール内の弱く吸収される長波長光の閉じ込めを改善する。
LEDは半導体材料で作製された順方向バイアスされたp−n接合ダイオードである。空乏領域が自然発生的にp−n接合部に渡って形成され、電子及び正孔が再結合することを防ぐ。p−n接合部が十分な電圧で順方向バイアスされる(オンにされる)と、空乏領域が挟まり、電子は空乏領域の抵抗率に打ち勝つことができ、p−n接合部を超えて、電子・正孔対の再結合が発光によるエネルギーの放射をもたらすp型領域内へ入る。この効果は電界発光と呼ばれ、光の色は半導体のエネルギーギャップによって決定される。本発明の文脈において、用語「LED」は順方向バイアスが印加されたとき発光する半導体材料のダイオードを利用する、任意の構成要素の組立体を含むことが理解される。
初期のLED装置は低強度の赤色光を発したが、最新のLEDは、非常に高い輝度で、可視、紫外線、及び赤外線波長に渡って利用可能である。LEDは、より少ないエネルギー消費、より長い寿命、向上したロバスト性、より小さいサイズ、及びより高速の切り替えを含む、従来の光源に勝る多くの利点を提供する。しかし、それらは比較的高価であり、かつ従来の光源に比べて、より高精度な電流及び熱管理を要求する。LEDの用途は多様である。それらは低エネルギーインジケータとして使用されるが、また一般照明及び自動車照明における従来の光源の代わりとしても使用される。小型のLEDは、それらの高い切り替え速度が通信技術において有用である一方で、新しいテキスト及びビデオの表示ならびにセンサーが開発されることを可能にした。
OLEDとは、発光性電界発光層(複数可)が電流に反応して発光する有機材料の、または主にその有機材料に基づく膜である、LEDである。有機分子は、分子の全てまたは部分に渡る連結によるpi電子の非局在化の結果として導電性である。この有機半導体材料の層は2つの電極の間に位置している場合もある。一般的に、これらの電極のうち少なくとも1つが透明である。本発明の文脈において、用語「OLED」は順方向バイアスが印加されたとき発光する、有機半導体材料のダイオードを利用する任意の構成要素の組立体を含むことが理解される。OLEDはテレビ画面、コンピュータモニタ、携帯電話及びその他同種類のものにみられるものなどの小型または可搬システムの画面において利用できる。
典型的なOLEDは、2つの電極間に埋め込まれる少なくとも2つの有機層、例えば導電層及び発光性層を含む。典型的に1つの電極は反射金属で作られている。他の電極は典型的にガラス基材によって支持される透明導電性コーティング(TCC)である。酸化インジウムスズ(ITO)は多くの場合OLEDの前部でアノードとして使用される。
動作中、アノードがカソードに対して陽であるように、電圧がOLEDに渡って印加される。電子の電流がカソードからアノードへと装置を流れ、静電力が電子及び正孔を互いに向かって運び、発光性層の近くでそれらが再結合し、その周波数が可視領域内にある放射線の放出をもたらす。
LED及びOLEDは、典型的に透明基材及び導電性被覆材のスタックを含む透明導電体電極を提供することにより製造され、その上に装置の活性領域及び透明でありうる更なる電極を含む連続する層を築く。透明導電体電極は、CVDなどの技術を使用して、コーティングの導電性スタックを基材上に堆積させることにより頻繁に実現される。導電性スタックは、典型的にTCOなどのTCC、例えばドープ金属酸化物を、最上層(すなわち基材から最も遠い層)として含む。必要とされる電気特性及び機械的安定性を提供することに加えて、TCOは遠い層の堆積のために好適な表面を、装置の残りの部分が製造されるときに提供する必要がある。
LED及びOLEDのために、それが単に装置を加熱することよりもむしろその目的のために役立つように、装置から光を抽出することが明らかに強調される。例えば、エッジリットLED照明器具は、光散乱を増加することによって、光の取り出し(LEDからの光子の漏れ)から恩恵を受けることができる。OLEDパネルからの光の抽出は、従来は一般的に外部光抽出膜、例えば透明基材の外部表面上での使用によって増強されてきた。内部光抽出機構とTCCとを結合する統合された基材を提供することは、OLED製造にとって大躍進となるであろう。
例えば温室内などの園芸用の使用のためのグレイジングは、好ましくは散乱光を伝導し、それによって光を散乱させることができるグレイジングが本分野において関心を集めている。
本発明の第1の態様に従って提供されるコーティングされたグレイジングが、
透明なガラス基材を含み、
この基材の表面が、透明導電性コーティング(TCC)に基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で直接的もしくは間接的にコーティングされ、
該表面が、該表面の該コーティングの前に少なくとも0.4nmの表面の算術平均高さ値、Saを有する。
驚くべきことに、本発明のコーティングされたグレイジングは、LED及びOLEDにおけるその使用が改善された光抽出を供給することができるような光散乱を示すことが発見されている。更に、これらのコーティングされたグレイジングはまた、光の閉じ込めを促進して効率を高めるためにPVモジュールに適用できる。これらのコーティングされたグレイジングの光散乱特性は、更に園芸用途において利用できる。
本発明の以下の説明において、反対の記述がない限り、該値の1つが他よりもより好ましい指標と相まって、パラメータの許容範囲の上限または下限の代替値の開示は、該パラメータの各中間値が暗示された記述として解釈され、より好ましいとあまり好ましくない該代替物との間に位置し、それ自体は該あまり好ましくない値及びまた、該あまり好ましくない値と該中間値との間に位置する各値が好まれる。
本発明の文脈において、層が特定の材料(複数可)に「基づく」と言われ、これは層が優勢に対応する該材料(複数可)から成ることを意味し、それが少典型的になくとも該材料(複数可)の約50%を含むことを意味する。
該少なくとも該表面の部分コーティングの前に、好ましくは該表面が、少なくとも0.6nm、より好ましくは少なくとも0.8nm、更により好ましくは少なくとも1.0nm、更により好ましくは少なくとも1.5nm、最も好ましくは少なくとも3nmの、表面の算術平均高さ値、Saを有する。該表面の該コーティングの前に、好ましくは該表面が、最大で25nm、より好ましくは最大で20nm、更により好ましくは最大で15nm、最も好ましくは最大で10nmの、Sa値を有する。Saは表面の粗さの指標を与える。より粗い表面はより多い光散乱を示すグレイジングにつながり、したがって上で詳細に述べたような様々な用途において有用である。しかし、より粗い表面は、装置の性能に影響を与える電気的短絡の原因になり易いゆえに、実用的なPV、LEDまたはOLED装置を提供するために層を堆積させることがより挑戦的である。
好ましくは、該表面は100nmの深さまでにおいて、少なくとも0.2、より好ましくは少なくとも0.3、更により好ましくは少なくとも0.4、最も好ましくは少なくとも0.5、しかし好ましくは最大でも0.95、より好ましくは最大でも0.9、更により好ましくは最大でも0.8、最も好ましくは最大でも0.7の多孔率を有する。該多孔率は該表面の該コーティングより前であり得る。本発明の文脈において、多孔率または間隙率は材料内の間隙(すなわち、「空」)空間の尺度であり、0と1との間の、総体積中の間隙体積の一部である。より多孔性の表面はより多い光散乱を示すグレイジングにつながり、したがって上で詳細に述べたような様々な用途において有用である。
好ましくは、該グレイジングは、少なくとも0.4%、より好ましくは少なくとも0.5%、更により好ましくは少なくとも0.6%、最も好ましくは少なくとも0.7%、しかし好ましくは最大でも4.0%、より好ましくは最大でも3.0%、更により好ましくは最大でも2.0%、最も好ましくは最大でも1.5%のヘイズを示す。ヘイズ値はASTMD1003−61規格に従って計測される。これらの好ましいヘイズ値を有するグレイジングは上で詳細に述べたような様々な用途において有用である。
好ましくは、表面はTCCに基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で完全にコーティングされる。
好ましくは、TCCは透明導電性酸化物(TCO)である。好ましくはTCOがフッ素ドープ酸化スズ(SnO:F)、アルミニウム、ガリウム、またはホウ素がドープされた酸化亜鉛(ZnO:Al、ZnO:Ga、ZnO:B)、スズがドープされた酸化インジウム(ITO)、スズ酸カドミウム、ITO:ZnO、ITO:Ti、In、In−ZnO(IZO)、In:Ti、In:Mo、In:Ga、In:W、In:Zr、In:Nb、In2−2xSn(式中、MはZnまたはCuである)、ZnO:F、Zn0.9Mg0.1O:Ga、及び(Zn、Mg)O:P、ITO:Fe、SnO:Co、In:Ni、In:(Sn、Ni)、ZnO:Mn、並びにZnO:Coのうちの1つ以上である。
好ましくはTCCに基づく少なくとも1つの層の各層が、少なくとも20nm、より好ましくは少なくとも100nm、更により好ましくは少なくとも200nm、最も好ましくは少なくとも300nm、しかし好ましくは最大でも550nm、より好ましくは最大でも450nm、更により好ましくは最大でも370nm、最も好ましくは最大でも350nmの厚さを有する。これらの厚さは、1)導電率、2)吸収量(より厚い層では吸収量はより多く、伝導はより低い)及び3)色の抑制(特定の厚さが中間色を得るためにより優れている)の特性の間でつり合いを取るために好ましい。
好ましくは、少なくとも1.75の屈折率を有する材料は少なくとも1.8、より好ましくは少なくとも1.9、更により好ましくは少なくとも2.0、しかし好ましくは最大でも4.5、より好ましくは最大でも3.5、更により好ましくは最大でも3.0の屈折率を有する。好ましくは、少なくとも1.75の屈折率を有する材料は、SnO、TiO、及びZnO、のうちの1つ以上である。これらの屈折率を有する材料は、結果として生じるコーティングされたグレイジングによって示される光散乱を増幅させることが発見されている。
好ましくは、少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層の各層は、少なくとも10nm、より好ましくは少なくとも50nm、更により好ましくは少なくとも100nm、最も好ましくは少なくとも120nm、しかし好ましくは最大でも250nm、より好ましくは最大でも200nm、更により好ましくは最大でも170nm、最も好ましくは最大でも150nmの厚さを有する。これらの好ましい厚さは、過剰な吸収を避ける一方で、所望の光散乱の増幅を提供する。
好ましくは、グレイジングはSiO、SnO、TiO、ケイ素酸窒化物及び/または酸化アルミニウムなどの金属または半金属の酸化物に基づく少なくとも1つの層を更に含む。金属または半金属の酸化物に基づく該少なくとも1つの層のうちの1つの層は、好ましくはガラス基材の該表面と直接接触して位置している。加えて、または代わりに、金属または半金属の酸化物に基づく該少なくとも1つの層のうちの1つの層は、好ましくはTCCに基づく層または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく層と直接接触して位置している。金属または半金属の酸化物に基づくかかる層は、腐食の原因であり得る表面へのナトリウムイオンの拡散を防ぐために、層を塞ぐように作用し得、または色抑制層として作用し得、層の厚さの変量によって生じる虹色の反射を抑える。
好ましくは、金属または半金属の酸化物に基づく少なくとも1つの層の各層は、少なくとも5nm、より好ましくは少なくとも10nm、更により好ましくは少なくとも15nm、最も好ましくは少なくとも20nm、しかし好ましくは最大でも100nm、より好ましくは最大でも50nm、更により好ましくは最大でも40nm、最も好ましくは最大でも30nmの厚さを有する。
グレイジングは、表面を効率的に平面化するための1つ以上の追加の層を更に含み得、続いて起こる、例えばPV、LED、またはOLED装置を形成するための層の堆積を補助する。かかる装置の製造業者はそれらの材料選択において、コーティングされたグレイジングの表面の平面性を検討する必要がある場合がある。
ガラス基材は、TCCに基づく層または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく層と直接接触し得る。TCCに基づく層及び少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく層の両方が存在するとき、好ましくはTCCに基づく層が少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく層と、干渉する層がないように、直接接触する。
いくつかの実施形態において、表面はTCCに基づく層及び少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく層でコーティングされる。好ましくは、少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく層は、TCCに基づく層よりもガラス基材のより近くに位置する。
熱処理されたガラス板は強靭になり安全特性が加わり、及び/または多数の適用領域のために曲げることが要求される。熱的な強靱化及び/またはガラス板を曲げるためには、使用されるガラスの軟化点の近くまたは軟化点を超える温度での熱処理によってガラス板を処理し、次いで急冷または曲げる手段の補助を用いてそれらを曲げることによってそれらを強靭にすることが必要とされていることが知られている。ソーダ石灰シリカ型の標準的なフロートガラスのための適切な温度範囲は典型的には約580〜690℃であり、実際の強靱化及び/または曲げ処理を開始する前にガラス板は数分の間この温度範囲にあるように保たれる。
以下の説明内で及び請求項内で「熱処理」、「熱処理された」、及び「熱処理可能な」、は、上で言及したような熱的な曲げ及び/または強靱化処理及びコーティングされたガラス板が数分の間、例えば約5分の間、好ましくは約10分の間、約580〜690℃の範囲内の温度に達する間の他の熱処理を指す。コーティングされたガラス板は、それが重大な損傷なしに熱処理に耐えるなら熱処理可能であると考えられ、典型的な損傷は熱処理が高いヘイズ値になることにより、ピンホールまたは点として生じる。好ましくは、本発明に従ったコーティングされたグレイジングは熱処理可能である。
好ましくは、ガラス基材はソーダ石灰シリカまたはホウケイ酸塩ガラス基材である。
本発明の第2の態様に従って、コーティングされたグレイジングの製造方法が提供され、該方法は、順に、
a) 透明なガラス基材を準備するステップと、
b) 基材の表面を酸性ガスでエッチングするステップと、
c) 透明導電性コーティング(TCC)に基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で、直接的または間接的に該表面をコーティングするステップと、を含む。
ガラス基材の表面を酸エッチングし、続いて透明導電性コーティング(TCC)に基づく層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく層を用いて該表面をコーティングすることで、有益な光散乱特性を有するコーティングされたグレイジングが得られることが驚くべきことに発見されている。かかるグレイジングはLED及びOLED内で使用され光抽出を改善することができ、PVモジュール内では光の閉じ込めを促進し効率を高め、園芸用途においては散乱光の伝達が好まれる。
好ましくはステップb)は化学蒸着(CVD)を用いて行われる。ステップb)及びc)の両方が、CVDを用いて行われ得る。代わりに、該表面がTCCに基づく層及び少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく層の両方を用いてコーティングされるとき、該表面上に堆積した該層の第1のものはCVDを用いて堆積され得、及び続いて堆積される層の少なくとも1つは物理蒸着(PVD)を用いて堆積され得る.
ステップc)は、本発明の第1の態様に従って提示されるように、ガラス基材の該表面を金属または半金属の酸化物に基づく少なくとも1つの層を用いて直接的または間接的にコーティングすることを更に含み得る。好ましくは、該少なくとも1つの層のうちの1つが、介在性層が存在しないように、ガラス基材の該表面を直接的にコーティングする。好ましくは金属または半金属の酸化物に基づく該層が、CVDを用いて堆積される。該表面が、金属または半金属の酸化物に基づく少なくとも1つの層、及びTCCに基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層を用いてコーティングされたとき、該表面上に堆積された該層の第1のものは好ましくはCVDを用いて堆積され得、及び少なくとも続いて堆積される層のうちの1つは好ましくはPVDを用いて堆積され得る。少なくとも3つの層が基材の該表面上に堆積されるとき、好ましくは少なくとも該表面上に堆積された最初の2つの層がCVDを用いて堆積される。
好ましくは、ガラス基材から最も遠い層の外表面の表面積は、ステップb)が省略されたことを除いて同じ方法で製造された、同様にコーティングされたグレイジングのガラス基材から最も遠い層の外表面の表面積よりも大きい。好ましくは、ガラス基材から最も遠い層の外表面の表面積は、ステップb)が省略されたことを除いて同じ方法で製造された、同様にコーティングされたグレイジングのガラス基材から最も遠い層の外表面の表面積よりも、2%大きい、より好ましくは5%大きい、更により好ましくは10%大きい、最も好ましくは15%大きい。
好ましくはガラス基材の該表面の表面積はステップb)後の方がステップb)前の該表面の表面積よりも大きい。好ましくはガラス基材の該表面の表面積はステップb)後の方が、ステップb)前の該表面の表面積よりも2%大きい、より好ましくは5%大きい、更により好ましくは10%大きい、最も好ましくは15%大きい。
好ましくは、酸性ガスはHF及び/またはHCIなどのフッ素もしくは塩素含有酸、及び/またはリン酸のうちの1つ以上を含む。リン酸は亜リン酸トリエチル(TEP)由来であり得る。酸性ガスは水蒸気を更に含み得、その存在はエッチング処理を制御することを助けることができる。水蒸気の、酸性ガス中の酸の体積に対する体積比は、好ましくは少なくとも0.1、より好ましくは少なくとも0.5、更により好ましくは少なくとも1.0、最も好ましくは少なくとも1.5、しかし好ましくは最大でも40、より好ましくは最大でも30、更により好ましくは最大でも20、最も好ましくは最大でも10である。
CVDはガラス基材の製造と一緒に行われ得る。実施形態において、ガラス基材は周知のフロートガラス製造処理を用いて形成され得る。この実施形態において、ガラス基材はガラスリボンとしても称され得る。都合のいいことには、ステップb)のCVDエッチングまたはステップc)のコーティングはフロートバス、徐冷がま内、または徐冷がま間隙内のいずれかにおいて行われるであろう。CVDの好ましい方法は大気圧CVD(例えばフロートガラス処理の間に行われるようなオンラインのCVD)である。しかし当然のことながら、CVD処理はフロートガラス製造処理とは別に、またはガラスリボンの形成及び切断のずっと後に用いられることができる。
CVDは好ましくはガラス基材が450℃〜800℃の範囲内の温度にあるとき、より好ましくはガラス基材が550℃から700℃の範囲内の温度にあるときに行われ得る。ガラス基材が、コーティングのより大きい結晶化度を供給するこれらの好ましい温度にあるときCVDコーティングを堆積させることで、強靭性(熱処理への耐性)を高めることができる。
特定の実施形態において、CVD処理は、ガラス基材がエッチングまたはコーティング時に移動する動的な処理である。好ましくは、ガラス基材は、例えば、ステップb)及び/またはステップc)の間3.175m/分よりも速い、所定の速度で動く。より好ましくは、ガラス基材は、ステップb)及び/またはステップc)の間3.175m/分と12.7m/分との間の速度で動く。
上で詳細に述べたように、好ましくはCVDは実質的に大気圧下でのフロートガラス製造処理の間に行われ得る。代わりに、CVDは低圧力CVDまたは超高真空CVDを用いて行われ得る。CVDはエアゾール補助CVDまたは直接液体注入CVDを用いて行われ得る。更に、CVDは極超短波プラズマ補助CVD、プラズマCVD、遠隔プラズマCVD、原子層CVD、燃焼CVD(火炎熱分解)、熱線CVD、有機金属CVD、高速熱CVD、気相エピタキシー、または光開始型CVDを用いて行うことができる。ガラス基材は、ステップc)におけるCVDコーティング(複数可)の堆積後に(及び任意のPVDコーティングの堆積前に)、貯蔵またはフロートガラス製造施設から真空蒸着施設への都合のよい輸送のために、通常はシート材にカットされることになる。
CVDはまた気相混合物を形成することも含み得る。当業者によって理解されるであろうように、気相混合物内での使用に好適な前駆体化合物は、CVD処理における使用に好適であろう。かかる化合物はある時点で液体または個体であり得るが、気相混合物内での使用のために気化されることができるように揮発性である。一度気相になると、前駆体化合物はガス気流内に含まれ、ステップb)及び/またはc)を実行するためにCVD処理において使用される。気体前駆体化合物の任意の特定の組み合わせのため、特定のエッチング/堆積速度を達成するために最適な濃度及び流速及びコーティングの厚さは変動し得る。
好ましくは、前駆体ガス混合物の調製を含む任意のステップが、CVDを用いて行われる。好ましくはステップb)は、HF及び/またはHCI、及び水を含む前駆体ガス混合物を用いて行われる。代わりに、ステップb)は、リン酸及び/またはTEPを含む前駆体ガス混合物を用いて行われ得、該前駆体ガス混合物はまた水を含み得る。
前駆体ガス混合物はキャリアガスまたは希釈剤、例えば、窒素、空気、及び/またはヘリウム、好ましくは窒素、を更に含み得る。
CVDを通してのSnOの堆積のため、前駆体ガス混合物は好ましくは二塩化ジメチルスズ(DMT)、酸素、及び蒸気を含む。HFなどのフッ素の源が追加されたという条件で、SnO:Fを堆積させるために同じ混合物が使用できる。シリカの堆積のために、前駆体ガス混合物はシラン(SiH)及びエチレン(C)を含み得る。チタニアの堆積のために、前駆体ガス混合物四塩化チタン(TiCl)及び酢酸エチル(EtOAc)を含み得る。好ましくは、前駆体ガス混合物は窒素を含む。いくつかの実施形態において、前駆体ガス混合物はまたヘリウムを含み得る。
好ましくは、エッチングされ、及びコーティングされたガラス基材の表面は気体側表面である。コーティングされたガラス製造業者は、気体側表面上の堆積がコーティングの特性を改善することができるため、通常気体側表面(フロートガラスのためのスズ側表面と反対側であるように)上にコーティングを堆積させることを好む。
好ましくは、PVDはスパッタ堆積により行われる。PVDはマグネトロンカソードスパッタリングであり、DCモード、パルスモード、中波または無線周波数モード、または任意の他の好適なモード、のいずれかにおいて、金属性または半電導性の標的が好適なスパッタリング大気内で、反応的にまたは非反応的にスパッタされることが、特に好まれる。スパッタされる材料に応じて、平面状または回転している管状の標的が使用され得る。コーティング処理は好ましくは、特に熱処理の間に、可視光透過率及びコーティングされたグレイジングの色の高い安定性を達成するために、コーティングの任意の層のうちの任意の酸素(または窒化物)層の任意の酸素(または窒素)不足が低く保たれているような好適なコーティング条件を用意することによって行われる。
本発明の第3の態様に従って、第2の態様に従った方法によって製造されるコーティングされたグレイジングが提供される。
本発明の第4の態様に従って、コーティングされたグレイジングによって示されるヘイズを増加させるために提供される酸性ガスの使用法は、
a) 透明なガラス基材を準備するステップと、
b) 基材の表面を酸性ガスでエッチングするステップと、
c) 透明導電性コーティング(TCC)に基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で、直接的または間接的に該表面をコーティングするステップと、を含む。
本発明の第5の態様に従って、園芸用のグレイジングとしてまたはPVモジュール、LEDまたはOLEDの構成部品としての、第1または第3の態様に従ったコーティングされたグレイジングの使用法が提供される。
本発明の第6の態様に従って、第1または第3の態様に従ったコーティングされたグレイジングを組み込むPVモジュールが提供される。
本発明の第7の態様に従って、第1または第3の態様に従ったコーティングされたグレイジングを組み込むLEDが提供される。
本発明の第8の態様に従って、第1または第3の態様に従ったコーティングされたグレイジングを組み込むOLEDが提供される。
本発明の1つの態様で適用できる任意選択的な特徴が、任意の組み合わせ、及び任意の数で使用できることが理解されるであろう。更に、それらはまた、本発明の他の態様のうちのいずれを用いても、任意の組み合わせ及び任意の数で使用され得る。これは、本出願の請求項内の任意の他の請求項について、従属請求項として使用されている任意の請求項からの従属請求項を含むが、これらに限定されない。
読み手の関心は、本出願に関連して本明細書と同時にまたは本明細書より前に申請された全ての論文及び文書に向けられており、それらは本明細書と共に一般閲覧に対し公開されており、全てのかかる論文及び文書の内容は参照により本明細書に組み込まれる。
本明細書(任意の添付の請求項、要約、及び図面を含む)に開示された特徴の全て、及び/またはそのように開示された任意の方法またはプロセスのステップの全てが、かかる特徴及び/またはステップのうちの少なくともいくつかが相互排他的である組み合わせを除いて、任意の組み合わせで組み合わせることができる。
別途明示的に記載のない限り、本明細書(任意の添付の請求項、要約及び図面を含む)に開示される各特徴は、同じ、同等の、または同様の目的を果たす代わりの特徴によって置き換えられ得る。したがって、別途明示的に記載のない限り、開示された各特徴は一般的な一連の同等物のまたは同様の特徴の一例に過ぎない。
本発明は、以下に特定の実施形態として更に説明されるが、それらは例証として与えられるものであって、限定するものではない。
全ての処理及び層堆積はCVDを用いて行われた。ガラス表面の酸性ガス処理は、コーティングされていないガラス上で全て行われた。
表1に示される実施例は、14.4m/分のライン速度で、3.2mmのガラス基材を用いたフロートライン上で行われた。コーティング機Aの上流のガラス温度は680.5℃であった。
コーティングされていないサンプルのためのガラス表面処理はコーティング機A内で以下のガス流を用いて行われた。
● 「HFのみ」処理は、85slm(毎分の標準リットル)のNガス及び10slmのHFガスから成った。
● 「HCIのみ」処理は、85slmのNガス及び15slmのHCIガスから成った。
● 「HCI+HO」処理は、10slmのNガス、30slmのHCIガス、及び161slmHOから成った。
コーティングされたサンプルのためのガラス表面処理は、コーティング機A内で同様のガス流を用いて(コーティング前に)実行された。
● 「HFのみ」処理は、85slmのNガス及び10slmのHFガスから成った。
● 「HCIのみ」処理は、85slmのNガス及び30slmのHCIガスから成った。
● 「HCI+HO」処理は、25slmのNガス、30slmのHCIガス、及び161slmのHOから成った。
SiO層(約25nmの厚み)はコーティング機B2(Aから下流)を用いて処理されたガラス表面上に堆積された。
● シリカ堆積のためのガス流は、370slmのNキャリアガス、200slmのHeキャリアガス、27slmのO、32slmのC、及び4.5slmのSiHから成った。
SnO:F層(約330nmの厚さ)はコーティング機C及びD(B2から下流の次のコーティング機)を用いて処理されたガラス表面上に堆積された。
● コーティング機Cのためのガス流は、140slmのHeキャリアガス、230slmのO、31ポンド/時の二塩化ジメチルスズ、12slmのHF、及び322slmのHOから成った。
● コーティング機Dのためのガス流は140slmのHeキャリアガス、230slmのO、31ポンド/時の二塩化ジメチルスズ、15slmのHF、及び267slmのHOから成った。
サンプルのヘイズ値はASTMD1003−61規格に従って計測された。
表1:示されるようにサンプルを処理した後に、コーティングされていないガラス及びコーティングされたガラスサンプルによって示されるヘイズ値のパーセンテージ。本発明に従って、SiO及びSnO:F層の堆積の前に、コーティングされたガラスサンプルはそれらの製造中に処理された。
表1は、本発明のコーティングされたガラスサンプルについて、処理の全て(コーティング前に行われる)が、処理されていないサンプルと比較して、及び同様に処理されたコーティングされていないサンプルと比較して改善されたヘイズ値をもたらすことを示す。更に、HCIを使用する2つの処理はHF処理よりもはるかに高いヘイズ値をもたらす。HCI処理を用いて達成される高いヘイズは同様に処理されたコーティングされていないサンプルと比較したとき、更により明白である。
本発明は、上記の実施形態の詳細に限定されない。本発明は本明細書(任意の添付の請求項、要約、及び図面を含む)に開示される特徴のうちの任意の新しい1つ、または任意の新しい組み合わせ、またはそのように開示された任意の方法またはプロセスのステップのうちの任意の新しい1つ、または任意の新しい組み合わせにも及ぶ。

Claims (25)

  1. コーティングされたグレイジングであって、
    透明なガラス基材を含み、
    前記基材の表面が、透明導電性コーティング(TCC)に基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で直接的もしくは間接的にコーティングされ、
    前記表面が、前記表面の前記コーティングの前に、少なくとも0.4nmの前記表面の算術平均高さ値、Saを有する、前記コーティングされたグレイジング。
  2. 前記表面が、前記表面の前記コーティングの前に、少なくとも0.6nmの前記表面の算術平均高さ値、Saを有する、請求項1に記載の前記グレイジング。
  3. 前記グレイジングが、少なくとも0.4%のヘイズを示す、請求項1または請求項2に記載の前記グレイジング。
  4. 前記TCCが透明導電性酸化物(TCO)であり、前記TCOがフッ素ドープ酸化スズ(SnO:F)、アルミニウム、ガリウム、またはホウ素がドープされた酸化亜鉛(ZnO:Al、ZnO:Ga、ZnO:B)、スズがドープされた酸化インジウム(ITO)、スズ酸カドミウム、ITO:ZnO、ITO:Ti、In、In−ZnO(IZO)、In:Ti、In:Mo、In:Ga、In:W、In:Zr、In:Nb、In2−2xSn(式中、MはZnまたはCuである)、ZnO:F、Zn0.9Mg0.1O:Ga、及び(Zn、Mg)O:P、ITO:Fe、SnO:Co、In:Ni、In:(Sn、Ni)、ZnO:Mn、並びにZnO:Coのうちの1つ以上である、請求項1〜3のいずれかに記載の前記グレイジング。
  5. TCCに基づく前記少なくとも1つの層の各層が、100nmであるが、最大でも450nmの厚さを有する、請求項1〜4のいずれかに記載の前記グレイジング。
  6. 少なくとも1.75の屈折率を有する前記材料が、SnO、TiO、及びZnOのうちの1つ以上である、請求項1〜5のいずれかに記載の前記グレイジング。
  7. 少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく前記少なくとも1つの層の各層が、少なくとも50nmであるが、最大でも200nmの厚さを有する、請求項1〜6のいずれかに記載の前記グレイジング。
  8. 前記グレイジングが、SiO、SnO、TiO、オキシ窒化ケイ素、及び/または酸化アルミニウムなどの、金属または半金属の酸化物に基づく少なくとも1つの層を更に含む、請求項1〜7のいずれかに記載の前記グレイジング。
  9. 金属または半金属の酸化物に基づく前記少なくとも1つの層のうちの1つの層が、前記ガラス基材の前記表面と直接接触して位置している、請求項8に記載の前記グレイジング。
  10. 金属または半金属の酸化物に基づく少なくとも1つの層の各層が、少なくとも10nmであるが、最大でも35nmの厚さを有する、請求項9または請求項10に記載の前記グレイジング。
  11. 前記グレイジングが熱処理可能である、請求項1〜10のいずれかに記載の前記グレイジング。
  12. コーティングされたグレイジングの製造方法であって、順に、
    a) 透明なガラス基材を準備するステップと、
    b) 前記基材の表面を酸性ガスでエッチングするステップと、
    c) 透明導電性コーティング(TCC)に基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で、直接的または間接的に前記表面をコーティングするステップと、を含む、前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
  13. ステップb)、好ましくはステップb)及びステップc)の両方が、化学蒸着(CVD)を使用して行われる、請求項12に記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
  14. ステップc)が、金属または半金属の酸化物に基づく少なくとも1つの層で、直接的または間接的に前記ガラス基材の前記表面をコーティングすることを更に含む、請求項12または請求項13に記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
  15. 前記ガラス基材から最も遠い層の外表面の表面積が、ステップb)が省略されたことを除いて同じ方法で製造された、同様にコーティングされたグレイジングの前記ガラス基材から最も遠い層の外表面の表面積よりも大きい、請求項12〜14のいずれかに記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
  16. 前記酸性ガスが、HF及び/もしくはHCIなどのフッ素もしくは塩素含有酸、ならびに/またはリン酸のうちの1つ以上を含む、請求項12〜15のいずれかに記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
  17. 前記酸性ガスが水蒸気を更に含む、請求項12〜16のいずれかに記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
  18. 前記水蒸気の体積と前記酸性ガス中の酸の体積との比率が少なくとも0.5であるが、好ましくは最大でも30である、請求項17に記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
  19. ステップb)が、HF及び/またはHCI、窒素、ならびに水を含む前駆体ガス混合物を使用して行われる、請求項17または請求項18に記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
  20. 請求項12〜19のいずれかに記載の前記方法によって製造される、コーティングされたグレイジング。
  21. コーティングされたグレイジングにより示される前記ヘイズを増加させるための、酸性ガスの使用であって、
    a) 透明なガラス基材を準備することと、
    b) 前記基材の表面を酸性ガスでエッチングすることと、
    c) 透明導電性コーティング(TCC)に基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で、直接的または間接的に前記表面をコーティングすることと、を含む、前記使用。
  22. 園芸用のグレイジングとしての、またはPVモジュール、LED、もしくはOLEDの構成要素としての、請求項1〜11または20のいずれかに記載のコーティングされたグレイジングの使用。
  23. 請求項1〜11または20のいずれかに記載の前記コーティングされたグレイジングを組み込む、PVモジュール。
  24. 請求項1〜11または20のいずれかに記載の前記コーティングされたグレイジングを組み込む、LED。
  25. 請求項1〜11または20のいずれかに記載の前記コーティングされたグレイジングを組み込む、OLED。
JP2016550839A 2014-02-24 2015-02-24 コーティングされたグレイジング Active JP6749839B2 (ja)

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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11155493B2 (en) * 2010-01-16 2021-10-26 Cardinal Cg Company Alloy oxide overcoat indium tin oxide coatings, coated glazings, and production methods
WO2016139954A1 (en) * 2015-03-05 2016-09-09 Nichia Corporation Light emitting device
GB201702168D0 (en) * 2017-02-09 2017-03-29 Pilkington Group Ltd Coated glazing
JP7372234B2 (ja) * 2017-08-31 2023-10-31 ピルキントン グループ リミテッド コーティングされたガラス物品、その作製方法、およびそれにより作製された光電池
CN110316980B (zh) * 2018-03-28 2021-11-19 许浒 结构功能一体钢化真空玻璃及其制作方法
CN110316978B (zh) * 2018-03-28 2021-12-17 许浒 结构功能一体光伏真空玻璃及其制作方法
CN110316981A (zh) * 2018-03-28 2019-10-11 许浒 光伏真空陶瓷的制作方法及光伏真空陶瓷
US11251406B2 (en) * 2019-03-07 2022-02-15 Vitro Flat Glass Llc Borosilicate light extraction region
WO2020234593A1 (en) 2019-05-20 2020-11-26 Pilkington Group Limited Laminated window assembly

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011006883A2 (en) * 2009-07-16 2011-01-20 Agc Glass Europe Decorative glass article
JP2012133944A (ja) * 2010-12-20 2012-07-12 Samsung Yokohama Research Institute Co Ltd 面発光素子用基板、面発光素子用基板の製造方法、面発光素子、照明器具及び表示装置。
JP2012523071A (ja) * 2009-04-02 2012-09-27 サン−ゴバン グラス フランス 有機発光ダイオード装置のためのテクスチャ表面を備える構造体の製造方法、およびテクスチャ表面を備える構造体
WO2013031851A1 (ja) * 2011-08-30 2013-03-07 エルシード株式会社 凹凸構造膜付きガラス基板のドライエッチングを用いた製造方法、凹凸構造膜付きガラス基板、太陽電池、及び、太陽電池の製造方法
WO2013035746A1 (ja) * 2011-09-05 2013-03-14 旭硝子株式会社 アルカリバリア層付ガラス基板および透明導電性酸化物膜付ガラス基板
JP2013087043A (ja) * 2011-10-21 2013-05-13 Mitsubishi Electric Corp 基板処理装置とその方法、および薄膜太陽電池

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01230451A (ja) 1988-03-08 1989-09-13 Kubota Ltd 導電性結晶化ガラス
JPH08165144A (ja) 1994-12-12 1996-06-25 Teijin Ltd 透明導電性硝子および透明タブレット
WO2006061964A1 (ja) 2004-12-08 2006-06-15 Asahi Glass Company, Limited 導電膜付き基体およびその製造方法
US20080178932A1 (en) 2006-11-02 2008-07-31 Guardian Industries Corp. Front electrode including transparent conductive coating on patterned glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same
US20080308145A1 (en) 2007-06-12 2008-12-18 Guardian Industries Corp Front electrode including transparent conductive coating on etched glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same
US20080308146A1 (en) * 2007-06-14 2008-12-18 Guardian Industries Corp. Front electrode including pyrolytic transparent conductive coating on textured glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same
US20090194157A1 (en) * 2008-02-01 2009-08-06 Guardian Industries Corp. Front electrode having etched surface for use in photovoltaic device and method of making same
EP2104145A1 (fr) 2008-03-18 2009-09-23 AGC Flat Glass Europe SA Substrat de type verrier revêtu de couches minces et procédé de fabrication
US8022291B2 (en) * 2008-10-15 2011-09-20 Guardian Industries Corp. Method of making front electrode of photovoltaic device having etched surface and corresponding photovoltaic device
US7998586B2 (en) 2008-11-19 2011-08-16 Ppg Industries Ohio, Inc. Undercoating layers providing improved topcoat functionality
CN101764169B (zh) 2008-12-25 2012-01-25 太阳海科技股份有限公司 太阳能电池元件及其制作方法
CN102034881A (zh) 2009-09-25 2011-04-27 绿阳光电股份有限公司 太阳电池及其制法
US20110126890A1 (en) * 2009-11-30 2011-06-02 Nicholas Francis Borrelli Textured superstrates for photovoltaics
JP5431186B2 (ja) 2010-01-25 2014-03-05 株式会社Nsc 表示装置の製造方法
CN103493215A (zh) * 2010-09-03 2014-01-01 康宁股份有限公司 织构化玻璃上的多结构型薄膜硅太阳能电池
GB201106553D0 (en) * 2011-04-19 2011-06-01 Pilkington Glass Ltd Mthod for coating substrates
WO2013171846A1 (ja) 2012-05-15 2013-11-21 三菱電機株式会社 ガラス基板の製造方法および薄膜太陽電池の製造方法
CN102863156B (zh) 2012-09-21 2015-05-20 蚌埠玻璃工业设计研究院 一种绒面azo透明导电膜的制备方法
ES2548048T3 (es) 2012-09-28 2015-10-13 Saint-Gobain Glass France Método de para producir un sustrato OLED difusor transparente
CN103346200A (zh) 2013-05-13 2013-10-09 福建铂阳精工设备有限公司 玻璃基板及其制造方法和薄膜太阳能电池的制造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012523071A (ja) * 2009-04-02 2012-09-27 サン−ゴバン グラス フランス 有機発光ダイオード装置のためのテクスチャ表面を備える構造体の製造方法、およびテクスチャ表面を備える構造体
WO2011006883A2 (en) * 2009-07-16 2011-01-20 Agc Glass Europe Decorative glass article
JP2012133944A (ja) * 2010-12-20 2012-07-12 Samsung Yokohama Research Institute Co Ltd 面発光素子用基板、面発光素子用基板の製造方法、面発光素子、照明器具及び表示装置。
WO2013031851A1 (ja) * 2011-08-30 2013-03-07 エルシード株式会社 凹凸構造膜付きガラス基板のドライエッチングを用いた製造方法、凹凸構造膜付きガラス基板、太陽電池、及び、太陽電池の製造方法
WO2013035746A1 (ja) * 2011-09-05 2013-03-14 旭硝子株式会社 アルカリバリア層付ガラス基板および透明導電性酸化物膜付ガラス基板
JP2013087043A (ja) * 2011-10-21 2013-05-13 Mitsubishi Electric Corp 基板処理装置とその方法、および薄膜太陽電池

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