JP2017215484A - 露光装置、露光方法、及び物品製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の実施形態に係る物品製造方法は、例えば、半導体デバイス等のマイクロデバイスや微細構造を有する素子等の物品を製造するのに好適である。本実施形態の物品製造方法は、基板に塗布された感光剤に上記の露光装置を用いて潜像パターンを形成する工程(基板を露光する工程)と、かかる工程で潜像パターンが形成された基板を現像する工程とを含む。更に、かかる製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等)を含む。本実施形態の物品製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
Claims (8)
- 半導体チップと該半導体チップの周囲に配置されるモールド材とを有する基板の露光領域を露光する露光装置であって、
前記基板を保持して移動するステージと、
前記ステージに保持された前記基板の前記露光領域の複数の計測点において該基板の高さを計測する計測部と、
制御部と、
を有し、
前記制御部は、前記基板における前記半導体チップの配置に関する設計データに基づいて、前記複数の計測点におけるそれぞれの計測結果に重み付けを行い、該重み付けがされた計測結果に基づいて、前記ステージの高さ及び傾きの少なくともいずれかを制御することを特徴とする露光装置。 - 前記設計データは、前記半導体チップのサイズ及び前記基板における配置位置の情報を含むことを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記制御部は、
前記露光領域における前記複数の計測点の位置と、前記設計データに含まれる前記半導体チップのサイズ及び前記基板における配置位置の情報とに基づいて、前記複数の計測点のそれぞれについて、前記半導体チップの上に位置するか前記モールド材の上に位置するかを判定し、
前記半導体チップの上に位置する計測点の計測結果よりも、前記モールド材の上に位置する計測点の計測結果に対する重みを小さくする
ことを特徴とする請求項2に記載の露光装置。 - 前記制御部は、前記モールド材の上に位置する計測点の計測結果に対する重みを0にすることにより該計測点の計測結果を除外して前記ステージの高さ及び傾きの少なくともいずれかを制御することを特徴とする請求項3に記載の露光装置。
- 前記露光領域に、前記半導体チップが複数含まれることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の露光装置。
- 前記露光領域に、前記半導体チップが1つ含まれることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の露光装置。
- 半導体チップと該半導体チップの周囲に配置されるモールド材とを有する基板の露光領域を露光する露光方法であって、
ステージに保持された前記基板の複数の計測点において該基板の高さを計測する工程と、
前記基板における前記半導体チップの配置に関する設計データに基づいて、前記複数の計測点におけるそれぞれの計測結果に重み付けを行い、該重み付けがされた計測結果に基づいて、前記ステージの高さ及び傾きの少なくともいずれかを制御する工程と、
を有することを特徴とする露光方法。 - 請求項1乃至6のいずれか1項に記載の露光装置を用いて基板を露光する工程と、
前記工程で前記露光された基板を現像する工程と、
を含み、
前記現像された基板を加工することによって物品を製造する
ことを特徴とする物品製造方法。
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