JP2017159635A - 光書込み装置及び画像形成装置 - Google Patents

Abstract

【課題】記憶容量を不必要に増大させることなく、ＯＬＥＤの劣化に伴う光量補正を精度良く行うことができる光書込み装置を提供する。【解決手段】発光回数の増加につれて劣化し、１回の発光量が多いほど早く劣化するＯＬＥＤを複数の設定光量で発光させるための劣化補正に加算値テーブルを用いる。加算値テーブルは、設定光量間で共通のドットカウント閾値と、設定光量ごとに複数の加算値とを記憶する。設定光量毎の加算値の平均値は、設定光量ごとの発光素子の劣化速度を設定光量間で劣化速度の比を近似する。発光素子を発光させるたびに複数の加算値を切り替えて発光素子毎のカウント値に加算すれば、当該カウント値がドットカウント閾値に達したか否かによって、発光素子の劣化度を精度良く推定することができる。設定光量ごとにドットカウント閾値を記憶する必要がないので、劣化補正に要する記憶容量を低減できる。【選択図】図８

Description

本発明は、光書込み装置及び画像形成装置に関し、特に有機ＬＥＤを用いた光書込み装置において光量補正に要するメモリ容量を低減する技術に関する。

近年、電子写真方式の画像形成装置に対する小型化の要求が一層強まっている。このため、感光体表面を露光して静電潜像を形成する光書込み装置についても、一層の小型化を図るべく、レーザーダイオード（LD: Laser Diode）を発光源とした光走査型から、微小ドットの発光素子をライン状に配置したライン光学型に切り替わりつつある。
また、ライン光学型の光書込み装置については、発光素子として半導体ＬＥＤを用いると、発光部（LEDアレイ）と各発光素子を制御するための駆動回路部とを、製造上の理由から別基板にせざるを得ず、コストが高くなる。このため、有機ＬＥＤ（OLED: Organic Light Emitting Diode）を用いて単一基板構成とし、低コスト化を図ったＯＬＥＤ−ＰＨ（OLED Print Head）が提案されている。

しかしながら、ＯＬＥＤは、発光時間が長くなると発光効率が低下する劣化特性を有しており、この劣化特性は発光光量の多寡や環境温度に応じて変化することが知られている。ＯＬＥＤ−ＰＨにおいては、ＯＬＥＤ間で光量が数％異なるだけでも、印刷画像にスジムラが視認され、画像品質が実用に耐えない。
このため、例えば、ＯＬＥＤ−ＰＨを構成する個々ＯＬＥＤについて発光光量毎に発光時間、環境温度の履歴データを記憶しておき、ＯＬＥＤを発光させる際には、発光時間と環境温度から所望の発光光量を得ることができる駆動電流量を推定する技術が提案されている（例えば、特許文献１を参照）。また、ＯＬＥＤ毎に発光回数をカウントして、カウント値が一定値を超えた場合には駆動電圧を高くする技術も提案されている（例えば、特許文献２を参照）。

これらの光量補正技術を適用すれば、ＯＬＥＤの劣化による発光効率の低下に関わらず、優れた画像品質を維持し続けることができる。

特開２００３−０２９７１０号公報 特開２００５−３２９６３４号公報

上記従来技術においては、具体的に開示されてはいないが、発光光量、発光時間及び環境温度の組み合わせから望ましい駆動電流量や駆動電圧を得るために光量補正テーブルを用意する必要がある。また、ＯＬＥＤには個体差があるため、例えば、ＯＬＥＤの発光効率毎に光量補正テーブルを用意する必要もある。更に、光量を精度良く補正するためには、駆動電流量などを小まめに調整する必要が生じるために、光量補正テーブルにおける発光時間の刻みを細かくしなければならない。

すると、光量補正テーブルのサイズや数が膨大にならざるを得ないため、光量補正テーブルを記憶するために必要となる記憶容量が膨大になり、光書込み装置のサイズが大きくなったり、部品コストが上昇したりするおそれがある。
本発明は、上述のような問題に鑑みて為されたものであって、記憶容量を不必要に増大させることなく、ＯＬＥＤの劣化に伴う光量補正を精度良く行うことができる光書込み装置及び画像形成装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するため、本発明に係る光書込み装置は、発光回数の増加に伴って劣化し、かつ、発光量が多いほど早く劣化する電流駆動型の発光素子を複数の設定光量で発光させることによって光書込みを行う光書込み装置であって、前記複数の設定光量のうちの少なくとも２以上の設定光量に共通した閾値を記憶する閾値記憶手段と、前記設定光量ごとに、劣化度を所定度数だけ進行させる発光回数を前記閾値から求めるための係数値を記憶する係数値記憶手段と、前記２以上の設定光量のうちの１の設定光量で前記発光素子を発光させた場合において、その発光回数が、前記閾値と当該１の設定光量に係る前記係数値との演算で一義的に定まる値に達したら、前記発光素子に供給すべき駆動電流を増加させる電流補正を行う電流補正手段と、を備えることを特徴とする。

このようにすれば、設定光量毎に閾値を記憶するのに代えて、設定光量間で共通した閾値と、閾値よりもデータ量の小さい係数値とを記憶するので、ＯＬＥＤの劣化補正に必要となる記憶容量を低減することができる。
この場合において、前記１の設定光量で前記発光素子を発光させるたびに、カウント値に前記係数値を加算し、又は前記カウント値から前記係数値を減算するカウント手段を備え、前記電流補正手段は、前記カウント値とその初期値との差が前記閾値に達したら、前記電流補正を行ってもよい。

更に、前記係数値記憶手段は、前記１の設定光量に係る前記係数値として複数の整数値を記憶しており、前記カウント手段は、前記発光素子を発光させるたびに前記複数の整数値を順次切り替えて、前記カウント値の計算に用いてもよいし、前記係数値は、整数部と小数部とからなっていてもよい。
また、前記１の設定光量で前記発光素子を発光させるたびにサブカウント値を１ずつカウントアップ又はカウントダウンし、前記サブカウント値とその初期値との差が前記１の設定光量に係る前記係数値に達するたびに当該サブカウント値を初期値にリセットするサブカウント手段と、前記サブカウント値とその初期値との差が前記１の設定光量に係る前記係数値に達するたびに、メインカウント値を１ずつカウントアップ又はカウントダウンするメインカウント手段と、を備え、前記電流補正手段は、前記メインカウント値とその初期値との差が前記閾値に達したら、前記電流補正を行ってもよい。

この場合において、前記係数値記憶手段は、設定光量ごとの係数値として複数の整数値を記憶しており、前記サブカウント手段は、前記サブカウント値とその初期値との差が前記係数値に達するたびに前記複数の整数値を順次切り替えてもよい。
また、前記閾値記憶手段は、前記複数の設定光量のすべてに共通する１の閾値を記憶してもよい。

また、前記発光素子に供給される駆動電流と、当該駆動電流を供給されたときの前記発光素子の発光量とを対応付けるＬＵＴ又は関数を記憶する電流光量関係記憶手段を備え、前記駆動電流補正手段は、前記ＬＵＴ又は関数を用いて前記電流補正を行ってもよい。
更に、前記電流光量関係手段は、前記発光素子の劣化度に応じて、前記ＬＵＴ又は関数を記憶し、前記駆動電流補正手段は、前記劣化度に応じて前記電流補正を行ってもよい。

また、前記発光素子は有機ＥＬであってもよい。
また、本発明に係る画像形成装置は、本発明に係る光書込み装置を備えることを特徴とする。このようにすれば、上述のような効果を得ることができる。

本発明の第１の実施の形態に係る画像形成装置の主要な構成を示す図である。 光書込み装置１００の主要な構成を示す図である。 ＯＬＥＤパネル２００の概略平面図であり、併せてＢ−Ｂ´線における断面図とＣ−Ｃ´線における断面図が示されている。 ＴＦＴ基板３００の主要な構成を示すブロック図である。 １対の選択回路４０１と発光ブロック４０２とを示す回路図である。 アクティブ駆動方式を説明するタイミングチャートである。 ＡＳＩＣ３１０の主要な機能構成を示すブロック図である。 （ａ）は駆動電流値テーブルを例示し、（ｂ）は加算値テーブルを例示する。 （ａ）、（ｂ）及び（ｃ）は順に発光効率テーブル、設定光量テーブル及び劣化度テーブルを例示する。 ＡＳＩＣ３１０の動作を表すフローチャートである。 （ａ）は従来技術に係るドットカウント閾値テーブルを例示し、（ｂ）は当該テーブルのデータ量を試算する表である。 設定光量毎の劣化速度を比較する表である。 （ａ）は第１の実施の形態に係る加算値テーブルのデータ量を、（ｂ）はその補正誤差をそれぞれ試算する表である。 第２の実施の形態に係る加算値テーブルを例示する図である。 第２の実施の形態に係る加算値テーブルについて、（ａ）はデータ量を試算する表であり、（ｂ）は補正誤差を試算する表である。 第３の実施の形態に係るＡＳＩＣ３１０の主要な機能構成を示すブロック図である。 第３の実施の形態に係る閾値テーブルを例示する図である。 第３の実施の形態に係るＡＳＩＣ３１０の動作を表すフローチャートである。 第３の実施の形態に係る閾値テーブルについて、（ａ）はデータ量を試算する表であり、（ｂ）は補正精度を試算する表である。

以下、本発明に係る光書込み装置及び画像形成装置の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
［１］第１の実施の形態
まず、本発明の第１の実施の形態について説明する。
（１）画像形成装置の構成
まず、本実施の形態に係る画像形成装置の構成について説明する。

図１に示されるように、画像形成装置１は、所謂タンデム型のカラープリンターである。画像形成装置１が備える画像形成ステーション１１０Ｙ、１１０Ｍ、１１０Ｃ及び１１０Ｋは、制御部１０１の制御の下、Ｙ（イエロー）、Ｍ（マゼンタ）、Ｃ（シアン）、Ｋ（ブラック）各色のトナー像を形成する。
例えば、画像形成ステーション１１０Ｙにおいてイエローのトナー像を形成する際には、帯電装置１１２は感光体ドラム１１１の外周面を一様に帯電させる。光書込み装置１００は、感光体ドラム１１１の外周面を露光して、静電潜像を形成する。

現像装置１１３は、感光体ドラム１１１の外周面にイエローのトナーを供給して、静電潜像を現像（顕像化）し、イエローのトナー像を形成する。１次転写ローラー１１４は、感光体ドラム１１１の外周面上から中間転写ベルト１０２の外周面上へトナー像を静電転写（１次転写）する。１次転写後に感光体ドラム１１１の外周面上に残留するトナーはクリーナー１１５によって除去され、廃棄される。

中間転写ベルト１０２は、２次転写ローラー対１０３と従動ローラー１０４に張架されており、トナー像を担持した状態で矢印Ａ方向に回転走行する。
同様にして、画像形成ステーション１１０Ｍ、１１０Ｃ及び１１０Ｋが形成したマゼンタ、シアン及びブラック各色のトナー像が、イエローのトナー像に重なるようにタイミングを合わせて中間転写ベルト１０２の外周面上に１次転写され、カラートナー像となる。中間転写ベルト１０２はカラートナー像を２次転写ローラー対１０３まで搬送する。

給紙カセット１２０には記録シートＳの束が収容されており、ピックアップローラー１２１は、記録シートＳを１枚ずつ送り出す。記録シートＳは、タイミングローラー１２２に達すると搬送が一旦停止された後、中間転写ベルト１０２によるカラートナー像の搬送にタイミングを合せて、２次転写ローラー対１０３まで搬送される。
２次転写ローラー対１０３は、中間転写ベルト１０２上のトナー像を記録シートＳ上に静電転写（２次転写）する。２次転写後、中間転写ベルト１０２上に残留するトナーはクリーナー１０５によって掻き取られ、廃棄される。トナー像を転写された記録シートＳは、定着装置１０６でトナー像を熱定着された後、排紙ローラー１０７によって排紙トレイ１０８上に排出される。

なお、制御部１０１には不図示の操作パネルが接続されており、画像形成装置１のユーザーに対する情報提示を行ったり、ユーザーから指示入力を受け付けたりする。
（２）光書込み装置１００の構成
次に、光書込み装置１００の構成について説明する。
（２−１）全体構成
図２に示されるように、光書込み装置１００は、ＯＬＥＤパネル２００とロッドレンズアレイ２０２をホルダー２０３に収容したものであって、ＯＬＥＤパネル２００においては１５，０００個のＯＬＥＤ２０１がライン状に配設されている。ＯＬＥＤ２０１が出射した光ビームＬは、ロッドレンズアレイ２０２によって感光体ドラム１１１の外周面上に集光される。ロッドレンズアレイ２０２は、多数のロッドレンズを集積した光学素子であって、ＳＬＡ（SELFOC Lens Array。SELFOCは日本板硝子株式会社の登録商標。）を用いてもよいし、ＭＬＡ（Micro Lens Array）を用いてもよい。

ロッドレンズアレイ２０２を構成する個々のロッドレンズと個々のＯＬＥＤ２０１と位置関係はさまざまであり、ＯＬＥＤ２０１毎の集光率が一定しないため、すべてのＯＬＥＤ２０１を同一の発光量で発光させると、感光体ドラム１１１の外周面上でのＯＬＥＤ２０１毎の露光量にムラが生じる。このようなムラが生じないようにするために、本実施の形態においてはＯＬＥＤ２０１毎に発光量が調整される。

（２−２）ＯＬＥＤパネル２００の概略構成
図３は、ＯＬＥＤパネル２００の概略平面図であり、併せてＢ−Ｂ´線における断面図とＣ−Ｃ´線における断面図も示されている。また、概略平面図部分は後述する封止板３０１を取り外した状態を示している。
図３に示されるように、ＯＬＥＤパネル２００は、ＴＦＴ（Thin Film Transistor）基板３００、封止板３０１及びドライバーＩＣ（Integrated Circuit）３０２等を備えている。ＴＦＴ基板３００には、１５，０００個のＯＬＥＤ２０１が主走査方向に沿って配列されている。これらのＯＬＥＤ２０１は、感光体ドラム１１１の外周面上で集光点が２１．２μｍピッチ（１２００ｄｐｉ）になるように一列又は千鳥状に配置されている。

ＴＦＴ基板３００のＯＬＥＤ２０１が配設された基板面には、スペーサー枠体３０３を挟んで封止板３０１が取着されている。これによって、ＴＦＴ基板３００上に実装されたＯＬＥＤ２０１等が、外気に触れないように乾燥窒素等を封入した状態で封止される。なお、吸湿剤を併せて封入してもよい。また、封止板３０１は、封止ガラスであってもよいし、ガラス以外の材料からなっていてもよい。

ＴＦＴ基板３００の封止領域外にはドライバーＩＣ３０２が実装されている。制御部１０１は、光書込み装置１００を駆動するためのＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）３１０を内蔵している。制御部１０１は、カード電線（FFC: Flexible Flat Card）３１１を介してドライバーＩＣ３０２に接続されており、ＡＳＩＣ３１０を用いてドライバーＩＣ３０２に画像データを入力する。ドライバーＩＣ３０２は画像データを変換して輝度信号を出力する。ＯＬＥＤ２０１には輝度信号に応じた駆動電流が供給され、発光量が制御される。輝度信号は、電流信号であってもよいし電圧信号であってもよい。

ドライバーＩＣ３０２には、温度センサー３０４が内蔵されている。ＯＬＥＤ２０１の環境温度として、温度センサー３０４が検出するドライバーＩＣ３０２の内部温度は、ＯＬＥＤ２０１自体の温度に相関している。制御部１０１は、ドライバーＩＣ３０２に内蔵された温度センサー３０４が検出した温度を参照することができる。
このように、ＯＬＥＤ−ＰＨではＯＬＥＤとＴＦＴとを同一基板上に形成することができるので、発光部（LEDアレイ）と制御回路部（駆動IC等）とを別基板にせざるを得ないＬＥＤ−ＰＨよりも低コスト化を図ることができる。

（２−３）ＴＦＴ基板３００の構成
ＯＬＥＤ２０１は、環境温度の変化に伴って発光効率が変化する光量温度特性を有しており、環境温度の高低により画像全体の濃度が変化する。また、ＯＬＥＤ２０１は積算発光時間が長くなるにつれて発光量が低下する劣化特性を有する一方、ＯＬＥＤ２０１毎の積算発光時間には画像データに応じて様々であるため、ＯＬＥＤ２０１毎に光量劣化度が異なり輝度がばらついてしまう。

このような問題に対して、印刷画像をムラ無く、かつ画像品位を一定に保つためには、ＯＬＥＤ２０１毎に駆動電流量を調整する必要がある。このため、ドライバーＩＣ３０２がＤＡＣを用いてＯＬＥＤ２０１毎に生成した輝度信号を駆動回路に書き込むことによって、ＯＬＥＤ２０１毎の発光量が調整される。
また、本実施の形態においては、複数のＯＬＥＤ２０１がＤＡＣを共用し、これらのＯＬＥＤ２０１を順次切り替えながらＤＡＣから輝度信号を書き込むアクティブ駆動方式を採用し、回路規模を削減している。アクティブ駆動方式では、ＤＡＣが書き込んだ輝度信号は、主走査期間（１Ｈ期間）経過後の次の書込みが実施されるまで保持される（例えば、発光データが書き込まれた場合、約１Ｈ期間発光し続ける）。

図４に示されるように、ＴＦＴ基板３００においては、１５，０００個のＯＬＥＤ２０１が１００個ずつ、１５０個の発光ブロック４０２に組分けされている。また、ドライバーＩＣ３０２には１５０個のＤＡＣ４００が内蔵されており、それぞれ発光ブロック４０２と１対１に対応している。
ドライバーＩＣ３０２は、制御部１０１から画像データを入力されると、当該入力を１００画素分ずつ１走査期間毎に各ＤＡＣ４００に分配する。ＤＡＣ４００から発光ブロックに向かう回路上には何れも選択回路４０１が配設されている。各ＤＡＣ４００は、画像データを輝度信号に変換し、配下の１００個のＯＬＥＤ２０１に対して順次、輝度信号を出力する。

図５は、１対の選択回路４０１と発光ブロック４０２とを示す回路図である。図５に示されるように、発光ブロック４０２は１００個の発光画素回路からなっており、各発光画素回路は、キャパシター５２１、駆動用ＴＦＴ５２２及びＯＬＥＤ２０１を１つずつ有している。また、選択回路４０１はシフトレジスター５１１と１００個の選択用ＴＦＴ５１２とを備えている。

シフトレジスター５１１は、１００個の選択用ＴＦＴ５１２それぞれのゲート端子に接続されており、選択用ＴＦＴ５１２を順番にオンする。選択用ＴＦＴ５１２のソース端子は、書き込み配線５３０を経由して、ＤＡＣ４００に接続されており、ドレイン端子はキャパシター５２１の第１の端子並びに駆動用ＴＦＴ５２２のゲート端子に接続されている。

シフトレジスター５１１が選択用ＴＦＴ５１２をオンした状態で、ＤＡＣ４００からの輝度信号がキャパシター５２１の第１の端子に入力され（チャージ）、リセットされるまで保持される（ホールド）。
キャパシター５２１の第１の端子は、駆動用ＴＦＴ５２２のゲート端子にも接続されており、キャパシター５２１の第２の端子は駆動用ＴＦＴ５２２のソース端子並びに電源線５３１に接続されている。

駆動用ＴＦＴ５２２のドレイン端子にはＯＬＥＤ２０１のアノード端子が接続されており、直列回路になっている。ＯＬＥＤ２０１のカソード端子は接地配線５３２に接続されている。また、電源線５３１は、電源部６１２から受電した定電圧源ＡＶＤＤに接続されており、接地配線５３２は接地端子ＧＮＤに接続されている。
定電圧源ＡＶＤＤは、ＯＬＥＤ２０１に供給される駆動電流の供給源となっており、駆動用ＴＦＴ５２２は、キャパシター５２１の第１、第２の端子間に保持されている電圧、言い換えると駆動用ＴＦＴ５２２のソース−ゲート電圧に応じたドレイン電流を駆動電流としてＯＬＥＤ２０１に供給する。言うまでもなく、ソース−ゲート電圧が高いほど、駆動用ＴＦＴ５２２は多くの駆動電流を供給し、ＯＬＥＤ２０１の発光量が増大する。

例えば、キャパシター５２１にＨｉに相当する輝度信号が書き込まれると、駆動用ＴＦＴ５２２がオンして、駆動電流に応じた光量でＯＬＥＤ２０１が発光する。また、キャパシター５２１にＬｏｗに相当する輝度信号が書き込まれると、駆動用ＴＦＴ５２２はオフして、ＯＬＥＤ２０１は発光しない。このように、ＤＡＣ４００が出力する起動信号を変更することによって、ＯＬＥＤ２０１の発光量を制御することができる。

書き込み配線５３０にはリセット回路５４０が接続されている。リセット回路５４０をオンすると電流ＤＡＣ４００から選択用ＴＦＴ５１２までの配線が所定電圧にリセットされる。所定電圧は、定電圧源ＡＶＤＤと同電圧であってもよいし、設置電圧と同電圧であってもよい。また、これらの中間電圧であってもよく、適切な電圧を選択するのが望ましい。リセット回路５４０は、ドライバーＩＣ３０２に内蔵されていてもよい。また、リセット時と書込時でＤＡＣの極性を変えてリセットしてもよい。

このような構成を備えることによって、次のように輝度信号が書き込まれる。図６に示されるように、シフトレジスター５１１が、まず１番目の選択用ＴＦＴ５１２をオンすると、当該オン期間をチャージ期間として、ＤＡＣ４００からの輝度信号が１番目のキャパシター５２１に入力される。
次に、シフトレジスター５１１が１番目の選択用ＴＦＴ５１２をオフすると、１番目のキャパシター５２１が保持している電圧に応じた駆動電流が１番目のＯＬＥＤ２０１に供給され、ＯＬＥＤ２０１が点灯する（ホールド期間）。

１番目の選択用ＴＦＴ５１２のオフと共に、２番目の選択用ＴＦＴ５１２がオンされ、２番目のキャパシター５２１に輝度信号が入力される。このような動作を１００番目の選択用ＴＦＴ５１２まで実行すると、また、１番目の選択用ＴＦＴ５１２に戻って上記の動作を繰り返す。
なお、本実施の形態においては、駆動用ＴＦＴ５２２がｐチャンネルである場合を例にとって説明しているが、ｎチャンネルの駆動用ＴＦＴ５２２を用いても良いことは言うまでも無い。また、書き込み配線５３０、電源線５３１及び接地配線５３２は何れも薄膜配線である。

（３）ＡＳＩＣ３１０の機能構成
次に、ＡＳＩＣ３１０の機能構成について説明する。
図７に示されるように、ＡＳＩＣ３１０は、駆動電流補正部７００とドットカウント部７１０とを備えており、ドットカウント部７１０はＯＬＥＤ２０１毎にドットカウンター７１１を備えている。

ドットカウンター７１１は、対応するＯＬＥＤ２０１が主走査期間単位で１回発光すると所定のカウント値が加算される。
駆動電流補正部７００は、駆動電流値テーブル、加算値テーブル及び温度補正係数を記憶している。
駆動電流値テーブルは、図８（ａ）に示されるように、発光効率、設定光量及び劣化度をパラメーターとして駆動電流値を記憶する。発光効率は、駆動電流値に対する発光量の比で表され、駆動電流値が同じであれば発光量が多いほど発光効率が高く、発光量が同じであれば駆動電流値が小さいほど発光効率が高い。

設定光量は、ＯＬＥＤ２０１が出射すべき目標光量である。設定光量はＯＬＥＤ毎に指定されており、必要に応じて変更される。例えば、記録シートＳの種類が普通紙であるか厚紙であるかによって画像形成装置１のシステム速度を切り替える場合には、併せて設定光量が切り替えられる。
劣化度は、ＯＬＥＤ２０１が発光によって劣化した度合いを表すパラメーターである。本実施の形態においては、発光効率が１０種類、設定光量が５種類、また、劣化度は１．０００から１．４００まで０．００２刻みで２００ステップになっており、初期状態においては何れのＯＬＥＤ２０１も劣化度が１．０００に設定されている。

加算値テーブルは、図８（ｂ）に示されるように、発光効率、設定光量及び劣化度をパラメーターとしてドットカウンター７１１の加算値を記憶すると共に、発光効率と劣化度とをパラメーターとしてドットカウント閾値を記憶する。加算値は、ＯＬＥＤ２０１が１回発光するたびにドットカウンター７１１に加算される整数値である。
本実施の形態においては、加算値は、発光効率、設定光量及び劣化度の組み合わせ毎に２つずつ記憶される。例えば、発光効率０１、劣化度１．００２で、設定光量が５００Ｗ／ｍ²である場合には、加算値として１８と１９とが記憶されている。設定光量が１００Ｗ／ｍ²、２００Ｗ／ｍ²、３００Ｗ／ｍ²、４００Ｗ／ｍ²及び５００Ｗ／ｍ²である場合に記憶される加算値のデータ量はそれぞれ１ビット×２、２ビット×２、３ビット×２、４ビット×２及び５ビット×２である。

ドットカウント閾値は、劣化度を１ステップ（本実施の形態においては０．００２）増加させるタイミングを表す整数値であって、ドットカウンター７１１のカウント値がドットカウント閾値に達すると、当該ＯＬＥＤ２０１の劣化度が１ステップ増加される。
駆動電流補正部７００は、更に発光効率テーブル、設定光量テーブル及び劣化度テーブルを記憶している。図９に示されるように、発光効率テーブルはＯＬＥＤ２０１毎に発光効率を記憶し、設定光量テーブルはＯＬＥＤ２０１毎に設定光量を記憶する。また、劣化度テーブルはＯＬＥＤ２０１毎に劣化度を記憶する。

（４）ＡＳＩＣ３１０の動作
次に、ＡＳＩＣ３１０の動作について説明する。
ＡＳＩＣ３１０は、図１０に示されるように、まず、各ＯＬＥＤ２０１に対応する発光効率、設定光量及び劣化度を発光効率テーブル、設定光量テーブル及び劣化度テーブルからそれぞれ取得する（Ｓ１００１）。次に、ＡＳＩＣ３１０は、取得した発光効率、設定光量及び劣化度に対応する駆動電流量を、駆動電流量テーブルから取得し（Ｓ１００２）、更に、発光効率、設定光量及び劣化度に対応するすべての加算値と、発光効率と劣化度との組み合わせに対応するドットカウント閾値とを加算値テーブルから取得する（Ｓ１００３）。

例えば、発光効率が発光効率０１で、劣化度が１．００２、設定光量が２００Ｗ／ｍ²である場合には、前回の発光時に、図８に例示されている加算値テーブルから加算値３、４を読み出す。また、設定光量が１００Ｗ／ｍ²である場合には、無条件に加算値を１としてもよい。
その後、ＯＬＥＤ２０１を発光させる場合には（Ｓ１００４：ＹＥＳ）、当該ＯＬＥＤ２０１に前記駆動電流量を供給するようドライバーＩＣ３０２に指示して発光させる（Ｓ１００５）。そして、当該ＯＬＥＤ２０１に対応するドットカウンター７１１のカウント値に当該加算値を加算して、新たなカウント値を求める（Ｓ１００６）。この場合において、ＡＳＩＣ３１０は発光効率、設定光量及び劣化度に対応する２つの加算値を、ＯＬＥＤ２０１を発光させるたびに交互に加算する。

当該新たなカウント値がドットカウント閾値以上である場合には（Ｓ１００７：ＹＥＳ）、当該ＯＬＥＤ２０１の劣化度を更新する（Ｓ１００８）。本実施の形態においては、劣化度を０．００２だけ増加させる。
ステップＳ１００８の処理を完了した後や、新たなカウント値がドットカウント閾値未満である場合には（Ｓ１００７：ＮＯ）、ステップＳ１００４に進んで上記の処理を繰り返す。

（５）劣化補正に要するデータ量
次に、劣化補正に要するデータ量を従来技術と比較する。
なお、従来技術においても、本実施の形態と同様に、劣化度は１．０００から１．４００まで０．００２ずつ増加し、劣化度が０．００２増加する毎に光量を補正するものとし、設定光量は５種類、発光効率は１０種類に分類する。また、従来技術においては、ＯＬＥＤ２０１を１回発光させる毎にドットカウント値に１を加算し、ドットカウント値がドットカウント閾値を超えた時、駆動電流値を更新する。

また、従来技術においても、本実施の形態に係る駆動電流値テーブルと同じ駆動電流値テーブルを用いるものとする。従って、駆動電流値テーブルについては従来技術も本実施の形態もデータ量は同じである。
（５−１）従来技術において必要となるデータ量
従来技術においては、ドットカウンターの加算値が常に１であるので、加算値テーブルは不要であるが、その代わりに発光効率、設定光量及び劣化度の組み合わせ毎にドットカウント閾値を記憶するドットカウント閾値テーブルが必要になる（図１１（ａ））。

このドットカウント閾値テーブルのデータ量については、次のように試算することができる。図１１（ｂ）は、初期の劣化度１．０００から次の劣化度１．００２に劣化度を更新するまでにカウントすべき発光回数であるドットカウント閾値を例示する表である。ドットカウント閾値が最大になるのは設定光量が１００Ｗ／ｍ²である場合で、その値は８，８１９，８１２，０９０であって、データ量は３４ビットである。また、ドットカウント閾値が最小になるのは設定光量が５００Ｗ／ｍ²である場合で、その値は４７８，９８６，８８７であって、データ量は２９ビットである。

発光効率は１０種類、設定光量は５種類、劣化度は１．０００から１．４００までの２００ステップあるので、全データ量は、
（１０種類）×（２００ステップ）×（２９＋…＋３４ビット）≒３１２キロビット
となるので、膨大な記録容量が必要となり、光書込み装置のコスト上昇の要因となる。
（５−２）加算テーブルのデータ量
次に、加算テーブルのデータ量を、上記従来技術の場合と同じ条件で試算する。

図１２に示されるように、劣化度が１．０００から１．００２に１ステップ進行する速度（劣化速度）は、設定光量が１００Ｗ／ｍ²である場合の劣化速度を基準に考えると、設定光量が２００Ｗ／ｍ²である場合には、ドットカウント閾値の比から３．５１倍になる。同様に設定光量が５００Ｗ／ｍ²である場合には劣化速度が１８．４１倍である。
本実施の形態においては、この劣化速度の比に着目し、従来技術に係るドットカウント閾値テーブルに代えて、設定光量の如何に関わらず共通のドットカウント閾値を採用すると共に加算値テーブルを用いることによってデータ量の低減を図る。

また、本実施の形態においては、劣化度の精度を確保するために、設定光量ごとに２つの加算値を用いる。すなわち、図１３（ａ）に例示されるように、２００〜５００Ｗ／ｍ²の光量に対して加算値をカウントＵＰ値ａ、カウントＵＰ値ｂの２値保有し、発光毎に切り替えて加算する。設定光量が５００Ｗ／ｍ²である場合には、カウントＵＰ値ａに１８、ｂに１９を保持し、発光毎に切り替えて加算すれば、１回発光するたびに平均して１８.５が加算される。

上記従来技術においては、設定光量が５００Ｗ／ｍ²である場合には２９ビットのドットカウント閾値を記憶する必要があるのに対して、本実施の形態においては、５ビット×２、すなわち１０ビットだけ記憶すればよいので、記憶しなければならないデータ量を低減することができる。設定光量が１００Ｗ／ｍ²、２００Ｗ／ｍ²、３００Ｗ／ｍ²及び４００Ｗ／ｍ²である場合に記憶される加算値のデータ量はそれぞれ１ビット×２（＝２ビット）、２ビット×２（＝４ビット）、３ビット×２（＝６ビット）及び４ビット×２（＝８ビット）である。

従って、加算値テーブルのデータ量は、
（１０種類）×（２００ステップ）×｛３４ビット＋（２＋…＋１０ビット）｝≒１２４キロビット
となり、上記従来技術に関する試算値の半分以下に圧縮される。
（５−３）劣化度の精度
次に、本実施の形態における劣化度の推定精度について説明する。

上述のように、本実施の形態においては、設定光量毎に２つの加算値を用いてカウント値を更新することによって劣化度を推定する。劣化度の推定精度は、設定光量が２００Ｗ／ｍ²である場合を例にとると、加算値３、４を交互に加算すると、１回の発光で平均的３．５加算されるので、劣化度が１．０００から１．００２に更新される発光回数は、
８，８１９，８１２，９０９÷３．５≒２，５１９，９４６，３１１
となり、正確な閾値との差は、
２，５１５，３３０，４０３−２，５２９，９４６，３１１＝４，６１５，９０８
であるので、補正誤差は、
４，６１５，９０８÷２，５１５，３３０，４０３≒０．１８％
である。この補正誤差が、同一の駆動電流に対するＯＬＥＤ２０１の発光量が２０％低下するまで繰り返されると、累積誤差は、
０．００２×０．１８％×（２０％÷０．２％）≒０．０４％
となる。この程度の誤差であれば、印刷画像において視認されない。設定光量が３００Ｗ／ｍ²、４００Ｗ／ｍ²及び５００Ｗ／ｍ²である場合においても、累積誤差を同様に算出すると、図１３（ｂ）に示されるように、−０．５２％、−０．３３％及び−０．０９％となり、印刷画像において視認されないレベルである。

なお、本実施の形態においては、加算値が２つである場合を例にとって説明したが、３つ以上の加算値を切り替えてもよく、また、３つ以上の加算値を切り替える場合には、同じ加算値が複数含まれていてもよい。例えば、３つの加算値３、３及び２を用いれば、２．６７を精度良く近似することができる。
［２］第２の実施の形態
次に、本発明の第２の実施の形態について説明する。

第２の実施の形態に係る画像形成装置は、上記第１の実施の形態に係る画像形成装置と概ね共通の構成を備える一方、加算値テーブルにおける加算値のデータ形式が相違している。以下、第１の実施の形態に係る画像形成装置との相違点に着目して説明する。なお、第１の実施の形態と共通する部材等については共通の符号が付与されている。
（１）加算値テーブル
本実施の形態に係る加算値テーブルは、図１４に示されるように、各加算値が整数部分と小数部分とを有している。例えば、設定光量が１００Ｗ／ｍ²の欄では、整数部分が１ビットで小数部分が２ビットの合計３ビットの加算値が記憶されており、本実施の形態においては、いずれの劣化度についても加算値は１．００である。

また、設定光量が２００Ｗ／ｍ²の欄では、整数部分、小数部分ともに２ビットで合計４ビットの加算値が記憶されており、劣化度が１．００２である場合には加算値として３．５０が記憶されている。同様に、設定光量が３００Ｗ／ｍ²、４００Ｗ／ｍ²及び５００Ｗ／ｍ²の欄においては、加算値のデータサイズが５、６及び７ビットになっている。
（２）加算テーブルのデータ量
次に、加算テーブルのデータ量を試算する。

例えば、設定光量が５００Ｗ／ｍ²である場合、上記第１の実施の形態において試算した従来技術においては２９ビットのドットカウント閾値を記憶する必要があるのに対して、図１５（ａ）に示されるように、本実施の形態においては、２進少数第２位まで近似するカウントＵＰ値を７ビットだけ記憶すればよいので、記憶しなければならないデータ量を低減することができる。設定光量が１００Ｗ／ｍ²、２００Ｗ／ｍ²、３００Ｗ／ｍ²及び４００Ｗ／ｍ²である場合に記憶される加算値のデータ量はそれぞれ１ビット、４ビット、５ビット及び６ビットである。

従って、加算値テーブルのデータ量は、
（１０種類）×（２００ステップ）×｛３４ビット＋（１＋…＋７ビット）｝≒１１２キロビット
となる。小数部２ビットを拡張するための３０キロビットを考慮しても、
１１２キロビット＋３０キロビット＝１４２キロビット
となるので、上記従来技術に関する試算値３１２キロビットの半分以下に圧縮される。

（３）劣化度の推定精度
次に、本実施の形態における劣化度の推定精度について説明する。
本実施の形態における劣化度の推定精度は、設定光量が２００Ｗ／ｍ²である場合を例にとると、図１５（ｂ）に示されるように、１回の発光で平均的３．５加算されるので、劣化度が１．０００から１．００２に更新される発光回数は、
８，８１９，８１２，９０９÷３．５≒２，５１９，９４６，３１１
となり、正確な閾値との差は、
２，５１５，３３０，４０３−２，５２９，９４６，３１１＝４，６１５，９０８
であるので、補正誤差は、
４，６１５，９０８÷２，５１５，３３０，４０３≒０．１８％
である。この補正誤差が、同一の駆動電流に対するＯＬＥＤ２０１の発光量が２０％低下するまで繰り返されると、累積誤差は、
０．００２×０．１８％×（２０％÷０．２％）≒０．０４％
となる。この程度の誤差であれば、印刷画像において視認されない。設定光量が３００Ｗ／ｍ²、４００Ｗ／ｍ²及び５００Ｗ／ｍ²である場合においても、累積誤差を同様に算出すると、図１５（ｂ）に示されるように、−０．５２％、−０．３３％及び−０．０９％となり、印刷画像において視認されないレベルである。

なお、本実施の形態においては、小数部を２ビットとすることによって、加算値の精度が０.２５である場合を例にとって説明をしたが、小数部を３ビット以上として、加算値の精度を０.１２５以下にしてもよいことは言うまでもない。
［３］第３の実施の形態
次に、本発明の第３の実施の形態について説明する。

第３の実施の形態に係る画像形成装置は、上記実施の形態に係る画像形成装置と概ね共通の構成を備える一方、ＯＬＥＤ２０１毎のドットカウンター７１１が、メインカウンターとサブカウンターとからなっており、設定光量毎にメインカウンターとサブカウンターとの各閾値が指定されている点において相違している。以下、上記実施の形態に係る画像形成装置との相違点に着目して説明する。なお、上記実施の形態と共通する部材等については共通の符号が付与されている。

（１）ＡＳＩＣ３１０の機能構成
まず、ＡＳＩＣ３１０の機能構成について説明する。
図１６に示されるように、本実施の形態においては、ＯＬＥＤ２０１毎のドットカウンター７１１がメインカウンター１６０１とサブカウンター１６０２とからなっている。後述のように、サブカウンター１６０２は、対応するＯＬＥＤ２０１が１回発光するたびに１ずつカウントアップされる。また、サブカウンター１６０２のカウント値がサブカウンター閾値に達すると、メインカウンター１６０１が１ずつカウントアップされると共に、サブカウンター１６０２のカウント値が０にリセットされる。

駆動電流補正部７００は、本実施の形態においては、加算値テーブルに代えて、閾値テーブルを記憶している。
閾値テーブルは、図１７に示されるように、発光効率、設定光量及び劣化度をパラメーターとして２つのサブカウンター閾値を記憶すると共に、発光効率と劣化度とをパラメーターとしてドットカウント閾値を記憶する。

上述のように、サブカウンター１６０２のカウント値が２つのサブカウンター閾値のうちの一方のサブカウンター閾値に達すると、メインカウンター１６０１のカウント値が１だけ増加すると共に、サブカウンター１６０２のカウント値が０にリセットされる。また、参照すべきサブカウンター閾値は、サブカウンター１６０２のカウント値が０にリセットされるたびに切り替えられる。

上の処理を繰り返して、メインカウンター１６０１のカウント値がドットカウント閾値に達すると、劣化度が０．００２だけ増加すると共に、メインカウンター１６０１のカウント値が０にリセットされる。
図１７の例では、例えば、設定光量が１００Ｗ／ｍ²で劣化度が１．００２である場合には、サブカウンター閾値として１８、１９が記憶されている。例えば、ＯＬＥＤ２０１が１８回発光すると、サブカウンター１６０２のカウント値が一方のサブカウンター閾値に達して、メインカウンター１６０１のカウント値が１だけ増加し、サブカウンター１６０２のカウント値が０にリセットされる。

また、メインカウンター１６０１のカウント値がドットカウント閾値に達すると、劣化度が１．００２から１．００４に更新されると共に、メインカウンター１６０１のカウント値が０にリセットされる。
（２）ＡＳＩＣ３１０の動作
次に、ＡＳＩＣ３１０の動作について説明する。なお、図１０と共通するステップについては、Ｓ１００１など同じ符号が付されている。

ＡＳＩＣ３１０は、図１８に示されるように、まず、各ＯＬＥＤ２０１に対応する発光効率、設定光量及び劣化度を発光効率テーブル、設定光量テーブル及び劣化度テーブルからそれぞれ取得する（Ｓ１００１）。次に、ＡＳＩＣ３１０は、取得した発光効率、設定光量及び劣化度に対応する駆動電流量を、駆動電流量テーブルから取得する（Ｓ１００２）、更に、ＡＳＩＣ３１０は、閾値テーブルからサブカウンター閾値を２つとも読み出すと共に（Ｓ１８０１）、ドットカウント閾値を読み出す（Ｓ１８０２）。

ＯＬＥＤ２０１を発光させる場合には（Ｓ１００４：ＹＥＳ）、当該ＯＬＥＤ２０１に前記駆動電流量を供給するようドライバーＩＣ３０２に指示して発光させて（Ｓ１００５）、サブカウンター１６０２のカウント値を１だけ増加させる（Ｓ１８０３）。次に、サブカウンター１６０２のカウント値とサブカウンター閾値とを比較する。
サブカウンター１６０２のカウント値がサブカウンター閾値に達していたら（Ｓ１８０４：ＹＥＳ）、メインカウンター１６０１のカウント値を１増加させる（Ｓ１８０５）。なお、サブカウンター１６０２のカウント値と比較するサブカウンター閾値は、サブカウンター１６０２のカウント値がサブカウンター閾値に達するたびに切り替えるものとする。

次に、メインカウンター１６０１のカウント値とドットカウント閾値とを比較して、カウント値がドットカウント閾値に達していたら（Ｓ１８０６：ＹＥＳ）、劣化度を更新する（Ｓ１８０７）。本実施の形態においては、劣化度を０．００２だけ増加させる。
ステップＳ１８０７の処理を完了した後や、サブカウンター１６０２のカウント値がサブカウンター閾値に満たない場合（Ｓ１８０４：ＮＯ）、メインカウンター１６０１のカウント値がドットカウント閾値に満たない場合（Ｓ１８０６：ＮＯ）には、ステップＳ１００４に進んで上記の処理を繰り返す。

（３）閾値テーブル
本実施の形態に係る閾値テーブルのデータ量を試算する。
図１９（ａ）に例示されるように、閾値テーブルは、発光効率、設定光量及び劣化度の組み合わせ毎に２つのサブカウンター閾値を記憶する。例えば、設定光量が１００Ｗ／ｍ²の欄では、サブカウンター閾値ａとサブカウンター閾値ｂとが何れも５ビットであり、設定光量が２００Ｗ／ｍ²の欄では、サブカウンター閾値ａとサブカウンター閾値ｂとが何れも３ビットである。

また、閾値テーブルには２９ビットのドットカウント閾値も記憶されている。本実施の形態においては、設定光量が５００Ｗ／ｍ²である場合の劣化速度を基準とするので、設定光量が１００Ｗ／ｍ²である場合の劣化速度を基準とする場合と比較して、ドットカウント閾値のデータ量を低減することができる。
このため、閾値テーブルのデータ量は、
（１０種類）×（２００ステップ）×｛２９ビット＋（５ビット×２＋…＋２ビット×２）｝≒１０６キロビット
となる。これは、上記従来技術のテーブルサイズ３１２キロビットの概ね１／３である。

（４）劣化度の推定精度
次に、本実施の形態における劣化度の推定精度について説明する。
上記第１の実施の形態においては、図１２に示すように、設定光量が１００Ｗ／ｍ²である場合の劣化速度を１．００として、他の設定光量での劣化速度を求めた。これに対して、本実施の形態においては、図１９（ａ）の欄１９００に示されるように、設定光量が５００Ｗ／ｍ²である場合の劣化速度を１．００として、他の設定光量での劣化速度Ｖを求めている。サブカウンター閾値ａ、ｂは劣化速度Ｖを用いて下記のように表される。

（サブカウンター閾値ａ）＝［Ｖ］
（サブカウンター閾値ｂ）＝［Ｖ］＋１
ここで、［・］はガウス記号であって、記号内の数値の小数部分を切り捨てた整数値を表す。このサブカウンター閾値ａ、ｂを交互に用いれば、サブカウンター閾値ａ、ｂの平均値で劣化速度を近似することができる。

設定光量１００Ｗ／ｍ²である場合を例にとると、サブカウンター閾値ａ、ｂは１８、１９であるので、その平均値１８．５を用いて正確な劣化速度１８．４１が近似される。
このため、劣化度の推定精度は、図１９（ｂ）に示されるように、１回の発光で平均的３．５加算されるので、劣化度が１．０００から１．００２に更新される発光回数は、
４７８，９８６，８８７×｛（１８＋１９）÷２｝≒８，８６１，２５７，４１９
となり、正確な閾値との差は、
８，８６１，２５７，４１９−８，８１９，８１２，０９０＝４１，４４５，３２９
であるので、補正誤差は、
４１，４４５，３２９÷８，８１９，８１２，０９０≒０．４７％
である。この補正誤差が、同一の駆動電流に対するＯＬＥＤ２０１の発光量が２０％低下するまで繰り返されると、累積誤差は、
０．００２×０．４７％×（２０％÷０．２％）≒０．０９％
となる。この程度の誤差であれば、印刷画像において視認されない。設定光量が２００Ｗ／ｍ²、３００Ｗ／ｍ²及び４００Ｗ／ｍ²である場合においても、累積誤差を同様に算出すると、図１９（ｂ）に示されるように、−０．９５％、−０．１７％及び０．０３％となり、印刷画像において視認されないレベルである。

なお、本実施の形態においては、サブカウンター閾値が２つである場合を例にとって説明したが、３つ以上のサブカウンター閾値を切り替えてもよく、また、３つ以上のサブカウンター閾値を切り替える場合には、同じサブカウンター閾値が複数含まれていてもよい。例えば、３つのサブカウンター閾値５、５及び６を用いれば、２つのサブカウンター閾値を用いる場合よりも５．３３を精度良く近似することができる。

［４］変形例
以上、本発明を実施の形態に基づいて説明してきたが、本発明が上述の実施の形態に限定されないのは勿論であり、以下のような変形例を実施することができる。
（１）上記第１の実施の形態においては、２つの加算値の平均値でドットカウント閾値を除算した回数だけＯＬＥＤ２０１を発光させるたびに劣化度を更新する場合を例にとって説明した。また、第２の実施の形態においては、整数部分と小数部分とを有する加算値でドットカウント閾値を除算した回数だけＯＬＥＤ２０１を発光させるたびに劣化度を更新する場合を例にとって説明した。

更に、第３の実施の形態においては、ドットカウント閾値にサブカウンター閾値を乗算した回数だけＯＬＥＤ２０１を発光させるたびに劣化度を更新する場合を例にとって説明した。
これら第１、第２の実施の形態については、加算値とドットカウント閾値とを共に同じ乗数を乗算した加算値テーブルを用いても、劣化補正の精度は同じである。また、設定光量間でドットカウント閾値を共用することに変わりはないので、本発明の効果を得ることができる。

第３の実施の形態については、ドットカウント閾値を除算する除数と、サブカウンター閾値に乗算する乗数とが同じであれば、劣化補正の精度は同じである。また、設定光量間でドットカウント閾値を共用することに変わりはないので、本発明の効果を得ることができる。
（２）上記実施の形態においては、ドットカウンター７１１やメインカウンター１６０１、サブカウンター１６０２が初期値０から閾値までカウントアップする場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、初期値と最終値との差が閾値に等しければ、初期値が０でなくてもよい。

また、初期値と最終値との大小関係を逆にしてカウントダウンしてもよく、この場合には上記の加算値を減算値としてカウント値から減算することになる。例えば、閾値を初期値として０まで減算値ずつカウントダウンしてもよい。
（３）上記実施の形態においては、１００Ｗ／ｍ²から５００Ｗ／ｍ²までの５種類の設定光量すべてについて共通のドットカウント閾値を用いる場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、少なくとも２種類の設定光量について共通のドットカウント閾値を用いればよい。

設定光量間で共通のドットカウント閾値を用いれば、劣化補正のために記憶しなければならないドットカウント閾値の種類を減らすことができるので、劣化補正に要するデータ量を低減することができる。当然ながら、すべての設定光量間で共通のドットカウント閾値を用いれば、データ量を最も低減することができる。
（４）上記実施の形態においては、何れかの設定光量に対応する加算値が１に等しくなるドットカウント閾値を用いたが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、何れの設定光量に対応する加算値も１にならないドットカウント閾値を用いても加算値テーブルのデータ量を低減する効果を得ることができる。

例えば、図８（ｂ）の加算値テーブルにおいて、元の値に代えて、ドットカウント閾値並びに加算値をすべて２倍した値を用いても、上記第１の実施の形態と同様の補正精度を達成することができ、かつ、上記第１の実施の形態ほどではないにしても、従来技術よりもデータ量を低減することができる。
なお、加算値テーブルのデータ量を最小化するという意味では、何れかの設定光量に対応する加算値が１に等しくなるドットカウント閾値を用いのが望ましい。

（５）上記実施の形態においては、駆動電流値テーブルを用いて発光素子の劣化度に応じた駆動電流値を取得する場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、ＬＵＴ（Look Up Table）に代えて適当な関数を用いて駆動電流値を算出してもよい。そのような関数は、例えば上記実施の形態に合わせると、発光効率、劣化度及び設定光量を変数として駆動電流値を算出させる。

（６）上記実施の形態においては、画像形成装置１がタンデム型のカラープリンターである場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、タンデム型以外のカラープリンターであってもよいし、モノクロプリンターであってもよい。また、スキャナーを備えた複写装置であってもよいし、更に通信機能を備えたファクシミリ装置であってもよい。また、これらの機能を兼ね備えた複合機（MFP: Multi-Function Peripheral）に本発明を適用しても効果を得ることができる。

本発明に係る光書込み装置及び画像形成装置は、特に有機ＬＥＤを用いた光書込み装置において光量補正に要するメモリ容量を低減した装置として有用である。

１…………画像形成装置
１１０……画像形成ステーション
１００……光書込み装置
１０１……制御部
２００……ＯＬＥＤパネル
２０１……ＯＬＥＤ
３１０……ＡＳＩＣ
７００……駆動電流補正部
７１０……ドットカウント部
７１１……ドットカウンター
１６０１…メインカウンター
１６０２…サブカウンター

Claims (11)

1. 発光回数の増加に伴って劣化し、かつ、発光量が多いほど早く劣化する電流駆動型の発光素子を複数の設定光量で発光させることによって光書込みを行う光書込み装置であって、
   前記複数の設定光量のうちの少なくとも２以上の設定光量に共通した閾値を記憶する閾値記憶手段と、
   前記設定光量ごとに、劣化度を所定度数だけ進行させる発光回数を前記閾値から求めるための係数値を記憶する係数値記憶手段と、
   前記２以上の設定光量のうちの１の設定光量で前記発光素子を発光させた場合において、その発光回数が、前記閾値と当該１の設定光量に係る前記係数値との演算で一義的に定まる値に達したら、前記発光素子に供給すべき駆動電流を増加させる電流補正を行う電流補正手段と、を備える
   ことを特徴とする光書込み装置。
2. 前記１の設定光量で前記発光素子を発光させるたびに、カウント値に前記係数値を加算し、又は前記カウント値から前記係数値を減算するカウント手段を備え、
   前記電流補正手段は、前記カウント値とその初期値との差が前記閾値に達したら、前記電流補正を行う
   ことを特徴とする請求項１に記載の光書込み装置。
3. 前記係数値記憶手段は、前記１の設定光量に係る前記係数値として複数の整数値を記憶しており、
   前記カウント手段は、前記発光素子を発光させるたびに前記複数の整数値を順次切り替えて、前記カウント値の計算に用いる
   ことを特徴とする請求項２に記載の光書込み装置。
4. 前記係数値は、整数部と小数部とからなっている
   ことを特徴とする請求項２に記載の光書込み装置。
5. 前記１の設定光量で前記発光素子を発光させるたびにサブカウント値を１ずつカウントアップ又はカウントダウンし、前記サブカウント値とその初期値との差が前記１の設定光量に係る前記係数値に達するたびに当該サブカウント値を初期値にリセットするサブカウント手段と、
   前記サブカウント値とその初期値との差が前記１の設定光量に係る前記係数値に達するたびに、メインカウント値を１ずつカウントアップ又はカウントダウンするメインカウント手段と、を備え、
   前記電流補正手段は、前記メインカウント値とその初期値との差が前記閾値に達したら、前記電流補正を行う
   ことを特徴とする請求項１に記載の光書込み装置。
6. 前記係数値記憶手段は、設定光量ごとの係数値として複数の整数値を記憶しており、
   前記サブカウント手段は、前記サブカウント値とその初期値との差が前記係数値に達するたびに前記複数の整数値を順次切り替える
   ことを特徴とする請求項５に記載の光書込み装置。
7. 前記閾値記憶手段は、前記複数の設定光量のすべてに共通する１の閾値を記憶する
   ことを特徴とする請求項１から６の何れかに記載の光書込み装置。
8. 前記発光素子に供給される駆動電流と、当該駆動電流を供給されたときの前記発光素子の発光量とを対応付けるＬＵＴ又は関数を記憶する電流光量関係記憶手段を備え、
   前記駆動電流補正手段は、前記ＬＵＴ又は関数を用いて前記電流補正を行う
   ことを特徴とする請求項１から７の何れかに記載の光書込み装置
9. 前記電流光量関係手段は、前記発光素子の劣化度に応じて、前記ＬＵＴ又は関数を記憶し、
   前記駆動電流補正手段は、前記劣化度に応じて前記電流補正を行う
   ことを特徴とする請求項８に記載の光書込み装置。
10. 前記発光素子は有機ＥＬである
    ことを特徴とする請求項１から９の何れかに記載の光書込み装置。
11. 前記請求項１から１０の何れかに記載の光書込み装置を備える
    ことを特徴とする画像形成装置。