JP2017107104A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10613308B2 (en) * 2016-11-30 2020-04-07 Yuefeng YIN Method and microscope for measuring and calculating heights on curved surface of microscope slide
EP3467563A1 (de) * 2017-10-06 2019-04-10 Siemens Healthcare GmbH Mikroskopiervorrichtung
CN111624758A (zh) * 2020-06-04 2020-09-04 广州浩康生物科技有限公司 一种用于纳米材料转移的复合荧光显微系统
DE102021204033B3 (de) * 2021-04-22 2022-06-15 Carl Zeiss Meditec Ag Verfahren zum Betreiben eines Operationsmikroskops und Operationsmikroskop
WO2023049047A1 (en) 2021-09-27 2023-03-30 Beckman Coulter, Inc. Adjustable mounting apparatus
WO2023111200A1 (en) * 2021-12-16 2023-06-22 Enaiblers Ab Systems and methods of compensating for backlash in an imaging system
DE102022200820A1 (de) * 2022-01-25 2023-07-27 Carl Zeiss Meditec Ag Verfahren zum Betreiben eines medizinischen Mikroskops und medizinische Mikroskopanordnung
JP7784347B2 (ja) * 2022-04-25 2025-12-11 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス 対物レンズユニットおよび顕微鏡
WO2024081638A1 (en) * 2022-10-10 2024-04-18 Bionano Genomics, Inc. Motion platform control
JP2024064354A (ja) * 2022-10-28 2024-05-14 株式会社キーエンス 拡大観察装置、拡大観察方法、拡大観察プログラムおよび記録媒体

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4627009A (en) * 1983-05-24 1986-12-02 Nanometrics Inc. Microscope stage assembly and control system
JP2601834B2 (ja) * 1987-08-26 1997-04-16 株式会社東芝 テーブル装置
EP0841594A3 (en) * 1996-11-07 1999-08-25 Nikon Corporation Mark for position detection, mark detecting method and apparatus, and exposure system
US6673315B2 (en) * 2001-06-29 2004-01-06 Biomachines, Inc. Method and apparatus for accessing a site on a biological substrate
US6924929B2 (en) * 2002-03-29 2005-08-02 National Institute Of Radiological Sciences Microscope apparatus
US20030223111A1 (en) * 2002-05-31 2003-12-04 Mcnc Sample analysis device having a eucentric goniometer and associated method
EP1804107B1 (en) 2004-09-22 2018-10-24 Nikon Corporation Microscope system and image processing method
JP2007024927A (ja) * 2005-07-12 2007-02-01 Olympus Corp 顕微鏡画像撮影装置
JP5064864B2 (ja) 2007-04-02 2012-10-31 キヤノン株式会社 光偏向装置、画像形成装置、及び光偏向装置の駆動方法
DE102007036815B4 (de) * 2007-08-03 2010-03-04 Vistec Semiconductor Systems Gmbh Verfahren zur Bestimmung des durch die Substrattopologie und eine Koordinaten-Messmaschine bedingten systematischen Fehlers bei der Vermesung von Positionen von Kanten von Strukturen eines Substrats
JP2010101959A (ja) * 2008-10-21 2010-05-06 Olympus Corp 顕微鏡装置
JP5581851B2 (ja) * 2009-12-25 2014-09-03 ソニー株式会社 ステージ制御装置、ステージ制御方法、ステージ制御プログラム及び顕微鏡
JP2011145468A (ja) * 2010-01-14 2011-07-28 Olympus Corp 顕微鏡
US8175452B1 (en) * 2010-10-26 2012-05-08 Complete Genomics, Inc. Method and system for imaging high density biochemical arrays with sub-pixel alignment
WO2013084345A1 (ja) * 2011-12-09 2013-06-13 キヤノン株式会社 画像取得装置および画像取得装置の調整方法
WO2013138911A1 (en) * 2012-03-23 2013-09-26 Huron Technologies International Inc. Slide scanner with dynamic focus and specimen tilt and method of operation
JP5684214B2 (ja) 2012-10-17 2015-03-11 京楽産業．株式会社 遊技機
JP6027875B2 (ja) * 2012-12-07 2016-11-16 オリンパス株式会社 撮像装置及び顕微鏡システム
JP6312505B2 (ja) 2014-04-08 2018-04-18 キヤノン株式会社 光学式エンコーダおよびこれを備えた装置
JP6478605B2 (ja) * 2014-12-10 2019-03-06 キヤノン株式会社 顕微鏡システムおよびその制御方法
JP6562626B2 (ja) * 2014-12-10 2019-08-21 キヤノン株式会社 顕微鏡システム
EP3615916A4 (en) * 2017-04-24 2020-12-30 Technologies International Inc. Huron SCANNING MICROSCOPE FOR 3D IMAGING USING MSIA

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